專利名稱：移動(dòng)終端的測(cè)試方法及系統(tǒng)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及通信領(lǐng)域，具體而言，涉及一種移動(dòng)終端的測(cè)試方法及系統(tǒng)。
背景技術(shù)：
由于移動(dòng)通訊終端產(chǎn)品所用電子元器件的參數(shù)一致性通常不足以滿足設(shè)備頻率、 功率電平和其它參數(shù)的性能要求，所以射頻測(cè)試和校準(zhǔn)過程自然就成為了研發(fā)和生產(chǎn)過程 中不可缺少的一個(gè)步驟，而基帶測(cè)試對(duì)于盡早發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品隱患、保證產(chǎn)品質(zhì)量、提升廠商生產(chǎn) 制造能力有不可缺少的作用，所以在移動(dòng)通訊終端制造工廠都需要進(jìn)行相關(guān)的生產(chǎn)測(cè)試。 另一方面，這些測(cè)試的儀器和資源投入相當(dāng)昂貴，分?jǐn)偟矫恳粋€(gè)單位生產(chǎn)測(cè)試時(shí)間上的儀 器成本就成為了產(chǎn)品制造成本中最主要的部分。所以提高儀器和測(cè)試資源的利用率是移動(dòng) 通訊終端制造廠商降低產(chǎn)品成本應(yīng)對(duì)市場(chǎng)競(jìng)爭(zhēng)的最重要手段。相關(guān)技術(shù)中，傳統(tǒng)的生產(chǎn)測(cè)試過程一般是需要三個(gè)工位連續(xù)進(jìn)行的。一個(gè)工位進(jìn) 行的是基帶測(cè)試(Baseband Test，簡(jiǎn)稱BB測(cè)試)，一個(gè)工位進(jìn)行的是射頻校準(zhǔn)測(cè)試，另外還 有一個(gè)工位進(jìn)行射頻指標(biāo)測(cè)試。首先在基帶測(cè)試工位進(jìn)行單板測(cè)試，采用ICT在線測(cè)試的 探針測(cè)試方法檢驗(yàn)PCBA單板是否焊接可靠，硬件功能是否實(shí)現(xiàn)，軟件是否能正常工作等； 然后第二個(gè)工位對(duì)射頻接收電路和發(fā)射電路分別進(jìn)行校準(zhǔn)測(cè)試(以下簡(jiǎn)稱校準(zhǔn))；最后再 到第三個(gè)工位進(jìn)行射頻指標(biāo)最終測(cè)試(以下簡(jiǎn)稱終測(cè))來檢驗(yàn)校準(zhǔn)結(jié)果是否滿足要求。這種傳統(tǒng)的測(cè)試方法有兩個(gè)缺陷，第一、每一個(gè)待測(cè)產(chǎn)品都需要分別在三個(gè)測(cè)試 工位測(cè)試，產(chǎn)品需要進(jìn)行三次開、關(guān)機(jī)操作及更換測(cè)試夾具系統(tǒng)，浪費(fèi)了操作時(shí)間和人力， 同時(shí)重復(fù)進(jìn)行開關(guān)機(jī)過程也是一種效率的浪費(fèi)；第二、在后兩個(gè)工位上都分別要進(jìn)行發(fā)射、 接收電路的射頻校準(zhǔn)和終測(cè)，這兩個(gè)過程都需要用到手機(jī)測(cè)試儀，由于手機(jī)測(cè)試儀(以下 簡(jiǎn)稱儀器)的發(fā)射和接收測(cè)試功能實(shí)際上是分開串行工作的，這對(duì)于儀器來說至少造成了 50%的閑置浪費(fèi)，通常儀器的價(jià)格比較昂貴，單臺(tái)價(jià)格一般五六十萬乃至上百萬，產(chǎn)量提升 增加儀器就需要投入大量的資金，制造企業(yè)往往難以承受，因此如果把這50%的閑置時(shí)間 得以充分利用，對(duì)企業(yè)來說就大大的降低了投資，提高了單位投資的產(chǎn)出量。

發(fā)明內(nèi)容
針對(duì)相關(guān)技術(shù)中采用傳統(tǒng)的測(cè)試方案對(duì)移動(dòng)終端測(cè)試時(shí)，造成儀器閑置浪費(fèi)的問 題，本發(fā)明的主要目的在于提供一種無線移動(dòng)終端的測(cè)試方法及系統(tǒng)，以解決上述問題至 少之一。根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)方面，提供了一種移動(dòng)終端的測(cè)試方法，包括在同一個(gè)時(shí)間段 內(nèi)，測(cè)試系統(tǒng)對(duì)第一移動(dòng)終端執(zhí)行接收機(jī)RX測(cè)試，對(duì)第二移動(dòng)終端執(zhí)行發(fā)射機(jī)TX測(cè)試，其 中，RX測(cè)試包括接收電路校準(zhǔn)測(cè)試和接收指標(biāo)測(cè)試；TX測(cè)試包括發(fā)射電路校準(zhǔn)測(cè)試和發(fā)射 指標(biāo)測(cè)試。