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增強(qiáng)電容式觸摸按鍵抗手機(jī)干擾的方法及電路與流程

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增強(qiáng)電容式觸摸按鍵抗手機(jī)干擾的方法及電路與流程
本發(fā)明涉及一種方法及電路,尤其是一種增強(qiáng)電容式觸摸按鍵抗手機(jī)干擾的方法及電路,屬于觸摸抗干擾的技術(shù)領(lǐng)域。

背景技術(shù):
近年來(lái),隨著觸摸技術(shù)的廣泛應(yīng)用,用于按鍵應(yīng)用的電容式觸摸呈現(xiàn)出快速增長(zhǎng)。電容式觸摸按鍵不僅出現(xiàn)在電視、顯示器、廚房電器等高端產(chǎn)品中,亦已滲透到消費(fèi)電子領(lǐng)域各個(gè)方面。觸摸按鍵開(kāi)關(guān)大多是采用電容測(cè)量的方式,通過(guò)計(jì)算感應(yīng)點(diǎn)處電容上電荷的變化來(lái)判斷感應(yīng)點(diǎn)電容值的變化,從而得出觸摸動(dòng)作是否產(chǎn)生。公開(kāi)號(hào)為CN101060321A的文件公開(kāi)了一種觸摸感應(yīng)方法,對(duì)于公開(kāi)號(hào)為CN101060321A中的附圖1,在具體實(shí)施時(shí),通過(guò)計(jì)量電容CS到電容CC的電荷搬運(yùn)次數(shù)的變化來(lái)判斷觸摸動(dòng)作的產(chǎn)生。隨著手機(jī)的普及,手機(jī)與觸摸按鍵出現(xiàn)在同一空間環(huán)境的情況越來(lái)越多,手機(jī)的高頻輻射對(duì)觸摸按鍵的識(shí)別會(huì)產(chǎn)生顯著的影響,特別是在手機(jī)撥打或接通瞬間且距離觸摸按鍵較近時(shí),會(huì)導(dǎo)致觸摸動(dòng)作的誤識(shí)別,進(jìn)而導(dǎo)致相關(guān)設(shè)備的誤動(dòng)作。對(duì)于公開(kāi)文件CN101060321A中公開(kāi)的觸摸感應(yīng)技術(shù),實(shí)現(xiàn)原理中的主要器件CS和CC都是電容元件,其本身更易感應(yīng)手機(jī)的電磁輻射。當(dāng)前很多應(yīng)用方案采用金屬屏蔽或在PCB上增加濾波電路的方式來(lái)避免手機(jī)干擾的影響。但是,金屬屏蔽無(wú)法將感應(yīng)端隔離,且成本較高,在感應(yīng)端干擾足夠強(qiáng)時(shí)仍然能夠影響觸摸按鍵的識(shí)別,PCB上增加濾波電路的方式也會(huì)導(dǎo)致系統(tǒng)成本的增加。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素:
本發(fā)明的目的是克服現(xiàn)有技術(shù)中存在的不足,提供一種增強(qiáng)電容式觸摸按鍵抗干擾的方法及電路,其操作方便,在不增加元器件下增加增強(qiáng)電容式觸摸按鍵對(duì)于手機(jī)干擾的耐受性,安全可靠。