一種信號源的仿真裝置制造方法
【專利摘要】本實用新型公開了一種信號源的仿真裝置，屬于信號源領域。裝置包括：中央處理器，用于產(chǎn)生第一糾偏電壓，并輸出第一控制信號和第二控制信號；第一數(shù)模轉(zhuǎn)換器，用于接收第一糾偏電壓，對第一糾偏電壓進行數(shù)模轉(zhuǎn)換，并輸出轉(zhuǎn)換后的第一糾偏電壓；壓控晶體振蕩器，用于在轉(zhuǎn)換后的第一糾偏電壓的作用下，輸出第一信號；調(diào)節(jié)模塊，用于在中央處理器輸出的第一控制信號作用下，調(diào)節(jié)中央處理器提供的第一糾偏電壓的大小，并將調(diào)節(jié)后的第一糾偏電壓提供給第一數(shù)模轉(zhuǎn)換器；開關，用于在中央處理器輸出的第二控制信號作用下，控制第一數(shù)模轉(zhuǎn)換器輸出固定大小的第一糾偏電壓至壓控晶體振蕩器的持續(xù)時間。本實用新型用于測試穩(wěn)定度參數(shù)。
【專利說明】一種信號源的仿真裝置
【技術領域】
[0001]本實用新型涉及信號源領域，特別涉及一種信號源的仿真裝置。
【背景技術】
[0002]信號源作為高穩(wěn)定、高精度的時鐘源，正被廣泛應用于航天、導航和通訊等眾多領域。
[0003]現(xiàn)有的信號源包括參考源(例如原子鐘)、檢波放大器、積分器、初級信號源(例如壓控晶體振蕩器)和PLL (Phase Locked Loop，鎖相環(huán))。其中，參考源提供基準時鐘信號。PLL用于反饋初級信號源的輸出信號。檢波放大器在基準時鐘信號的參考下，對PLL反饋的信號進行特定頻率的檢波處理，獲得相應頻率的信號并進行放大。積分器對檢波放大器輸出的放大信號進行電平積分處理，獲得相應的糾偏電壓作用于初級信號源，從而使初級信號源輸出信號。
[0004]在實現(xiàn)本實用新型的過程中，發(fā)明人發(fā)現(xiàn)現(xiàn)有技術至少存在以下問題:在信號源的實際應用中，不同的應用場合可能要求信號源具有不同的穩(wěn)定度。例如，當信號源應用在短期精確制導等場合時，要求信號源的短期穩(wěn)定度高，當信號源應用在長期授時等場合時，要求信號源的長期穩(wěn)定度高。由于不同的穩(wěn)定度參數(shù)決定了不同的信號源的穩(wěn)定度，因此，需要專門的仿真裝置來測試所需的的穩(wěn)定度所對應的信號源的穩(wěn)定度參數(shù)，便于采用所需的穩(wěn)定度所對應的信號源的穩(wěn)定度參數(shù)的信號源能夠輸出所需的穩(wěn)定度。
實用新型內(nèi)容
[0005]為了解決現(xiàn)有技術的問題，本實用新型實施例提供了一種信號源的仿真裝置。所述技術方案如下:
[0006]本實用新型實施例提供了一種信號源的仿真裝置，所述裝置包括:
[0007]用于產(chǎn)生第一糾偏電壓，并輸出第一控制信號和第二控制信號的中央處理器；
[0008]用于接收所述中央處理器產(chǎn)生的第一糾偏電壓，對所述第一糾偏電壓進行數(shù)模轉(zhuǎn)換，并輸出轉(zhuǎn)換后的第一糾偏電壓的第一數(shù)模轉(zhuǎn)換器；
[0009]用于在所述第一數(shù)模轉(zhuǎn)換器輸出的轉(zhuǎn)換后的第一糾偏電壓的作用下，輸出第一信號的壓控晶體振蕩器；
[0010]用于在所述中央處理器輸出的第一控制信號作用下，調(diào)節(jié)所述中央處理器提供的第一糾偏電壓的大小，并將調(diào)節(jié)后的第一糾偏電壓提供給所述第一數(shù)模轉(zhuǎn)換器的調(diào)節(jié)模塊；以及