根據(jù)本發(fā)明的另一個(gè)方面，提供了一種移動(dòng)終端的測(cè)試系統(tǒng)，包括接收機(jī)RX測(cè) 試裝置，用于在一個(gè)時(shí)間段內(nèi)，對(duì)第一移動(dòng)終端執(zhí)行RX測(cè)試，其中，RX測(cè)試包括接收電路校準(zhǔn)測(cè)試和接收指標(biāo)測(cè)試；發(fā)射機(jī)TX測(cè)試裝置，用于在時(shí)間段內(nèi)，對(duì)第二移動(dòng)終端執(zhí)行TX測(cè)試，其中，TX測(cè)試包括發(fā)射電路校準(zhǔn)測(cè)試和發(fā)射指標(biāo)測(cè)試。通過本發(fā)明，在同一個(gè)時(shí)間段內(nèi)，對(duì)移動(dòng)終端并行執(zhí)行接收機(jī)測(cè)試(Receiver Test，簡(jiǎn)稱為RX)和發(fā)射機(jī)測(cè)試(Transmitter Test，簡(jiǎn)稱TX)，解決了相關(guān)技術(shù)中采用傳統(tǒng) 的測(cè)試方案對(duì)移動(dòng)終端測(cè)試時(shí)，造成儀器閑置浪費(fèi)的問題，進(jìn)而可以提高儀器利用率，降低 測(cè)試成本。


此處所說明的附圖用來提供對(duì)本發(fā)明的進(jìn)一步理解，構(gòu)成本申請(qǐng)的一部分，本發(fā) 明的示意性實(shí)施例及其說明用于解釋本發(fā)明，并不構(gòu)成對(duì)本發(fā)明的不當(dāng)限定。在附圖中圖1是根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的移動(dòng)終端的測(cè)試系統(tǒng)的架構(gòu)圖；圖2是根據(jù)本發(fā)明優(yōu)選實(shí)施例的移動(dòng)終端的測(cè)試方法的流程圖；圖3是根據(jù)本發(fā)明優(yōu)選實(shí)施例的移動(dòng)終端的測(cè)試時(shí)序圖；圖4是根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的移動(dòng)終端的測(cè)試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)框圖；圖5是根據(jù)本發(fā)明優(yōu)選實(shí)施例的移動(dòng)終端的測(cè)試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)框圖。
具體實(shí)施例方式下文中將參考附圖并結(jié)合實(shí)施例來詳細(xì)說明本發(fā)明。需要說明的是，在不沖突的 情況下，本申請(qǐng)中的實(shí)施例及實(shí)施例中的特征可以相互組合。相關(guān)技術(shù)中，由于移動(dòng)終端(例如，手機(jī))測(cè)試儀(以下簡(jiǎn)稱儀器)的發(fā)射和接收 測(cè)試功能是分開串行工作的，因而對(duì)于儀器來說造成了閑置浪費(fèi)。為了提高測(cè)試系統(tǒng)的利 用率，因而需要一種能夠減小資源閑置的方案。根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的移動(dòng)終端的測(cè)試方法包括以下處理在同一個(gè)時(shí)間段內(nèi)，測(cè) 試系統(tǒng)對(duì)第一移動(dòng)終端執(zhí)行接收機(jī)測(cè)試(RX測(cè)試)，對(duì)第二移動(dòng)終端執(zhí)行發(fā)射機(jī)測(cè)試(TX測(cè) 試)，其中，RX測(cè)試包括接收電路校準(zhǔn)測(cè)試和接收指標(biāo)測(cè)試；TX測(cè)試包括發(fā)射電路校準(zhǔn)測(cè)試 和發(fā)射指標(biāo)測(cè)試。在上述實(shí)施例中，把傳統(tǒng)的校準(zhǔn)測(cè)試中的發(fā)射電路校準(zhǔn)部分和終測(cè)工位的發(fā)射指 標(biāo)終測(cè)部分合并為TX測(cè)試，把傳統(tǒng)的校準(zhǔn)測(cè)試中的接收電路校準(zhǔn)部分和終測(cè)工位的接收 指標(biāo)終測(cè)部分合并為RX測(cè)試，把傳統(tǒng)的基帶測(cè)試工位歸為BB測(cè)試，而且這三個(gè)測(cè)試部分不 再分為三個(gè)生產(chǎn)工位進(jìn)行，而是合并為一個(gè)BRT智能測(cè)試工位。