專利名稱：一種管腳狀態(tài)的配置方法及電路的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及電子技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種管腳狀態(tài)的配置方法及電路。
背景技術(shù)：
為了在同一顆芯片上能夠?qū)崿F(xiàn)更多的功能，提高芯片的性價比，芯片在 制造時大都提供了管腳狀態(tài)的配置功能。根據(jù)管腳狀態(tài)的不同配置，芯片可 以處于不同的工作狀態(tài)，從而可以對外提供不同的功能或性能。管腳狀態(tài)的
配置一般有兩種方式；第一種方式是給管腳配置不同的電壓，不同電壓表示 不同的管腳狀態(tài)；第二種方式是通過外部處理器來修改芯片內(nèi)部的寄存器單 元的內(nèi)容，實現(xiàn)對管腳狀態(tài)的配置。
請參閱圖1,圖1為現(xiàn)有的一種管腳狀態(tài)配置電^^的結(jié)構(gòu)示意圖。如圖1 所示，該電路基于上述第一種方式，包括外部電阻R1、 R2、比較器l、比較 器2;其中，比較器l的基準(zhǔn)電壓Vrefl和比較器2的基準(zhǔn)電壓Vref2大小不 相同。當(dāng)只使用外部電阻R1時，管腳狀態(tài)為低電平；當(dāng)只使用外部電阻R2 時，管腳狀態(tài)為高電平；當(dāng)同時使用外部電阻R1、 R2時，管腳狀態(tài)為中間 電平；使用比較器1和比較器2可以判斷該管腳狀態(tài)是上述三者中的哪一個， 判斷結(jié)果可采用比較器1的輸出邏輯信號REG1和比較器2的輸出邏輯信號 REG2進(jìn)行組合來表示管腳狀態(tài)，并傳送給芯片內(nèi)部其它電路使用，以實現(xiàn) 該管腳狀態(tài)下對應(yīng)的功能。
發(fā)明人發(fā)現(xiàn)，在上述的管腳狀態(tài)配置電路中，管腳外接的電壓是變化的， 為了保證管腳狀態(tài)的可靠性，表示不同管腳狀態(tài)的電壓之間需要有足夠的電 壓層級間隔；當(dāng)表示不同管腳狀態(tài)的電壓之間沒有足夠的電壓層級時，用于 表示管腳狀態(tài)的管腳數(shù)量較多。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明實施例提供了一種管腳狀態(tài)的配置方法及電路，可以容易地獲得 多種不同的管腳狀態(tài)。
為實現(xiàn)上述目的，本發(fā)明實施例提供如下技術(shù)方案 本發(fā)明實施例提供了一種管腳狀態(tài)的配置方法，包括在與可變電阻器連接的管腳上加載固定電壓，并檢測可變電阻器在不同
阻值下產(chǎn)生的電流值；將所述電流值分別和至少二個不同的基準(zhǔn)電流值比較， 根據(jù)比較結(jié)果輸出對應(yīng)的管腳狀態(tài)；
或，在管腳上加載固定電流，并檢測可變電阻器在不同阻值下產(chǎn)生的電 壓值；將所述電壓值分別和至少二個不同的基準(zhǔn)電壓值比較，根據(jù)比較結(jié)果 輸出對應(yīng)的管腳狀態(tài)。
本發(fā)明實施例提供了另 一 種管腳狀態(tài)的配置方法，包括 在與可變電阻器連接的管腳上加載可變電流，并檢測可變電阻器在不同
阻值下產(chǎn)生的電壓值；將所述電壓值和基準(zhǔn)電壓值比較，根據(jù)比較結(jié)果輸出
對應(yīng)的管腳狀態(tài)。
本發(fā)明實施例提供了一種管腳狀態(tài)的配置電路，包括 管腳、可變電阻器和4全測電路；
所述管腳的第一端和所述可變電阻器的第一端相連，所述可變電阻器第 二端與地相連；所述管腳的第二端和所述檢測電路的輸入端相連；
所述檢測電路在所述管腳的第二端加載固定電壓，當(dāng)檢測到所述可變電 阻器在不同阻值下產(chǎn)生的電流值時，將所述電流值分別和至少二個不同的基 準(zhǔn)電流值比較，根據(jù)比較結(jié)果輸出對應(yīng)的管腳狀態(tài)；
或，所述檢測電路在所述管腳的第二端加載固定電流，當(dāng)檢測到所述可
變電阻器在不同阻值下產(chǎn)生的電壓值時，將所述電壓值分別和至少二個不同
基準(zhǔn)電壓值比較，根據(jù)比較結(jié)果輸出對應(yīng)的管腳狀態(tài)。
