專利名稱：一種對sdh性能進行統(tǒng)計的裝置與方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明屬于光傳輸系統(tǒng)對傳輸性能的監(jiān)視技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及一種對SDH(Synchronous Digital Hierarchy,同步數(shù)字系列)各種性能進行統(tǒng)計的裝置與方法。
背景技術(shù)：
傳輸系統(tǒng)是通信網(wǎng)的重要組成部分，傳輸系統(tǒng)的好壞直接制約著通信網(wǎng)的發(fā)展。當前世 界各國大力發(fā)展的信息高速公路，其中一個重點就是組建大容量的傳輸光纖網(wǎng)絡(luò)，不斷提高 傳輸線路上的信號速率，擴展傳輸頻帶。而信息高速公路最基本的單元就是由SDH設(shè)備構(gòu)成。 在SDH幀結(jié)構(gòu)中規(guī)定了豐富的網(wǎng)管字節(jié)，可提供滿足各種要求的能力，使得SDH系統(tǒng)運行 管理與維護測試的自動化程度很高。系統(tǒng)對傳輸性能的監(jiān)視能力是OAM(Operation,administration and maintenance,操作管理 維護)關(guān)鍵的技術(shù)指標之一，所謂性能監(jiān)視是指通過連續(xù)的和周期性的檢査來監(jiān)視被管理實 體，產(chǎn)生維護事件信息。所產(chǎn)生的維護事件信息表明當前被管理實體的性能狀態(tài)，如Bl誤 碼、指針調(diào)整等等。性能監(jiān)視的結(jié)果就是產(chǎn)生供管理實體讀取的性能統(tǒng)計數(shù)據(jù)。通常的性能統(tǒng)計實現(xiàn)電路可以簡單的劃分成兩個部分加法存儲電路和讀取清零電路。其工作包括兩個 相對獨立的過程a、統(tǒng)計過程對應(yīng)性能項產(chǎn)生統(tǒng)計的運算信號，觸發(fā)加法電路累加當前性 能值并存儲；b、讀取過程管理實體通過讀信號鎖存相應(yīng)的性能統(tǒng)計值后產(chǎn)生一個復(fù)位信號 將相應(yīng)的性能存儲單元清零，從而實現(xiàn)對性能的監(jiān)視。這種性能統(tǒng)計電路實現(xiàn)方法的優(yōu)點是簡單，但同時也存在一個明顯的缺陷，因為沒有保 護機制，統(tǒng)計過程和讀取過程同時發(fā)生時，導(dǎo)致性能統(tǒng)計過程沖突，造成統(tǒng)計值的失真，降低了性能統(tǒng)計的可靠性。針對這一缺陷，專利CN200510127404《一種對Bl誤碼進行統(tǒng)計的 裝置與方法》以Bl為實例，在現(xiàn)有電路的基礎(chǔ)上增加了一個讀取周期指示信號發(fā)生單元， 作為沖突保護電路用于在讀取周期時屏蔽統(tǒng)計過程的發(fā)生，并將當前被屏蔽的統(tǒng)計值累加過 程延時至讀取周期后進行，提高了 Bl誤碼性能統(tǒng)計的準確性；同時該專利將性能統(tǒng)計的加法運算過程分為多級來處理，解決了寬位累加器帶來的時序瓶頸效應(yīng)。從效果上來看，專利CN200510127404對SDH性能統(tǒng)計的方法進行了一定的完善， 一定 程度上提高了性能統(tǒng)計的可靠性。