專利名稱：光學(xué)校準(zhǔn)機(jī)自動(dòng)測(cè)量方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明是有關(guān)一種光學(xué)校準(zhǔn)機(jī)自動(dòng)測(cè)量方法，尤指一種可于該光學(xué)校準(zhǔn)機(jī)由程序自行判斷是否測(cè)量待測(cè)物的方法，而不用由使用者自行判斷是否測(cè)量，然后下指令告訴程序。
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圖1，該圖是傳統(tǒng)光學(xué)校準(zhǔn)機(jī)測(cè)量持測(cè)物方法的流程圖。包含下列步驟(a1).激活軟件，發(fā)送命令至電荷耦合組件模塊；(b1).該電荷耦合組件模塊拍攝待測(cè)物畫面；(c1).判別使用者是否按下執(zhí)行指令開關(guān)；(d1).若是，執(zhí)行測(cè)量動(dòng)作，之后，回至步驟(b1)，否則，直接回至步驟(b1)。
由上述程序可知，該光學(xué)校準(zhǔn)機(jī)在測(cè)量待測(cè)物時(shí)要由使用者自行按壓執(zhí)行指令開關(guān)來(lái)進(jìn)行測(cè)量，因此，常常發(fā)生使用者忽略該步驟的操作或因操作不當(dāng)而耗費(fèi)不少時(shí)間。
為達(dá)成此目的，本發(fā)明是在使用者將待測(cè)物安裝在光學(xué)校準(zhǔn)機(jī)上，接著，激活軟件，發(fā)送命令至電荷耦合組件模塊，供該電荷耦合組件模塊拍攝待測(cè)物畫面，同時(shí)進(jìn)行畫面影像處理檢測(cè)，當(dāng)檢測(cè)到電荷耦合組件模塊所拍攝的畫面有明顯的反射亮點(diǎn)后，程序即因?yàn)榕袛喑鲇辛咙c(diǎn)而自動(dòng)進(jìn)行測(cè)量，由此可知，它可取代由使用者自行判斷測(cè)量，不僅可節(jié)省測(cè)量程序，亦可避免使用者操作不當(dāng)或忽略步驟操作。
本發(fā)明的一個(gè)目的在于提供可使現(xiàn)有的光學(xué)校準(zhǔn)機(jī)在測(cè)量待測(cè)物的程序中直接由程序判斷有亮點(diǎn)后而自行進(jìn)行測(cè)量的方法，因此，不用擔(dān)心使用者是否忘了要按執(zhí)行指令開關(guān)，該使用者所需的動(dòng)作只有裝上或取下待測(cè)物兩個(gè)動(dòng)作而已，即可達(dá)到簡(jiǎn)潔便利的自動(dòng)化測(cè)量。
本發(fā)明的又一個(gè)目的在于提供可應(yīng)用在光驅(qū)或類似的光學(xué)系統(tǒng)裝置的自動(dòng)測(cè)量方法。
為了能更進(jìn)一步了解本發(fā)明的特征及技術(shù)內(nèi)容，請(qǐng)參閱以下有關(guān)本發(fā)明的詳細(xì)說(shuō)明與附圖，然而附圖標(biāo)記僅供參考與說(shuō)明用，并非用來(lái)對(duì)本發(fā)明加以限定。
上述步驟(b)的電荷耦合組件模塊拍攝到的反射光點(diǎn)可利用影像處理的方法，以計(jì)算出圖面是否有白色區(qū)域。該影像處理的方法有很多，其中可以是選取適當(dāng)?shù)拈撝?，再做二元化處理等；該程序即可輕易計(jì)算出有無(wú)灰階值為255的白色亮點(diǎn)像素。
綜上所述，透過本發(fā)明的方法，具有如下的諸多特點(diǎn)(1)直接由程序自行判斷是否測(cè)量待測(cè)物，非由使用者自行判斷。
(2)可節(jié)省測(cè)量程序。
(3)可避免使用者操作不當(dāng)或忽略步驟操作。
(4)不用擔(dān)心使用者是否忘了按執(zhí)行指令開關(guān)。
以上所述的僅為本發(fā)明最佳的具體實(shí)施例，本發(fā)明的特征并不局限于此，本領(lǐng)域的技術(shù)人員在本發(fā)明的領(lǐng)域內(nèi)可容易想到的任何變化或修改都可包含在本申請(qǐng)的權(quán)利要求的范圍內(nèi)。
權(quán)利要求
1.一種光學(xué)校準(zhǔn)機(jī)自動(dòng)測(cè)量方法，在該光學(xué)校準(zhǔn)機(jī)測(cè)量待測(cè)物程序中由程序自行判斷是否測(cè)量，包含下列步驟(a)激活軟件；(b)電荷耦合組件模塊進(jìn)行拍攝待測(cè)物畫面；(c)程序自行判斷該電荷耦合組件模塊所拍攝的畫面是否有反射亮點(diǎn)；以及(d)若是，自動(dòng)進(jìn)行測(cè)量，并在測(cè)量后回至步驟(b)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光學(xué)校準(zhǔn)機(jī)自動(dòng)測(cè)量方法，其特征在于所述的步驟(b)的該電荷耦合組件模塊所拍攝的畫面反射亮點(diǎn)可利用影像處理方法計(jì)算出圖面是否有白色區(qū)域。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光學(xué)校準(zhǔn)機(jī)自動(dòng)測(cè)量方法，其特征在于所述的步驟(c)的程序判斷該電荷耦合組件所拍攝的畫面沒有反射亮點(diǎn)時(shí)，即回至步驟(b)。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光學(xué)校準(zhǔn)機(jī)自動(dòng)測(cè)量方法，其特征在于所述的光學(xué)校準(zhǔn)機(jī)是具有光學(xué)測(cè)量的機(jī)器，該機(jī)器可應(yīng)用在光驅(qū)或類似的光學(xué)裝置的測(cè)量及組裝。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光學(xué)校準(zhǔn)機(jī)自動(dòng)測(cè)量方法，其特征在于所述的待測(cè)物為具有鏡面的對(duì)象。
全文摘要
本發(fā)明是有關(guān)一種光學(xué)校準(zhǔn)機(jī)自動(dòng)測(cè)量方法，是使該光學(xué)校準(zhǔn)機(jī)在測(cè)量待測(cè)物程序中，可由程序自行判斷是否測(cè)量的方法，它是在電荷耦合組件模塊拍攝待測(cè)物的畫面后，該程序即會(huì)自行判斷該電荷耦合組件模塊所拍攝的畫面是否有反射亮點(diǎn)，而自動(dòng)進(jìn)行測(cè)量，由于可由該程序判斷有亮點(diǎn)后即自行進(jìn)行測(cè)量，因此不用擔(dān)心使用者是否忘了要按執(zhí)行指令開關(guān)，并可節(jié)省測(cè)量程序，避免該使用者操作不當(dāng)或忽略步驟操作。
文檔編號(hào)H04N1/387GK1467478SQ0214118
公開日2004年1月14日 申請(qǐng)日期2002年7月9日 優(yōu)先權(quán)日2002年7月9日
發(fā)明者陳漢釗, 陳徵君, 陳伯睿 申請(qǐng)人:建興電子科技股份有限公司