1.一種上報非授權(quán)小區(qū)測量報告的方法，其特征在于，終端在第K個測量周期根據(jù)經(jīng)過層三處理后的測量結(jié)果以及預(yù)設(shè)的測量準(zhǔn)入條件確定啟動測量觸發(fā)時長TTT后，所述方法包括：
所述終端獲取當(dāng)前測量周期的物理層測量值；
所述終端根據(jù)式1所示的層三處理策略對當(dāng)前測量周期的物理層測量值Mn進(jìn)行過濾處理，得到當(dāng)前測量周期所對應(yīng)的層三處理后的測量結(jié)果Fn；
Fn＝[1-(n-m)×a]×Fm+(n-m)a×Mn (1)
其中，n為當(dāng)前測量周期的序號；m為當(dāng)前測量周期之前，所述終端上一次獲取到物理層測量值的測量周期的序號；Fm為當(dāng)前測量周期之前，所述終端上一次獲取到物理層測量值的測量周期所對應(yīng)的層三處理后的測量結(jié)果；a為過濾參數(shù)；
當(dāng)所述測量TTT內(nèi)所有的測量結(jié)果均滿足預(yù)設(shè)的準(zhǔn)入條件時，所述終端向網(wǎng)絡(luò)側(cè)上報測量報告；
當(dāng)所述測量TTT內(nèi)的任一測量周期所對應(yīng)的層三處理后的測量結(jié)果不滿足預(yù)設(shè)的準(zhǔn)入條件時，所述終端終止測量TTT，并重新根據(jù)經(jīng)過層三處理后的測量結(jié)果以及預(yù)設(shè)的測量準(zhǔn)入條件確定進(jìn)入測量觸發(fā)時長TTT。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，終端在第K個測量周期根據(jù)經(jīng)過層三處理后的測量結(jié)果以及預(yù)設(shè)的測量準(zhǔn)入條件確定進(jìn)入測量TTT，具體包括：
終端在第K個測量周期獲取第K個測量周期的物理層測量值；
所述終端根據(jù)式2所示的層三處理策略對當(dāng)前測量周期的物理層測量值MK進(jìn)行過濾處理，得到第K個測量周期所對應(yīng)的層三處理后的測量結(jié)果FK；
FK＝[1-(K-I)×a]×FI+(K-I)a×MK (2)
其中，I為第K個測量周期之前，所述終端上一次獲取到物理層測量值的測量周期的序號；FI為第K個測量周期之前，所述終端上一次獲取到物理層測 量值的測量周期所對應(yīng)的層三處理后的測量結(jié)果；a為過濾參數(shù)；
當(dāng)?shù)贙個測量周期所對應(yīng)的層三處理后的測量結(jié)果FK滿足預(yù)設(shè)的測量準(zhǔn)入條件時，所述終端啟動所述TTT。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述預(yù)設(shè)的準(zhǔn)入條件，包括：待測的非授權(quán)小區(qū)的信號質(zhì)量優(yōu)于預(yù)設(shè)門限；或者，待測的非授權(quán)小區(qū)信號質(zhì)量優(yōu)于終端當(dāng)前服務(wù)小區(qū)信號質(zhì)量。
4.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述方法還包括：
當(dāng)終端通過物理層第一次獲取到測量周期的物理層測量值M1時，終端在第一次獲取到物理層測量值的測量周期根據(jù)經(jīng)過層三處理后的測量結(jié)果F1為：F1＝M1。
5.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的方法，其特征在于，當(dāng)所述終端當(dāng)前獲取到物理層測量值的測量周期與所述終端上一次獲取到物理層測量值的測量周期之間的間隔大于或等于預(yù)設(shè)數(shù)量的測量周期時，所述方法還包括：
所述終端當(dāng)前周期所對應(yīng)的層三處理后的測量結(jié)果Fn根據(jù)式3獲得：
Fn＝Mn (3)
其中，Mn為當(dāng)前測量周期獲取到的物理層測量值。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，當(dāng)所述終端在所述測量TTT的最后一個測量周期沒有獲取到物理層測量值時，所述方法還包括：
所述終端將自身在所述最后一個測量周期的上一次獲取到物理層測量值的測量周期所對應(yīng)的層三處理后的測量結(jié)果與預(yù)設(shè)的準(zhǔn)入條件進(jìn)行判定；
或者，所述終端將自身在所述測量TTT的最后一個測量周期之后下一個獲取到物理層測量值的測量周期所對應(yīng)的測量結(jié)果與預(yù)設(shè)的準(zhǔn)入條件進(jìn)行判定；其中，所述測量TTT延長至所述下一個獲取到物理層測量值的測量周期。