但是，該專利存在一個明顯的不足和應(yīng)用的局限性不足 之處表現(xiàn)在對性能統(tǒng)計過程中的沖突情況理解不夠全面，該專利只解決了在讀取過程中發(fā)生 性能統(tǒng)計請求的情況，卻沒有考慮到在性能統(tǒng)計過程中發(fā)生讀取請求的情況，這種情況同樣 會給B1的性能統(tǒng)計結(jié)果帶來偏差；其局限性則表現(xiàn)在該專利所提出的性能統(tǒng)計方法針對B1 等個別SDH性能統(tǒng)計項采用這種寄存器存儲的方法進行操作具有一定的可行性，如果SDH 中其它的所有性能項均采用該方法來實現(xiàn)，則會造成巨大的資源浪費，簡單計算一下， 一個 STM—1幀，需要統(tǒng)計的性能項包括Bl、 B2、 B3誤碼技術(shù)，指針增加、減小、新指針計數(shù)、 遠端性能計數(shù)等等，計為K項，假設(shè)每個性能項采用16bits寄存器來存儲，則一個STM一1幀 需要消耗的寄存器資源為16XK， 一個STM—64幀需要消耗的寄存器資源為64X16XK，加上 每個性能統(tǒng)計項都需要一個加法器所消耗的邏輯資源，這種方法帶來的資源消耗對于任何一 項應(yīng)用來說都是不可忽略的，必然帶來產(chǎn)品成本的大幅提升。發(fā)明內(nèi)容本發(fā)明的目的在于克服現(xiàn)有技術(shù)的不足，提供一種對SDH性能進行統(tǒng)計的裝置與方法。 該裝置能自動檢測和回避性能統(tǒng)計過程中存在的沖突，進一步提高SDH性能監(jiān)視的可靠性和 穩(wěn)定性；該方法充分利用SDH幀結(jié)構(gòu)具有周期性的特定，釆用分時復(fù)用的方法，用一套加法 電路實現(xiàn)對SDH所有性能統(tǒng)計項的加法運算，并采用邏輯芯片的內(nèi)部塊RAM資源替代寄存器 存儲性能統(tǒng)計數(shù)據(jù)，大大減少了 SDH性能統(tǒng)計部分對硬件資源的消耗。為解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明是通過以下技術(shù)方案實現(xiàn)的一種對SDH性能進行統(tǒng)計的裝置，包括輸入鎖存單元，用于鎖存STM一N幀產(chǎn)生的所有需要統(tǒng)計的性能項，使每個性能項在一 個SDH幀周期里面只改變一次，其中N為1、 4、 16或64;輪詢調(diào)度單元，接收輸入鎖存單元鎖存后的性能項，用于對各性能項進行輪詢產(chǎn)生申請性能統(tǒng)計運算的請求信號以及給出各性能項的存儲單元地址和等待標識性能項統(tǒng)計完成的回饋指示信號；復(fù)用控制單元，接收輪詢調(diào)度單元發(fā)出的統(tǒng)計調(diào)度的請求信號并向輪詢調(diào)度單元發(fā)出各 性能項統(tǒng)計完成的回饋指示信號，用于性能統(tǒng)計過程與讀取清零過程的復(fù)用控制，響應(yīng)輪詢調(diào)度單元申請的性能統(tǒng)計運算的請求信號并發(fā)出加法運算觸發(fā)指令以及響應(yīng)外界管理實體申 請的讀取清零過程并發(fā)出讀寫控制指令，提供性能統(tǒng)計運算和讀取清零過程在沖突情況下的 保護機制；加法運算單元，接收復(fù)用控制單元的加法運算觸發(fā)指令，完成對性能項的輸入值以及其 對應(yīng)的存儲值的累加運算；數(shù)據(jù)存儲單元，接收復(fù)用控制單元的讀寫控制指令并讀寫加法運算單元的數(shù)據(jù)，完成對 所有統(tǒng)計的性能項的存儲。一種對SDH性能進行統(tǒng)計的方法，包括如下步驟步驟一、輸入采樣輸入鎖存單元在一時間點采樣SDH所有需要統(tǒng)計的性能項的當前輸 入值，并鎖存作為本周期內(nèi)SDH需要統(tǒng)計的性能項輸入樣本；步驟二、輪詢調(diào)度輪詢調(diào)度單元檢測性能項的當前輸入值，如果當前輸入值為零，則 輪詢下一個輸入的性能項；否則，向復(fù)用控制單元產(chǎn)生性能統(tǒng)計運算指示信號，并同步給出 當前性能項的輸入值以及其對應(yīng)的存儲地址，等待復(fù)用控制單元統(tǒng)計操作完成的回饋信號后 結(jié)束當前性能項的調(diào)度，繼續(xù)輪詢下一個輸入的性能項；步驟三、復(fù)用控制復(fù)用控制單元響應(yīng)輪詢調(diào)度單元發(fā)起的性能統(tǒng)計運算請求；步驟四、加法運算加法運算單元從數(shù)據(jù)存儲單元中獲得已統(tǒng)計的性能項的存儲值并從 復(fù)用控制單元獲得該性能項的當前輸入值，并完成兩個數(shù)據(jù)的累加；步驟五、數(shù)據(jù)存儲數(shù)據(jù)存儲單元的接口信號在復(fù)用控制單元的指示控制下讀出或者寫 入性能項數(shù)據(jù)，將性能項對應(yīng)的存儲地址的存儲數(shù)據(jù)輸出到加法運算單元，并完成對所有統(tǒng) 計的性能項的存儲。