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測(cè)試系統(tǒng)的制作方法

文檔序號(hào):7717663閱讀:378來(lái)源:國(guó)知局
專利名稱:測(cè)試系統(tǒng)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及一種測(cè)試系統(tǒng),特別是涉及一種可同時(shí)提供多個(gè)不同訊號(hào)強(qiáng)度的測(cè)試 訊號(hào)的測(cè)試系統(tǒng)。
背景技術(shù)
為了確保電子產(chǎn)品的質(zhì)量,產(chǎn)品制造商在生產(chǎn)制造過(guò)程中或是完成制造之后,會(huì) 對(duì)每一個(gè)電子產(chǎn)品進(jìn)行各種基本功能測(cè)試,來(lái)驗(yàn)證其功能是否能運(yùn)作良好并合乎品管要 求,以決定是否供應(yīng)給消費(fèi)者使用。舉例來(lái)說(shuō),對(duì)于電子通訊產(chǎn)品而言,如衛(wèi)星廣播接收機(jī)、 移動(dòng)通訊裝置、無(wú)線網(wǎng)絡(luò)設(shè)備等,訊號(hào)接收功能即是常見的測(cè)試項(xiàng)目之一。一般來(lái)說(shuō),為了 因應(yīng)實(shí)際使用上因各種環(huán)境或訊號(hào)傳輸?shù)淖儺悾沟秒娮油ㄓ嵁a(chǎn)品可能會(huì)接收到各種不同 訊號(hào)強(qiáng)度的訊號(hào)。因此,在進(jìn)行產(chǎn)品測(cè)試時(shí),可通過(guò)測(cè)試裝置產(chǎn)生不同訊號(hào)強(qiáng)度的測(cè)試訊號(hào) 來(lái)提供至電子通訊產(chǎn)品,進(jìn)而判斷電子通訊產(chǎn)品是否能正常地接收處理相關(guān)訊號(hào)。請(qǐng)參考圖1,圖1為現(xiàn)有的一測(cè)試系統(tǒng)10的示意圖。測(cè)試系統(tǒng)10包含有一訊號(hào) 產(chǎn)生器102、一衰減器104。如圖1所示,測(cè)試系統(tǒng)10藉由訊號(hào)產(chǎn)生器102產(chǎn)生一射頻訊號(hào) S,衰減器104將射頻訊號(hào)S衰減處理成一測(cè)試訊號(hào)ST,以提供至待測(cè)的電子通訊產(chǎn)品106。然而,同一時(shí)間內(nèi)測(cè)試系統(tǒng)10僅能提供測(cè)試訊號(hào)給單一電子通訊產(chǎn)品進(jìn)行測(cè)試, 對(duì)于目前大量生產(chǎn)的商業(yè)模式而言,在實(shí)際應(yīng)用上將無(wú)法產(chǎn)生有效率的測(cè)試。另一方面,為 了達(dá)到能同時(shí)測(cè)試多個(gè)產(chǎn)品,必需使用多個(gè)訊號(hào)產(chǎn)生器來(lái)提供測(cè)試訊號(hào)。然而,由于訊號(hào)產(chǎn) 生器非常昂貴,若使用多個(gè)訊號(hào)產(chǎn)生器將會(huì)造成極大的成本負(fù)擔(dān)。除此之外,在測(cè)試過(guò)程 中,為了提供各種訊號(hào)強(qiáng)度的測(cè)試訊號(hào),必須反復(fù)地調(diào)整訊號(hào)產(chǎn)生器的輸出訊號(hào)強(qiáng)度,如此 一來(lái),將極易耗損訊號(hào)產(chǎn)生器的壽命。因此,隨著成本壓力越來(lái)越大,生產(chǎn)周期卻日益縮短 的趨勢(shì),如何提供一具有成本效益的測(cè)試系統(tǒng),來(lái)提供測(cè)試電子通訊產(chǎn)品仍為目前亟需改 善的議題之一。

