專利名稱：一種多光開關(guān)切換裝置及方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及光端口設(shè)備測試領(lǐng)域，特別是指一種多光開關(guān)切換裝置及方法。
背景技術(shù)：
現(xiàn)有技術(shù)中，對于具有多路光端口的傳輸設(shè)備，需要進行傳輸誤碼性能等測試。目 前，自動化測試腳本只能對單路光端口進行測試，但是，在多路光端口傳輸設(shè)備的測試過程 中需要對多路光端口進行遍歷。 為解決上述問題，專利號為CN200510088660. 0的發(fā)明專利公布了一種用于多光 端口傳輸設(shè)備測試的光開關(guān)切換裝置，該光開關(guān)切換裝置包括主控制器單元和光開關(guān)陣列 單元；所述主控制器包括處理器單元、通信接口單元、驅(qū)動電路單元、可編程邏輯單元；所 述主控制器用于在光開關(guān)切換裝置與誤碼測試儀表之間的信息通訊，并對所述光開關(guān)陣列 單元中的光開關(guān)進行配置；所述光開關(guān)陣列單元，包括多個光開關(guān)，其配置由所述主控制器 的主處理器單元通過驅(qū)動電路單元對每個光開關(guān)的控制腳的配置來實現(xiàn)。該裝置通過控制 光開關(guān)的狀態(tài)，可以將一臺測試儀表和一個被測多路光端口設(shè)備中任意一路光端口連接進 行測試。但是，該裝置的缺點是只能連接一臺測試儀表，測試儀表只能與固定的光開關(guān)相 連，不利于客戶的使用，通用性和易用性不佳。

發(fā)明內(nèi)容
有鑒于此，本發(fā)明的主要目的在于提供一種多光開關(guān)切換裝置及方法，測試更簡 單，操作更靈活。 為達到上述目的，本發(fā)明的技術(shù)方案是這樣實現(xiàn)的 本發(fā)明提供了一種多光開關(guān)切換裝置，該裝置包括上位機、主控制單元和光開關(guān) 陣列單元； 上位機，用于向主控制單元發(fā)送光開關(guān)控制命令，接收測試儀表的測試結(jié)果；
主控制單元，用于接收光開關(guān)控制命令，解析放大成光開關(guān)控制信號，之后發(fā)送給 光開關(guān)陣列單元； 光開關(guān)陣列單元，用于接收主控制單元發(fā)送的光開關(guān)控制信號，根據(jù)光開關(guān)控制 信號對相應(yīng)光開關(guān)進行配置； 所述光開關(guān)陣列單元包括兩個或兩個以上光開關(guān)，任意一個光開關(guān)均可連接測試 儀表。 上述方案中，所述主控制單元進一步包括處理器單元，用于根據(jù)接收的光開關(guān)控 制命令，解析后發(fā)送給驅(qū)動電路單元；向LED電路單元發(fā)送LED控制信號；驅(qū)動電路單元， 用于放大處理器單元發(fā)送的光開關(guān)控制信號；LED電路單元，用于接收處理器單元的LED控 制信號，顯示光開關(guān)陣列單元的連接狀態(tài)。 上述方案中，每個光開關(guān)連接一個或一個以上測試儀表、或被測設(shè)備的光端口。
上述方案中，所述光開關(guān)陣列單元，具體用于將當(dāng)前測試的光開關(guān)及連接測試儀表的光開關(guān)配置為交叉狀態(tài)，其余的光開關(guān)配置為反射狀態(tài)。 上述方案中，所述主控制單元進一步包括按鍵電路單元，用于通過自身按鍵向處理器單元發(fā)送光開關(guān)控制命令；相應(yīng)的，主控制單元接收按鍵電路單元發(fā)來的光開關(guān)控制命令。 本發(fā)明還一種多光開關(guān)切換方法， 主控制單元接收光開關(guān)控制命令，并對收到的光開關(guān)控制命令進行解析，之后將
