一種電視機屏參測量儀及測量方法
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種電視機屏參測量儀及測量方法，電視機屏參測量儀，與電視機的機芯板連接，其包括信號處理模塊和MCU；信號處理模塊采集機芯板上的所有輸入信號，對輸入信號進行電壓調(diào)整后傳輸給MCU；所述MCU對調(diào)整后的輸入信號進行AD采樣，判斷電視機的狀態(tài)，并計算出電視機不同狀態(tài)時對應的時序參數(shù)；只需要一次開機或關機就能測量出屏參的所有時序參數(shù)，無需多次設置參數(shù)，減少了測試工作量，大大節(jié)約了測量時間。
【專利說明】一種電視機屏參測量儀及測量方法

【技術領域】
[0001]本發(fā)明涉及電視【技術領域】，特別涉及一種電視機屏參測量儀及測量方法。

【背景技術】
[0002]目前測量屏參時序時常采用示波器進行測量。使用示波器測量時，需要多次測量各個時序參數(shù)，如Tl、T2、T3等(各時序參數(shù)T的含義為現(xiàn)有技術)，每次測量時需要重新設置采樣率，放大倍數(shù)，觸發(fā)電壓等參數(shù)。一個時序參數(shù)的測量往往需要多次嘗試才能設置好合適的參數(shù)，而每次測試都需要對電視機進行一次開關機操作。測完所有時序參數(shù)需要開關機電視幾十次甚至上百次，導致測試操作很繁瑣、還大大延長了測試時間。同時，多次開關機也會對電視機的相關硬件模塊造成磨損，影響使用壽命。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]鑒于上述現(xiàn)有技術的不足之處，本發(fā)明的目的在于提供一種電視機屏參測量儀及測量方法，以解決現(xiàn)有電視機屏參測量需多次開關機、多次設置參數(shù)導致操作繁瑣、測試時間較長的問題。
[0004]為了達到上述目的，本發(fā)明采取了以下技術方案:
一種電視機屏參測量儀，與電視機的機芯板連接，其包括信號處理模塊和MCU ；
信號處理模塊采集機芯板上的所有輸入信號，對輸入信號進行電壓調(diào)整后傳輸給MCU;所述MCU對調(diào)整后的輸入信號進行AD采樣，判斷電視機的狀態(tài)，并計算出電視機不同狀態(tài)時對應的時序參數(shù)。
[0005]所述的電視機屏參測量儀，其還包括緩存模塊，用于對MCU采樣的數(shù)據(jù)進行緩存，檢測所有采樣數(shù)據(jù)緩存完后、上傳所述采樣數(shù)據(jù)至MCU進行數(shù)據(jù)處理。
[0006]所述的電視機屏參測量儀，其中，所述信號處理模塊包括:
第一處理單兀，用于對所述輸入信號中的PANEL VCC信號進行衰減處理后傳輸至MCU ；第二處理單元，用于對所述輸入信號中的LVDS COLCK信號的電壓幅度進行放大后傳輸至 MCU ；
傳輸單元，用于將所述輸入信號中的BACK LIGHT信號和PWM信號傳輸給MCU。
[0007]所述的電視機屏參測量儀，其中，所述第一處理單元包括一級衰減電路和二級衰減電路；
所述一級衰減電路對PANEL VCC信號進行2倍反向衰減，二級衰減電路對衰減后的PANEL VCC信號進行2倍反向衰減后輸出。
[0008]所述的電視機屏參測量儀，其中，所述一級衰減電路包括第一電阻、第二電阻和第一運算放大器，所述第一運算放大器的正向輸入端接地，第一運算放大器的反向輸入端通過第一電阻連接機芯板，所述第一運算放大器的輸出端連接二級衰減電路、還通過第二電阻連接第一運算放大器的反向輸入端。
[0009]所述的電視機屏參測量儀，其中，所述二級衰減電路包括第三電阻、第四電阻和第二運算放大器，所述第二運算放大器的正向輸入端接地，第二運算放大器的反向輸入端通過第三電阻連接第一運算放大器的輸出端，所述第二運算放大器的輸出端連接、還通過第四電阻連接第二運算放大器的反向輸入端。
