一種新型輸入檢測(cè)電路的制作方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明屬于集成電路設(shè)計(jì)領(lǐng)域，用于檢測(cè)1不同輸入狀態(tài)的電路。
【背景技術(shù)】
[0002]在集成電路設(shè)計(jì)中，經(jīng)常需要通過(guò)外部1來(lái)選擇不同的工作模式，常規(guī)的工作模式選擇電路有兩種:一種為數(shù)字輸入，另一種用ADC檢測(cè)模擬輸入；前者結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，但是在工作模式較多的時(shí)候所需1校多，后者結(jié)構(gòu)復(fù)雜。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]基于傳統(tǒng)檢測(cè)電路的缺陷，本發(fā)明公開(kāi)一種簡(jiǎn)單的檢測(cè)電路，可以識(shí)別1連接電源、地、上拉電阻、下拉電阻、懸空這5種狀態(tài)，特別適合工作模式在3到5種的集成電路設(shè)計(jì)，可以有效的節(jié)省1數(shù)量；大大提高1的使用效率。
【附圖說(shuō)明】
[0004]為了更清楚地說(shuō)明本發(fā)明實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)中的技術(shù)方案，下面將對(duì)實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)描述中所需要使用的附圖作簡(jiǎn)單地介紹，顯而易見(jiàn)地，下面描述中的附圖僅僅是本發(fā)明的一些實(shí)施例，對(duì)于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來(lái)講，在不付出創(chuàng)造性勞動(dòng)的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。
[0005]圖1本發(fā)明的新型輸入檢測(cè)電路；
圖2本發(fā)明的新型輸入檢測(cè)電路的一種應(yīng)用；
圖3本發(fā)明的新型輸入檢測(cè)電路真值表。
【具體實(shí)施方式】
[0006]以下結(jié)合附圖，詳細(xì)說(shuō)明發(fā)明公開(kāi)的一種負(fù)電壓觸發(fā)的控制電路的結(jié)構(gòu)和工作過(guò)程。
[0007]圖1是本發(fā)明的一種可以識(shí)別5種輸入狀態(tài)的輸入檢測(cè)電路，可以有效的節(jié)省集成電路的1數(shù)量；具體電路由兩個(gè)偏置電流源、兩個(gè)開(kāi)關(guān)以及兩個(gè)比較器構(gòu)成；偏置電流源Il的一端連接到電源VDD，另一端連接到開(kāi)關(guān)SI的一端；開(kāi)關(guān)SI的一端連接到偏置電流源Il的一端，另一端連接到輸入1端IN ;偏置電流源12的一端連接到地，另一端連接到開(kāi)關(guān)S2的一端；開(kāi)關(guān)S2的一端連接到偏置電流源12的一端，另一端連接到輸入1端IN ；比較器Xl的輸入正端連接到輸入IN，輸入負(fù)端連接到參考電壓VH，輸出端節(jié)點(diǎn)為OUTH ；比較器X2的輸入正端連接到輸入IN，輸入負(fù)端連接到參考電壓VL，輸出端節(jié)點(diǎn)為0UTL。
[0008]圖2是本發(fā)明的一種可能的應(yīng)用，下面結(jié)合圖2分析本發(fā)明的工作原理；其中Rl和R2電阻值相同為R，偏置電流源Il和12電流相等為I，參考電壓0〈VL〈R*1、VDD-R*I〈VH〈VDD，且VDD-R*I > R*I ;電路由本發(fā)明的檢測(cè)電路a和外圍電路b兩部份構(gòu)成，下面分別分析5種狀態(tài)。
[0009]外接上拉電阻:當(dāng)外圍電路S3閉合，S4、S5、S6斷開(kāi)，則外圍輸入為上拉電阻R1，首先檢測(cè)電路SI閉合，S2斷開(kāi)，此時(shí)IN電壓VIN=VDD，OUTH輸出高，OUTL輸出高；然后檢測(cè)電路SI斷開(kāi)，S2閉合，此時(shí)偏置電流源12輸出電流上拉電阻Rl，Vin= VDD-R*I，OUTH輸出低，OUTL輸出高。
