背景技術(shù)：

通常，rf通信系統(tǒng)，類似于其它電子設備，需要測試，并且在一些情況下，需要校準。在支持多發(fā)送(tx)和接收(rx)信道的rf通信系統(tǒng)或設備的情況下，測試和校準可能提出挑戰(zhàn)。

一些傳統(tǒng)方法使用單信道測量儀器依次逐一單獨地測試并且校準多信道rf通信設備的每個信道。然而，這些方法具有一些缺點。首先，使用rf連接器將單信道測量儀器重復連接并且斷連于多信道rf通信待測試設備(dut)將影響測試精度和可重復性。其次，隨著發(fā)送和/或接收信道的數(shù)目增加，執(zhí)行測試和校準所需的時間也增加。具體地說，在現(xiàn)在正發(fā)展的大規(guī)模多入多出(mimo)通信系統(tǒng)的情況下，信道數(shù)目非常大(在很多情況下，大于64)，因此，逐一測試這些信道中的每一個是非常耗時的，而且實際上，隨著信道的數(shù)目增加，所需的時間可能令人望而卻步。

一些其它方法使用多個測試儀器或多信道測試儀器并行地測試信道。然而，該方法的不利之處在于，當信道的數(shù)目非常大時，測試儀器或多信道測試儀器變得昂貴并且甚至是不切實際的。

天線陣列測試和校準方法廣泛用在航空國防產(chǎn)業(yè)以及還有無線通信產(chǎn)業(yè)中。典型方法大部分利用矢量網(wǎng)絡分析器并且要求dut具有用于測試的rf連接器。隨著無線通信技術(shù)的發(fā)展，遠程無線電單元(rru)和基帶處理單元(bbu)更一般地與數(shù)字光纖接口(例如普通公共無線電接口(cpri))連接。cpri是無線電基站的內(nèi)部接口，其將無線電基站的無線電裝備部分鏈接到基站的無線電裝備控制部分。例如，cpri描述于cpri規(guī)范版本5.0或6.0中。也可以使用其它數(shù)字接口。

通過這些數(shù)字光纖接口，先前的天線陣列測試和校準方法不再是可應用的。需要用于數(shù)字天線陣列的新的測試和校準方法。隨著無線通信技術(shù)朝向使用5g前進，大規(guī)模mimo技術(shù)正待使用。數(shù)字大規(guī)模mimo天線陣列針對寬帶調(diào)制信號帶來不僅來自測試部分而且還有總體測試方法可度量性、測試速度、測試校準等的測試和測量挑戰(zhàn)。

因此，現(xiàn)有測試方法無法為未來大規(guī)模mimo系統(tǒng)提供合適的具有快速測試速度和低成本的測試系統(tǒng)和方法。將期望提供更方便(例如更快的測試速度和更低的成本)并且更可靠的方法和系統(tǒng)以測試并且校準多信道rf通信系統(tǒng)或設備的性能。

技術(shù)實現(xiàn)要素：

本發(fā)明實施例可以提供用于在對數(shù)字光纖接口的支持和/或?qū)ψ远x私有數(shù)字光纖接口協(xié)議的支持的情況下進行測試和校準的能力、用于快速、精確并且成本有效地測試并且校準單獨天線元件和波束的能力、用于同時測試并且校準多波束的能力，支持用于寬帶調(diào)制信號的測試和校準，在減少的腔室大小的情況下的近場測試，并且關于信道的和頻率覆蓋的成本和數(shù)目可以是可度量的。

根據(jù)代表性實施例，一種測試系統(tǒng)，其包括：測試腔室，其包括：空間間隔探針天線的陣列；以及定位器，其配置為支撐具有數(shù)字天線元件的陣列的待測試設備(dut)；射頻(rf)信號發(fā)生器和分析器，其配置為將rf測試信號發(fā)送到/接收自空間間隔探針天線；以及rf切換器組件，其配置為有選擇地將rf信號發(fā)生器和分析器耦合到測試腔室內(nèi)的空間間隔探針天線的陣列。一種數(shù)字測試儀器，其包括：至少一個數(shù)字信號發(fā)生器和分析器，其配置為在發(fā)射機測試模式下生成去往dut的數(shù)字天線元件的數(shù)字測試信號，并且在接收機測試模式下分析來自dut的數(shù)字天線元件的接收到的數(shù)字測試信號，所述可編程硬件設備，其配置為實現(xiàn)用于所生成的接收到的數(shù)字測試信號的自定義數(shù)字光纖接口協(xié)議，以及數(shù)字光纖接口，其配置為將可編程硬件設備耦合到dut的數(shù)字天線元件的陣列，并且收發(fā)去往/來自dut的數(shù)字天線元件的陣列的數(shù)字測試信號。同步模塊配置為對rf信號發(fā)生器和分析器以及數(shù)字測試儀器進行同步。測試控制器配置為在dut的測試期間控制定位器、rf信號發(fā)生器和分析器、rf切換器組件、數(shù)字測試儀器的操作。

在特定實施例中，測試腔室的內(nèi)表面受輻射吸收材料(ram)覆蓋，以在其中限定具有空間間隔探針天線的陣列和定位器的rf無回響測試腔室。

在特定實施例中，，定位器可在測試腔室內(nèi)旋轉(zhuǎn)；并且測試控制器配置為在dut的測試期間控制定位器的旋轉(zhuǎn)。

在特定實施例中，所述可編程硬件設備包括：分路器/組合器，其耦合到所述至少一個數(shù)字信號發(fā)生器和分析器；時間延遲模塊，其配置為對于從所述至少一個數(shù)字信號發(fā)生器和分析器向dut的每一個數(shù)字天線元件正生成的測試信號，實現(xiàn)不同的時間延遲；以及協(xié)議模塊，其用于實現(xiàn)用于所生成的數(shù)字測試信號的自定義數(shù)字光纖接口協(xié)議。

在特定實施例中，rf信號發(fā)生器和分析器配置為：在發(fā)射機測試模式期間捕獲dut的數(shù)字天線元件所發(fā)送的并且經(jīng)由空間間隔探針天線的陣列和rf切換器組件接收到的數(shù)字測試信號。

在特定實施例中，rf信號發(fā)生器和分析器配置為：在接收機測試模式期間經(jīng)由空間間隔探針天線的陣列和rf切換器組件將rf測試信號發(fā)送到dut的數(shù)字天線元件，以生成待由數(shù)字測試儀器的所述至少一個數(shù)字信號發(fā)生器和分析器分析的接收到的數(shù)字測試信號。

在特定實施例中，所述數(shù)字測試儀器、所述rf信號發(fā)生器和分析器、所述測試控制器協(xié)作以測量對于處于不同方位的dut的每個數(shù)字天線元件的寬帶信道沖擊響應，以形成3d天線圖案。