[0010]所述的電視機屏參測量儀，其中，所述第二處理單元包括第五電阻、第六電阻和第三運算放大器，所述第三運算放大器的正向輸入端連接機芯板，第三運算放大器的反向輸入端通過第六電阻接地、還通過第五電阻連接第三運算放大器的輸出端和MCU。
[0011 ] 所述的電視機屏參測量儀，其中，所述MCU為一單片機，所述單片機的PA0_WKUP腳連接第一處理單元，單片機的PAl腳連接第二處理單元，單片機的PA2腳、PA3腳均連接傳輸單元。
[0012]一種電視機屏參測量儀的測量方法，其包括:
信號處理模塊采集機芯板上的所有輸入信號，對輸入信號進行電壓調(diào)整后傳輸給
MCU ;
MCU對調(diào)整后的輸入信號進行AD采樣，判斷電視機的狀態(tài)，并計算出電視機不同狀態(tài)時對應的時序參數(shù)。
[0013]所述的測量方法，其中，所述MCU對調(diào)整后的輸入信號進行AD采樣，判斷電視機的狀態(tài)，并計算出電視機不同狀態(tài)時對應的時序參數(shù)的步驟具體包括:
對調(diào)整后的輸入信號進行AD采樣；
判斷PANEL VCCl信號的波形是否由低電平變?yōu)楦唠娖剑?br> 若是，則計算開機的各時序參數(shù)；
若不是，則判斷PANEL VCCl信號的波形是否由高電平變?yōu)榈碗娖?；若是，則計算關機的各時序參數(shù)。
[0014]相較于現(xiàn)有技術，本發(fā)明提供的電視機屏參測量儀及測量方法，所述電視機屏參測量儀包括信號處理模塊和MCU;由信號處理模塊采集機芯板上的所有輸入信號，對輸入信號進行電壓調(diào)整后傳輸給MCU ;所述MCU對調(diào)整后的輸入信號進行AD采樣，判斷電視機的狀態(tài)，并計算出電視機不同狀態(tài)時對應的時序參數(shù)；只需要一次開機或關機就能測量出屏參的所有時序參數(shù)，無需多次設置參數(shù)，減少了測試工作量，大大節(jié)約了測量時間。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0015]圖1為本發(fā)明實施例提供的電視機屏參測量儀應用實施例的示意圖；
圖2為本發(fā)明實施例提供的電視機屏參測量儀中信號處理模塊的結構框圖；
圖3為本發(fā)明實施例提供的電視機屏參測量儀中信號處理模塊的第一處理單元的結構框圖；
圖4為本發(fā)明實施例提供的電視機屏參測量儀中信號處理模塊的第一處理單元的電路圖；
圖5為本發(fā)明實施例提供的電視機屏參測量儀中信號處理模塊的第一處理單元的仿真波形示意圖；
圖6為本發(fā)明實施例提供的電視機屏參測量儀中信號處理模塊的第二處理單元的電路圖；
圖7為本發(fā)明實施例提供的電視機屏參測量儀中信號處理模塊的第二處理單元的仿真波形示意圖；
圖8為本發(fā)明實施例提供的電視機屏參測量儀中單片機的示意圖；
圖9為本發(fā)明實施例提供的電視機屏參測量儀與機芯板連接的實施例一的示意圖；
圖10為本發(fā)明實施例提供的電視機屏參測量儀與機芯板連接的實施例二的示意圖； 圖11為本發(fā)明實施例提供的電視機屏參測量儀的測量方法流程圖；
圖12為本發(fā)明實施例提供的電視機屏參測量儀的測量方法中步驟S200的方法流程圖。

【具體實施方式】
[0016]本發(fā)明提供一種電視機屏參測量儀及測量方法，為使本發(fā)明的目的、技術方案及效果更加清楚、明確，以下參照附圖并舉實施例對本發(fā)明進一步詳細說明。應當理解，此處所描述的具體實施例僅用以解釋本發(fā)明，并不用于限定本發(fā)明。
