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一種高性能自檢測外參考時基電路及其實現(xiàn)方法

文檔序號:10660397閱讀:606來源:國知局
一種高性能自檢測外參考時基電路及其實現(xiàn)方法
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種高性能自檢測外參考時基電路及其實現(xiàn)方法,包括:依次串聯(lián)連接的外參考濾波放大電路、外參考自檢測電路、外參考鑒相濾波電路、二選一開關(guān)以及恒溫晶體振蕩器;外參考自檢測電路的輸出端連接二選一開關(guān)的選擇控制端;外參考鑒相濾波電路的輸出端連接二選一開關(guān)的其中一個輸入端;在外參考信號輸入時,外參考濾波放大電路將外參考信號濾波放大后分成兩路,其中一路與外參考鑒相濾波電路連接,另外一路與外參考自檢測電路連接,控制二選一開關(guān)切換至外參考鑒相濾波電路輸出端使得外參考信號進(jìn)行環(huán)路鎖相。本發(fā)明有益效果:即便在有外參考信號輸入的情況下,整機也可以通過FPGA控制自行選擇是否使用外參考信號。
【專利說明】
一種高性能自檢測外參考時基電路及其實現(xiàn)方法
技術(shù)領(lǐng)域
[0001]本發(fā)明涉及測量儀器電路技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及一種高性能自檢測外參考時基電路及其實現(xiàn)方法?!颈尘凹夹g(shù)】
[0002]在各類測試儀器的使用中,外參考時基電路以及可控參考源發(fā)生電路是測量儀器的必備電路。因此該電路的智能性、靈活性對測量儀器的測量精度以及實用性影響很大。
[0003]現(xiàn)階段的外參考時基電路主要通過下列方式實現(xiàn):
[0004]傳統(tǒng)的外參考時基電路是通過下列方式產(chǎn)生:通過上位機控制一個二選一開關(guān)選擇整機使用內(nèi)部參考時鐘還是外部參考時鐘,當(dāng)二選一開關(guān)選擇內(nèi)部參考時鐘時,選用高相位噪聲、高頻率穩(wěn)定度等高性能的恒溫晶體振蕩器作為整機的參考信號,供給整機后續(xù)電路使用。當(dāng)二選一開關(guān)選擇外部參考時鐘時,選用外部測量儀器提供的參考信號作為整機的參考信號。經(jīng)過二選一開關(guān)的參考信號經(jīng)過后續(xù)的放大濾波等處理供給整機后端電路使用。
[0005]外參考時基電路選用二選一開關(guān),通過內(nèi)置高相位噪聲、高穩(wěn)定度的恒溫晶振,通過開關(guān)切換鎖相環(huán)的參考鑒相信號,在獲得高性能的本地參考源信號的同時,使電路具備與外部共時基的特性,同時整個環(huán)路需要指標(biāo)相對比較好的壓控振蕩器作為鎖相環(huán)路的振蕩器。
[0006]可以看出這種方法電路成本比較高,同時在切換到外參考輸入作為鑒相信號時電路無法自行判斷,通過鎖相環(huán)路產(chǎn)生的參考源電路輸出不可控。
[0007]另外,因為目前的參考時鐘主要為10MHz,伴隨著100MHz參考信號的使用越來越多,自帶100MHz參考信號的測量儀器也越來越多。因此,亟需構(gòu)建一個100MHz的鎖相環(huán)產(chǎn)生電路,最終可以產(chǎn)生10MHz和100MHz兩種參考信號,以滿足客戶的不同需求。
[0008]因此,針對外參考時基電路和參考源發(fā)生電路,現(xiàn)有技術(shù)主要面臨以下三個方面的不足:
[0009]第一:在外參考時基電路中,上位機只能通過控制二選一開關(guān)進(jìn)行外參考與內(nèi)參考信號的切換,即便切換到外參考信號輸入狀態(tài),也無法直接判斷外參考信號是否輸入。 [〇〇1〇]第二:整個電路中需要一個高性能的恒溫晶振和壓控振蕩器,相對而言電路的成本比較高。