采用上述方法，測(cè)試系統(tǒng)的發(fā)射和接收測(cè)試裝置分別對(duì)兩臺(tái)移動(dòng)終端(例如，手 機(jī))進(jìn)行并行的測(cè)試?？梢栽谕粋€(gè)時(shí)間段內(nèi)，接收測(cè)試裝置對(duì)一臺(tái)移動(dòng)終端執(zhí)行RX測(cè)試， 發(fā)射測(cè)試裝置對(duì)另一臺(tái)移動(dòng)終端執(zhí)發(fā)射機(jī)TX測(cè)試。因而可以有效提高測(cè)試系統(tǒng)的利用率， 降低測(cè)試成本。上面提到的技術(shù)方案中，可以同時(shí)對(duì)兩臺(tái)移動(dòng)終端進(jìn)行并行測(cè)試，可選地，在同一 個(gè)時(shí)間段內(nèi)，上述測(cè)試系統(tǒng)還可以對(duì)第三移動(dòng)終端執(zhí)行BB測(cè)試。為了實(shí)現(xiàn)上述測(cè)試方法，需要搭建一套適應(yīng)該方法的測(cè)試系統(tǒng)。以下結(jié)合圖1描 述該測(cè)試系統(tǒng)的架構(gòu)。如圖1所示，該測(cè)試系統(tǒng)包括兩個(gè)BB測(cè)試裝置、一個(gè)RX測(cè)試裝置、 一個(gè)TX測(cè)試裝置。兩個(gè)測(cè)試夾具Testerl和Tester2(也可以三個(gè)測(cè)試夾具)。Testerl與一臺(tái)BB測(cè)試裝置通過BB測(cè)試線連接，Tester2與另一臺(tái)BB測(cè)試裝置通過BB測(cè)試線連接。Testerl和Tester2均通過一個(gè)智能夾具系統(tǒng)分別與RX測(cè)試裝置和TX測(cè)試裝置相連 接。其中，RX測(cè)試裝置和TX測(cè)試裝置在Testerl和Tester2之間切換是由該智能夾具系統(tǒng) 在計(jì)算機(jī)程序的控制下完成的。優(yōu)選地，該智能夾具系統(tǒng)還可以獲取到哪臺(tái)移動(dòng)終端(第 一移動(dòng)終端還是第二移動(dòng)終端)正在進(jìn)行什么測(cè)試(TX測(cè)試還是RX測(cè)試)的信息，即智能 夾具系統(tǒng)能夠獲知被測(cè)移動(dòng)終端的當(dāng)前測(cè)試狀態(tài)。其中，工業(yè)計(jì)算機(jī)和智能夾具通過RS232接口進(jìn)行數(shù)據(jù)通訊，工業(yè)計(jì)算機(jī)和測(cè)試 儀器通過GPIB接口進(jìn)行通訊，工業(yè)計(jì)算機(jī)通過USB線纜經(jīng)智能夾具系統(tǒng)和待測(cè)移動(dòng)終端連 接進(jìn)行通訊。所有資源的申請(qǐng)、分配可以由運(yùn)行在工業(yè)計(jì)算機(jī)上的BRT智能測(cè)試程序進(jìn)行 控制。優(yōu)選地，在經(jīng)過上述同一時(shí)間段之后，如果對(duì)第一移動(dòng)終端執(zhí)行的RX測(cè)試成功， 則檢測(cè)第一移動(dòng)終端是否已完成TX測(cè)試；如果第一移動(dòng)終端已經(jīng)完成TX測(cè)試，則第一移動(dòng) 終端通過全部測(cè)試，否則，判斷當(dāng)前TX測(cè)試資源是否被占用；如果否，則對(duì)所述第一移動(dòng)終 端執(zhí)行TX測(cè)試；如果是，則在所述第一移動(dòng)終端等待預(yù)定時(shí)間后，繼續(xù)申請(qǐng)TX測(cè)試資源。在優(yōu)選實(shí)施過程中，上述預(yù)定時(shí)間可以為一個(gè)配置的時(shí)長(zhǎng)，則所述第一移動(dòng)終端 在預(yù)定時(shí)間后繼續(xù)申請(qǐng)TX測(cè)試資源，如果此時(shí)TX測(cè)試已經(jīng)不被另一線程占用了，則第一移 動(dòng)終端可以申請(qǐng)到TX測(cè)試資源。如果此時(shí)TX測(cè)試仍然被另一線程占用，則第一移動(dòng)終端 需要繼續(xù)等待，直到另一線程完成TX測(cè)試資源的釋放。