本發(fā)明涉及網(wǎng)絡(luò)通信領(lǐng)域的操作管理維護(hù)(OAM,Operation Administration&Maintenance)技術(shù),尤其涉及一種OAM報(bào)文檢測(cè)缺陷振蕩處理的方法、裝置及系統(tǒng)。
背景技術(shù):
在公眾電信網(wǎng)中,OAM技術(shù)已經(jīng)變得非常重要,尤其對(duì)于需要提供服務(wù)質(zhì)量保障的網(wǎng)絡(luò),OAM技術(shù)可以實(shí)時(shí)檢測(cè)鏈路狀態(tài)及進(jìn)行狀態(tài)上報(bào),以達(dá)到對(duì)鏈路進(jìn)行差錯(cuò)管理的目的并提供快速切換鏈路的能力。至今,越來(lái)越多的通訊設(shè)備廠商中使用特定用途集成電路(ASIC,Application Specific Integrated Circuit),以實(shí)現(xiàn)OAM報(bào)文快速檢測(cè)缺陷振蕩的功能。具體地,硬件檢測(cè)出OAM報(bào)文缺陷后,通過(guò)中斷方式上報(bào)至協(xié)處理器(Co-processor),協(xié)處理器讀取對(duì)應(yīng)的缺陷信息和相關(guān)寄存器,隨后通知上層應(yīng)用模塊進(jìn)行協(xié)議層的操作。但是,上述措施存在以下技術(shù)問(wèn)題:當(dāng)OAM出現(xiàn)缺陷振蕩時(shí),硬件大量上報(bào)中斷給協(xié)處理器,從而浪費(fèi)大量的協(xié)處理器資源,使得協(xié)處理器的效率變低并導(dǎo)致設(shè)備性能下降。另外,由于協(xié)處理器無(wú)法立即處理硬件檢測(cè)的缺陷,并且缺陷振蕩時(shí)的狀態(tài)是實(shí)時(shí)變化的,因此,協(xié)處理器讀取的當(dāng)前缺陷信息無(wú)法為上層應(yīng)用模塊提供可靠的支持,從而造成協(xié)議層面的錯(cuò)誤操作。
現(xiàn)有技術(shù)中,專(zhuān)利申請(qǐng)?zhí)枮?00810241252.8、專(zhuān)利名稱(chēng)為“一種OAM震蕩告警的抑制設(shè)備及方法”的中國(guó)專(zhuān)利提供了一種OAM報(bào)文檢測(cè)缺陷振蕩處理的方法,包括:報(bào)文處理器判斷接收到的OAM報(bào)文周期不匹配,產(chǎn)生周期不匹配告警,將對(duì)應(yīng)的OAM狀態(tài)表中的周期不匹配計(jì)數(shù)值加1,并在周期不匹配告警屏蔽標(biāo)志位不為1的情況下將告警發(fā)送給協(xié)處理器;協(xié)處理器上報(bào)所述 告警給對(duì)應(yīng)的上層應(yīng)用模塊,并置位對(duì)應(yīng)的OAM告警狀態(tài)表中的周期不匹配告警屏蔽標(biāo)志位,清零周期不匹配告警計(jì)數(shù)值;然后設(shè)置定時(shí)器的定時(shí)周期啟動(dòng)。
上述方法可以在一定程度抑制由于兩端設(shè)備OAM報(bào)文發(fā)送周期不匹配所產(chǎn)生的震蕩告警,但是上述方法僅提出了對(duì)缺陷產(chǎn)生的振蕩告警進(jìn)行抑制的方法,并沒(méi)有解決缺陷振蕩處理導(dǎo)致協(xié)議層面的錯(cuò)誤操作的技術(shù)問(wèn)題。并且,當(dāng)設(shè)備需要支持的OAM報(bào)文會(huì)話數(shù)目很大時(shí),計(jì)數(shù)器和定時(shí)器的實(shí)現(xiàn)方式將占用大量的硬件資源和協(xié)處理器資源。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素:
有鑒于此,本發(fā)明實(shí)施例期望提供一種OAM報(bào)文檢測(cè)缺陷振蕩處理的方法、裝置及系統(tǒng),不僅能夠抑制缺陷振蕩;而且能夠減少在檢測(cè)缺陷振蕩時(shí)所使用的硬件資源及處理器資源。
為達(dá)到上述目的,本發(fā)明實(shí)施例的技術(shù)方案是這樣實(shí)現(xiàn)的:
本發(fā)明實(shí)施例提供了一種OAM報(bào)文檢測(cè)缺陷振蕩處理的方法,包括:
從OAM檢測(cè)報(bào)文中提取會(huì)話號(hào)及會(huì)話狀態(tài)信息;
根據(jù)所述會(huì)話號(hào)讀取對(duì)應(yīng)的缺陷信息后,根據(jù)所述會(huì)話狀態(tài)信息及所述缺陷信息判斷是否上報(bào)缺陷中斷;或者根據(jù)所述會(huì)話狀態(tài)信息及所述缺陷信息判斷是否僅更新所述缺陷信息。
上述方案中,所述根據(jù)所述會(huì)話狀態(tài)信息及所述缺陷信息判斷是否上報(bào)缺陷中斷包括:
當(dāng)所述會(huì)話狀態(tài)信息為報(bào)文到達(dá)信息時(shí),判斷鎖存狀態(tài)位及實(shí)時(shí)狀態(tài)位,其中,所述缺陷信息包括所述鎖存狀態(tài)位及所述實(shí)時(shí)狀態(tài)位;
當(dāng)所述鎖存狀態(tài)位為缺陷退出狀態(tài)及所述實(shí)時(shí)狀態(tài)位為缺陷產(chǎn)生狀態(tài)時(shí),上報(bào)所述缺陷中斷;或者,
當(dāng)所述會(huì)話狀態(tài)信息為會(huì)話超時(shí)信息時(shí),判斷所述鎖存狀態(tài)位及所述實(shí)時(shí)狀態(tài)位;
當(dāng)所述鎖存狀態(tài)位及所述實(shí)時(shí)狀態(tài)位為所述缺陷退出狀態(tài)時(shí),上報(bào)所述缺陷中斷。
上述方案中,所述根據(jù)所述會(huì)話狀態(tài)信息及所述缺陷信息判斷是否僅更新所述缺陷信息包括:
當(dāng)所述會(huì)話狀態(tài)信息為所述報(bào)文到達(dá)信息時(shí),判斷所述鎖存狀態(tài)位及所述實(shí)時(shí)狀態(tài)位;
當(dāng)所述鎖存狀態(tài)位及所述實(shí)時(shí)狀態(tài)位為所述缺陷產(chǎn)生狀態(tài)時(shí),將所述實(shí)時(shí)狀態(tài)位設(shè)置為所述缺陷退出狀態(tài);或者,