[0011]第三:在參考源發(fā)生電路中,上位機無法通過簡單的控制達(dá)到對參考源信號的發(fā)生控制。
【發(fā)明內(nèi)容】

[0012]本發(fā)明為了解決上述問題,提出了一種高性能自檢測外參考時基電路及其實現(xiàn)方法,當(dāng)電路切換到外參考模式時,電路可實現(xiàn)自鎖相以及外參考信號自判斷功能,無外參考信號輸入時,通過FPGA進(jìn)行D/A(數(shù)模)控制以及開關(guān)控制實現(xiàn)高性能參考源信號的發(fā)生控制。
[0013]為實現(xiàn)上述目的,本發(fā)明采用下述技術(shù)方案:[0〇14]—種尚性能自檢測外參考時基電路,包括:依次串聯(lián)連接的外參考濾波放大電路、外參考自檢測電路、外參考鑒相濾波電路、二選一開關(guān)以及恒溫晶體振蕩器;所述外參考自檢測電路的輸出端連接二選一開關(guān)的選擇控制端;所述外參考鑒相濾波電路的輸出端連接二選一開關(guān)的其中一個輸入端;
[0015]在外參考信號輸入時,所述外參考濾波放大電路將外參考信號濾波放大后分成兩路,其中一路與外參考鑒相濾波電路連接,另外一路與外參考自檢測電路連接,控制所述二選一開關(guān)切換至所述外參考鑒相濾波電路輸出端使得外參考信號進(jìn)行環(huán)路鎖相。
[0016]進(jìn)一步地,還包括:控制所述外參考濾波放大電路通斷的開關(guān)控制。
[0017]進(jìn)一步地,還包括:所述二選一開關(guān)的另一個輸入端連接用于調(diào)節(jié)恒溫晶體振蕩器輸出頻率的D/A電壓調(diào)諧端;沒有外參考信號輸入或者外參考濾波放大電路不導(dǎo)通時,所述二選一開關(guān)切換至所述D/A電壓調(diào)諧端。
[0018]進(jìn)一步地,還包括:可控參考源發(fā)生電路;所述可控參考源發(fā)生電路經(jīng)過功分器與恒溫晶體振蕩器串聯(lián)連接;所述恒溫晶體振蕩器為100MHz恒溫晶體振蕩器;
[0019]所述功分器的輸出端分成兩路,第一支路經(jīng)過濾波后直接輸出100MHz參考信號; 第二支路經(jīng)過10分頻后又分成兩支路,其中一路作為鎖相環(huán)的反饋信號參與環(huán)路鑒相,另外一路通過改變FPGA來控制是否輸出10MHz參考信號。
[0020]進(jìn)一步地,所述第二支路具體包括:10分頻器、第二與非門、第三與非門和濾波電路;
[0021]所述第二與非門的第一輸入端連接10分頻器的輸出端,第二與非門的第二輸入端連接高電平信號;第二與非門的輸出端分成兩路:一路連接外參考自檢測電路,另一路連接第三與非門的第二輸入端,所述第三與非門的第一輸入端連接FPGA信號,第三與非門的輸出端經(jīng)過濾波電路后輸出。
[0022]進(jìn)一步地,所述外參考濾波放大電路包括:濾波電路、運算放大電路以及第一小功率三極管;
[0023]所述濾波電路連接運算放大電路的正極輸入端,所述運算放大電路的輸出端分別連接外參考自檢測電路與外參考鑒相濾波電路,所述第一小功率三極管的集電極與運算放大電路連接,第一小功率三極管的基極連接FPGA信號,第一小功率三極管的發(fā)射極接地。
[0024]進(jìn)一步地,所述外參考自檢測電路包括:肖特基雙二極管,通過對外參考信號進(jìn)行整流得到高電平信號,控制所述二選一開關(guān)切換至所述外參考鑒相濾波電路輸出端使得外參考信號進(jìn)行環(huán)路鎖相。
[0025]進(jìn)一步地,所述外參考自檢測電路包括:串聯(lián)連接的鑒相器PD和環(huán)路濾波器LPF; 鑒相器產(chǎn)生的兩路鑒相信號PD_I^PPD_F通過與非門電路和第二小功率三極管后引出測試端,通過判斷測試端的高低電平來判斷外參考信號是否正常輸入以及環(huán)路是否正常鎖相。
[0026]所述鑒相器ro是由第一D觸發(fā)器,第二D觸發(fā)器和第一與非門搭建而成的低數(shù)字噪聲分立鑒相器。
[0027]—種高性能自檢測外參考時基電路的實現(xiàn)方法,包括:
