一種網(wǎng)絡(luò)層次測(cè)試方法及裝置制造方法
【專利摘要】本發(fā)明實(shí)施例提供了一種網(wǎng)絡(luò)層次測(cè)試方法及裝置，用于在測(cè)試環(huán)境中，通過(guò)一個(gè)測(cè)試系統(tǒng)通過(guò)分別測(cè)試性能方面及協(xié)議方面，完成網(wǎng)絡(luò)層次測(cè)試，并提高測(cè)試準(zhǔn)確度和測(cè)試效率。本發(fā)明實(shí)施例方法包括：向測(cè)試設(shè)備中的測(cè)試宏單元發(fā)送測(cè)試輸入信號(hào)，所述測(cè)試輸入信號(hào)包括性能測(cè)試輸入信號(hào)或協(xié)議測(cè)試輸入信號(hào)，測(cè)試宏單元為所述測(cè)試設(shè)備中與測(cè)試內(nèi)容對(duì)應(yīng)的功能測(cè)試單元，分析接收的測(cè)試輸出信號(hào)，獲得所述測(cè)試宏單元的測(cè)試結(jié)果數(shù)據(jù)，通過(guò)統(tǒng)計(jì)所有測(cè)試宏單元的測(cè)試結(jié)果數(shù)據(jù)，獲得所述測(cè)試設(shè)備的測(cè)試結(jié)果數(shù)據(jù)。
【專利說(shuō)明】一種網(wǎng)絡(luò)層次測(cè)試方法及裝置
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及通信【技術(shù)領(lǐng)域】，尤其涉及一種網(wǎng)絡(luò)層次測(cè)試方法及裝置。
【背景技術(shù)】
[0002]網(wǎng)絡(luò)層次測(cè)試是一個(gè)系統(tǒng)概念測(cè)試，它是利用一種環(huán)境布局來(lái)模擬某種網(wǎng)絡(luò)體系，并利用一套針對(duì)網(wǎng)絡(luò)應(yīng)用環(huán)境仿真的軟、硬件體系以及其它相關(guān)因素(如人員的操作、數(shù)據(jù)的獲取等)綜合起來(lái)，對(duì)即將投入運(yùn)營(yíng)的網(wǎng)絡(luò)進(jìn)行全面測(cè)試。整個(gè)測(cè)試過(guò)程必須體現(xiàn)網(wǎng)絡(luò)層次化的結(jié)構(gòu)布局、在無(wú)線通信環(huán)境下的數(shù)據(jù)傳輸和網(wǎng)絡(luò)協(xié)議規(guī)格化描述的測(cè)試反映。因這些測(cè)試必須依靠能夠反映這一關(guān)系和程序功能的需求規(guī)格說(shuō)明書，來(lái)考慮測(cè)試用例和推斷測(cè)試結(jié)果的正確性，即程序外特性分析，所以，這些測(cè)試都是基于用戶觀點(diǎn)的測(cè)試。另外，網(wǎng)絡(luò)測(cè)試還需要對(duì)網(wǎng)絡(luò)結(jié)構(gòu)、傳輸數(shù)據(jù)分組結(jié)構(gòu)的合理性、以及所有需要在網(wǎng)絡(luò)系統(tǒng)上所運(yùn)行的功能軟件測(cè)試。因此，這類網(wǎng)絡(luò)測(cè)試比一般產(chǎn)品測(cè)試要困難得多，主要體現(xiàn)為:(1)測(cè)試軟件功能依賴不需編碼的硬件功能，軟、硬件錯(cuò)誤定位困難；(2)魯棒性與可知性測(cè)試用的編碼實(shí)現(xiàn)困難；(3)測(cè)試結(jié)果上載困難；(4)基于無(wú)線傳輸環(huán)境測(cè)試的復(fù)雜性，網(wǎng)絡(luò)節(jié)點(diǎn)之間的數(shù)據(jù)傳輸安全性，組網(wǎng)方式可行性與網(wǎng)絡(luò)時(shí)間同步綜合一體化評(píng)估困難；
(5)網(wǎng)絡(luò)性能測(cè)試、網(wǎng)絡(luò)性能瓶頸定位困難；(6)測(cè)試自動(dòng)化困難。
[0003]目前對(duì)網(wǎng)絡(luò)層次測(cè)試都采用測(cè)試規(guī)模比例壓縮法或現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試法兩種方式。第一種測(cè)試方式是通過(guò)以點(diǎn)代面來(lái)粗略評(píng)估被測(cè)系統(tǒng)；第二種測(cè)試方式需要運(yùn)行系統(tǒng)退出公共服務(wù)運(yùn)營(yíng)狀態(tài)，轉(zhuǎn)而進(jìn)行系統(tǒng)測(cè)試。
[0004]但是，在上述現(xiàn)有技術(shù)中，第一種測(cè)試方式通過(guò)局部測(cè)試推斷出整體測(cè)試結(jié)果，準(zhǔn)確度較低；第一種測(cè)試方式影響公共服務(wù)運(yùn)營(yíng)商的正常運(yùn)營(yíng)，實(shí)現(xiàn)難度大。
【發(fā)明內(nèi)容】
[0005]本發(fā)明實(shí)施例提供了一種網(wǎng)絡(luò)層次測(cè)試方法及裝置，用以通過(guò)在測(cè)試環(huán)境中模擬仿真測(cè)試條件，完成對(duì)網(wǎng)絡(luò)層次測(cè)試，提高測(cè)試準(zhǔn)確度。
[0006]本發(fā)明實(shí)施例提供的網(wǎng)絡(luò)層次測(cè)試方法，包括:測(cè)試控制中心向測(cè)試設(shè)備中的測(cè)試宏單元發(fā)送測(cè)試輸入信號(hào)，所述測(cè)試輸入信號(hào)包括:性能測(cè)試輸入信號(hào)或協(xié)議測(cè)試輸入信號(hào)，所述測(cè)試宏單元為所述測(cè)試設(shè)備中與測(cè)試內(nèi)容對(duì)應(yīng)的功能測(cè)試單元；接收所述測(cè)試宏單元反饋的測(cè)試輸出信號(hào)，所述測(cè)試輸出信號(hào)包括:性能測(cè)試輸出信號(hào)或協(xié)議測(cè)試輸出信號(hào)；分析所述測(cè)試輸出信號(hào)，獲得所述測(cè)試宏單元的測(cè)試結(jié)果數(shù)據(jù)；統(tǒng)計(jì)所有測(cè)試宏單元的測(cè)試結(jié)果數(shù)據(jù)，獲得所述測(cè)試設(shè)備的測(cè)試結(jié)果數(shù)據(jù)。
