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一種電子設(shè)備檢測的方法和電子設(shè)備的制作方法

文檔序號(hào):7847105閱讀:165來源:國知局
專利名稱:一種電子設(shè)備檢測的方法和電子設(shè)備的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及電子通信領(lǐng)域,尤其涉及一種電子設(shè)備檢測的方法和電子設(shè)備。
背景技術(shù)
龐大復(fù)雜的通信系統(tǒng)由眾多通信電子設(shè)備組成,每個(gè)通信電子設(shè)備又由眾多的功能單元組成,各功能單元之間分工合作,完成通信系統(tǒng)語音和數(shù)據(jù)業(yè)務(wù)的處理。其中每個(gè)功能單元上分布著成百上千個(gè)硬件器件。器件本身不可避免地存在一定的失效,而且隨著時(shí)間的推移,器件失效問題可能更加容易暴露。當(dāng)通信設(shè)備海量運(yùn)用時(shí),無法保證每個(gè)功能單元上的所有器件均保持正常運(yùn)行的狀態(tài),器件可能會(huì)出現(xiàn)永久失效的硬故障,也可能出現(xiàn)偶然失效的軟故障。不管哪種故障,如果沒有及時(shí)發(fā)現(xiàn)并采取有效措施,最終都會(huì)影響通信網(wǎng)絡(luò)運(yùn)行指標(biāo)和用戶體驗(yàn)。特別是如果處于關(guān)鍵接口位置的功能單元失效,甚至?xí)斐烧麄€(gè)通信系統(tǒng)的癱瘓?,F(xiàn)有技術(shù)中,不同功能單元間雙向定時(shí)通信,通信機(jī)制包括響應(yīng)收發(fā)報(bào)文及獨(dú)立收發(fā)報(bào)文等,功能單元間可以互相監(jiān)控對(duì)方的運(yùn)行狀況。響應(yīng)收發(fā)報(bào)文是指數(shù)據(jù)報(bào)文從某個(gè)功能單元發(fā)出,發(fā)往另一個(gè)功能單元,報(bào)文發(fā)送功能單元期望收到對(duì)方的應(yīng)答。如果一段時(shí)間內(nèi)沒有收到應(yīng)答,且嘗試幾次之后情況皆如此,那么認(rèn)為對(duì)方此時(shí)處于非正常的運(yùn)行狀態(tài)(不健康的狀態(tài))。獨(dú)立收發(fā)報(bào)文是指兩個(gè)不同的功能單元之間互相發(fā)送報(bào)文,報(bào)文發(fā)送是單向進(jìn)行的,不需要應(yīng)答。如果一段時(shí)間內(nèi)沒有收到對(duì)方發(fā)過來的報(bào)文,則認(rèn)為對(duì)方處于非正常的運(yùn)行狀態(tài)。然而,不管是響應(yīng)收發(fā)報(bào)文還是獨(dú)立收發(fā)報(bào)文機(jī)制,其報(bào)文的內(nèi)容單一,且報(bào)文在功能單元中的路徑都是特殊的檢測通道,因此根本無法覆蓋現(xiàn)實(shí)環(huán)境中的數(shù)據(jù)報(bào)文路徑, 對(duì)數(shù)據(jù)報(bào)文路徑上的器件失效檢測的功能和效果十分有限。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的是提供一種電子設(shè)備檢測的方法和電子設(shè)備,實(shí)現(xiàn)了對(duì)電子設(shè)備的運(yùn)行狀態(tài)自動(dòng)全面的檢測。一方面,提供了一種電子設(shè)備檢測的方法,包括生成用于檢測電子設(shè)備的檢測報(bào)文;通過所述電子設(shè)備在運(yùn)行時(shí)預(yù)留的用于建立數(shù)據(jù)報(bào)文傳輸路徑的資源,控制所述檢測報(bào)文依次經(jīng)過所述電子設(shè)備中各功能單元;對(duì)依次經(jīng)過所述電子設(shè)備中各功能單元后的檢測報(bào)文進(jìn)行校驗(yàn),以檢測出所述電子設(shè)備的運(yùn)行狀態(tài)。另一方面,提供了一種電子設(shè)備,包括檢測單元和功能單元,所述檢測單元包括檢測報(bào)文生成模塊,用于生成用于檢測所述電子設(shè)備的檢測報(bào)文;檢測報(bào)文控制模塊,用于通過所述電子設(shè)備在運(yùn)行時(shí)預(yù)留的用于建立數(shù)據(jù)報(bào)文傳輸路徑的資源,控制所述檢測報(bào)文依次經(jīng)過所述電子設(shè)備中各功能單元;檢測報(bào)文校驗(yàn)?zāi)K,用于對(duì)依次經(jīng)過所述電子設(shè)備中各功能單元后的檢測報(bào)文進(jìn)行校驗(yàn),以檢測出所述電子設(shè)備的運(yùn)行狀態(tài)。