解析后的光開關(guān)控制信號放大，發(fā)送給光開關(guān)陣列； 光開關(guān)陣列根據(jù)光開關(guān)控制信號配置光開關(guān)的狀態(tài)； 所述光開關(guān)陣列單元包括兩個或兩個以上光開關(guān)，任意一個光開關(guān)均可連接測試儀表。 上述方案中，所述光開關(guān)控制命令由上位機發(fā)送給主控制單元；或由按鍵控制電路單元通過自身按鍵發(fā)送給主控制單元。 由此可見，本發(fā)明所提供的多光開關(guān)切換裝置及方法，通過光開關(guān)控制信號配置光開關(guān)陣列單元，可連接多臺測試儀表和多路光端口的被測設(shè)備，且測試儀表位置不固定，測試簡單，操作靈活。


圖1為本發(fā)明多光開關(guān)切換裝置結(jié)構(gòu)示意圖； 圖2為光開關(guān)結(jié)構(gòu)示意圖； 圖3為本發(fā)明多光開關(guān)切換方法實現(xiàn)流程圖。
具體實施例方式
本發(fā)明的基本思想是通過主控制單元向光開關(guān)陣列發(fā)送光開關(guān)控制信號，將需測試的光端口以及測試儀表連接的光開關(guān)配置為連接狀態(tài)，其余光開關(guān)處于斷開狀態(tài)。
其中，所述光開關(guān)中可以連接一臺或多臺測試儀表，也可連接被測設(shè)備的光端口。
本發(fā)明一種多光開關(guān)切換裝置，設(shè)置在測試儀表和多路光端口的被測設(shè)備之間，具體結(jié)構(gòu)如圖1所示，該裝置包括主控制單元12和光開關(guān)陣列單元13 ;關(guān)鍵是該裝置還包括上位機ll，與主控制單元12相連；其中， 上位機ll，與主控制單元12相連，用于根據(jù)預(yù)先編輯的編譯腳本自動向主控制單元12發(fā)送光開關(guān)控制命令，接收測試儀表的測試結(jié)果； 主控制單元12，與上位機11和光開關(guān)陣列單元13相連，用于接收上位機11發(fā)送的光開關(guān)控制命令，并將收到的光開關(guān)控制命令解析放大成光開關(guān)控制信號，發(fā)送給光開關(guān)陣列單元13 ; 光開關(guān)陣列單元13，與主控制單元12相連，接收主控制單元12發(fā)送的光開關(guān)控制信號，根據(jù)光開關(guān)控制信號對相應(yīng)光開關(guān)進行開閉的配置。
其中，主控制單元12進一步包括 處理器單元121，用于根據(jù)接收的光開關(guān)控 命令，解析后發(fā)送給驅(qū)動電路單元122 ;向LED電路單元123發(fā)送LED控制信號； 驅(qū)動電路單元122，用于放大處理器單元121發(fā)送的光開關(guān)控制信號；
LED電路單元123，用于接收處理器單元121的LED控制信號，顯示光開關(guān)陣列單元13的連接狀態(tài)；其中，LED燈亮為光開關(guān)連接，測試正在進行，LED燈滅為光開關(guān)斷開狀態(tài)。 光開關(guān)陣列單元13具體包括兩個或兩個以上光開關(guān)131 ;將當(dāng)前測試的光開關(guān)131及連接測試儀表的光開關(guān)131配置為交叉狀態(tài)，其余的光開關(guān)131配置為反射狀態(tài)。其中，光開關(guān)131連接于測試儀表及被測設(shè)備的光端口之間，任意一個光開關(guān)均可連接測試儀表。光開關(guān)131的具體結(jié)構(gòu)如圖2所示，管腳2與管腳4相連，管腳3與管腳1相連時，光開關(guān)131處于交叉狀態(tài)，即連接狀態(tài)；管腳3與管腳4相連，管腳2與管腳1相連時，光開關(guān)131處于反射狀態(tài)，即斷開狀態(tài)。
進一步的，主控制單元12還可以包括 按鍵電路單元124，通過自身的按鍵向處理器單元121發(fā)送光開關(guān)控制命令，所述按鍵與光開關(guān)131 —一對應(yīng)，第一光端口測試完畢后，通過下一按鍵控制對應(yīng)的光開關(guān)131，對連接下一按鍵對應(yīng)的光開關(guān)131的光端口進行測試。