當(dāng)所述會(huì)話狀態(tài)信息為所述會(huì)話超時(shí)信息時(shí),判斷所述鎖存狀態(tài)位及所述實(shí)時(shí)狀態(tài)位;
當(dāng)所述鎖存狀態(tài)位為所述缺陷產(chǎn)生狀態(tài)及所述實(shí)時(shí)狀態(tài)位為所述缺陷退出狀態(tài)時(shí),將所述實(shí)時(shí)狀態(tài)位設(shè)置為所述缺陷產(chǎn)生狀態(tài)。
上述方案中,所述從OAM檢測(cè)報(bào)文中提取會(huì)話號(hào)及會(huì)話狀態(tài)信息之前,所述方法還包括:
當(dāng)所述OAM檢測(cè)報(bào)文在會(huì)話檢測(cè)門(mén)限內(nèi)到達(dá)時(shí),接收所述OAM檢測(cè)報(bào)文;
當(dāng)所述OAM檢測(cè)報(bào)文在所述會(huì)話檢測(cè)門(mén)限內(nèi)沒(méi)有到達(dá)時(shí),輪詢使能的OAM檢測(cè)會(huì)話,判斷所述使能的OAM檢測(cè)會(huì)話是否超時(shí)。
本發(fā)明實(shí)施例還提供了一種OAM報(bào)文檢測(cè)缺陷振蕩處理的方法,包括:
從OAM檢測(cè)報(bào)文中提取會(huì)話號(hào)及會(huì)話狀態(tài)信息;
根據(jù)所述會(huì)話號(hào)讀取對(duì)應(yīng)的缺陷信息后,根據(jù)所述會(huì)話狀態(tài)信息及所述缺陷信息判斷是否上報(bào)缺陷中斷;
接收所述缺陷中斷后,讀取所述缺陷信息。
上述方案中,所述根據(jù)所述會(huì)話狀態(tài)信息及所述缺陷信息判斷是否上報(bào)缺陷中斷包括:
當(dāng)所述會(huì)話狀態(tài)信息為報(bào)文到達(dá)信息時(shí),判斷鎖存狀態(tài)位及實(shí)時(shí)狀態(tài)位,其中,所述缺陷信息包括所述鎖存狀態(tài)位及所述實(shí)時(shí)狀態(tài)位;
當(dāng)所述鎖存狀態(tài)位為缺陷退出狀態(tài)及所述實(shí)時(shí)狀態(tài)位為缺陷產(chǎn)生狀態(tài)時(shí),上報(bào)所述缺陷中斷;或者,
當(dāng)所述會(huì)話狀態(tài)信息為會(huì)話超時(shí)信息時(shí),判斷所述鎖存狀態(tài)位及所述實(shí)時(shí)狀態(tài)位;
當(dāng)所述鎖存狀態(tài)位及所述實(shí)時(shí)狀態(tài)位為所述缺陷退出狀態(tài)時(shí),上報(bào)所述缺陷中斷。
上述方案中,所述讀取所述缺陷信息之后,所述方法還包括:將所述鎖存狀態(tài)位設(shè)置為所述缺陷退出狀態(tài)。
上述方案中,所述從OAM檢測(cè)報(bào)文中提取會(huì)話號(hào)及會(huì)話狀態(tài)信息之前,所述方法還包括:
當(dāng)所述OAM檢測(cè)報(bào)文在會(huì)話檢測(cè)門(mén)限內(nèi)到達(dá)時(shí),接收所述OAM檢測(cè)報(bào)文;
當(dāng)所述OAM檢測(cè)報(bào)文在所述會(huì)話檢測(cè)門(mén)限內(nèi)沒(méi)有到達(dá)時(shí),輪詢使能的OAM檢測(cè)會(huì)話,判斷所述使能的OAM檢測(cè)會(huì)話是否超時(shí)。
本發(fā)明實(shí)施例又提供了一種OAM報(bào)文檢測(cè)缺陷振蕩處理的裝置,包括:
OAM報(bào)文檢測(cè)單元,用于從OAM檢測(cè)報(bào)文中提取會(huì)話號(hào)及會(huì)話狀態(tài)信息;
缺陷信息處理單元,用于根據(jù)所述會(huì)話號(hào)讀取對(duì)應(yīng)的缺陷信息后,根據(jù)所述會(huì)話狀態(tài)信息及所述缺陷信息判斷是否上報(bào)缺陷中斷;或者根據(jù)所述會(huì)話狀態(tài)信息及所述缺陷信息判斷是否僅更新所述缺陷信息;
缺陷信息存儲(chǔ)單元,用于存儲(chǔ)所述缺陷信息及更新所述缺陷信息。
上述方案中,所述缺陷信息處理單元根據(jù)所述會(huì)話狀態(tài)信息及所述缺陷信息判斷是否上報(bào)缺陷中斷包括:
當(dāng)所述會(huì)話狀態(tài)信息為報(bào)文到達(dá)信息時(shí),判斷鎖存狀態(tài)位及實(shí)時(shí)狀態(tài)位,其中,所述缺陷信息包括所述鎖存狀態(tài)位及所述實(shí)時(shí)狀態(tài)位;
當(dāng)所述鎖存狀態(tài)位為缺陷退出狀態(tài)及所述實(shí)時(shí)狀態(tài)位為缺陷產(chǎn)生狀態(tài)時(shí),上報(bào)所述缺陷中斷;或者,
當(dāng)所述會(huì)話狀態(tài)信息為會(huì)話超時(shí)信息時(shí),判斷所述鎖存狀態(tài)位及所述實(shí)時(shí) 狀態(tài)位;
當(dāng)所述鎖存狀態(tài)位及所述實(shí)時(shí)狀態(tài)位為所述缺陷退出狀態(tài)時(shí),上報(bào)所述缺陷中斷。
上述方案中,所述缺陷信息處理單元根據(jù)所述會(huì)話狀態(tài)信息及所述缺陷信息判斷是否僅更新所述缺陷信息包括:
當(dāng)所述會(huì)話狀態(tài)信息為所述報(bào)文到達(dá)信息時(shí),判斷所述鎖存狀態(tài)位及所述實(shí)時(shí)狀態(tài)位;
當(dāng)所述鎖存狀態(tài)位及所述實(shí)時(shí)狀態(tài)位為所述缺陷產(chǎn)生狀態(tài)時(shí),將所述實(shí)時(shí)狀態(tài)位設(shè)置為所述缺陷退出狀態(tài);或者,
當(dāng)所述會(huì)話狀態(tài)信息為所述會(huì)話超時(shí)信息時(shí),判斷所述鎖存狀態(tài)位及所述實(shí)時(shí)狀態(tài)位;
