專利名稱：影像快速自動對位的自動光學(xué)系統(tǒng)及其使用方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種影像快速自動對位的自動光學(xué)系統(tǒng)及其使用方法， 其兼顧對位效率佳、具有校正補償機制，以及適用于各種對位影像等優(yōu)點。
背景技術(shù)：
傳統(tǒng)應(yīng)用于自動化生產(chǎn)在線的對位系統(tǒng)，至少有以下數(shù)種
1、 使用灰度累積法對環(huán)形、矩形標(biāo)志定位。如圖1所示，此系統(tǒng)為
Epson STN-LCD生產(chǎn)線的對準(zhǔn)系統(tǒng)，使用的定位標(biāo)志為環(huán)形與點標(biāo)志，是 利用二值化后的影像進(jìn)行灰階亮度累積統(tǒng)計，計算出標(biāo)志影像中心坐標(biāo)； 其中心點計算方式為先將影像二值化后，分別對X、 Y方向做灰階亮度統(tǒng) 計，找出標(biāo)志位置，再套入幾何關(guān)系取得對準(zhǔn)信息；
此一方式由于是對影像作累積統(tǒng)計，故若標(biāo)志影像間相互交錯迭 合時，即無法應(yīng)用，因此在定位過程中無法做位置回授監(jiān)控，容易出錯。
2、 使用交叉相關(guān)系數(shù)標(biāo)志定位法。臺大Mu-Hsing Wu于2000年對
LCD檢測系統(tǒng)中的彩色濾光片缺陷檢測這個步驟提出應(yīng)用交叉相關(guān)系數(shù)
法則(Cross Correlation)進(jìn)行標(biāo)志定位，進(jìn)而與系統(tǒng)影像進(jìn)行匹配比對；
其采用十字樣版做位置與角度校正(如圖2所示)，此法需先取得此標(biāo)志
偏轉(zhuǎn)角度，以得到彩色濾光片偏轉(zhuǎn)角度，再找出圖2中標(biāo)示的e角，將
其帶入下述公式
^cos^ — sin^、 、sin^cos0」
以進(jìn)行補償影像誤差與偏移量，將影像調(diào)整回來； 至于其角度補償步驟是先使用正?；徊嫦嚓P(guān)系數(shù)(Normalized Cross Correlation)對整張影像進(jìn)行計算，求出相關(guān)系數(shù)(Correlation
V少Coefficient),以找出矩形區(qū)域上部兩角落(如圖3所示)，再圈選出上 矩形邊界區(qū)塊，針對此區(qū)塊進(jìn)行線性回歸法，求得邊界線段信息，以求 得此標(biāo)志偏轉(zhuǎn)角度，但是，其過程相當(dāng)復(fù)雜。
3、使用重心法。傳統(tǒng)運用于十字定位的"重心法"，是將擷取到的 標(biāo)志影像其所有X方向坐標(biāo)與Y方向坐標(biāo)分別累加后進(jìn)行平均動作；如
m 附 ，X ，乂
圖4所示，此影像中心點坐標(biāo)(X。，Y。)"^， ^二)，其中m為標(biāo)志的總
附
像素，Xi、 yi分別為各像素的X、 Y坐標(biāo)值；
由于運用重心法求取影像中心時，此影像需十分的完整與對稱， 如此求取出的標(biāo)志中心才精準(zhǔn)，但因攝影機鏡頭的良莠不齊、擺設(shè)角度 偏移，或是攝影機擷取的影像不完整，均會使計算結(jié)果產(chǎn)生誤差；以鏡 頭質(zhì)量為例，若鏡頭有像差的現(xiàn)象，如畸變等，使得擷取的影像產(chǎn)生扭 曲變形，再加上攝影機未以平行正中位置取像，導(dǎo)致影像偏移，扭曲量 不平均，則以重心法求取標(biāo)志中心會導(dǎo)致計算的結(jié)果產(chǎn)生誤差。
因此，有必要研發(fā)出可解決上述現(xiàn)有裝置問題的新技術(shù)。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明所要解決的主要技術(shù)問題在于，克服現(xiàn)有技術(shù)存在的上述缺 陷，而提供一種影像快速自動對位的自動光學(xué)系統(tǒng)及其使用方法，其對 位效率佳，具有校正補償機制，且適用于各種對位影像。
本發(fā)明解決其技術(shù)問題所采用的技術(shù)方案是
本發(fā)明提供一種影像快速自動對位的自動光學(xué)系統(tǒng)，是至少包括一 可程序邏輯控制器、 一中央處理器-可程序邏輯控制器、 一異方性導(dǎo)電膠 貼附裝置、 一異方性導(dǎo)電膠剝除裝置、 一加熱裝置、 一加壓裝置、 一內(nèi) 部程序通訊模塊、 一壓力檢測裝置通訊模塊以及一感光耦合組件影像控 制定位裝置，其設(shè)有至少兩個感光耦合組件攝影機；
借此，該感光耦合組件攝影機擷取一 目標(biāo)樣板及位于該目標(biāo)樣板上 的目標(biāo)影像，先設(shè)定該目標(biāo)樣板的預(yù)定忽略灰階值及其分布范圍，再設(shè) 定該目標(biāo)樣板的預(yù)定的特征權(quán)重矩陣；之后對此系統(tǒng)加載一待測樣板及位于其上的待測影像；以該中央處理器-可程序邏輯控制器比對該目標(biāo)影 像與該待測影像，依計算該待測樣板及該待測影像的區(qū)域灰階值所得數(shù) 值，自動調(diào)整該目標(biāo)樣板及該目標(biāo)影像的亮度及對比度，使其接近該待 測樣板及待測影像的預(yù)定值，并將進(jìn)行線性回歸計算后取得的待測樣板 的直線方程式與取樣點比較判斷，去除與直線方程式距離超過一預(yù)設(shè)閥 值的取樣點，當(dāng)所有取樣點均判斷完畢，再以剩余的取樣點計算二次線 性回歸直線方程式，得到校正后的基準(zhǔn)線；
將與該基準(zhǔn)線互相垂直/平行的其余邊線，分別朝該基準(zhǔn)線作九十度 旋轉(zhuǎn)、 一百八十度映射/平移，對該基準(zhǔn)線進(jìn)行取樣點補償運算；使原始 點群組總個數(shù)k，變成k， =k+i,增加取樣點數(shù)，并將此點群組進(jìn)行第三 次線性回歸計算，求得補償后的待測影像的邊線；進(jìn)而求出更精準(zhǔn)的待 測影像的定位中心；達(dá)到于該待測樣板上比對得到吻合的目標(biāo)樣板；
