本發(fā)明涉及集成電路領(lǐng)域，尤其涉及一種多輸入數(shù)據(jù)狀態(tài)并行檢測(cè)電路。

背景技術(shù)：

自從人類(lèi)1947年發(fā)明晶體管以來(lái)，50多年間半導(dǎo)體技術(shù)經(jīng)歷了硅晶體管、集成電路、超大規(guī)模集成電路、甚大規(guī)模集成電路等幾代，發(fā)展速度之快是其他產(chǎn)業(yè)所沒(méi)有的；中央處理器是指計(jì)算機(jī)內(nèi)部對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行處理并對(duì)處理過(guò)程進(jìn)行控制的部件，伴隨著大規(guī)模集成電路技術(shù)的迅速發(fā)展，芯片集成密度越來(lái)越高，CPU可以集成在一個(gè)半導(dǎo)體芯片上，這種具有中央處理器功能的大規(guī)模集成電路器件，被統(tǒng)稱(chēng)為“微處理器”；無(wú)論是錄像機(jī)、智能洗衣機(jī)、移動(dòng)電話等家電產(chǎn)品，還是汽車(chē)引擎控制，以及數(shù)控機(jī)床、導(dǎo)彈精確制導(dǎo)等都要嵌入各類(lèi)不同的微處理器；微處理器不僅是微型計(jì)算機(jī)的核心部件，也是各種數(shù)字化智能設(shè)備的關(guān)鍵部件。

而接口芯片，是用于連接微處理器和存儲(chǔ)器之間的一種電子元器件，它包括有數(shù)據(jù)暫存緩沖的數(shù)據(jù)緩沖器或總線緩沖器、為地址信號(hào)提供較大驅(qū)動(dòng)能力的總線驅(qū)動(dòng)器等等，簡(jiǎn)而言之，接口芯片是用來(lái)保證數(shù)據(jù)傳輸過(guò)程的安全和穩(wěn)定性。

然而，在數(shù)據(jù)傳輸?shù)倪^(guò)程中，接口芯片的輸入接口會(huì)因接觸不良而無(wú)法確定接口芯片的輸入數(shù)據(jù)是否有效，此時(shí)，接口芯片的輸出接口卻仍然會(huì)輸出“0”或“1”的確定信號(hào)，并將其信號(hào)傳輸?shù)轿⑻幚砥鳟?dāng)中；然而，由于輸入接口的接觸不良，使接口芯片的輸入數(shù)據(jù)不能反映出真實(shí)的數(shù)據(jù)，從而導(dǎo)致接口芯片的輸出數(shù)據(jù)是沒(méi)有意義的。如何獲取接口芯片上輸入數(shù)據(jù)的有效性，從而決定是否采信接口芯片上的輸出數(shù)據(jù)，便成為了人們研究的一個(gè)問(wèn)題。

在數(shù)字電路中，數(shù)字電路一般有三種輸出狀態(tài)，為高電平、低電平和高阻態(tài)，其中高電平為邏輯“1”，低電平為邏輯“0”，高阻態(tài)相當(dāng)于隔斷狀態(tài)；其中由邏輯“1”和邏輯“0”組成的二進(jìn)制信號(hào)，是目前電子芯片內(nèi)部傳輸數(shù)據(jù)的主要方式，而接口芯片的輸入接口若是懸空或接觸不良的情況下，便會(huì)形成高阻態(tài)，正是基于此，若能通過(guò)對(duì)接口芯片的輸入進(jìn)行高阻態(tài)的測(cè)試，來(lái)獲取接口芯片上輸入數(shù)據(jù) 的有效性，從而避免無(wú)法判斷輸出數(shù)據(jù)是否有效的技術(shù)問(wèn)題。

因此，有必要提供一種輸入能檢測(cè)輸入數(shù)據(jù)有效性的電路。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

本發(fā)明為解決上述問(wèn)題提供一種多輸入數(shù)據(jù)狀態(tài)并行檢測(cè)電路，通過(guò)對(duì)多個(gè)數(shù)據(jù)輸入接口的輸入電壓信號(hào)進(jìn)行分別比較，根據(jù)與門(mén)的輸出數(shù)據(jù)來(lái)判斷多個(gè)數(shù)據(jù)輸入接口的輸入數(shù)據(jù)是否全部有效，從而實(shí)現(xiàn)了對(duì)多個(gè)數(shù)據(jù)輸入接口的輸入數(shù)據(jù)是否有效的并行檢測(cè)。