本發(fā)明還提供了一種多光端口切換方法，如圖3所示
步驟301，主控制單元接收光開關(guān)控制命令； 這里，所述光開關(guān)控制命令由上位機發(fā)送給主控制單元；或由按鍵控制電路單元通過自身按鍵發(fā)送給主控制單元。 所述上位機為運行編譯光開關(guān)控制命令腳本的計算機，以測試第一光開關(guān)對應(yīng)的光端口為例，所述上位機向主控制單元發(fā)送光開關(guān)控制命令為上位機向主控制單元中的處理器單元發(fā)送光開關(guān)控制命令；所述光開關(guān)控制命令為第一光開關(guān)與連接測試儀表的光開關(guān)連通，其余光開關(guān)斷開；所述測試儀表可以為一個或多個，每個測試儀表可以與任意一個光開關(guān)相連。 通過按鍵方式是由按鍵電路單元向主控制單元中的處理器單元發(fā)送光開關(guān)控制命令，所述按鍵電路單元中按鍵與光開關(guān)一一對應(yīng)。 步驟302，主控制單元對收到的光開關(guān)控制命令進行解析，再將解析后的光開關(guān)控制信號放大，發(fā)送給光開關(guān)陣列； 主控制單元中的處理器單元對接收的光開關(guān)控制命令進行解析，解析后發(fā)送給驅(qū)動電路單元，同時根據(jù)解析的結(jié)果產(chǎn)生LED控制信號，并將LED控制信號發(fā)送給LED電路單元；在測試中，可通過LED電路單元查看光開關(guān)的當(dāng)前狀態(tài)，驅(qū)動電路單元對光開關(guān)控制信號進行放大后發(fā)送給光開關(guān)陣列。 步驟303，光開關(guān)陣列根據(jù)光開關(guān)控制信號配置光開關(guān)的狀態(tài)； 這里，所述配置為光開關(guān)陣列單元根據(jù)光開關(guān)控制信號，將當(dāng)前測試的光開關(guān)與
連接測試儀表的光開關(guān)配置為交叉狀態(tài)，其余光開關(guān)配置為反射狀態(tài)。 具體的，以測試第一光開關(guān)對應(yīng)的光端口為例，光開關(guān)陣列單元根據(jù)接收到的光開關(guān)控制信號，將第一光開關(guān)與測試儀表連接的光開關(guān)連通，其余光開關(guān)處于斷開狀態(tài)，即將第一光開關(guān)與測試儀表連接的光開關(guān)的第4管腳與第2管腳相連，第3管腳與第1管腳相連，處于交叉狀態(tài)，其余光開光的第3管腳與第4管腳相連，第1管腳與第2管腳相連，處于反射狀態(tài)。 至此，一個光開關(guān)對應(yīng)的端口測試完畢。
實際應(yīng)用中，可以重復(fù)執(zhí)行步驟301 303的處理流程，從第一個光開光對應(yīng)的端口依次測試， 一一測試每個光開光對應(yīng)的端口 。 以上所述，僅為本發(fā)明的較佳實施例而已，并非用于限定本發(fā)明的保護范圍，凡在本發(fā)明的精神和原則之內(nèi)所作的任何修改、等同替換和改進等，均應(yīng)包含在本發(fā)明的保護范圍之內(nèi)。
權(quán)利要求
一種多光開關(guān)切換裝置，其特征在于，該裝置包括上位機、主控制單元和光開關(guān)陣列單元；上位機，用于向主控制單元發(fā)送光開關(guān)控制命令，接收測試儀表的測試結(jié)果；主控制單元，用于接收光開關(guān)控制命令，解析放大成光開關(guān)控制信號，之后發(fā)送給光開關(guān)陣列單元；光開關(guān)陣列單元，用于接收主控制單元發(fā)送的光開關(guān)控制信號，根據(jù)光開關(guān)控制信號對相應(yīng)光開關(guān)進行配置；所述光開關(guān)陣列單元包括兩個或兩個以上光開關(guān)，任意一個光開關(guān)均可連接測試儀表。
