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高溫測試監(jiān)控系統(tǒng)及方法

文檔序號:7724009閱讀:345來源:國知局
專利名稱:高溫測試監(jiān)控系統(tǒng)及方法
技術領域
本發(fā)明涉及一種監(jiān)控系統(tǒng)及方法,特別涉及一種對電路板的高溫測試進行監(jiān)控的 監(jiān)控系統(tǒng)及方法。
背景技術
目前,針對電路板(如電腦主機板)進行高溫測試時,是將待測電路板放置于一燒 機室中,然后將待測電路板在燒機室內(nèi)開機上電,再通過鼠標、鍵盤、顯示器連接到待測電 路板上觀察待測電路板是否可以正常工作。但是,此種監(jiān)控方法需要測試人員攜帶鼠標、鍵盤、顯示器等監(jiān)控設備一臺一臺去 查看處在燒機室內(nèi)的待測電路板,因此效率低、勞動強度大、投入人力多。并且,所述燒機室 內(nèi)的溫度高達45度以上,長時間作業(yè)有害人體的健康。

發(fā)明內(nèi)容
鑒于上述內(nèi)容,有必要提供一種可對電路板高溫測試進行高效、方便的監(jiān)控系統(tǒng) 及方法。一種高溫測試監(jiān)控系統(tǒng),包括一燒機室及若干設置于所述燒機室內(nèi)的待測電路 板,所述高溫測試監(jiān)控系統(tǒng)還包括一監(jiān)控主機及一連接所述監(jiān)控主機與所述待測電路板的 網(wǎng)絡交換機,所述監(jiān)控主機用于對所述待測電路板進行IP地址分配,并在所述待測電路板 分配到IP地址后接收所述待測電路板的MAC地址信息,所述待測電路板的MAC地址信息與 所述待測電路板的測試號碼一一對應,所述監(jiān)控主機通過所述待測電路板的MAC地址信息 使所述待測電路板進行IP地址與所述待測電路板的測試號碼一一對應,以使所述監(jiān)控主 機可根據(jù)分配到所述待測電路板的IP地址上是否存在硬件來判斷所述待測電路板是否測 試通過,并將測試結果通過一顯示界面進行顯示。一種高溫測試監(jiān)控方法,用于對若干設置于燒機室內(nèi)的待測電路板進行監(jiān)控,包 括以下步驟控制所述待測電路板上電開機;通過一監(jiān)控主機對所述待測電路板進行IP地址分配;通過所述監(jiān)控主機接收所述待測電路板的MAC地址信息;根據(jù)接收到的待測電路板的MAC地址信息及預先設定的與所述待測電路板的MAC 地址信息一一對應的測試號碼確定所述測試號碼與所述待測電路板的IP地址的對應關 系;及根據(jù)分配到所述待測電路板的IP地址上是否存在硬件判斷所述待測電路板是否 測試通過,并將測試結果通過一顯示界面進行顯示。上述高溫測試監(jiān)控系統(tǒng)及方法通過所述監(jiān)控主機對所述待測電路板進行IP地址 分配,然后再根據(jù)待測電路板的MAC地址信息與待測電路板的測試號碼的關系即可確定所 述待測電路板的IP地址與測試號碼的的關系,所述監(jiān)控主機根據(jù)對應IP地址的硬件是否存在即可判斷所述待測電路板是否測試通過,然后再將測試結果通過一顯示界面進行顯 示,十分方便,不需要測試人員攜帶鼠標、鍵盤、顯示器等監(jiān)控設備一臺一臺去查看處在燒 機室內(nèi)的待測電路板,效率高且可節(jié)省人力。


下面參照附圖結合具體實施方式
對本發(fā)明作進一步的描述。圖1為本發(fā)明高溫測試監(jiān)控系統(tǒng)較佳實施方式的框圖。圖2為本發(fā)明高溫測試監(jiān)控方法較佳實施方式的流程圖。圖3為本發(fā)明高溫測試監(jiān)控系統(tǒng)較佳實施方式中監(jiān)控主機的顯示界面示意圖。