為實(shí)現(xiàn)上述目的，達(dá)到上述效果，本發(fā)明通過(guò)以下技術(shù)方案實(shí)現(xiàn)：

一種多輸入數(shù)據(jù)狀態(tài)并行檢測(cè)電路，該檢測(cè)電路包括與多個(gè)數(shù)據(jù)輸入接口一一對(duì)應(yīng)的檢測(cè)分路；該檢測(cè)分路包括偏置電路、第一閥值比較單元、第二閥值比較單元；其中偏置電路包括兩個(gè)串聯(lián)的電阻，兩個(gè)電阻之間的節(jié)點(diǎn)與數(shù)據(jù)輸入接口相連，連接數(shù)據(jù)輸入接口的節(jié)點(diǎn)與第一閥值比較單元、第二閥值比較單元的第一輸入端連接；第一閥值比較單元、第二閥值比較單元的第二輸入端分別與一個(gè)閥值輸入接口連接，第一閥值比較單元、第二閥值比較單元的輸出端與門(mén)電路的兩個(gè)輸入端一一對(duì)應(yīng)連接，每個(gè)檢測(cè)分路中的門(mén)電路的輸出端連接在一個(gè)與門(mén)的輸入端上，根據(jù)與門(mén)的輸出端數(shù)據(jù)來(lái)判斷數(shù)據(jù)輸入接口的輸入數(shù)據(jù)是否有效。

作為優(yōu)選的，門(mén)電路為同或門(mén)或異或門(mén)。

作為優(yōu)選的，為了檢測(cè)出電路輸出狀態(tài)為高電平、低電平或高阻態(tài)，閥值輸入接口包含有高閥值輸入接口、低閥值輸入接口，將第一閥值比較單元的第二輸入端連接高閥值輸入接口，第二閥值比較單元的第二輸入端連接低閥值輸入接口，從高閥值輸入接口、低閥值輸入接口上傳輸進(jìn)來(lái)的高、低電平電壓閥值作為比較器的比較基準(zhǔn)。

作為優(yōu)選的，第一閥值比較單元或第二閥值比較單元的輸出端擇一與數(shù)據(jù)輸出接口連接，即將輸入數(shù)據(jù)傳輸?shù)较乱患?jí)電路中。

作為優(yōu)選的，當(dāng)輸入數(shù)據(jù)有效時(shí)，與該電路連接的下一級(jí)電路將繼續(xù)采集該數(shù)據(jù)信號(hào)；當(dāng)輸入數(shù)據(jù)無(wú)效時(shí)，與該電路連接的下一級(jí)電路將停止采集該數(shù)據(jù)信號(hào)。

作為優(yōu)選的，由于高、低電平的取值范圍為兩個(gè)極端，所以產(chǎn)生的偏置電路取中間值時(shí)方案較佳，故而使兩個(gè)電阻的阻值相等，并使其中一個(gè)電阻與電源連接，另一個(gè)電阻與地連接，從而使中間節(jié)點(diǎn)產(chǎn)生的偏置電壓為電路電壓的中間值。

作為優(yōu)選的，第一閥值比較單元、第二閥值比較單元的第一輸入端為同相端，第一閥值比較單元、第二閥值比較單元的第二輸入端為反相端，即第一閥值比較單元、第二閥值比較單元均使用正邏輯。

作為優(yōu)選的，高閥值輸入接口輸入高電平電壓閥值，低閥值輸入接口輸入低電平電壓閥值，兩個(gè)電阻之間的節(jié)點(diǎn)電壓小于高電平電壓閥值，且大于低電平電壓閥值，即高、低電平電壓閥值形成三個(gè)電壓區(qū)間，分別對(duì)應(yīng)電路輸出的三種狀態(tài)。

作為優(yōu)選的，為了適應(yīng)不同的工作環(huán)境和需求，兩個(gè)電阻可等效替換為兩個(gè)電流源，其中一個(gè)電流源與電源連接，另一個(gè)電流源與地連接，電流源的電流流向?yàn)殡娫捶较蛑恋?，其目的是產(chǎn)生偏置電壓。