[0017]本發(fā)明提供的電視機屏參測量儀適用于電視機、顯示器、廣告機等基于液晶顯示領域的屏參測量。請參閱圖1，本發(fā)明提供的電視機屏參測量儀I包括信號處理模塊10和MCU 20。所述信號處理模塊10與電視機的機芯板2連接(如采用引線接口方式)，能將機芯板2上的相關輸入信號[包括PANEL VCC信號(屏供電電源信號)、LVDS COLCK信號(LVDS時鐘信號)、BACK LIGHT信號(背光控制信號)、PWM信號(背光脈寬信號)]引入電視機屏參測量儀I中?；谶@些輸入信號的電壓值較高、頻率較快，為了滿足MCU的工作電壓范圍，需要先通過信號處理模塊10對這些輸入信號進行電壓調(diào)整。所述信號處理模塊10連接MCU20，將調(diào)整后的輸入信號傳輸至MCU 20中進行AD采樣；MCU 20判斷電視機的狀態(tài)(即開機或關機時)，計算出電視機不同狀態(tài)(開、關機)時對應的時序參數(shù)(即T1、T2、T3的值)。
[0018]為了方便測試員了解測量結果，所述電視機屏參測量儀I還包括顯示屏30，其與MCU 20連接。MCU 20將計算出的時序參數(shù)傳輸至顯示屏30顯示。
[0019]為了方便測試員了解時序波形，所述電視機屏參測量儀I還可外接PC (personalcomputer，個人計算機)機、即電腦3。MCU將波形數(shù)據(jù)上傳至電腦3上繪制出各信號波形、并在波形上標注出各時序參數(shù)，使得時序的測量過程更直觀。
[0020]基于各輸入信號的波形數(shù)據(jù)較多，而時序參數(shù)的計算與時間有關。為了避免計算出錯，所述電視機屏參測量儀I還包括緩沖器40，用于對MCU采樣的數(shù)據(jù)進行緩存，檢測所有采樣數(shù)據(jù)緩存完后，緩沖器40再將存儲的波形數(shù)據(jù)一起反饋給MCU進行相關計算。
[0021]機芯板2上各通道的輸入信號的波形是已知的，針對各通道的輸入信號波形的頻率和壓值，信號處理模塊10中設置了第一處理單元110、第二處理單元120和傳輸單元130，如圖2所示。其中，PANEL VCC信號的電壓變化范圍約為OV?12V，而MCU 20的工作電壓范圍(即AD采樣的電壓范圍為0V?3.3V)。本實施例通過第一處理單元110對PANEL VCC信號進行衰減處理使其電壓小于或等于3.3V，之后再將衰減后PANEL VCCl信號傳輸至MCU20中進行AD采樣，使PANEL VCC信號滿足AD采樣的電壓要求。
[0022]由于LVDS COLCK信號頻率高，幅度低，本實施例中通過第二處理單元120對LVDSCOLCK信號進行放大使其電壓幅度增加，之后再將放大后的LVDS COLCKl信號傳輸至MCU20中進行AD采樣，以提高AD采樣的準確性，避免漏采或采樣出錯。
[0023]BACK LIGHT信號和PWM信號的電壓幅度滿足AD采樣的要求，無需處理，直接通過傳輸單元130輸出給MCU 20即可。
[0024]請同時參閱圖3，較佳地，所述第一處理單元110包括一級衰減電路1101和二級衰減電路1102。一級衰減電路1101對PANEL VCC信號進行2倍反向衰減，二級衰減電路1102對衰減后的PANEL VCC信號進行2倍反向衰減后輸出。通過兩次反向即可確保PANELVCC信號衰減前后的波形相位一致性。兩次衰減使衰減后的PANEL VCC信號為原來的1/4，電壓范圍約為OV?3V，滿足MCU 20的AD采樣要求。
[0025]請一并參閱圖4，所述一級衰減電路1101包括第一電阻Rl、第二電阻R2和第一運算放大器U1，所述第一運算放大器Ul的正向輸入端接地，第一運算放大器Ul的反向輸入端通過第一電阻Rl連接機芯板2 (即輸入PANEL VCC信號的接口)，所述第一運算放大器Ul的輸出端連接二級衰減電路1102、還通過第二電阻R2連接第一運算放大器Ul的反向輸入端。
[0026]所述二級衰減電路1102包括第三電阻R3、第四電阻R4和第二運算放大器U2，所述第二運算放大器U2的正向輸入端接地，第二運算放大器U2的反向輸入端通過第三電阻R3連接第一運算放大器Ul的輸出端，所述第二運算放大器U2的輸出端連接MCU、還通過第四電阻R4連接第二運算放大器U2的反向輸入端。
