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用于標(biāo)定攝像機(jī)放大率的標(biāo)定件和標(biāo)定方法

文檔序號(hào):7944541閱讀:233來(lái)源:國(guó)知局
專利名稱:用于標(biāo)定攝像機(jī)放大率的標(biāo)定件和標(biāo)定方法
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及一種用于標(biāo)定掘J象才幾;改大率的標(biāo)定件和標(biāo)定方法。
背景技術(shù)
從德國(guó)專利DE 101 18 886 B4中已知一種標(biāo)定尺,其包括可以由 攝像機(jī)檢測(cè)的印制標(biāo)記。該標(biāo)記標(biāo)注在各個(gè)位置上,從而可以測(cè)定 攝像機(jī)檢測(cè)范圍的精確長(zhǎng)度。然而,該標(biāo)定尺僅適用于待檢測(cè)物是 平坦的并處于確定不變的位置上的情況。當(dāng)物料帶是紡織物、紙和 塑料時(shí),由于物料帶的厚度可以忽略,可以滿足上述的條件而不會(huì) 帶來(lái)而任何問(wèn)題。但是,當(dāng)在物料帶是橡膠的情況下,該限制就會(huì) 導(dǎo)致不能容許的問(wèn)題出現(xiàn)。此時(shí),需要在攝像機(jī)的標(biāo)定中考慮到帶 厚度的影響。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于提供一種前述類型的標(biāo)定件,其考慮到待測(cè)物 體的厚度,并且設(shè)計(jì)簡(jiǎn)單。本發(fā)明還提供一種相應(yīng)的標(biāo)定方法。
該目的通過(guò)一種標(biāo)定件和標(biāo)定方法得以實(shí)現(xiàn)。所述標(biāo)定件為一種 用于標(biāo)定攝像機(jī)的放大率的標(biāo)定件,其中,所述標(biāo)定件具有至少一 個(gè)標(biāo)定區(qū)域,在標(biāo)定區(qū)域中設(shè)有至少一個(gè)可由攝像機(jī)檢測(cè)的穿孔和/ 或缺口,為了測(cè)定放大率與目標(biāo)厚度的相關(guān)性,所述標(biāo)定件具有至 少一個(gè)支承底座,該支承底座的長(zhǎng)度被如此選定,通過(guò)轉(zhuǎn)動(dòng)標(biāo)定件 并將其放置在至少一個(gè)支承底座上,在攝像機(jī)圖像的放大率中產(chǎn)生 一個(gè)可測(cè)算的變化,其中,所述至少一個(gè)支承底座的長(zhǎng)度是標(biāo)定區(qū) 域中標(biāo)定件的壁厚的至少兩倍。所述標(biāo)定方法為 一 種用于攝像機(jī)的標(biāo)定方法,其中,在攝像機(jī)的視場(chǎng)內(nèi)設(shè)有至少一個(gè)如前所述的標(biāo)定 件,并生成第一圖像,隨后旋轉(zhuǎn)標(biāo)定件并借助于攝像機(jī)生成第二圖 像,其中,通過(guò)兩幅圖像連同已知的標(biāo)定件尺寸計(jì)算出放大率,所 述放大率構(gòu)成目標(biāo)厚度的放大率的線性函數(shù)上的兩點(diǎn),其中,利用 預(yù)定目標(biāo)厚度,由線性函數(shù)計(jì)算得出各個(gè)的放大率。
根據(jù)本發(fā)明所述的標(biāo)定件用于標(biāo)定攝像機(jī)的放大率。優(yōu)選采用