當(dāng)所述鎖存狀態(tài)位為所述缺陷產(chǎn)生狀態(tài)及所述實(shí)時(shí)狀態(tài)位為所述缺陷退出狀態(tài)時(shí),將所述實(shí)時(shí)狀態(tài)位設(shè)置為所述缺陷產(chǎn)生狀態(tài)。
上述方案中,所述OAM報(bào)文檢測(cè)單元從OAM檢測(cè)報(bào)文中提取會(huì)話號(hào)及會(huì)話狀態(tài)信息之前,還用于當(dāng)所述OAM檢測(cè)報(bào)文在會(huì)話檢測(cè)門(mén)限內(nèi)到達(dá)時(shí),接收所述OAM檢測(cè)報(bào)文;當(dāng)所述OAM檢測(cè)報(bào)文在所述會(huì)話檢測(cè)門(mén)限內(nèi)沒(méi)有到達(dá)時(shí),輪詢使能的OAM檢測(cè)會(huì)話,判斷所述使能的OAM檢測(cè)會(huì)話是否超時(shí)。
本發(fā)明實(shí)施例再提供了一種OAM報(bào)文檢測(cè)缺陷振蕩處理的系統(tǒng),包括:OAM報(bào)文檢測(cè)缺陷振蕩處理的處理器和上述任意一種所述的OAM報(bào)文檢測(cè)缺陷振蕩處理的裝置;
所述OAM報(bào)文檢測(cè)缺陷振蕩處理的裝置,用于檢測(cè)所述OAM檢測(cè)報(bào)文、上報(bào)所述缺陷中斷及提供所述缺陷信息;
所述OAM報(bào)文檢測(cè)缺陷振蕩處理的處理器,用于接收所述缺陷中斷后,讀取所述缺陷信息。
本發(fā)明實(shí)施例所提供的OAM報(bào)文檢測(cè)缺陷振蕩處理的方法、裝置及系統(tǒng),先從OAM檢測(cè)報(bào)文中提取會(huì)話號(hào)及會(huì)話狀態(tài)信息;根據(jù)所述會(huì)話號(hào)讀取對(duì)應(yīng) 的缺陷信息后,根據(jù)所述會(huì)話狀態(tài)信息及所述缺陷信息判斷是否上報(bào)缺陷中斷;或者根據(jù)所述會(huì)話狀態(tài)信息及所述缺陷信息判斷是否僅更新所述缺陷信息。如此,本發(fā)明實(shí)施例可以上報(bào)缺陷中斷或者立即更新所述缺陷信息,從而解決了缺陷振蕩導(dǎo)致的協(xié)議層面錯(cuò)誤操作的問(wèn)題;進(jìn)而提高了OAM報(bào)文檢測(cè)缺陷振蕩處理的裝置的OAM功能的穩(wěn)定性。
附圖說(shuō)明
圖1為本發(fā)明實(shí)施例1提供的OAM報(bào)文檢測(cè)缺陷振蕩處理的方法的實(shí)現(xiàn)流程示意圖;
圖2為本發(fā)明實(shí)施例1提供的OAM報(bào)文檢測(cè)方法的實(shí)現(xiàn)流程示意圖;
圖3為本發(fā)明實(shí)施例1提供的缺陷信息處理方法的實(shí)現(xiàn)流程示意圖;
圖4為本發(fā)明實(shí)施例1提供的缺陷信息存儲(chǔ)方法的實(shí)現(xiàn)流程示意圖;
圖5為本發(fā)明實(shí)施例3和4提供的OAM報(bào)文檢測(cè)缺陷振蕩處理的裝置及系統(tǒng)的組成結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實(shí)施方式
本發(fā)明實(shí)施例中,從OAM檢測(cè)報(bào)文中提取會(huì)話號(hào)及會(huì)話狀態(tài)信息;根據(jù)所述會(huì)話號(hào)讀取對(duì)應(yīng)的缺陷信息后,根據(jù)所述會(huì)話狀態(tài)信息及所述缺陷信息判斷是否上報(bào)缺陷中斷;或者根據(jù)所述會(huì)話狀態(tài)信息及所述缺陷信息判斷是否僅更新所述缺陷信息。
下面結(jié)合附圖及具體實(shí)施例對(duì)本發(fā)明再做進(jìn)一步詳細(xì)的說(shuō)明。
實(shí)施例1
圖1為本發(fā)明實(shí)施例1提供的OAM報(bào)文檢測(cè)缺陷振蕩處理的方法的實(shí)現(xiàn)流程示意圖,如圖1所示,所述方法包括:
步驟1100:從OAM檢測(cè)報(bào)文中提取會(huì)話號(hào)及會(huì)話狀態(tài)信息。
在步驟1100之前,OAM報(bào)文檢測(cè)缺陷振蕩處理的裝置在上電過(guò)程中,對(duì)在OAM報(bào)文檢測(cè)單元內(nèi)部存儲(chǔ)OAM檢測(cè)會(huì)話參數(shù)的隨機(jī)存取存儲(chǔ)器(RAM, Random Access Memory)和缺陷信息存儲(chǔ)單元使用的內(nèi)部RAM進(jìn)行初始化。
在初始化過(guò)程中,OAM報(bào)文檢測(cè)缺陷振蕩處理的裝置中的OAM報(bào)文檢測(cè)單元根據(jù)應(yīng)用場(chǎng)景對(duì)OAM檢測(cè)會(huì)話參數(shù)進(jìn)行配置,其中,OAM檢測(cè)會(huì)話參數(shù)包括:會(huì)話使能位、會(huì)話檢測(cè)門(mén)限及上次到達(dá)時(shí)間。OAM報(bào)文檢測(cè)單元內(nèi)部的RAM用于存儲(chǔ)OAM檢測(cè)會(huì)話參數(shù),其中,每個(gè)地址可以映射成一個(gè)會(huì)話號(hào)。此外,OAM報(bào)文檢測(cè)單元在配置OAM檢測(cè)會(huì)話參數(shù)時(shí)將當(dāng)前時(shí)間作為超時(shí)檢測(cè)的初始時(shí)間寫(xiě)入到OAM檢測(cè)會(huì)話參數(shù)的條目中,所述超時(shí)檢測(cè)的初始時(shí)間為上次到達(dá)時(shí)間。
初始化完成后,OAM報(bào)文檢測(cè)單元內(nèi)的檢測(cè)狀態(tài)機(jī)被啟動(dòng),以便OAM報(bào)文檢測(cè)單元使能OAM檢測(cè)功能,并開(kāi)始從OAM報(bào)文檢測(cè)缺陷振蕩處理的系統(tǒng)外部接收OAM檢測(cè)報(bào)文。
進(jìn)一步地,所述從OAM檢測(cè)報(bào)文中提取會(huì)話號(hào)及會(huì)話狀態(tài)信息之前,所述方法還包括:
當(dāng)所述OAM檢測(cè)報(bào)文在會(huì)話檢測(cè)門(mén)限內(nèi)到達(dá)時(shí),接收所述OAM檢測(cè)報(bào)文;