[0011]用于在所述中央處理器輸出的第二控制信號作用下，控制所述第一數(shù)模轉(zhuǎn)換器輸出固定大小的第一糾偏電壓至所述壓控晶體振蕩器的持續(xù)時間的開關；
[0012]所述中央處理器分別與所述調(diào)節(jié)模塊和開關連接，所述調(diào)節(jié)模塊與所述第一數(shù)模轉(zhuǎn)換器連接，所述第一數(shù)模轉(zhuǎn)換器通過所述開關與所述壓控晶體振蕩器連接。
[0013]可選地，所述裝置還包括:[0014]用于對所述壓控晶體振蕩器輸出的第一信號和第二信號進行混頻，并輸出混頻后的信號的第一混頻器；
[0015]所述第一混頻器與所述壓控晶體振蕩器連接。
[0016]可選地，所述裝置還包括:
[0017]用于為所述第一混頻器提供所述第二信號的第一信號發(fā)生器；
[0018]所述第一混頻器與所述第一信號發(fā)生器連接。
[0019]可選地，所述裝置還包括:
[0020]用于接收所述中央處理器產(chǎn)生的第二糾偏電壓，對所述第二糾偏電壓進行數(shù)模轉(zhuǎn)換，輸出轉(zhuǎn)換后的第二糾偏電壓至所述壓控晶體振蕩器的第二數(shù)模轉(zhuǎn)換器；
[0021]所述第二數(shù)模轉(zhuǎn)換器分別與所述中央處理器和所述壓控晶體振蕩器連接。
[0022]可選地，所述裝置還包括:
[0023]用于對所述第一混頻器輸出的混頻后的信號和第三信號進行混頻，并輸出混頻后的信號的第二混頻器；
[0024]所述第二混頻器與所述第一混頻器連接。
[0025]可選地，所述裝置還包括:
[0026]用于為所述第二混頻器提供所述第三信號的第二信號發(fā)生器；
[0027]所述第二混頻器與所述第二信號發(fā)生器連接。
[0028]優(yōu)選地，所述壓控晶體振蕩器輸出的第一信號的頻率為IOMHz或20MHz的正弦信號，所述第一信號發(fā)生器提供的第二信號的頻率為頻率變化的信號，所述第二信號的頻率變化范圍為-1OmV至10mV，所述第二信號發(fā)生器提供的第三信號的頻率為頻率變化的信號，所述第三信號的頻率變化范圍為-20mV至20mV。
[0029]本實用新型實施例提供的技術方案帶來的有益效果是:通過調(diào)節(jié)模塊在所述中央處理器輸出的第一控制信號作用下，調(diào)節(jié)所述中央處理器提供的第一糾偏電壓的大小，并將調(diào)節(jié)后的第一糾偏電壓提供給所述第一數(shù)模轉(zhuǎn)換器；由于環(huán)路增益最終體現(xiàn)在輸入至初級信號源的糾偏電壓，因此，采用調(diào)節(jié)模塊能夠?qū)Νh(huán)路增益與穩(wěn)定度之間的關系進行測試；開關在所述中央處理器輸出的第二控制信號作用下，控制第一數(shù)模轉(zhuǎn)換器輸出固定大小的第一糾偏電壓至所述壓控晶體振蕩器的持續(xù)時間；由于該持續(xù)時間為信號源內(nèi)部的一次糾偏過程的時間，即環(huán)路響應時間，因此，采用開關能夠?qū)Νh(huán)路響應時間與穩(wěn)定度之間的關系進行測試；從而能夠得到所需的穩(wěn)定度對應的環(huán)路增益取值和環(huán)路響應時間取值，便于采用所需的穩(wěn)定度所對應的信號源的穩(wěn)定度參數(shù)的信號源能夠輸出所需的穩(wěn)定度。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0030]為了更清楚地說明本實用新型實施例中的技術方案，下面將對實施例描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本實用新型的一些實施例，對于本領域普通技術人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。