在特定實施例中，數(shù)字測試儀器、rf信號發(fā)生器和分析器、測試控制器進一步協(xié)作，以基于對于在不同定向處的dut的每個數(shù)字天線元件的所測量的寬帶信道沖擊推導校準系數(shù)。

在特定實施例中，數(shù)字測試儀器、rf信號發(fā)生器和分析器、測試控制器協(xié)作，以執(zhí)行發(fā)射機測試模式和接收機測試模式，以連同絕對相位信息一起獲得用于近場中的寬帶信道沖擊響應的結(jié)果以及據(jù)此的其它遠場結(jié)果。

在特定實施例中，所述可編程硬件設備包括：分路器/組合器，其耦合到所述至少一個數(shù)字信號發(fā)生器和分析器；校準模塊，其配置為在波束測試模式下實現(xiàn)用于dut的每一個數(shù)字天線元件的校準系數(shù)；波束加權(quán)模塊，其配置為在波束測試模式下在期望的方向上將波束加權(quán)應用于dut的每一個數(shù)字天線元件以指引波束；以及協(xié)議模塊，其用于實現(xiàn)用于所生成的數(shù)字測試信號的自定義數(shù)字光纖接口協(xié)議。

在特定實施例中，定位器可在測試腔室內(nèi)的方位角平面和俯仰平面中旋轉(zhuǎn)，并且測試控制器配置為在波束測試模式期間控制定位器的旋轉(zhuǎn)。

在特定實施例中，所述可編程硬件設備還包括時間延遲模塊，其配置為在多波束測試模式下實現(xiàn)用于各個波束的不同時間延遲。

在特定實施例中，數(shù)字測試儀器的數(shù)字光纖接口配置為使用普通公共無線電接口(cpri)規(guī)范操作。

另一代表性實施例針對一種測試具有數(shù)字天線元件的陣列的待測試設備(dut)的方法。所述方法包括：將dut定位在包括空間間隔探針天線的陣列的測試腔室中的定位器上；使用射頻(rf)信號發(fā)生器和分析器將rf測試信號發(fā)送到/接收自空間間隔探針天線；通過rf切換器組件有選擇地將rf信號發(fā)生器和分析器耦合到空間間隔探針天線；以及使用數(shù)字測試儀器測量對dut的每個數(shù)字天線元件的寬帶信道沖擊響應。數(shù)字測試儀器包括：至少一個數(shù)字信號發(fā)生器和分析器，其在發(fā)射機測試模式下生成去往dut的數(shù)字天線元件的數(shù)字測試信號，并且在接收機測試模式下分析來自dut的數(shù)字天線元件的接收到的數(shù)字測試信號，所述可編程硬件設備，其實現(xiàn)用于所生成的接收到的數(shù)字測試信號的自定義數(shù)字光纖接口協(xié)議，以及數(shù)字光纖接口，其將可編程硬件設備耦合到dut的數(shù)字天線元件的陣列，并且收發(fā)去往/來自dut的數(shù)字天線元件的陣列的數(shù)字測試信號。所述方法還包括：使用同步模塊對rf信號發(fā)生器和分析器與數(shù)字測試儀器進行同步；以及使用測試控制器在dut的測試期間控制定位器、rf信號發(fā)生器和分析器、rf切換器組件、數(shù)字測試儀器的操作。

附圖說明

當結(jié)合附圖閱讀時，根據(jù)以下具體實施方式最佳地理解示例實施例。要強調(diào)的是，各個特征并非一定按比例繪制。實際上，為了討論的清楚性，尺寸可以任意增加或減少。只要是可應用的并且實際的，相同標號就指代相同特征。

圖1是示出根據(jù)代表性實施例的特征的測試系統(tǒng)的示意性框圖。

圖2是示出根據(jù)代表性實施例的特征的測試系統(tǒng)的示意性框圖。

圖3是示出根據(jù)代表性實施例的特征的測試系統(tǒng)的數(shù)字測試儀器的示意性框圖。

圖4是示出根據(jù)代表性實施例的特征的測試系統(tǒng)的數(shù)字測試儀器的示意性框圖。

圖5是示出根據(jù)代表性實施例的特征的各個方法步驟的流程圖。

圖6是示出用于測試多信道rf系統(tǒng)或待測試設備(dut)的系統(tǒng)架構(gòu)的示例實施例的示意性框圖。

圖7是圖6的測試系統(tǒng)的信號處理示圖。

圖8是示出用于測試多信道rf系統(tǒng)或dut的系統(tǒng)架構(gòu)的另一示例實施例的示意性框圖。

圖9是示出用于發(fā)射機或dut的空中(ota)測試的系統(tǒng)架構(gòu)的另一示例實施例的示意性框圖。

圖10是示出用于接收機或dut的空中(ota)測試的系統(tǒng)架構(gòu)的另一示例實施例的示意性框圖。

圖11是測試多信道rf系統(tǒng)或dut的方法的示例實施例的流程圖。

具體實施方式

在以下具體實施方式中，為了解釋而非限制，闡述公開具體細節(jié)的示例實施例以提供根據(jù)本教導的實施例的透徹理解。然而，本領域技術(shù)人員應理解，脫離在此所公開的具體細節(jié)的根據(jù)本教導的其它實施例仍然在所附權(quán)利要求的范圍內(nèi)。此外，可以省略公知裝置和方法的描述，從而不使得示例性實施例的描述模糊。這些方法和裝置顯然在本教導的范圍內(nèi)。

在此所使用的術(shù)語僅用于描述特定實施例的目的，而并非意圖限制。所定義的術(shù)語加入到本教導的技術(shù)領域中公知并且接受的所定義的術(shù)語的技術(shù)和科學含義。

如說明書和所附權(quán)利要求中使用的那樣，術(shù)語“一個”、“某個”以及“這個”包括單數(shù)和復數(shù)指代，除非上下文另外清楚地指明。因此，例如，“設備”包括一個設備或多個設備。

相對性術(shù)語可以用于描述各個要素對于彼此的關系，如附圖所示。除了附圖中所描述的方位之外，這些相對術(shù)語意圖還涵蓋設備和/或要素的不同方位。

應理解，當要素稱為“連接到”或“耦合到”另一要素時，其可以是直接連接或耦合的，或中間要素可以出現(xiàn)。

“計算機存儲器”或“存儲器”是計算機可讀存儲介質(zhì)的示例。計算機存儲器是可對處理器直接存取的任何存儲器。計算機存儲器的示例包括但不限于ram存儲器、寄存器和寄存器文件。對“計算機存儲器”或“存儲器”的引用應解釋為可能是多個存儲器。存儲器可以例如是同一計算機系統(tǒng)內(nèi)的多個存儲器。存儲器也可以是分布在多個計算機系統(tǒng)或計算設備之間的多個存儲器。