[0028]當(dāng)有外參考信號輸入時,外參考信號經(jīng)過濾波電路、放大電路后分成兩路,其中一路作為鎖相環(huán)的參考信號進(jìn)行環(huán)路鑒相,另外一路通過控制二選一開關(guān)使得環(huán)路鑒相信號的輸出端輸入到恒溫晶體振蕩器,調(diào)節(jié)恒溫晶體振蕩器的輸出頻率;
[0029]通過FPGA控制三極管的通斷來控制放大電路是否工作,即控制外參考信號是否成功輸入;
[0030]當(dāng)無外參考信號輸入時,F(xiàn)PGA通過控制D/A轉(zhuǎn)換器產(chǎn)生調(diào)諧電壓輸入恒溫晶體振蕩器,調(diào)節(jié)恒溫晶體振蕩器的輸出頻率。
[0031]進(jìn)一步地,恒溫晶體振蕩器的輸出信號經(jīng)過功分器后輸出兩路信號,其中一路經(jīng)過濾波后直接輸出恒溫晶體振蕩器的原始頻率參考信號;另外一路經(jīng)過分頻后分別輸出鎖相環(huán)的反饋信號和分頻后的頻率參考信號。[〇〇32]本發(fā)明的有益效果是:[〇〇33](1)即便在有外參考信號輸入的情況下,整機也可以通過FPGA控制自行選擇是否使用外參考信號。
[0034](2)整機在選擇外參考信號輸入的前提下,電路自身可以判斷外參考信號是否正常輸入以及環(huán)路是否正常工作。
[0035](3)整機可通過FPGA自行控制10MHz參考信號輸出而不會影響參考信號指標(biāo)?!靖綀D說明】
[0036]圖1為本發(fā)明電路結(jié)構(gòu)不意圖;[〇〇37]其中,1.第一濾波電路,2.外參考運算放大電路,3.第一硅NPN型小功率三極管,4.第一D觸發(fā)器,5.第二D觸發(fā)器,6.第一與非門,7.環(huán)路濾波器,8.肖特基雙二極管,9.D/A轉(zhuǎn)換器,10.二選一開關(guān),11.恒溫晶體振蕩器,12.功分器,13.第二濾波電路,14.10分頻器, 15.第二與非門,16.第三與非門,17.第三濾波電路,18.第四與非門,19.第二硅NPN型小功率三極管,20.鎖相判斷端口?!揪唧w實施方式】[〇〇38]下面結(jié)合附圖與實施例對本發(fā)明作進(jìn)一步說明。[0〇39]—種尚性能自檢測外參考時基電路,包括:依次串聯(lián)連接的外參考濾波放大電路、外參考自檢測電路、外參考鑒相濾波電路、二選一開關(guān)10以及恒溫晶體振蕩器11;所述外參考自檢測電路的輸出端連接二選一開關(guān)10的選擇控制端;所述外參考鑒相濾波電路的輸出端連接二選一開關(guān)10的其中一個輸入端;
[0040]在外參考信號輸入時,所述外參考濾波放大電路將外參考信號濾波放大后分成兩路,其中一路與外參考鑒相濾波電路連接,另外一路與外參考自檢測電路連接,控制所述二選一開關(guān)10切換至所述外參考鑒相濾波電路輸出端使得外參考信號進(jìn)行環(huán)路鎖相。二選一開關(guān)10的另一個輸入端連接用于調(diào)節(jié)恒溫晶體振蕩器11輸出頻率的D/A電壓調(diào)諧端;沒有外參考信號輸入或者外參考濾波放大電路不導(dǎo)通時,二選一開關(guān)10切換至所述D/A電壓調(diào)諧端。
[0041]外參考濾波放大電路包括:第一濾波電路1、運算放大電路2以及第一小功率三極管;第一濾波電路1連接運算放大電路2的正極輸入端,運算放大器2的輸出端分別連接外參考自檢測電路與外參考鑒相濾波電路,第一小功率三極管的集電極與運算放大電路2連接,第一小功率三極管的基極連接FPGA信號,第一小功率三極管的發(fā)射極接地。
[0042]外參考自檢測電路包括:肖特基雙二極管8,通過對外參考信號進(jìn)行整流得到高電平信號,控制二選一開關(guān)10切換至所述外參考鑒相濾波電路輸出端使得外參考信號進(jìn)行環(huán)路鎖相。