本發(fā)明的有益效果是：

一種多輸入數(shù)據(jù)狀態(tài)并行檢測(cè)電路，通過(guò)檢測(cè)分路對(duì)多個(gè)數(shù)據(jù)輸入接口的輸入電壓信號(hào)進(jìn)行分別比較，根據(jù)檢測(cè)分路中的門(mén)電路的輸出數(shù)據(jù)來(lái)判斷該數(shù)據(jù)輸入接口的輸入數(shù)據(jù)是否有效，并將多個(gè)檢測(cè)分路的檢測(cè)結(jié)果通過(guò)一個(gè)與門(mén)進(jìn)行運(yùn)算，并根據(jù)與門(mén)的輸出端數(shù)據(jù)來(lái)判斷多個(gè)數(shù)據(jù)輸入接口的輸入數(shù)據(jù)是否全部有效，從而保證數(shù)據(jù)傳輸過(guò)程的有效性，并能在多個(gè)輸入接口中一個(gè)或多個(gè)發(fā)生懸空或接觸不良時(shí)能及時(shí)發(fā)現(xiàn)，避免因?yàn)椴杉療o(wú)意義的信號(hào)作為數(shù)據(jù)所導(dǎo)致的故障和造成的時(shí)間浪費(fèi)。

上述說(shuō)明僅是本發(fā)明技術(shù)方案的概述，為了能夠更清楚了解本發(fā)明的技術(shù)手段，并可依照說(shuō)明書(shū)的內(nèi)容予以實(shí)施，以下以本發(fā)明的較佳實(shí)施例并配合附圖詳細(xì)說(shuō)明如后，本發(fā)明的具體實(shí)施方式由以下實(shí)施例及其附圖詳細(xì)給出。

附圖說(shuō)明

此處所說(shuō)明的附圖用來(lái)提供對(duì)本發(fā)明的進(jìn)一步理解，構(gòu)成本申請(qǐng)的一部分，本發(fā)明的示意性實(shí)施例及其說(shuō)明用于解釋本發(fā)明，并不構(gòu)成對(duì)本發(fā)明的不當(dāng)限定。在附圖中：

圖1為本發(fā)明第一實(shí)施例涉及的檢測(cè)分路的具體電路示意圖；

圖2為本發(fā)明第一實(shí)施例涉及的多個(gè)檢測(cè)分路與與門(mén)之間連接的電路示意圖；

圖3為含有本發(fā)明多輸入數(shù)據(jù)狀態(tài)并行檢測(cè)電路的芯片與部分外圍電路的示意圖；

圖4為本發(fā)明第一實(shí)施例涉及的檢測(cè)分路中各位置電壓的示意圖；

圖5為本發(fā)明第二施例涉及的檢測(cè)分路的具體電路示意圖；

圖6為本發(fā)明第三實(shí)施例涉及的多檢測(cè)分路的具體電路示意圖；

圖7為本發(fā)明第四實(shí)施例涉及的檢測(cè)分路的具體電路示意圖。

其中，IN、IN₁-IN₄為數(shù)據(jù)輸入接口，D_out、D_out1- D_out4為數(shù)據(jù)輸出接口，D_INS為數(shù)據(jù)輸入狀態(tài)輸出接口，V_H為高閥值輸入接口，V_L為低閥值輸入接口，V_CC為電路的供電電源，GND為接地端，R₁-R₆為電阻，IS₁、IS₂為電流源，A₁為第一閥值比較單元，A₂為第二閥值比較單元，D_INS1為第一數(shù)據(jù)輸入狀態(tài)輸出接口，D_INSX為第X數(shù)據(jù)輸入狀態(tài)輸出接口，D_INSN為第N數(shù)據(jù)輸入狀態(tài)輸出接口，ST為多數(shù)據(jù)輸入狀態(tài)總輸出接口。

其中，圖4中各位置的電壓說(shuō)明如下：V_IN為輸入電壓，V_bias為偏置電壓，V_A1+為第一閥值比較單元A₁同相端的輸入電壓，V_A1-為第一閥值比較單元A₁反相端的輸入電壓，V_A2+為第二閥值比較單元A₂同相端的輸入電壓，V_A2-為第二閥值比較單元A₂反相端的輸入電壓，V_outa為第一閥值比較單元A₁的輸出電壓，V_outb為第二閥值比較單元A₂的輸出電壓，V_refh為高閥值輸入電壓，V_refl為低閥值輸入電壓，V_out為輸出電壓，V_INS為數(shù)據(jù)輸入狀態(tài)檢測(cè)電壓。