優(yōu)選地，在經(jīng)過上述同一時(shí)間段之后，如果對(duì)第二移動(dòng)終端的TX測(cè)試成功，則檢 測(cè)第二移動(dòng)終端是否已完成RX測(cè)試；如果第二移動(dòng)終端已經(jīng)完成RX測(cè)試，則第二移動(dòng)終 端通過全部測(cè)試，否則，在當(dāng)前RX測(cè)試資源未被占用的情況下，對(duì)第二移動(dòng)終端執(zhí)行RX測(cè) 試，在當(dāng)前RX測(cè)試資源被占用的情況下，第二移動(dòng)終端等待預(yù)定時(shí)間后，繼續(xù)申請(qǐng)RX測(cè)試 資源。在優(yōu)選實(shí)施過程中，上述整個(gè)工作流程由一套運(yùn)行在工業(yè)計(jì)算機(jī)上的控制軟件協(xié) 調(diào)進(jìn)行。如圖1所示，Testerl和Tester2分別各對(duì)應(yīng)一個(gè)測(cè)試線程和一個(gè)監(jiān)控線程，程 序運(yùn)行后，在沒有進(jìn)行測(cè)試的情況下，測(cè)試夾具處于打開狀態(tài)，監(jiān)控線程在持續(xù)檢測(cè)夾具狀 態(tài)。操作員開始進(jìn)行測(cè)試時(shí)會(huì)在對(duì)應(yīng)的夾具上放入DUT并按下啟動(dòng)按鈕閉合夾具，對(duì)應(yīng)的 監(jiān)控線程檢測(cè)到夾具合上后即運(yùn)行測(cè)試線程停止監(jiān)控線程開始進(jìn)入測(cè)試過程。測(cè)試線程分 別進(jìn)行“初始化”、“BB測(cè)試”、“RX測(cè)試”、“TX測(cè)試”四個(gè)步驟后測(cè)試完成，在任何一個(gè)步驟 里只要測(cè)試失敗則測(cè)試也完成，測(cè)試完成后則控制夾具打開停止測(cè)試線程，同時(shí)再次啟動(dòng) 監(jiān)控線程進(jìn)行下一個(gè)DUT的測(cè)試。由于BB測(cè)試的儀器成本比較低所以兩個(gè)Tester分別配備一套，手機(jī)初始化完成 后開始進(jìn)行BB測(cè)試，BB測(cè)試完畢后開始申請(qǐng)RX測(cè)試的儀器資源，如果RX資源忙說明另一 個(gè)Tester正在進(jìn)行RX測(cè)試則程序可以申請(qǐng)TX資源進(jìn)行TX測(cè)試。RX測(cè)試(或TX測(cè)試) 完成后若TX測(cè)試(或RX測(cè)試)沒有進(jìn)行則繼續(xù)申請(qǐng)TX儀器資源(或RX儀器資源)，如儀 器仍然忙則等待直到另一線程完成相關(guān)功能測(cè)試釋放資源。全部測(cè)試步驟完成后即可完成 一個(gè)DUT的測(cè)試打開夾具啟動(dòng)監(jiān)控線程進(jìn)行下一個(gè)DUT的測(cè)試。以下結(jié)合圖2描述上述優(yōu)選實(shí)施過程。圖2示出了采用本發(fā)明提供的測(cè)試方法對(duì)一臺(tái)移動(dòng)終端進(jìn)行測(cè)試的流程。該流程主要包括以下處理步驟S202 搭建好整個(gè)硬件環(huán)境，啟動(dòng)系統(tǒng)。然后執(zhí)行步驟S204。步驟S204:系統(tǒng)自檢，檢查儀器連接是否正常、夾具是否能正常通訊，夾具對(duì)應(yīng)的 監(jiān)控線程及測(cè)試線程是否成功運(yùn)行。然后進(jìn)行步驟S206。步驟S206 測(cè)試線程狀態(tài)置為停止裝態(tài)，監(jiān)控線程狀態(tài)置為運(yùn)行狀態(tài)，對(duì)應(yīng)的夾 具顯示等待測(cè)試狀態(tài)，監(jiān)控線程持續(xù)探測(cè)夾具是否閉合。步驟S208 基于步驟S206，夾具放入待測(cè)的移動(dòng)通訊終端產(chǎn)品(Device Under Test，簡(jiǎn)稱為DUT)，按下夾具閉合按鈕。然后進(jìn)行步驟S210。對(duì)應(yīng)地，測(cè)試系統(tǒng)需要檢測(cè)夾具是否閉合。如果是，則執(zhí)行步驟S210，否則，則繼續(xù) 檢測(cè)。步驟S210 監(jiān)控線程探測(cè)到夾具閉合則該監(jiān)控線程就被置停止?fàn)顟B(tài)，然后測(cè)試線 程置運(yùn)行狀態(tài)啟動(dòng)測(cè)試。初始化測(cè)試完后即進(jìn)行步驟S212。步驟S212 先進(jìn)行BB測(cè)試，如果BB測(cè)試結(jié)論失敗，則直接進(jìn)行步驟S230，否則進(jìn) 行步驟S214。