所述步驟一中每次的輸入采樣的時間間隔為一個SDH幀周期。所述步驟二輪詢調(diào)度是每個SDH幀周期執(zhí)行一次，在步驟一執(zhí)行完成以后觸發(fā)啟動，完 成對所有輸入的性能項的調(diào)度后返回初始值等待下一次觸發(fā)。所述步驟三中在復(fù)用控制單元響應(yīng)輪詢調(diào)度單元發(fā)起的性能統(tǒng)計運算請求時，復(fù)用控制 單元根據(jù)輪詢調(diào)度單元給出的當前性能項的存儲地址，從數(shù)據(jù)存儲單元中讀出其相應(yīng)存儲值 到加法運算單元，觸發(fā)加法運算單元累加當前性能項的輸入值，然后加法運算單元將統(tǒng)計結(jié) 果寫回給數(shù)據(jù)存儲單元中該性能項對應(yīng)的存儲地址單元，并由復(fù)用控制單元向輪詢調(diào)度單元 給出表示當前性能項統(tǒng)計完成的回饋指示信號。所述步驟三中復(fù)用控制單元還響應(yīng)外界管理實體發(fā)起的讀取請求時，則管理實體發(fā)起的讀取請求優(yōu)先級將高于性能統(tǒng)計運算請求，復(fù)用控制單元將優(yōu)先響應(yīng)讀取請求操作，且讀取 請求操作將中斷性能統(tǒng)計運算過程。所述步驟三中在外界管理實體發(fā)起的讀取請求時，復(fù)用控制單元根據(jù)輪詢調(diào)度單元給出 的當前性能項的存儲地址，從數(shù)據(jù)存儲單元中將該當前性能項對應(yīng)的存儲地址單元的存儲值 輸出到數(shù)據(jù)存儲單元的讀取接口鎖存，然后向該存儲地址單元寫零，完成清零。所述歩驟三中外界管理實體發(fā)起讀取請求時，復(fù)用控制單元將中斷當前的性能統(tǒng)計過程 進入讀取過程，如果當前性能統(tǒng)計過程已給出統(tǒng)計完成的回饋信號，則當前讀取過程完成后 將不再進行當前性能項的統(tǒng)計過程，否則在當前讀取過程完成后將重新進行該被中斷的性能 項的統(tǒng)計過程。此保護機制保證了兩種操作過程在任何沖突情況下都不會對性能統(tǒng)計結(jié)果造 成影響。本發(fā)明的對SDH性能進行統(tǒng)計的裝置與方法具有以下有益效果本發(fā)明利用SDH幀所 有統(tǒng)計的性能項具有周期性的特點，引入輸入鎖存的方法，實現(xiàn)了對所有SDH要統(tǒng)計的性能 項進行復(fù)用統(tǒng)計，同步利用數(shù)據(jù)存儲單元RAM替代寄存器的方法來存儲性能統(tǒng)計數(shù)據(jù)，大 大節(jié)約了性能監(jiān)視部分對邏輯資源的消耗；另外在復(fù)用控制單元引入沖突保護機制，進一步 加強了性能統(tǒng)計過程的可靠性和穩(wěn)定性；本發(fā)明對于大容量SDH芯片設(shè)計的性能監(jiān)視部分具 有實用性和經(jīng)濟性。


圖1是SDH幀性能項時序關(guān)系圖；圖2是對SDH幀性能項采樣鎖存后的時序關(guān)系圖；圖3是本發(fā)明輪詢調(diào)度單元的關(guān)鍵信號示意圖；圖4是本發(fā)明復(fù)用控制單元的關(guān)鍵信號示意圖；圖5是本發(fā)明數(shù)據(jù)存儲單元的數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)圖；圖6是本發(fā)明裝置的實現(xiàn)結(jié)構(gòu)框圖。