按照本發(fā)明提供的技術(shù)方案,所述增強(qiáng)電容式觸摸按鍵抗手機(jī)干擾的方法,所述抗手機(jī)干擾的方法包括如下步驟:步驟1、判斷是否有觸摸動(dòng)作發(fā)生;步驟2、觸摸動(dòng)作發(fā)生后,調(diào)整觸摸按鍵掃描的周期時(shí)間,以在干擾耦合信號(hào)的一個(gè)周期內(nèi)進(jìn)行預(yù)設(shè)次數(shù)的采樣;步驟3、統(tǒng)計(jì)上述步驟2中預(yù)設(shè)次數(shù)采樣中識(shí)別到觸摸動(dòng)作的次數(shù);步驟4、當(dāng)步驟3中識(shí)別的觸摸動(dòng)作次數(shù)大于預(yù)設(shè)觸摸閾值時(shí),則將觸摸按鍵掃描的周期時(shí)間調(diào)整至常規(guī)的掃描周期時(shí)間,以進(jìn)行常規(guī)的觸摸動(dòng)作判斷,否則,判斷存在手機(jī)干擾。所述步驟2中,在干擾耦合信號(hào)的一個(gè)周期內(nèi)進(jìn)行預(yù)設(shè)采樣的次數(shù)為3~9次。所述步驟4中,預(yù)設(shè)觸摸閾值大于2,且不大于預(yù)設(shè)采樣的次數(shù)。一種增強(qiáng)電容式觸摸按鍵抗手機(jī)干擾的電路,包括電容Cs、電容Cc、電壓比較器以及計(jì)數(shù)器,其特征是:所述電容Cs的一端接地,電容Cs的另一端與開(kāi)關(guān)S1的一端以及開(kāi)關(guān)S2的一端連接,開(kāi)關(guān)S1的另一端與充電電壓V1連接,開(kāi)關(guān)S2的另一端與電壓比較器的同相端、開(kāi)關(guān)S3的一端以及電容Cc的一端連接,電容Cc的另一端以及開(kāi)關(guān)S3的另一端接地,電壓比較器的反相端與參考電壓Vref連接,電壓比較器的輸出端與計(jì)數(shù)器的控制端連接,計(jì)數(shù)器與計(jì)數(shù)值處理與判決單元連接,計(jì)數(shù)值處理與判決單元與開(kāi)關(guān)S3的控制端連接;計(jì)數(shù)值處理與判決單元根據(jù)計(jì)數(shù)器的計(jì)數(shù)值判斷是否有觸摸動(dòng)作發(fā)生,計(jì)數(shù)值處理與判決單元判斷觸摸動(dòng)作發(fā)生后,調(diào)整觸摸按鍵掃描的周期時(shí)間,以在干擾耦合信號(hào)的一個(gè)周期內(nèi)進(jìn)行預(yù)設(shè)次數(shù)的采樣,且數(shù)值處理與判決單位統(tǒng)計(jì)預(yù)設(shè)次數(shù)采樣中識(shí)別到觸摸動(dòng)作的次數(shù);當(dāng)識(shí)別的觸摸動(dòng)作次數(shù)大于預(yù)設(shè)觸摸閾值時(shí),計(jì)數(shù)值處理與判決單元?jiǎng)t將觸摸按鍵掃描的周期時(shí)間調(diào)整至常規(guī)的掃描周期時(shí)間,以進(jìn)行常規(guī)的觸摸動(dòng)作判斷,否則,判斷存在手機(jī)干擾。所述充電電壓V1為0.5VDD~VDD。本發(fā)明的優(yōu)點(diǎn):在確定有觸摸動(dòng)作發(fā)生后,通過(guò)調(diào)整觸摸按鍵的掃描周期時(shí)間,并在干擾耦合信號(hào)的一個(gè)周期內(nèi)進(jìn)行預(yù)設(shè)次數(shù)的采樣,通過(guò)對(duì)預(yù)設(shè)次數(shù)采樣內(nèi)識(shí)別到的觸摸動(dòng)作進(jìn)行統(tǒng)計(jì),通過(guò)識(shí)別的觸摸動(dòng)作次數(shù)與預(yù)設(shè)觸摸閾值之間的關(guān)系,判斷是否有手機(jī)干擾,可在不改變?cè)邢到y(tǒng)元件的情況下有效增強(qiáng)電容觸摸按鍵的手機(jī)干擾耐受性;還可以不用改變已有的電容觸摸按鍵識(shí)別方法,只需在現(xiàn)有識(shí)別方法中增加本發(fā)明提出的相應(yīng)步驟,操作方便,安全可靠。