當(dāng)所述OAM檢測(cè)報(bào)文在所述會(huì)話檢測(cè)門(mén)限內(nèi)沒(méi)有到達(dá)時(shí),輪詢使能的OAM檢測(cè)會(huì)話,判斷所述使能的OAM檢測(cè)會(huì)話是否超時(shí)。
具體地,OAM報(bào)文檢測(cè)缺陷振蕩處理的裝置中的OAM報(bào)文檢測(cè)單元根據(jù)所述OAM檢測(cè)報(bào)文是否到達(dá)進(jìn)行處理。如果在會(huì)話檢測(cè)門(mén)限內(nèi),有對(duì)應(yīng)OAM檢測(cè)會(huì)話的OAM檢測(cè)報(bào)文到達(dá)OAM報(bào)文檢測(cè)單元,OAM報(bào)文檢測(cè)單元將所述OAM檢測(cè)會(huì)話的上次到達(dá)時(shí)間更新為當(dāng)前時(shí)間,以用于下次超時(shí)檢測(cè);同時(shí)OAM報(bào)文檢測(cè)單元將會(huì)話號(hào)和報(bào)文到達(dá)信息發(fā)送給缺陷信息處理單元。
如果在會(huì)話檢測(cè)門(mén)限內(nèi),對(duì)應(yīng)OAM檢測(cè)會(huì)話的OAM檢測(cè)報(bào)文沒(méi)有到達(dá),OAM報(bào)文檢測(cè)單元將所述OAM檢測(cè)會(huì)話的上次到達(dá)時(shí)間更新為當(dāng)前時(shí)間,以用于下次超時(shí)檢測(cè);同時(shí)OAM報(bào)文檢測(cè)單元將會(huì)話號(hào)和會(huì)話超時(shí)信息發(fā)送給缺陷信息處理單元。隨后,OAM報(bào)文檢測(cè)單元依次對(duì)所有使能的OAM檢測(cè)會(huì)話進(jìn)行輪詢檢測(cè),判斷所述使能的OAM檢測(cè)會(huì)話是否超時(shí)以決定是否更新上 次到達(dá)時(shí)間或者是否通知缺陷信息處理單元。
綜上,如圖2所示,所述OAM報(bào)文檢測(cè)單元執(zhí)行的OAM報(bào)文檢測(cè)方法包括以下步驟:
步驟1101:初始化OAM檢測(cè)會(huì)話參數(shù)后,使能OAM檢測(cè)會(huì)話。
在步驟1101中,所述OAM報(bào)文檢測(cè)單元根據(jù)應(yīng)用場(chǎng)景,對(duì)OAM檢測(cè)會(huì)話參數(shù)進(jìn)行配置。
步驟1102:判斷OAM檢測(cè)報(bào)文是否到達(dá)。
在步驟1102中,如果OAM檢測(cè)報(bào)文沒(méi)有在會(huì)話檢測(cè)門(mén)限內(nèi)到達(dá),執(zhí)行步驟1103,如果OAM檢測(cè)報(bào)文在會(huì)話檢測(cè)門(mén)限內(nèi)到達(dá),執(zhí)行步驟1108。
步驟1103:輪詢OAM檢測(cè)會(huì)話。
在步驟1103中,當(dāng)OAM檢測(cè)報(bào)文沒(méi)有在會(huì)話檢測(cè)門(mén)限內(nèi)到達(dá)時(shí),輪詢使能的OAM檢測(cè)會(huì)話,讀取OAM檢測(cè)會(huì)話參數(shù),執(zhí)行步驟1104。
步驟1104:判斷當(dāng)前時(shí)間與上次到達(dá)時(shí)間之差是否超時(shí)。
在步驟1104中,將使能的OAM檢測(cè)會(huì)話的當(dāng)前時(shí)間與存儲(chǔ)的上次到達(dá)時(shí)間進(jìn)行差值計(jì)算,判斷所述差值是否大于配置的會(huì)話檢測(cè)門(mén)限,如果否,則執(zhí)行步驟1105;如果是,則執(zhí)行步驟1106。
步驟1105:不進(jìn)行操作,返回步驟1103。
在步驟1105中,OAM檢測(cè)會(huì)話沒(méi)有超時(shí),因此不進(jìn)行任何操作,本次處理結(jié)束,執(zhí)行步驟1103以便繼續(xù)輪詢下一個(gè)OAM檢測(cè)會(huì)話。
步驟1106:更新上次到達(dá)時(shí)間。
在步驟1106中,OAM檢測(cè)會(huì)話已經(jīng)超時(shí),將OAM檢測(cè)會(huì)話參數(shù)中的上次到達(dá)時(shí)間更新為當(dāng)前時(shí)間,以供下次檢測(cè)使用,執(zhí)行步驟1107。
步驟1107:發(fā)送會(huì)話狀態(tài)信息至缺陷信息處理單元,本次處理結(jié)束。
在步驟1107中,將當(dāng)前超時(shí)OAM檢測(cè)會(huì)話的會(huì)話號(hào)和會(huì)話狀態(tài)信息發(fā)送給缺陷信息處理單元,本次處理結(jié)束。這里,會(huì)話狀態(tài)信息為會(huì)話超時(shí)信息。
步驟1108:讀取OAM檢測(cè)會(huì)話參數(shù)。
在步驟1108中,如果OAM檢測(cè)報(bào)文到達(dá)OAM報(bào)文檢測(cè)單元,提取OAM 檢測(cè)報(bào)文中的會(huì)話號(hào),根據(jù)會(huì)話號(hào)讀取儲(chǔ)存在RAM中的對(duì)應(yīng)的OAM檢測(cè)會(huì)話參數(shù),執(zhí)行步驟1109。
步驟1109:判斷OAM檢測(cè)會(huì)話是否使能。
在步驟1109中,OAM報(bào)文檢測(cè)單元根據(jù)配置的使能位判斷OAM檢測(cè)會(huì)話是否使能,如果否,執(zhí)行步驟1110,是則執(zhí)行步驟1111。
步驟1110:丟棄OAM檢測(cè)報(bào)文,本次處理結(jié)束。
在步驟1110中,OAM檢測(cè)會(huì)話沒(méi)有使能,則認(rèn)為接收到的OAM檢測(cè)報(bào)文無(wú)效,丟棄此報(bào)文,本次處理結(jié)束。
步驟1111:更新上次到達(dá)時(shí)間。
在步驟1111中,OAM檢測(cè)會(huì)話使能,將對(duì)應(yīng)的OAM檢測(cè)會(huì)話參數(shù)中的上次到達(dá)時(shí)間更新為當(dāng)前時(shí)間以供下次檢測(cè)使用,執(zhí)行步驟1112。