實(shí)施本發(fā)明實(shí)施例,通過所述電子設(shè)備在運(yùn)行時(shí)預(yù)留的用于建立數(shù)據(jù)報(bào)文傳輸路徑的資源,控制所述檢測報(bào)文依次經(jīng)過所述電子設(shè)備中各功能單元,解決了現(xiàn)有技術(shù)中報(bào)文無法覆蓋現(xiàn)實(shí)環(huán)境中的數(shù)據(jù)報(bào)文路徑,對(duì)數(shù)據(jù)報(bào)文路徑上的器件失效檢測的功能和效果十分有限的問題;通過模擬設(shè)備內(nèi)部和/或設(shè)備外部數(shù)據(jù)源生成檢測報(bào)文,使用全通信系統(tǒng)預(yù)留的資源可實(shí)現(xiàn)對(duì)電子設(shè)備在運(yùn)行期間實(shí)時(shí)自動(dòng)全面檢測功能單元的健康狀態(tài),發(fā)現(xiàn)問題及時(shí)采取自愈或其他措施,保證通信電子設(shè)備的正常運(yùn)行,解決了因器件失效而導(dǎo)致功能單元運(yùn)行狀態(tài)異常的情況無法及時(shí)和最大程度得到檢測的問題。


為了更清楚地說明本發(fā)明實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)中的技術(shù)方案,下面將對(duì)實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹,顯而易見地,下面描述中的附圖僅僅是本發(fā)明的一些實(shí)施例,對(duì)于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講,在不付出創(chuàng)造性勞動(dòng)性的前提下,還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。圖1為本發(fā)明電子設(shè)備檢測的第一實(shí)施例的方法流程示意圖;圖2是本發(fā)明電子設(shè)備檢測的第二實(shí)施例的方法流程示意圖;圖3是本發(fā)明實(shí)施例的電子設(shè)備中檢測報(bào)文傳輸路徑的示意圖;圖4是本發(fā)明電子設(shè)備的第一實(shí)施例的結(jié)構(gòu)示意圖;圖5是本發(fā)明電子設(shè)備的第二實(shí)施例的結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實(shí)施例方式下面將結(jié)合本發(fā)明實(shí)施例中的附圖,對(duì)本發(fā)明實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述,顯然,所描述的實(shí)施例僅僅是本發(fā)明一部分實(shí)施例,而不是全部的實(shí)施例?;诒景l(fā)明中的實(shí)施例,本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有作出創(chuàng)造性勞動(dòng)前提下所獲得的所有其他實(shí)施例,都屬于本發(fā)明保護(hù)的范圍。如圖1示出的本發(fā)明電子設(shè)備檢測的第一實(shí)施例的方法流程示意圖,包括步驟SlOl 生成用于檢測電子設(shè)備的檢測報(bào)文;具體地,電子設(shè)備可以通過先申請(qǐng)內(nèi)存空間,然后按照協(xié)議將數(shù)據(jù)填寫到該內(nèi)存空間中,即可生成數(shù)據(jù)報(bào)文;電子設(shè)備生成用于檢測電子設(shè)備的檢測報(bào)文。步驟S102 通過所述電子設(shè)備在運(yùn)行時(shí)預(yù)留的用于建立數(shù)據(jù)報(bào)文傳輸路徑的資源,控制所述檢測報(bào)文依次經(jīng)過所述電子設(shè)備中各功能單元;具體地,為了讓檢測報(bào)文的傳輸路徑覆蓋真實(shí)環(huán)境中的外部報(bào)文在功能單元內(nèi)的數(shù)據(jù)報(bào)文路徑,電子設(shè)備在運(yùn)行時(shí)將預(yù)留用于建立數(shù)據(jù)報(bào)文傳輸路徑的資源,以控制所述檢測報(bào)文依次經(jīng)過所述電子設(shè)備中各功能單元。步驟S103 對(duì)依次經(jīng)過所述電子設(shè)備中各功能單元后的檢測報(bào)文進(jìn)行校驗(yàn),以檢測出所述電子設(shè)備的運(yùn)行狀態(tài)。進(jìn)一步地,步驟SlOl可以具體為根據(jù)電子設(shè)備內(nèi)部或電子設(shè)備外部的報(bào)文協(xié)議生成至少一個(gè)用于檢測所述電子設(shè)備的檢測報(bào)文,所述檢測報(bào)文攜帶有檢測標(biāo)識(shí)。