最后以該異方性導(dǎo)電膠貼附裝置、該異方性導(dǎo)電膠剝除裝置、該加 熱裝置及該加壓裝置相互配合，將該目標(biāo)樣板與待測樣板相互加熱加壓 接合成品。
其使用方法包括下列步驟
一. 準(zhǔn)備步驟；
二. 載入步驟；
三. 調(diào)整步驟；
四. 校正補償比對步驟；以及
五. 完成步驟。
本發(fā)明的有益效果是，其對位效率佳，具有校正補償機制，且適用 于各種對位影像。


下面結(jié)合附圖和實施例對本發(fā)明進(jìn)一步說明。
圖1是現(xiàn)有對位系統(tǒng)的標(biāo)志對位法的垂直與水平灰階亮度統(tǒng)計的示
意圖
圖2是現(xiàn)有對位系統(tǒng)應(yīng)用交叉相關(guān)(Cross Correlation)計算標(biāo)志偏
移量的示意3是現(xiàn)有對位系統(tǒng)應(yīng)用相關(guān)系數(shù)(Correlation Coefficient)找出 矩形影像的兩角落點與框選出邊界的示意圖
圖4是現(xiàn)有對位系統(tǒng)以重心法求取中點的示意圖
圖5是本發(fā)明的流程示意圖
圖6是本發(fā)明的自動對位過程的示意圖
圖7、圖8及圖9是本發(fā)明的以線性回歸法求十字影像、圓形影像的 中心的過程示意圖
圖10及圖11是本發(fā)明的以線性回歸法求四角影像、環(huán)形影像的中 心的過程示意圖
圖12是本發(fā)明的以線性回歸法求矩形影像的中心的過程示意圖 圖13是本發(fā)明的水平點群組P3k進(jìn)行線性回歸的示意圖 圖14是本發(fā)明的垂直點群組Pii進(jìn)行線性回歸的示意圖 圖15是本發(fā)明的校正機制的示意圖
圖16是本發(fā)明的十字、圓形影像進(jìn)行線性回歸誤差校正的示意圖 圖17是本發(fā)明的四角、環(huán)形影像進(jìn)行線性回歸誤差校正的示意圖 圖18是本發(fā)明的矩形影像進(jìn)行線性回歸誤差校正的示意圖 圖19是本發(fā)明的以十字、四角或矩形影像為例進(jìn)行線性回歸誤差校 正的各線段相互垂直的示意圖
圖20是本發(fā)明的以十字、圓形影像進(jìn)行補償過程的示意圖
圖21是本發(fā)明的以十字、圓形影像進(jìn)行補償后的示意圖
圖22是本發(fā)明的以四角、環(huán)形影像進(jìn)行補償過程的示意圖
圖23是本發(fā)明的以四角、環(huán)形影像進(jìn)行補償后的示意圖
圖24是本發(fā)明的以矩形影像進(jìn)行補償過程的示意圖
圖25是本發(fā)明的以矩形影像進(jìn)行補償后的示意圖
圖26是本發(fā)明的比對搜尋時間紀(jì)錄表
圖27是本發(fā)明的改良型樣板比對搜尋時間統(tǒng)計圖
圖28是本發(fā)明的系統(tǒng)的基本架構(gòu)的示意圖
圖29是圖28的部分結(jié)構(gòu)的放大示意中標(biāo)號說明
ll準(zhǔn)備步驟 12載入步驟
13調(diào)整步驟 14校正補償比對步驟
15完成步驟 16組合步驟
21可程序邏輯控制器 22中央處理器-可程序邏輯控制器 23異方性導(dǎo)電膠貼附裝置 24異方性導(dǎo)電膠剝除裝置 25加熱裝置 26加壓裝置
27內(nèi)部程序通訊模塊 28壓力檢測裝置通訊模塊
29感光耦合組件影像控制定位裝置 291感光耦合組件攝影機 91目標(biāo)樣板
911目標(biāo)影像 92待測樣板 921待測影像 Sl、 S2、 S3、 S4角落點
Zl、 Z2、 Z3、 Z4掃瞄區(qū)塊 Li、 Li，、 L2、 L2，、 L3、 L3，、 L4、 L4， 線段
具體實施例方式
本發(fā)明為一種『影像快速自動對位的自動光學(xué)系統(tǒng)及其使用方法』， 有關(guān)其使用方法部分(如圖2及圖6所示)，包括下列步驟
一.準(zhǔn)備步驟ll:預(yù)先準(zhǔn)備一目標(biāo)樣板91(如圖28及圖29所示)， 該目標(biāo)樣板91上具有至少一個目標(biāo)影像911，將該目標(biāo)樣板91定義為 Ti，j，k(p，q)，其大小為PQ， l《i《3， 1《p《P， 1《q《Q，并設(shè)定該目標(biāo) 樣板91的預(yù)定忽略灰階值及其分布范圍；再設(shè)定該目標(biāo)樣板91的預(yù)定 的特征權(quán)重矩陣；
設(shè)一感光耦合組件(Charge Coupled Device,簡稱CCD)影像控制 定位裝置21擷取該目標(biāo)樣板91，并傳入一中央處理器-可程序邏輯控制 器(Central Processing Unit -Programmable Logic Controller ， 簡 稱CPU-PLC)22內(nèi)，由其內(nèi)建程序?qū)υ撃繕?biāo)樣板91及該目標(biāo)影像911進(jìn)行掃描(如圖7所示)；
二. 載入步驟12:加載一預(yù)定的待測樣板92，并將該待測樣板92 定義為Ii(x，y)，大小為麗，l《i《3，該待測樣板92對應(yīng)該目標(biāo)影像 911而具有一待測影像921;
三. 調(diào)整步驟13:依計算該待測影像921的區(qū)域灰階值所得數(shù)值， 自動調(diào)整該目標(biāo)影像911的亮度及對比度至接近該待測影像921的預(yù)定 值，以線性回歸法取得該待測影像921的邊線，再由邊線求出該待測影 像921的中心；