具體實施例方式請參照圖1,本發(fā)明高溫測試監(jiān)控系統(tǒng)的較佳實施方式包括一管控系統(tǒng)10、一監(jiān) 控主機20 (如電腦主機)、一網(wǎng)絡交換機30、一燒機室40及若干設置于所述燒機室40內(nèi)部 的待測電路板50 (如電腦主機板)。所述監(jiān)控主機20通過所述網(wǎng)絡交換機30與所述燒機 室40內(nèi)的待測電路板50相連,以進行網(wǎng)絡監(jiān)控。所述監(jiān)控主機20還連接至所述管控系統(tǒng) 10,以將監(jiān)控結果傳輸給所述管控系統(tǒng)10進行后續(xù)管控作業(yè)。所述管控系統(tǒng)10為一個對所述待測電路板50的整個制造、測試、出貨等一系列流 程進行管控的系統(tǒng)(該系統(tǒng)還可同時對其它產(chǎn)品的各個流程進行全程管控)。例如,所述管 控系統(tǒng)10可以是現(xiàn)場資訊管控(shop floor control, SFC)系統(tǒng),其是利用條形碼序號來 管控每一產(chǎn)品的制造、測試等流程,同時該系統(tǒng)實時地儲存生產(chǎn)、測試等數(shù)據(jù),作為追蹤管 理之用。本實施方式中,所述監(jiān)控主機20將監(jiān)控結果傳輸給所述管控系統(tǒng)10后,所述管控 系統(tǒng)10即可根據(jù)監(jiān)控結果進行后續(xù)管控作業(yè),例如判斷測試失敗的待測電路板50的測試 失敗原因是什么等,由于所述管控系統(tǒng)10進行的后續(xù)管控作業(yè)為現(xiàn)有技術且與本發(fā)明監(jiān) 控目的關聯(lián)不大,故此處不具體說明。在其他實施方式中,也可根據(jù)需要不連接所述管控系 統(tǒng)10,僅使用所述監(jiān)控主機20對待測電路板50進行監(jiān)控即可。所述監(jiān)控主機20用于對所述若干待測電路板50進行IP地址分配,并在所述 若干待測電路板50分配到IP地址后接收所述若干待測電路板50的MAC (Media Access Control,介質(zhì)訪問控制)地址信息。所述MAC地址信息是燒錄在待測電路板50的網(wǎng)卡里 的,也叫硬件地址,是識別局域網(wǎng)節(jié)點的標識,它一般是全球唯一的。所述監(jiān)控主機20還用 于將接收到的所述若干待測電路板50的MAC地址信息傳輸給所述管控系統(tǒng)10并接收所述 管控系統(tǒng)10傳輸過來的與所述MAC地址信息一一對應的測試號碼(或稱機臺號),又由于 MAC地址信息與IP地址一一對應,故測試號碼與IP地址也是一一對應的,即得出了測試號 碼與IP地址的對應關系。其中,所述若干待測電路板50的MAC地址與其測試號碼一一對 應的關系是事先設置好的,可根據(jù)需要調(diào)整。所述監(jiān)控主機20根據(jù)分配到所述若干待測電 路板50的IP地址上是否存在硬件即可判斷所述若干待測電路板50是否測試通過,并將測 試結果通過一顯示界面60進行顯示。具體地,當所述待測電路板50測試通過時,表明所述 待測電路板50未死機或未斷電,所述監(jiān)控主機20將仍然能與所述測試通過的待測電路板 50進行網(wǎng)絡通訊,此時監(jiān)控主機20判斷出與其對應的IP地址的硬件存在;反之,當所述待 測電路板50測試未通過時,表明所述待測電路板50死機或斷電,所述監(jiān)控主機20將不能與所述測試未通過的待測電路板50進行網(wǎng)絡通訊,此時監(jiān)控主機20判斷出與其對應的IP 地址的硬件不存在。測試完畢后,所述監(jiān)控主機20將測試結果傳輸給所述管控系統(tǒng)10以 進行后續(xù)管控作業(yè),然后控制所述若干待測電路板50關機。