[0043]外參考鑒相濾波電路包括:串聯(lián)連接的鑒相器和環(huán)路濾波器LPF;鑒相器產(chǎn)生的兩路鑒相信號PD_I^Pro_F通過與第四與非門18電路和第二小功率三極管后引出鎖相判斷端口 20,通過鎖相判斷端口 20的高低電平來判斷外參考信號是否正常輸入以及環(huán)路是否正常鎖相。
[0044]還包括可控參考源發(fā)生電路;可控參考源發(fā)生電路經(jīng)過功分器12與恒溫晶體振蕩器11串聯(lián)連接;恒溫晶體振蕩器11為100MHz恒溫晶體振蕩器;
[0045]功分器12的輸出端分成兩路,第一支路經(jīng)過第二濾波電路13濾波后直接輸出 100MHz參考信號;第二支路經(jīng)過10分頻后又分成兩支路,其中一路作為鎖相環(huán)的反饋信號參與環(huán)路鑒相,另外一路通過FPGA來控制是否輸出10MHz參考信號。
[0046]第二支路具體包括:10分頻器14、第二與非門15、第三與非門16和濾波電路;第二與非門15的第一輸入端連接10分頻器14的輸出端,第二與非門15的第二輸入端連接高電平;第二與非門15的輸出端分成兩路:一路連接外參考自檢測電路,另一路連接第三與非門 16的第二輸入端,第三與非門16的第一輸入端連接FPGA信號,第三與非門16的輸出端經(jīng)過第三濾波電路17后輸出。
[0047]下面對本發(fā)明的電路結(jié)構(gòu)作進(jìn)一步的說明:[0〇48]當(dāng)有外參考信號輸入時,使用鎖相環(huán)電路。10MHz外參考信號經(jīng)過濾波電路后,送入運算放大器后信號經(jīng)過放大,之后一路送到鑒相器PD參與鎖相環(huán)路鑒相,另外一路經(jīng)過肖特基雙二極管8進(jìn)行整流,生成高電平送到二選一開關(guān)10的開關(guān)選擇端,控制開關(guān)自動切換到環(huán)路濾波器7輸出端進(jìn)行環(huán)路鎖相。同時電路中添加第一硅NPN型小功率三極管3,使用 FPGA控制三極管的通斷來控制運算放大器是否工作,這樣即使有外參考信號輸入的情況下,整機也可以自行決定是否與外部測量儀器共時基使用。
[0049]鎖相環(huán)電路主要由鑒相器(PD)、環(huán)路濾波器(LPF)、壓控振蕩器(V⑶)和計數(shù)分頻器(N)組成。首先將壓控振蕩器(V⑶)的輸出信號100MHz經(jīng)過計數(shù)分頻器10分頻,送到鑒相器。鑒相器中同時輸入10MHz的參考信號,鑒相器輸出與兩種信號相位差成正比的誤差信號。LPF將PD輸出的相位誤差信號轉(zhuǎn)換為電壓信號,并送至VC0的輸入端調(diào)節(jié)VC0的輸出頻率,當(dāng)VC0的反饋分頻信號與參考信號相同時,環(huán)路鎖定。這種方法獲得的合成源,輸出信號頻率穩(wěn)定度直接由參考信號決定,因此可以獲得同參考信號相同的高穩(wěn)定度信號。這里得到的100MHz可以通過10分頻或直接輸出作為整機的參考源。
[0050]鎖相環(huán)路的振蕩器選用頻率穩(wěn)定度、相位噪聲等指標(biāo)極高的100MHz恒溫晶體振蕩器110CX0,這樣,在無外參考信號輸入時,直接使用FPGA控制數(shù)模轉(zhuǎn)換芯片D/A轉(zhuǎn)換器9來調(diào)節(jié)振蕩器的調(diào)諧電壓即可得到高性能的信號作為整機的基準(zhǔn)信號。0CX0的輸入信號經(jīng)過功分器12后,一路經(jīng)第二濾波電路13直接輸出,作為100MHz參考信號使用。
[0051]另外一路經(jīng)過10分頻后,再分別經(jīng)過兩個與非門電路分為兩路,一路10MHz信號作為鎖相環(huán)的反饋信號參與環(huán)路鑒相。當(dāng)外參考時鐘與反饋信號頻率相同時,通過由兩觸發(fā)器和與非門電路等分立器件組成的鑒相器ro以及環(huán)路濾波器7產(chǎn)生調(diào)諧電壓調(diào)節(jié)0CX0直到環(huán)路鎖定,這樣達(dá)到與外參考共時基的目的。通過鑒相器產(chǎn)生的另外兩路鑒相信號通過與非門電路以及第二硅NPN型小功率三極管19電路之后通過引出測試端可供上位機進(jìn)行鎖相判斷,即外參考信號輸入的判斷及環(huán)路鎖相判斷。這樣上位機可直觀地對外參考信號進(jìn)行檢測;[〇〇52] 另外一路10MHz信號通過與非門電路受控于FPGA,當(dāng)FPGA為低電平時,10MHz信號經(jīng)過與非門之后輸出為高電平;當(dāng)FPGA為高電平時,10MHz信號經(jīng)過與非門之后正常輸出, 這樣達(dá)到可控參考源的目的。經(jīng)過與非門電路的10MHz信號經(jīng)過濾波電路之后作為整機的 10MHz參考輸出信號。