四. 校正補償比對步驟14:由該中央處理器-可程序邏輯控制器22 比對該目標(biāo)影像911與該待測影像921，將該待測影像921以線性回歸法 求得的基準(zhǔn)線中，其偏差量超過一預(yù)定閥值的誤差點刪除，并進(jìn)行二次 線性回歸而得到校正后的基準(zhǔn)線(參考圖22)，將該待測影像921的其余 邊線分別朝該基準(zhǔn)線作九十度旋轉(zhuǎn)、 一百八十度映射/平移，進(jìn)行取樣點 補償運算；使原始點群組總個數(shù)k'變成k' =k+i，增加取樣點數(shù)，并將 此點群組進(jìn)行第三次線性回歸后，求得補償后更精準(zhǔn)的待測影像的邊線； 進(jìn)而求出更精準(zhǔn)的待測影像921的定位中心；
五. 完成步驟15:于該待測影像921上比對得到吻合的目標(biāo)影像911。 如此為本發(fā)明的影像快速自動對位的自動光學(xué)系統(tǒng)的使用方法。 該目標(biāo)樣板91是選自導(dǎo)電玻璃、薄膜晶體管(ThinFilmTransistor，
簡稱TFT)、異方性導(dǎo)電膠膜(Anisotropic Conductive Film,簡稱ACF) 其中的一種。
該待測樣板92是選自異方性導(dǎo)電膠膜(Anisotropic Conductive Film,簡稱ACF)、薄膜晶體管(ThinFilmTransistor，簡稱TFT)、導(dǎo)電
玻璃其中之一。
當(dāng)然，若將本發(fā)明實施于TFT與ACF組合制程，則于該完成步驟15 后，又可以再包括
六. 組合步驟16:將一異方性導(dǎo)電膠的一面貼附于一導(dǎo)電玻璃上( 氧化銦錫，英文為indium tin oxide,簡稱IT0);再將該異方性導(dǎo)電膠另一面的保護膜剝除;然后將一集成電路(integrated circuit,簡稱IC)
對準(zhǔn)玻璃基板的氧化銦錫導(dǎo)電金屬層;并進(jìn)行加熱、加壓完成構(gòu)裝接合。 實際上，在該調(diào)整步驟13中，當(dāng)該感光耦合組件影像控制定位裝置 29擷取該目標(biāo)樣板91，并傳入一 中央處理器-可程序邏輯控制器22后， 其內(nèi)建程序?qū)υ撃繕?biāo)影像911掃描出四個角落點St、 S2、 S3、 S4(如圖7所 示，假設(shè)為目標(biāo)影像911為十字標(biāo)志)，視為該目標(biāo)影像911的邊界點， 對此目標(biāo)影像911分別進(jìn)行垂直掃描及水平掃瞄；分別找出該垂直線中 心點坐標(biāo)群組Pu(Xi,yi),以及水平線中心點坐標(biāo)群組P3k(Xk，yk)，其中， i為所有垂直線中心點總個數(shù)，k為所有水平線中心點總個數(shù)；
該中央處理器-可程序邏輯控制器22的內(nèi)建程序會分別對垂直線 中心點坐標(biāo)群組P"Xi， yi)，以及水平線中心點坐標(biāo)群組P3k(xk， yk)進(jìn)行線 性回歸計算(如圖8所示)，如此對該中心點群組Pu(Xi， y》計算出一線段 Lu并對該中心點群組P3k(Xk，yk)計算出一線段L3，此線段L,及線段U分 別代表該目標(biāo)影像911 (十字標(biāo)志)的水平與垂直方向中心線，中心線交點 即為此目標(biāo)影像911的中心點(Xc， Yc)，由U U的線性方程式可知目標(biāo)影 像(也可以講是十字影像)911偏轉(zhuǎn)量，如此即可對此十字影像(如圖7及 圖8所示)或圓形影像(如圖9所示)進(jìn)行定位動作，亦即，只需取得該目 標(biāo)影像911的中心線數(shù)值即可進(jìn)行定位。
在該校正補償比對步驟14中若該目標(biāo)影像911(假設(shè)為十字影像) 有部分被遮擋、覆蓋，取樣不全，導(dǎo)致線性回歸法求得的中心線(不論水 平線或垂直線)產(chǎn)生誤差，則改以四角影像的目標(biāo)影像911讓該中央處理 器-可程序邏輯控制器22的內(nèi)建程序先掃描出四個角落點Si、 S2、 &及S4( 如圖10所示)，以該四角落點Sh S2、 S3及S4為基準(zhǔn)，訂出四個掃瞄區(qū)塊 Zi、 Z2、 Z3及Z4，再讓程序分別對四個掃描區(qū)塊Zi、 Z2、 L及Z4找尋出線 段中心點，取得四個中心點群組P"Xi， y》、P2j(Xj， y》、P3k(xk， yk) 、P4z(xz, yz) ，其中i為Zi區(qū)域內(nèi)所有取樣點總個數(shù)，j為Z2區(qū)域內(nèi)所有取樣點總個 數(shù)，k為Z3區(qū)域內(nèi)所有取樣點總個數(shù)，z為Z4區(qū)域內(nèi)所有取樣點總個數(shù)。 之后由程序分別對四個中心點群組Pu(Xi，yi)、 P2j(Xj，y》、P3k(xk，yk)、P厶Xz，y》進(jìn)行線性回歸計算；對該中心點群組Pu可計算線段L、對該
中心點群組P2j可計算出線段U對該中心點群組P3k可計算出線段U、對
該中心點群組K可計算出線段U，而這四條線段分別代表四角落中心線 ，即為該四角影像(如圖10所示)或環(huán)形影像(如圖11所示)的中心線交 點(X。，Y。)；若此影像有所殘缺，則可以閥值將其濾除，由剩余的中心線 進(jìn)行中心點求取計算。
參閱圖12，是該目標(biāo)影像911為矩形影像的實施例；同樣的，當(dāng)該 感光耦合組件影像控制定位裝置29將目標(biāo)影像9U(矩形影像)擷取至該 中央處理器-可程序邏輯控制器22后，其內(nèi)建程序先搜尋出矩形影像的 四個角落點Sb S2、 S3、 S4;以此四點為基準(zhǔn)并根據(jù)程序預(yù)設(shè)閥值，由各 掃描區(qū)塊Zi、 Z2、 L與Z4內(nèi)構(gòu)成各邊線的點，可得四個點群組Pu(Xi，yi) 、P2j(Xj，y》、P3k(xk，yk)、 P4z(xz，yz)，其中i、 j、 k與z分別為Z" Z2、 Z3 與Z4各掃描區(qū)塊內(nèi)所有邊點總個數(shù)，接著程序再針對四個中心點群組分 別進(jìn)行線性回歸計算，如此對該中心點群組Pu(Xi，yJ線性回歸求得線段 L，對點群組P2j(Xj，yj)線性回歸求得線段U對點群組P3k(Xk,yk)線性回 歸求得線段U，對點群組P4z(xz， y,)線性回歸求得線段L4。