步驟1112:發(fā)送會(huì)話狀態(tài)信息至缺陷信息處理單元。
在步驟1112中,OAM報(bào)文檢測(cè)單元將當(dāng)前接收到的OAM檢測(cè)報(bào)文的會(huì)話號(hào)和會(huì)話狀態(tài)信息發(fā)送至缺陷信息處理單元,本次處理結(jié)束。這里,會(huì)話狀態(tài)信息為報(bào)文到達(dá)信息。
步驟1200:根據(jù)所述會(huì)話號(hào)讀取對(duì)應(yīng)的缺陷信息后,根據(jù)所述會(huì)話狀態(tài)信息及所述缺陷信息判斷是否上報(bào)缺陷中斷;或者根據(jù)所述會(huì)話狀態(tài)信息及所述缺陷信息判斷是否僅更新所述缺陷信息。
在步驟1200中,OAM報(bào)文檢測(cè)缺陷振蕩處理的裝置中的缺陷信息處理單元從OAM報(bào)文檢測(cè)單元接收OAM檢測(cè)報(bào)文的會(huì)話號(hào)和會(huì)話狀態(tài)信息后,根據(jù)會(huì)話號(hào)讀取缺陷信息存儲(chǔ)單元中對(duì)應(yīng)的缺陷信息,然后將當(dāng)前的會(huì)話狀態(tài)信息與OAM檢測(cè)會(huì)話儲(chǔ)存的缺陷信息進(jìn)行比較,判斷是否更新缺陷信息存儲(chǔ)單元中的缺陷信息或者上報(bào)缺陷中斷至外部的OAM報(bào)文檢測(cè)缺陷振蕩處理的處理器。
在步驟1200中,所述根據(jù)所述會(huì)話狀態(tài)信息及所述缺陷信息判斷是否上報(bào)缺陷中斷包括:
當(dāng)所述會(huì)話狀態(tài)信息為報(bào)文到達(dá)信息時(shí),判斷鎖存狀態(tài)位及實(shí)時(shí)狀態(tài)位, 其中,所述缺陷信息包括所述鎖存狀態(tài)位及所述實(shí)時(shí)狀態(tài)位;
當(dāng)所述鎖存狀態(tài)位為缺陷退出狀態(tài)及所述實(shí)時(shí)狀態(tài)位為缺陷產(chǎn)生狀態(tài)時(shí),上報(bào)所述缺陷中斷;或者,
當(dāng)所述會(huì)話狀態(tài)信息為會(huì)話超時(shí)信息時(shí),判斷所述鎖存狀態(tài)位及所述實(shí)時(shí)狀態(tài)位;
當(dāng)所述鎖存狀態(tài)位及所述實(shí)時(shí)狀態(tài)位為所述缺陷退出狀態(tài)時(shí),上報(bào)所述缺陷中斷。
在步驟1200中,所述根據(jù)所述會(huì)話狀態(tài)信息及所述缺陷信息判斷是否僅更新所述缺陷信息包括:
當(dāng)所述會(huì)話狀態(tài)信息為所述報(bào)文到達(dá)信息時(shí),判斷所述鎖存狀態(tài)位及所述實(shí)時(shí)狀態(tài)位;
當(dāng)所述鎖存狀態(tài)位及所述實(shí)時(shí)狀態(tài)位為所述缺陷產(chǎn)生狀態(tài)時(shí),將所述實(shí)時(shí)狀態(tài)位設(shè)置為所述缺陷退出狀態(tài);或者,
當(dāng)所述會(huì)話狀態(tài)信息為所述會(huì)話超時(shí)信息時(shí),判斷所述鎖存狀態(tài)位及所述實(shí)時(shí)狀態(tài)位;
當(dāng)所述鎖存狀態(tài)位為所述缺陷產(chǎn)生狀態(tài)及所述實(shí)時(shí)狀態(tài)位為所述缺陷退出狀態(tài)時(shí),將所述實(shí)時(shí)狀態(tài)位設(shè)置為所述缺陷產(chǎn)生狀態(tài)。
綜上,如圖3所示,所述缺陷信息處理單元執(zhí)行的缺陷信息處理方法包括以下步驟:
步驟1201:接收會(huì)話號(hào)和會(huì)話狀態(tài)信息。
在步驟1201中,接收從OAM報(bào)文檢測(cè)單元發(fā)送過(guò)來(lái)的會(huì)話號(hào)和會(huì)話狀態(tài)信息,執(zhí)行步驟1202。
步驟1202:讀取缺陷信息。
在步驟1202中,根據(jù)OAM檢測(cè)報(bào)文的會(huì)話號(hào)讀取缺陷信息存儲(chǔ)單元中對(duì)應(yīng)的缺陷信息,等待返回缺陷信息,執(zhí)行步驟1203。
步驟1203:判斷會(huì)話狀態(tài)信息是否為0。
在步驟1203中,缺陷信息存儲(chǔ)單元返回缺陷信息后,缺陷信息處理單元判 斷接收到的會(huì)話狀態(tài)信息是否為報(bào)文到達(dá)信息,也即是否為0,如果否,則執(zhí)行步驟1204,是則執(zhí)行步驟1211。
步驟1204:判斷鎖存狀態(tài)位(S_state)是否為0。
在步驟1204中,缺陷信息處理單元判斷缺陷信息中的S_state是否為0,即S_state是否為缺陷退出狀態(tài)。如果否,執(zhí)行步驟1205,是則執(zhí)行步驟1208。
需要說(shuō)明的是,缺陷信息存儲(chǔ)單元對(duì)每一個(gè)OAM檢測(cè)會(huì)話的缺陷信息用兩比特進(jìn)行表示,即鎖存狀態(tài)位(S_state)和實(shí)時(shí)狀態(tài)位(C_state)。對(duì)于每個(gè)比特的數(shù)值定義為0表示缺陷退出狀態(tài),1表示缺陷產(chǎn)生狀態(tài)。
步驟1205:判斷C_state是否為0。
在步驟1205中,判斷返回的缺陷信息中的實(shí)時(shí)狀態(tài)位(C_state)是否為0,即C_state是否為缺陷退出狀態(tài)。如果否,執(zhí)行步驟1206,是則執(zhí)行步驟1207。
步驟1206:不進(jìn)行操作,本次處理結(jié)束。
在步驟1206中,OAM檢測(cè)會(huì)話的缺陷信息中的鎖存狀態(tài)位(S_state)和實(shí)時(shí)狀態(tài)位(C_state)都為1,即缺陷產(chǎn)生狀態(tài),表示目前已經(jīng)將OAM檢測(cè)會(huì)話的缺陷中斷上報(bào)給OAM報(bào)文檢測(cè)缺陷振蕩處理的處理器,因此不需要再次上報(bào)當(dāng)前的缺陷產(chǎn)生狀態(tài),不進(jìn)行任何操作,本次處理結(jié)束。