[0007]本發(fā)明實(shí)施例提供的網(wǎng)絡(luò)層次測(cè)試裝置，包括:發(fā)送單元，用于向測(cè)試設(shè)備中的測(cè)試宏單元發(fā)送測(cè)試輸入信號(hào)，所述測(cè)試輸入信號(hào)包括:性能測(cè)試輸入信號(hào)或協(xié)議測(cè)試輸入信號(hào)，所述測(cè)試宏單元為所述測(cè)試設(shè)備中與測(cè)試內(nèi)容對(duì)應(yīng)的功能測(cè)試單元；接收單元，用于接收所述測(cè)試宏單元反饋的測(cè)試輸出信號(hào)，所述測(cè)試輸出信號(hào)包括:性能測(cè)試輸出信號(hào)或協(xié)議測(cè)試輸出信號(hào)；分析單元，用于分析所述接收單元接收的所述測(cè)試輸出信號(hào)，獲得所述測(cè)試宏單元的測(cè)試結(jié)果數(shù)據(jù)；統(tǒng)計(jì)單元，用于統(tǒng)計(jì)所述分析單元分析的所有測(cè)試宏單元的測(cè)試結(jié)果數(shù)據(jù)，獲得所述測(cè)試設(shè)備的測(cè)試結(jié)果數(shù)據(jù)。
[0008]從以上技術(shù)方案可以看出，本發(fā)明實(shí)施例具有以下優(yōu)點(diǎn):在測(cè)試環(huán)境中，測(cè)試控制中心根據(jù)測(cè)試內(nèi)容向測(cè)試設(shè)備中與該測(cè)試內(nèi)容對(duì)應(yīng)的測(cè)試宏單元發(fā)送測(cè)試輸入信號(hào)，測(cè)試輸入信號(hào)包括性能測(cè)試輸入信號(hào)或協(xié)議測(cè)試輸入信號(hào)，可以進(jìn)行性能測(cè)試，也可以進(jìn)行協(xié)議測(cè)試，分析該測(cè)試宏單元反饋的測(cè)試輸出信號(hào)，獲得所述測(cè)試宏單元的測(cè)試結(jié)果數(shù)據(jù)，完成與測(cè)試內(nèi)容對(duì)應(yīng)的所有測(cè)試宏單元的測(cè)試后，統(tǒng)計(jì)所有測(cè)試宏單元的測(cè)試結(jié)果數(shù)據(jù)，得到該測(cè)試設(shè)備的整體測(cè)試結(jié)果數(shù)據(jù)，由此，在測(cè)試環(huán)境中，利用同一套測(cè)試系統(tǒng)完成網(wǎng)絡(luò)層次的性能測(cè)試和協(xié)議測(cè)試，簡(jiǎn)化測(cè)試過(guò)程，相比較以點(diǎn)代面的測(cè)試方式，測(cè)試準(zhǔn)確度更高，根據(jù)測(cè)試內(nèi)容將測(cè)試設(shè)備劃分為多個(gè)測(cè)試宏單元，可簡(jiǎn)化測(cè)試過(guò)程，提高測(cè)試效率。
【專利附圖】
【附圖說(shuō)明】
[0009]為了更清楚地說(shuō)明本發(fā)明實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)中的技術(shù)方案，下面將對(duì)實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)描述中所需要使用的附圖作簡(jiǎn)單地介紹，顯而易見(jiàn)地，下面描述中的附圖僅僅是本發(fā)明的一些實(shí)施例，對(duì)于本領(lǐng)域技術(shù)人員來(lái)講，在不付出創(chuàng)造性勞動(dòng)性的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。
[0010]圖1為本發(fā)明實(shí)施例中網(wǎng)絡(luò)層次測(cè)試方法的一個(gè)實(shí)施例示意圖；
[0011]圖2為本發(fā)明實(shí)施例中網(wǎng)絡(luò)層次測(cè)試方法的另一個(gè)實(shí)施例示意圖；
[0012]圖3為本發(fā)明實(shí)施例中測(cè)試控制中心與測(cè)試設(shè)備的連接關(guān)系示意圖；
[0013]圖4為本發(fā)明實(shí)施例中網(wǎng)絡(luò)層次測(cè)試裝置的一個(gè)實(shí)施例示意圖；
[0014]圖5為本發(fā)明實(shí)施例中網(wǎng)絡(luò)層次測(cè)試裝置的另一個(gè)實(shí)施例示意圖。
【具體實(shí)施方式】
[0015]下面結(jié)合附圖和具體實(shí)施例進(jìn)一步說(shuō)明本發(fā)明實(shí)施例的技術(shù)方案，顯然，所描述的實(shí)施例僅僅是本發(fā)明一部分實(shí)施例，而不是全部的實(shí)施例?；诒景l(fā)明中的實(shí)施例，本領(lǐng)域技術(shù)人員在沒(méi)有做出創(chuàng)造性勞動(dòng)前提下所獲得的所有其他實(shí)施例，都屬于本發(fā)明保護(hù)的范圍。
[0016]本發(fā)明實(shí)施例提供了一種網(wǎng)絡(luò)層次測(cè)試方法及裝置，用于在測(cè)試環(huán)境中，通過(guò)一個(gè)測(cè)試系統(tǒng)通過(guò)分別測(cè)試性能方面及協(xié)議方面，完成網(wǎng)絡(luò)層次測(cè)試，并提高測(cè)試準(zhǔn)確度和測(cè)試效率。