[0031]圖1是本實用新型實施例提供的信號源的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0032]圖2是本實用新型實施例提供的一種信號源的仿真裝置的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0033]圖3是本實用新型實施例提供的又一種信號源的仿真裝置的結(jié)構(gòu)示意圖；[0034]圖4是本實用新型實施例提供的一種利用仿真裝置進行信號源的測試方法的流程圖。
【具體實施方式】
[0035]為使本實用新型的目的、技術方案和優(yōu)點更加清楚，下面將結(jié)合附圖對本實用新型實施方式作進一步地詳細描述。
[0036]為便于對本實用新型實施例的理解，首先對信號源進行介紹。參見圖1，信號源包括參考源(例如原子鐘)1、檢波放大器2、積分器3、初級信號源(例如壓控晶體振蕩器)4和PLL (Phase Locked Loop，鎖相環(huán))5。如前所述，參考源I提供基準時鐘信號。PLL5用于反饋初級信號源4的輸出信號。檢波放大器2在參考源I提供的基準時鐘信號的參考下，對PLL5反饋的信號進行特定頻率的檢波處理，獲得相應頻率的信號并進行放大。積分器3對檢波放大器2輸出的放大信號進行電平積分處理，獲得相應的糾偏電壓作用于初級信號源3，從而使初級信號源3輸出與糾偏電壓對應的頻率信號(圖1中黑色箭頭所示)。其中，積分器3輸出一次糾偏電壓作用于初級信號源3，初級信號源3輸出與糾偏電壓對應的頻率信號的過程稱為，一次信號源內(nèi)部對初級信號源輸出頻率進行糾偏的過程。
[0037]其中，檢波放大器2、積分器3和PLL5構(gòu)成伺服環(huán)路。本實施例中描述的信號源的環(huán)路增益指，該伺服環(huán)路的環(huán)路增益。環(huán)路增益由檢波放大器2、積分器3和PLL5三者貢獻。
[0038]值得說明的是，圖1所示的信號源的結(jié)構(gòu)僅用于舉例，信號源的結(jié)構(gòu)并不限于圖1所示的信號源的結(jié)構(gòu)。
[0039]實施例
[0040]本實用新型實施例提供了一種信號源的仿真裝置，適用于任何信號源，尤其適用于圖1所示的信號源。參見圖2和圖3，該裝置包括:
[0041]中央處理器201，用于產(chǎn)生第一糾偏電壓，并輸出第一控制信號和第二控制信號。
[0042]第一數(shù)模轉(zhuǎn)換器202，用于接收中央處理器201產(chǎn)生的第一糾偏電壓，對第一糾偏電壓進行數(shù)模轉(zhuǎn)換，并輸出轉(zhuǎn)換后的第一糾偏電壓。
[0043]壓控晶體振蕩器203,用于在第一數(shù)模轉(zhuǎn)換器202輸出的轉(zhuǎn)換后的第一糾偏電壓的作用下，輸出第一信號。
[0044]調(diào)節(jié)模塊204，用于在中央處理器201輸出的第一控制信號作用下，調(diào)節(jié)中央處理器201提供的第一糾偏電壓的大小，并將調(diào)節(jié)后的第一糾偏電壓提供給第一數(shù)模轉(zhuǎn)換器202。
[0045]開關205，用于在中央處理器201輸出的第二控制信號作用下，控制第一數(shù)模轉(zhuǎn)換器202輸出固定大小的第一糾偏電壓至壓控晶體振蕩器203的持續(xù)時間。
[0046]其中，中央處理器201分別與調(diào)節(jié)模塊204和開關205連接，調(diào)節(jié)模塊204與第一數(shù)模轉(zhuǎn)換器202連接，第一數(shù)模轉(zhuǎn)換器202通過開關205與壓控晶體振蕩器203連接。