具體實(shí)施方式

下面將參考附圖并結(jié)合實(shí)施例，來(lái)詳細(xì)說(shuō)明本發(fā)明：

如圖1至圖4所示的為本發(fā)明的第一實(shí)施例，其中圖1為第一實(shí)施例中檢測(cè)分路的具體電路示意圖；該檢測(cè)分路包括與多個(gè)數(shù)據(jù)輸入接口IN一一對(duì)應(yīng)的檢測(cè)分路，該檢測(cè)分路包括偏置電路、第一閥值比較單元A₁、第二閥值比較單元A₂；其中偏置電路包括兩個(gè)串聯(lián)的電阻R₁、R₂，電阻R₁與電路的供電電源V_CC連接，電阻R₂與接地端GND連接，在電阻R₁、R₂之間的節(jié)點(diǎn)與數(shù)據(jù)輸入接口IN相連。

如圖1所示，第一閥值比較單元A₁、第二閥值比較單元A₂均使用正邏輯，使得與數(shù)據(jù)輸入接口IN的節(jié)點(diǎn)與第一閥值比較單元A₁、第二閥值比較單元A₂的第一輸入端連接，且兩個(gè)比較單元的第一輸入端均為同相端；兩個(gè)比較單元的第二輸入端為反相端，其中第一閥值比較單元A₁的第二輸入端連接高閥值輸入接口V_H，第二閥值比較單元A₂的第二輸入端連接低閥值輸入接口V_L；第一閥值比較單元A₁、第二閥值比較單元A₂的輸出端與同或門(mén)的兩個(gè)輸入端一一對(duì)應(yīng)連接，同或門(mén)的輸出端與數(shù)據(jù)輸入狀態(tài)輸出接口D_INS連接，第一閥值比較單元A₁的輸出端同時(shí)與數(shù)據(jù)輸出接口D_out連接。

如圖2所示，每個(gè)檢測(cè)分路中的同或門(mén)的輸出端連接在一個(gè)與門(mén)的輸入端上，并結(jié)合圖3，本發(fā)明的第一實(shí)施例的檢測(cè)對(duì)象為4個(gè)數(shù)據(jù)輸入接口，分別為數(shù)據(jù)輸入接口IN₁-IN₄，即圖2中的N=4，經(jīng)過(guò)相應(yīng)的檢測(cè)分路后，輸出相應(yīng)的數(shù)據(jù)輸出接口D_out1-D_out4、輸入狀態(tài)輸出接口D_INS1- D_INS4；輸入狀態(tài)輸出接口D_INS1- D_INS4均連接在一個(gè)與門(mén)的輸入端上，該與門(mén)的輸出端連接有一個(gè)多數(shù)據(jù)輸入狀態(tài)總輸出接口ST。

圖3所示的為含有本發(fā)明的芯片與部分外圍電路的示意圖，電阻R₃、R₄之間形成的節(jié)點(diǎn)與高閥值輸入接口V_H連接，電阻R₅、R₆之間形成的節(jié)點(diǎn)與低閥值輸入接口V_L連接，通過(guò)電阻R₃、R₄之間、電阻R₅、R₆之間形成的比例關(guān)系，從而生成與該檢測(cè)分路電壓相適應(yīng)的高、低電平電壓閥值，并以高、低電平電壓閥值作為比較基準(zhǔn)。

而這其中，高電平電壓閥值V_refh設(shè)置為接近但小于高電平電壓的下限值，低電平電壓閥值V_refl設(shè)置為接近但大于低電平電壓的下限值，電阻R₁、R₂之間的節(jié)點(diǎn)電壓小于高電平電壓閥值V_refh，且大于低電平電壓閥值V_refl，即形成三個(gè)電壓區(qū)間，分別為大于高電平電壓閥值V_refh的區(qū)間、處于高電平電壓閥值V_refh與低電平電壓閥值V_refl之間的區(qū)間以及小于低電平電壓閥值V_refl的區(qū)間，并分別對(duì)應(yīng)電路輸出的三種狀態(tài)。

同時(shí)，為了保證更理想的檢測(cè)效果，使電阻R₁、R₂的阻值相等，且電阻R₁、R₂阻值很大，從而在理想情況下，產(chǎn)生的偏置電壓V_bias為電路的供電電源V_CC的二分之一，且該偏置電路上的電流很小，使其對(duì)輸入數(shù)據(jù)的高、低電平所造成的影響忽略不計(jì)。

為了更好的說(shuō)明檢測(cè)分路的工作過(guò)程，配合圖4中各位置電壓如的示意圖，數(shù)據(jù)輸入接口IN上三種形態(tài)下的電路分析如下：