步驟1207:設(shè)置C_state為1,本次處理結(jié)束。
在步驟1207中,OAM檢測(cè)會(huì)話缺陷信息中的鎖存狀態(tài)位為缺陷產(chǎn)生狀態(tài),實(shí)時(shí)狀態(tài)位為缺陷退出狀態(tài),表示目前已經(jīng)將OAM檢測(cè)會(huì)話的缺陷中斷上報(bào)給OAM報(bào)文檢測(cè)缺陷振蕩處理的處理器,但是在OAM報(bào)文檢測(cè)缺陷振蕩處理的處理器讀取缺陷信息之前,OAM檢測(cè)會(huì)話又有對(duì)應(yīng)的OAM檢測(cè)報(bào)文到達(dá),所以實(shí)時(shí)狀態(tài)位為0,因此只需更新實(shí)時(shí)狀態(tài)位,即將C_State設(shè)置為1,不需要再次上報(bào)缺陷中斷至OAM報(bào)文檢測(cè)缺陷振蕩處理的處理器,本次處理結(jié)束。
步驟1208:判斷C_state是否為0。
在步驟1208中,判斷返回的缺陷信息中的實(shí)時(shí)狀態(tài)位C_state是否為0,如果否,執(zhí)行步驟1209,是則執(zhí)行步驟1210。
步驟1209:不進(jìn)行操作,本次處理結(jié)束。
在步驟1209中,OAM檢測(cè)會(huì)話缺陷信息中的鎖存狀態(tài)位為缺陷退出狀態(tài),實(shí)時(shí)狀態(tài)位為缺陷產(chǎn)生狀態(tài),表示目前已經(jīng)將OAM檢測(cè)會(huì)話的缺陷中斷上報(bào)給OAM報(bào)文檢測(cè)缺陷振蕩處理的處理器,并且OAM報(bào)文檢測(cè)缺陷振蕩處理的處理器已經(jīng)讀取了OAM檢測(cè)會(huì)話的缺陷信息,所以鎖存狀態(tài)位為0,因此不需要再次上報(bào)缺陷中斷給OAM報(bào)文檢測(cè)缺陷振蕩處理的處理器,不進(jìn)行任何操作,本次處理結(jié)束。
步驟1210:設(shè)置C_state為1、S_state為1、上報(bào)缺陷中斷,本次處理結(jié)束。
在步驟1210中,OAM檢測(cè)會(huì)話缺陷信息中的鎖存狀態(tài)位和實(shí)時(shí)狀態(tài)位都為缺陷退出狀態(tài),表示目前OAM檢測(cè)會(huì)話沒(méi)有產(chǎn)生過(guò)缺陷中斷,因此更新實(shí)時(shí)狀態(tài)位和鎖存狀態(tài)位,即將S_state和C_state都設(shè)置為1,并且上報(bào)缺陷中斷給OAM報(bào)文檢測(cè)缺陷振蕩處理的處理器,本次處理結(jié)束。
步驟1211:判斷S_state是否為0。
在步驟1211中,當(dāng)前OAM檢測(cè)會(huì)話為報(bào)文到達(dá)狀態(tài),判斷返回的缺陷信息中鎖存狀態(tài)位S_state是否為0,如果否,執(zhí)行步驟1212,是則執(zhí)行步驟1215。
步驟1212:判斷C_state是否為0。
在步驟1212中,判斷返回的缺陷信息中的C_state是否為0,如果否,執(zhí)行步驟1213,是則執(zhí)行步驟1214。
步驟1213:設(shè)置C_state為0,本次處理結(jié)束。
在步驟1213中,OAM檢測(cè)會(huì)話缺陷信息中的鎖存狀態(tài)位和實(shí)時(shí)狀態(tài)位都為缺陷產(chǎn)生狀態(tài),表示目前已經(jīng)將OAM檢測(cè)會(huì)話的缺陷中斷上報(bào)給OAM報(bào)文檢測(cè)缺陷振蕩處理的處理器,并且OAM報(bào)文檢測(cè)缺陷振蕩處理的處理器還沒(méi)有讀取此次缺陷中斷的缺陷信息,因此更新實(shí)時(shí)狀態(tài)位,即將C_state設(shè)置為0,不需要再次上報(bào)缺陷中斷給OAM報(bào)文檢測(cè)缺陷振蕩處理的處理器,本次處理結(jié)束。
步驟1214:不進(jìn)行操作,本次處理結(jié)束。
在步驟1214中,OAM檢測(cè)會(huì)話缺陷信息中的鎖存狀態(tài)位為缺陷產(chǎn)生狀態(tài),實(shí)時(shí)狀態(tài)位為缺陷退出狀態(tài),表示目前已經(jīng)將OAM檢測(cè)會(huì)話的缺陷中斷上報(bào) 給OAM報(bào)文檢測(cè)缺陷振蕩處理的處理器,但是在OAM報(bào)文檢測(cè)缺陷振蕩處理的處理器讀取缺陷信息之前,OAM檢測(cè)會(huì)話有對(duì)應(yīng)的OAM檢測(cè)報(bào)文到達(dá),所以實(shí)時(shí)狀態(tài)位為0,不進(jìn)行任何操作,本次處理結(jié)束。
步驟1215:判斷C_state是否為0。
在步驟1215中,判斷返回的缺陷信息中實(shí)時(shí)狀態(tài)位(C_state)是否為0,如果否,執(zhí)行步驟1216,是則執(zhí)行步驟1217。
步驟1216:設(shè)置C_state為0、上報(bào)缺陷中斷,本次處理結(jié)束。
在步驟1216中,OAM檢測(cè)會(huì)話缺陷信息中的鎖存狀態(tài)位為缺陷退出狀態(tài),實(shí)時(shí)狀態(tài)位為缺陷產(chǎn)生狀態(tài),表示目前已經(jīng)將OAM檢測(cè)會(huì)話的缺陷中斷上報(bào)給OAM報(bào)文檢測(cè)缺陷振蕩處理的處理器,并且OAM報(bào)文檢測(cè)缺陷振蕩處理的處理器已經(jīng)讀取了OAM檢測(cè)會(huì)話的缺陷信息,所以鎖存狀態(tài)位為0,因此需要更新實(shí)時(shí)狀態(tài)位,即將C_state設(shè)置為0,并且上報(bào)缺陷中斷給OAM報(bào)文檢測(cè)缺陷振蕩處理的處理器,本次處理結(jié)束。
步驟1217:不進(jìn)行操作,本次處理結(jié)束。
在步驟1217中,OAM檢測(cè)會(huì)話缺陷信息中的鎖存狀態(tài)位和實(shí)時(shí)狀態(tài)位都為缺陷退出狀態(tài),表示目前OAM檢測(cè)會(huì)話沒(méi)有產(chǎn)生過(guò)缺陷中斷,因此不進(jìn)行任何操作,本次處理結(jié)束。