[0047]第一糾偏電壓源于中央處理器201。具體地，可以在預定時間段內(nèi)，采集某個信號源中經(jīng)伺服環(huán)路后輸出的糾偏電壓值(即積分器輸出的糾偏電壓值)，并建立時間與糾偏電壓值的對應關系。中央處理器201中可以預置該時間與糾偏電壓值的對應關系，并在預定時間段內(nèi)，按照時間變化，將對應的糾偏電壓值作為第一糾偏電壓進行輸出，以模擬信號源中伺服環(huán)路。
[0048]具體地，第一數(shù)模轉(zhuǎn)換器202用于模擬信號源中積分器，在調(diào)節(jié)模塊204的調(diào)節(jié)下，可以使第一數(shù)模轉(zhuǎn)換器202輸出不同大小的第一糾偏電壓并作用于壓控晶體振蕩器203，使壓控晶體振蕩器203輸出信號的頻率發(fā)生變化。
[0049]具體地，壓控晶體振蕩器203可以產(chǎn)生所需頻率(如IOMHz或20MHz)的正弦波信號，用于模擬信號源中輸出頻率信號的初級信號源。
[0050]其中，調(diào)節(jié)模塊204用于在中央處理器201的控制下，對信號源的環(huán)路增益進行調(diào)節(jié)。具體地，調(diào)節(jié)模塊204用于調(diào)節(jié)第一數(shù)模轉(zhuǎn)換器202輸出的第一糾偏電壓的大小。由于信號源的環(huán)路增益最終影響的是初級信號源輸出信號的頻率，因此，控制環(huán)路增益的大小，可以直接控制輸入至初級信號源的糾偏電壓的大小。
[0051]其中，開關205用于在中央處理器201的控制下，對環(huán)路響應時間進行調(diào)節(jié)，該環(huán)路響應時間為，第一數(shù)模轉(zhuǎn)換器202輸出固定大小的第一糾偏電壓至壓控晶體振蕩器203的持續(xù)時間進行調(diào)節(jié)。
[0052]可選地，參見圖3，該裝置還包括:
[0053]第一信號發(fā)生器206,用于提供第二信號。
[0054]第一混頻器207,用于對壓控晶體振蕩器203輸出的第一信號和第一信號發(fā)生器206提供的第二信號進行混頻，并輸出混頻后的信號。
[0055]第一混頻器207分別與壓控晶體振蕩器203和第一信號發(fā)生器206連接。
[0056]具體地，第一信號發(fā)生器206產(chǎn)生一路固定的信號(第二信號)至第一混頻器207，該路固定的信號用于模擬信號源中噪聲信號。壓控晶體振蕩器203輸出的第一信號也送至第一混頻器207。送至第一混頻器207的兩路信號經(jīng)第一混頻器207混頻后輸出，作為信號源的輸出信號。第一混頻器207將第一信號發(fā)生器206產(chǎn)生的噪聲信號施加在壓控晶體振蕩器203輸出信號上，模擬了信號源輸出信號受噪聲的影響，使該仿真裝置的運行狀況貼近真實的信號源的運行狀況，從而使仿真裝置得到的測試結(jié)果比較準確。
[0057]優(yōu)選地，第一信號發(fā)生器206可以為任意波形發(fā)生器，例如Agilent公司生產(chǎn)的型號為33250A的任意波形發(fā)生器。
[0058]可選地，參見圖3，該裝置還包括:
[0059]第二數(shù)模轉(zhuǎn)換器208，用于接收中央處理器201產(chǎn)生的第二糾偏電壓，對第二糾偏電壓進行數(shù)模轉(zhuǎn)換，輸出轉(zhuǎn)換后的第二糾偏電壓至壓控晶體振蕩器203。
[0060]第二數(shù)模轉(zhuǎn)換器208分別與中央處理器201和壓控晶體振蕩器203連接。