2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的裝置，其特征在于，所述主控制單元進一步包括 處理器單元，用于根據(jù)接收的光開關(guān)控制命令，解析后發(fā)送給驅(qū)動電路單元；向LED電路單元發(fā)送LED控制信號；驅(qū)動電路單元，用于放大處理器單元發(fā)送的光開關(guān)控制信號；LED電路單元，用于接收處理器單元的LED控制信號，顯示光開關(guān)陣列單元的連接狀態(tài)。
3. 根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的裝置，其特征在于，每個光開關(guān)連接一個或一個以上測試 儀表、或被測設(shè)備的光端口。
4. 根據(jù)權(quán)利要求3所述的裝置，其特征在于，所述光開關(guān)陣列單元，具體用于將當(dāng)前測 試的光開關(guān)及連接測試儀表的光開關(guān)配置為交叉狀態(tài)，其余的光開關(guān)配置為反射狀態(tài)。
5. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的裝置，其特征在于，所述主控制單元進一步包括 按鍵電路單元，用于通過自身按鍵向處理器單元發(fā)送光開關(guān)控制命令；相應(yīng)的，主控制單元接收按鍵電路單元發(fā)來的光開關(guān)控制命令。
6. —種多光開關(guān)切換方法，其特征在于，主控制單元接收光開關(guān)控制命令，并對收到的光開關(guān)控制命令進行解析，之后將解析 后的光開關(guān)控制信號放大，發(fā)送給光開關(guān)陣列；光開關(guān)陣列根據(jù)光開關(guān)控制信號配置光開關(guān)的狀態(tài)；所述光開關(guān)陣列單元包括兩個或兩個以上光開關(guān)，任意一個光開關(guān)均可連接測試儀表。
7. 根據(jù)權(quán)利要求6所述的方法，其特征在于，所述光開關(guān)控制命令由上位機發(fā)送給主 控制單元；或由按鍵控制電路單元通過自身按鍵發(fā)送給主控制單元。
8. 根據(jù)權(quán)利要求7所述的方法，其特征在于，所述根據(jù)光開關(guān)控制信號配置光開關(guān)的 狀態(tài)包括光開關(guān)陣列單元根據(jù)光開關(guān)控制信號，將當(dāng)前測試的光開關(guān)與連接測試儀表的光開關(guān) 配置為交叉狀態(tài)，其余光開關(guān)配置為反射狀態(tài)。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種多光開關(guān)切換裝置，上位機，用于向主控制單元發(fā)送光開關(guān)控制命令，接收測試儀表的測試結(jié)果；主控制單元，用于接收光開關(guān)控制命令，解析放大成光開關(guān)控制信號，之后發(fā)送給光開關(guān)陣列單元；光開關(guān)陣列單元，用于接收主控制單元發(fā)送的光開關(guān)控制命令，根據(jù)光開關(guān)控制命令對相應(yīng)光開關(guān)進行開閉的配置；所述光開關(guān)陣列單元包括兩個或兩個以上光開關(guān)，任意一個光開關(guān)均可連接測試儀表。本發(fā)明還公開了一種多光開關(guān)切換方法，采用本裝置和方法，測試簡單，操作靈活，提供設(shè)備易用率。
文檔編號H04B10/12GK101783705SQ20101011214
公開日2010年7月21日 申請日期2010年2月8日 優(yōu)先權(quán)日2010年2月8日
發(fā)明者劉婷 申請人:中興通訊股份有限公司