[0010]外接下拉電阻:當(dāng)外圍電路S4閉合，S3、S5、S6斷開(kāi)，則外圍輸入為下拉電阻R2，首先檢測(cè)電路SI閉合，S2斷開(kāi)，此時(shí)偏置電流源Il輸出電流流經(jīng)下拉電阻R4，Vin= R*I，OUTH輸出低，OUTL輸出高；然后檢測(cè)電路SI斷開(kāi)，S2閉合，Vin= 0，OUTH輸出低，OUTL輸出低；
外接電源:當(dāng)外圍電路S5閉合，S4、S4、S6斷開(kāi)，則外圍輸入接電源，首先檢測(cè)電路SI閉合，S2斷開(kāi)，此時(shí)IN電壓Vin=VDD, OUTH輸出高，OUTL輸出高；然后檢測(cè)電路SI斷開(kāi)，S2閉合，Vin= VDD, OUTH輸出高，OUTL輸出高。
[0011]外接地:當(dāng)外圍電路S6閉合，S4、S4、S5斷開(kāi)，則外圍輸入接地，首先檢測(cè)電路SI閉合，S2斷開(kāi)，此時(shí)IN電壓Vin=O，OUTH輸出低，OUTL輸出低；然后檢測(cè)電路SI斷開(kāi)，S2閉合，Vin= 0，OUTH輸出低，OUTL輸出低。
[0012]懸空:當(dāng)外圍電路S4、S4、S5、S6均斷開(kāi)，則外圍輸入懸空，首先檢測(cè)電路SI閉合，S2斷開(kāi)，此時(shí)IN電壓Vin= VDD，OUTH輸出高，OUTL輸出高；然后檢測(cè)電路SI斷開(kāi)，S2閉合，Vin= 0，OUTH輸出低，OUTL輸出低。
[0013]綜合以上分析得到本發(fā)明的新型輸入檢測(cè)電路的政治表如圖3。通過(guò)兩次比較可以區(qū)分5中不同的輸入狀態(tài)，特別適合于工作模式在3到5種的集成電路設(shè)計(jì)。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種電路結(jié)構(gòu)，包括: 一種可以識(shí)別5種輸入狀態(tài)的輸入檢測(cè)電路，可以有效的節(jié)省集成電路的1數(shù)量；具體電路由兩個(gè)偏置電流源、兩個(gè)開(kāi)關(guān)以及兩個(gè)比較器構(gòu)成；偏置電流源Il的一端連接到電源VDD，另一端連接到開(kāi)關(guān)SI的一端；開(kāi)關(guān)SI的一端連接到偏置電流源Il的一端，另一端連接到輸入1端IN ;偏置電流源12的一端連接到地，另一端連接到開(kāi)關(guān)S2的一端；開(kāi)關(guān)S2的一端連接到偏置電流源12的一端，另一端連接到輸入1端IN ;比較器Xl的輸入正端連接到輸入IN，輸入負(fù)端連接到參考電壓VH，輸出端節(jié)點(diǎn)為OUTH ；比較器X2的輸入正端連接到輸入IN，輸入負(fù)端連接到參考電壓VL，輸出端節(jié)點(diǎn)為0UTL。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述輸入檢測(cè)電路，其特征在于通過(guò)檢測(cè)電流源流經(jīng)上拉或下拉電阻的壓降來(lái)檢測(cè)輸入的狀態(tài)。
【專(zhuān)利摘要】在集成電路設(shè)計(jì)中，經(jīng)常需要通過(guò)外部IO來(lái)選擇不同的工作模式，常規(guī)的工作模式選擇電路有兩種：一種為數(shù)字輸入，另一種用ADC檢測(cè)模擬輸入；前者結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，但是在工作模式較多的時(shí)候所需IO校多，后者結(jié)構(gòu)復(fù)雜；本發(fā)明公開(kāi)一種簡(jiǎn)單的檢測(cè)電路，可以識(shí)別IO連接電源、地、上拉電阻、下拉電阻、懸空這5種狀態(tài)，特別適合工作模式在3到5種的集成電路設(shè)計(jì)，可以有效的節(jié)省IO數(shù)量。
【IPC分類(lèi)】H03K19/0175
【公開(kāi)號(hào)】CN104901679
【申請(qǐng)?zhí)枴緾N201510319997
【發(fā)明人】李亞
【申請(qǐng)人】長(zhǎng)沙景嘉微電子股份有限公司
【公開(kāi)日】2015年9月9日
【申請(qǐng)日】2015年6月12日