[0053]因為參考信號的噪聲非常低,同時鎖相環(huán)電路中鑒相器的數(shù)字噪聲會惡化信號的噪聲指標(biāo),所以一般的參考電路鎖相環(huán)路中通常選用分立器件組成的鑒相器進(jìn)行環(huán)路鑒相,本發(fā)明中使用第一 D觸發(fā)器4、第二D觸發(fā)器5和第一與非門6組成電路的鑒相器H),這樣相對于集成鎖相芯片可以有效降低鑒相器的數(shù)字噪聲,優(yōu)化輸出信號的噪聲指標(biāo)。[〇〇54]本發(fā)明的外參考濾波放大電路:當(dāng)10MHz外參考信號輸入時,首先經(jīng)過運算放大器進(jìn)行信號放大,一路進(jìn)行環(huán)路鑒相,另外一路經(jīng)過肖特基雙二極管8進(jìn)行整流轉(zhuǎn)換為高電平,控制振蕩器調(diào)諧端開關(guān)進(jìn)行切換,這樣在外參考輸入的情況下電路自動切換到鑒相端進(jìn)行鎖相。同時添加三極管開關(guān)電路,使用FPGA進(jìn)行控制,這樣即便在有外參考輸入的狀態(tài)下,整機仍然可以自行選擇是否使用外參考信號。[〇〇55]本發(fā)明的10MHz參考源可控輸出回路:使用與非門以及FPGA控制信號對10MHz的外參考信號進(jìn)行輸出控制,當(dāng)FPGA控制端為低電平時,無參考信號輸出,當(dāng)FPGA為高電平時, 10MHz參考源信號經(jīng)過濾波電路后正常輸出。
[0056]本發(fā)明的外參考自檢測電路:當(dāng)有外參考信號輸入時,使用分立鑒相器產(chǎn)生的另外兩路鑒相信號經(jīng)過與非門電路以及三極管電路后引出測試端,可以通過判斷測試端的高低電平來判斷外參考信號是否正常輸入以及環(huán)路是否正常鎖相。[〇〇57]上述雖然結(jié)合附圖對本發(fā)明的【具體實施方式】進(jìn)行了描述,但并非對本發(fā)明保護(hù)范圍的限制,所屬領(lǐng)域技術(shù)人員應(yīng)該明白,在本發(fā)明的技術(shù)方案的基礎(chǔ)上,本領(lǐng)域技術(shù)人員不需要付出創(chuàng)造性勞動即可做出的各種修改或變形仍在本發(fā)明的保護(hù)范圍以內(nèi)。
【主權(quán)項】
1.一種高性能自檢測外參考時基電路,其特征是,包括:依次串聯(lián)連接的外參考濾波放 大電路、外參考自檢測電路、外參考鑒相濾波電路、二選一開關(guān)以及恒溫晶體振蕩器;所述 外參考自檢測電路的輸出端連接二選一開關(guān)的選擇控制端;所述外參考鑒相濾波電路的輸 出端連接二選一開關(guān)的其中一個輸入端;在外參考信號輸入時,所述外參考濾波放大電路將外參考信號濾波放大后分成兩路, 其中一路與外參考鑒相濾波電路連接,另外一路與外參考自檢測電路連接,控制所述二選 一開關(guān)切換至所述外參考鑒相濾波電路輸出端使得外參考信號進(jìn)行環(huán)路鎖相。2.如權(quán)利要求1所述的一種尚性能自檢測外參考時基電路,其特征是,還包括:控制所 述外參考濾波放大電路通斷的開關(guān)控制電路。3.如權(quán)利要求1所述的一種高性能自檢測外參考時基電路,其特征是,還包括:所述二 選一開關(guān)的另一個輸入端連接用于調(diào)節(jié)恒溫晶體振蕩器輸出頻率的D/A電壓調(diào)諧端;沒有 外參考信號輸入或者外參考濾波放大電路不導(dǎo)通時,所述二選一開關(guān)切換至所述D/A電壓 調(diào)諧端。