[0017]針對(duì)復(fù)雜的測(cè)試要求，本發(fā)明實(shí)施例中的網(wǎng)絡(luò)層次測(cè)試系統(tǒng)利用單元測(cè)試、集成測(cè)試和系統(tǒng)測(cè)試為一體化的黑、白盒測(cè)試模型，將基于無(wú)線傳輸、數(shù)據(jù)安全和協(xié)議化的網(wǎng)絡(luò)測(cè)試歸類為黑盒測(cè)試，并通過(guò)測(cè)試來(lái)反映測(cè)試用例和推斷測(cè)試結(jié)果的正確性，測(cè)試中把網(wǎng)絡(luò)預(yù)期用途作為重要依據(jù)，根據(jù)網(wǎng)絡(luò)吞吐量、同步和層次化要求，判斷網(wǎng)絡(luò)協(xié)議是否滿足這些需求規(guī)范。而將網(wǎng)絡(luò)層次結(jié)構(gòu)的測(cè)試和一些功能軟件歸類于白盒測(cè)試，通過(guò)測(cè)試對(duì)被測(cè)程序進(jìn)行內(nèi)部構(gòu)造合理性分析，并根據(jù)網(wǎng)絡(luò)層次構(gòu)造設(shè)計(jì)測(cè)試用例，所以白盒測(cè)試包括了邏輯覆蓋、路徑分析、程序變異等軟件內(nèi)部結(jié)構(gòu)的測(cè)試。在測(cè)試環(huán)境中，該測(cè)試環(huán)境可以是實(shí)驗(yàn)室，也可以是其他室內(nèi)模擬測(cè)試環(huán)境，由測(cè)試控制中心根據(jù)測(cè)試內(nèi)容，輸出測(cè)試設(shè)備使用環(huán)境的仿真信號(hào)，對(duì)測(cè)試設(shè)備進(jìn)行測(cè)試，綜合分析得到的測(cè)試數(shù)據(jù)，完成對(duì)測(cè)試設(shè)備的測(cè)試。
[0018]本發(fā)明實(shí)施例中的網(wǎng)絡(luò)層次測(cè)試系統(tǒng)可對(duì)微功率無(wú)線互聯(lián)互通設(shè)備的射頻發(fā)射性能進(jìn)行測(cè)試，射頻發(fā)射性能包括載波頻率誤差、載波輸出功率、數(shù)傳頻偏、雜散射頻分量、基帶傳輸速率；可對(duì)微功率無(wú)線互聯(lián)互通設(shè)備的射頻接收性能進(jìn)行測(cè)試，射頻接收性能包括傳靈敏度檢驗(yàn)、可接受中心頻率偏差、場(chǎng)強(qiáng)測(cè)量；可對(duì)微功率無(wú)線互聯(lián)互通設(shè)備的協(xié)議進(jìn)行測(cè)試，協(xié)議包括物理層、介質(zhì)訪問(wèn)控制(MAC, Media Access Control)層、網(wǎng)絡(luò)層、應(yīng)用層等協(xié)議。
[0019]本發(fā)明實(shí)施例中的網(wǎng)絡(luò)層次測(cè)試方法具有通用性，可應(yīng)用于信息采集網(wǎng)絡(luò)系統(tǒng)，也可應(yīng)用于其它各種多路徑的網(wǎng)絡(luò)系統(tǒng)中。
[0020]請(qǐng)參閱圖1，本發(fā)明實(shí)施例中的網(wǎng)絡(luò)層次測(cè)試方法的一個(gè)實(shí)施例包括:
[0021]101、測(cè)試控制中心向測(cè)試設(shè)備中的測(cè)試宏單元發(fā)送測(cè)試輸入信號(hào)；
[0022]在測(cè)試環(huán)境中，測(cè)試控制中心與測(cè)試設(shè)備相連，請(qǐng)參閱圖2，測(cè)試設(shè)備是置于測(cè)試設(shè)備屏蔽箱中的，該測(cè)試設(shè)備屏蔽箱用于排除外界各種信號(hào)干擾。
[0023]進(jìn)一步地，考慮到網(wǎng)絡(luò)層次的性能與協(xié)議測(cè)試面牽涉內(nèi)容太多，本發(fā)明實(shí)施例中采用了宏測(cè)試模型，具體地，測(cè)試設(shè)備可根據(jù)測(cè)試內(nèi)容劃分為多個(gè)測(cè)試宏單元，例如，在進(jìn)行性能測(cè)試時(shí)，將測(cè)試設(shè)備劃分為輸入頻率漂移測(cè)試宏單元、帶寬占用測(cè)試宏單元、發(fā)射功率測(cè)試宏單元、調(diào)制特性測(cè)試宏單元等測(cè)試宏單元，在進(jìn)行協(xié)議測(cè)試時(shí)，將測(cè)試設(shè)備劃分為符合協(xié)議要求的信標(biāo)幀驗(yàn)證測(cè)試宏單元、場(chǎng)強(qiáng)收集請(qǐng)求和場(chǎng)強(qiáng)收集應(yīng)答測(cè)試宏單元、配置終端模塊請(qǐng)求和配置終端模塊應(yīng)答測(cè)試宏單元、網(wǎng)絡(luò)維護(hù)請(qǐng)求和網(wǎng)絡(luò)應(yīng)答測(cè)試宏單元等測(cè)試宏單元，具體測(cè)試宏單元的劃分與測(cè)試內(nèi)容相關(guān)，此處不作具體限定。
[0024]測(cè)試控制中心確定測(cè)試內(nèi)容，向該測(cè)試設(shè)備中與測(cè)試內(nèi)容對(duì)應(yīng)的測(cè)試宏單元發(fā)送測(cè)試輸入信號(hào)，進(jìn)行測(cè)試，所述測(cè)試輸入信號(hào)包括:性能測(cè)試輸入信號(hào)或協(xié)議測(cè)試輸入信號(hào)，可以進(jìn)行性能測(cè)試，也可以進(jìn)行協(xié)議測(cè)試，所述測(cè)試宏單元為所述測(cè)試設(shè)備中與測(cè)試內(nèi)容對(duì)應(yīng)的功能測(cè)試單元。
[0025]102、接收所述測(cè)試宏單元反饋的測(cè)試輸出信號(hào)；
[0026]本實(shí)施例中，測(cè)試設(shè)備是置于測(cè)試設(shè)備屏蔽箱中的，該測(cè)試設(shè)備屏蔽箱用于排除外界各種信號(hào)干擾，提高測(cè)試的準(zhǔn)確性。
[0027]測(cè)試控制中心發(fā)送測(cè)試輸入信號(hào)，該測(cè)試輸入信號(hào)經(jīng)過(guò)測(cè)試宏單元之后，轉(zhuǎn)換為測(cè)試輸出信號(hào)，測(cè)試控制中心接收該測(cè)試輸出信號(hào)，所述測(cè)試輸出信號(hào)包括:性能測(cè)試輸出信號(hào)或協(xié)議測(cè)試輸出信號(hào)。
[0028]103、分析所述測(cè)試輸出信號(hào)，獲得所述測(cè)試宏單元的測(cè)試結(jié)果數(shù)據(jù)；