步驟S214 申請(qǐng)RX測(cè)試資源，如果RX資源空閑則申請(qǐng)成功直接進(jìn)行步驟S216測(cè) 試同時(shí)占用RX資源，申請(qǐng)失敗則進(jìn)行步驟S218。步驟S216 進(jìn)行RX測(cè)試，如果RX測(cè)試結(jié)論失敗則直接進(jìn)行步驟S230，測(cè)試成功則 進(jìn)行步驟S220。步驟S218 判斷該DUT是否進(jìn)行過TX測(cè)試，若進(jìn)行過TX測(cè)試，則再次進(jìn)行步驟 S214。等待繼續(xù)申請(qǐng)RX資源，若沒進(jìn)行過TX測(cè)試則進(jìn)行步驟S222申請(qǐng)TX資源。步驟S220 判斷該DUT是否進(jìn)行過TX測(cè)試，若進(jìn)行過TX測(cè)試則進(jìn)行步驟S232，若 沒進(jìn)行過TX測(cè)試則進(jìn)行步驟S222申請(qǐng)TX資源。步驟S222 申請(qǐng)TX測(cè)試資源，如果TX資源空閑則申請(qǐng)成功直接進(jìn)行步驟S224測(cè) 試同時(shí)占用TX資源，申請(qǐng)失敗則進(jìn)行步驟S226。步驟S224 進(jìn)行TX測(cè)試，如果TX測(cè)試結(jié)論失敗則直接進(jìn)行步驟S230，測(cè)試成功則 進(jìn)行步驟S228。步驟S226 判斷該DUT是否進(jìn)行過RX測(cè)試，若進(jìn)行過RX測(cè)試則再次進(jìn)行步驟S222 等待繼續(xù)申請(qǐng)TX資源，若沒進(jìn)行過RX測(cè)試則進(jìn)行步驟S214申請(qǐng)RX資源。步驟S228 判斷該DUT是否進(jìn)行過RX測(cè)試，若進(jìn)行過RX測(cè)試則進(jìn)行步驟S232，若 沒進(jìn)行過RX測(cè)試則進(jìn)行步驟S214申請(qǐng)RX資源。步驟S230 測(cè)試失敗，彈開夾具，同時(shí)亮紅燈表示測(cè)試失敗，并再次進(jìn)行步驟S206 等待下一個(gè)DUT測(cè)試。步驟S232 測(cè)試成功，彈開夾具，同時(shí)亮綠燈表示測(cè)試成功，并再次進(jìn)行步驟S206 等待下一個(gè)DUT測(cè)試。優(yōu)選地，在包括同一時(shí)間段的時(shí)間段內(nèi)，對(duì)每個(gè)移動(dòng)終端按順序連續(xù)執(zhí)行BB測(cè) 試、RX測(cè)試以及TX測(cè)試；或者在包括同一時(shí)間段的時(shí)間段內(nèi)，對(duì)每個(gè)移動(dòng)終端按順序連續(xù) 執(zhí)行BB測(cè)試、TX測(cè)試以及RX測(cè)試。由于對(duì)一臺(tái)待測(cè)終端，連續(xù)執(zhí)行上述三種測(cè)試，因而避免了相關(guān)技術(shù)中進(jìn)行生產(chǎn) 測(cè)試時(shí)，分別在三個(gè)工位進(jìn)行上述三種測(cè)試，并且進(jìn)行三次開、關(guān)機(jī)操作及更換測(cè)試夾具系統(tǒng)的問題。從而可以節(jié)省操作時(shí)間和人力，提高測(cè)試效率。對(duì)于每臺(tái)DUT而言，從橫向來看，測(cè)試的時(shí)間段是包括上述同一時(shí)間段的時(shí)間段。 如果可以合理設(shè)置測(cè)試時(shí)間，例如，每一臺(tái)移動(dòng)終端的初始化時(shí)間與BB測(cè)試時(shí)間之和=每 一臺(tái)移動(dòng)終端的RX測(cè)試時(shí)間=每一臺(tái)移動(dòng)終端的TX測(cè)試時(shí)間，則并行對(duì)兩臺(tái)或三臺(tái)移動(dòng) 終端進(jìn)行測(cè)試時(shí)，可以充分利用測(cè)試資源，大大提高利用效率。以下結(jié)合圖3描述上述優(yōu)選實(shí)施過程。圖3示出了對(duì)兩臺(tái)移動(dòng)終端進(jìn)行并行測(cè)試的測(cè)試時(shí)序。如圖3所示，對(duì)兩臺(tái)移動(dòng) 終端在時(shí)間上交錯(cuò)測(cè)試。其中，對(duì)每一臺(tái)這樣測(cè)試過程中DUT只需要進(jìn)行一次開關(guān)機(jī)及初 始化，而BB測(cè)試又比較快，可以和初始化過程連續(xù)進(jìn)行。