本發(fā)明實施例提供了另一種管腳狀態(tài)的配置電路，包括 管腳、可變電阻器和檢測電路；
所述管腳的第一端和所述可變電阻器的第一端相連，所述可變電阻器第 二端與地相連；所述管腳的第二端和所述檢測電路的輸入端相連；
所述4僉測電i 各在所述管腳的第二端加載可變電流，當(dāng)檢測到所述可變電 阻器在不同阻值下產(chǎn)生的電壓值時，將所述電壓值和基準(zhǔn)電壓值比較，根據(jù) 比較結(jié)果輸出對應(yīng)的管腳狀態(tài)。
與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明實施例將可變電阻與管腳相連，這樣可以給可變電阻器加載固定電壓，使得可變電阻器在不同阻值下產(chǎn)生不同電流，不同
電流分別和基準(zhǔn)電流比較后，得到不同的管腳狀態(tài)；還可以給可變電阻器加 載固定或可變電流，使得可變電阻器在不同阻值下產(chǎn)生不同電壓，不同電壓 分別和基準(zhǔn)電壓比較后，得到不同的管腳狀態(tài)。本發(fā)明實施例可以通過改變 可變電阻器的阻值來表示不同的管腳狀態(tài)，由于可變電阻器的阻值可以從幾 十歐姆到幾百K歐姆之間變化，從而可以容易地獲得不同的管腳狀態(tài)。


為了更清楚地說明本發(fā)明實施例或現(xiàn)有技術(shù)中的技術(shù)方案，下面將對實 施例中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅 僅是本發(fā)明的一些實施例，對于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講，在不付出創(chuàng)造性 勞動的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。 圖l為現(xiàn)有的一種管腳狀態(tài)配置電路的結(jié)構(gòu)示意圖； 圖2為本發(fā)明實施例一提供的一種管腳狀態(tài)的配置方法的流程示意圖； 圖3為本發(fā)明實施例二提供的一種管腳狀態(tài)的配置方法的流程示意圖； 圖4為本發(fā)明實施例三提供的一種管腳狀態(tài)的配置電路的結(jié)構(gòu)示意圖； 圖5為本發(fā)明實施例三提供的一種檢測電路的結(jié)構(gòu)示意圖； 圖6為本發(fā)明實施例三提供的另一種檢測電路的結(jié)構(gòu)示意圖； 圖7為本發(fā)明實施例四提供的一種檢測電路的結(jié)構(gòu)示意圖； 圖8為本發(fā)明實施例五提供的一種管腳狀態(tài)的配置電路的結(jié)構(gòu)示意圖； 圖9為本發(fā)明實施例六提供的一種管腳狀態(tài)的配置電路的結(jié)構(gòu)示意圖； 圖10為本發(fā)明實施例七提供的一種管腳狀態(tài)的配置電路的結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實施例方式
下面將結(jié)合本發(fā)明實施例中的附圖，對本發(fā)明實施例中的技術(shù)方案進(jìn)行 清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例僅僅是本發(fā)明一部分實施例，而 不是全部的實施例?；诒景l(fā)明中的實施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有作 出創(chuàng)造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例，都屬于本發(fā)明保護(hù)的范圍。
實施例一
請參閱圖2，圖2為本發(fā)明實施例一提供的一種管腳狀態(tài)的配置方法的流 程示意圖。如圖l所示，該方法可以包括201:建立管腳與可變電阻器之間的連接；
舉例來說，可變電阻器的阻值可以從幾十歐姆到幾百K歐姆之間變化。 202:在管腳上加載固定電壓，并檢測可變電阻器在不同阻值下產(chǎn)生的電 流值；將檢測的電流值分別和至少二個不同的基準(zhǔn)電流值比較，根據(jù)比較結(jié) 果輸出對應(yīng)的管腳狀態(tài)；或，在管腳上加載固定電流，并檢測可變電阻器在 不同阻值下產(chǎn)生的電壓值；將檢測的電壓值分別和至少二個不同的基準(zhǔn)電壓 值比較，根據(jù)比較結(jié)果輸出對應(yīng)的管腳狀態(tài)。