具體地,電子設(shè)備中設(shè)有一檢測單元,該檢測單元可以模擬電子設(shè)備內(nèi)部和/或電子設(shè)備外部數(shù)據(jù)源,根據(jù)電子設(shè)備內(nèi)部或電子設(shè)備外部的報(bào)文協(xié)議生成至少一個(gè)用于檢測所述電子設(shè)備的檢測報(bào)文,即,該檢測單元可以模擬數(shù)據(jù)源根據(jù)私有的內(nèi)部協(xié)議來生成檢測報(bào)文,也可以模擬所有外部數(shù)據(jù)源根據(jù)共有的標(biāo)準(zhǔn)協(xié)議(如傳輸控制協(xié)議TCP協(xié)議、地址解析協(xié)議ARP等)來生成檢測報(bào)文;該檢測報(bào)文攜帶有檢測標(biāo)識(shí),技術(shù)人員可預(yù)先協(xié)商設(shè)置好該檢測標(biāo)識(shí),以表明該檢測報(bào)文是用于檢測電子設(shè)備,比如設(shè)置報(bào)文中的凈荷為雙方預(yù)先協(xié)商好的特殊凈荷,或設(shè)置報(bào)文中的其他屬性為雙方預(yù)先協(xié)商好的特殊屬性等等。需要說明的是,該檢測單元可以為電子設(shè)備中的主CPU芯片;進(jìn)入通信設(shè)備功能單元的報(bào)文,根據(jù)其屬性,可分別在主CPU芯片的控制面和數(shù)據(jù)面進(jìn)行處理。一般來說,控制面可以控制報(bào)文的走向。本發(fā)明實(shí)施例中,檢測報(bào)文可以由主CPU芯片的控制面模擬電子設(shè)備內(nèi)部和/或電子設(shè)備外部數(shù)據(jù)源,根據(jù)電子設(shè)備內(nèi)部或電子設(shè)備外部的報(bào)文協(xié)議生成至少一個(gè)用于檢測所述電子設(shè)備的檢測報(bào)文;控制面將產(chǎn)生的檢測報(bào)文發(fā)往數(shù)據(jù)面,數(shù)據(jù)面接收到檢測報(bào)文之后進(jìn)行報(bào)文處理。檢測報(bào)文流量較小,不會(huì)影響功能單元的性能。再進(jìn)一步地,如圖2示出的本發(fā)明電子設(shè)備檢測的第二實(shí)施例的方法流程示意圖,包括步驟S201 生成用于檢測電子設(shè)備的檢測報(bào)文;步驟S202 通過所述電子設(shè)備在運(yùn)行時(shí)預(yù)留的用于建立數(shù)據(jù)報(bào)文傳輸路徑的資源,控制所述檢測報(bào)文依次經(jīng)過所述電子設(shè)備中各功能單元;具體地,步驟S201至步驟S202與上述步驟SlOl至步驟S102類似,這里不再贅述。步驟S203 根據(jù)所述檢測報(bào)文攜帶的檢驗(yàn)字段,對(duì)依次經(jīng)過所述電子設(shè)備中各功能單元后的檢測報(bào)文進(jìn)行校驗(yàn),以檢測出所述電子設(shè)備的運(yùn)行狀態(tài);具體地,所述檢測報(bào)文攜帶有檢驗(yàn)字段,電子設(shè)備在生成檢測報(bào)文的時(shí)候可以增加校驗(yàn)字段,電子設(shè)備根據(jù)所述檢測報(bào)文攜帶的檢驗(yàn)字段,對(duì)依次經(jīng)過所述電子設(shè)備中各功能單元后的檢測報(bào)文進(jìn)行校驗(yàn),比如檢測是否收回發(fā)出去的檢測報(bào)文,檢測收回的檢測報(bào)文是否符合預(yù)設(shè)的規(guī)則,是否發(fā)生錯(cuò)誤等等。步驟S204 當(dāng)檢測出所述電子設(shè)備處于非正常運(yùn)行時(shí),根據(jù)檢測結(jié)果進(jìn)行告警。具體地,當(dāng)檢測出所述電子設(shè)備處于非正常運(yùn)行時(shí),將進(jìn)一步檢測該檢測報(bào)文具體在哪個(gè)功能單元發(fā)生了問題,并可以根據(jù)檢測結(jié)果生產(chǎn)報(bào)告以及時(shí)上報(bào)告警,以便采取自愈措施或其他解決方案,保證電子設(shè)備的正常運(yùn)行。進(jìn)一步地,所述當(dāng)檢測出所述電子設(shè)備處于非正常運(yùn)行時(shí),還可以根據(jù)檢測結(jié)果對(duì)所述電子設(shè)備進(jìn)行自動(dòng)修復(fù),例如電子設(shè)備的某功能單元出現(xiàn)軟失效的問題,那么可以根據(jù)檢測結(jié)果對(duì)該功能單元進(jìn)行自動(dòng)修復(fù)。再進(jìn)一步地,上述步驟S102或步驟S202還包括通過所述電子設(shè)備在運(yùn)行時(shí)預(yù)留的用于建立數(shù)據(jù)報(bào)文傳輸路徑的資源,當(dāng)所述檢測報(bào)文經(jīng)過所述電子設(shè)備中的邊緣功能單元時(shí),所述邊緣功能單元將根據(jù)預(yù)設(shè)的環(huán)回標(biāo)識(shí)對(duì)檢測報(bào)文環(huán)回,將所述檢測報(bào)文發(fā)往下一個(gè)功能單元。具體地,結(jié)合圖3示出的本發(fā)明實(shí)施例的電子設(shè)備中檢測報(bào)文傳輸路徑的示意圖,來進(jìn)一步地說明電子設(shè)備包括多個(gè)芯片,該多個(gè)芯片即為多個(gè)功能單元;本發(fā)明實(shí)施例的檢測單元為圖3中的芯片a,該芯片a可以為電子設(shè)備的主CPU芯片,芯片a還包括檢測報(bào)文生成