CCD (電荷耦合器件)攝像機(jī)或CMOS (互補(bǔ)金屬氧化物半導(dǎo)體) 攝像機(jī),也可以選用其他的成像方式。另外,所述攝像機(jī)是矩陣攝 像機(jī)或是線陣攝像機(jī)并不重要。特別地,在需要使用攝像機(jī)掃描運(yùn) 行物料帶形式的物體的應(yīng)用中,采用橫向于運(yùn)行方向設(shè)置的線陣攝 像機(jī)就完全可以滿足該應(yīng)用。此時(shí)在線陣方向上進(jìn)行標(biāo)定就足夠了 。 當(dāng)使用矩陣攝像機(jī)時(shí),可以根據(jù)應(yīng)用在行和/或列的方向上實(shí)施標(biāo)定。 攝像機(jī)的放大率對(duì)于實(shí)現(xiàn)精確的尺寸測(cè)量而言十分重要。然而,這 取決于攝像機(jī)的位置和排布。另外,放大率還隨著待測(cè)物體的厚度 變化,這是因?yàn)椋瑪z像機(jī)所觀測(cè)到的較厚物體的表面比較薄物體的 表面更接近攝像機(jī)。特別是當(dāng)使用測(cè)量技術(shù)對(duì)物體進(jìn)行精確檢測(cè)時(shí) 該差異會(huì)造成影響。使用一種具有至少一個(gè)標(biāo)定區(qū)域的標(biāo)定件能夠 解決上述問(wèn)題。在該標(biāo)定區(qū)域中設(shè)有至少 一 個(gè)可由攝像機(jī)檢測(cè)的穿 孔和/或缺口。在此情況下,穿孔和/或缺口的尺寸或間距是已知的, 從而可以將纟聶像才幾檢測(cè)到的測(cè)量變量與標(biāo)定件的已知的幾何尺寸相 比較。通過(guò)這種方式,可以測(cè)定4聶像4幾的》文大率,該;改大率取決于 安裝和排布。假如設(shè)有若干穿孔和/或缺口 ,還可以將放大率作為攝 像機(jī)的視場(chǎng)內(nèi)位置的函數(shù)來(lái)計(jì)算放大率,從而還能夠以這種方式校 正物體的圖像誤差,例如,攝像機(jī)圖像的梯形變形。
為了額外確定放大率與待測(cè)物體厚度的相關(guān)性,在兩個(gè)不同的目 標(biāo)平面上對(duì)攝像機(jī)進(jìn)行標(biāo)定就基本足夠了 ,假如這兩平面的位置已 知。此時(shí)不宜使用具有較厚標(biāo)定區(qū)域的標(biāo)定件,因?yàn)檫@會(huì)導(dǎo)致出現(xiàn) 標(biāo)定件的上下邊緣測(cè)量不可靠的問(wèn)題。為了解決這個(gè)問(wèn)題,所述標(biāo) 定件具有至少一個(gè)支承底座,該支承底座的長(zhǎng)度如此選定,通過(guò)轉(zhuǎn)
5動(dòng)標(biāo)定件并將其放置在至少一個(gè)支承底座上,使攝像機(jī)圖像的放大率產(chǎn)生一個(gè)可測(cè)算的變化。所述至少一個(gè)支承底座的長(zhǎng)度是標(biāo)定區(qū)域中標(biāo)定件的厚度的至少兩倍。因此,在標(biāo)定件的轉(zhuǎn)動(dòng)位置上標(biāo)定區(qū)域處于可被攝像機(jī)測(cè)定的范圍中,放大率由此相應(yīng)地變化。根據(jù)被測(cè)量出的放大率的變化能夠得到所需的與目標(biāo)物厚度的相關(guān)性,從而以此方式根據(jù)各個(gè)目標(biāo)厚度來(lái)標(biāo)定攝像機(jī)圖像的放大率?;旧希€可以將放大率確定為在攝像機(jī)視場(chǎng)內(nèi)位置的函數(shù),從而使用攝像機(jī)進(jìn)行盡可能精確的幾何測(cè)量。