舉例來說，上述202中的將檢測的電流值分別和至少二個不同的基準(zhǔn)電 流值比較，根據(jù)比較結(jié)果輸出對應(yīng)的管腳狀態(tài)具體可以為
A、 將檢測的電流值分別和至少二個不同的基準(zhǔn)電流值比較，并輸出與 每個基準(zhǔn)電流值比較得到的邏輯信號，比如T或"0，，;
B、 將與每個基準(zhǔn)電流值比較得到的邏輯信號組合，作為對應(yīng)的管腳狀
太
例如，假設(shè)有4個大小不同的基準(zhǔn)電流，將與每個基準(zhǔn)電流值比較得到 的邏輯信號組合可以得到5種管腳狀態(tài)，例如OOOO、 1000、 1100、 1110、 1111。 也就是說，在一個管腳上可以配置5種管腳狀態(tài)，相應(yīng)地芯片可以實現(xiàn)根據(jù) 這5種管腳狀態(tài)實現(xiàn)5種功能。
舉例來說，可以利用多個P型金屬氧化物半導(dǎo)體管(P-type Metal Oxide Semiconductor, PMOS )和多個N型金屬氧化物半導(dǎo)體管(N-type Mental Oxide Semiconductor, NMOS)來搭建電流比較電路，這樣就可以實現(xiàn)將檢 測的電流值和每一個不同的基準(zhǔn)電流值進(jìn)行比，交。
舉例來說，上述202中的將檢測的電壓值分別和至少二個不同的基準(zhǔn)電 壓值比較，根據(jù)比較結(jié)果輸出對應(yīng)的管腳狀態(tài)具體可以為
C、 將檢測的電壓值分別和至少二個不同的基準(zhǔn)電壓值比較，并輸出與 每個基準(zhǔn)電壓值比較得到的邏輯信號，比如'T，或"0";
D、 將與每個基準(zhǔn)電壓值比較得到的邏輯信號組合，作為對應(yīng)的管腳狀態(tài)。
例如，假設(shè)有5個大小不同的基準(zhǔn)電壓，將檢測的電壓值與每個基準(zhǔn)電壓值比較得到的邏輯信號組合可以有6種管腳狀態(tài)，例如00000、 10000、 11000、 11100、 11110, 11111。也就是說，在一個管腳上可以配置6種管腳 狀態(tài)，相應(yīng)地芯片可以根據(jù)這6種管腳狀態(tài)實現(xiàn)6種功能。
舉例來說，可以利用多個基準(zhǔn)電壓不相同的比較器(comparator)來搭 建電壓比較電路，這樣可以實現(xiàn)將檢測的電壓值和每一個不同的基準(zhǔn)電壓值 進(jìn)行比較。
上述對本發(fā)明實施例一提供的管腳狀態(tài)的配置方法進(jìn)行了介紹，本發(fā)明 實施例將可變電阻與管腳相連，這樣可以給可變電阻器加載固定電壓，使得 可變電阻器在不同阻值下產(chǎn)生不同電流，不同電流分別和基準(zhǔn)電流比凈交后， 得到不同的管腳狀態(tài)；還可以給可變電阻器加載固定電流，使得可變電阻器 在不同阻值下產(chǎn)生不同電壓，不同電壓分別和基準(zhǔn)電壓比較后，得到不同的 管腳狀態(tài)。因為可變電阻器的阻值可以從幾十歐姆到幾百K歐姆之間變化， 變換范圍比較廣，所以可容易地得到多種不同的管腳狀態(tài)。
可選的，上述步驟201可以省略，及在已經(jīng)建立管腳與可變電阻器之間 的連接的電路中，直接進(jìn)行步驟202,進(jìn)而解決相同的技術(shù)問題，達(dá)到相同 的技術(shù)效果。
實施例二
請參閱圖3,圖3為本發(fā)明實施例二提供的 一 種管腳狀態(tài)的配置方法的流 程示意圖。如圖3所示，該方法可以包括
301:建立管腳與可變電阻器之間的連接；
舉例來說，可變電阻器的阻值可以從幾十歐姆到幾百K歐姆之間變化。
302:'在管腳上加栽可變電流，并檢測可變電阻器在不同阻值下產(chǎn)生的電 壓值；將該電壓值和基準(zhǔn)電壓值比較，根據(jù)比較結(jié)果輸出對應(yīng)的管腳狀態(tài)。
舉例來說，上述302中將檢測的電壓值和基準(zhǔn)電壓值比較，根據(jù)比較結(jié) 果輸出對應(yīng)的管腳狀態(tài)具體可以為
將檢測的電壓值和基準(zhǔn)電壓值比較，并輸出與基準(zhǔn)電壓值比較得到的邏 輯信號，比如"1"或"0",作為對應(yīng)的管腳狀態(tài)。