6模塊、檢測報(bào)文校驗(yàn)?zāi)K以及多個(gè)模塊,檢測報(bào)文生成模塊模擬報(bào)文源,根據(jù)電子設(shè)備內(nèi)部或電子設(shè)備外部的報(bào)文協(xié)議生成至少一個(gè)用于檢測所述電子設(shè)備的檢測報(bào)文,圖3中一個(gè)箭頭表示一個(gè)報(bào)文,可以生成多個(gè)不同類別的檢測報(bào)文,然后通過所述電子設(shè)備在運(yùn)行時(shí)預(yù)留的用于建立數(shù)據(jù)報(bào)文傳輸路徑的資源,按照電子設(shè)備設(shè)置好的數(shù)據(jù)流的走向順序,控制所述檢測報(bào)文依次經(jīng)過所述電子設(shè)備中各功能單元,比如在芯片a中先通過模塊1,然后傳輸?shù)叫酒琤,在芯片b中傳輸完后,傳輸?shù)较乱粋€(gè)功能單元;當(dāng)所述檢測報(bào)文經(jīng)過所述電子設(shè)備中的邊緣功能單元時(shí),如圖3中的芯片C,那么該芯片c將根據(jù)預(yù)設(shè)的環(huán)回標(biāo)識(shí)對(duì)檢測報(bào)文環(huán)回,將所述檢測報(bào)文發(fā)往下一個(gè)功能單元, 具體地,在電子設(shè)備設(shè)置數(shù)據(jù)流的走向順序時(shí),將預(yù)先設(shè)置到達(dá)邊緣功能單元(圖3中芯片 c)時(shí),可以通過一個(gè)環(huán)回標(biāo)識(shí)觸發(fā)邊緣功能單元進(jìn)行識(shí)別,以識(shí)別出需要在該邊緣功能單元中對(duì)該檢測報(bào)文進(jìn)行環(huán)回,以將該檢測報(bào)文發(fā)往下一個(gè)功能單元,如圖3中將檢測報(bào)文發(fā)送到芯片η ;最終檢測報(bào)文返回到芯片a,芯片a的檢測報(bào)文校驗(yàn)?zāi)K根據(jù)所述檢測報(bào)文攜帶的檢驗(yàn)字段對(duì)檢測報(bào)文進(jìn)行校驗(yàn),以檢測出所述電子設(shè)備的運(yùn)行狀態(tài);當(dāng)檢測出所述電子設(shè)備處于非正常運(yùn)行時(shí),將進(jìn)一步檢測該檢測報(bào)文具體在哪個(gè)功能單元發(fā)生了問題,并可以根據(jù)檢測結(jié)果生產(chǎn)報(bào)告以及時(shí)上報(bào)告警,以便采取自愈措施或其他解決方案,保證電子設(shè)備的正常運(yùn)行。需要說明的是,本發(fā)明實(shí)施例中的檢測報(bào)文的產(chǎn)生和檢測的過程可以完全是實(shí)時(shí)自動(dòng)進(jìn)行的;檢測的算法可以根據(jù)功能單元的所處的網(wǎng)絡(luò)地位和具體情況來設(shè)計(jì),可達(dá)到精確檢測功能單元健康狀況,又不會(huì)引起誤判斷。實(shí)施本發(fā)明實(shí)施例,通過所述電子設(shè)備在運(yùn)行時(shí)預(yù)留的用于建立數(shù)據(jù)報(bào)文傳輸路徑的資源,控制所述檢測報(bào)文依次經(jīng)過所述電子設(shè)備中各功能單元,解決了現(xiàn)有技術(shù)中報(bào)文無法覆蓋現(xiàn)實(shí)環(huán)境中的數(shù)據(jù)報(bào)文路徑,對(duì)數(shù)據(jù)報(bào)文路徑上的器件失效檢測的功能和效果十分有限的問題;通過模擬設(shè)備內(nèi)部和/或設(shè)備外部數(shù)據(jù)源生成檢測報(bào)文,使用全通信系統(tǒng)預(yù)留的資源可實(shí)現(xiàn)對(duì)電子設(shè)備在運(yùn)行期間實(shí)時(shí)自動(dòng)全面檢測功能單元的健康狀態(tài),發(fā)現(xiàn)問題及時(shí)采取自愈或其他措施,保證通信電子設(shè)備的正常運(yùn)行,解決了因器件失效而導(dǎo)致功能單元運(yùn)行狀態(tài)異常的情況無法及時(shí)和最大程度得到檢測的問題。