具體實施方式
為了更好地理解本發(fā)明，下面結(jié)合附圖和具體實施例對本發(fā)明作進一步地描述。 請參閱圖l，該圖描述了 SDH幀結(jié)構(gòu)以及其性能項的時序特性。在圖1中，時間軸上示意性的標注了 SDH幀的幀頭和部分性能字節(jié)位置的時序關(guān)系特性FP表示SDH系統(tǒng)幀頭， Bl、 Ml為段開銷，Al表示AU指針字節(jié)位置。作為一個嚴格的同步系統(tǒng)，SDH的STM—n 幀傳輸具有125us的周期特性，所以，對于系統(tǒng)幀頭以及各種開銷位置也相應(yīng)具有同樣的周 期性。系統(tǒng)性能監(jiān)視即是通過記錄一段時間內(nèi)每個性能項在一個周期內(nèi)的變化情況，例如性 能項B1誤碼個數(shù)，Bl誤碼隨B1字節(jié)位置每周期改變一次，如圖1中的"Bl性能"，性能 統(tǒng)計裝置只要在一個周期內(nèi)對其進行一次統(tǒng)計操作，在一個周期內(nèi)的統(tǒng)計操作點可以隨意， 下次管理實體讀取的Bl誤碼性能值即兩次讀取時間間隔內(nèi)Bl的誤碼情況；如圖1所示，"PJ 性能(指針正調(diào)整)"、"Ml性能"具有同樣特性。請參閱圖2，該圖描述了以系統(tǒng)幀頭FP為例作為本發(fā)明中輸入鎖存單元的采樣鎖存信號 時，分別對圖1中示例輸入性能"Bl性能"、"PJ性能"以及"Ml性能"進行采樣鎖存后的 性能項時序變化特性。如圖2所示，采樣鎖存后輸入的性能項的特性和圖1中輸入的性能項 的特性比較，輸入的性能項的值變化點全部同歩到了系統(tǒng)幀頭FP的位置，周期性和對應(yīng)性能 值仍然保持不變。這些采樣鎖存后的性能項，作為輪詢調(diào)度單元的輸入變量，只要輪詢調(diào)度 單元在一個SDH周期內(nèi)完成一次對所有輸入項的輪詢，即可保證性能統(tǒng)計的完整性和準確 性。作為本發(fā)明裝置的一個重要組成部分，圖3給出了輪詢調(diào)度單元的關(guān)鍵信號示意圖。請 結(jié)合參閱圖3和圖6，輪詢調(diào)度單元2左側(cè)的"in—x—latched"為圖2中描述的輸入性能項經(jīng) 采樣鎖存以后的性能項輸入變量，右側(cè)則是與復(fù)用控制單元3的接口信號。采樣鎖存信號延 時一拍作為輪詢調(diào)度單元2啟動一次輪詢調(diào)度的觸發(fā)信號，輪詢調(diào)度單元2從第一個輸入的 性能項開始，首先判斷當前輸入的性能項的輸入值是否為零，如果當前輸入值為零，則表示 當前性能項無需統(tǒng)計，輪詢調(diào)度單元2將直接檢測下一個輸入的性能項的輸入值，依次輪詢； 如果當前輸入的性能項的輸入值不為零，則向復(fù)用控制單元3發(fā)出"st—req"性能統(tǒng)計運算請 求信號，同時將當前性能項的輸入值"in—i—latched"以及該當前性能項在數(shù)據(jù)存儲單元5中 的存儲地址"st—addr"送給復(fù)用控制單元3，其中存儲地址"st—addr"值一個最為簡單的實現(xiàn) 方法是采用輪詢調(diào)度中的計數(shù)器值，即第i個性能項其對應(yīng)存儲地址為i;輪詢調(diào)度單元2在 發(fā)出"st—req"后，即進入等待狀態(tài)，直至"st一ack"反饋有效指示，結(jié)束當前性能項的統(tǒng)計， 繼續(xù)輪詢下一個變量；當輪詢調(diào)度單元2完成對所有輸入的性能項的輪詢調(diào)度后，則輪詢調(diào) 度單元2的計數(shù)器回歸初始值，等待采樣鎖存信號的下一次觸發(fā)。復(fù)用控制單元是本發(fā)明的核心部分，圖4給出了復(fù)用控制單元的關(guān)鍵信號示意圖。