上述對本發(fā)明實施例二提供的管腳狀態(tài)的配置方法進(jìn)行了介紹，本發(fā)明 實施例將可變電阻與管腳相連，這樣可以給可變電阻器加載變化電流，使得可變電阻器在不同阻值下產(chǎn)生不同電壓，不同電壓分別和基準(zhǔn)電壓比較后， 得到不同的管腳狀態(tài)。因為可變電阻器的阻值可以從幾十歐姆到幾百K歐姆 之間變化，變換范圍比4交廣，所以可容易地得到多種不同的管腳狀態(tài)。
實施例三
請參閱圖4，圖4為本發(fā)明實施例三提供的一種管腳狀態(tài)的配置電路的結(jié) 構(gòu)示意圖。如圖4所示，該配置電路可以包括 管腳400、可變電阻器401和4全測電^各402;
其中，管腳400的第一端和可變電阻器401的第一端相連，可變電阻器 401的第二端與地相連；管腳400的第二端和檢測電路402的輸入端相連；
其中，檢測電路在402在管腳400的第二端加載固定電壓，當(dāng)檢測到可 變電阻器401在不同阻值下產(chǎn)生的電流值時，將檢測的電流值分別和至少二 個不同的基準(zhǔn)電流值比較，根據(jù)比較結(jié)果輸出對應(yīng)的管腳狀態(tài)REGl REGn;
或，檢測電路402在管腳400的第二端加載固定電流，當(dāng)檢測到可變電 阻器401在不同阻值下產(chǎn)生的電壓值時，將檢測的電壓值分別和至少二個不 同基準(zhǔn)電壓值比較，根據(jù)比較結(jié)果輸出對應(yīng)的管腳狀態(tài)REGl REGn。
舉例來說，可變電阻器的阻值可以從幾十歐姆到幾百K歐姆之間變化。
請一并參閱圖5,圖5為本發(fā)明實施例三提供的一種檢測電路的結(jié)構(gòu)示 意圖。如圖5所示，該檢測電路可以包括
與管腳400的第二端相連的固定電壓提供電路4021,用于在管腳400的 第二端加載固定電壓；
舉例來說，固定電壓提供電路4021可以提供固定電壓，固定電壓包括但 不限于帶隙電壓、電源電壓分壓。
與管腳400的第二端相連的電流比較電路4022,用于檢測可變電阻器401 在不同阻值下產(chǎn)生的電流值，并將檢測的電流值分別和至少二個不同的基準(zhǔn) 電流值比較，根據(jù)比較結(jié)果輸出對應(yīng)的管腳狀態(tài)REGl REGn。
舉例來說，電流比較電路4022可以由多個PMOS半導(dǎo)體管和多個NMOS 半導(dǎo)體管搭建構(gòu)成，可以-實現(xiàn)將檢測到的電流值和每一個不同的基準(zhǔn)電流值 進(jìn)行比較。舉例來說，電流比較電路4022可以先將檢測到的電流值分別和至少二個 不同的基準(zhǔn)電流值進(jìn)行比較，并輸出與每個基準(zhǔn)電流值比較得到的邏輯信號， 比如"1"或"0";然后將與每個基準(zhǔn)電流值比較得到的邏輯信號組合 REG 1 REGn,作為對應(yīng)的管腳狀態(tài)。
例如，假設(shè)有4個大小不同的基準(zhǔn)電流，電流比較電路4022可以將檢測 到的電流值分別與4個基準(zhǔn)電流值比較，并輸出與4個邏輯信號，將4個邏 輯信號組合可以有5種管腳狀態(tài)，例如OOOO、 1000、 1100、 1110、 1111。也 就是說，在一個管腳上可以配置5種管腳狀態(tài)，相應(yīng)地芯片可以根據(jù)這5種 管腳狀態(tài)實現(xiàn)5種功能。
請一并參閱圖6,圖6為本發(fā)明實施例三提供的另一種檢測電路的結(jié)構(gòu) 示意圖。如圖6所示，該檢測電路可以包括
與管腳400的第二端相連的固定電流提供電路4023,用于在管腳400的 第二端加載固定電流；
與管腳400的第二端相連的電壓比較電路4024 ，用于纟企測可變電阻器401 在不同阻值下產(chǎn)生的電壓值，并將檢測的電壓值分別和至少二個不同的基準(zhǔn) 電壓值比較，根據(jù)比較結(jié)果輸出對應(yīng)的管腳狀態(tài)。
舉例來說，電壓比較電路4024可以利用多個基準(zhǔn)電壓不相同的比較器 (comparator)搭建構(gòu)成，這樣可以實現(xiàn)將檢測的電壓值和每一個不同的基 準(zhǔn)電壓值進(jìn)^于比較。
舉例來說，電壓比較電路4024可以將檢測的電壓值分別和至少二個不同 的基準(zhǔn)電壓值比較，并輸出與每個基準(zhǔn)電壓值比較得到的邏輯信號，比如'T， 或"0";再將與每個基準(zhǔn)電壓值比較得到的邏輯信號組合REGl REGn， 作為對應(yīng)的管腳狀態(tài)。