當(dāng)用攝像機(jī)對(duì)標(biāo)定件進(jìn)行檢測(cè)時(shí)產(chǎn)生的基本問(wèn)題是,攝像機(jī)即檢測(cè)標(biāo)定件的上邊緣,也檢測(cè)標(biāo)定件的下邊緣,然而隨著攝像機(jī)的位置不同,下邊緣有時(shí)會(huì)被上邊緣所覆蓋。為了避免由這些未知因素產(chǎn)生標(biāo)定誤差,根據(jù)權(quán)利要求2標(biāo)定區(qū)域中的標(biāo)定件具有相當(dāng)小的壁厚,從而穿孔和/或缺口的上邊緣和下邊緣在攝像機(jī)圖像上產(chǎn)生的差異可以在標(biāo)定過(guò)程中忽略不計(jì)。由于標(biāo)定區(qū)域中的標(biāo)定件的壁厚相當(dāng)小,攝像機(jī)基本上只能觀測(cè)到穿孔區(qū)域的一個(gè)邊緣,從而消除了在檢測(cè)穿孔和/或缺口時(shí)產(chǎn)生的誤差。
根據(jù)權(quán)利要求3有利的是標(biāo)定件在標(biāo)定區(qū)域中的壁厚至多為2毫米。在這種情況下,對(duì)于實(shí)際操作中的尺寸和排布可以不再對(duì)標(biāo)定件的上邊緣和下邊緣進(jìn)行區(qū)分,并且因此可以忽略與之相關(guān)的、在攝像機(jī)像素分辨區(qū)域中的測(cè)量誤差。
根據(jù)權(quán)利要求4支承底座的長(zhǎng)度為至少IO毫米。特別是在工業(yè)應(yīng)用中,攝像機(jī)至多在一米的范圍內(nèi),通過(guò)這種方式已經(jīng)可以得到放大率的足夠精確的可測(cè)量的變化,從而能夠以這種方式足夠精確地標(biāo)定》文大率與目標(biāo)厚度之間的相關(guān)性。
假如僅使用一個(gè)單個(gè)的支承底座,優(yōu)選將所述支承底座設(shè)置在標(biāo)定件的中部,從而使標(biāo)定件保持平衡地豎立在支承底座上。作為選擇,也可以設(shè)置若干個(gè)支承底座、和/或?qū)⒅辽僖粋€(gè)支承底座設(shè)計(jì)為從標(biāo)定件上伸出的板。
根據(jù)權(quán)利要求5在這種情況下有利的是在標(biāo)定件的邊緣處設(shè)有至少一個(gè)支承底座。這樣,所述的至少一個(gè)支承底座保護(hù)標(biāo)定件的標(biāo)定區(qū)域不受外力的影響,并從而免于受損。這在環(huán)境惡劣的工業(yè)區(qū)中是非常重要的。
根據(jù)權(quán)利要求6通過(guò)一個(gè)U形或框架狀的支承底座設(shè)計(jì)能夠?yàn)闃?biāo)定區(qū)域提供特別有效的保護(hù)。另外,在這種情況下,支承底座提高了標(biāo)定件的機(jī)械強(qiáng)度,并且特別提高了薄弱的標(biāo)定區(qū)域的強(qiáng)度。還提高了標(biāo)定區(qū)域的尺寸穩(wěn)定性。
為了消除標(biāo)定件的上邊緣和下邊緣在檢測(cè)中的不確定性,根據(jù)權(quán)利要求7有利的是標(biāo)定件具有至少一個(gè)標(biāo)引??梢詫⒃摌?biāo)引設(shè)計(jì)為,例如孔、凹陷、銷釘或類似物,并且與攝像機(jī)檢測(cè)區(qū)域中相應(yīng)的標(biāo)引相互對(duì)應(yīng)。這樣能確保總是以相同的、可重復(fù)的方式設(shè)置標(biāo)定件。因此,可以清楚知道攝像機(jī)檢測(cè)到的標(biāo)定件結(jié)構(gòu)哪些屬于上邊緣哪些屬于下邊緣。。此時(shí)不需要將標(biāo)定區(qū)域的標(biāo)定件設(shè)計(jì)得很薄。