在此所使用的“處理器”涵蓋能夠執(zhí)行程序或機器可執(zhí)行指令的電子組件。對包括“處理器”的計算設備的引用應解釋為可能包含多于一個的處理器或處理內(nèi)核。處理器可以例如是多內(nèi)核處理器。處理器也可以指代單個計算機系統(tǒng)內(nèi)或分布在多個計算機系統(tǒng)之間的處理器的集合。術(shù)語計算設備也應解釋為可以指代均包括一個或多個處理器的計算設備的集合或網(wǎng)絡。很多程序使得它們的指令由可以處于同一計算設備內(nèi)或可以甚至分布得遍及多個計算設備的多個處理器執(zhí)行。

在此所使用的“硬件接口”涵蓋使得計算機系統(tǒng)的處理器能夠與外部計算設備和/或裝置進行交互和/或?qū)ζ溥M行控制的接口。硬件接口可以允許處理器將信號或指令發(fā)送到外部計算設備和/或裝置。硬件接口也可以使得處理器能夠與外部計算設備和/或裝置交換數(shù)據(jù)。硬件接口的示例包括但不限于通用串行總線、ieee1394端口、并行端口、ieee1284端口、串行端口、rs-232端口、ieee-488端口、藍牙連接、無線局域網(wǎng)連接、tcp/ip連接、以太網(wǎng)連接、控制電壓接口、midi接口、模擬輸入接口、數(shù)字輸入接口。

初始地，指出很多無線通信技術(shù)現(xiàn)在包括數(shù)字光纖接口(例如普通公共無線電接口(cpri))。數(shù)字大規(guī)模mimo天線陣列針對寬帶調(diào)制信號帶來不僅來自測試部分而且還有總體測試方法可度量性、測試速度、測試校準等的測試和測量挑戰(zhàn)。以下所描述的實施例提供更方便(例如更快的測試速度和更低的成本)并且更可靠的方法和系統(tǒng)以測試并且校準包括數(shù)字光纖接口的多信道rf通信系統(tǒng)或設備的性能。

初始地參照圖1，將描述根據(jù)本發(fā)明的特征的測試系統(tǒng)100的代表性實施例。圖1是示出用于測試并且校準包括數(shù)字光纖接口的無線通信設備(例如基站)的測試系統(tǒng)100的示意性框圖。在無線電通信中，基站是作為無線電話系統(tǒng)(例如蜂窩5g)的部分的例如安裝在固定位置處并且用于通信的無線通信站。數(shù)字大規(guī)模mimo包括使用配備有同時服務于多個用戶的非常大數(shù)目的天線的傳輸點。例如，通過大規(guī)模mimo，可以在同一時間-頻率資源上發(fā)送用于若干終端的多個消息，在使得干擾最小化的同時使得波束成形增益最大化。

普通公共無線電接口(cpri)標準定義標準中的各無線電裝備控制器(rec)之間的基站對于稱為無線電裝備(re)的本地或遠程無線電單元的數(shù)字接口。cpri允許使用分布式架構(gòu)，其中，包含rec的基站經(jīng)由承載cpri數(shù)據(jù)的光學光纖連接到遠程無線電頭端(rrh或re)。因為僅遠程無 線電頭端需要位于環(huán)境上有挑戰(zhàn)的位置中，所以該架構(gòu)可以對于服務提供商減少成本。基站可以居中地位于有較少挑戰(zhàn)的位置中，其中，占地、氣候和功率的可用性更容易受管理。在典型網(wǎng)絡中，若干遠程無線電頭端將經(jīng)由cpri鏈路連接到同一基站。

在圖1中，根據(jù)實施例的測試系統(tǒng)100包括測試腔室102，其包括：空間間隔探針天線104的陣列103；以及定位器106，其配置為支撐具有數(shù)字天線元件的陣列(未示出)的待測試設備(dut)108。在特定實施例中，本領域技術(shù)人員應理解，測試腔室102的內(nèi)表面受輻射吸收材料(ram)覆蓋，以在其中限定具有空間間隔探針天線104的陣列103和定位106的rf無回響測試腔室。探針天線104優(yōu)選地是雙極天線，其通過垂直和/或水平偏振操作。定位器106可在一個或多個平面中在測試腔室102內(nèi)旋轉(zhuǎn)，如以下進一步詳細描述的那樣。

射頻(rf)信號發(fā)生器和分析器110配置為將rf測試信號發(fā)送到/接收自空間間隔探針天線104，rf切換器組件112配置為有選擇地將rf信號發(fā)生器和分析器110耦合到測試腔室102內(nèi)的空間間隔探針天線104的陣列103。例如，rf切換器組件112經(jīng)由rf纜線113連接到空間間隔探針天線104的陣列103。圖1中的rf切換器組件112包括多個端口，并且連同rf信號發(fā)生器和分析器110一起可以由該受讓人keysighttechnologies公司提供。

測試系統(tǒng)100包括數(shù)字測試儀器114、同步模塊116、測試控制器118。數(shù)字測試儀器114例如可以是具有多個高速光纖光學接口的模塊式卡、大可編程或可自定義集成電路(ic)(例如現(xiàn)場可編程門陣列(fpga))、多個高速數(shù)據(jù)鏈路、用于數(shù)據(jù)存儲的關聯(lián)存儲器等。替代地，例如，數(shù)字測試儀器114可以是具有多個高速光纖光學接口的自定義pc、具有可以根據(jù)期望的測試改變的功能的特定軟件等。

數(shù)字測試儀器114包括一個或多個數(shù)字信號發(fā)生器和分析器120，其配置為在發(fā)射機測試模式下生成去往dut108的數(shù)字天線元件的數(shù)字測試信號，并且在接收機測試模式下分析來自dut108的數(shù)字天線元件的接收到的數(shù)字測試信號?？删幊逃布O備122配置為實現(xiàn)用于所生成的接收到的數(shù)字測試信號的自定義數(shù)字光纖接口協(xié)議，數(shù)字光纖接口124配置為將可編程硬件設備122耦合到dut108的數(shù)字天線元件的陣列并且收發(fā)去往/來自dut108的數(shù)字天線元件的陣列的數(shù)字測試信號。如所述那樣，數(shù)字光纖接口124 可以通過數(shù)字光纖連接125將可編程硬件設備122耦合到dut108的數(shù)字天線元件的陣列。