7.一種上報非授權(quán)小區(qū)測量報告的裝置，其特征在于，所述裝置包括：獲取單元、處理單元、判定單元、上報單元和終止單元；其中，
所述獲取單元，用于獲取當(dāng)前測量周期的物理層測量值；
所述處理單元，用于根據(jù)式4所示的層三處理策略對當(dāng)前測量周期的物理層測量值Mn進(jìn)行過濾處理，得到當(dāng)前測量周期所對應(yīng)的層三處理后的測量結(jié)果Fn；
Fn＝[1-(n-m)×a]×Fm+(n-m)a×Mn (4)
其中，n為當(dāng)前測量周期的序號；m為當(dāng)前測量周期之前，所述終端上一次獲取到物理層測量值的測量周期的序號；Fm為當(dāng)前測量周期之前，所述終端上一次獲取到物理層測量值的測量周期所對應(yīng)的層三處理后的測量結(jié)果；a為過濾參數(shù)；
所述判定單元，用于將所述測量觸發(fā)時長TTT內(nèi)的測量結(jié)果與預(yù)設(shè)的準(zhǔn)入條件進(jìn)行判定；
以及，當(dāng)所述測量TTT內(nèi)所有的測量結(jié)果均滿足預(yù)設(shè)的準(zhǔn)入條件時，觸發(fā)所述上報單元；
以及，當(dāng)所述測量TTT內(nèi)的任一測量周期所對應(yīng)的層三處理后的測量結(jié)果不滿足預(yù)設(shè)的準(zhǔn)入條件時，觸發(fā)所述終止單元；
所述上報單元，用于向網(wǎng)絡(luò)側(cè)上報測量報告；
所述終止單元，用于終止測量TTT。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的裝置，其特征在于，所述裝置還包括啟動單元；
所述獲取單元，還用于在第K個測量周期獲取第K個測量周期的物理層測量值；
所述處理單元，還用于根據(jù)式5所示的層三處理策略對當(dāng)前測量周期的物理層測量值MK進(jìn)行過濾處理，得到第K個測量周期所對應(yīng)的層三處理后的測量結(jié)果FK；
FK＝[1-(K-I)×a]×FI+(K-I)a×MK (5)
其中，I為第K個測量周期之前，所述終端上一次獲取到物理層測量值的測量周期的序號；FI為第K個測量周期之前，所述終端上一次獲取到物理層測量值的測量周期所對應(yīng)的層三處理后的測量結(jié)果；a為過濾參數(shù)；
所述判定單元，還用于判定第K個測量周期所對應(yīng)的層三處理后的測量結(jié)果FK滿足預(yù)設(shè)的測量準(zhǔn)入條件；以及，
當(dāng)?shù)贙個測量周期所對應(yīng)的層三處理后的測量結(jié)果FK滿足預(yù)設(shè)的測量準(zhǔn)入條件時，觸發(fā)所述啟動單元；
所述啟動單元，用于啟動所述TTT。
9.根據(jù)權(quán)利要求6所述的裝置，其特征在于，所述預(yù)設(shè)的準(zhǔn)入條件，包括：待測的非授權(quán)小區(qū)的信號質(zhì)量優(yōu)于預(yù)設(shè)門限；或者，待測的非授權(quán)小區(qū)信號質(zhì)量優(yōu)于終端當(dāng)前服務(wù)小區(qū)信號質(zhì)量。
10.根據(jù)權(quán)利要求6或7所述的裝置，其特征在于，所述處理單元，還用于當(dāng)所述獲取單元通過物理層第一次獲取到測量周期的物理層測量值M1時，根據(jù)經(jīng)過層三處理后的測量結(jié)果F1為：F1＝M1。
11.根據(jù)權(quán)利要求6或7所述的裝置，其特征在于，當(dāng)所述獲取單元當(dāng)前獲取到物理層測量值的測量周期與所述終端上一次獲取到物理層測量值的測量周期之間的間隔滿足預(yù)設(shè)數(shù)量的測量周期時，所述處理單元，還用于根據(jù)式6獲得當(dāng)前周期所對應(yīng)的層三處理后的測量結(jié)果Fn：
Fn＝Mn (6)
其中，Mn為當(dāng)前測量周期獲取到的物理層測量值。
12.根據(jù)權(quán)利要求6所述的裝置，其特征在于，當(dāng)所述獲取單元在所述測量TTT的最后一個測量周期沒有獲取到物理層測量值時，所述判定單元，用于將所述測量TTT的所述最后一個測量周期的上一次獲取到物理層測量值的測量周期所對應(yīng)的層三處理后的測量結(jié)果與預(yù)設(shè)的準(zhǔn)入條件進(jìn)行判定；
或者，將所述測量TTT的最后一個測量周期之后下一個獲取到物理層測量值的測量周期所對應(yīng)的測量結(jié)果與預(yù)設(shè)的準(zhǔn)入條件進(jìn)行判定；其中，所述測量TTT延長至所述下一個獲取到物理層測量值的測量周期。