[0029]測(cè)試控制中心分析接收的測(cè)試輸出信號(hào)，獲得該測(cè)試宏單元對(duì)應(yīng)的測(cè)試結(jié)果數(shù)據(jù)，測(cè)試該測(cè)試宏單元的故障和故障覆蓋率，該測(cè)試結(jié)果數(shù)據(jù)可以是性能測(cè)試結(jié)果數(shù)據(jù)，也可以是協(xié)議測(cè)試結(jié)果數(shù)據(jù)，因此可以進(jìn)行性能測(cè)試結(jié)果分析，也可以進(jìn)行協(xié)議測(cè)試結(jié)果分析。
[0030]104、統(tǒng)計(jì)所有測(cè)試宏單元的測(cè)試結(jié)果數(shù)據(jù)，獲得所述測(cè)試設(shè)備的測(cè)試結(jié)果數(shù)據(jù)。
[0031]完成與測(cè)試內(nèi)容對(duì)應(yīng)的所有測(cè)試宏單元的測(cè)試后，測(cè)試控制中心統(tǒng)計(jì)測(cè)試設(shè)備的所有測(cè)試宏單元的各個(gè)測(cè)試結(jié)果數(shù)據(jù)，得到該測(cè)試設(shè)備的整體測(cè)試結(jié)果數(shù)據(jù)，并輸出該測(cè)試結(jié)果數(shù)據(jù)。[0032]本發(fā)明實(shí)施例中，在測(cè)試環(huán)境中，測(cè)試控制中心根據(jù)測(cè)試內(nèi)容向測(cè)試設(shè)備中與該測(cè)試內(nèi)容對(duì)應(yīng)的測(cè)試宏單元發(fā)送測(cè)試輸入信號(hào)，測(cè)試輸入信號(hào)包括:性能測(cè)試輸入信號(hào)或協(xié)議測(cè)試輸入信號(hào)，可以進(jìn)行性能測(cè)試，也可以進(jìn)行協(xié)議測(cè)試，分析該測(cè)試宏單元反饋的測(cè)試輸出信號(hào)，獲得所述測(cè)試宏單元的測(cè)試結(jié)果數(shù)據(jù)，完成與測(cè)試內(nèi)容對(duì)應(yīng)的所有測(cè)試宏單元的測(cè)試后，統(tǒng)計(jì)所有測(cè)試宏單元的測(cè)試結(jié)果數(shù)據(jù)，得到該測(cè)試設(shè)備的整體測(cè)試結(jié)果數(shù)據(jù)，由此，在測(cè)試環(huán)境中，利用同一套測(cè)試系統(tǒng)完成網(wǎng)絡(luò)層次的性能測(cè)試和協(xié)議測(cè)試，簡(jiǎn)化測(cè)試過(guò)程，相比較以點(diǎn)代面的測(cè)試方式，測(cè)試準(zhǔn)確度更高，根據(jù)測(cè)試內(nèi)容將測(cè)試設(shè)備劃分為多個(gè)測(cè)試宏單元，可簡(jiǎn)化測(cè)試過(guò)程，提高測(cè)試效率。
[0033]為便于理解，下面以另一實(shí)施例詳細(xì)說(shuō)明本發(fā)明中的網(wǎng)絡(luò)層次測(cè)試方法，請(qǐng)參閱圖3，本發(fā)明實(shí)施例中的網(wǎng)絡(luò)層次測(cè)試方法的另一個(gè)實(shí)施例包括:
[0034]201、選擇與所述測(cè)試宏單元對(duì)應(yīng)的測(cè)試條件加入測(cè)試輸入信號(hào)中；
[0035]測(cè)試控制中心選擇與所述測(cè)試宏單元對(duì)應(yīng)的測(cè)試條件，即選擇與所述測(cè)試內(nèi)容對(duì)應(yīng)的測(cè)試條件，加入測(cè)試輸入信號(hào)中。
[0036]需要說(shuō)明的是，一般地，在測(cè)試方法中使用窮舉測(cè)試方式進(jìn)行測(cè)試，這種測(cè)試方法是根據(jù)η (η為正整數(shù))個(gè)輸入測(cè)試條件的組合，獲取2η個(gè)測(cè)試條件向量，并將這2"個(gè)測(cè)試條件向量一一加載到輸入信號(hào)中，通過(guò)觀察網(wǎng)絡(luò)層次性能與協(xié)議對(duì)測(cè)試向量的反映并記錄故障率。但是當(dāng)η值很大時(shí)，這種測(cè)試過(guò)程的測(cè)試時(shí)間開(kāi)銷和分析復(fù)雜度都大大上升，所以，本發(fā)明實(shí)施例選擇采用測(cè)試條件子集組合方式，這種測(cè)試方法中的測(cè)試條件因測(cè)試內(nèi)容的不同而不同，可以屏蔽不出現(xiàn)或不發(fā)生的各種輸入測(cè)試條件，而不是輸入全部測(cè)試條件，以這種測(cè)試條件子集組合形式對(duì)網(wǎng)絡(luò)層次性能和協(xié)議加以測(cè)試，可壓縮測(cè)試時(shí)間并快速獲取測(cè)試結(jié)果。
[0037]202、向測(cè)試設(shè)備中的測(cè)試宏單元發(fā)送測(cè)試輸入信號(hào)；
[0038]測(cè)試設(shè)備可根據(jù)測(cè)試內(nèi)容劃分為多個(gè)測(cè)試宏單元，例如，在進(jìn)行性能測(cè)試時(shí)，將測(cè)試設(shè)備劃分為輸入頻率漂移測(cè)試宏單元、帶寬占用測(cè)試宏單元、發(fā)射功率測(cè)試宏單元、調(diào)制特性測(cè)試宏單元等測(cè)試宏單元，在進(jìn)行協(xié)議測(cè)試時(shí)，將測(cè)試設(shè)備劃分為符合協(xié)議要求的信標(biāo)幀驗(yàn)證測(cè)試宏單元、場(chǎng)強(qiáng)收集請(qǐng)求和場(chǎng)強(qiáng)收集應(yīng)答測(cè)試宏單元、配置終端模塊請(qǐng)求和配置終端模塊應(yīng)答測(cè)試宏單元、網(wǎng)絡(luò)維護(hù)請(qǐng)求和網(wǎng)絡(luò)應(yīng)答測(cè)試宏單元等測(cè)試宏單元。
[0039]測(cè)試控制中心確定測(cè)試內(nèi)容，向該測(cè)試設(shè)備中與測(cè)試內(nèi)容對(duì)應(yīng)的測(cè)試宏單元發(fā)送測(cè)試輸入信號(hào)以進(jìn)行測(cè)試，所述輸入信號(hào)攜帶與所述測(cè)試宏單元對(duì)應(yīng)的測(cè)試條件，所述測(cè)試輸入信號(hào)包括:性能測(cè)試輸入信號(hào)或協(xié)議測(cè)試輸入信號(hào)，可以進(jìn)行性能測(cè)試，也可以進(jìn)行協(xié)議測(cè)試，所述測(cè)試宏單元為所述測(cè)試設(shè)備中與測(cè)試內(nèi)容對(duì)應(yīng)的功能測(cè)試單元。