當(dāng)程序取得矩形影像四邊方程式后，即可計算出此矩形影像的中心 坐標(biāo)位置，并進(jìn)一步得知矩形影像的偏轉(zhuǎn)角度。
關(guān)于計算水平線的線性回歸部分，可將上述各水平方向的中心點群 組內(nèi)的點信息P"Xk, yk) 、 P"xz， y,)代入下式-
'<formula>formula see original document page 15</formula>— 附0>,2)-0>,)2 . 以線段"為~求得如圖13所示的線段，U直線方程式應(yīng)為
將式5 = ￡(/廣7)2修改為^ ;將;="3+63~代入上式； 得S = SO;3m-(a3+63x3m))2 ;
將S對a3， b3微分并令為零，求a3， b3值: ^"=藝2(;;3廣("3+^34))(-1) = 0
然4 *
i = S 2(3^ - ("3 + ))(-A*) = 0
3 m=l
m=l m=l
亦即，
a3
p 、P Yfc
》3* 2X\- ZX34 IX*^
,A 、廠4 ^
、》)=1乂 、》1=1 乂
^》3^3*- IX 》3*
^ 一乂/ =1 乂、m=l yV_m=l
/ * 、
、m=l 乂Vm=l 乂
進(jìn)一步可將上式推廣至每條線段均可套用的公式如下:
,w 、廣w 人
^ Z《
Vm=l 乂
1 乂
y"^A/jA/m— ZXA/m Z少她
、2
W ZXA*n— 5^倫 Vm=l 乂、m=l 乂
其中f為中心點群組編號；#為各中心點群組內(nèi)總點數(shù)值；將中心點 信息代入上式計算后，可得線性方程式
另外，關(guān)于計算垂直線的線性回歸部分
由水平與垂直線段間的關(guān)系中可得知，若水平線的線性方程式為""+ fe,則與其垂直的線段斜率為-l,以圖8、圖10及圖12中的各線
段點群組Pu(Xi,y》為例，如圖14所示，首先，針對此中心點群組分別做 X與Y方向坐標(biāo)平均，得一平均點坐標(biāo)(X^，Y^)，再將此中心點群組的 坐標(biāo)進(jìn)行轉(zhuǎn)換
x;=少,. 乂 =、，
上式是表示將原始取樣點Xi、yi以原點為中心垂直90度做坐標(biāo)轉(zhuǎn)換， 將原本為垂直的取樣點群組，轉(zhuǎn)換成水平型態(tài)；再將坐標(biāo)轉(zhuǎn)換后的新取 樣中心點群組Pu. (Xi.， yi.)代入上式求得b/ ，則原始垂直取樣點群組的斜
率即為61=-^;當(dāng)求出原始斜率bi后，再將平均點坐標(biāo)(X^，乙aJ代入 、
公式",HxA一可得線段截距&1。
至于校正機制的部分
參閱圖14，將線性回歸計算后所取得的直線方程式與取樣點進(jìn)行比 較，若取樣點與線性回歸直線方程式的間距離超過預(yù)設(shè)閥值，則將此取 樣點去除，當(dāng)所有取樣點均判斷完畢，程序再以剩余的取樣點計算新的 線性回歸直線方程式，得到較精準(zhǔn)的中心線。
如圖8、圖10及圖12所示，該線段U為對中心點群組P3k(xk， y》第 一次線性回歸后計算出的直線方程式，由于部分取樣點會因影像處理或 目標(biāo)影像本身的問題，而與該線段U相距較遠(yuǎn)，若將這些離該線段U較 遠(yuǎn)的取樣點去除，再進(jìn)行第二次線性回歸，則可得到較為精準(zhǔn)的線段L3， 因此對其進(jìn)行第一次校正動作，以預(yù)設(shè)閥值將其去除，再以篩選后的取 樣點進(jìn)行第二次線性回歸計算，取得圖14中的線段L3'。
關(guān)于補償機制的部分(參閱圖6):
一般完整欲定位的影像，如經(jīng)由第一次線性回歸法、校正機制及第
二次線性回歸計算后，即可求得定位標(biāo)志中心坐標(biāo)；但若因取像不良之
類的因素，導(dǎo)致點群組內(nèi)取樣點數(shù)不足，將使得經(jīng)由回歸計算求得的線段產(chǎn)生如圖16(十字影像與圓形影像)、圖17(四角影像與環(huán)形影像)及圖 18(矩形影像)所示的誤差；以圖16及圖17所示的線段L3，以及圖18所
示的線段L為例；若點群組P3k(Xk，yk)其取樣點數(shù)量k不足，則會導(dǎo)致回
歸后線段斜率產(chǎn)生誤差。
而補償機制即是以原始定位影像的中心線或邊線為互相垂直或平行 的特性，進(jìn)行取樣點映射補償，如圖19所示(以十字影像、四角影像或 矩形影像為例)，其線段L3與垂直線L,、 L2垂直，并與線段U平行；以此 特性為基礎(chǔ)，將所有構(gòu)成線段L的取樣點群組的Pn與構(gòu)成線段L的取樣 點群組 的點坐標(biāo)旋轉(zhuǎn)90度，而構(gòu)成線段U的點群組K則以180度映 像至相對應(yīng)的位置，可以增加P3k點群組的取樣點總數(shù)。
參閱圖20，是以十字影像或圓形影像為例進(jìn)行補償機制；兩中心點 群組Pu (A, yi) 、 P3k (Xk， yk)，將構(gòu)成線段L的取樣點群組Pu (Xi， y》以第一 次計算出的中心點(X。， Y。)為基準(zhǔn)點,轉(zhuǎn)折90度加入點群組P3k相對位置， 并將原始點群組總個數(shù)k'改為k' =k+i，如此點群組P3k(Xk，yk)內(nèi)取樣點 數(shù)增加，再將此點群組進(jìn)行第三次線性回歸后，求得線段U，。
而中心點群組Pu(Xi， y》亦可以此方式將點群組P3k(Xk， yk)內(nèi)的取樣點 轉(zhuǎn)折增加，求得線段L'，當(dāng)線段L/、 L/求出后，再對其做一次校正補 償，之后即可求得目標(biāo)影像的中心點坐標(biāo)。