[0061]具體地，第二數(shù)模轉(zhuǎn)換器208對第二糾偏電壓進行數(shù)模轉(zhuǎn)換，輸出轉(zhuǎn)換后的第二糾偏電壓至壓控晶體振蕩器203。該第二糾偏電壓作用于壓控晶體振蕩器203后，將使壓控晶體振蕩器203輸出頻率發(fā)生變化。第二糾偏電壓引起的壓控晶體振蕩器203的頻率變化，用于模擬壓控晶體振蕩器203的老化漂移量。
[0062]第二糾偏電壓源于中央處理器201。具體地，中央處理器201按照采樣時間T、且步長為V逐步改變輸出電壓至第二數(shù)模轉(zhuǎn)換器208。具體地，V為采樣時間T內(nèi)的壓控晶體振蕩器203的頻率漂移量對應的糾偏電壓值。例如，假設壓控晶體振蕩器203的年老化漂移量為f (此值可以通過廠商獲得)，采樣時間T的漂移量為fl，那么，根據(jù)公式fl= (f*T)/ (86400*365)能夠得到fl。進一步地，在已知壓控晶體振蕩器203的壓控斜率Kqs。前提下，可以根據(jù)公式V=HzKtjse獲得相應的糾偏電壓值V。
[0063]可選地，參見圖3，該裝置還包括:
[0064]第二信號發(fā)生器209，用于提供第三信號。
[0065]第二混頻器210，用于對第一混頻器207輸出的混頻后的信號和第二信號發(fā)生器209提供的第三信號進行混頻，并輸出混頻后的信號。
[0066]第二混頻器210分別與第一混頻器207和第二信號發(fā)生器209連接。
[0067]具體地，第二信號發(fā)生器209用于模擬信號源中除初級信號源之外的其他部件的線性漂移量。整個信號源中，除初級信號源外，其他部件也存在線性漂移?？梢圆捎玫诙盘柊l(fā)生器209來產(chǎn)生一路信號來模擬此線性干擾。該線性干擾將影響信號源最終輸出的頻率信號。第二混頻器210將第二信號發(fā)生器209和第一混頻器207輸出的信號混頻，得到施加了線性漂移的信號源的輸出信號。
[0068]優(yōu)選地，第二信號發(fā)生器209可以為任意波形發(fā)生器，例如Agilent公司生產(chǎn)的型號為33250A的任意波形發(fā)生器。
[0069]優(yōu)選地，壓控晶體振蕩器輸出的第一信號的頻率為IOMHz或20MHz的正弦信號，第一信號發(fā)生器提供的第二信號的頻率為頻率變化的信號，第二信號的頻率變化范圍為-1OmV至10mV，第二信號發(fā)生器提供的第三信號的頻率為頻率變化的信號，第三信號的頻率變化范圍為_20mV至20mV。
[0070]結(jié)合本實施例提供的信號源的仿真裝置，下面介紹一種利用該仿真裝置進行信號源的測試方法，參見圖4，該方法流程包括:
[0071]步驟201:提供前述的信號源的仿真裝置。
[0072]步驟202:分別根據(jù)多組穩(wěn)定度參數(shù)，設置該仿真裝置的中央處理器輸出的第一控制信號和第二控制信號，以使仿真裝置的調(diào)節(jié)模塊在第一控制信號作用下，調(diào)節(jié)中央處理器提供的第一糾偏電壓的大?。环抡嫜b置的開關在第二控制信號作用下，控制仿真裝置的第一數(shù)模轉(zhuǎn)換器輸出固定大小的第一糾偏電壓至壓控晶體振蕩器的持續(xù)時間。
[0073]每組穩(wěn)定度參數(shù)包括環(huán)路響應時間取值和環(huán)路增益取值、且兩組穩(wěn)定度參數(shù)的環(huán)路響應時間取值不同和/或環(huán)路增益取值不同，每組穩(wěn)定度參數(shù)的環(huán)路響應時間取值和環(huán)路增益取值分別不超過環(huán)路響應時間的預定取值范圍和環(huán)路增益的預定取值范圍。