已經(jīng)證明根據(jù)權(quán)利要求8的標(biāo)定方法能夠有效地對(duì)攝像機(jī)進(jìn)行標(biāo)定。其中,在攝像機(jī)的視場(chǎng)內(nèi)設(shè)有至少一個(gè)前述的標(biāo)定件,并生成第 一 圖像。該圖像包括了標(biāo)定件的幾何數(shù)據(jù)以及基本上還是未知的攝像機(jī)成像函數(shù)。特別地,該成像函數(shù)由攝像機(jī)的位置和排布、以及攝像機(jī)鏡頭的焦距和定位來(lái)決定。只要標(biāo)定件的幾何性質(zhì)已知,就可以通過(guò)比較攝像機(jī)圖像與標(biāo)定件的幾何尺寸而計(jì)算出攝像機(jī)的放大率。另外,為了額外考慮到放大率與目標(biāo)厚度的相關(guān)性,對(duì)標(biāo)定件進(jìn)行轉(zhuǎn)動(dòng)并通過(guò)攝像機(jī)生成另一幅圖像。此時(shí),標(biāo)定件自身的幾何性質(zhì)并沒(méi)有任何變化。只不過(guò)標(biāo)定區(qū)域向攝像機(jī)移近了至少一個(gè)支承底座的長(zhǎng)度。根據(jù)與放大率相關(guān)的變化能夠隨即計(jì)算出目標(biāo)厚度的線性函數(shù)。當(dāng)生成了第一圖像時(shí),放大率對(duì)應(yīng)的目標(biāo)厚度為零,而當(dāng)生成了第二圖像時(shí),放大率對(duì)應(yīng)的目標(biāo)厚度為支承底座的長(zhǎng)度。因此,可以通過(guò)所述線性函數(shù)計(jì)算得出相應(yīng)于各期望目標(biāo)厚度的放大率。
根據(jù)權(quán)利要求9有利的是根據(jù)位置計(jì)算放大率。特別地,可以使標(biāo)定件具有若干穿孔或缺口 ,從而以這種方式使多個(gè)幾何特征位于攝像機(jī)的視場(chǎng)中。在這種情況下,即使是對(duì)變形的圖像,也可以通過(guò)這些不同的幾何特征進(jìn)行精確的標(biāo)定。此時(shí)基本可以忽略位置地確定厚度與放大率的相關(guān)性,這是因?yàn)榉糯舐实暮瘮?shù)基本與厚度以及位置無(wú)關(guān)。
為了能夠使用攝像機(jī)實(shí)行盡可能精確的光學(xué)檢測(cè),根據(jù)權(quán)利要求10有利的是當(dāng)標(biāo)定件的端面對(duì)攝像機(jī)來(lái)講并不可視時(shí),僅對(duì)攝像機(jī)圖像中的標(biāo)定件各個(gè)邊緣進(jìn)行測(cè)算。標(biāo)定件端面的可視性僅僅取決于各個(gè)端面與攝像機(jī)的相對(duì)位置。舉例而言,當(dāng)垂直于標(biāo)定件看,假如穿孔或缺口位于攝像機(jī)的左側(cè),那么通過(guò)攝像機(jī)只能觀測(cè)到穿孔或缺口的左端面。此時(shí),僅對(duì)攝像機(jī)圖像中的右端面進(jìn)行測(cè)算。與之對(duì)照,假如穿孔或缺口位于攝像機(jī)的右側(cè),則對(duì)穿孔或缺口的左邊緣進(jìn)行測(cè)算。對(duì)照而言,假如穿孔同時(shí)位于攝像機(jī)的左側(cè)和右側(cè), 一般來(lái)講兩個(gè)端面都不能進(jìn)行測(cè)算。在這種情況下,可以利用各個(gè)穿孔和/或缺口相鄰的邊緣。這樣可以確保在測(cè)算攝像機(jī)拍攝不到的標(biāo)定件下邊緣時(shí)不會(huì)出現(xiàn)誤差。


圖1示出了帶有攝像機(jī)的標(biāo)定件的立體圖示;