請結(jié)合參閱圖4和圖6，復(fù)用控制單元3左側(cè)是分別與輪詢調(diào)度單元2接口信號"St_req"、" st—addr"、 "st_ack"，以及與管理實體讀取訪問的接口 "cpu—rd"、 "cpu—cs";復(fù)用控制單元3右側(cè)的 "clr_Sd"用于寫入數(shù)據(jù)存儲單元5的數(shù)據(jù)選擇信號性能項的統(tǒng)計值或者讀取以后的零值， 由加法運算單元4的選擇器401選擇；"st—rd"連接數(shù)據(jù)存儲單元5的讀使能，"st—wr"連接 數(shù)據(jù)存儲單元5的寫使能，"st—wr_addr"為性能統(tǒng)計操作地址，"addr—switch"用于數(shù)據(jù)存儲 單元5的操作地址選擇性能統(tǒng)計操作地址"st—wr—addr"或者管理實體讀取訪問的地址，由 復(fù)用控制單元3的選擇器301選擇。復(fù)用控制單元3分別接收輪詢調(diào)度單元2發(fā)出的性能統(tǒng) 計運算請求和管理實體發(fā)出的讀取清零請求，在兩者操作過程不發(fā)生沖突時，各自請求按正 常流程完成其對應(yīng)的操作性能統(tǒng)計和讀取清零。當兩種請求同時發(fā)生時，管理實體發(fā)起的 讀取請求優(yōu)先級高，復(fù)用控制單元3將優(yōu)先響應(yīng)讀取請求操作，且讀取請求操作能中斷性能 統(tǒng)計過程，被中斷統(tǒng)計的性能項有兩種可能， 一是在向輪詢調(diào)度單元2給出有效的表示統(tǒng)計 完成的回饋信號"st—ack"前被中斷，則該性能項統(tǒng)計操作未完成，在讀取清零過程完成后將 重新進行統(tǒng)計操作過程；二是在向輪詢調(diào)度單元2給出統(tǒng)計完成的回饋信號"st—ack"時被中 斷，則該性能項統(tǒng)計操作己完成，讀取過程對該統(tǒng)計過程不會產(chǎn)生影響。此沖突保護機制保 證了性能監(jiān)視過程的完整性和準確性。圖5描述了數(shù)據(jù)存儲單元的數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)。示例中的數(shù)據(jù)位寬為16bits，性能項的存儲地址 由輪詢調(diào)度單元的調(diào)度算法決定；圖6給出了本發(fā)明的對SDH性能進行統(tǒng)計的裝置的實現(xiàn)結(jié) 構(gòu)框圖，其對SDH性能進行統(tǒng)計的方法流程如下a、 輸入鎖存單元1利用與SDH幀傳送同步的采樣信號實現(xiàn)對所有輸入的性能項的鎖存， 將所有輸入的性能項同步到同一個采樣點上；b、 輪詢調(diào)度單元2在采樣信號的觸發(fā)下，啟動一個SDH周期內(nèi)對所有輸入的性能項的 調(diào)度檢測當前輸入的性能項的值，如果為零，則直接輪詢下一個輸入變量值；如果不為零， 則發(fā)出統(tǒng)計請求，并等待統(tǒng)計過程完成的回饋指示信號；c、 復(fù)用控制單元3接收到輪詢調(diào)度單元的統(tǒng)計請求后，根據(jù)其請求地址讀出其存儲值， 與當前輸入值在加法運算單元4完成累加以后，寫回給數(shù)據(jù)存儲單元5中該性能項的存儲地 址，并向輪詢調(diào)度單元2發(fā)出當前統(tǒng)計的性能項完成的回饋指示信號；d、 輪詢調(diào)度單元2接收到統(tǒng)計過程完成的回饋指示信號以后，結(jié)束其等待狀態(tài)，繼續(xù)輪 詢下一個輸入變量值，重復(fù)歩驟b和步驟c的過程，直至全部輸入的性能項輪詢完畢，輪詢 調(diào)度單元2返回初始狀態(tài)，等待下一次采樣信號的觸發(fā)；e、 復(fù)用控制單元3接收到管理實體(cpu)的讀取請求后，根據(jù)其請求地址讀出其存儲 值，輸出到數(shù)據(jù)存儲單元5的讀取接口鎖存，然后往其對應(yīng)的存儲地址單元寫入零值，完成 清零操作；f、 復(fù)用控制單元3接收到管理實體的讀取請求時，如果復(fù)用控制單元3正在進行性能統(tǒng) 計操作過程，則復(fù)用控制單元3將中斷當前的性能統(tǒng)計過程進入讀取過程；如果當前性能統(tǒng) 計過程已給出表示統(tǒng)計完成的回饋信號，則表示當前統(tǒng)計過程已正常完成，當前讀取過程完 成后將不再進行當前性能項的統(tǒng)計過程，否則在當前讀取過程完成后將重新進行該被中斷的 性能項的統(tǒng)計過程。