[0040]203、接收所述測(cè)試宏單元反饋的測(cè)試輸出信號(hào)；
[0041]本實(shí)施例中，測(cè)試設(shè)備是置于測(cè)試設(shè)備屏蔽箱中的，該測(cè)試設(shè)備屏蔽箱用于排除外界各種信號(hào)干擾，提高測(cè)試的準(zhǔn)確性。
[0042]測(cè)試控制中心發(fā)送測(cè)試輸入信號(hào)，該測(cè)試輸入信號(hào)經(jīng)過(guò)測(cè)試宏單元之后，轉(zhuǎn)換為測(cè)試輸出信號(hào)，測(cè)試控制中心接收該測(cè)試輸出信號(hào)，所述測(cè)試輸出信號(hào)包括:性能測(cè)試輸出信號(hào)或協(xié)議測(cè)試輸出信號(hào)。
[0043]204、分析所述測(cè)試輸出信號(hào)，獲得所述測(cè)試宏單元的測(cè)試結(jié)果數(shù)據(jù)；
[0044]測(cè)試控制中心分析接收的測(cè)試輸出信號(hào)，獲得該測(cè)試宏單元對(duì)應(yīng)的測(cè)試結(jié)果數(shù)據(jù)，可以進(jìn)行性能測(cè)試結(jié)果分析，也可以進(jìn)行協(xié)議測(cè)試結(jié)果分析。
[0045]具體為，若進(jìn)行性能測(cè)試結(jié)果分析，則分析所述性能測(cè)試輸出信號(hào)，獲得所述測(cè)試宏單元的性能測(cè)試結(jié)果數(shù)據(jù)，具體將所述測(cè)試結(jié)果數(shù)據(jù)與預(yù)置的理想結(jié)果數(shù)據(jù)進(jìn)行比較，獲得所述測(cè)試宏單元的性能測(cè)試結(jié)果數(shù)據(jù)；若進(jìn)行協(xié)議測(cè)試結(jié)果分析，則分析所述協(xié)議測(cè)試輸出信號(hào)，獲得所述測(cè)試宏單元的協(xié)議測(cè)試結(jié)果數(shù)據(jù)，具體接收標(biāo)準(zhǔn)協(xié)議信號(hào)源發(fā)送的所述標(biāo)準(zhǔn)協(xié)議信號(hào)，將所述測(cè)試結(jié)果數(shù)據(jù)與標(biāo)準(zhǔn)協(xié)議信號(hào)進(jìn)行比較，獲得所述測(cè)試宏單元的協(xié)議測(cè)試結(jié)果數(shù)據(jù)。
[0046]205、統(tǒng)計(jì)所有測(cè)試宏單元的測(cè)試結(jié)果數(shù)據(jù)，獲得所述測(cè)試設(shè)備的測(cè)試結(jié)果數(shù)據(jù)。
[0047]完成與測(cè)試內(nèi)容對(duì)應(yīng)的所有測(cè)試宏單元的測(cè)試后，測(cè)試控制中心統(tǒng)計(jì)測(cè)試設(shè)備的所有測(cè)試宏單元的各個(gè)測(cè)試結(jié)果數(shù)據(jù)，得到該測(cè)試設(shè)備的整體測(cè)試結(jié)果數(shù)據(jù)，并輸出該測(cè)試結(jié)果數(shù)據(jù)。
[0048]本發(fā)明實(shí)施例在對(duì)無(wú)線信息采集系統(tǒng)網(wǎng)絡(luò)層次和協(xié)議的測(cè)試，包含了發(fā)射功率、傳輸頻率、頻偏、速率和誤碼率、接收靈敏度等測(cè)試，其測(cè)試范圍如下:
[0049](I)微功率無(wú)線互聯(lián)互通設(shè)備的射頻發(fā)射性能進(jìn)行測(cè)試，測(cè)試范圍包括載波頻率誤差、載波輸出功率、數(shù)傳頻偏、雜散射頻分量、基帶傳輸速率；
[0050](2)微功率無(wú)線互聯(lián)互通設(shè)備的射頻接收性能進(jìn)行測(cè)試，測(cè)試范圍包括傳靈敏度檢驗(yàn)、可接受中心頻率偏差、場(chǎng)強(qiáng)測(cè)量；
[0051](3)微功率無(wú)線互聯(lián)互通設(shè)備的協(xié)議進(jìn)行測(cè)試，測(cè)試范圍包括物理層、MAC層、網(wǎng)絡(luò)層、應(yīng)用層等協(xié)議。
[0052]網(wǎng)絡(luò)性能測(cè)試包含網(wǎng)絡(luò)節(jié)點(diǎn)無(wú)線設(shè)備發(fā)射性能測(cè)試中的雜散測(cè)試及射頻分量測(cè)試、頻率漂移測(cè)試、帶寬占用測(cè)試、發(fā)射功率測(cè)試、調(diào)制特性測(cè)試、頻率偏移測(cè)試、發(fā)射機(jī)數(shù)據(jù)速率測(cè)試。網(wǎng)絡(luò)節(jié)點(diǎn)無(wú)線設(shè)備接收性能測(cè)試中的靈敏度測(cè)試、共享信道抑制測(cè)試、鄰道選擇測(cè)試、雜散響應(yīng)、互調(diào)響應(yīng)抑制測(cè)試。
[0053]網(wǎng)絡(luò)協(xié)議測(cè)試包含符合協(xié)議要求的信標(biāo)幀驗(yàn)證、場(chǎng)強(qiáng)收集請(qǐng)求和場(chǎng)強(qiáng)收集應(yīng)答、配置終端模塊請(qǐng)求和配置終端模塊應(yīng)答、網(wǎng)絡(luò)維護(hù)請(qǐng)求和網(wǎng)絡(luò)維護(hù)應(yīng)答、路由請(qǐng)求和路由應(yīng)答、洪泛抄表下行命令和洪泛終止命令、讀配置請(qǐng)求和讀配置應(yīng)答、寫配置請(qǐng)求和寫配置應(yīng)答、廣播設(shè)置發(fā)射功率、廣播設(shè)置場(chǎng)強(qiáng)門限、節(jié)點(diǎn)復(fù)位請(qǐng)求和節(jié)點(diǎn)復(fù)位應(yīng)答。