如圖21所示，若進(jìn)行線性回歸運算后，該線段L3產(chǎn)生誤差，則可將 中心點群組Pn(Xi， y》轉(zhuǎn)折加入點群組P3k(Xk， yj后，對其做線性回歸，可得 修正后的線段U'，而線段L/可以L3'為基準(zhǔn)順時針旋轉(zhuǎn)90度求得， 如此十字影像與圓形影像的中心線即可求出，再計算出兩線段的交點即 為目標(biāo)影像的中心點坐標(biāo)。
參閱圖22，是改以四角影像或環(huán)形影像進(jìn)行補償動作的實施例；程 序以構(gòu)成線段U的取樣點群組P3k為基準(zhǔn),第一步將中心點群組Pu以中心 點(X。，Y。)為原點逆時針轉(zhuǎn)折90度，加入中心點群組P3k相對位置，并將原 始點群組總個數(shù)k'改為k' =k+i，此時構(gòu)成U的取樣點已增加i點。
第二步將中心點群組P2j以中心點(X。， Y。)為原點，順時針轉(zhuǎn)折90度,加入中心點群組P3k相對位置，并將原始點群組總個數(shù)k，改為k' =k' +j，
此時構(gòu)成線段U的取樣點已增加i+j點。
第三步將中心點群組P3k以中心點(X。， Y。)為原點，映射180度，加入
中心點群組P:;k相對位置，并將原始點群組總個數(shù)k'改為k' =k' +Z，此
時構(gòu)成線段U的取樣點已增加i+j+z點。此時，取樣點補償動作完成， 中心點群組P3k'的總?cè)狱c個數(shù)由k點增加至k+i+j+z點。
最后再針對補償后的中心點群組進(jìn)行線性回歸，求出線段L的直線 方程式，而其余線段L、 L2、 L4可經(jīng)由垂直與位移等關(guān)系求出，進(jìn)而求得 精準(zhǔn)的中心點坐標(biāo)。
如圖23所示，在對四角影像或環(huán)形影像進(jìn)行補償?shù)膶嵤├?，若線 段U產(chǎn)生誤差，可將中心點群組Pu(Xi，yi)、 P2j(Xj,yj)垂直轉(zhuǎn)折加入中心 點群組P3k(xk，yk)，再將中心點群組P"x"yJ)映射加入中心點群組 P3k(Xk，yJ后，對補償過后的點群組P3k(Xk，yk)進(jìn)行線性回歸，并利用修正 后的線段求得各線段L/、 L2'、 L4'，取得四角影像、環(huán)形影像中心 線后，即可求出目標(biāo)影像中心點坐標(biāo)。
至于對矩形影像的補償方式則與十字影像或四角影像雷同，差別僅 在于轉(zhuǎn)折時的基準(zhǔn)點坐標(biāo)，如圖24所示，構(gòu)成線段L的中心點群組Pn為 基準(zhǔn)，第一步將中心點群組~以邊點坐標(biāo)h為原點，順時針轉(zhuǎn)折90度， 加入中心點群組Pu相對位置，并將原始點群組總個數(shù)i'改為i' =i+k， 此時構(gòu)成線段L的取樣點已增加k點。
第二步將中心點群組P4z以邊點坐標(biāo)P4為原點,逆時針轉(zhuǎn)折90度，加
入中心點群組Pii相對位置，并將原始點群組總個數(shù)i'改為i' =i' +z，
此時構(gòu)成線段L的取樣點已增加為k+z點。
第三步將中心點群組P"以中心點為原點，映射180度，加入中心點 群組Ph相対位置，并將原始點群組總個數(shù)i'改為i' =i' +j，此時構(gòu)成 線段L,的取樣點已增加為k+j+z點；取樣點補償動作完成，中心點群組
Pu，的總?cè)狱c個數(shù)由i點增加至k+i+j+Z點；最后再針對補償后的中
心點群組進(jìn)行線性回歸，求出線段L的直線方程式，而各線段"、L3、 L4可經(jīng)由垂直與位移等關(guān)系求出。
如圖25所示，在矩形影像進(jìn)行補償運算后，若線段Li產(chǎn)生誤差，可 將中心點群組P3k(xk,yk)、 P4z(xz，yz)垂直轉(zhuǎn)折加入中心點群組，再將中心 點群組P2J(Xj， y》映射加入中心點群組Pu(Xi， y》后，對補償過后的中心點 群組Pu(Xi，yi)進(jìn)行線性回歸，取得修正后的線段L/，再利用此線段求得 L2，、 U'、 L4，，取得矩形邊線數(shù)值后，即可求出其中心點坐標(biāo)。
亦即，本發(fā)明可廣泛應(yīng)用于生產(chǎn)在線的對位設(shè)備(例如將異方性導(dǎo)電 膠、導(dǎo)電玻璃或集成電路進(jìn)行對位、加壓完成構(gòu)裝的設(shè)備)，并可適用 于各種影像標(biāo)志(圓形影像、環(huán)形影像、十字影像、四角影像與矩形影像 )的對位(如附件一的第A、第B、第C、第D、第E及第F圖所示為矩形 影像迭合于方框影像的過程)，其產(chǎn)生的對位效率比手動模式平均快約 5 10秒(參閱圖26及圖27)，使生產(chǎn)線的產(chǎn)能明顯提升，未來將提升其 性能并作量化的改善。
至于本發(fā)明的系統(tǒng)部分，如圖28及圖29所示，是至少包括
一可程序邏輯控制器(Programmable Logic Controller,簡稱PLC) 21、 一中央處理器-可程序邏輯控制器(Central Processing Unit -Programmable Logic Controller ,簡稱CPU-PLC)22、 一異方性導(dǎo)電膠 貼附裝置23、 一異方性導(dǎo)電膠剝除裝置24、 一加熱裝置25、 一加壓裝置 26、 一內(nèi)部程序(Interprocess Communication,簡稱IPC)通訊模塊27、 一壓力檢測裝置通訊模塊28，以及一感光耦合組件(Charge Co叩led Device,簡稱CCD)影像控制定位裝置29，其設(shè)有至少兩個感光耦合組件 (Charge Coupled Device,簡稱CCD)攝影機291;
借此，以該感光耦合組件攝影機291擷取一 目標(biāo)樣板91及位于該目 標(biāo)樣板91上的目標(biāo)影像911，先設(shè)定該目標(biāo)樣板91的預(yù)定忽略灰階值及 其分布范圍，再設(shè)定該目標(biāo)樣板91的預(yù)定的特征權(quán)重矩陣；之后對此系 統(tǒng)加載一待測樣板92及位于其上的待測影像921。