以上所述僅為本發(fā)明的較佳實施例，并不用以限制本發(fā)明，應(yīng)當指出，對于本領(lǐng)域的普 通技術(shù)人員來說，凡是本發(fā)明的精神和原則之內(nèi)所作的任何修改、等同替換或改進等，均應(yīng) 包含在本發(fā)明的保護范圍之內(nèi)。
權(quán)利要求
1.一種對SDH性能進行統(tǒng)計的裝置，其特征在于，包括輸入鎖存單元，用于鎖存STM_N幀產(chǎn)生的所有需要統(tǒng)計的性能項，使每個性能項在一個SDH幀周期里面只改變一次，其中N為1、4、16或64；輪詢調(diào)度單元，接收輸入鎖存單元鎖存后的性能項，用于對各性能項進行輪詢產(chǎn)生申請性能統(tǒng)計運算的請求信號以及給出各性能項的存儲單元地址和等待標識性能項統(tǒng)計完成的回饋指示信號；復(fù)用控制單元，接收輪詢調(diào)度單元發(fā)出的統(tǒng)計調(diào)度的請求信號并向輪詢調(diào)度單元發(fā)出各性能項統(tǒng)計完成的回饋指示信號，用于性能統(tǒng)計過程與讀取清零過程的復(fù)用控制，響應(yīng)輪詢調(diào)度單元申請的性能統(tǒng)計運算的請求信號并發(fā)出加法運算觸發(fā)指令以及響應(yīng)外界管理實體申請的讀取清零過程并發(fā)出讀寫控制指令，提供性能統(tǒng)計運算和讀取清零過程在沖突情況下的保護機制；加法運算單元，接收復(fù)用控制單元的加法運算觸發(fā)指令，完成對性能項的輸入值以及其對應(yīng)的存儲值的累加運算；數(shù)據(jù)存儲單元，接收復(fù)用控制單元的讀寫控制指令并讀寫加法運算單元的數(shù)據(jù)，完成對所有統(tǒng)計的性能項的存儲。
2. —種對SDH性能進行統(tǒng)計的方法，其特征在于，包括如下步驟步驟一、輸入采樣輸入鎖存單元在一時間點采樣SDH所有需要統(tǒng)計的性能項的當前輸 入值，并鎖存作為本周期內(nèi)SDH需要統(tǒng)計的性能項輸入樣本；步驟二、輪詢調(diào)度輪詢調(diào)度單元檢測性能項的當前輸入值，如果當前輸入值為零，則 輪詢下一個輸入的性能項；否則，向復(fù)用控制單元產(chǎn)生性能統(tǒng)計運算指示信號，并同步給出 當前性能項的輸入值以及其對應(yīng)的存儲地址，等待復(fù)用控制單元統(tǒng)計操作完成的回饋信號后 結(jié)束當前性能項的調(diào)度，繼續(xù)輪詢下一個輸入的性能項；步驟三、復(fù)用控制復(fù)用控制單元響應(yīng)輪詢調(diào)度單元發(fā)起的性能統(tǒng)計運算請求；步驟四、加法運算加法運算單元從數(shù)據(jù)存儲單元中獲得已統(tǒng)計的性能項的存儲值并從 復(fù)用控制單元獲得該性能項的當前輸入值，并完成兩個數(shù)據(jù)的累加；步驟五、數(shù)據(jù)存儲數(shù)據(jù)存儲單元的接口信號在復(fù)用控制單元的指示控制下讀出或者寫 入性能項數(shù)據(jù)，將性能項對應(yīng)的存儲地址的存儲數(shù)據(jù)輸出到加法運算單元，并完成對所有統(tǒng)計的性能項的存儲。
3. 根據(jù)權(quán)利要求2所述的對SDH性能進行統(tǒng)計的方法，其特征在于，所述步驟一中每 次的輸入采樣的時間間隔為一個SDH幀周期。