圖2示出了將如圖1所示的裝置的標(biāo)定件1旋轉(zhuǎn)后的情況;
圖3示出了如圖1所示的裝置的局部放大圖4為圖表;
圖5為標(biāo)定件的可選實(shí)施方式的圖示。
具體實(shí)施例方式
根據(jù)圖1所示的標(biāo)定件1優(yōu)選由鐵質(zhì)材料構(gòu)成,并設(shè)置在攝像機(jī)3的視場(chǎng)2內(nèi)。此時(shí),將攝像機(jī)3設(shè)計(jì)為線陣攝像機(jī),從而視場(chǎng)2為又長(zhǎng)又窄的矩形。
標(biāo)定件1具有中心標(biāo)定區(qū)域4,其中設(shè)有若干穿孔5。攝像機(jī)3能夠根據(jù)明顯的反差檢測(cè)到這些穿孔5。穿孔5的邊界具有已知的標(biāo)定長(zhǎng)度。借助于由攝像機(jī)3所記錄的圖像,可以從已知的標(biāo)定長(zhǎng)度6
和距離7來(lái)計(jì)算攝像機(jī)3在視場(chǎng)2內(nèi)的放大率。當(dāng)使用攝像機(jī)3對(duì)實(shí)物進(jìn)行拍攝時(shí),可以根據(jù)該放大率來(lái)計(jì)算該實(shí)物在攝像機(jī)3的視場(chǎng)2內(nèi)的精確尺寸。
標(biāo)定件1還具有支承底座8,該支承底座8圍繞標(biāo)定區(qū)域4呈框架狀延伸。所述支承底座8為標(biāo)定件1提供了有利的形狀穩(wěn)定性,因此可以將標(biāo)定區(qū)域4的壁厚設(shè)計(jì)得較薄。在本實(shí)施方式中,標(biāo)定區(qū)域4和支承底座8為獨(dú)立部件,然后再將其組裝在一起。作為選擇,所述標(biāo)定件1也可以是單體件。
在支承底座8的區(qū)域中,標(biāo)定件l具有兩個(gè)標(biāo)引22,該標(biāo)引22在根據(jù)圖1所示實(shí)例中純粹舉例地設(shè)計(jì)為鉆孔。作為選擇,也可以使用所需的任何其他形式的標(biāo)引,例如銷釘。標(biāo)引22確保了標(biāo)定件1能相對(duì)攝像機(jī)3可重復(fù)地精確定位,并且有助于對(duì)穿孔5的檢測(cè)。
圖2示出了將如圖l所示的裝置的標(biāo)定件l旋轉(zhuǎn)后的情況。由此,標(biāo)定件1擱置在支承底座8上。在這種設(shè)置中,攝像機(jī)3的標(biāo)定件1的標(biāo)定區(qū)域4更加接近支承底座8的高9。這對(duì)攝像機(jī)3的放大率產(chǎn)生了影響,從而能夠以這種方式來(lái)測(cè)定放大率與物體厚度的相關(guān)性。
圖3示出了如圖l或圖2所示的、具有分割的光路的裝置的局部放大剖視圖。特別地,從該圖中可以看到,標(biāo)定件1在標(biāo)定區(qū)域4內(nèi)具有較小的壁厚10。穿孔5的上邊緣11通過(guò)攝像機(jī)3的鏡頭在光電探測(cè)器13上形成第一圖像14。此時(shí)上述穿孔5的下邊緣15與上邊緣11非常近,以至于在當(dāng)前的放大率下,下邊緣15所提供的圖像與上邊緣11所提供的第一圖像14相同。從而,由穿孔5的上邊緣11和下邊緣15的檢測(cè)差異所導(dǎo)致的誤差至多為一個(gè)像素,也就是光電探測(cè)器13所能達(dá)到的精度。如果不必在各次應(yīng)用中都充分利用光電探測(cè)器13的分辨率,那么也可以容許上邊緣11和下邊緣15的圖像14有稍許差異。圖中右方所示的上邊緣16和下邊緣17的幾何比例關(guān)系與上述比例相同。