[0054]本發(fā)明實(shí)施例中，在測(cè)試環(huán)境中，測(cè)試控制中心選擇與所述測(cè)試宏單元對(duì)應(yīng)的測(cè)試條件加入測(cè)試輸入信號(hào)中，可以屏蔽不出現(xiàn)或不發(fā)生的各種輸入測(cè)試條件，能夠壓縮測(cè)試時(shí)間并快速獲取測(cè)試結(jié)果，根據(jù)測(cè)試內(nèi)容向測(cè)試設(shè)備中與該測(cè)試內(nèi)容對(duì)應(yīng)的測(cè)試宏單元發(fā)送測(cè)試輸入信號(hào)，測(cè)試輸入信號(hào)包括:性能測(cè)試輸入信號(hào)或協(xié)議測(cè)試輸入信號(hào)，可以進(jìn)行性能測(cè)試，也可以進(jìn)行協(xié)議測(cè)試，分析該測(cè)試宏單元反饋的測(cè)試輸出信號(hào)，獲得所述測(cè)試宏單元的測(cè)試結(jié)果數(shù)據(jù)，完成與測(cè)試內(nèi)容對(duì)應(yīng)的所有測(cè)試宏單元的測(cè)試后，統(tǒng)計(jì)所有測(cè)試宏單元的測(cè)試結(jié)果數(shù)據(jù)，得到該測(cè)試設(shè)備的整體測(cè)試結(jié)果數(shù)據(jù)，由此，在測(cè)試環(huán)境中，利用同一套測(cè)試系統(tǒng)完成網(wǎng)絡(luò)層次的性能測(cè)試和協(xié)議測(cè)試，簡(jiǎn)化測(cè)試過(guò)程，相比較以點(diǎn)代面的測(cè)試方式,測(cè)試準(zhǔn)確度更高，根據(jù)測(cè)試內(nèi)容將測(cè)試設(shè)備劃分為多個(gè)測(cè)試宏單元，可簡(jiǎn)化測(cè)試過(guò)程，提高測(cè)試效率。
[0055]下面介紹本發(fā)明實(shí)施例中的網(wǎng)絡(luò)層次測(cè)試裝置，請(qǐng)參閱圖4，本發(fā)明實(shí)施例中的網(wǎng)絡(luò)層次測(cè)試裝置的一個(gè)實(shí)施例包括:[0056]發(fā)送單元301，用于向測(cè)試設(shè)備中的測(cè)試宏單元發(fā)送測(cè)試輸入信號(hào)，所述測(cè)試輸入信號(hào)包括:性能測(cè)試輸入信號(hào)或協(xié)議測(cè)試輸入信號(hào)，所述測(cè)試宏單元為所述測(cè)試設(shè)備中與測(cè)試內(nèi)容對(duì)應(yīng)的功能測(cè)試單元；
[0057]接收單元302，用于接收所述測(cè)試宏單元反饋的測(cè)試輸出信號(hào)，所述測(cè)試輸出信號(hào)包括:性能測(cè)試輸出信號(hào)或協(xié)議測(cè)試輸出信號(hào)；
[0058]分析單元303，用于分析接收單元302接收的所述測(cè)試輸出信號(hào)，獲得所述測(cè)試宏單元的測(cè)試結(jié)果數(shù)據(jù)；
[0059]統(tǒng)計(jì)單元304，用于統(tǒng)計(jì)分析單元303分析的所有測(cè)試宏單元的測(cè)試結(jié)果數(shù)據(jù)，獲得所述測(cè)試設(shè)備的測(cè)試結(jié)果數(shù)據(jù)。
[0060]本發(fā)明實(shí)施例中的網(wǎng)絡(luò)層次測(cè)試裝置中各單元實(shí)現(xiàn)各自功能的過(guò)程，請(qǐng)參見(jiàn)前述圖1所示實(shí)施例的中描述的具體內(nèi)容，此處不再贅述。
[0061]本發(fā)明實(shí)施例中，發(fā)送單元301向測(cè)試設(shè)備中的測(cè)試宏單元發(fā)送測(cè)試輸入信號(hào)，所述測(cè)試輸入信號(hào)包括性能測(cè)試輸入信號(hào)或協(xié)議測(cè)試輸入信號(hào)，可以進(jìn)行性能測(cè)試，也可以進(jìn)行協(xié)議測(cè)試，所述測(cè)試宏單元為所述測(cè)試設(shè)備中與測(cè)試內(nèi)容對(duì)應(yīng)的功能測(cè)試單元，接收單元302接收所述測(cè)試宏單元反饋的測(cè)試輸出信號(hào)，所述測(cè)試輸出信號(hào)包括性能測(cè)試輸出信號(hào)或協(xié)議測(cè)試輸出信號(hào)，分析單元303分析接收單元302接收的所述測(cè)試輸出信號(hào)，獲得所述測(cè)試宏單元的測(cè)試結(jié)果數(shù)據(jù)，統(tǒng)計(jì)單元304統(tǒng)計(jì)分析單元303分析的所有測(cè)試宏單元的測(cè)試結(jié)果數(shù)據(jù)，獲得所述測(cè)試設(shè)備的測(cè)試結(jié)果數(shù)據(jù)，由此，在測(cè)試環(huán)境中，利用同一套測(cè)試系統(tǒng)完成網(wǎng)絡(luò)層次的性能測(cè)試和協(xié)議測(cè)試，簡(jiǎn)化測(cè)試過(guò)程，相比較以點(diǎn)代面的測(cè)試方式，測(cè)試準(zhǔn)確度更高，根據(jù)測(cè)試內(nèi)容將測(cè)試設(shè)備劃分為多個(gè)測(cè)試宏單元，可簡(jiǎn)化測(cè)試過(guò)程，提高測(cè)試效率。
[0062]為便于理解，下面詳細(xì)介紹本發(fā)明實(shí)施例中的網(wǎng)絡(luò)層次測(cè)試裝置，請(qǐng)參閱圖5，本發(fā)明實(shí)施例中的網(wǎng)絡(luò)層次測(cè)試裝置的另一個(gè)實(shí)施例包括:
[0063]發(fā)送單元401，用于向測(cè)試設(shè)備中的測(cè)試宏單元發(fā)送測(cè)試輸入信號(hào)，所述測(cè)試輸入信號(hào)包括:性能測(cè)試輸入信號(hào)或協(xié)議測(cè)試輸入信號(hào)，所述測(cè)試宏單元為所述測(cè)試設(shè)備中與測(cè)試內(nèi)容對(duì)應(yīng)的功能測(cè)試單元；
[0064]接收單元402，用于接收所述測(cè)試宏單元反饋的測(cè)試輸出信號(hào)，所述測(cè)試輸出信號(hào)包括:性能測(cè)試輸出信號(hào)或協(xié)議測(cè)試輸出信號(hào)；
