專利名稱：降低特定吸收率的方法及具有低特定吸收率的電子裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種降低電子裝置的特定吸收率(Specific absorption rate ；SAR) 的方法，特別是指一種通過重新分配輻射能量密度來降低特定吸收率的方法。
背景技術(shù)：
由于人體長期暴露于電磁波的環(huán)境下可能會(huì)造成人體某種程度的傷害。美國聯(lián)邦通信委員會(huì)(Federal Communications Commission ；FCC)目前規(guī)定手持式無線裝置須通過特定吸收率(Specific absorption rate ；SAR)的測量。手持式無線裝置的相關(guān)技術(shù)人員目前是采用降低功率的方式來降低特定吸收率以符合美國聯(lián)邦通信委員會(huì)的規(guī)定。然而， 降低功率的方法同時(shí)也使裝置的效能下降而降低了裝置的可用性。

發(fā)明內(nèi)容
因此，本發(fā)明的目的，即在提供一種可以降低特定吸收率并維持裝置效能的方法。于是，本發(fā)明降低電子裝置的特定吸收率的方法，該電子裝置包含一射頻模塊，該射頻模塊具有一通信端口，其步驟包含(A)測量該電子裝置的特定吸收率以獲得一測量值；(B)判斷步驟(A)中的測量值是否低于一標(biāo)準(zhǔn)值，如果否，則增加該天線的數(shù)目；及(C) 重復(fù)步驟(A)及(B)直到該測量值達(dá)到或低于該標(biāo)準(zhǔn)值。較佳地，在步驟(B)中該射頻模塊是經(jīng)由一電耦接于該通信端口與這些天線之間的功率密度分配網(wǎng)絡(luò)對這些天線進(jìn)行能量密度的分配。本發(fā)明的另一目的，即在提供一種具有低特定吸收率且裝置效能佳的電子裝置。于是，本發(fā)明具有低特定吸收率的電子裝置，包含一射頻模塊、多個(gè)天線，及一功率密度分配網(wǎng)絡(luò)。該射頻模塊具有一通信端口。這些天線與該通信端口電耦接。該功率密度分配網(wǎng)絡(luò)電耦接于該通信端口與這些天線之間，該功率密度分配網(wǎng)絡(luò)用以對這些天線進(jìn)行能量密度的分配。本發(fā)明的功效在于通過增加與單一個(gè)通信端口連接的天線數(shù)目并對這些天線進(jìn)行能量密度的分配來降低電子裝置的特定吸收率。


圖1是本發(fā)明降低電子裝置的特定吸收率的方法的一優(yōu)選實(shí)施例的流程圖；圖2是一電子裝置中的信號源與兩個(gè)天線的配置示意圖；圖3顯示本實(shí)施例的其中一天線的電壓駐波比圖；圖4顯示本實(shí)施例的另一天線的電壓駐波比圖；圖5是一本實(shí)施例的其中一天線操作在1880MHz的輻射方向圖(又稱場形圖)；圖6是一本實(shí)施例的另一天線操作在1880MHz的輻射方向圖；圖7是一本實(shí)施例結(jié)合兩個(gè)天線操作在1880MHz的輻射方向圖；圖8顯示使用單一天線直接連接到信號源時(shí)，特定吸收率為2. 5(mW/g)；
圖9顯示使用兩個(gè)天線分配功率密度時(shí)，其中一天線特定吸收率為0. 58(mff/g)； 及圖10顯示使用兩個(gè)天線分配功率密度時(shí)，另一天線特定吸收率為0. 79(mff/g)。主要元件符號說明SOl S03…流程步驟1............電子裝置11............信號源12a............天線12b............天線13功率密度分配網(wǎng)絡(luò)
具體實(shí)施例方式有關(guān)本發(fā)明的前述及其他技術(shù)內(nèi)容、特點(diǎn)與功效，在以下配合參考附圖的一個(gè)優(yōu)選實(shí)施例的詳細(xì)說明中，將可清楚的呈現(xiàn)。參閱圖1與圖2，是本發(fā)明降低電子裝置的特定吸收率的方法的優(yōu)選實(shí)施例，該電子裝置1包含一具有一通信端口 111的射頻模塊11，及一與通信端口 111電耦接的天線 12a。首先如步驟S01，以一特定吸收率(SAR)測量儀器(圖未示)測量電子裝置1的特定吸收率以獲得一測量值。