依計算該待測樣板92及該待測影像921的區(qū)域灰階值所得數(shù)值，自 動調(diào)整該目標(biāo)樣板91及該目標(biāo)影像911的亮度及對比度，使其接近該待測樣板92及待測影像921的預(yù)定值，運用線性回歸法取得該待測樣板92 中不同方向的邊線值，其可用以求出該待測影像921的中心，并作為定 位及旋轉(zhuǎn)偏移量的依據(jù)，再來比對該目標(biāo)樣板91與待測樣板92是否相 符，并由系統(tǒng)中內(nèi)建的校正補償機制，濾除第一次線性回歸計算后偏差量 較大的誤差點，再配合鄰近方向的邊線數(shù)值，求出更精準(zhǔn)的定位中心； 達(dá)到于該待測樣板92上比對得到吻合的目標(biāo)樣板91;
以該異方性導(dǎo)電膠貼附裝置23，將一異方性導(dǎo)電膠(可以講是該目標(biāo) 樣板91/該待測樣板92);貼附于該導(dǎo)電玻璃(該導(dǎo)電玻璃的英文為indium tin oxide，簡稱IT0，且該導(dǎo)電玻璃也可以講是該待測樣板92/該目標(biāo) 樣板91)上，再以該異方性導(dǎo)電膠剝除裝置24將該異方性導(dǎo)電膠上的 保護膜剝除，接著將集成電路(integrated circuit,簡稱IC)對準(zhǔn)導(dǎo)電 玻璃的導(dǎo)電金屬層(即氧化銦錫，英文為indium tin oxide,簡稱IT0); 最后進(jìn)行加熱加壓而完成構(gòu)裝接合成品。
實際上，該目標(biāo)樣板91是選自導(dǎo)電玻璃、薄膜晶體管 (ThinFilmTransistor ，簡稱TFT)、異方性導(dǎo)電膠膜(Anisotr叩ic Conductive Film,簡稱ACF)其中的一種。
該待測樣板92是選自異方性導(dǎo)電膠膜(Anisotropic Conductive Film,簡稱ACF)、薄膜晶體管(ThinFilmTransistor,簡稱TFT)、導(dǎo)電 玻璃其中之一。
本發(fā)明的優(yōu)點及功效如下所述
1、 對位效率佳。本案透過改良型識別比對技術(shù)與相關(guān)通訊技術(shù)，可 以在短時間求得雙感光耦合組件影像控制定位裝置內(nèi)雙反白影像(Mark) 位置差，進(jìn)而控制機器做補正等相關(guān)動作，同時具備影像光學(xué)量測、儀 器校正、影像處理、缺陷檢測、目標(biāo)辨識等功能，應(yīng)用于實際生產(chǎn)線的 對位設(shè)備上，其對位效率比手動模式快約5至10秒；對位效率佳。
2、 具有校正補償機制。本案主要運用線性回歸法取得對位影像中不 同方向的邊線數(shù)值，由邊線數(shù)值求出影像中心，有效解決對位影像殘缺 或鏡頭像差等問題，此外亦可求出影像本身的旋轉(zhuǎn)偏移量，可提供機臺更多的定位信息。
3、適用于各種對位影像。本發(fā)明的定位技術(shù)可有效對圓形、環(huán)形、 十字、四角或矩形影像等進(jìn)行影像對位，適用性相當(dāng)廣泛；并可適用于 任何需要影像定位進(jìn)而進(jìn)行對象檢測、迭合的在線光學(xué)檢測機構(gòu)，如液
晶顯示器(liquid crystal display,簡稱LCD)面版瑕疵檢測、印刷電路 板(Printed Circuit Boards,簡稱PCB)瑕疵檢測和模具迭合前置定位動 作等，并提供于自動化光學(xué)檢測技術(shù)中一個更好的定位方法。
以上所述，僅是本發(fā)明的較佳實施例而已，并非對本發(fā)明作任何形 式上的限制，凡是依據(jù)本發(fā)明的技術(shù)實質(zhì)對以上實施例所作的任何簡單 修改、等同變化與修飾，均仍屬于本發(fā)明技術(shù)方案的范圍內(nèi)。
綜上所述，本發(fā)明在結(jié)構(gòu)設(shè)計、使用實用性及成本效益上，完全符
合產(chǎn)業(yè)發(fā)展所需，且所揭示的結(jié)構(gòu)亦是具有前所未有的創(chuàng)新構(gòu)造，具有 新穎性、創(chuàng)造性、實用性，符合有關(guān)發(fā)明專利要件的規(guī)定，故依法提起
申請。 '
權(quán)利要求
1. 一種影像快速自動對位的自動光學(xué)系統(tǒng)的使用方法，其特征在 于，包括下列步驟一. 準(zhǔn)備步驟預(yù)先準(zhǔn)備一目標(biāo)樣板，該目標(biāo)樣板上具有至少一個 目標(biāo)影像；將該目標(biāo)樣板定義為Ti， j，k(p，q)，其大小為PQ， l《i《3， 1《p《P， 1《q《Q;并設(shè)定該目標(biāo)樣板的預(yù)定忽略灰階值及其分布范圍 ;再設(shè)定該目標(biāo)樣板的預(yù)定的特征權(quán)重矩陣；設(shè)一感光耦合組件影像控 制定位裝置，將該目標(biāo)樣板擷取至一中央處理器-可程序邏輯控制器內(nèi)， 由其內(nèi)建程序?qū)υ撃繕?biāo)樣板及其上的目標(biāo)影像進(jìn)行掃描；二. 載入步驟加載一預(yù)定的待測樣板，并將該待測樣板定義為 Ii(x，y)，大小為麗，l《i《3,該待測樣板對應(yīng)該目標(biāo)影像而具有一待 測影像；三. 調(diào)整步驟依計算該待測影像的區(qū)域灰階值所得數(shù)值，自動調(diào) 整該目標(biāo)影像的亮度及對比度至接近該待測影像的預(yù)定值，以線性回歸 法取得該待測影像的數(shù)條邊線，再由數(shù)條邊線求出該待測影像的中心；四. 校正補償比對步驟比對該目標(biāo)影像與該待測影像，將線性回歸計算后取得的直線方程式與取樣點進(jìn)行比較，若取樣點與直線方程式 之間的距離超過一預(yù)設(shè)閥值，則將此取樣點去除，當(dāng)所有取樣點均判斷 完畢，再以剩余的取樣點計算二次線性回歸直線方程式，得到校正后的基準(zhǔn)線；將與該基準(zhǔn)線互相垂直/平行的其余邊線，朝該基準(zhǔn)線分別作九十 度旋轉(zhuǎn)、 一百八十度映射/平移，對該基準(zhǔn)線進(jìn)行取樣點補償運算；使原 始點群組總個數(shù)k'變成k' =k+i，增加取樣點數(shù)，并將此點群組進(jìn)行第 三次線性回歸，以求得補償后的待測影像的邊線；進(jìn)而求出更精準(zhǔn)的待 測影像的定位中心；五. 完成步驟于該待測影像上比對得到吻合的目標(biāo)影像。