上面詳細(xì)說明了本發(fā)明實(shí)施例的電子設(shè)備檢測的方法,下面對(duì)應(yīng)地,詳細(xì)說明本發(fā)明實(shí)施例的電子設(shè)備的結(jié)構(gòu)。如圖4示出的本發(fā)明電子設(shè)備的第一實(shí)施例的結(jié)構(gòu)示意圖,電子設(shè)備4包括檢測單元41,檢測單元41包括檢測報(bào)文生成模塊411、檢測報(bào)文控制模塊412以及檢測報(bào)文校驗(yàn)?zāi)K413,其中檢測報(bào)文生成模塊411用于生成用于檢測電子設(shè)備4的檢測報(bào)文;具體地,檢測報(bào)文生成模塊411可以通過先申請(qǐng)內(nèi)存空間,然后按照協(xié)議將數(shù)據(jù)填寫到該內(nèi)存空間中,即可生成數(shù)據(jù)報(bào)文;檢測報(bào)文生成模塊411生成用于檢測電子設(shè)備4 的檢測報(bào)文。檢測報(bào)文控制模塊412用于通過電子設(shè)備4在運(yùn)行時(shí)預(yù)留的用于建立數(shù)據(jù)報(bào)文傳輸路徑的資源,控制所述檢測報(bào)文依次經(jīng)過電子設(shè)備4中各功能單元;具體地,為了讓檢測報(bào)文的傳輸路徑覆蓋真實(shí)環(huán)境中的外部報(bào)文在功能單元內(nèi)的數(shù)據(jù)報(bào)文路徑,電子設(shè)備4在運(yùn)行時(shí)將預(yù)留用于建立數(shù)據(jù)報(bào)文傳輸路徑的資源,以控制所述檢測報(bào)文依次經(jīng)過電子設(shè)備4中各功能單元。檢測報(bào)文校驗(yàn)?zāi)K413用于對(duì)依次經(jīng)過電子設(shè)備4中各功能單元后的檢測報(bào)文進(jìn)行校驗(yàn),以檢測出電子設(shè)備4的運(yùn)行狀態(tài)。進(jìn)一步地,檢測報(bào)文生成模塊411具體用于根據(jù)電子設(shè)備4內(nèi)部或電子設(shè)備4外部的報(bào)文協(xié)議生成至少一個(gè)用于檢測電子設(shè)備4的檢測報(bào)文,所述檢測報(bào)文攜帶有檢測標(biāo)識(shí);具體地,該檢測單元41可以模擬電子設(shè)備4內(nèi)部和/或電子設(shè)備4外部數(shù)據(jù)源, 根據(jù)電子設(shè)備4內(nèi)部或電子設(shè)備4外部的報(bào)文協(xié)議生成至少一個(gè)用于檢測電子設(shè)備4的檢測報(bào)文,即,該檢測單元41可以模擬數(shù)據(jù)源根據(jù)私有的內(nèi)部協(xié)議來生成檢測報(bào)文,也可以模擬所有外部數(shù)據(jù)源根據(jù)共有的標(biāo)準(zhǔn)協(xié)議(如傳輸控制協(xié)議TCP協(xié)議、地址解析協(xié)議ARP 等)來生成檢測報(bào)文;該檢測報(bào)文攜帶有檢測標(biāo)識(shí),技術(shù)人員可預(yù)先協(xié)商設(shè)置好該檢測標(biāo)識(shí),以表明該檢測報(bào)文是用于檢測電子設(shè)備4,比如設(shè)置報(bào)文中的凈荷為雙方預(yù)先協(xié)商好的特殊凈荷,或設(shè)置報(bào)文中的其他屬性為雙方預(yù)先協(xié)商好的特殊屬性等等。需要說明的是,該檢測單元41可以為電子設(shè)備4中的主CPU芯片;進(jìn)入通信設(shè)備功能單元的報(bào)文,根據(jù)其屬性,可分別在主CPU芯片的控制面和數(shù)據(jù)面進(jìn)行處理。一般來說,控制面可以控制報(bào)文的走向。本發(fā)明實(shí)施例中,檢測報(bào)文可以由主CPU芯片的控制面模擬電子設(shè)備4內(nèi)部和/或電子設(shè)備4外部數(shù)據(jù)源,根據(jù)電子設(shè)備4內(nèi)部或電子設(shè)備4外部的報(bào)文協(xié)議生成至少一個(gè)用于檢測電子設(shè)備4的檢測報(bào)文;控制面將產(chǎn)生的檢測報(bào)文發(fā)往數(shù)據(jù)面,數(shù)據(jù)面接收到檢測報(bào)文之后進(jìn)行報(bào)文處理。檢測報(bào)文流量較小,不會(huì)影響功能單元的性能。再進(jìn)一步地,如圖5示出的本發(fā)明電子設(shè)備的第二實(shí)施例的結(jié)構(gòu)示意圖,電子設(shè)備4包括檢測單元41外,還包括多個(gè)功能單元42,以及至少一個(gè)邊緣功能單元43,圖5中以包括一個(gè)邊緣功能單元43為例,具體地檢測報(bào)文控制模塊412通過電子設(shè)備4在運(yùn)行時(shí)預(yù)留的用于建立數(shù)據(jù)報(bào)文傳輸路徑的資源,控制所述檢測報(bào)文依次經(jīng)過電子設(shè)備4中各功能單元,當(dāng)所述檢測報(bào)文經(jīng)過邊緣功能單元43時(shí),邊緣功能單元43將根據(jù)預(yù)設(shè)的環(huán)回標(biāo)識(shí)對(duì)檢測報(bào)文環(huán)回,將所述檢測報(bào)文發(fā)往下一個(gè)功能單元。