同步模塊116配置為對rf信號發(fā)生器和分析器110以及數(shù)字測試儀器114進行同步。例如，同步模塊116可以包括：觸發(fā)信號發(fā)生器；以及時鐘信號，其用于對數(shù)字測試儀器114和rf信號發(fā)生器和分析器110進行同步。

測試控制器118配置為在dut108的測試期間控制定位器106、rf信號發(fā)生器和分析器110、rf切換器組件112、數(shù)字測試儀器114的操作，并且可以經(jīng)由通信總線和/或硬件接口耦合到這些組件。測試控制器118可以是例如包括具有關聯(lián)存儲器的cpu或處理器的計算機，其運行測試控制軟件，并且還控制用于控制定位器106、rf切換器組件112、rf信號發(fā)生器和分析器110、數(shù)字測試儀器114等的各個外設。用于輸入命令的用戶接口、用于將有關信息顯示給用戶的顯示設備也可以與測試控制器118關聯(lián)。

在此所使用的“用戶接口”是允許用戶或操作者與計算機或計算機系統(tǒng)進行交互的接口。用戶接口可以將信息或數(shù)據(jù)提供給操作者和/或從操作者接收信息或數(shù)據(jù)。用戶接口可以使得來自操作者的輸入能夠由計算機接收，并且可以將輸出從計算機提供給用戶。換言之，用戶接口可以允許操作者控制或操控計算機，接口可以允許計算機指示操作者的控制或操控的效果。將數(shù)據(jù)或信息顯示在顯示器或圖形用戶接口上是將信息提供給操作者的示例。通過觸摸屏、鍵盤、鼠標，軌跡球、觸摸板、指點桿、圖形平板、操縱桿、游戲板、網(wǎng)絡相機、耳機、裝備桿、方向盤、有線手套、無線遙控、加速計接收數(shù)據(jù)都是使得能夠從操作者接收信息或數(shù)據(jù)的用戶接口組件。

在此所使用的“顯示器”或“顯示設備”涵蓋適用于顯示圖像或數(shù)據(jù)的輸出設備或用戶接口。顯示器可以輸出視覺、音頻和或觸感數(shù)據(jù)。顯示器的示例包括但不限于計算機監(jiān)視器、電視屏幕、觸摸屏幕、觸感電子顯示器、盲文屏幕、陰極射線管(crt)、存儲管、雙穩(wěn)態(tài)顯示器、電子紙、矢量顯示器、平坦面板顯示器、真空熒光顯示器(vf)、發(fā)光二極管(led)顯示器、電致發(fā)光顯示器(eld)、等離子體顯示器面板(pdp)、液晶顯示器(lcd)、有機發(fā)光二極管顯示器(oled)、投影儀、頭戴式顯示器。

可以取決于測試系統(tǒng)100是用于單獨天線元件測試和校準還是用于波束校準不同地配置并且自定義測試系統(tǒng)100校準設置。為了支持自定義的數(shù)字光纖協(xié)議，所述可編程硬件設備122可以加載有不同的協(xié)議實現(xiàn)方式。例如，所述可編程硬件設備122對于自定義是開放的，從而用戶可以在機構(gòu)中或經(jīng) 由賣家加載他們自己的私有協(xié)議。通過該方法，可以在不損及用戶的設計秘密的情況下支持他們的私有協(xié)議，并且可以通過同一方法執(zhí)行測試。

現(xiàn)附加參照圖2所示的測試系統(tǒng)100'描述用于dut108的單獨數(shù)字天線元件的測試配置。通過該配置，可以測量用于dut108的每個天線元件和rf鏈的寬帶信道沖擊。通過針對不同定向測量寬帶信道沖擊響應，可以測量用于所有天線元件的3d天線圖案。針對不同定向使用所測量的對每個天線元件的寬帶信道沖擊響應，可以推導對應校準系數(shù)，以精確地朝向給定方向?qū)π盘栠M行波束化。

可以對于發(fā)射機天線元件和接收機天線元件二者進行同一測試。如圖2所示，對于發(fā)射機天線陣列測試，可以僅存在單個數(shù)字信號發(fā)生器和分析器120，以生成數(shù)字信號，其受處理并且發(fā)布到dut108的天線元件，以激勵天線元件，并且單信道rf信號發(fā)生器和分析器110用于通過rf切換器112捕獲來自不同探針天線104的rf信號。

對于接收機天線陣列測試，rf信號發(fā)生器和分析器110經(jīng)由連接到rf切換器110的探針天線104發(fā)送測試波形并且輻射該波形。從dut108的不同天線元件接收到的數(shù)字信號將采取可編程硬件122中的配置受處理并且組合，并且然后由數(shù)字信號發(fā)生器和分析器120接收，以用于進一步分析。本領域技術(shù)人員應理解，通過分析所測量的天線元件數(shù)據(jù)，可以推導用于每個天線分支的校準系數(shù)。

如圖2所示，數(shù)字測試儀器114的可編程硬件設備122包括分路器/組合器130，以將信號路由進入/離開一個或多個數(shù)字信號發(fā)生器和分析器120。在特定實施例中，所述可編程硬件設備122還包括時間延遲模塊132，其配置為在天線元件發(fā)射機和接收機測試模式下對于每個數(shù)字端口實現(xiàn)不同時間延遲ti。換言之，時間延遲模塊132配置為對于從數(shù)字信號發(fā)生器和分析器120向dut108的每一個數(shù)字天線元件生成的數(shù)字測試信號，實現(xiàn)不同時間延遲。自定義協(xié)議模塊134對可編程硬件設備122與數(shù)字光纖接口124進行接口。

因此，作為可編程硬件設備122的部分的自定義協(xié)議模塊134實現(xiàn)用于所生成的數(shù)字測試信號的自定義數(shù)字光纖接口協(xié)議。自定義協(xié)議模塊134可以允許dut測試者將他們的自定義協(xié)議安裝到數(shù)字測試儀器114中，以執(zhí)行測試，而不將私有信息披露給其它部分，并且還有助于進行可適用于來自不同dut賣家和測試者的不同自定義協(xié)議的測試方法。通過應用于發(fā)送到 dut108的不同天線元件的測試信號的測試信號和延遲，單信道rf儀器(例如rf信號發(fā)生器和分析器110)可以用于完成單次捕獲并且一次測量所有天線元件。

在特定實施例中，rf信號發(fā)生器和分析器110配置為在發(fā)射機測試模式期間捕獲dut108的數(shù)字天線元件所發(fā)送的并且經(jīng)由空間間隔探針天線104的陣列103和rf切換器組件112接收到的數(shù)字測試信號。