（1）、當(dāng)數(shù)據(jù)輸入接口IN所處的狀態(tài)為高電平時(shí)，V_A1+ =V_A2+=V_IN=V_IH（輸入高電平），V_A1-=V_refh，V_A2-=V_refl，由于V_IH> V_refh 且V_IH> V_refl，從而使第一閥值比較單元A₁的輸出電壓V_outa、第二閥值比較單元A₂的輸出電壓V_outb均為高電平，經(jīng)過(guò)同或門(mén)運(yùn)算后，得到的數(shù)據(jù)輸入狀態(tài)檢測(cè)電壓V_INS為高電平，即輸出的邏輯值為1。

（2）、當(dāng)數(shù)據(jù)輸入接口IN所處的狀態(tài)為低電平時(shí)，V_A1+ =V_A2+=V_IN=V_IL（輸入低電平），V_A1- =V_refh，V_A2-=V_refl，由于V_IL<V_refh 且V_IL <V_refl，從而使第一閥值比較單元A₁的輸出電壓V_outa、第二閥值比較單元A₂的輸出電壓V_outb均為低電平，經(jīng)過(guò)同或門(mén)運(yùn)算后，得到的數(shù)據(jù)輸入狀態(tài)檢測(cè)電壓V_INS為高電平，即輸出的邏輯值為1。

（3）、當(dāng)數(shù)據(jù)輸入接口IN所處的狀態(tài)為高阻態(tài)時(shí)，等同于數(shù)據(jù)輸入接口IN上沒(méi)有外接，此時(shí)，V_A1+ =V_A2+=V_bias，由于V_refl < V_bias < V_refh，從而使第一閥值比較單元A₁的輸出電壓V_outa為低電平、第二閥值比較單元A₂的輸出電壓V_outb為高電平，即第一閥值比較單元A₁輸出的邏輯值為0，第二閥值比較單元A₂輸出的邏輯值為1，經(jīng)過(guò)同或門(mén)運(yùn)算后，得到的數(shù)據(jù)輸入狀態(tài)檢測(cè)電壓V_INS為低電平，即輸出的邏輯值為0。

綜上所述，當(dāng)多個(gè)數(shù)據(jù)輸入狀態(tài)檢測(cè)電壓V_INS的輸出邏輯值均為1時(shí)，經(jīng)過(guò)與門(mén)的運(yùn)算后得到的輸出邏輯值為1，多個(gè)數(shù)據(jù)輸入接口IN所處的狀態(tài)均為高電平或低電平，即多個(gè)數(shù)據(jù)輸入接口IN的輸入數(shù)據(jù)邏輯均為有效，并且在邏輯上，輸出電壓V_out與輸入電壓V_IN相等，故與該檢測(cè)電路連接的下一級(jí)電路取數(shù)據(jù)輸出接口D_out的輸出數(shù)據(jù)作為該下一級(jí)電路的輸入數(shù)據(jù)即可；當(dāng)多個(gè)數(shù)據(jù)輸入狀態(tài)檢測(cè)電壓V_INS的輸出邏輯值中有一個(gè)為0時(shí)，經(jīng)過(guò)與門(mén)的運(yùn)算后得到的輸出邏輯值為0，多個(gè)數(shù)據(jù)輸入接口IN中有一個(gè)數(shù)據(jù)輸入接口IN所處的狀態(tài)為高阻態(tài)，即多個(gè)數(shù)據(jù)輸入接口IN的輸入數(shù)據(jù)邏輯無(wú)效，故與該檢測(cè)電路連接的下一級(jí)電路停止采信該輸出數(shù)據(jù)。

圖5為本發(fā)明第二施例中檢測(cè)分路的具體電路示意圖，與第一實(shí)施例相比的區(qū)別在于：第一閥值比較單元A₁、第二閥值比較單元A₂的第一輸入端均為反相端；第一閥值比較單元A₁、第二閥值比較單元A₂的第二輸入端為同相端，當(dāng)數(shù)據(jù)輸入接口IN所處的狀態(tài)為高電平時(shí)，第一閥值比較單元A₁、第二閥值比較單元A₂輸出的邏輯值均為0，當(dāng)數(shù)據(jù)輸入接口IN所處的狀態(tài)為低電平時(shí)，第一閥值比較單元A₁、第二閥值比較單元A₂輸出的邏輯值均為1，即輸出邏輯值與輸入邏輯值相反，此時(shí)與該檢測(cè)電路連接的下一級(jí)電路取數(shù)據(jù)輸出接口D_out的輸出數(shù)據(jù)與非門(mén)運(yùn)算后的結(jié)果作為該下一級(jí)電路的輸入數(shù)據(jù)均可，其余參照上述關(guān)于第一實(shí)施例的描述。