通過(guò)旋轉(zhuǎn)標(biāo)定件l,使得標(biāo)定區(qū)域4更加靠近攝像機(jī)3,這在圖
93中以虛線表示。此時(shí),上邊緣11和下邊緣15在光電探測(cè)器13上形成充分遠(yuǎn)離第一圖像14的第二圖像14,。此時(shí)重要的不是第一圖像14和第二圖像14,在光電探測(cè)器13上的絕對(duì)位置,而是攝像機(jī)圖像中的穿孔5的寬度。為了得到高的精度,優(yōu)選對(duì)盡可能相互遠(yuǎn)距離設(shè)置的穿孔5的間距進(jìn)行測(cè)量。另外,優(yōu)選對(duì)上邊緣ll、 16進(jìn)行測(cè)算,其相應(yīng)的下邊緣15、 17不在攝像機(jī)3的視場(chǎng)內(nèi)。
根據(jù)已知標(biāo)定件1的尺寸,通過(guò)第一圖像14和第二圖像14,,作為待測(cè)物的目標(biāo)厚度19的函數(shù)確定放大率18。此時(shí)第一圖像14對(duì)應(yīng)的厚度為零,而第二圖像14,對(duì)應(yīng)的厚度為高度9。這樣,圖4所示的圖表中具有兩個(gè)點(diǎn)20,這兩點(diǎn)20確定一個(gè)線性函數(shù)21??梢酝ㄟ^(guò)所述線性函數(shù)21得出各目標(biāo)厚度19相應(yīng)的放大率18,從而使攝像機(jī)3標(biāo)定于任何所需的目標(biāo)厚度。
圖5示出了如圖1所示的標(biāo)定件1的一種可選實(shí)施方式。在這種實(shí)施方式中,將支承底座8設(shè)計(jì)為中心支撐件,標(biāo)定區(qū)域4繞所述中心支撐件延伸。
參考標(biāo)號(hào)列表
1 標(biāo)定件
2 視場(chǎng)
3 攝像機(jī)
4 標(biāo)定區(qū)i或
5 穿孔
6 標(biāo)定長(zhǎng)度
8 支承底座
9 高度10壁厚11上邊緣12鏡頭
13光電探測(cè)器14第一圖像14,第二圖像15下邊緣16上邊緣17下邊緣18放大率19目標(biāo)厚度20點(diǎn)
21線性函數(shù)22標(biāo)引
權(quán)利要求
1.一種用于標(biāo)定攝像機(jī)(3)的放大率(18)的標(biāo)定件,其中,所述標(biāo)定件(1)具有至少一個(gè)標(biāo)定區(qū)域(4),在標(biāo)定區(qū)域(4)中設(shè)有至少一個(gè)可由攝像機(jī)(3)檢測(cè)的穿孔(5)和/或缺口,其特征在于,為了測(cè)定放大率(18)與目標(biāo)厚度(19)的相關(guān)性,所述標(biāo)定件(1)具有至少一個(gè)支承底座(8),該支承底座(8)的長(zhǎng)度(9)被如此選定,通過(guò)轉(zhuǎn)動(dòng)標(biāo)定件(1)并將其放置在至少一個(gè)支承底座(8)上,在攝像機(jī)圖像(14、14’)的放大率(18)中產(chǎn)生一個(gè)可測(cè)算的變化,其中,所述至少一個(gè)支承底座(8)的長(zhǎng)度(9)是標(biāo)定區(qū)域(4)中標(biāo)定件(1)的壁厚(10)的至少兩倍。
2,如權(quán)利要求1所述的標(biāo)定件,其特征在于,標(biāo)定區(qū)域(4)中 的標(biāo)定件(1 )的壁厚(10)這樣小,以至于穿孔(5)和/或缺口的 上邊緣(ll、 16)和下邊緣(15、 17)在攝像機(jī)圖像(14、 14,)上 產(chǎn)生的差異可以在標(biāo)定過(guò)程中忽略不計(jì)。