在特定實施例中，rf信號發(fā)生器和分析器110配置為在接收機測試模式期間經(jīng)由空間間隔探針天線104的陣列103和rf切換器組件112將rf測試信號發(fā)送到dut108的數(shù)字天線元件，以生成待由數(shù)字測試儀器114的至少一個數(shù)字信號發(fā)生器和分析器120分析的接收到的數(shù)字測試信號。

可以對于每個波束在可編程硬件122中未來實現(xiàn)校準系數(shù)，以再次在腔室102內(nèi)部完成波束測試和校準。除了不同地配置可編程硬件122'之外，測試配置可以與圖2相同。圖3示出可編程硬件122'的配置。

在該實施例中，所述可編程硬件設備122包括分路器/組合器130，其耦合到數(shù)字信號發(fā)生器和分析器120。校準模塊136配置為在波束測試模式下實現(xiàn)用于dut108的數(shù)字天線元件中的每一個的校準系數(shù)，波束加權(quán)模塊138配置為在波束測試模式下在期望的方向上將波束加權(quán)應用于dut108的數(shù)字天線元件中的每一個以指引波束。此外，協(xié)議模塊134實現(xiàn)用于所生成的數(shù)字測試信號的自定義數(shù)字光纖接口協(xié)議。

因此，在近場中執(zhí)行空中(ota)測試，以減少對無回響腔室102大小的要求?；诮鼒鰷y試結(jié)果，可以進一步推導遠場結(jié)果。為了根據(jù)近場結(jié)果推導遠場結(jié)果，可以使用絕對相位信息。通過測量系統(tǒng)的發(fā)射機側(cè)和接收機側(cè)的同步實現(xiàn)該操作。近場測量可以極大地減少對腔室的要求，并且于是顯著減少總測試系統(tǒng)成本。通過精確校準和近場到遠場轉(zhuǎn)換，可以在近場測試設置中實現(xiàn)的性能可相當于可以在dut108的真實場測試中實現(xiàn)的性能。

為了加速測量，如上所述，無回響腔室102使用天線探針104的陣列103或環(huán)以及rf切換器112，以進行快速測量，從而得到用于一個2d切割的天線數(shù)據(jù)。定位106上的dut108在方位角平面中旋轉(zhuǎn)。通過使用探針陣列103和定位106，可以相對快速地確定3d近場天線測量結(jié)果。通過使用同一申請人早先提交的題為“systemandmethodfortestand/orcalibrationofmulti-channelrfcommunicationdevices”的中國專利申請(keysight發(fā)明公開20150033；律師簽號no.0121；其各部 分包括于此)中所公開的測試方法，用于所有天線元件的天線測量數(shù)據(jù)可以是在單次數(shù)據(jù)捕獲的情況下的測量。測試系統(tǒng)100可以因此實現(xiàn)快速3d天線測量和校準。

對于波束測量校準，將在可編程硬件122'中實現(xiàn)校準系數(shù)。波束加權(quán)也將應用在可編程硬件122'中，以朝向給定的方向?qū)π盘栠M行波束化。然后將再次在腔室102內(nèi)部測量波束。為了改進測量分辨率，定位器106將不僅在目標波束方位角方向周圍通過非常精細的分辨率在方位角平面中旋轉(zhuǎn)，而且還將通過非常精細的分辨率在俯仰平面中旋轉(zhuǎn)。通過這種測量，可以確定用于波束圖案的精確3d近場測量結(jié)果?；?d近場測量結(jié)果，可以基于近場到遠場轉(zhuǎn)換推導3d遠場測量結(jié)果。對于當主波束是感興趣的時的情況，可以對于包含主波束數(shù)據(jù)的空間針對方位角和俯仰二者通過非常精細的分辨率僅捕獲用于主波束的近場數(shù)據(jù)。這樣可以顯著減少總測量時間。

相似的方法可以用于同時進行多波束測量。為了同時測量波束，不同延遲應用于同一數(shù)據(jù)流。這些受延遲的數(shù)據(jù)流然后用于形成受延遲的波束。通過使用在此所討論的同一測試方法，可以通過單次捕獲確定用于針對同一位置的不同波束的測量結(jié)果，這樣顯著加速測量。

除了如圖4所示不同地配置可編程硬件122”之外，用于多波束測試和校準的可編程硬件122”的測試配置與圖2所示的測試配置相同。在此，分路器/組合器130將信號路由進入/離開一個或多個數(shù)字信號發(fā)生器和分析器120，時間延遲模塊132配置為在天線元件發(fā)射機和接收機測試模式下對于每個數(shù)字端口實現(xiàn)不同時間延遲ti。自定義協(xié)議模塊134對可編程硬件設備122與數(shù)字光纖接口124進行接口。

用于波束i的校準和波束加權(quán)硬件功能140與關于校準模塊136和波束加權(quán)模塊138的圖3所示的功能相同。對于不同的波束，波束加權(quán)和校準系數(shù)將是不同的。

如果對于所有方向需要3d精確遠場測量結(jié)果，則通過以非常精細的分辨率在方位角和俯仰平面中旋轉(zhuǎn)定位器106并且還使用多探針天線104，可以獲取精確的3d近場測試結(jié)果。如果主波束是感興趣的，則基于每個波束的波束加權(quán)，可以大致估計這些波束在方位角平面上的方向。通過控制定位器106并且還使用探針天線104，可以確定用于每個波束的主波束的近場數(shù)據(jù)，這樣可以顯著減少測量時間。

多波束近場測量數(shù)據(jù)然后再次轉(zhuǎn)換為遠場。該波束方向和波束增益相當于期望的波束方向和增益。差值用于推導波束校準系數(shù)，并且進一步下載到可編程硬件122中?？梢允褂门c圖4所示的相同但對于每個波束具有更新后的校準系數(shù)的配置再次運行多波束測試，以檢查校準是否可以實現(xiàn)期望的結(jié)果。

可以對于發(fā)射機模式和接收機模式二者進行多波束測試和校準。對于發(fā)射機天線陣列測試，在測試配置中可以存在單個數(shù)字信號發(fā)生器和分析器120以及rf信號發(fā)生器和分析器112，而對于接收天線陣列測試，將存在與單個波束測試配置確切相同的數(shù)字信號發(fā)生器和分析器120以及rf信號發(fā)生器和分析器112。

在測試和校準中，使用專用測試信號。在真實系統(tǒng)中，使用真實信號。可能需要通過真實信號驗證測試和校準結(jié)果。當在完成用于天線陣列的測試和校準之后使用真實多波束信號時，圖1中的多個數(shù)字信號發(fā)生器和分析器120也可以用于驗證多波束波束成形結(jié)果?？删幊逃布?22將使用圖4所示的并且具有正確校準系數(shù)并且還有波束加權(quán)的配置?；跍y試需要，可以延遲或不延遲用于每個波束的信號流。rf信號發(fā)生器和分析器112可以捕獲用于每個波束的信號，以使用以上對于多波束測試和校準所述及的測試處理驗證用于每個波束的波束成形結(jié)果。相似地，可以應用用于接收天線陣列的真實信號的波束成形結(jié)果的驗證。多個數(shù)字信號發(fā)生器和分析器120可以用于直接捕獲多個波束信號。