圖6為本發(fā)明第三實(shí)施例中檢測(cè)分路的具體電路示意圖，該檢測(cè)分路包括偏置電路、第一閥值比較單元A₁、第二閥值比較單元A₂；其中偏置電路包括兩個(gè)串聯(lián)的電流源IS₁、IS₂，電流源IS₁與電路的供電電源V_CC連接，電流源IS₂與接地端GND連接，在電流源IS₁、IS₂之間的節(jié)點(diǎn)與數(shù)據(jù)輸入接口IN相連，即本發(fā)明第三實(shí)施例是在第一實(shí)施例的基礎(chǔ)上，將偏置電路上的電阻R₁、R₂替換為電流源IS₁、IS₂，其余參照上述關(guān)于第一實(shí)施例的描述。

圖7為本發(fā)明第四實(shí)施例中檢測(cè)分路的具體電路示意圖，第一閥值比較單元A₁、第二閥值比較單元A₂的輸出端與異或門(mén)的兩個(gè)輸入端一一對(duì)應(yīng)連接，異或門(mén)的輸出端與數(shù)據(jù)輸入狀態(tài)輸出接口D_INS連接，此時(shí)，當(dāng)數(shù)據(jù)輸入狀態(tài)檢測(cè)電壓V_INS的輸出邏輯值為0時(shí)，數(shù)據(jù)輸入接口IN的輸入數(shù)據(jù)邏輯有效；當(dāng)數(shù)據(jù)輸入狀態(tài)檢測(cè)電壓V_INS的輸出邏輯值為1時(shí)，數(shù)據(jù)輸入接口IN的輸入數(shù)據(jù)邏輯無(wú)效，即本發(fā)明的第四實(shí)施例是在第一實(shí)施例的基礎(chǔ)上，將同或門(mén)替換為異或門(mén)，使得輸出邏輯值和有效性的對(duì)應(yīng)與第一實(shí)施例相反，其余參照上述關(guān)于第一實(shí)施例的描述。

同時(shí)，第二實(shí)施例中將同相端和反相端的調(diào)換，第三實(shí)施例中將電阻R₁、R₂替換為電流源IS₁、IS₂，第四實(shí)施例中將同或門(mén)替換為異或門(mén)的形式，均是在第一實(shí)施例的基礎(chǔ)上進(jìn)行的單一替換，該三種替換方式可自由組合成新的實(shí)施例，例如第五實(shí)施例：在第一實(shí)施例的基礎(chǔ)上，將電阻R₁、R₂替換為電流源IS₁、IS₂，將同或門(mén)替換為異或門(mén)，這樣形成的第五實(shí)施例是對(duì)第三實(shí)施、第四實(shí)施例的簡(jiǎn)單組合，此類(lèi)組合而成新的實(shí)施例均為本發(fā)明的等效實(shí)施例；另外，本發(fā)明第一實(shí)施例中檢測(cè)對(duì)象為4個(gè)數(shù)據(jù)輸入接口，并不能構(gòu)成對(duì)本發(fā)明的限制，將4修改為2以上任一數(shù)字，均為本發(fā)明的等效實(shí)施例。

以上所述，僅為本發(fā)明的較佳實(shí)施例而已，并非對(duì)本發(fā)明作任何形式上的限制；凡本行業(yè)的普通技術(shù)人員均可按說(shuō)明書(shū)附圖所示和以上所述而順暢地實(shí)施本發(fā)明；但是,凡熟悉本專(zhuān)業(yè)的技術(shù)人員在不脫離本發(fā)明技術(shù)方案范圍內(nèi)，利用以上所揭示的技術(shù)內(nèi)容而做出的些許更動(dòng)、修飾與演變的等同變化，均為本發(fā)明的等效實(shí)施例；同時(shí),凡依據(jù)本發(fā)明的實(shí)質(zhì)技術(shù)對(duì)以上實(shí)施例所作的任何等同變化的更動(dòng)、修飾與演變等，均仍屬于本發(fā)明的技術(shù)方案的保護(hù)范圍之內(nèi)。