附圖說(shuō)明圖1為本發(fā)明的流程圖。圖2為出現(xiàn)手機(jī)干擾時(shí)電容Cc以及電容Cs上的信號(hào)特性。圖3為本發(fā)明的電路框圖。具體實(shí)施方式下面結(jié)合具體附圖和實(shí)施例對(duì)本發(fā)明作進(jìn)一步說(shuō)明。如圖1所示:為了在不增加元器件下增強(qiáng)電容式觸摸按鍵對(duì)于手機(jī)干擾的耐受性,本發(fā)明抗手機(jī)干擾的方法包括如下步驟:步驟1、判斷是否有觸摸動(dòng)作發(fā)生;在具體實(shí)施時(shí),判斷是否有觸摸動(dòng)作發(fā)生采用公開(kāi)文件CN101060321A中提供的方法,即在觸摸按鍵的掃描周期內(nèi),通過(guò)計(jì)數(shù)器對(duì)開(kāi)關(guān)S1、開(kāi)關(guān)S2的開(kāi)關(guān)次數(shù)計(jì)數(shù),然后將計(jì)數(shù)器內(nèi)的計(jì)數(shù)值與計(jì)數(shù)值處理與判決單元中的無(wú)觸摸時(shí)的充電時(shí)間進(jìn)行差值計(jì)算,當(dāng)差值大于預(yù)先設(shè)定的標(biāo)準(zhǔn)差值時(shí),則計(jì)數(shù)值處理與判決單元判現(xiàn)在的狀態(tài)為觸摸狀態(tài)。具體的過(guò)程參考公開(kāi)文件CN101060321A中的內(nèi)容描述,具體不再贅述。步驟2、觸摸動(dòng)作發(fā)生后,調(diào)整觸摸按鍵掃描的周期時(shí)間,以在干擾耦合信號(hào)的一個(gè)周期內(nèi)進(jìn)行預(yù)設(shè)次數(shù)的采樣;一般地,在無(wú)干擾期間電容Cs和電容Cc的正極板信號(hào)保持穩(wěn)定,當(dāng)增強(qiáng)電容式觸摸按鍵存在手機(jī)干擾時(shí),電容Cs和電容Cc的感應(yīng)信號(hào)均呈現(xiàn)出穩(wěn)定的周期特性,手機(jī)干擾呈周期性出現(xiàn),如圖2所示,圖2中示出了周期為4.5ms的整數(shù)倍,占空比為1/9的信號(hào)特性圖,4.5ms的周期對(duì)應(yīng)500μs的高電平,電容Cs和電容Cs的感應(yīng)信號(hào)在手機(jī)干擾的高電平期間觸摸按鍵識(shí)別極易出現(xiàn)錯(cuò)誤。為了能夠?qū)κ謾C(jī)干擾進(jìn)行識(shí)別,本發(fā)明實(shí)施例中,當(dāng)計(jì)數(shù)值處理與判決單元判斷觸摸動(dòng)作發(fā)生后,調(diào)整觸摸按鍵掃描的周期時(shí)間,具體實(shí)施時(shí),調(diào)整后觸摸按鍵掃描的周期時(shí)間遠(yuǎn)小于計(jì)數(shù)值處理與判決單元內(nèi)進(jìn)行常規(guī)是否有觸摸動(dòng)作發(fā)生時(shí)的常規(guī)掃描的周期時(shí)間,從而能在干擾耦合信號(hào)的一個(gè)周期內(nèi)進(jìn)行預(yù)設(shè)次數(shù)的采樣。本發(fā)明實(shí)施例中,當(dāng)確定觸摸動(dòng)作發(fā)生后,才調(diào)整觸摸按鍵掃描的周期時(shí)間,能夠有效降低整個(gè)系統(tǒng)的功耗消耗。一般地,在干擾耦合信號(hào)的一個(gè)周期內(nèi)進(jìn)行預(yù)設(shè)采樣的次數(shù)為3~9次。