例如，假設(shè)有5個大小不同的基準(zhǔn)電壓，電壓比較電路4024可以將檢測 到的電壓值與每個基準(zhǔn)電壓值進(jìn)行比較，得到5個邏輯信號，再將5個邏輯 信號組合REGl REGn，可以有6種管腳狀態(tài)。也就是說，在一個管腳上可
以配置6種管腳狀悉,— 相應(yīng)地芯片可以實現(xiàn)根據(jù)這6種管腳狀態(tài)實現(xiàn)6種功
6匕 3匕。
ii上述對本發(fā)明實施例三提供的管腳狀態(tài)的配置電路進(jìn)行了介紹，本發(fā)明 實施例將可變電阻與管腳相連，這樣可以給可變電阻器加載固定電壓，^^f尋 可變電阻器在不同阻值下產(chǎn)生不同電流，不同電流分別和基準(zhǔn)電流比較后，
得到不同的管腳狀態(tài)；還可以給可變電阻器加載固定電流，使得可變電阻器
在不同阻值下產(chǎn)生不同電壓，不同電壓分別和基準(zhǔn)電壓比較后，得到不同的
管腳狀態(tài)。因為可變電阻器的阻值可以從幾十歐姆到幾百K歐姆之間變化， 變換范圍比較廣，所以可容易地得到多種不同的管腳狀態(tài)。 實施例四
本實施例同樣以圖4所示的管腳狀態(tài)的配置電路為例，介紹本發(fā)明實施例
四提供的管腳狀態(tài)的配置電路。
如圖4所示，該配置電路可以包括管腳400、可變電阻器401和4全測
電路402;
其中，管腳400的第一端和可變電阻器401的第一端相連，可變電阻器 401的第二端與地相連；管腳400的第二端和檢測電路402的輸入端相連；
其中，檢測電路402在管腳400的第二端加載可變電流，當(dāng)檢測到可變 電阻器401在不同阻值下產(chǎn)生的電壓值時，將該電壓值和基準(zhǔn)電壓值比較， 根據(jù)比較結(jié)果輸出對應(yīng)的管腳狀態(tài)REGl REGn。
舉例來說，可變電阻器的阻值可以從幾十歐姆到幾百K歐姆之間變化。
請一并參閱圖7,圖7為本發(fā)明實施例四提供的另一種檢測電路的結(jié)構(gòu) 示意圖。如圖7所示，該檢測電路402可以包括
與管腳400的第二端相連的可變電流提供電路4025，用于在管腳400的 第二端加載可變電流；
舉例來說，可變電流提供電路4025可以由若干個PMOS導(dǎo)體管和開關(guān) 構(gòu)建而成。
與管腳的第二端相連的電壓比較電路4026,用于檢測可變電阻器401在 不同阻值下產(chǎn)生的電壓值，并將檢測的電壓值和基準(zhǔn)電壓值比較，根據(jù)比較 結(jié)果對應(yīng)的管腳狀態(tài)REGl REGn。
舉例來說，電壓比較電路4026可以是由一個比較器和若干開關(guān)搭建構(gòu)成 的，這樣可以實現(xiàn)將檢測的電壓值和的基準(zhǔn)電壓值進(jìn)行比較。舉例來說，電壓比較電路4026可以將檢測的電壓值和基準(zhǔn)電壓值比較， 并輸出與基準(zhǔn)電壓值比較得到的邏輯信號，比如"1"或"0",作為對應(yīng)的管 腳狀態(tài)。
上述對本發(fā)明實施例四提供的管腳狀態(tài)的配置電路進(jìn)行了介紹，本發(fā)明 實施例將可變電阻與管腳相連，這樣可以給可變電阻器加載可變電流，使得 可變電阻器在不同阻值下產(chǎn)生不同電壓，不同電壓分別和基準(zhǔn)電壓比較后， 得到不同的管腳狀態(tài)。因為可變電阻器的阻值可以從幾十歐姆到幾百K歐姆 之間變化，變換范圍比較廣，所以可容易地得到多種不同的管腳狀態(tài)。
實施例五
請參閱圖8,圖8為本發(fā)明實施例五提供的一種管腳狀態(tài)的配置電路的結(jié) 構(gòu)示意圖。如圖8所示，該配置電路可以包括 管腳800、可變電阻器801和檢測電路802;
其中，管腳800的第一端和可變電阻器801的第一端相連，可變電阻器 801的第二端與地相連；管腳800的第二端和檢測電路802的輸入端相連； 如圖8所示，檢測電路802可以包括
與管腳800的第二端相連的固定電壓提供電路8021,用于在管腳800的 第二端加載固定電壓Vrefl;
源電壓分壓等。
與管腳800的第二端相連的電流比較電路8022,用于檢測可變電阻器801 在不同阻值下產(chǎn)生的電流值，并將檢測的電流值分別和至少二個不同的基準(zhǔn) 電流值比較，4艮據(jù)比較結(jié)果輸出對應(yīng)的管腳狀態(tài)。