4.如權(quán)利要求1所述的一種高性能自檢測外參考時基電路,其特征是,還包括:可控參 考源發(fā)生電路;所述可控參考源發(fā)生電路經(jīng)過功分器與恒溫晶體振蕩器串聯(lián)連接;所述恒 溫晶體振蕩器為100MHz恒溫晶體振蕩器;所述功分器的輸出端分成兩路,第一支路經(jīng)過濾波后直接輸出100MHz參考信號;第二 支路經(jīng)過10分頻后又分成兩支路,其中一路作為鎖相環(huán)的反饋信號參與環(huán)路鑒相,另外一 路通過改變FPGA來控制是否輸出10MHz參考信號。5.如權(quán)利要求4所述的一種高性能自檢測外參考時基電路,其特征是,所述第二支路具 體包括:10分頻器、第二與非門、第三與非門和濾波電路;所述第二與非門的第一輸入端連接10分頻器的輸出端,第二與非門的第二輸入端連接 高電平信號;第二與非門的輸出端分成兩路:一路連接外參考自檢測電路,另一路連接第三 與非門的第二輸入端,所述第三與非門的第一輸入端連接FPGA信號,第三與非門的輸出端 經(jīng)過濾波電路后輸出。6.如權(quán)利要求1所述的一種尚性能自檢測外參考時基電路,其特征是,所述外參考濾波 放大電路包括:濾波電路、運算放大電路以及第一小功率三極管;所述濾波電路連接運算放大電路的正極輸入端,所述運算放大電路的輸出端分別連接 外參考自檢測電路與外參考鑒相濾波電路,所述第一小功率三極管的集電極與運算放大電 路連接,第一小功率三極管的基極連接FPGA信號,第一小功率三極管的發(fā)射極接地。7.如權(quán)利要求1所述的一種高性能自檢測外參考時基電路,其特征是,所述外參考自檢 測電路包括:肖特基雙二極管,通過對外參考信號進(jìn)行整流得到高電壓信號,控制所述二選 一開關(guān)切換至所述外參考鑒相濾波電路輸出端使得外參考信號進(jìn)行環(huán)路鎖相。8.如權(quán)利要求1所述的一種尚性能自檢測外參考時基電路,其特征是,所述外參考自檢 測電路包括:串聯(lián)連接的鑒相器PD和環(huán)路濾波器LPF;鑒相器產(chǎn)生的兩路鑒相信號PD_I^ ?〇_?通過與非門電路和第二小功率三極管后引出測試端,通過判斷測試端的高低電平來判 斷外參考信號是否正常輸入以及環(huán)路是否正常鎖相。9.一種如權(quán)利要求1所述的高性能自檢測外參考時基電路的實現(xiàn)方法,其特征是,包 括:當(dāng)有外參考信號輸入時,外參考信號經(jīng)過濾波電路、放大電路后分成兩路,其中一路作 為鎖相環(huán)的參考信號進(jìn)行環(huán)路鑒相,另外一路通過控制二選一開關(guān)的輸出使得環(huán)路鑒相信 號的輸出端輸入到恒溫晶體振蕩器,調(diào)節(jié)恒溫晶體振蕩器的輸出頻率;通過FPGA控制三極管的通斷來控制放大電路是否工作,即控制外參考信號是否成功輸 入;當(dāng)無外參考信號輸入時,F(xiàn)PGA通過控制D/A轉(zhuǎn)換器產(chǎn)生調(diào)諧電壓輸入恒溫晶體振蕩器, 調(diào)節(jié)恒溫晶體振蕩器的輸出頻率。10.如權(quán)利要求9所述的一種高性能自檢測外參考時基電路的實現(xiàn)方法,其特征是,恒 溫晶體振蕩器的輸出信號經(jīng)過功分器后輸出兩路信號,其中一路經(jīng)過濾波后直接輸出恒溫 晶體振蕩器的原始頻率參考信號;另外一路經(jīng)過分頻后分別輸出鎖相環(huán)的反饋信號和分頻 后的頻率參考信號。
【文檔編號】H03L7/099GK106027041SQ201610318771
【公開日】2016年10月12日
【申請日】2016年5月12日
【發(fā)明人】王李飛, 張寧
【申請人】中國電子科技集團(tuán)公司第四十研究所, 中國電子科技集團(tuán)公司第四十一研究所
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