所述檢測報(bào)文攜帶有檢驗(yàn)字段;檢測報(bào)文校驗(yàn)?zāi)K413具體用于根據(jù)所述檢測報(bào)文攜帶的檢驗(yàn)字段,對(duì)依次經(jīng)過電子設(shè)備4中各功能單元后的檢測報(bào)文進(jìn)行校驗(yàn),以檢測出所述電子設(shè)備的運(yùn)行狀態(tài)。檢測單元41還包括檢測告警模塊414以及修復(fù)模塊415,其中檢測告警模塊414用于當(dāng)檢測報(bào)文校驗(yàn)?zāi)K413檢測出電子設(shè)備4處于非正常運(yùn)行時(shí),根據(jù)檢測結(jié)果進(jìn)行告警。具體地,當(dāng)檢測出電子設(shè)備4處于非正常運(yùn)行時(shí),檢測告警模塊414將進(jìn)一步檢測該檢測報(bào)文具體在哪個(gè)功能單元發(fā)生了問題,并可以根據(jù)檢測結(jié)果生產(chǎn)報(bào)告以及時(shí)上報(bào)告警,以便采取自愈措施或其他解決方案,保證電子設(shè)備4的正常運(yùn)行。修復(fù)模塊415用于當(dāng)檢測報(bào)文校驗(yàn)?zāi)K413檢測出電子設(shè)備4處于非正常運(yùn)行時(shí),根據(jù)檢測結(jié)果對(duì)電子設(shè)備4進(jìn)行自動(dòng)修復(fù)。具體地,例如電子設(shè)備4的某功能單元出現(xiàn)軟失效的問題,那么修復(fù)模塊415可以根據(jù)檢測結(jié)果對(duì)該功能單元進(jìn)行自動(dòng)修復(fù)。下面,結(jié)合圖3示出的本發(fā)明實(shí)施例的電子設(shè)備中檢測報(bào)文傳輸路徑的示意圖, 來進(jìn)一步地說明電子設(shè)備包括多個(gè)芯片,該多個(gè)芯片即為多個(gè)功能單元;本發(fā)明實(shí)施例的檢測單元為圖3中的芯片a,該芯片a可以為電子設(shè)備的主CPU芯片,芯片a還包括檢測報(bào)文生成模塊、檢測報(bào)文校驗(yàn)?zāi)K以及多個(gè)模塊,檢測報(bào)文生成模塊模擬報(bào)文源,根據(jù)電子設(shè)備內(nèi)部或電子設(shè)備外部的報(bào)文協(xié)議生成至少一個(gè)用于檢測所述電子設(shè)備的檢測報(bào)文,圖3中一個(gè)箭頭表示一個(gè)報(bào)文,可以生成多個(gè)不同類別的檢測報(bào)文,然后通過所述電子設(shè)備在運(yùn)行時(shí)預(yù)留的用于建立數(shù)據(jù)報(bào)文傳輸路徑的資源,按照電子設(shè)備設(shè)置好的數(shù)據(jù)流的走向順序,控制所述檢測報(bào)文依次經(jīng)過所述電子設(shè)備中各功能單元,比如在芯片a中先通過模塊1,然后傳輸?shù)叫酒琤,在芯片b中傳輸完后,傳輸?shù)较乱粋€(gè)功能單元;當(dāng)所述檢測報(bào)文經(jīng)過所述電子設(shè)備中的邊緣功能單元時(shí),如圖3中的芯片C,那么該芯片c將根據(jù)預(yù)設(shè)的環(huán)回標(biāo)識(shí)對(duì)檢測報(bào)文環(huán)回,將所述檢測報(bào)文發(fā)往下一個(gè)功能單元, 具體地,在電子設(shè)備設(shè)置數(shù)據(jù)流的走向順序時(shí),將預(yù)先設(shè)置到達(dá)邊緣功能單元(圖3中芯片 c)時(shí),可以通過一個(gè)環(huán)回標(biāo)識(shí)觸發(fā)邊緣功能單元進(jìn)行識(shí)別,以識(shí)別出需要在該邊緣功能單元中對(duì)該檢測報(bào)文進(jìn)行環(huán)回,以將該檢測報(bào)文發(fā)往下一個(gè)功能單元,如圖3中將檢測報(bào)文發(fā)送到芯片η ;最終檢測報(bào)文返回到芯片a,芯片a的檢測報(bào)文校驗(yàn)?zāi)K根據(jù)所述檢測報(bào)文攜帶的檢驗(yàn)字段對(duì)檢測報(bào)文進(jìn)行校驗(yàn),以檢測出所述電子設(shè)備的運(yùn)行狀態(tài);當(dāng)檢測出所述電子設(shè)備處于非正常運(yùn)行時(shí),將進(jìn)一步檢測該檢測報(bào)文具體在哪個(gè)功能單元發(fā)生了問題,并可以根據(jù)檢測結(jié)果生產(chǎn)報(bào)告以及時(shí)上報(bào)告警,以便采取自愈措施或其他解決方案,保證電子設(shè)備的正常運(yùn)行。