其中,若刪除所述管控系統(tǒng)10 的話,在所述管控系統(tǒng)10中進行的除后續(xù)管控作業(yè)以外的工作均由所述監(jiān)控主機20來完 成,這里不再贅述。所述網(wǎng)絡交換機30用于將所述監(jiān)控主機20與所述燒機室40內(nèi)的所述若干待測 電路板50相連,以實現(xiàn)網(wǎng)絡通信。所述燒機室40為一個高溫室,用于將若干待測電路板50放置于其內(nèi)部,以便進行 高溫測試。請參照圖2及圖3,本發(fā)明高溫測試監(jiān)控方法的較佳實施方式包括以下步驟。Si,控制所述若干待測電路板50上電開機。例如,可在所述燒機室40內(nèi)設置可與 所述待測電路板50的電源連接器相連的電源供應器(未示出),將所述待測電路板50的電 源連接器與所述電源供應器相連后,啟動所述電源供應器的開關(該開關可設置于所述燒 機室40機殼上,也可設置于所述監(jiān)控主機20的機殼上,或其他容易操作的地方)即完成了 控制所述電路板50上電開機的步驟。S2,所述監(jiān)控主機20對所述若干待測電路板50進行IP地址分配。由于所述若干 待測電路板50上電開機后即自動通過所述網(wǎng)絡交換機30與所述監(jiān)控主機20實現(xiàn)了網(wǎng)絡 通信,此時所述監(jiān)控主機20自動對連接在其上的所述若干待測電路板50進行IP地址分 配,所述IP地址分配可以是任意的也可以是按順序的。S3,所述監(jiān)控主機20接收所述若干待測電路板50的MAC地址信息。S4,所述監(jiān)控主機20將接收到的所述若干待測電路板50的MAC地址信息傳輸給 所述管控系統(tǒng)10。S5,所述管控系統(tǒng)10根據(jù)接收到的所述若干待測電路板50的MAC地址信息傳輸 對應所述若干待測電路板50的測試號碼給所述監(jiān)控主機20。此時,所述監(jiān)控主機20即可 將所述測試號碼與所述若干待測電路板50的IP地址一一對應。S6,所述監(jiān)控主機20根據(jù)分配到所述若干待測電路板50的IP地址上是否存在硬 件來判斷所述若干待測電路板50是否測試通過,并將測試結果通過一顯示界面60進行顯 示。本實施方式中,所述顯示界面60包括若干對應所述若干待測電路板50的方框,當監(jiān)控 主機20監(jiān)測到某一待測電路板50對應的IP地址上不存在硬件時,即表明所述待測電路板 50未測試通過時,如測試號碼為2的待測電路板50未測試通過時,對應的方框2顯示為斜 線標記;當監(jiān)控主機20監(jiān)測到某一待測電路板50對應的IP地址上存在硬件時,即表明所 述待測電路板50測試通過時,如測試號碼為3的待測電路板50測試通過時,對應的方框3 顯示為空白標記,也可根據(jù)需要設計成其他標記。S7,所述監(jiān)控主機20將測試結果傳輸給所述管控系統(tǒng)10以進行后續(xù)管控作業(yè)。S8,所述監(jiān)控主機20控制所述若干待測電路板50關機。本發(fā)明高溫測試監(jiān)控系統(tǒng)及方法通過所述監(jiān)控主機20與所述若干待測電路板50 網(wǎng)絡相連,所述監(jiān)控主機20根據(jù)所述若干待測電路板50對應的IP地址上是否存在硬件連 接即可快速判斷出所述若干待測電路板50中的哪些通過測試,十分方便、快捷,大大提高 了效率,減少了人力。
權利要求
一種高溫測試監(jiān)控系統(tǒng),包括一燒機室及若干設置于所述燒機室內(nèi)的待測電路板,其特征在于所述高溫測試監(jiān)控系統(tǒng)還包括一監(jiān)控主機及一連接所述監(jiān)控主機與所述待測電路板的網(wǎng)絡交換機,所述監(jiān)控主機用于對所述待測電路板進行IP地址分配,并在所述待測電路板分配到IP地址后接收所述待測電路板的MAC地址信息,所述待測電路板的MAC地址信息與所述待測電路板的測試號碼一一對應,所述監(jiān)控主機通過所述待測電路板的MAC地址信息使所述待測電路板進行IP地址與所述待測電路板的測試號碼一一對應,以使所述監(jiān)控主機可根據(jù)分配到所述待測電路板的IP地址上是否存在硬件來判斷所述待測電路板是否測試通過,并將測試結果通過一顯示界面進行顯示。