在步驟1200結(jié)束后,所述方法還包括:
當(dāng)缺陷中斷上報(bào)至OAM報(bào)文檢測(cè)缺陷振蕩處理的處理器后,缺陷信息存儲(chǔ)單元等待OAM報(bào)文檢測(cè)缺陷振蕩處理的處理器讀取缺陷信息,此時(shí)可以繼續(xù)更新每個(gè)OAM檢測(cè)會(huì)話的缺陷信息,同時(shí)在OAM報(bào)文檢測(cè)缺陷振蕩處理的處理器讀取完一個(gè)OAM檢測(cè)會(huì)話的缺陷信息后,將缺陷信息里面的鎖存狀態(tài)位進(jìn)行清零操作。
具體地,缺陷信息存儲(chǔ)單元存儲(chǔ)所有OAM檢測(cè)報(bào)文的缺陷信息、響應(yīng)缺陷信息處理單元及OAM報(bào)文檢測(cè)缺陷振蕩處理的處理器的操作請(qǐng)求。其中,缺陷信息存儲(chǔ)單元對(duì)于缺陷信息處理單元的讀取操作返回對(duì)應(yīng)的缺陷信息,對(duì)于缺陷信息處理單元的寫(xiě)操作更新對(duì)應(yīng)的缺陷信息,對(duì)于OAM報(bào)文檢測(cè)缺陷 振蕩處理的處理器的讀取請(qǐng)求返回對(duì)應(yīng)的缺陷信息,同時(shí)將對(duì)應(yīng)的缺陷信息中的鎖存狀態(tài)位(S_state)進(jìn)行清零操作。
綜上,如圖4所示,所述缺陷信息存儲(chǔ)單元執(zhí)行的缺陷信息存儲(chǔ)方法包括以下步驟:
步驟1301:初始化RAM。
在步驟1301中,初始化完成所述缺陷信息存儲(chǔ)單元中存儲(chǔ)缺陷信息的RAM,執(zhí)行步驟1302。
步驟1302:判斷是否有操作請(qǐng)求。
在步驟1302中,判斷是否有操作請(qǐng)求,如果否,執(zhí)行步驟1303,有則執(zhí)行步驟1306。
步驟1303:判斷是否為缺陷信息寫(xiě)操作。
在步驟1303中,判斷是否為缺陷信息寫(xiě)操作,如果否執(zhí)行步驟1304,有則執(zhí)行步驟1307。
步驟1304:判斷是否為缺陷信息讀操作。
在步驟1304中,判斷是否為缺陷信息讀操作,如果否執(zhí)行步驟1305,有則執(zhí)行步驟1308。
步驟1305:讀取缺陷信息、返回至OAM報(bào)文檢測(cè)缺陷振蕩處理的處理器、設(shè)置S_state為0,本次處理結(jié)束。
在步驟1305中,根據(jù)讀操作地址讀取缺陷信息并返回至OAM報(bào)文檢測(cè)缺陷振蕩處理的處理器,并且將缺陷信息中的鎖存狀態(tài)位進(jìn)行清零操作,即將S_state設(shè)置為0,本次處理結(jié)束。
步驟1306:不進(jìn)行操作,執(zhí)行步驟1302。
在步驟1306中,不執(zhí)行任何操作,繼續(xù)執(zhí)行步驟1302。
步驟1307:更新缺陷信息,本次處理結(jié)束。
在步驟1307中,根據(jù)寫(xiě)操作中的地址,更新對(duì)應(yīng)的缺陷信息,本次處理結(jié)束。
步驟1308:讀取缺陷信息、返回至缺陷信息處理單元,本次處理結(jié)束。
在步驟1308中,根據(jù)地址讀取缺陷信息,返回至缺陷信息處理單元,本次處理結(jié)束。
至此,OAM報(bào)文檢測(cè)缺陷振蕩處理的過(guò)程就完成了。
實(shí)施例2
本發(fā)明實(shí)施例2提供了另一種OAM報(bào)文檢測(cè)缺陷振蕩處理的方法,所述方法包括:
步驟510:從OAM檢測(cè)報(bào)文中提取會(huì)話號(hào)及會(huì)話狀態(tài)信息。
進(jìn)一步地,所述從OAM檢測(cè)報(bào)文中提取會(huì)話號(hào)及會(huì)話狀態(tài)信息之前,所述方法還包括:
當(dāng)所述OAM檢測(cè)報(bào)文在會(huì)話檢測(cè)門(mén)限內(nèi)到達(dá)時(shí),接收所述OAM檢測(cè)報(bào)文;
當(dāng)所述OAM檢測(cè)報(bào)文在所述會(huì)話檢測(cè)門(mén)限內(nèi)沒(méi)有到達(dá)時(shí),輪詢使能的OAM檢測(cè)會(huì)話,判斷所述使能的OAM檢測(cè)會(huì)話是否超時(shí)。
步驟520:根據(jù)所述會(huì)話號(hào)讀取對(duì)應(yīng)的缺陷信息后,根據(jù)所述會(huì)話狀態(tài)信息及所述缺陷信息判斷是否上報(bào)缺陷中斷。
在步驟520中,所述根據(jù)所述會(huì)話狀態(tài)信息及所述缺陷信息判斷是否上報(bào)缺陷中斷包括:
當(dāng)所述會(huì)話狀態(tài)信息為報(bào)文到達(dá)信息時(shí),判斷鎖存狀態(tài)位及實(shí)時(shí)狀態(tài)位,其中,所述缺陷信息包括所述鎖存狀態(tài)位及所述實(shí)時(shí)狀態(tài)位;
當(dāng)所述鎖存狀態(tài)位為缺陷退出狀態(tài)及所述實(shí)時(shí)狀態(tài)位為缺陷產(chǎn)生狀態(tài)時(shí),上報(bào)所述缺陷中斷;或者,
當(dāng)所述會(huì)話狀態(tài)信息為會(huì)話超時(shí)信息時(shí),判斷所述鎖存狀態(tài)位及所述實(shí)時(shí)狀態(tài)位;
當(dāng)所述鎖存狀態(tài)位及所述實(shí)時(shí)狀態(tài)位為所述缺陷退出狀態(tài)時(shí),上報(bào)所述缺陷中斷。
步驟530:接收所述缺陷中斷后,讀取所述缺陷信息。
在步驟530中,OAM報(bào)文檢測(cè)缺陷振蕩處理的處理器接收所述缺陷中斷 后,讀取所述缺陷信息。
進(jìn)一步地,所述讀取所述缺陷信息之后,所述方法還包括:
將所述鎖存狀態(tài)位設(shè)置為所述缺陷退出狀態(tài)。
這里,OAM報(bào)文檢測(cè)缺陷振蕩處理的裝置將所述鎖存狀態(tài)位設(shè)置為所述缺陷退出狀態(tài)。
需要說(shuō)明的是,本發(fā)明實(shí)施例2提供的OAM報(bào)文檢測(cè)缺陷振蕩處理的方法的具體過(guò)程可參照本發(fā)明實(shí)施例1提供的OAM報(bào)文檢測(cè)缺陷振蕩處理的方法的具體過(guò)程。
實(shí)施例3