干擾耦合信號(hào)的一個(gè)周期一般為4.5ms的整數(shù)倍,在干擾耦合信號(hào)的一個(gè)周期內(nèi)通過(guò)計(jì)數(shù)器對(duì)開(kāi)關(guān)S1、開(kāi)關(guān)S2的開(kāi)關(guān)次數(shù)進(jìn)行采樣,由于對(duì)觸摸按鍵掃描的周期時(shí)間進(jìn)行了調(diào)整,所以能夠滿足在干擾耦合信號(hào)的一個(gè)周期內(nèi)進(jìn)行預(yù)設(shè)次數(shù)的采樣,調(diào)整觸摸按鍵掃描的周期時(shí)間,可以根據(jù)檢測(cè)干擾耦合信號(hào)的一個(gè)周期的時(shí)間進(jìn)行確定,干擾耦合信號(hào)的一個(gè)周期的時(shí)間可以通過(guò)對(duì)電容Cs和電容Cc在出現(xiàn)手機(jī)干擾時(shí)的信號(hào)特性進(jìn)行確定,為本技術(shù)領(lǐng)域人員所熟知,具體不再贅述。步驟3、統(tǒng)計(jì)上述步驟2中預(yù)設(shè)次數(shù)采樣中識(shí)別到觸摸動(dòng)作的次數(shù);本發(fā)明實(shí)施例中,計(jì)數(shù)值處理與判決單元對(duì)預(yù)設(shè)次采樣中識(shí)別到觸摸動(dòng)作的次數(shù)進(jìn)行統(tǒng)計(jì),以便利用統(tǒng)計(jì)的觸摸動(dòng)作的次數(shù)進(jìn)行后續(xù)的操作。如當(dāng)干擾耦合信號(hào)的一個(gè)周期為4.5ms時(shí),500μs高電平期間觸發(fā)了一次誤識(shí)別,那么在4.5ms剩余的時(shí)間內(nèi)進(jìn)行4次采樣,計(jì)數(shù)值處理與判決單元統(tǒng)計(jì)4次采樣中識(shí)別到觸摸動(dòng)作的次數(shù)。在計(jì)數(shù)值處理與判決單元對(duì)預(yù)設(shè)次數(shù)采樣進(jìn)行統(tǒng)計(jì)時(shí),判斷是否為觸摸動(dòng)作時(shí)采用的方法與步驟1中判斷是否為觸摸動(dòng)作發(fā)生的操作一致。步驟4、當(dāng)步驟3中識(shí)別的觸摸動(dòng)作次數(shù)大于預(yù)設(shè)觸摸閾值時(shí),則將觸摸按鍵掃描的周期時(shí)間調(diào)整至常規(guī)的掃描周期時(shí)間,以進(jìn)行常規(guī)的觸摸動(dòng)作判斷,否則,判斷存在手機(jī)干擾。具體地,預(yù)設(shè)觸摸閾值大于2,且不大于預(yù)設(shè)采樣的次數(shù)。對(duì)于預(yù)設(shè)采樣次數(shù)與預(yù)設(shè)觸摸閾值之間的關(guān)系,可以通過(guò)下面的表格1進(jìn)行表述。表1.采樣次數(shù)與預(yù)設(shè)觸摸對(duì)應(yīng)關(guān)系當(dāng)計(jì)數(shù)值處理與判決單元統(tǒng)計(jì)的識(shí)別動(dòng)作次數(shù)大于預(yù)設(shè)觸摸閾值時(shí),則認(rèn)為整個(gè)電容式觸摸按鍵不存在手機(jī)干擾,否則,判斷電容式觸摸按鍵存在手機(jī)干擾,當(dāng)產(chǎn)生手機(jī)干擾時(shí),能告知整個(gè)電容觸摸系統(tǒng)存在干擾,避免產(chǎn)生錯(cuò)誤的觸摸按鍵識(shí)別結(jié)果。