其中，電流比較電路8022是由若干個PMOS導(dǎo)體管和NMOS導(dǎo)體管搭 建構(gòu)成的，可以實現(xiàn)將檢測的電流值和每一個不同的基準(zhǔn)電流值進(jìn)行比較。 這里產(chǎn)生流經(jīng)PMOS導(dǎo)體管PO的不同阻值下產(chǎn)生的電流值；將不同阻值下 產(chǎn)生的電流值等效到PI ~ Pn導(dǎo)體管的鏡像電流輸出。將PI ~ Pn與Nl ~ Nn 一對-爭聯(lián)對應(yīng)連接。其中，n個NMOS導(dǎo)體管的觸發(fā)電壓都設(shè)為固定電壓 Vref2， n個NMOS管分別設(shè)置不同的寬長比，使得流經(jīng)每個NMOS導(dǎo)體管的電流按預(yù)設(shè)等級產(chǎn)生。這樣通過比較每隊MOS導(dǎo)體管中，流經(jīng)Pn導(dǎo)體管 的電流和流經(jīng)Nn導(dǎo)體管的電流大小，就可以輸出每隊MOS導(dǎo)體管的邏輯電 平值，進(jìn)而根據(jù)比較結(jié)果輸出對應(yīng)的管腳狀態(tài)。
具體的，由于固定電壓提供電路8021中的比較器的作用，可變電阻器801 上的電壓為Vrefl，因此可變電阻器801上產(chǎn)生的電流值大小為Vrefl/R;
PMOS導(dǎo)體管PO的電流等于可變電阻器801上產(chǎn)生的電流，也為 Vrefl/R;
假設(shè)PMOS導(dǎo)體管PO Pn的寬長比都相同，則根據(jù)電流鏡像作用，流經(jīng) 導(dǎo)體管PI ~ Pn上的電流大小都與流經(jīng)導(dǎo)體管PO的電流相同，也都為Vrefl/R; Vref2為NMOS導(dǎo)體管Nl的觸發(fā)電壓。NMOS導(dǎo)體管Nl -Nn按寬長比變化 時，其上的電流大小也按比例變化；如果流經(jīng)導(dǎo)體管Pl的電流比流經(jīng)導(dǎo)體管 Nl的電流大，則導(dǎo)體管Pl輸出的邏輯信號REG1的電壓就會升高直到接近 電源電壓VDD，即高電平，相當(dāng)于邏輯"1";反之REG1的電壓就會降低 直到接近OV,相當(dāng)于還輯"0" ; REG2 REGn同理；
直接比較出來的邏輯信號組合REGl ~ REGn的可能為(以n=4為例) 0000、 0001、 0011、 0111、 1111。
其中，基準(zhǔn)電壓Vrefl的絕對值誤差比較容易地做到±20%以內(nèi)，可變電 阻801的阻值精度比較常見的有5%和1%,再加上比較器的非理想特性等， 可變電阻801上產(chǎn)生電流的絕對值誤差可以做到±30%以內(nèi)，再考慮到判斷的 可靠性，可以把可變電阻器801的阻值的判斷臺階設(shè)計為3.16倍，例如如 果100歐姆表示一種狀態(tài)，±30%為70 ~ 130歐姆；用316歐姆表示另 一種狀 態(tài)，±30%為221-411歐姆；區(qū)間130-221歐姆可以用做提高判斷可靠性的 分隔區(qū)?？紤]到阻值選取的方便性，可用阻值按±10%放大，即用90 100歐 姆表示一種狀態(tài)，用284- 348歐姆表示另一種狀態(tài)，不難算出此時的分隔區(qū) 為143 ~ 199歐姆。
如果按照3.16倍作為阻值的判斷臺階，則從50歐姆~ 500k歐姆之間， 可以表示9個狀態(tài)50、 158、 500、 1.58k、 5k、 15.8k、 50k、 158k、 500k。 如果再算上O歐姆和無窮大(即不用電阻)，就有l(wèi)l個狀態(tài)。可選的，上述實施例中，也可以PMOS導(dǎo)體管PI ~ Pn的寬長比按預(yù)計比 例變化，而NMOS管Nl ~Nn的寬長比不變，同樣進(jìn)行電流值大小比較后， 出來的邏輯信號組合REG1 ~ REGn的可能為(以n=4為例)0000、 0001、 0011、 0111、 1111。
上述對本發(fā)明實施例五提供的管腳狀態(tài)的配置電路進(jìn)行了介紹，本發(fā)明 實施例將可變電阻與管腳相連，這樣可以給可變電阻器加載固定電壓，使得 可變電阻器在不同阻值下產(chǎn)生不同電流，不同電流分別和基準(zhǔn)電流比較后，
得到不同的管腳狀態(tài)。因為可變電阻器的阻值可以從幾十歐姆到幾百K歐姆 之間變化，變換范圍比較廣，所以可容易地得到多種不同的管腳狀態(tài)。 實施例六