4. 根據(jù)權(quán)利要求3所述的對SDH性能進行統(tǒng)計的方法，其特征在于，所述步驟二輪詢 調(diào)度是每個SDH幀周期執(zhí)行一次，在步驟一執(zhí)行完成以后觸發(fā)啟動，完成對所有輸入的性能 項的調(diào)度后返回初始值等待下一次觸發(fā)。
5. 根據(jù)權(quán)利要求4所述的對SDH性能進行統(tǒng)計的方法，其特征在于，所述歩驟三中在 復(fù)用控制單元響應(yīng)輪詢調(diào)度單元發(fā)起的性能統(tǒng)計運算請求時，復(fù)用控制單元根據(jù)輪詢調(diào)度單 元給出的當前性能項的存儲地址，從數(shù)據(jù)存儲單元中讀出其相應(yīng)存儲值到加法運算單元，觸 發(fā)加法運算單元累加當前性能項的輸入值，然后加法運算單元將統(tǒng)計結(jié)果寫回給數(shù)據(jù)存儲單 元中該性能項對應(yīng)的存儲地址單元，并由復(fù)用控制單元向輪詢調(diào)度單元給出表示當前性能項 統(tǒng)計完成的回饋指示信號。
6. 根據(jù)權(quán)利要求5所述的對SDH性能進行統(tǒng)計的方法，其特征在于，所述步驟三中復(fù) 用控制單元還響應(yīng)外界管理實體發(fā)起的讀取請求時，復(fù)用控制單元將優(yōu)先響應(yīng)讀取請求操作， 且讀取請求操作將中斷性能統(tǒng)計運算過程。
7. 根據(jù)權(quán)利要求6所述的對SDH性能進行統(tǒng)計的方法，其特征在于，所述步驟三中在 外界管理實體發(fā)起的讀取請求時，復(fù)用控制單元根據(jù)輪詢調(diào)度單元給出的當前性能項的存儲 地址，從數(shù)據(jù)存儲單元中將該當前性能項對應(yīng)的存儲地址單元的存儲值輸出到數(shù)據(jù)存儲單元 的讀取接口鎖存，然后向該存儲地址單元寫零，完成清零。
8. 根據(jù)權(quán)利要求7所述的對SDH性能進行統(tǒng)計的方法，其特征在于，所述步驟三中外 界管理實體發(fā)起讀取請求時，復(fù)用控制單元將中斷當前的性能統(tǒng)計過程進入讀取過程，如果 當前性能統(tǒng)計過程已給出統(tǒng)計完成的回饋信號，則當前讀取過程完成后將不再進行當前性能 項的統(tǒng)計過程，否則在當前讀取過程完成后將重新進行該被中斷的性能項的統(tǒng)計過程。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種對SDH性能進行統(tǒng)計的裝置與方法。該裝置包括輸入鎖存單元、輪詢調(diào)度單元、復(fù)用控制單元、加法運算單元和數(shù)據(jù)存儲單元，能自動檢測和回避性能統(tǒng)計過程中存在的沖突，進一步提高SDH性能監(jiān)視的可靠性和穩(wěn)定性。該方法利用SDH幀所有統(tǒng)計的性能項具有周期性的特點，引入輸入鎖存的方法，實現(xiàn)了對所有SDH要統(tǒng)計的性能項進行復(fù)用統(tǒng)計，同步利用數(shù)據(jù)存儲單元RAM替代寄存器的方法來存儲性能統(tǒng)計數(shù)據(jù)，大大節(jié)約了性能監(jiān)視部分對邏輯資源的消耗；另外，在復(fù)用控制單元引入沖突保護機制，進一步加強了性能統(tǒng)計過程的可靠性和穩(wěn)定性。本發(fā)明對于大容量SDH芯片設(shè)計的性能監(jiān)視部分具有實用性和經(jīng)濟性。
文檔編號H04L12/26GK101325516SQ200810067299
公開日2008年12月17日 申請日期2008年8月5日 優(yōu)先權(quán)日2008年8月5日
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