圖5為本發(fā)明實(shí)施例3提供OAM報(bào)文檢測(cè)缺陷振蕩處理的裝置610的組成結(jié)構(gòu)示意圖,如圖5所示,所述裝置610包括:
OAM報(bào)文檢測(cè)單元611,用于從OAM檢測(cè)報(bào)文中提取會(huì)話號(hào)及會(huì)話狀態(tài)信息。
進(jìn)一步地,所述OAM報(bào)文檢測(cè)單元611從OAM檢測(cè)報(bào)文中提取會(huì)話號(hào)及會(huì)話狀態(tài)信息之前,還用于當(dāng)所述OAM檢測(cè)報(bào)文在會(huì)話檢測(cè)門(mén)限內(nèi)到達(dá)時(shí),接收所述OAM檢測(cè)報(bào)文;當(dāng)所述OAM檢測(cè)報(bào)文在所述會(huì)話檢測(cè)門(mén)限內(nèi)沒(méi)有到達(dá)時(shí),輪詢使能的OAM檢測(cè)會(huì)話,判斷所述使能的OAM檢測(cè)會(huì)話是否超時(shí)。
缺陷信息處理單元612,用于根據(jù)所述會(huì)話號(hào)讀取對(duì)應(yīng)的缺陷信息后,根據(jù)所述會(huì)話狀態(tài)信息及所述缺陷信息判斷是否上報(bào)缺陷中斷;或者根據(jù)所述會(huì)話狀態(tài)信息及所述缺陷信息判斷是否僅更新所述缺陷信息。
具體地,所述缺陷信息處理單元612根據(jù)所述會(huì)話狀態(tài)信息及所述缺陷信息判斷是否上報(bào)缺陷中斷包括:
當(dāng)所述會(huì)話狀態(tài)信息為報(bào)文到達(dá)信息時(shí),判斷鎖存狀態(tài)位及實(shí)時(shí)狀態(tài)位,其中,所述缺陷信息包括所述鎖存狀態(tài)位及所述實(shí)時(shí)狀態(tài)位;
當(dāng)所述鎖存狀態(tài)位為缺陷退出狀態(tài)及所述實(shí)時(shí)狀態(tài)位為缺陷產(chǎn)生狀態(tài)時(shí),上報(bào)所述缺陷中斷;或者,
當(dāng)所述會(huì)話狀態(tài)信息為會(huì)話超時(shí)信息時(shí),判斷所述鎖存狀態(tài)位及所述實(shí)時(shí)狀態(tài)位;
當(dāng)所述鎖存狀態(tài)位及所述實(shí)時(shí)狀態(tài)位為所述缺陷退出狀態(tài)時(shí),上報(bào)所述缺陷中斷。
具體地,所述缺陷信息處理單元612根據(jù)所述會(huì)話狀態(tài)信息及所述缺陷信息判斷是否僅更新所述缺陷信息包括:
當(dāng)所述會(huì)話狀態(tài)信息為所述報(bào)文到達(dá)信息時(shí),判斷所述鎖存狀態(tài)位及所述實(shí)時(shí)狀態(tài)位;
當(dāng)所述鎖存狀態(tài)位及所述實(shí)時(shí)狀態(tài)位為所述缺陷產(chǎn)生狀態(tài)時(shí),將所述實(shí)時(shí)狀態(tài)位設(shè)置為所述缺陷退出狀態(tài);或者,
當(dāng)所述會(huì)話狀態(tài)信息為所述會(huì)話超時(shí)信息時(shí),判斷所述鎖存狀態(tài)位及所述實(shí)時(shí)狀態(tài)位;
當(dāng)所述鎖存狀態(tài)位為所述缺陷產(chǎn)生狀態(tài)及所述實(shí)時(shí)狀態(tài)位為所述缺陷退出狀態(tài)時(shí),將所述實(shí)時(shí)狀態(tài)位設(shè)置為所述缺陷產(chǎn)生狀態(tài)。
缺陷信息存儲(chǔ)單元613,用于存儲(chǔ)所述缺陷信息及更新所述缺陷信息。
實(shí)施例4
圖5為本發(fā)明實(shí)施例4提供OAM報(bào)文檢測(cè)缺陷振蕩處理的系統(tǒng)的組成結(jié)構(gòu)示意圖,如圖5所示,所述系統(tǒng)包括:
OAM報(bào)文檢測(cè)缺陷振蕩處理的裝置610,用于檢測(cè)OAM檢測(cè)報(bào)文、上報(bào)缺陷中斷及提供缺陷信息。
具體地,所述OAM報(bào)文檢測(cè)缺陷振蕩處理的裝置610包括:
OAM報(bào)文檢測(cè)單元611,用于從OAM檢測(cè)報(bào)文中提取會(huì)話號(hào)及會(huì)話狀態(tài)信息;
缺陷信息處理單元612,用于根據(jù)所述會(huì)話號(hào)讀取對(duì)應(yīng)的所述缺陷信息后,根據(jù)所述會(huì)話狀態(tài)信息及所述缺陷信息判斷是否上報(bào)所述缺陷中斷;或者根據(jù)所述會(huì)話狀態(tài)信息及所述缺陷信息判斷是否僅更新所述缺陷信息;
缺陷信息存儲(chǔ)單元613,用于存儲(chǔ)所述缺陷信息及更新所述缺陷信息。
OAM報(bào)文檢測(cè)缺陷振蕩處理的處理器620,用于接收所述缺陷中斷后,讀取所述缺陷信息。
具體地,所述OAM報(bào)文檢測(cè)缺陷振蕩處理的處理器620讀取所述缺陷信息之后,所述OAM報(bào)文檢測(cè)缺陷振蕩處理的裝置610中的缺陷信息存儲(chǔ)單元613還用于將鎖存狀態(tài)位設(shè)置為缺陷退出狀態(tài),其中,所述缺陷信息包括所述鎖存狀態(tài)位。
在實(shí)際應(yīng)用中,所述OAM報(bào)文檢測(cè)缺陷振蕩處理的裝置610、所述OAM報(bào)文檢測(cè)單元611、所述缺陷信息處理單元612及所述缺陷信息存儲(chǔ)單元613均可由位于任意計(jì)算機(jī)設(shè)備中的進(jìn)階精簡(jiǎn)指令集機(jī)器(ARM,Advanced RISC Machines)、專(zhuān)用集成電路(ASIC,Application Specific Integrated Circuit)或可編程邏輯陣列(FPGA,F(xiàn)ield Programmable Gate Array)實(shí)現(xiàn)。所述OAM報(bào)文檢測(cè)缺陷振蕩處理的處理器620可由位于任意計(jì)算機(jī)設(shè)備中的協(xié)處理器(Co-processor)實(shí)現(xiàn)。
以上所述,僅為本發(fā)明的較佳實(shí)施例而已,并非用于限定本發(fā)明的保護(hù)范圍。