[0065]分析單元403，用于分析接收單元402接收的所述測(cè)試輸出信號(hào)，獲得所述測(cè)試宏單元的測(cè)試結(jié)果數(shù)據(jù)；
[0066]統(tǒng)計(jì)單元404，用于統(tǒng)計(jì)分析單元403分析的所有測(cè)試宏單元的測(cè)試結(jié)果數(shù)據(jù)，獲得所述測(cè)試設(shè)備的測(cè)試結(jié)果數(shù)據(jù)。
[0067]進(jìn)一步地，分析單元403，還用于分析所述性能測(cè)試輸出信號(hào)，獲得所述測(cè)試宏單元的性能測(cè)試結(jié)果數(shù)據(jù)，或，分析所述協(xié)議測(cè)試輸出信號(hào)，獲得所述測(cè)試宏單元的協(xié)議測(cè)試結(jié)果數(shù)據(jù)。
[0068]更進(jìn)一步地，分析單元403，還用于將所述測(cè)試結(jié)果數(shù)據(jù)與預(yù)置的理想結(jié)果數(shù)據(jù)進(jìn)行比較，獲得所述測(cè)試宏單元的性能測(cè)試結(jié)果數(shù)據(jù)，或，將所述測(cè)試結(jié)果數(shù)據(jù)與標(biāo)準(zhǔn)協(xié)議信號(hào)進(jìn)行比較，獲得所述測(cè)試宏單元的協(xié)議測(cè)試結(jié)果數(shù)據(jù)。
[0069]需要說(shuō)明的是，本發(fā)明實(shí)施例中的網(wǎng)絡(luò)層次測(cè)試裝置還可以進(jìn)一步包括:[0070]選擇單元405，用于選擇與所述測(cè)試宏單元對(duì)應(yīng)的測(cè)試條件加入所述測(cè)試輸入信號(hào)中。
[0071]本發(fā)明實(shí)施例中的網(wǎng)絡(luò)層次測(cè)試裝置中各單元實(shí)現(xiàn)各自功能的過(guò)程，請(qǐng)參見(jiàn)前述圖1和圖3所示實(shí)施例的中描述的具體內(nèi)容，此處不再贅述。
[0072]本發(fā)明實(shí)施例中，選擇單元405選擇與測(cè)試宏單元對(duì)應(yīng)的測(cè)試條件加入測(cè)試輸入信號(hào)中，測(cè)試宏單元為所述測(cè)試設(shè)備中與測(cè)試內(nèi)容對(duì)應(yīng)的功能測(cè)試單元，發(fā)送單元401向測(cè)試設(shè)備中的測(cè)試宏單元發(fā)送測(cè)試輸入信號(hào)，所述測(cè)試輸入信號(hào)包括性能測(cè)試輸入信號(hào)或協(xié)議測(cè)試輸入信號(hào)，所述測(cè)試宏單元為所述測(cè)試設(shè)備中與測(cè)試內(nèi)容對(duì)應(yīng)的功能測(cè)試單元，可以進(jìn)行性能測(cè)試，也可以進(jìn)行協(xié)議測(cè)試，接收單元402接收所述測(cè)試宏單元反饋的測(cè)試輸出信號(hào)，所述測(cè)試輸出信號(hào)包括性能測(cè)試輸出信號(hào)或協(xié)議測(cè)試輸出信號(hào)，分析單元403分析接收單元402接收的所述測(cè)試輸出信號(hào)，獲得所述測(cè)試宏單元的測(cè)試結(jié)果數(shù)據(jù)，具體地，分析單元403分析所述性能測(cè)試輸出信號(hào)，獲得所述測(cè)試宏單元的性能測(cè)試結(jié)果數(shù)據(jù)，或分析所述協(xié)議測(cè)試輸出信號(hào)，獲得所述測(cè)試宏單元的協(xié)議測(cè)試結(jié)果數(shù)據(jù)，進(jìn)一步地，分析單元403將所述測(cè)試結(jié)果數(shù)據(jù)與預(yù)置的理想結(jié)果數(shù)據(jù)進(jìn)行比較，獲得所述測(cè)試宏單元的性能測(cè)試結(jié)果數(shù)據(jù)，或，將所述測(cè)試結(jié)果數(shù)據(jù)與標(biāo)準(zhǔn)協(xié)議信號(hào)進(jìn)行比較，獲得所述測(cè)試宏單元的協(xié)議測(cè)試結(jié)果數(shù)據(jù)，進(jìn)而，統(tǒng)計(jì)單元404統(tǒng)計(jì)分析單元403分析的所有測(cè)試宏單元的測(cè)試結(jié)果數(shù)據(jù)，獲得所述測(cè)試設(shè)備的測(cè)試結(jié)果數(shù)據(jù)，由此，在測(cè)試環(huán)境中，利用同一套測(cè)試系統(tǒng)完成網(wǎng)絡(luò)層次的性能測(cè)試和協(xié)議測(cè)試，簡(jiǎn)化測(cè)試過(guò)程，相比較以點(diǎn)代面的測(cè)試方式，測(cè)試準(zhǔn)確度更高，根據(jù)測(cè)試內(nèi)容將測(cè)試設(shè)備劃分為多個(gè)測(cè)試宏單元，可簡(jiǎn)化測(cè)試過(guò)程，提高測(cè)試效率。
[0073]本領(lǐng)域技術(shù)人員可以理解實(shí)現(xiàn)上述實(shí)施例方法中的全部或部分步驟是可以通過(guò)程序來(lái)指令相關(guān)的硬件完成，所述的程序可以存儲(chǔ)于一種計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)中，上述提到的存儲(chǔ)介質(zhì)可以是只讀存儲(chǔ)器，磁盤或光盤等。
[0074]以上對(duì)本發(fā)明所提供的一種網(wǎng)絡(luò)層次測(cè)試方法及裝置進(jìn)行了詳細(xì)介紹，對(duì)于本領(lǐng)域的技術(shù)人員，依據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的思想，在【具體實(shí)施方式】及應(yīng)用范圍上均會(huì)有改變之處，綜上所述，本說(shuō)明書內(nèi)容不應(yīng)理解為對(duì)本發(fā)明的限制。
【權(quán)利要求】