2.如權利要求1所述的高溫測試監(jiān)控系統(tǒng),其特征在于所述高溫測試監(jiān)控系統(tǒng)還包 括一與所述監(jiān)控主機相連的管控系統(tǒng),所述待測電路板的MAC地址信息與所述待測電路板 的測試號碼一一對應的關系的建立是在所述管控系統(tǒng)中完成的。
3.如權利要求2所述的高溫測試監(jiān)控系統(tǒng),其特征在于所述管控系統(tǒng)為現(xiàn)場資訊管 控系統(tǒng)。
4.如權利要求1所述的高溫測試監(jiān)控系統(tǒng),其特征在于所述監(jiān)控主機還用于在測試 完畢后控制所述待測電路板關機。
5.如權利要求1所述的高溫測試監(jiān)控系統(tǒng),其特征在于所述監(jiān)控主機為一電腦主機。
6.一種高溫測試監(jiān)控方法,用于對若干設置于燒機室內(nèi)的待測電路板進行監(jiān)控,包括 以下步驟控制所述待測電路板上電開機;通過一監(jiān)控主機對所述待測電路板進行IP地址分配;通過所述監(jiān)控主機接收所述待測電路板的MAC地址信息;根據(jù)接收到的待測電路板的MAC地址信息及預先設定的與所述待測電路板的MAC地址 信息一一對應的測試號碼確定所述測試號碼與所述待測電路板的IP地址的對應關系;及根據(jù)分配到所述待測電路板的IP地址上是否存在硬件判斷所述待測電路板是否測試 通過,并將測試結果通過一顯示界面進行顯示。
7.如權利要求6所述的高溫測試監(jiān)控方法,其特征在于還包括步驟通過所述監(jiān)控主 機控制所述待測電路板關機。
8.如權利要求6所述的高溫測試監(jiān)控方法,其特征在于所述待測電路板的MAC地址 信息與所述待測電路板的測試號碼一一對應的關系的建立在所述管控系統(tǒng)中完成的。
9.如權利要求8所述的高溫測試監(jiān)控方法,其特征在于所述管控系統(tǒng)為現(xiàn)場資訊管 控系統(tǒng)。
10.如權利要求6所述的高溫測試監(jiān)控方法,其特征在于所述監(jiān)控主機為一電腦主機。
全文摘要
一種高溫測試監(jiān)控系統(tǒng),包括一燒機室、若干設置于燒機室內(nèi)的待測電路板、一監(jiān)控主機及一連接監(jiān)控主機與待測電路板的網(wǎng)絡交換機,所述監(jiān)控主機用于對待測電路板進行IP地址分配,并在待測電路板分配到IP地址后接收待測電路板的MAC地址信息,所述待測電路板的MAC地址信息與所述待測電路板的測試號碼一一對應,所述監(jiān)控主機通過待測電路板的MAC地址信息使待測電路板進行IP地址與待測電路板的測試號碼一一對應,以使所述監(jiān)控主機可根據(jù)分配到所述待測電路板的IP地址上是否存在硬件來判斷所述待測電路板是否測試通過,并將測試結果通過一顯示界面進行顯示。所述監(jiān)控系統(tǒng)可方便對電路板高溫測試進行監(jiān)控。
文檔編號H04L12/28GK101957606SQ200910304450
公開日2011年1月26日 申請日期2009年7月17日 優(yōu)先權日2009年7月17日
發(fā)明者和小畦, 李勇 申請人:鴻富錦精密工業(yè)(深圳)有限公司;鴻海精密工業(yè)股份有限公司
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