接著如步驟S02，判斷步驟SOl中的測量值是否低于一標(biāo)準(zhǔn)值，如果否，則進(jìn)行步驟S03，增加該天線1 的數(shù)目，并且接著重復(fù)步驟SOl及S02直到該測量值達(dá)到或低于該標(biāo)準(zhǔn)值。在本實(shí)施例中通過添加一天線12b以增加該天線12a的數(shù)目并使天線總數(shù)為二。在本實(shí)施例中，電子裝置1為一平板型計(jì)算機(jī)。天線12a、12b是設(shè)于平板型計(jì)算機(jī)相鄰接的兩側(cè)緣的殼體內(nèi)。當(dāng)如圖8平板型計(jì)算機(jī)只設(shè)置一天線時(shí)，步驟SOl所測得平板型計(jì)算機(jī)的特定吸收率(SAR)測量值為2. 5 (mff/g)，經(jīng)過步驟S02與標(biāo)準(zhǔn)值，例如1. 6 (mff/ g)比較后，大于標(biāo)準(zhǔn)值1.6(mW/g)，故進(jìn)行步驟S03，增加天線的數(shù)目至二，并同時(shí)使用兩個(gè)天線lh、12b來發(fā)送與接收信號，其中，射頻模塊11是經(jīng)由一電耦接于通信端口 111與天線lh、12b之間的功率密度分配網(wǎng)絡(luò)13對天線lh、12b進(jìn)行能量密度的分配。功率密度分配網(wǎng)絡(luò)13可為一功率分配器(Power divider)。接著重復(fù)步驟S01，重新測量平板型計(jì)算機(jī)的特定吸收率(SAR)，如圖9、圖10所示，在設(shè)置天線lh、12b處測量到的特定吸收率 (SAR)分別為0. 58 (mff/g)及0. 79 (mff/g)，使平板型計(jì)算機(jī)的特定吸收率測量值為小于標(biāo)準(zhǔn)值1. 6 (mff/g)的0. 79 (mff/g)，在步驟S02的判斷中該特定吸收率0. 79 (mff/g)已小于標(biāo)準(zhǔn)值1. 6(mW/g)。至此，此方法即不再重復(fù)進(jìn)行，并確定在平板型計(jì)算機(jī)上設(shè)置兩個(gè)天線12a、 12b來發(fā)送與接收信號，以降低特定吸收率，使符合安規(guī)標(biāo)準(zhǔn)。參閱下表一，是本實(shí)施例于天線數(shù)目為一與天線數(shù)目為二時(shí)所分別測得的特定吸收率及總輻射功率(Total radiant power ；TRP)，由表中可知當(dāng)天線數(shù)目增加為二時(shí)，特定吸收率降低至標(biāo)準(zhǔn)值以下，而總輻射功率仍能維持與天線數(shù)目為一時(shí)相近。
權(quán)利要求
1.一種降低電子裝置的特定吸收率的方法，該電子裝置包含一射頻模塊，該射頻模塊具有一通信端口，該方法包含(A)測量該電子裝置的特定吸收率以獲得一測量值；(B)判斷步驟(A)中的測量值是否低于一標(biāo)準(zhǔn)值，如果否，則增加該天線的數(shù)目；(C)重復(fù)步驟㈧及⑶直到該測量值達(dá)到或低于該標(biāo)準(zhǔn)值。
2.依據(jù)申請專利范圍第1所述的降低電子裝置的特定吸收率測量值的方法，在步驟 (B)中該射頻模塊是經(jīng)由一電耦接于該通信端口與這些天線之間的功率密度分配網(wǎng)絡(luò)對這些天線進(jìn)行能量密度的分配。
3.一種具有低特定吸收率的電子裝置，包含 一射頻模塊，具有一通信端口 ；多個(gè)天線，與該通信端口電耦接；及一功率密度分配網(wǎng)絡(luò)，電耦接于該通信端口與這些天線之間，該功率密度分配網(wǎng)絡(luò)用以對這些天線進(jìn)行能量密度的分配。
全文摘要
一種降低特定吸收率的方法及具有低特定吸收率的電子裝置，該電子裝置包含一射頻模塊，該射頻模塊具有一通信端口，該方法測量該電子裝置的特定吸收率以獲得一測量值；并判斷測量值是否低于一標(biāo)準(zhǔn)值，如果否，則增加該天線的數(shù)目；再重復(fù)上述步驟直到該測量值達(dá)到或低于該標(biāo)準(zhǔn)值。
文檔編號H04B17/00GK102546050SQ20111000465
公開日2012年7月4日 申請日期2011年1月11日 優(yōu)先權(quán)日2010年12月16日
發(fā)明者吳曉薇, 翁豐仁, 邱建評, 顏一平 申請人:廣達(dá)電腦股份有限公司