[0027]其中，所述第一電阻Rl和第三電阻R3的阻值均為1Kohm，第二電阻R2和第四電阻R4的阻值均為5Kohm。PANEL VCC信號經(jīng)過一級衰減電路1101衰減2倍(R1/R2)并使波形反相后，再經(jīng)過二級衰減電路1102衰減2倍(R3/R4)并使波形反相。如圖5所示，輸入信號一PANEL VCC信號開機時電壓由OV上升至12V之后趨于平穩(wěn)。根據(jù)第一處理單元的參數(shù)可以計算出衰減倍數(shù)為4倍，則開機時第一處理單元110輸出的PANEL VCCl信號由OV上升至3V (圖5中每格子表示5V)。經(jīng)過衰減處理的PANEL VCCl信號即可送給MCU進行AD采樣。
[0028]請同時參閱圖6，所述第二處理單元120包括第五電阻R5、第六電阻R6和第三運算放大器U3，所述第三運算放大器U3的正向輸入端連接機芯板2 (即輸入LVDS COLCK信號的接口)，第三運算放大器U3的反向輸入端通過第六電阻R6接地、還通過第五電阻R5連接第三運算放大器U3的輸出端和MCU。
[0029]其中，所述第三運算放大器U3為高速運算放大器，其對輸入的LVDS COLCK信號的電壓幅度進行放大后輸出LVDS COLCKl信號至MCU中進行采樣。信號仿真波形如圖7所示。
[0030]基于BACK LIGHT信號、PWM信號無需調(diào)整，可直接輸入MCU中，則所述傳輸單元130可以為導線，直接將BACK LIGHT信號、PWM信號輸出。也可以在傳輸單元130中設置濾波去噪電路來優(yōu)化BACK LIGHT信號和PWM信號的波形，使其更加平滑，減少干擾。此處對傳輸單元130的電路結構不作限定。
[0031]請一并參閱圖8，所述MCU為STM32F103單片機，其內(nèi)置12位16通道AD轉換器，無需外設AD轉換器，使用內(nèi)置AD轉換器即可，以節(jié)省成本和減小電路排版的面積。圖8中示出所述STM32F103單片機的最小系統(tǒng)。其中，所述單片機的PA0_WKUP腳、PAl腳、PA2腳、PA3腳作為AD采樣腳，PANEL VCCl信號、LVDS COLCKl信號、BACK LIGHT信號、PWM信號可分別輸入AD采樣腳中的任一腳，之后在程序中定義哪個AD采樣腳輸入哪個信號即可。本實施例中，可將PANEL VCCl信號輸入PA0_WKUP腳，則單片機的PA0_WKUP腳連接第二運算放大器U2的輸出端。所述LVDS COLCKl信號輸入PAl腳，則單片機的PAl腳連接第三運算放大器U3的輸出端。BACK LIGHT信號、PWM信號分別輸入PA2腳、PA3腳，則單片機的PA2腳、PA3腳均連接傳輸單元130的輸出端。
[0032]所述單片機以預設的采樣頻率對輸入的PANEL VCCl信號、LVDS COLCKl信號、BACKLIGHT信號、PWM信號的波形進行AD波形的采集，同時需實時監(jiān)測PANEL VCCl信號的波形變換來判斷電視機的開關機狀態(tài)。先判斷PANEL VCCl信號的波形是否由低電平變?yōu)楦唠娖?，若是則認為電視機進行了一次有效地開機，隨即從各波形計算出開機相關的各時序參數(shù)，之后傳輸至顯示屏顯示。同時將波形數(shù)據(jù)和時序參數(shù)上傳至電腦3中，繪制出各信號波形、并在波形上標注出各時序參數(shù)。若不是由低變高，則繼續(xù)判斷PANEL VCCl信號的波形是否由高電平變?yōu)榈碗娖剑羰?，則認為電視機進行了一次有效地關機，隨即從波形中開始計算與關機相關的各時序參數(shù)，之后傳輸至顯示屏顯示。同時將波形數(shù)據(jù)和時序參數(shù)上傳至電腦3中，繪制出各信號波形、并在波形上標注出各時序參數(shù)。若不是由高變低，則表示PANEL VCCl信號無變化，是平穩(wěn)的，此時需繼續(xù)監(jiān)測。
[0033]本實施例中，所述單片機中預先存儲了各種屏參數(shù)，計算出時序參數(shù)后，單片機將計算結果與預存的屏參數(shù)進行比較，以判斷計算的時序參數(shù)是否與預存的屏參數(shù)相同，相同則表示當前的屏參正確，可在顯示屏上顯示該時序參數(shù)時對應顯示“P” (Pass),表示通過、正確。若不相同則在顯示屏上顯示該時序參數(shù)時對應顯示“F”(Fail)，表示不合格。