圖5是示出根據(jù)代表性實施例的特征的各個方法步驟的流程圖。方法500針對具有數(shù)字天線元件的陣列的待測試設備(dut)108。所述方法包括，在塊502，將dut108定位在包括空間間隔探針天線104的陣列103的測試腔室102中的定位器106上。在塊504，所述方法包括：使用射頻(rf)信號發(fā)生器和分析器110將rf測試信號發(fā)送到/接收自空間間隔探針天線104，然后在塊506，通過rf切換器組件112有選擇地將rf信號發(fā)生器和分析器110耦合到空間間隔探針天線104的陣列103。所述方法還包括：在塊508，使用數(shù)字測試儀器114測量對dut108的每個數(shù)字天線元件的寬帶信道沖擊響應。

數(shù)字測試儀器114包括至少一個數(shù)字信號發(fā)生器和分析器120，其在發(fā)射機測試模式下生成去往dut108的數(shù)字天線元件的數(shù)字測試信號，并且在接收機測試模式下分析來自dut108的數(shù)字天線元件的接收到的數(shù)字測試 信號?？删幊逃布O備122實現(xiàn)用于所生成的接收到的數(shù)字測試信號的自定義數(shù)字光纖接口協(xié)議，數(shù)字光纖接口124將可編程硬件設備122耦合到dut108的數(shù)字天線元件的陣列，并且將數(shù)字測試信號收發(fā)進入/離開dut108的數(shù)字天線元件的陣列。所述方法還包括：在塊510，使用同步模塊116對rf信號發(fā)生器和分析器110和數(shù)字測試儀器114進行同步，并且在塊512，使用測試控制器118在dut108的測試期間控制定位器106、rf信號發(fā)生器和分析器110、rf切換器組件112、數(shù)字測試儀器114的操作。

現(xiàn)參照圖6-圖11描述用于多信道rf通信設備的測試和/或校準的系統(tǒng)和方法。

以下實施例可以提供可以使用單信道信號發(fā)生和分析儀器在纜線傳導測試模式和ota(空中)測試模式下執(zhí)行多信道系統(tǒng)rf性能(例如幅度和相位)測試和校準的更快且更低成本的測量方法。所述方法和系統(tǒng)使用組合器網(wǎng)絡組合饋送到單信道分析儀器的多個接收到的信號以進行rf性能分析；并且，實施例使用單個測試信號和時間偏移網(wǎng)絡產(chǎn)生多個信道之間的正交性。

圖6示出用于測試多信道rf系統(tǒng)或dut10的測試系統(tǒng)100的第一示例實施例。圖6的測試系統(tǒng)是纜線傳導多信道rf性能測試系統(tǒng)。

測試系統(tǒng)1000包括信號源或單信道信號發(fā)生器1100、發(fā)布網(wǎng)絡1040、組合器網(wǎng)絡1200、單信道測量儀器1300。如果適當，則測試系統(tǒng)1000也可以還包括電光轉(zhuǎn)換器106和對應光電轉(zhuǎn)換器1080。具體地說，圖6的測試系統(tǒng)1000是用于測試和/或校準多信道rf設備或dut1110(具體地說，多信道rf通信設備或系統(tǒng))的多個rf發(fā)射機或接收機的系統(tǒng)的實施例。

在圖6的測試系統(tǒng)1000中，單信道信號發(fā)生器1100生成具有理想自相關特性(例如在非零值時間偏移處全零值，在零值時間偏移處非零值)的測試信號。用于這些信號的一些示例包括但不限于zadoff-chu序列以及互補golay序列等。測試信號饋送到校準后的發(fā)布網(wǎng)絡1040中，校準后的發(fā)布網(wǎng)絡1040將測試信號發(fā)布到時間偏移網(wǎng)絡1050中。

例如，zadoff–chu(zc)序列是復數(shù)值數(shù)學序列，其當應用于無線電信號時產(chǎn)生恒定幅度的電磁信號，由此對信號所施加的序列的循環(huán)移位版本在接收機處產(chǎn)生彼此零相關性。這些序列展現(xiàn)出自身的各循環(huán)移位版本為彼此正交的函數(shù)性質(zhì)，也就是說，倘若當在信號的時域中看時每個循環(huán)移位大于發(fā)射機與接收機之間的該信號的所組合的傳輸延遲和多徑延遲擴展。

在此，假設dut1110包括能夠彼此獨立地操作的多個rf信道1-n。每個rf信道1-n接收例如基帶序列的形式的對應數(shù)據(jù)，并且能夠據(jù)此生成rf信號，其中，rf信號的一個或多個參數(shù)(例如相位或頻率移動或調(diào)制)取決于數(shù)據(jù)改變，從而數(shù)據(jù)得以表示在該rf信號中。

在時間偏移網(wǎng)絡1050中，每個時間偏移信道1-n將不同時間延遲應用于測試信號，時間偏移網(wǎng)絡1050的多個輸出信號輸入到dut1110中，即每個時間偏移信號分別饋送到dut1110中的一個rf信道1-n中，然后，校準后的組合器網(wǎng)絡1200將來自dut1110的多個輸出信號組合為單信道信號，并且將該信號饋送到單信道測量儀器130中，以用于進一步rf性能分析。如果dut1110具有光學輸入和/或輸出接口，則需要電光轉(zhuǎn)換器1060和/或光電轉(zhuǎn)換器1080。取決于dut1110是發(fā)射機還是接收機，其可以具有不同的輸入和輸出接口組合，如以下將描述的那樣。

所以，在所描述的實施例中，測試系統(tǒng)1000包括單信道信號發(fā)生器1100，其配置為生成待發(fā)布到dut1110的多個rf信道中的每一個的自相關測試信號。單信道信號發(fā)生器1100可以配置為生成具有包括在非零值時間偏移處的零值以及在零值時間偏移處的非零值的自相關特性的自相關測試信號。

時間偏移網(wǎng)絡1050包括均對應于dut1110的多個rf信道1-n之一的多個時間偏移信道1-n，并且配置為與dut1110組合提供均具有不同時間延遲的對應自相關測試作為各個rf信道測試信號。單信道測量儀器1300配置為基于rf信道測試信號的組合處理單信道測試信號，以獨立地測量dut1110的rf信道1-n的至少一個特性。