發(fā)明內(nèi)容
因此,本發(fā)明主要在于提供一種測(cè)試系統(tǒng)。本發(fā)明揭示一種測(cè)試系統(tǒng),該測(cè)試系統(tǒng)包含有一訊號(hào)產(chǎn)生器,用來(lái)產(chǎn)生一輸入訊 號(hào);一訊號(hào)分配器,將輸入訊號(hào)分配成一第一分流訊號(hào)以及一第二分流訊號(hào);一微控制單 元,用來(lái)產(chǎn)生一第一控制訊號(hào)以及一第二控制訊號(hào);一第一傳輸接口,用以傳輸該第一分流 訊號(hào)以及該第一控制訊號(hào);一第二傳輸接口,用以傳輸該第二分流訊號(hào)以及該第二控制訊 號(hào);以及一第一訊號(hào)調(diào)整單元,根據(jù)該第一控制訊號(hào),將該第一分流訊號(hào)轉(zhuǎn)換成一第一測(cè)試 訊號(hào),以輸出提供測(cè)試。


圖1為現(xiàn)有的一測(cè)試系統(tǒng)的示意圖。圖2為本發(fā)明實(shí)施例一測(cè)試系統(tǒng)的示意圖。
圖3為本發(fā)明實(shí)施例的訊號(hào)調(diào)整單元的附圖符號(hào)說(shuō)明10,20測(cè)試系統(tǒng)102,202訊號(hào)產(chǎn)生器104,304衰減器106電子通訊產(chǎn)品204訊號(hào)分配器206微控制單元208主控單元210、INT_1 INT_m 傳輸接口212印刷電路板302訊號(hào)控制單元B0X_1 Β0Χ_η 訊號(hào)衰減模塊DUTl DUTm 待測(cè)組件PI輸入端口PO輸出端口RF_1 RF_m 訊號(hào)調(diào)整單元S射頻訊號(hào)SAC衰減控制訊號(hào)SI輸入訊號(hào)SCl SCm 控制訊號(hào)SOl SOm 分流訊號(hào)ST, STl - STm 測(cè)試訊號(hào)-實(shí)施例示意圖<
具體實(shí)施例方式請(qǐng)參考圖2,圖2為本發(fā)明實(shí)施例一測(cè)試系統(tǒng)20的示意圖。測(cè)試系統(tǒng)20用來(lái)同 時(shí)提供測(cè)試訊號(hào)STl STm,且測(cè)試訊號(hào)STl STm的訊號(hào)強(qiáng)度可依據(jù)需求而彈性調(diào)整,以 提供單一或多個(gè)待測(cè)試組件(Device Under Test, DUT)進(jìn)行測(cè)試。測(cè)試系統(tǒng)20包含有一 訊號(hào)產(chǎn)生器202、一訊號(hào)分配器204、一微控制單元206、一主控單元208、傳輸接口 210及 INT_1 INT_m、一印刷電路板212及訊號(hào)調(diào)整單元RF_1 RF_m。訊號(hào)產(chǎn)生器202用來(lái)產(chǎn) 生一輸入訊號(hào)Si。訊號(hào)分配器204耦接于訊號(hào)產(chǎn)生器202,用來(lái)將輸入訊號(hào)SI分配成分流 訊號(hào)SOl SOm。微控制單元206用來(lái)產(chǎn)生控制訊號(hào)SCl SCm。傳輸接口 INT_1 INT_ m耦接于微控制單元206與訊號(hào)分配器204,分別用來(lái)將所輸入的分流訊號(hào)及控制訊號(hào)傳送 至相對(duì)應(yīng)的訊號(hào)調(diào)整單元。