專利名稱：半導體測試系統(tǒng)的一種積分控制電路的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實用新型涉及半導體測試系統(tǒng)的一種積分控制電路。
背景技術(shù)：
目前，由于常見運算放大器的輸出輸出都存在一定的偏移，因此一般測試電路都很難準確測試出電路輸入輸出的關(guān)系。
發(fā)明內(nèi)容有鑒于此，本實用新型的目的是提供一種用于半導體測試系統(tǒng)的一種積分控制電路，該電路方案新穎、結(jié)構(gòu)簡單，易于實現(xiàn)，可廣泛地應(yīng)用于半導體測試系統(tǒng)中。半導體測試系統(tǒng)的一種積分控制電路，包括混合放大器、電流積分電路和負反饋電路，其特征在于混合放大器的反相端同時接有外電路輸入和負反饋電路的輸出，混合放大器的輸出接電流積分電器的反相端，電路積分電路輸出接負反饋電路，負反饋電路的輸出接混合放大器的反相輸入端。電路中通過積分器對混合放大器的輸出電壓進行積分，然后輸出電壓對整個閉環(huán)進行負反饋控制。通過分析可知當積分器輸入電壓為零時，電路處于穩(wěn)態(tài)。本實用新型電路簡單、使用方便、易于實現(xiàn)，可廣泛地使用于半導體測試系統(tǒng)中。

圖1是本實用新型實施例的結(jié)構(gòu)框圖。圖2是本實用新型實施例的具體實施電路圖。圖3是本實用新型實施例的方波輸入時輸出電壓波形圖。圖4是本實用新型實施例的輸入電壓波形圖。圖5是本實用新型實施例的輸出電壓波形圖。圖6是本實用新型實施例的輸出電壓特性圖。
具體實施方式
半導體測試系統(tǒng)的一種積分控制電路，如圖1所示，包括混合放大器、電流積分電路和負反饋電路，其特征在于混合放大器的反相端同時接有外電路輸入和負反饋電路的輸出，混合放大器的輸出接電流積分電器的反相端，電路積分電路輸出接負反饋電路， 負反饋電路的輸出接混合放大器的反相輸入端。電路中通過積分器對混合放大器的輸出電壓進行積分，然后輸出電壓對整個閉環(huán)進行負反饋控制。通過分析可知當積分器輸入電壓為零時，電路處于穩(wěn)態(tài)。具體電路，如圖2所示，電路分析先通過一個電流積分器構(gòu)成的最簡反饋電路為例，分析輸出電壓VOUT與輸入電壓Vin之間的關(guān)系。1)積分器分析[0019]在電路中，積分器輸出電壓VOUT與輸入電壓Vl之間的關(guān)系如下
權(quán)利要求1.半導體測試系統(tǒng)的一種積分控制電路，包括混合放大器、電流積分電路和負反饋電路，其特征在于混合放大器的反相端同時接有外電路輸入和負反饋電路的輸出，混合放大器的輸出接電流積分電器的反相端，電路積分電路輸出接負反饋電路，負反饋電路的輸出接混合放大器的反相輸入端。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的半導體測試系統(tǒng)的一種積分控制電路，其特征在于通過積分器對混合放大器的輸出電壓進行積分，然后輸出電壓對整個閉環(huán)進行負反饋控制。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的半導體測試系統(tǒng)的一種積分控制電路，其特征在于當積分器輸入電壓為零時，電路處于穩(wěn)態(tài)。
專利摘要本實用新型涉及半導體測試系統(tǒng)的一種積分控制電路，包括混合放大器、電流積分電路和負反饋電路，其特征在于混合放大器的反相端同時接有外電路輸入和負反饋電路的輸出，混合放大器的輸出接電流積分電器的反相端，電路積分電路輸出接負反饋電路，負反饋電路的輸出接混合放大器的反相輸入端。本實用新型方案新穎、設(shè)計巧妙、易于實現(xiàn)，可廣泛地應(yīng)用于半導體測試系統(tǒng)中。
文檔編號H03F3/00GK202033680SQ20112000906
公開日2011年11月9日 申請日期2011年1月13日 優(yōu)先權(quán)日2011年1月13日
發(fā)明者林康生, 陳品霞 申請人:博嘉圣(福州)微電子科技有限公司