[0074]其中，環(huán)路響應時間為信號源內(nèi)部完成一次對初級信號源輸出頻率進行糾偏的時間，即輸入至初級信號源的固定大小的糾偏電壓的持續(xù)時間。根據(jù)初級信號源的特性，當輸入電壓發(fā)生改變時，初級信號源輸出信號的頻率也發(fā)生改變，因此,環(huán)路響應時間也可描述成，改變一次輸入至初級信號源的糾偏電壓，進而使初級信號源輸出信號的頻率發(fā)生改變的時間。
[0075]將環(huán)路響應時間作為穩(wěn)定度參數(shù)的理由為:對于現(xiàn)有技術定義的信號源的長、短穩(wěn)指標中的采樣時間T，它決定了對信號源整機輸出信號頻率按照T進行一次采樣。很明顯，不同的環(huán)路響應時間將對按照采樣時間T獲得的信號源穩(wěn)定度有影響。具體地，按照目前的計量檢定規(guī)則，通常在采樣時間為100秒時間以下為短期穩(wěn)定度，而以天計量標準(SP86400秒)才定義為長期穩(wěn)定度。很明顯，對于響應時間，它越小越有利于信號源的短期穩(wěn)定度，它越大越有利于信號源的長期穩(wěn)定度。
[0076]具體地，根據(jù)當前一組穩(wěn)定度參數(shù)的環(huán)路響應時間，設置中央處理器輸出的第二控制信號，使開關在第二控制信號作用下，控制仿真裝置的第一數(shù)模轉(zhuǎn)換器輸出固定大小的第一糾偏電壓至壓控晶體振蕩器的持續(xù)時間為該環(huán)路響應時間。
[0077]其中，環(huán)路增益為信號源中檢波放大器的鑒頻斜率、信號源中積分器的增益、以及信號源中PLL的系數(shù)三者共同作用的、且最終反應到信號源中初級信號源壓控端的糾偏電壓。
[0078]將環(huán)路增益作為穩(wěn)定度參數(shù)的理由為:信號源的最終級輸出都是依賴初級信號源輸出的頻率信號，而環(huán)路增益在系統(tǒng)中所起的作用最終必然反映到對初級信號源的輸出信號頻率進行糾偏上來，而初級信號源通常是一個壓控晶體振蕩器，環(huán)路增益的大小決定了每一次對初級信號源的輸出信號頻率糾偏的大小，很明顯按照現(xiàn)有技術對信號源長、短穩(wěn)的定義，環(huán)路增益將直接影響信號源的長短穩(wěn)指標。
[0079]具體地，首選，在預先建立的環(huán)路增益取值-糾偏電壓取值的對應關系中，獲取當前一組穩(wěn)定度參數(shù)的環(huán)路增益取值對應的糾偏電壓取值；然后，設置中央處理器輸出的第一控制信號，使調(diào)節(jié)模塊在第一控制信號作用下，調(diào)節(jié)中央處理器提供的第一糾偏電壓的大小為，當前一組穩(wěn)定度參數(shù)的環(huán)路增益取值對應的糾偏電壓取值。
[0080]優(yōu)選地，環(huán)路響應時間的預定取值范圍為0.1S~1S，環(huán)路增益的預定取值范圍為I~10。每個環(huán)路響應時間取值為，以0.1S為取值間隔，依次從0.1S~IS中獲取的每個環(huán)路響應時間取值；每個環(huán)路增益取值為，以I為取值間隔，依次從I~10中獲取的每個環(huán)路增益取值。
[0081]具體地,多組穩(wěn)定度參數(shù)的創(chuàng)建方式如下表1所示。表1中，參數(shù)組序號表示每組穩(wěn)定度參數(shù)的序號。例如，序號為3的穩(wěn)定度參數(shù)的響應時間取值為0.1S，環(huán)路增益取值為30
[0082]表1
【權(quán)利要求】