3. 如權(quán)利要求1或2所述的標(biāo)定件,其特征在于,標(biāo)定件(1 ) 在標(biāo)定區(qū)域(4)中的壁厚(10)至多為2毫米。
4. 如權(quán)利要求1至3中至少之一所述的標(biāo)定件,其特征在于, 至少一個(gè)支承底座(8)的長(zhǎng)度為至少IO毫米。
5. 如權(quán)利要求1至4中至少之一所述的標(biāo)定件,其特征在于, 在標(biāo)定件(1)的邊緣處設(shè)有至少一個(gè)支承底座(8)。
6. 如權(quán)利要求1至5中至少之一所述的標(biāo)定件,其特征在于, 至少一個(gè)支承底座(8)圍繞標(biāo)定區(qū)域(4)呈U形或框架狀延伸。
7. 如權(quán)利要求1至6中至少之一所述的標(biāo)定件,其特征在于, 其具有至少一個(gè)用于定位的標(biāo)引(22)。
8, 一種用于攝像機(jī)(3)的標(biāo)定方法,其中,在攝像機(jī)(3)的 視場(chǎng)(2)內(nèi)設(shè)有至少一個(gè)如權(quán)利要求1至7中至少之一所述的標(biāo)定 件(l),并生成第一圖像(14),其特征在于,隨后旋轉(zhuǎn)標(biāo)定件(l) 并借助于攝像機(jī)(3)生成第二圖像(14,),其中,通過(guò)兩幅圖像(14、連同已知的標(biāo)定件(1 )尺寸計(jì)算出放大率(18),所述放大率 (18)構(gòu)成目標(biāo)厚度(19)的放大率(18)的線性函數(shù)(21 )上的 兩點(diǎn),其中,利用預(yù)定目標(biāo)厚度(19),由線性函數(shù)(21)計(jì)算得 出各個(gè)的放大率(18)。
9. 如權(quán)利要求8所述的標(biāo)定方法,其特征在于,作為位置的函 數(shù)計(jì)算放大率(18)。
10. 如權(quán)利要求8或9所述的標(biāo)定方法,其特征在于,當(dāng)標(biāo)定件 (1)的端面對(duì)于攝像機(jī)(3)來(lái)講不可視時(shí),在攝像機(jī)(3)的圖像 (14、 16)中計(jì)算其邊緣(11、 16)。
全文摘要
一種用于標(biāo)定攝像機(jī)(3)的放大率的標(biāo)定件(1)。所述標(biāo)定件(1)具有至少一個(gè)標(biāo)定區(qū)域(4),在標(biāo)定區(qū)域(4)中設(shè)置有至少一個(gè)穿孔(5)或缺口。所述穿孔(5)或缺口可以通過(guò)攝像機(jī)進(jìn)行檢測(cè)。標(biāo)定區(qū)域(4)中的標(biāo)定件(1)足夠薄,從而穿孔(5)或缺口的上邊緣和下邊緣在檢測(cè)中產(chǎn)生的差異可以忽略不計(jì)。為了測(cè)定放大率的厚度相關(guān)性,所述標(biāo)定件(1)額外具有至少一個(gè)支承底座(8),該支承底座(8)的長(zhǎng)度(高度)(9)被如此選定,通過(guò)支承底座的長(zhǎng)度使攝像機(jī)圖像測(cè)量出的放大率產(chǎn)生一個(gè)可測(cè)算的變化。
文檔編號(hào)H04N5/247GK101494740SQ200910005549
公開(kāi)日2009年7月29日 申請(qǐng)日期2009年1月20日 優(yōu)先權(quán)日2008年1月21日
發(fā)明者哈特姆特·貝斯曼 申請(qǐng)人:得克斯瑪格有限責(zé)任公司貿(mào)易公司
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