儀器系統(tǒng)中用于TX測(cè)試的信號(hào) 分析儀在進(jìn)行Testerl的TX測(cè)試的時(shí)候，用于RX測(cè)試的信號(hào)源并不會(huì)閑置，而是在進(jìn)行 Tester2的RX測(cè)試。當(dāng)Testerl測(cè)試完畢更換下一個(gè)DUT進(jìn)行初始化及BB測(cè)試的時(shí)候， Testerf獲取信號(hào)分析儀資源進(jìn)行TX測(cè)試。需要注意的是，圖3中示出了執(zhí)行BB測(cè)試、RX測(cè)試、TX測(cè)試的流程，當(dāng)然，在優(yōu)選 實(shí)施過程中，也可以執(zhí)行BB測(cè)試、TX測(cè)試、RX測(cè)試的流程。圖4是根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的移動(dòng)終端的測(cè)試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)框圖。如圖4所示，該測(cè) 試系統(tǒng)包括RX測(cè)試裝置40和TX測(cè)試裝置42。RX測(cè)試裝置40，用于在一個(gè)時(shí)間段內(nèi)，對(duì)第一移動(dòng)終端執(zhí)行RX測(cè)試，其中，RX測(cè) 試包括接收電路校準(zhǔn)測(cè)試和接收指標(biāo)測(cè)試；TX測(cè)試裝置42，用于在時(shí)間段內(nèi)，對(duì)第二移動(dòng)終端執(zhí)行TX測(cè)試，其中，TX測(cè)試包 括發(fā)射電路校準(zhǔn)測(cè)試和發(fā)射指標(biāo)測(cè)試。在同一個(gè)時(shí)間段內(nèi)，測(cè)試系統(tǒng)的RX測(cè)試裝置對(duì)一臺(tái)移動(dòng)終端執(zhí)行RX測(cè)試，TX測(cè) 試裝置對(duì)另一臺(tái)移動(dòng)終端執(zhí)發(fā)射機(jī)TX測(cè)試。因而可以有效提高測(cè)試系統(tǒng)的利用率，降低測(cè) 試成本。優(yōu)選地，如圖5所示，上述系統(tǒng)還可以包括BB測(cè)試裝置44，用于在時(shí)間段內(nèi)對(duì)第 三移動(dòng)終端執(zhí)行BB測(cè)試。通過上述處理，BB測(cè)試、RX測(cè)試、TX測(cè)試這三項(xiàng)或其中的任意兩項(xiàng)在同一個(gè)測(cè)試 過程中連續(xù)完成，無需占用多個(gè)測(cè)試工位。優(yōu)選地，如圖5所示，上述系統(tǒng)還可以包括第一檢測(cè)裝置46 (相當(dāng)于上述智能夾 具系統(tǒng))，用于在時(shí)間段之后，對(duì)第一移動(dòng)終端執(zhí)行的RX測(cè)試成功時(shí)，檢測(cè)第一移動(dòng)終端是 否已完成TX測(cè)試；第一處理裝置48，用于在檢測(cè)裝置輸出為否，且當(dāng)前TX測(cè)試資源被占用 的情況下，在等待預(yù)定時(shí)間后，繼續(xù)為第一移動(dòng)終端申請(qǐng)TX測(cè)試資源；則上述TX測(cè)試裝置 42，還用于在檢測(cè)裝置輸出為否，且當(dāng)前TX測(cè)試資源未被占用的情況下，對(duì)第一移動(dòng)終端 執(zhí)行TX測(cè)試。優(yōu)選地，上述系統(tǒng)還可以包括第二檢測(cè)裝置50 (相當(dāng)于上述智能夾具系統(tǒng))，用 于在時(shí)間段之后，對(duì)第二移動(dòng)終端執(zhí)行的TX測(cè)試成功時(shí)，檢測(cè)第二移動(dòng)終端是否已完成RX 測(cè)試；第二處理裝置52，用于在檢測(cè)裝置輸出為否，且當(dāng)前RX測(cè)試資源被占用的情況下，在 等待預(yù)定時(shí)間后，繼續(xù)為第二移動(dòng)終端申請(qǐng)RX測(cè)試資源；上述RX測(cè)試裝置40，還用于在檢 測(cè)裝置輸出為否，且當(dāng)前RX測(cè)試資源未被占用的情況下，對(duì)第二移動(dòng)終端執(zhí)行RX測(cè)試。上述系統(tǒng)的各個(gè)裝置，相互結(jié)合的優(yōu)選工作方式可以參見圖2至圖4中的描述，此處不再贅述。綜上所述，借助本發(fā)明提供的上述實(shí)施例，從企業(yè)降低生產(chǎn)成本的角度來看，提高 了生產(chǎn)中最昂貴的測(cè)試裝置資源的利用率。