訊號(hào)調(diào)整單元RF_1 RF_m分別耦接于傳輸接口 INT_1 INT_ m,用來(lái)根據(jù)控制訊號(hào)SCl SCm,將分流訊號(hào)SOl SOm轉(zhuǎn)換成符合所需訊號(hào)強(qiáng)度的測(cè)試訊 號(hào)STl STm,以提供至待測(cè)組件DUTl DUTm。簡(jiǎn)單來(lái)說(shuō),測(cè)試系統(tǒng)20依據(jù)目前各待測(cè)組件所需的訊號(hào)強(qiáng)度大小,通過(guò)微控制單 元206產(chǎn)生相對(duì)應(yīng)的控制訊號(hào)SCl SCm,使訊號(hào)調(diào)整單元RF_1 RF_m據(jù)以將分流訊號(hào) SOl SOm衰減處理成所需訊號(hào)強(qiáng)度的測(cè)試訊號(hào)STl STm,如此一來(lái),將能同時(shí)提供多個(gè)具不同訊號(hào)強(qiáng)度需求的待測(cè)組件進(jìn)行測(cè)試。因此,本發(fā)明可由單一訊號(hào)產(chǎn)生器202提供穩(wěn)定的輸入訊號(hào)Si,再藉由微控制單 元206控制后端的訊號(hào)調(diào)整單元RF_1 RF_m來(lái)彈性調(diào)整訊號(hào)強(qiáng)度。因此,本發(fā)明不需反 復(fù)地調(diào)整訊號(hào)產(chǎn)生器202的輸出強(qiáng)度,只需通過(guò)微控制單元206適當(dāng)?shù)脑O(shè)定控制,即能提供 多路符合所需強(qiáng)度的測(cè)試訊號(hào)。進(jìn)一步說(shuō)明,在測(cè)試系統(tǒng)20中,訊號(hào)產(chǎn)生器202提供輸入訊號(hào)Si,再經(jīng)由訊號(hào)分 配器204分配成分流訊號(hào)SOl SOm,提供多路的獨(dú)立訊號(hào)輸出。在此情況下,微控制單元 206的功能便在于妥善地控制訊號(hào)調(diào)整單元RF_1 RF_m調(diào)整轉(zhuǎn)換出適當(dāng)?shù)臏y(cè)試訊號(hào)。因 此,為了實(shí)現(xiàn)各訊號(hào)調(diào)整單元的訊號(hào)強(qiáng)度控制,如圖2所示,主控單元208可通過(guò)傳輸接口 210連結(jié)至微控制單元206,并將其依據(jù)測(cè)試需求所產(chǎn)生的一訊號(hào)強(qiáng)度指令COM,提供給微 控制單元206,使微控制單元206可據(jù)以產(chǎn)生相對(duì)應(yīng)的控制訊號(hào)。如此一來(lái),將能正確無(wú)誤 的依據(jù)測(cè)試需求而作調(diào)整。較佳地,在實(shí)際運(yùn)用上,如圖2所示,傳輸接口 210、訊號(hào)產(chǎn)生單 元202、訊號(hào)分配器204、微控制單元206與傳輸接口 INT_1 INT_m可整合設(shè)置于印刷電 路板212上。然而,本發(fā)明并不限于此一實(shí)施方式,此僅是作為范例說(shuō)明之用,并非為本發(fā) 明的限制。關(guān)于訊號(hào)調(diào)整單元RF_1 RF_m的詳細(xì)說(shuō)明,請(qǐng)參考圖3,圖3為本發(fā)明實(shí)施例訊 號(hào)調(diào)整單元RF_1 RF_m的一實(shí)施例示意圖。在圖3中,各訊號(hào)調(diào)整單元包含有一個(gè)或一個(gè) 以上的訊號(hào)衰減模塊,舉例來(lái)說(shuō),訊號(hào)調(diào)整單元RF_1包含有訊號(hào)衰減模塊B0X_1 B0X_5。 