[0034]在具體實施時，所述信號處理模塊10中會設置外部接口、配置測量線以方便電視機屏參測量儀I與機芯板2連接。如圖9所示，當機芯板2安裝在電視機4上時，機芯板2與屏5連接，電視機屏參測量儀I通過測量線6與機芯板2的輸入信號的接口連接，即可開始測量。
[0035]若機芯板2從電視機4中卸載，采用所述電視機屏參測量儀I也可以進行測量。如圖10所示，機芯板2通過測量線6接入電視機屏參測量儀I的信號處理模塊中，信號處理模塊同時將機芯板2的信號與屏5連接，這樣即可開始測量。
[0036]需要理解的是，所述電視機屏參測量儀I還包括供電模塊，其可以采用電池供電方式或外接電源供電方式，其為現(xiàn)有技術，此處對供電模塊的實現(xiàn)電路不作詳述。
[0037]基于上述的電視機屏參測量儀，本發(fā)明實施例還相應提供一種電視機屏參測量儀的測量方法。請參閱圖11，所述測量方法包括:
S100、信號處理模塊采集機芯板上的所有輸入信號，對輸入信號進行電壓調(diào)整后傳輸給 MCU ；
5200、MCU對調(diào)整后的輸入信號進行AD采樣，判斷電視的狀態(tài)，并計算出電視機不同狀態(tài)時對應的時序參數(shù)。
[0038]其中，所述輸入信號包括PANEL VCC信號、LVDS COLCK信號、BACK LIGHT信號、PWM信號。信號處理模塊僅對PANEL VCC信號、LVDS COLCK信號進行調(diào)整并對應生成PANELVCCl信號、LVDS COLCKl信號后傳輸至MCU中。BACK LIGHT信號、PWM信號直接傳輸至MCU中。
[0039]請同時參閱圖12,所述步驟S200具體包括:
5201、對調(diào)整后的輸入信號進行AD采樣；
5202、判斷PANELVCCl信號的波形是否由低電平變?yōu)楦唠娖?；若是則執(zhí)行步驟S203 ；否則執(zhí)行步驟S204 ； 5203、計算開機的各時序參數(shù)，執(zhí)行步驟S206；
5204、判斷PANELVCCl信號的波形是否由高電平變?yōu)榈碗娖?；若是，則執(zhí)行步驟S205 ；否則返回步驟S201 ；
5205、計算關機的各時序參數(shù)，執(zhí)行步驟S206；
5206、上傳波形數(shù)據(jù)至電腦；
5207、上傳時序參數(shù)至顯示屏顯示，返回步驟S201。
[0040]本實施例中，所述步驟S207還包括:判斷計算的時序參數(shù)是否與預存的屏參數(shù)相同，相同則顯示該時序參數(shù)合格，不相同顯示不合格。
[0041]需要理解的是，所述電視機屏參測量儀工作時一直不停地進行測量，即上述步驟S201至S207是不斷重復的，只有檢測PANEL VCCl信號的波形變化時才計算時序參數(shù)并進行相應顯示。若PANEL VCCl信號的波形不變化，則繼續(xù)采集波形，自動繼續(xù)測量。當測量員關閉電視機屏參測量儀時，上述步驟自動停止。
[0042]綜上所述，本發(fā)明提供的電視機屏參測量儀，通過信號處理模塊采集機芯板上的所有輸入信號，對輸入信號進行電壓調(diào)整后傳輸給MCU ;所述MCU對調(diào)整后的輸入信號進行AD采樣，判斷電視機開機或關機時，自動計算開、關機時對應的時序參數(shù)并傳輸至顯示屏顯示；其硬件電路的測量精度能達到0.1ms，誤差小于5%。只需要一次開機或關機就能測量出屏參的所有時序參數(shù)并顯示，無需多次設置參數(shù)，減少了測試工作量，大大節(jié)約了測量時間。同時，內(nèi)置屏參數(shù)、能判斷計算的時序參數(shù)是否合格，方便用戶測量。