在測(cè)試系統(tǒng)中，由于采用了 RX和TX測(cè)試裝置 獨(dú)立的信號(hào)源加分析儀架構(gòu)，非常適合開發(fā)非信令測(cè)試系統(tǒng)用來代替?zhèn)鹘y(tǒng)的信令測(cè)試系統(tǒng) 以達(dá)到更大的效率提升，并且，業(yè)界的多家移動(dòng)終端方案供應(yīng)商已經(jīng)完全支持非信令測(cè)試 方案，因而本系統(tǒng)上更易于搭建。顯然，本領(lǐng)域的技術(shù)人員應(yīng)該明白，上述的本發(fā)明的各模塊或各步驟可以用通用的計(jì)算裝置來實(shí)現(xiàn)，它們可以集中在單個(gè)的計(jì)算裝置上，或者分布在多個(gè)計(jì)算裝置所組成 的網(wǎng)絡(luò)上，可選地，它們可以用計(jì)算裝置可執(zhí)行的程序代碼來實(shí)現(xiàn)，從而，可以將它們存儲(chǔ) 在存儲(chǔ)裝置中由計(jì)算裝置來執(zhí)行，并且在某些情況下，可以以不同于此處的順序執(zhí)行所示 出或描述的步驟，或者將它們分別制作成各個(gè)集成電路模塊，或者將它們中的多個(gè)模塊或 步驟制作成單個(gè)集成電路模塊來實(shí)現(xiàn)。這樣，本發(fā)明不限制于任何特定的硬件和軟件結(jié)合。以上所述僅為本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施例而已，并不用于限制本發(fā)明，對(duì)于本領(lǐng)域的技 術(shù)人員來說，本發(fā)明可以有各種更改和變化。凡在本發(fā)明的精神和原則之內(nèi)，所作的任何修 改、等同替換、改進(jìn)等，均應(yīng)包含在本發(fā)明的保護(hù)范圍之內(nèi)。
權(quán)利要求
一種移動(dòng)終端的測(cè)試方法，其特征在于，所述方法包括在同一個(gè)時(shí)間段內(nèi)，測(cè)試系統(tǒng)對(duì)第一移動(dòng)終端執(zhí)行接收機(jī)RX測(cè)試，對(duì)第二移動(dòng)終端執(zhí)行發(fā)射機(jī)TX測(cè)試，其中，所述RX測(cè)試包括接收電路校準(zhǔn)測(cè)試和接收指標(biāo)測(cè)試；所述TX測(cè)試包括發(fā)射電路校準(zhǔn)測(cè)試和發(fā)射指標(biāo)測(cè)試。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，還包括在所述同一個(gè)時(shí)間段內(nèi)，所述測(cè)試系統(tǒng)對(duì)第三移動(dòng)終端執(zhí)行基帶BB測(cè)試。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的方法，其特征在于，還包括在所述同一時(shí)間段之后，如果對(duì)所述第一移動(dòng)終端執(zhí)行的RX測(cè)試成功，則檢測(cè)所述第 一移動(dòng)終端是否已完成TX測(cè)試；如果所述第一移動(dòng)終端已經(jīng)完成TX測(cè)試，則所述第一移動(dòng)終端通過全部測(cè)試，否則， 判斷當(dāng)前TX測(cè)試資源是否被占用；如果否，則對(duì)所述第一移動(dòng)終端執(zhí)行TX測(cè)試；如果是，則在所述第一移動(dòng)終端等待預(yù)定時(shí)間后，繼續(xù)申請(qǐng)TX測(cè)試資源。
4.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的方法，其特征在于，還包括在所述同一時(shí)間段之后，如果對(duì)所述第二移動(dòng)終端的TX測(cè)試成功，則檢測(cè)所述第二移 動(dòng)終端是否已完成RX測(cè)試；如果所述第二移動(dòng)終端已經(jīng)完成RX測(cè)試，則所述第二移動(dòng)終端通過全部測(cè)試，否則， 在當(dāng)前RX測(cè)試資源未被占用的情況下，對(duì)所述第二移動(dòng)終端執(zhí)行RX測(cè)試，在當(dāng)前RX測(cè)試 資源被占用的情況下，所述第二移動(dòng)終端等待預(yù)定時(shí)間后，繼續(xù)申請(qǐng)RX測(cè)試資源。