受測量的rf信道中的每一個的特性可以包括來自dut1110的rf信道1-n中的每一個的對應rf信道測試信號的功率電平、帶寬和/或失真。

在該實施例中，時間偏移網(wǎng)絡1050配置為耦合在單信道信號發(fā)生器1100與dut1110之間。替代地，在圖8所示的測試系統(tǒng)3000中，時間偏移網(wǎng)絡105可以配置為耦合在dut10與單信道測量儀器130之間。

組合器網(wǎng)絡1200可以配置為組合rf信道測試信號并且將單信道測試信號提供給單信道測量儀器1300。如圖6所示，組合器網(wǎng)絡1200可以是校準后的組合器網(wǎng)絡，其配置為在纜線傳導測試模式下組合rf信道測試信號，并且將單信道測試信號輸出到單信道測量儀器1300。

此外，在圖9所示的測試系統(tǒng)4000中，組合器網(wǎng)絡1200'可以是天線布置，其配置為在空中(ota)測試模式下組合多個rf信道測試信號，并且將單信道測試信號提供給單信道測量儀器1300。例如，可以經(jīng)由各個天線420-1至420-n發(fā)送多個rf信道測試信號。與單信道測量儀器1300關聯(lián)的天線設備1210配置為接收多個rf信道測試信號以提供單信道測試信號，以用于由單信道測量儀器1300進行處理。

此外，在各個實施例中，發(fā)布網(wǎng)絡1040可以處于單信道信號發(fā)生器1100的下游，并且配置為發(fā)布自相關測試信號，以用于dut1110的多個rf信道中的每一個。如圖6、圖8和圖9所示，發(fā)布網(wǎng)絡1040可以是校準后的發(fā)布網(wǎng)絡，其配置為在纜線傳導測試模式下發(fā)布自相關測試信號，以用于dut1110的多個rf信道1-n中的每一個。

此外，在圖10所示的測試系統(tǒng)5000中，發(fā)布網(wǎng)絡1040'可以是天線布置，其配置為發(fā)布自相關測試信號ota，以用于dut1110的多個rf信道1-n中的每一個。例如，自相關測試信號可以發(fā)送到各個天線504-1至504-n，以用于dut1110的信道1-n中的每一個。在此，與單信道信號發(fā)生器1100關聯(lián)的天線設備1220配置為將自相關測試信號發(fā)送到發(fā)布網(wǎng)絡104'的多個天線504-1至504-n。

如所討論的那樣，dut1110可以包括光學輸入，從而測試系統(tǒng)1000、3000、4000和5000可以包括光電轉(zhuǎn)換器1060，其耦合到單信道測量儀器1300的上游的dut1110的多個rf信道1-n中的每一個的光學輸出。dut1110可以包括光學輸入，從而測試系統(tǒng)1000、3000、4000和5000可以包括電光轉(zhuǎn)換器1080，其耦合到單信道信號發(fā)生器1100的下游的dut1110的多個rf信道1-n中的每一個的光學輸入。

與待受單信道測量儀器1300處理的單信道測試信號組合的rf信道測試信號可以在時域中是重疊的，如將附加參照圖7的信號處理示圖所討論的那樣。

用于rf性能分析的主要分析處理是在所組合的信號(即單信道測試信號)與初始測試信號或自相關測試信號之間執(zhí)行互相關處理。圖7示出多信道rf性能測試系統(tǒng)1000的信號處理示圖。因為自相關測試信號的理想自相關特性，所以在組合器網(wǎng)絡1200之后的所組合的信號中的具有時間延遲τi的rf信道i的信號分量hi·si將壓縮為在互相關處理之后峰值位于時間τi的 脈沖信號hi·σ(τ-τi)，并且其復數(shù)包絡hi(其包括rf信道i的幅度和相位信息)可以被容易地提取。

與時域中被分離(例如，如在之前順序切換單信道測試方法中)不同，在該實施例中，來自不同rf信道1-n的單信道測試信號于在組合器網(wǎng)絡1200中組合之后可以在時域中是重疊的，因此，測試時間等于t0+τn(其中，t0是初始測試信號的時間長度)，并且通過選擇合適的時間延遲τn(<t0)，測試時間可以遠短于所述之前順序切換單信道測試方法中所需的時間(其可能是n·t0)。

在一些實施例中，dut1110可以是具有很多rf信道1-n的大規(guī)模多入多出(mimo)通信系統(tǒng)。在一些實施例中，在dut10是mimo系統(tǒng)的情況下，dut1110可以具有至少n＝64個rf信道1-64。在一些實施例中，dut10可以具有n＝400或更多個rf信道1-400。

在各個實施例中，信號源或單信道信號發(fā)生器1100可以包括信號處理器和信號發(fā)生器。信號處理器可以還包括數(shù)字微處理器和存儲器，存儲器可以包括易失性和/或非易失性存儲器，包括隨機存取存儲器(ram)、只讀存儲器——例如電可擦除可編程只讀存儲器(eeprom)、flash存儲器等。在一些實施例中，存儲器可以存儲待由數(shù)字微處理器執(zhí)行的指令，以使得數(shù)字微處理器執(zhí)行一個或多個算法，以用于生成待提供給dut1110的多個基帶測試序列，如以下更詳細討論的那樣。該信號處理器可以還包括固件、一個或多個專用集成電路(asic)、數(shù)字信號處理器(dsp)、可編程門陣列等。

在實施例中，組合器網(wǎng)絡1200可以配置有多個組合器級，其中，每個組合器級可以包括一個或多個組合器。例如，每個組合器可以是二輸入設備。組合器網(wǎng)絡的其它配置是可能的。例如，在其它實施例中，組合器網(wǎng)絡可以包括四輸入設備的多個級或甚至具有一個n輸入設備的單個級。

在有益的特征中，可以校準組合器網(wǎng)絡1200，從而通過組合器網(wǎng)絡1200來自每個rf信號的傳遞函數(shù)(例如信號幅度損耗和或相移)絕對地和/或關于彼此是已知的(即用于不同rf信號的損耗和相移關于彼此是已知的)。用于各個rf信號的校準數(shù)據(jù)可以存儲在存儲器(例如單信道測量儀器1300的存儲器)中，從而單信道測量儀器1300可以產(chǎn)生用于dut1110的rf信道1-n中的每一個的校準后的測量或測試結(jié)果。

在一些實施例中，單信道測量儀器1300可以包括rf測試儀器。在一些實施例中，單信道測量儀器1300可以包括單信道信號分析器，例如rf信號 分析器(例如譜分析器)。然而，通常，單信道測量儀器1300可以是可以測量dut1110所生成的任何rf信號的一個或多個參數(shù)的任何測試或測量儀器。