2 .根據(jù)權(quán)利要求1所述的影像快速自動對位的自動光學(xué)系統(tǒng)的使用方法，其特征在于所述目標(biāo)樣板是選自導(dǎo)電玻璃、薄膜晶體管、異方性導(dǎo)電膠膜其 中的一種；所述目標(biāo)影像是選自圓形影像、環(huán)形影像、十字影像、四角像、矩形影像其中的一種； 所述待測樣板是選自異方性導(dǎo)電膠膜、薄膜晶體管、導(dǎo)電玻璃其 中的一種；所述待測影像是選自圓形影像、環(huán)形影像、十字影像、四角像、 矩形影像其中的一種。
3 .根據(jù)權(quán)利要求1所述的影像快速自動對位的自動光學(xué)系統(tǒng)的使 用方法，其特征在于，所述步驟完成后又包括六.組合步驟將一異方性導(dǎo)電膠的一面貼附于一導(dǎo)電玻璃上；再 將該異方性導(dǎo)電膠另一面的保護膜剝除；然后將一集成電路對準(zhǔn)該導(dǎo)電 玻璃上的導(dǎo)電金屬層；最后進(jìn)行加熱、加壓完成構(gòu)裝接合。
4 .根據(jù)權(quán)利要求1所述的影像快速自動對位的自動光學(xué)系統(tǒng)的使 用方法，其特征在于，所述調(diào)整步驟中，當(dāng)該感光耦合組件影像控制定 位裝置擷取該目標(biāo)樣板，并傳入該中央處理器-可程序邏輯控制器，其內(nèi) 建程序?qū)υ撃繕?biāo)影像掃描出四個角落點，并作為該目標(biāo)影像的邊界點， 對此目標(biāo)影像分別進(jìn)行垂直掃描及水平掃瞄；分別找出中心點坐標(biāo)群組 Pu(Xi，yi)，以及中心點坐標(biāo)群組P3k(xk，yk)，其中，i為所有垂直線中心 點總個數(shù)，k為所有水平線中心點總個數(shù)；所述中央處理器-可程序邏輯控制器的內(nèi)建程序再分別對中心點坐 標(biāo)群組Pu(Xi， y》以及中心點坐標(biāo)群組P3k(xk， yk)進(jìn)行線性回歸計算，如此 對該中心點群組Pu(Xi，yi)與P3k(Xk，yk)各計算出一線段，以進(jìn)行定位，且 這兩線段分別代表該目標(biāo)影像的水平與垂直方向中心線；中心線交點即 為此目標(biāo)影像的中心點(X。，Y。)；由兩線段的線性方程式可知目標(biāo)影像偏轉(zhuǎn)量。
5 .根據(jù)權(quán)利要求4所述的影像快速自動對位的自動光學(xué)系統(tǒng)的使用方法，其特征在于于計算水平線的線性回歸時，可將各水平方向的中心點群組內(nèi)的點 信息P3k (xk， yk) 、 P4z (xz， yz)代入下式<formula>formula see original document page 4</formula>附=1L3直線方禾呈式J3 = 3 + 63x3jt ;將式5" = |](7廣^2改為 將 代入上式；得s = ZCy3m-("3+V3』2;將S對a3， b3微分并令為零，求a3， b3值: =Z2(;;3i-(fl3+V3i))(-1) = 03a3<formula>formula see original document page 4</formula>亦即，<formula>formula see original document page 4</formula>進(jìn)一步將上式推廣至每條線段均可套用的公式如下:<formula>formula see original document page 5</formula>、其中M為中心點群組編號；N為各中心點群組內(nèi)總點數(shù)值；將中心點 信息代入上式計算后，可得線性方程式V少*=^+6^她，m=l N; 于計算垂直線的線性回歸時當(dāng)水平線的線性方程式為^ = "+&，則與其垂直的線段斜率為-丄， 針對中心點群組分別做X與Y方向坐標(biāo)平均，得一平均點坐標(biāo)(X,n， Y,J，再將此中心點群組的坐標(biāo)進(jìn)行轉(zhuǎn)換上式是表示將原始取樣點Xi、 yi以原點為中心垂直90度做坐標(biāo)轉(zhuǎn)換 ，將原本為垂直的取樣點群組，轉(zhuǎn)換成水平型態(tài)；再將坐標(biāo)轉(zhuǎn)換后的新 取樣中心點群組Pu. yr)代入上式求得b/ ，則原始垂直取樣點群組的斜率即為6,-;;當(dāng)求出原始斜率bi后，再將平均點坐標(biāo)(X^n,U代入公式",L咖-"xX鵬。"；可得線段截距&。
6 .根據(jù)權(quán)利要求1所述的影像快速自動對位的自動光學(xué)系統(tǒng)的使 用方法，其特征在于,在所述校正補償比對步驟中，若因該目標(biāo)影像不完 全以致取樣不全，以致線性回歸法求得的中心線產(chǎn)生誤差，可改以四角影 像樣式的目標(biāo)影像讓該中央處理器-可程序邏輯控制器的內(nèi)建程序掃描出四個角落點Sh S2、 S3及S4，以該四角落點S^ S2、 S3及S4為基準(zhǔn)，訂 出四個掃瞄區(qū)塊Zi、 Z2、 Z3&Z4，再讓程序分別對四個掃描區(qū)塊z2、Z3及Z4找尋出線段中心點，取得四個中心點群組Pu(Xi,y》、P2j(Xj，yj)、 P3k(xk，yk)、 P4z(xz，yz)，其中i為Z,區(qū)域內(nèi)所有取樣點總個數(shù)，j為Z2區(qū) 域內(nèi)所有取樣點總個數(shù)，k為Z3區(qū)域內(nèi)所有取樣點總個數(shù)，z為Z4區(qū)域內(nèi) 所有取樣點總個數(shù)；之后由程序分別對四個中心點群組P"(Xi，yi)、 P2j(Xj，y》、P3k(Xk，yJ、 P4z(^yJ進(jìn)行線性回歸計算，而得到四條線段，其 分別代表四角落中心線，即為該四角影像的中心線交點(X。,Y。)；若此四角 影像有所殘缺，則可以閥值將其濾除，由剩余的中心線計算出中心點。