如圖3所示,一種增強(qiáng)電容式觸摸按鍵抗手機(jī)干擾的電路,包括電容Cs、電容Cc、電壓比較器以及計(jì)數(shù)器,所述電容Cs的一端接地,電容Cs的另一端與開(kāi)關(guān)S1的一端以及開(kāi)關(guān)S2的一端連接,開(kāi)關(guān)S1的另一端與充電電壓V1連接,開(kāi)關(guān)S2的另一端與電壓比較器的同相端、開(kāi)關(guān)S3的一端以及電容Cc的一端連接,電容Cc的另一端以及開(kāi)關(guān)S3的另一端接地,電壓比較器的反相端與參考電壓Vref連接,電壓比較器的輸出端與計(jì)數(shù)器的控制端連接,計(jì)數(shù)器與計(jì)數(shù)值處理與判決單元連接,計(jì)數(shù)值處理與判決單元與開(kāi)關(guān)S3的控制端連接;計(jì)數(shù)值處理與判決單元根據(jù)計(jì)數(shù)器的計(jì)數(shù)值判斷是否有觸摸動(dòng)作發(fā)生,計(jì)數(shù)值處理與判決單元判斷觸摸動(dòng)作發(fā)生后,調(diào)整觸摸按鍵掃描的周期時(shí)間,以在干擾耦合信號(hào)的一個(gè)周期內(nèi)進(jìn)行預(yù)設(shè)次數(shù)的采樣,且數(shù)值處理與判決單位統(tǒng)計(jì)預(yù)設(shè)次數(shù)采樣中識(shí)別到觸摸動(dòng)作的次數(shù);當(dāng)識(shí)別的觸摸動(dòng)作次數(shù)大于預(yù)設(shè)觸摸閾值時(shí),計(jì)數(shù)值處理與判決單元?jiǎng)t將觸摸按鍵掃描的周期時(shí)間調(diào)整至常規(guī)的掃描周期時(shí)間,以進(jìn)行常規(guī)的觸摸動(dòng)作判斷,否則,判斷存在手機(jī)干擾。本發(fā)明實(shí)施例中,所述充電電壓V1為0.5VDD~VDD,即充電電壓V1為0.5VDD~VDD之間的任意一個(gè)固定電壓值,所述電壓VDD、參考電壓Vref的取值情況均可以參照公開(kāi)文件CN101060321A中的內(nèi)容,具體不再贅述。計(jì)數(shù)值處理與判決單元可以采用常用的微處理器,如單片機(jī)等。開(kāi)關(guān)S1、開(kāi)關(guān)S2、開(kāi)關(guān)S3、電壓比較器以及計(jì)數(shù)器之間的配合過(guò)程也與上述公開(kāi)文件CN101060321A中的內(nèi)容相一致,此處不再贅述。本發(fā)明在確定有觸摸動(dòng)作發(fā)生后,通過(guò)調(diào)整觸摸按鍵的掃描周期時(shí)間,并在干擾耦合信號(hào)的一個(gè)周期內(nèi)進(jìn)行預(yù)設(shè)次數(shù)的采樣,通過(guò)對(duì)預(yù)設(shè)次數(shù)采樣內(nèi)識(shí)別到的觸摸動(dòng)作進(jìn)行統(tǒng)計(jì),通過(guò)識(shí)別的觸摸動(dòng)作次數(shù)與預(yù)設(shè)觸摸閾值之間的關(guān)系,判斷是否有手機(jī)干擾,可在不改變?cè)邢到y(tǒng)元件的情況下有效增強(qiáng)電容觸摸按鍵的手機(jī)干擾耐受性;還可以不用改變已有的電容觸摸按鍵識(shí)別方法,只需在現(xiàn)有識(shí)別方法中增加本發(fā)明提出的相應(yīng)步驟,操作方便,安全可靠。
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