1.一種信號源的仿真裝置，其特征在于，所述裝置包括: 用于產(chǎn)生第一糾偏電壓，并輸出第一控制信號和第二控制信號的中央處理器； 用于接收所述中央處理器產(chǎn)生的第一糾偏電壓，對所述第一糾偏電壓進行數(shù)模轉(zhuǎn)換，并輸出轉(zhuǎn)換后的第一糾偏電壓的第一數(shù)模轉(zhuǎn)換器； 用于在所述第一數(shù)模轉(zhuǎn)換器輸出的轉(zhuǎn)換后的第一糾偏電壓的作用下，輸出第一信號的壓控晶體振蕩器； 用于在所述中央處理器輸出的第一控制信號作用下，調(diào)節(jié)所述中央處理器提供的第一糾偏電壓的大小，并將調(diào)節(jié)后的第一糾偏電壓提供給所述第一數(shù)模轉(zhuǎn)換器的調(diào)節(jié)模塊；以及 用于在所述中央處理器輸出的第二控制信號作用下，控制所述第一數(shù)模轉(zhuǎn)換器輸出固定大小的第一糾偏電壓至所述壓控晶體振蕩器的持續(xù)時間的開關； 所述中央處理器分別與所述調(diào)節(jié)模塊和開關連接，所述調(diào)節(jié)模塊與所述第一數(shù)模轉(zhuǎn)換器連接，所述第一數(shù)模轉(zhuǎn)換器通過所述開關與所述壓控晶體振蕩器連接。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的裝置，其特征在于，所述裝置還包括: 用于對所述壓控晶體振蕩器輸出的第一信號和第二信號進行混頻，并輸出混頻后的信號的第一混頻器； 所述第一混頻器與所述壓控晶體振蕩器連接。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的裝置，其特征在于，所述裝置還包括: 用于為所述第一混頻器提供所述第二信號的第一信號發(fā)生器； 所述第一混頻器與所述第一信號發(fā)生器連接。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的裝置，其特征在于，所述裝置還包括: 用于接收所述中央處理器產(chǎn)生的第二糾偏電壓，對所述第二糾偏電壓進行數(shù)模轉(zhuǎn)換，輸出轉(zhuǎn)換后的第二糾偏電壓至所述壓控晶體振蕩器的第二數(shù)模轉(zhuǎn)換器； 所述第二數(shù)模轉(zhuǎn)換器分別與所述中央處理器和所述壓控晶體振蕩器連接。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的裝置，其特征在于，所述裝置還包括: 用于對所述第一混頻器輸出的混頻后的信號和第三信號進行混頻，并輸出混頻后的信號的第二混頻器； 所述第二混頻器與所述第一混頻器連接。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的裝置，其特征在于，所述裝置還包括: 用于為所述第二混頻器提供所述第三信號的第二信號發(fā)生器； 所述第二混頻器與所述第二信號發(fā)生器連接。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的裝置，其特征在于，所述壓控晶體振蕩器輸出的第一信號的頻率為IOMHz或20MHz的正弦信號，所述第一信號發(fā)生器提供的第二信號的頻率為頻率變化的信號，所述第二信號的頻率變化范圍為-1OmV至10mV，所述第二信號發(fā)生器提供的第三信號的頻率為頻率變化的信號，所述第三信號的頻率變化范圍為_20mV至20mV。
【文檔編號】H03L7/099GK203387496SQ201320320372
【公開日】2014年1月8日 申請日期:2013年6月5日 優(yōu)先權(quán)日:2013年6月5日
【發(fā)明者】雷海東 申請人:江漢大學