請參閱圖9,圖9為本發(fā)明實施例六提供的一種管腳狀態(tài)的配置電路的結(jié) 構(gòu)示意圖。如圖9所示，該配置電路可以包括 管腳900、可變電阻器901和檢測電路902;
其中，管腳900的第一端和可變電阻器901的第一端相連，可變電阻器 901的第二端與地相連；管腳900的第二端和纟企測電路902的輸入端相連； 如圖9所示，檢測電路902可以包括
與管腳900的第二端相連的固定電流提供電路9021,用于在管腳900的 第二端加載固定電流；
與管腳900的第二端相連的電壓比較電路9022,用于檢測可變電阻器901 在不同阻值下產(chǎn)生的電壓值，并將檢測的電壓值分別和至少二個不同的基準(zhǔn) 電壓值比較，根據(jù)比較結(jié)果輸出對應(yīng)的管腳狀態(tài)。
其中，電壓比較電路9022可以是利用多個基準(zhǔn)電壓Vrefl Vrefn不相同 的比較器(comparator)搭建構(gòu)成的，這樣可以實現(xiàn)將檢測的電壓值和每一 個不同的基準(zhǔn)電壓值之間的比較。
其中，Iref為固定電流提供電路9021產(chǎn)生的一個固定電流，這個固定電 流加載在管腳900的第二端時，可變電阻器901在取不同的阻值時就會得到 不同的電壓；
可變電阻器901取不同阻值時得到的不同電壓再分別和基準(zhǔn)電壓Vrefl ~Vrefn進(jìn)行比較，其中基準(zhǔn)電壓Vrefl ~ Vrefn大小不相同，可以得到相應(yīng)的管 腳狀態(tài)。
例如Iref為0.2mA,則可變電阻器901為lk時，對應(yīng)電壓為0.2V;可變 電阻器901為2k時，對應(yīng)電壓為0.4V;可變電阻器901為4k時，對應(yīng)電壓
為0.8V;可變電阻器901為6k時，對應(yīng)電壓為1.2V; ......; Vrefl Vrefn
分別設(shè)置為0.1V、 0.3V、 0.5V、 0.7V.......。則可變電阻器901為lk時，對
應(yīng)輸出管腳狀態(tài)為"10000";可變電阻器901為2k時，對應(yīng)輸出管腳狀態(tài) 為"11000";可變電阻器901為4k時，對應(yīng)輸出管腳狀態(tài)為"11100";......。
本發(fā)明實施例的固定電流Iref和基準(zhǔn)電壓Vrefl ~ Vrefn均可來自芯片內(nèi) 部，因此可以比較容易地使Iref與Vrefl ~ Vrefn之間建立相互關(guān)系，例如 Vrefl ~ Vrefh可以用同樣的固定電流Iref通過電阻得到。
上述對本發(fā)明實施例六提供的管腳狀態(tài)的配置電路進(jìn)行了介紹，本發(fā)明 實施例將可變電阻與管腳相連，這樣可以給可變電阻器加載固定電流，使得 可變電阻器在不同阻值下產(chǎn)生不同電壓，不同電壓分別和基準(zhǔn)電壓比較后， 得到不同的管腳狀態(tài)。因為可變電阻器的阻值可以從幾十歐姆到幾百K歐姆 之間變化，變換范圍比較廣，所以可容易地得到多種不同的管腳狀態(tài)。
實施例七
請參閱圖IO,圖10為本發(fā)明實施例七提供的一種管腳狀態(tài)的配置電路的 結(jié)構(gòu)示意圖。如圖10所示，該配置電路可以包括 管腳1000、可變電阻器1001和;險測電^各1002;
其中，管腳1000的第一端和可變電阻器1001的第一端相連，可變電阻 器1001的第二端與地相連；管腳1000的第二端和4企測電^各1002的輸入端相
連；
其中，檢測電路1002在管腳1000的第二端加載可變電流，當(dāng)4全測到可 變電阻器1001在不同阻值下產(chǎn)生的電壓值時，將檢測的電壓值和基準(zhǔn)電壓值
比較，根據(jù)比較結(jié)果輸出對應(yīng)的管腳狀態(tài)。
舉例來說，可變電阻器1001的阻值可以從幾十歐姆到幾百K歐姆之間 變化。如圖10所示，該檢測電路1002可以包括
與管腳1000的第二端相連的可變電流提供電^各10021,用于在管腳1000 的第二端加載可變電流；
其中，可變電流提供電路10021是由若干個PMOS導(dǎo)體管(P0 Pn)和 若干個開關(guān)(Kll Kln)搭建構(gòu)成的，Vref2是可變電流提供電路10021的觸 發(fā)電壓。