訊號(hào)調(diào)整單元RF_2包含有訊號(hào)衰減模塊B0X_1 B0X_2。并且,每一訊號(hào)衰減模塊可用來(lái) 對(duì)訊號(hào)進(jìn)行衰減處理。要注意的是,若各訊號(hào)調(diào)整單元包含一個(gè)以上的訊號(hào)衰減模塊時(shí), 各訊號(hào)衰減模塊之間可以串連形式連接。如此一來(lái),每一訊號(hào)調(diào)整單元會(huì)將其所接收到的 輸出訊號(hào),通過(guò)串接的訊號(hào)衰減模塊進(jìn)行衰減處理后,而產(chǎn)生相對(duì)應(yīng)訊號(hào)強(qiáng)度的測(cè)試訊號(hào)。 如圖3所示,每一訊號(hào)衰減模塊包含有一輸入端口 PI、一訊號(hào)控制單元302、一衰減器304 及一輸出端口 P0。輸入端口 PI耦接于相對(duì)應(yīng)的傳輸接口或前一級(jí)訊號(hào)衰減模塊的輸出端 口,用來(lái)接收相對(duì)應(yīng)傳輸接口所輸出的分流訊號(hào)或前一級(jí)所輸出的測(cè)試訊號(hào)以及相對(duì)應(yīng)的 控制訊號(hào)。訊號(hào)控制單元302耦接于輸入端口 PI,用來(lái)根據(jù)相對(duì)應(yīng)的控制訊號(hào),產(chǎn)生一衰減 控制訊號(hào)SAC,并將相對(duì)應(yīng)的控制訊號(hào)傳送至輸出端口 P0。衰減器304耦接于輸入端口 PI 與訊號(hào)控制單元302,用來(lái)根據(jù)衰減控制訊號(hào)SAC,對(duì)相對(duì)應(yīng)的分流訊號(hào)或前一級(jí)所輸出的 測(cè)試訊號(hào)進(jìn)行衰減處理,以產(chǎn)生相對(duì)應(yīng)的測(cè)試訊號(hào)。并經(jīng)由輸出端口 PO輸出衰減器304所 產(chǎn)生的測(cè)試訊號(hào)以及由輸入端口 PI所接收的控制訊號(hào)。換句話說(shuō),在每一訊號(hào)調(diào)整單元最 前方的訊號(hào)衰減模塊可由相對(duì)應(yīng)的傳輸接口接收分流訊號(hào),并經(jīng)由各級(jí)的訊號(hào)衰減模塊的 衰減處理,以將原先所接收的分流訊號(hào)的訊號(hào)強(qiáng)度調(diào)整出為所需測(cè)試訊號(hào)后,由最后級(jí)的 訊號(hào)衰減模塊的輸出端口傳送至待測(cè)組件。此外,在測(cè)試系統(tǒng)20中,每一訊號(hào)調(diào)整單元中所包含有的訊號(hào)衰減模塊的數(shù)量可 依需求情況以及各訊號(hào)衰減模塊的訊號(hào)衰減能力的不同,而可彈性增減。當(dāng)然,在本發(fā)明 中,每一訊號(hào)調(diào)整單元中并非僅限定須由最后級(jí)的訊號(hào)衰減模塊提供測(cè)試訊號(hào),亦可依所 需的訊號(hào)強(qiáng)度而由其中任何一級(jí)的訊號(hào)衰減模塊輸出測(cè)試訊號(hào)。當(dāng)現(xiàn)有訊號(hào)衰減模塊不敷 使用時(shí),可隨時(shí)增減訊號(hào)衰減模塊的數(shù)量,來(lái)實(shí)現(xiàn)適當(dāng)訊號(hào)強(qiáng)度的測(cè)試訊號(hào)。如此一來(lái),將 使每一訊號(hào)調(diào)整單元具有極大的可擴(kuò)充性。5