[0043]可以理解的是，對本領域普通技術人員來說，可以根據(jù)本發(fā)明的技術方案及其發(fā)明構思加以等同替換或改變，而所有這些改變或替換都應屬于本發(fā)明所附的權利要求的保護范圍。
【權利要求】
1.一種電視機屏參測量儀，與電視機的機芯板連接，其特征在于，包括:信號處理模塊和 MCU ； 信號處理模塊采集機芯板上的所有輸入信號，對輸入信號進行電壓調(diào)整后傳輸給MCU;所述MCU對調(diào)整后的輸入信號進行AD采樣，判斷電視機的狀態(tài)，并計算出電視機不同狀態(tài)時對應的時序參數(shù)。
2.根據(jù)權利要求1所述的電視機屏參測量儀，其特征在于，還包括緩存模塊，用于對MCU采樣的數(shù)據(jù)進行緩存，檢測所有采樣數(shù)據(jù)緩存完后、上傳所述采樣數(shù)據(jù)至MCU進行數(shù)據(jù)處理。
3.根據(jù)權利要求1所述的電視機屏參測量儀，其特征在于，所述信號處理模塊包括: 第一處理單兀，用于對所述輸入信號中的PANEL VCC信號進行衰減處理后傳輸至MCU ； 第二處理單元，用于對所述輸入信號中的LVDS COLCK信號的電壓幅度進行放大后傳輸至 MCU ； 傳輸單元，用于將所述輸入信號中的BACK LIGHT信號和PWM信號傳輸給MCU。
4.根據(jù)權利要求3所述的電視機屏參測量儀，其特征在于，所述第一處理單元包括一級裳減電路和~■級裳減電路； 所述一級衰減電路對PANEL VCC信號進行2倍反向衰減，二級衰減電路對衰減后的PANEL VCC信號進行2倍反向衰減后輸出。
5.根據(jù)權利要求4所述的電視機屏參測量儀，其特征在于，所述一級衰減電路包括第一電阻、第二電阻和第一運算放大器，所述第一運算放大器的正向輸入端接地，第一運算放大器的反向輸入端通過第一電阻連接機芯板，所述第一運算放大器的輸出端連接二級衰減電路、還通過第二電阻連接第一運算放大器的反向輸入端。
6.根據(jù)權利要求5所述的電視機屏參測量儀，其特征在于，所述二級衰減電路包括第三電阻、第四電阻和第二運算放大器，所述第二運算放大器的正向輸入端接地，第二運算放大器的反向輸入端通過第三電阻連接第一運算放大器的輸出端，所述第二運算放大器的輸出端連接、還通過第四電阻連接第二運算放大器的反向輸入端。
7.根據(jù)權利要求3所述的電視機屏參測量儀，其特征在于，所述第二處理單元包括第五電阻、第六電阻和第三運算放大器，所述第三運算放大器的正向輸入端連接機芯板，第三運算放大器的反向輸入端通過第六電阻接地、還通過第五電阻連接第三運算放大器的輸出端和MCU。
8.根據(jù)權利要求3所述的電視機屏參測量儀，其特征在于，所述MCU為一單片機，所述單片機的PA0_WKUP腳連接第一處理單元，單片機的PAl腳連接第二處理單元，單片機的PA2腳、PA3腳均連接傳輸單元。
9.一種電視機屏參測量儀的測量方法，其特征在于，包括: 信號處理模塊采集機芯板上的所有輸入信號，對輸入信號進行電壓調(diào)整后傳輸給MCU ; MCU對調(diào)整后的輸入信號進行AD采樣，判斷電視機的狀態(tài)，并計算出電視機不同狀態(tài)時對應的時序參數(shù)。
10.根據(jù)權利要求9所述的測量方法，其特征在于，所述MCU對調(diào)整后的輸入信號進行AD采樣，判斷電視機的狀態(tài)，并計算出電視機不同狀態(tài)時對應的時序參數(shù)的步驟具體包括: 對調(diào)整后的輸入信號進行AD采樣； 判斷PANEL VCCl信號的波形是否由低電平變?yōu)楦唠娖剑? 若是，則計算開機的各時序參數(shù)； 若不是，則判斷PANEL VCCl信號的波形是否由高電平變?yōu)榈碗娖?；若是，則計算關機的各時序參數(shù)。
【文檔編號】H04N17/00GK104270632SQ201410516004
【公開日】2015年1月7日 申請日期:2014年9月29日 優(yōu)先權日:2014年9月29日
【發(fā)明者】方威, 侯亞榮 申請人:深圳創(chuàng)維－Rgb電子有限公司