7 .根據(jù)權(quán)利要求1所述的影像快速自動對位的自動光學(xué)系統(tǒng)的使 用方法，其特征在于，所述目標(biāo)影像是為矩形影像；當(dāng)該感光耦合組件 影像控制定位裝置將目標(biāo)影像擷取至該中央處理器-可程序邏輯控制器， 其內(nèi)建程序先搜尋出矩形影像的四個角落點S,、 S2、 S3、 S4;以此四個角 落點為基準(zhǔn)并根據(jù)程序預(yù)設(shè)閥值，由各掃描區(qū)塊Z,、 Z2、 Z3與Z4內(nèi)構(gòu)成各 邊線的點，可得四個點群組Pu(Xi，y》、P2j(Xj，y》、P3k(xk，yk)、 P4z(xz，yz) ，其中i、 j、 k與z分別為Zi、 Z2、 Z3與Z4各掃描區(qū)塊內(nèi)所有邊點總個 數(shù)；接著程序再針對四個點群組分別進(jìn)行線性回歸計算，如此對該四個 點群組Pu (Xi， y》、P2j (Xj， y》、P3k (Xk， yk)，以及P4z (xz， yz)分別進(jìn)行線性回 歸而求得四條線段的線性方程式，可計算出此矩形影像的中心坐標(biāo)位置 以及其偏轉(zhuǎn)角度。
8. —種影像快速自動對位的自動光學(xué)系統(tǒng)，其特征在于至少包括 一可程序邏輯控制器、 一中央處理器-可程序邏輯控制器、 一異方性導(dǎo)電 膠貼附裝置、 一異方性導(dǎo)電膠剝除裝置、 一加熱裝置、 一加壓裝置、一 內(nèi)部程序通訊模塊、 一壓力檢測裝置通訊模塊以及一感光耦合組件影像 控制定位裝置，其設(shè)有至少兩個感光耦合組件攝影機；借此，該感光耦合組件攝影機擷取一 目標(biāo)樣板及位于該目標(biāo)樣板上 的目標(biāo)影像，先設(shè)定該目標(biāo)樣板的預(yù)定忽略灰階值及其分布范圍，再設(shè) 定該目標(biāo)樣板的預(yù)定的特征權(quán)重矩陣；之后對此系統(tǒng)加載一待測樣板及 位于其上的待測影像；以該中央處理器-可程序邏輯控制器比對該目標(biāo)影 像與該待測影像，依計算該待測樣板及該待測影像的區(qū)域灰階值所得數(shù)值，自動調(diào)整該目標(biāo)樣板及該目標(biāo)影像的亮度及對比度，使其接近該待 測樣板及待測影像的預(yù)定值，并將進(jìn)行線性回歸計算后取得的待測樣板 的直線方程式與取樣點比較判斷，去除與直線方程式距離超過一預(yù)設(shè)閥 值的取樣點，當(dāng)所有取樣點均判斷完畢，再以剩余的取樣點計算二次線性回歸直線方程式，得到校正后的基準(zhǔn)線；將與該基準(zhǔn)線互相垂直/平行的其余邊線，分別朝該基準(zhǔn)線作九十度 旋轉(zhuǎn)、 一百八十度映射/平移，對該基準(zhǔn)線進(jìn)行取樣點補償運算，使原始 點群組總個數(shù)k，變成k， =k+i，增加取樣點數(shù)，并將此點群組進(jìn)行第三 次線性回歸計算，求得補償后的待測影像的邊線；進(jìn)而求出更精準(zhǔn)的待 測影像的定位中心，達(dá)到于該待測樣板上比對得到吻合的目標(biāo)樣板；最后以該異方性導(dǎo)電膠貼附裝置、該異方性導(dǎo)電膠剝除裝置、該加 熱裝置及該加壓裝置相互配合，將該目標(biāo)樣板與待測樣板相互加熱加壓 接合成品。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的影像快速自動對位的自動光學(xué)系統(tǒng)，其 特征在于所述目標(biāo)樣板是選自導(dǎo)電玻璃、薄膜晶體管、異方性導(dǎo)電膠膜其中 的一種；所述目標(biāo)影像是選自圓形影像、環(huán)形影像、十字影像、四角像、矩 形影像其中的一種；所述待測樣板是選自異方性導(dǎo)電膠膜、薄膜晶體管、導(dǎo)電玻璃其中 的一種；所述待測影像是選自圓形影像、環(huán)形影像、十字影像、四角像、矩 形影像其中的一種;若所述目標(biāo)影像與待測樣板為異方性導(dǎo)電膠與導(dǎo)電玻璃，則以該異 方性導(dǎo)電膠剝除裝置將該異方性導(dǎo)電膠上的保護膜剝除；可再將一集成電路對準(zhǔn)導(dǎo)電玻璃的導(dǎo)電金屬層，并進(jìn)行加熱加壓而 完成構(gòu)裝接合成品。
全文摘要
一種影像快速自動對位的自動光學(xué)系統(tǒng)及其使用方法，其設(shè)一中央處理器-可程序邏輯控制器在自動對位過程中，比對一目標(biāo)影像與一待測影像，將待測影像進(jìn)行線性回歸計算后的直線方程式與取樣點比較，去除與直線方程式距離超過一閥值的取樣點，以剩余的取樣點計算二次線性回歸直線方程式，得到校正后的基準(zhǔn)線；再將與基準(zhǔn)線互相垂直/平行的其余邊線，朝基準(zhǔn)線作九十度旋轉(zhuǎn)、一百八十度映射/平移，以進(jìn)行取樣點補償運算；并將此點群組進(jìn)行第三次線性回歸得到補償后的邊線，以求出更精準(zhǔn)的待測影像的定位中心；達(dá)到對位效率佳、具有校正補償機制，以及適用于各種對位影像等功效。
文檔編號H04N5/232GK101312495SQ20071010724
公開日2008年11月26日 申請日期2007年5月25日 優(yōu)先權(quán)日2007年5月25日
發(fā)明者劉碩茸, 吳國彰, 張書綺, 林宸生 申請人:逢甲大學(xué)