另一方面,在本發(fā)明實(shí)施例中,每一訊號(hào)調(diào)整單元中的訊號(hào)衰減模塊皆為各自獨(dú) 立且具訊號(hào)衰減的模塊。較佳地,每一訊號(hào)衰減模塊可分別獨(dú)立設(shè)置于一獨(dú)立衰減器電路 板上,在此情況下,將可避免可能因所有模塊皆設(shè)置于同一電路板上而導(dǎo)致于訊號(hào)傳導(dǎo)時(shí) 所產(chǎn)生的電磁干擾現(xiàn)象。除此之外,亦可于訊號(hào)衰減模塊上,增加電磁干擾遮蔽外殼,如此 一來(lái),將可進(jìn)一步將訊號(hào)衰減模塊運(yùn)作時(shí)可能發(fā)生的電磁干擾現(xiàn)象降到更低,而能更有效 率的進(jìn)行訊號(hào)衰減處理。由于目前電子通訊產(chǎn)品,諸如衛(wèi)星廣播接收機(jī)、機(jī)頂盒、移動(dòng)通訊裝置等非常的多 元化。在生產(chǎn)在線的測(cè)試應(yīng)用上,針對(duì)不同產(chǎn)品的特性及標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范,還有考慮環(huán)境的變異, 必須提供各式訊號(hào)強(qiáng)度的測(cè)試訊號(hào)給待測(cè)組件進(jìn)行測(cè)試。以下將以待測(cè)組件為一衛(wèi)星廣播 接收機(jī)為例,說(shuō)明測(cè)試系統(tǒng)20的運(yùn)作方式。在此情況下,假設(shè)測(cè)試系統(tǒng)20中的各訊號(hào)分別 為一射頻訊號(hào),若訊號(hào)產(chǎn)生器202產(chǎn)生一 2. 3GHz的衛(wèi)星廣播訊號(hào)(如圖3中的輸入訊號(hào) Si),經(jīng)由訊號(hào)分配器204將其分配至各路訊號(hào)調(diào)整單元中,若第一個(gè)待測(cè)組件DUTl此時(shí)需 要-IOdB的測(cè)試訊號(hào)STl,而分流訊號(hào)SOl的訊號(hào)強(qiáng)度為-0. IdB時(shí),則微控制單元206可 以藉由控制訊號(hào)SCl來(lái)操控訊號(hào)衰減模塊B0X_1 B0X_5中的訊號(hào)控制單元302,使得每 一訊號(hào)衰減模塊中的訊號(hào)控制單元302可據(jù)以控制其對(duì)應(yīng)的衰減器304進(jìn)行衰減處理來(lái)提 供-IOdB的測(cè)試訊號(hào)STl。測(cè)試系統(tǒng)20通過(guò)微控制單元206的安排,使得分流訊號(hào)SOl經(jīng) 由訊號(hào)衰減模塊B0X_1 B0X_5中的衰減器304的處理后,將會(huì)于訊號(hào)衰減模塊B0X_5的 輸出端口 PO輸出號(hào)強(qiáng)度為-IOdB的測(cè)試訊號(hào)ST1,以提供至待測(cè)組件(衛(wèi)星廣播接收機(jī)) DUT1。要注意的是,在本發(fā)明中,可通過(guò)微控制單元206的彈性地安排分配每一衰減器304 的運(yùn)作,使得最終所輸出的測(cè)訊號(hào)符合所需即可。舉例來(lái)說(shuō),若每一衰減器304的最大衰減 能力為5dB,在此情況下,可不需全由特定衰減器來(lái)負(fù)擔(dān)處理,而是經(jīng)由微控制單元206分 配每一衰減器304所負(fù)擔(dān)的衰減處理程度,例如,-0. IdB的分流訊號(hào)SOl經(jīng)由訊號(hào)衰減模 塊B0X_1的衰減器304處理后,衰減成-3dB的測(cè)試訊號(hào)ST1_1,再傳送至下一級(jí)的訊號(hào)衰 減模塊B0X_2的衰減器304繼續(xù)做衰減處理,而將測(cè)試訊號(hào)ST1_1衰減成_5dB的測(cè)試訊 號(hào)ST1_2,以此方式,依序經(jīng)由訊號(hào)衰減模塊B0X_3 B0X_5處理,而產(chǎn)生_7dB的測(cè)試訊號(hào) ST1_3, -9dB的測(cè)試訊號(hào)ST1_4,而最終輸出-IOdB的測(cè)試訊號(hào)STl。