需要說明的是,本發(fā)明實(shí)施例中的檢測報(bào)文的產(chǎn)生和檢測的過程可以完全是實(shí)時(shí)自動(dòng)進(jìn)行的;檢測的算法可以根據(jù)功能單元的所處的網(wǎng)絡(luò)地位和具體情況來設(shè)計(jì),可達(dá)到精確檢測功能單元健康狀況,又不會(huì)引起誤判斷。實(shí)施本發(fā)明實(shí)施例,通過所述電子設(shè)備在運(yùn)行時(shí)預(yù)留的用于建立數(shù)據(jù)報(bào)文傳輸路徑的資源,控制所述檢測報(bào)文依次經(jīng)過所述電子設(shè)備中各功能單元,解決了現(xiàn)有技術(shù)中報(bào)文無法覆蓋現(xiàn)實(shí)環(huán)境中的數(shù)據(jù)報(bào)文路徑,對(duì)數(shù)據(jù)報(bào)文路徑上的器件失效檢測的功能和效果十分有限的問題;通過模擬設(shè)備內(nèi)部和/或設(shè)備外部數(shù)據(jù)源生成檢測報(bào)文,使用全通信系統(tǒng)預(yù)留的資源可實(shí)現(xiàn)對(duì)電子設(shè)備在運(yùn)行期間實(shí)時(shí)自動(dòng)全面檢測功能單元的健康狀態(tài),發(fā)現(xiàn)問題及時(shí)采取自愈或其他措施,保證通信電子設(shè)備的正常運(yùn)行,解決了因器件失效而導(dǎo)致功能單元運(yùn)行狀態(tài)異常的情況無法及時(shí)和最大程度得到檢測的問題。應(yīng)用本發(fā)明實(shí)施例的電子設(shè)備,進(jìn)行檢測的具體流程與前述方法實(shí)施例相同,此處不再贅述。本領(lǐng)域普通技術(shù)人員可以理解實(shí)現(xiàn)上述實(shí)施例方法中的全部或部分流程,是可以通過計(jì)算機(jī)程序來指令相關(guān)的硬件來完成,所述的程序可存儲(chǔ)于一計(jì)算機(jī)可讀取存儲(chǔ)介質(zhì)中,該程序在執(zhí)行時(shí),可包括如上述各方法的實(shí)施例的流程。其中,所述的存儲(chǔ)介質(zhì)可為磁碟、光盤、只讀存儲(chǔ)記憶體(Read-Only Memory, ROM)或隨機(jī)存儲(chǔ)記憶體(Random Access Memory, RAM)等。
以上所揭露的僅為本發(fā)明一種較佳實(shí)施例而已,當(dāng)然不能以此來限定本發(fā)明之權(quán)利范圍,因此依本發(fā)明權(quán)利要求所作的等同變化,仍屬本發(fā)明所涵蓋的范圍。
權(quán)利要求
1.一種電子設(shè)備檢測的方法,其特征在于,包括生成用于檢測電子設(shè)備的檢測報(bào)文;通過所述電子設(shè)備在運(yùn)行時(shí)預(yù)留的用于建立數(shù)據(jù)報(bào)文傳輸路徑的資源,控制所述檢測報(bào)文依次經(jīng)過所述電子設(shè)備中各功能單元;對(duì)依次經(jīng)過所述電子設(shè)備中各功能單元后的檢測報(bào)文進(jìn)行校驗(yàn),以檢測出所述電子設(shè)備的運(yùn)行狀態(tài)。
2.如權(quán)利要求1所述的電子設(shè)備檢測的方法,其特征在于,所述生成用于檢測電子設(shè)備的檢測報(bào)文包括根據(jù)電子設(shè)備內(nèi)部或電子設(shè)備外部的報(bào)文協(xié)議生成至少一個(gè)用于檢測所述電子設(shè)備的檢測報(bào)文,所述檢測報(bào)文攜帶有檢測標(biāo)識(shí)。
3.如權(quán)利要求2所述的電子設(shè)備檢測的方法,其特征在于,所述通過所述電子設(shè)備在運(yùn)行時(shí)預(yù)留的用于建立數(shù)據(jù)報(bào)文傳輸路徑的資源,控制所述檢測報(bào)文依次經(jīng)過所述電子設(shè)備中各功能單元包括通過所述電子設(shè)備在運(yùn)行時(shí)預(yù)留的用于建立數(shù)據(jù)報(bào)文傳輸路徑的資源,當(dāng)所述檢測報(bào)文經(jīng)過所述電子設(shè)備中的邊緣功能單元時(shí),所述邊緣功能單元將根據(jù)預(yù)設(shè)的環(huán)回標(biāo)識(shí)對(duì)檢測報(bào)文環(huán)回,將所述檢測報(bào)文發(fā)往下一個(gè)功能單元。