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，還包括以下之一在包括所述同一時(shí)間段的時(shí)間段內(nèi)，對(duì)每個(gè)移動(dòng)終端按順序連續(xù)執(zhí)行所述BB測(cè)試、所 述RX測(cè)試以及所述TX測(cè)試；在包括所述同一時(shí)間段的時(shí)間段內(nèi)，對(duì)每個(gè)移動(dòng)終端按順序連續(xù)執(zhí)行所述BB測(cè)試、所 述TX測(cè)試以及所述RX測(cè)試。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的方法，其特征在于，對(duì)每個(gè)移動(dòng)終端連續(xù)執(zhí)行測(cè)試包括 如果當(dāng)前測(cè)試成功，則對(duì)該移動(dòng)終端執(zhí)行下一種測(cè)試，直至該移動(dòng)終端通過全部測(cè)試。
7.一種移動(dòng)終端的測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，還包括接收機(jī)RX測(cè)試裝置，用于在一個(gè)時(shí)間段內(nèi)，對(duì)第一移動(dòng)終端執(zhí)行RX測(cè)試，其中，所述RX 測(cè)試包括接收電路校準(zhǔn)測(cè)試和接收指標(biāo)測(cè)試；發(fā)射機(jī)TX測(cè)試裝置，用于在所述時(shí)間段內(nèi)，對(duì)第二移動(dòng)終端執(zhí)行TX測(cè)試，其中，所述TX 測(cè)試包括發(fā)射電路校準(zhǔn)測(cè)試和發(fā)射指標(biāo)測(cè)試。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的系統(tǒng)，其特征在于，還包括基帶BB測(cè)試裝置，用于在所述時(shí)間段內(nèi)對(duì)第三移動(dòng)終端執(zhí)行BB測(cè)試。
9.根據(jù)權(quán)利要求7所述的系統(tǒng)，其特征在于，所述系統(tǒng)還包括第一檢測(cè)裝置，用于在所述時(shí)間段之后，對(duì)所述第一移動(dòng)終端執(zhí)行的RX測(cè)試成功時(shí)， 檢測(cè)所述第一移動(dòng)終端是否已完成TX測(cè)試；第一處理裝置，用于在所述檢測(cè)裝置輸出為否，且當(dāng)前TX測(cè)試資源被占用的情況下， 在等待預(yù)定時(shí)間后，繼續(xù)為所述第一移動(dòng)終端申請(qǐng)TX測(cè)試資源；則所述TX測(cè)試裝置，還用于在所述檢測(cè)裝置輸出為否，且當(dāng)前TX測(cè)試資源未被占用的情況下，對(duì)所述第一移動(dòng)終端執(zhí)行TX測(cè)試。
10.根據(jù)權(quán)利要求7所述的系統(tǒng)，其特征在于， 所述系統(tǒng)還包括第二檢測(cè)裝置，用于在所述時(shí)間段之后，對(duì)所述第二移動(dòng)終端執(zhí)行的TX測(cè)試成功時(shí)， 檢測(cè)所述第二移動(dòng)終端是否已完成RX測(cè)試；第二處理裝置，用于在所述檢測(cè)裝置輸出為否，且當(dāng)前RX測(cè)試資源被占用的情況下， 在等待預(yù)定時(shí)間后，繼續(xù)為所述第二移動(dòng)終端申請(qǐng)RX測(cè)試資源；所述RX測(cè)試裝置，還用于在所述檢測(cè)裝置輸出為否，且當(dāng)前RX測(cè)試資源未被占用的情 況下，對(duì)所述第二移動(dòng)終端執(zhí)行RX測(cè)試。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種移動(dòng)終端的測(cè)試方法及系統(tǒng)。該方法包括在同一個(gè)時(shí)間段內(nèi)，測(cè)試系統(tǒng)對(duì)第一移動(dòng)終端執(zhí)行接收機(jī)RX測(cè)試，對(duì)第二移動(dòng)終端執(zhí)行發(fā)射機(jī)TX測(cè)試，其中，RX測(cè)試包括接收電路校準(zhǔn)測(cè)試和接收指標(biāo)測(cè)試；TX測(cè)試包括發(fā)射電路校準(zhǔn)測(cè)試和發(fā)射指標(biāo)測(cè)試。通過本發(fā)明，可以提高儀器利用率，降低測(cè)試成本。
文檔編號(hào)H04W24/00GK101834680SQ201010182139
公開日2010年9月15日 申請(qǐng)日期2010年5月18日 優(yōu)先權(quán)日2010年5月18日
發(fā)明者楊小鋒 申請(qǐng)人:中興通訊股份有限公司