同理,以此類推,其它 待測(cè)組件亦可獲得各種不同訊號(hào)強(qiáng)度的測(cè)試訊號(hào),以驗(yàn)證待測(cè)電子通訊產(chǎn)品的訊號(hào)接收能 力。需注意的是,圖2所示的測(cè)試系統(tǒng)20為本發(fā)明的實(shí)施例,本領(lǐng)域的技術(shù)人員可據(jù) 以做不同的變化或修飾,而不限于此。舉例來(lái)說(shuō),待測(cè)試組件DUTl DUTm可為任何具有接 收或處理輸入訊號(hào)能力的電子產(chǎn)品,而衰減器304可為任何類型的衰減器,只要能正確降 低訊號(hào)的振幅大小即可。此外,在測(cè)試系統(tǒng)20中的每一衰減器304可具有不同的訊號(hào)衰減 能力,只要在每一訊號(hào)調(diào)整單元中能產(chǎn)生符合需求的測(cè)試訊號(hào)即可。另一方面,主控單元 208可以是任何具計(jì)算機(jī)系統(tǒng)的裝置,而傳輸接口 210則配合主控單元208,只要能將主控 單元208的數(shù)據(jù)傳送至微控制單元的數(shù)據(jù)傳輸接口即可,例如一 RS232傳輸接口或是其它 的序列或串行型傳輸接口。綜上所述,本發(fā)明利用微控制單元206的訊號(hào)強(qiáng)度的控制以及具有高度可擴(kuò)充性 訊號(hào)調(diào)整單元的機(jī)制,而能機(jī)動(dòng)地調(diào)整所需訊號(hào)強(qiáng)度的測(cè)試訊號(hào)。更重要的是,由于在現(xiàn)有 技術(shù)中,若要同時(shí)測(cè)試多個(gè)待測(cè)組件,必須使用多組如圖1所示的測(cè)試系統(tǒng)10,因而導(dǎo)致現(xiàn)5/5頁(yè)有技術(shù)必須耗費(fèi)相當(dāng)多的成本,才能達(dá)到大量快速的成效。相較之下,本發(fā)明的測(cè)試系統(tǒng) 20,可以在使用單一訊號(hào)產(chǎn)生器的情況下,同時(shí)提供多路的測(cè)試訊號(hào)路徑,且可針對(duì)需求而 提供不同強(qiáng)度的測(cè)試訊號(hào),因而,本發(fā)明不僅可有效提升生產(chǎn)測(cè)試效率,并可大幅縮減生產(chǎn) 成本的負(fù)擔(dān)。 以上所述僅為本發(fā)明的較佳實(shí)施例,凡依本發(fā)明的權(quán)利要求所做的均等變化與修 飾,皆應(yīng)屬本發(fā)明的涵蓋范圍。
權(quán)利要求
1.一種測(cè)試系統(tǒng),包含有一訊號(hào)產(chǎn)生器,用以產(chǎn)生一輸入訊號(hào);一訊號(hào)分配器,將該輸入訊號(hào)分配成一第一分流訊號(hào)以及一第二分流訊號(hào); 一微控制單元,用以產(chǎn)生一第一控制訊號(hào)以及一第二控制訊號(hào); 一第一傳輸接口,用以傳輸該第一分流訊號(hào)以及該第一控制訊號(hào); 一第二傳輸接口,用以傳輸該第二分流訊號(hào)以及該第二控制訊號(hào);以及 一第一訊號(hào)調(diào)整單元,根據(jù)該第一控制訊號(hào),將該第一分流訊號(hào)轉(zhuǎn)換成一第一測(cè)試訊 號(hào),以輸出提供測(cè)試。