在一些實施例中，測試系統(tǒng)1000可以包括多于一個的單信道測量儀器，其可以與測量組合器網(wǎng)絡1200所輸出的單信道測試信號的不同參數(shù)并行地操作。

如上所述，即使組合器網(wǎng)絡1200組合rf信號以產(chǎn)生單信道測試信號，單信道測量儀器1300也可以分解或分離每個單獨rf信號與單信道測試信號，從而根據(jù)組合器網(wǎng)絡1200所輸出的組合的單信道測試信號單獨測試或測量rf信道1-n中的任何一個的一個或多個參數(shù)。

在一些實施例中，信號處理器的數(shù)字微處理器和存儲器可以執(zhí)行一個或多個操作，如上所述。例如，在一些實施例中，數(shù)字微處理器可以根據(jù)存儲器(例如非易失性存儲器)中所存儲的指令執(zhí)行算法，以生成自相關測試信號。在一些實施例中，數(shù)字微處理器可以根據(jù)存儲器(例如非易失性存儲器)中所存儲的指令執(zhí)行算法，以生成自相關測試信號。

在一些實施例中，用于自相關測試信號的基帶數(shù)據(jù)序列可以存儲在存儲器(例如諸如eeprom或flash設備之類的非易失性存儲器)中，并且可以由數(shù)字微處理器從非易失性存儲器讀取。

在一些實施例中，基帶數(shù)據(jù)序列可以由信號設計系統(tǒng)設計并且從其傳遞到信號源或單信道信號發(fā)生器1100。在一些實施例中，該信號設計系統(tǒng)可以包括通用計算機，其包括一個或多個數(shù)字微處理器、存儲器(包括易失性和/或非易失性存儲器)、數(shù)據(jù)存儲體(例如硬盤或閃存驅(qū)動)、用于與信號源或單信道信號發(fā)生器1100進行通信的一個或多個接口(例如以太網(wǎng)端口、無線網(wǎng)絡接口等)以及可以包括顯示器、鍵盤、鍵區(qū)、觸摸屏、鼠標、軌跡球、麥克風等的用戶接口。

在一些實施例中，用戶可以執(zhí)行信號設計系統(tǒng)的存儲器和/或數(shù)據(jù)存儲體中所存儲的一個或多個軟件算法，以設計或設置用于由信號處理器使用的基帶數(shù)據(jù)序列的參數(shù)，并且可以經(jīng)由接口傳遞該數(shù)據(jù)。在一些實施例中，該信號設計系統(tǒng)可以僅在系統(tǒng)設計期間或用于測試系統(tǒng)1000的系統(tǒng)配置階段連接到信號源或單信道信號發(fā)生器1100。

在一些實施例中，單信道測量儀器1300依次每次一個地測量rf信道1-n的一個或多個特性。在各個實施例中，單信道測量儀器1300可以測量 每個rf信道的以下特性中的一個或多個：輸出功率電平、所占據(jù)的帶寬、信噪比(snr)，諧波輸出電平、諧波失真、信噪干比(snir)等。

圖11是測試多信道rf系統(tǒng)或設備(例如dut10)的方法600的示例實施例的流程圖。在一些實施例中，方法600可以用于測試和/或校準多信道rf設備或系統(tǒng)(具體地說，多信道rf通信設備或系統(tǒng)(例如大規(guī)模多入多出(mimo)通信系統(tǒng)))的多個rf發(fā)射機或接收機。在一些實施例中，方法600可以由測試系統(tǒng)1000、3000、4000或5000執(zhí)行，以測量dut10的rf信道1-n的一個或多個特性。

測試包括多個rf信道1-n的dut1110的方法600開始(602)，并且包括(塊604)：通過單信道信號發(fā)生器110生成自相關測試信號，以用于發(fā)布到dut1110的多個rf信道1-n中的每一個。所述方法包括(塊606)：生成均具有不同時間延遲的對應于發(fā)布到dut1110的多個rf信道1-n中的每一個的自相關測試信號的各個rf信道測試信號。在塊608，所述方法包括：通過單信道測量儀器1300基于rf信道測試信號的組合處理單信道測試信號，以獨立地測量dut10的rf信道1-n中的每一個的至少一個特性，然后結(jié)束于塊610。

如上所述，在該實施例中，自相關測試信號可以從單信道信號發(fā)生器1100輸出到時間偏移網(wǎng)絡1050，以應用各個rf信道測試信號的不同時間延遲，然后輸入到圖6的實施例所示的dut1110的多個信道1-n。替代地，對應自相關測試信號可以從dut1110的多個信道1-n中的每一個輸出到時間偏移網(wǎng)絡1050，以應用各個rf信道測試信號的不同時間延遲，然后輸入到圖8實施例中所示的單信道測量儀器1301。

此外，所測量的rf信道1-n中的每一個的特性可以包括來自dut1110的rf信道1-n中的每一個的對應rf信道測試信號的功率電平、帶寬和/或失真。在單信道測試信號中所組合的rf信道測試信號可以在時域中是重疊的。并且，單信道信號發(fā)生器1100可以配置為生成具有包括在非零值時間偏移處的零值以及在零值時間偏移處的非零值的自相關特性的自相關測試信號。

雖然已經(jīng)在附圖和前面描述中詳細描述了本發(fā)明，但這種說明和描述被看作是說明性或示例性而非限制性的；本發(fā)明不限于所公開的實施例。

根據(jù)研究附圖、本公開以及所附權(quán)利要求，本領域技術(shù)人員可以在實踐本發(fā)明中理解并且實現(xiàn)所公開的實施例的其它變形。在權(quán)利要求中，詞語“包 括”不排除其它要素或步驟，并且數(shù)目詞“一個”或“某個”不排除多個。單個處理器或另外單元可以實現(xiàn)權(quán)利要求中陳述的若干項的功能。在相互不同的從屬權(quán)利要求中陳述特定措施的僅僅事實并不指示不能有利地使用這些措施的組合。計算機程序可以存儲/分布在合適的介質(zhì)(例如連同其它硬件一起或作為其它硬件的一部分而提供的光存儲介質(zhì)或固態(tài)介質(zhì))上，但也可以通過其它形式分布(例如經(jīng)由例如上述互聯(lián)網(wǎng)或其它有線或無線電信系統(tǒng))。

雖然在此公開了代表性實施例，但本領域技術(shù)人員應理解，根據(jù)本教導的很多變形是可能的，并且仍然在所附權(quán)利要求集合的范圍內(nèi)。因此，除了在所附權(quán)利要求范圍內(nèi)之外，本發(fā)明并不受限。