4.如權(quán)利要求1-3任一項(xiàng)所述的電子設(shè)備檢測的方法,其特征在于,所述檢測報(bào)文攜帶有檢驗(yàn)字段;所述對(duì)依次經(jīng)過所述電子設(shè)備中各功能單元后的檢測報(bào)文進(jìn)行校驗(yàn),以檢測出所述電子設(shè)備的運(yùn)行狀態(tài)包括根據(jù)所述檢測報(bào)文攜帶的檢驗(yàn)字段,對(duì)依次經(jīng)過所述電子設(shè)備中各功能單元后的檢測報(bào)文進(jìn)行校驗(yàn),以檢測出所述電子設(shè)備的運(yùn)行狀態(tài)。
5.如權(quán)利要求4所述的電子設(shè)備檢測的方法,其特征在于,當(dāng)檢測出所述電子設(shè)備處于非正常運(yùn)行時(shí),根據(jù)檢測結(jié)果進(jìn)行告警。
6.如權(quán)利要求5所述的電子設(shè)備檢測的方法,其特征在于,所述當(dāng)檢測出所述電子設(shè)備處于非正常運(yùn)行時(shí),根據(jù)檢測結(jié)果進(jìn)行告警包括根據(jù)檢測結(jié)果對(duì)所述電子設(shè)備進(jìn)行自動(dòng)修復(fù)。
7.一種電子設(shè)備,包括檢測單元和功能單元,其特征在于,所述檢測單元包括檢測報(bào)文生成模塊,用于生成用于檢測所述電子設(shè)備的檢測報(bào)文;檢測報(bào)文控制模塊,用于通過所述電子設(shè)備在運(yùn)行時(shí)預(yù)留的用于建立數(shù)據(jù)報(bào)文傳輸路徑的資源,控制所述檢測報(bào)文依次經(jīng)過所述電子設(shè)備中各功能單元;檢測報(bào)文校驗(yàn)?zāi)K,用于對(duì)依次經(jīng)過所述電子設(shè)備中各功能單元后的檢測報(bào)文進(jìn)行校驗(yàn),以檢測出所述電子設(shè)備的運(yùn)行狀態(tài)。
8.如權(quán)利要求7所述電子設(shè)備,其特征在于,所述檢測報(bào)文生成模塊具體用于根據(jù)電子設(shè)備內(nèi)部或電子設(shè)備外部的報(bào)文協(xié)議生成至少一個(gè)用于檢測所述電子設(shè)備的檢測報(bào)文, 所述檢測報(bào)文攜帶有檢測標(biāo)識(shí)。
9.如權(quán)利要求8所述電子設(shè)備,其特征在于,所述功能單元包括至少一個(gè)邊緣功能單元;當(dāng)所述檢測報(bào)文經(jīng)過所述邊緣功能單元時(shí),所述邊緣功能單元用于將根據(jù)預(yù)設(shè)的環(huán)回標(biāo)識(shí)對(duì)檢測報(bào)文環(huán)回,將所述檢測報(bào)文發(fā)往下一個(gè)功能單元。
10.如權(quán)利要求7-9任一項(xiàng)所述電子設(shè)備,其特征在于,所述檢測報(bào)文攜帶有檢驗(yàn)字段;所述檢測報(bào)文校驗(yàn)?zāi)K具體用于根據(jù)所述檢測報(bào)文攜帶的檢驗(yàn)字段,對(duì)依次經(jīng)過所述電子設(shè)備中各功能單元后的檢測報(bào)文進(jìn)行校驗(yàn),以檢測出所述電子設(shè)備的運(yùn)行狀態(tài)。
11.如權(quán)利要求10所述電子設(shè)備,其特征在于,所述檢測單元還包括檢測告警模塊,用于當(dāng)所述檢測報(bào)文校驗(yàn)?zāi)K檢測出所述電子設(shè)備處于非正常運(yùn)行時(shí),根據(jù)檢測結(jié)果進(jìn)行告Sfc目。
12.如權(quán)利要求11所述電子設(shè)備,其特征在于,所述檢測單元還包括修復(fù)模塊,用于當(dāng)所述檢測報(bào)文校驗(yàn)?zāi)K檢測出所述電子設(shè)備處于非正常運(yùn)行時(shí),根據(jù)檢測結(jié)果對(duì)所述電子設(shè)備進(jìn)行自動(dòng)修復(fù)。
全文摘要
本發(fā)明實(shí)施例公開了一種電子設(shè)備檢測的方法和電子設(shè)備,所述方法包括生成用于檢測電子設(shè)備的檢測報(bào)文;通過所述電子設(shè)備在運(yùn)行時(shí)預(yù)留的用于建立數(shù)據(jù)報(bào)文傳輸路徑的資源,控制所述檢測報(bào)文依次經(jīng)過所述電子設(shè)備中各功能單元;對(duì)依次經(jīng)過所述電子設(shè)備中各功能單元后的檢測報(bào)文進(jìn)行校驗(yàn),以檢測出所述電子設(shè)備的運(yùn)行狀態(tài)。采用本發(fā)明,可實(shí)現(xiàn)對(duì)電子設(shè)備的運(yùn)行狀態(tài)自動(dòng)全面的檢測。
文檔編號(hào)H04L1/00GK102369684SQ201180002153
公開日2012年3月7日 申請(qǐng)日期2011年8月25日 優(yōu)先權(quán)日2011年8月25日
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