2.如權(quán)利要求1所述的測(cè)試系統(tǒng),其中該第一訊號(hào)調(diào)整單元,包含有 一第一級(jí)訊號(hào)衰減模塊。
3.如權(quán)利要求2所述的測(cè)試系統(tǒng),其中該第一級(jí)訊號(hào)衰減模塊,包含有 一訊號(hào)控制單元,根據(jù)該第一控制訊號(hào),產(chǎn)生一衰減控制訊號(hào);以及一衰減器,根據(jù)該衰減控制訊號(hào),調(diào)整該第一分流訊號(hào),以產(chǎn)生該第一測(cè)試訊號(hào)。
4.如權(quán)利要求2所述的測(cè)試系統(tǒng),其中該第一級(jí)訊號(hào)衰減模塊還包含有 一電磁干擾遮蔽外殼,用來(lái)降低該第一級(jí)訊號(hào)衰減模塊運(yùn)作時(shí)所產(chǎn)生的電磁干擾。
5.如權(quán)利要求2所述的測(cè)試系統(tǒng),其中該第一訊號(hào)調(diào)整單元還包含有一第二級(jí)訊號(hào)衰減模塊,且該第一級(jí)訊號(hào)衰減模塊與該第二級(jí)訊號(hào)衰減模塊串聯(lián)。
6.如權(quán)利要求1所述的測(cè)試系統(tǒng),其中還包含一第二訊號(hào)調(diào)整單元,根據(jù)該第二控制訊號(hào),將該第二分流訊號(hào)轉(zhuǎn)換成一第二測(cè)試訊 號(hào),以輸出提供測(cè)試。
7.如權(quán)利要求1所述的測(cè)試系統(tǒng),其還包含有一第三傳輸接口,耦接于該微控制單元,用來(lái)提供數(shù)據(jù)傳輸;以及 一主控單元,耦接于該第三傳輸接口,用來(lái)產(chǎn)生一訊號(hào)強(qiáng)度指令,以經(jīng)由該第三傳輸接 口提供至該微控制單元,使該微控制單元據(jù)以產(chǎn)生該第一控制訊號(hào)以及該第二控制訊號(hào)。
8.如權(quán)利要求7所述的測(cè)試系統(tǒng),其中該第三傳輸接口、該訊號(hào)產(chǎn)生單元、該訊號(hào)分配 器、該微控制單元、第一傳輸接口與該第二傳輸接口是整合設(shè)置于一電路板上。
9.如權(quán)利要求1所述的測(cè)試系統(tǒng),其中該輸入訊號(hào)及該第一測(cè)試訊號(hào)是屬于射頻訊
全文摘要
本發(fā)明提供一種測(cè)試系統(tǒng),該測(cè)試系統(tǒng)包含有一訊號(hào)產(chǎn)生器,用以產(chǎn)生輸入訊號(hào);一訊號(hào)分配器,將輸入訊號(hào)分配成第一分流訊號(hào)以及第二分流訊號(hào);一微控制單元,用以產(chǎn)生第一控制訊號(hào)以及第二控制訊號(hào);一第一傳輸接口,用以傳輸該第一分流訊號(hào)以及該第一控制訊號(hào);一第二傳輸接口,用以傳輸該第二分流訊號(hào)以及該第二控制訊號(hào);以及一第一訊號(hào)調(diào)整單元,根據(jù)該第一控制訊號(hào),將該第一分流訊號(hào)轉(zhuǎn)換成第一測(cè)試訊號(hào),以輸出提供測(cè)試。
文檔編號(hào)H04B17/00GK102055533SQ20091021108
公開日2011年5月11日 申請(qǐng)日期2009年11月11日 優(yōu)先權(quán)日2009年11月11日
發(fā)明者吳旻蓉, 詹豐吉, 陳國(guó)瑋, 陳柏義, 陳逸瑞 申請(qǐng)人:啟碁科技股份有限公司
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