1.一種網(wǎng)絡(luò)層次測(cè)試方法，包括: 測(cè)試控制中心向測(cè)試設(shè)備中的測(cè)試宏單元發(fā)送測(cè)試輸入信號(hào)，所述測(cè)試輸入信號(hào)包括:性能測(cè)試輸入信號(hào)或協(xié)議測(cè)試輸入信號(hào)，所述測(cè)試宏單元為所述測(cè)試設(shè)備中與測(cè)試內(nèi)容對(duì)應(yīng)的功能測(cè)試單元； 接收所述測(cè)試宏單元反饋的測(cè)試輸出信號(hào)，所述測(cè)試輸出信號(hào)包括:性能測(cè)試輸出信號(hào)或協(xié)議測(cè)試輸出信號(hào)； 分析所述測(cè)試輸出信號(hào)，獲得所述測(cè)試宏單元的測(cè)試結(jié)果數(shù)據(jù)； 統(tǒng)計(jì)所有測(cè)試宏單元的測(cè)試結(jié)果數(shù)據(jù)，獲得所述測(cè)試設(shè)備的測(cè)試結(jié)果數(shù)據(jù)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述分析所述測(cè)試輸出信號(hào)，獲得所述測(cè)試宏單元的測(cè)試結(jié)果數(shù)據(jù)包括: 分析所述性能測(cè)試輸出信號(hào)，獲得所述測(cè)試宏單元的性能測(cè)試結(jié)果數(shù)據(jù)，或，分析所述協(xié)議測(cè)試輸出信號(hào)，獲得所述測(cè)試宏單元的協(xié)議測(cè)試結(jié)果數(shù)據(jù)。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法，其特征在于，所述分析所述性能測(cè)試輸出信號(hào)，獲得所述測(cè)試宏單元的性能測(cè)試結(jié)果數(shù)據(jù)包括: 將所述測(cè)試結(jié)果數(shù)據(jù)與預(yù)置的理想結(jié)果數(shù)據(jù)進(jìn)行比較，獲得所述測(cè)試宏單元的性能測(cè)試結(jié)果數(shù)據(jù)。
4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法，其特征在于，所述分析所述協(xié)議測(cè)試輸出信號(hào)，獲得所述測(cè)試宏單元的協(xié)議測(cè)試結(jié)果數(shù)據(jù)包括:` 將所述測(cè)試結(jié)果數(shù)據(jù)與標(biāo)準(zhǔn)協(xié)議信號(hào)進(jìn)行比較，獲得所述測(cè)試宏單元的協(xié)議測(cè)試結(jié)果數(shù)據(jù)。
5.根據(jù)權(quán)利要求1至4任一項(xiàng)所述的方法，其特征在于，所述測(cè)試控制中心向測(cè)試設(shè)備中的測(cè)試宏單元發(fā)送測(cè)試輸入信號(hào)之前包括: 選擇與所述測(cè)試宏單元對(duì)應(yīng)的測(cè)試條件加入所述測(cè)試輸入信號(hào)中。
6.一種網(wǎng)絡(luò)層次測(cè)試裝置，其特征在于，包括: 發(fā)送單元，用于向測(cè)試設(shè)備中的測(cè)試宏單元發(fā)送測(cè)試輸入信號(hào)，所述測(cè)試輸入信號(hào)包括:性能測(cè)試輸入信號(hào)或協(xié)議測(cè)試輸入信號(hào)，所述測(cè)試宏單元為所述測(cè)試設(shè)備中與測(cè)試內(nèi)容對(duì)應(yīng)的功能測(cè)試單元； 接收單元，用于接收所述測(cè)試宏單元反饋的測(cè)試輸出信號(hào)，所述測(cè)試輸出信號(hào)包括:性能測(cè)試輸出信號(hào)或協(xié)議測(cè)試輸出信號(hào)； 分析單元，用于分析所述接收單元接收的所述測(cè)試輸出信號(hào)，獲得所述測(cè)試宏單元的測(cè)試結(jié)果數(shù)據(jù)； 統(tǒng)計(jì)單元，用于統(tǒng)計(jì)所述分析單元分析的所有測(cè)試宏單元的測(cè)試結(jié)果數(shù)據(jù)，獲得所述測(cè)試設(shè)備的測(cè)試結(jié)果數(shù)據(jù)。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的裝置，其特征在于， 所述分析單元，還用于分析所述性能測(cè)試輸出信號(hào)，獲得所述測(cè)試宏單元的性能測(cè)試結(jié)果數(shù)據(jù)，或，分析所述協(xié)議測(cè)試輸出信號(hào)，獲得所述測(cè)試宏單元的協(xié)議測(cè)試結(jié)果數(shù)據(jù)。
8.根據(jù)權(quán)利要求6或7所述的裝置，其特征在于， 所述分析單元，還用于將所述測(cè)試結(jié)果數(shù)據(jù)與預(yù)置的理想結(jié)果數(shù)據(jù)進(jìn)行比較，獲得所述測(cè)試宏單元的性能測(cè)試結(jié)果數(shù)據(jù)。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的裝置，其特征在于， 所述分析單元，還用于將所述測(cè)試結(jié)果數(shù)據(jù)與標(biāo)準(zhǔn)協(xié)議信號(hào)進(jìn)行比較，獲得所述測(cè)試宏單元的協(xié)議測(cè)試結(jié)果數(shù)據(jù)。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的裝置，其特征在于，所述裝置還包括: 選擇單元，用于選擇`與所述測(cè)試宏單元對(duì)應(yīng)的測(cè)試條件加入所述測(cè)試輸入信號(hào)中。
【文檔編號(hào)】H04L12/26GK103532772SQ201210375010
【公開(kāi)日】2014年1月22日 申請(qǐng)日期:2012年9月29日 優(yōu)先權(quán)日:2012年9月29日
【發(fā)明者】崔濤, 劉柱, 劉文兵 申請(qǐng)人:深圳市友訊達(dá)科技發(fā)展有限公司