與管腳1000的第二端相連的電壓比較電路10022,用于4企測可變電阻器 1001在不同阻值下產(chǎn)生的電壓值，并將檢測的電壓值和基準(zhǔn)電壓值比較，根 據(jù)比較結(jié)果對應(yīng)的管腳狀態(tài)。
其中，電壓比較電路10022是由一個比較器和若干個開關(guān)(K21 K2n) 搭建構(gòu)成的，Vrefl是比較器的基準(zhǔn)電壓。
舉例來"i充，電壓比較電路10022可以將檢測的電壓值和基準(zhǔn)電壓值Vrefl 比較，并輸出與基準(zhǔn)電壓值Vrefl比較得到的邏輯信號，比如'T，或"0"， 作為對應(yīng)的管腳狀態(tài)。
其中，PMOS導(dǎo)體管的寬長比可以按預(yù)計比例逐步增加，從而產(chǎn)生不同 的電流。先只閉合開關(guān)Kll和K21,判斷得到比較器輸出的邏輯信號REG1 的值；然后再依次只閉合開關(guān)K12和K22-Kln和K2n,依次得到邏輯信號 REG2 REGn的值。如果需要提高判斷速度，也可以從中間開始按二分法判 斷。比如，以n-7為例，先只閉合K14和K24,如果邏輯信號REG4的值為 邏輯"1"，則說明邏輯信號REG1-REG3的值都為邏輯"1";接著只閉合 K16和K26,如果邏輯信號REG6的值為邏輯"0",則說明邏輯信號REG7 的值也為邏輯"0";最后再只閉合K15和K25,就可以得到最后的結(jié)果。
具體實施時，Kll-Kln也可以依次增加閉合，即先只閉合開關(guān)Kll、 再閉合Kl 1和K12........最后閉合所有的Kl 1 ~ Kln。
上述對本發(fā)明實施例七提供的管腳狀態(tài)的配置電路進(jìn)行了介紹，本發(fā)明 實施例將可變電阻與管腳相連，這樣可以給可變電阻器加栽可變電流，使得 可變電阻器在不同阻值下產(chǎn)生不同電壓，不同電壓分別和基準(zhǔn)電壓比-交后， 得到不同的管腳狀態(tài)。因為可變電阻器的阻值可以從幾十歐姆到幾百K歐姆
17之間變化，變換范圍比較廣，所以可容易地得到多種不同的管腳狀態(tài)。
本領(lǐng)域普通技術(shù)人員可以理解實現(xiàn)上述方法實施例的全部或部分步驟 可以通過程序指令相關(guān)的硬件來完成，前述的程序可以存儲于一計算機可讀 取存儲介質(zhì)中，該程序在4丸行時，執(zhí)行包括上述方法實施例的步驟；而前述 的存儲介質(zhì)包括只讀存儲器(ROM)、隨機存取器(RAM)、磁碟或者光 盤等各種可以存儲程序代碼的介質(zhì)。
以上對本發(fā)明實施例所提供的一種管腳狀態(tài)的配置方法及電路進(jìn)行了詳
上實施例的說明只是用于幫助理解本發(fā)明的方法及其核心思想；同時，對于 本領(lǐng)域的一般技術(shù)人員，依據(jù)本發(fā)明的思想，在具體實施方式
及應(yīng)用范圍上 均會有改變之處，綜上所述，本說明書內(nèi)容不應(yīng)理解為對本發(fā)明的限制。
權(quán)利要求
1、一種管腳狀態(tài)的配置方法，其特征在于，包括在與可變電阻器連接的管腳上加載固定電壓，并檢測可變電阻器在不同阻值下產(chǎn)生的電流值；將所述電流值分別和至少二個不同的基準(zhǔn)電流值比較，根據(jù)比較結(jié)果輸出對應(yīng)的管腳狀態(tài)；或，在與可變電阻器連接的管腳上加載固定電流，并檢測可變電阻器在不同阻值下產(chǎn)生的電壓值；將所述電壓值分別和至少二個不同的基準(zhǔn)電壓值比較，根據(jù)比較結(jié)果輸出對應(yīng)的管腳狀態(tài)。
2、 如權(quán)利要求1所述的配置方法，其特征在于，將所述電流值分別和至 少二個不同的基準(zhǔn)電流值比較，根據(jù)比較結(jié)果輸出對應(yīng)的管腳狀態(tài)包括將所述電流值分別和至少二個不同的基準(zhǔn)電流值比較，并輸出與每個基 準(zhǔn)電流值比較得到的邏輯信號；將與每個基準(zhǔn)電流值比較得到的邏輯信號組合，作為對應(yīng)的管腳狀態(tài)。
3、 如權(quán)利要求1所述的配置方法，其特征在于，將所述電壓值分別和至 少二個不同的基準(zhǔn)電壓值比較，根據(jù)比較結(jié)果輸出對應(yīng)的管腳狀態(tài)包括將所述電壓值分別和至少二個不同的基準(zhǔn)電壓值比較，并輸出與每個基 準(zhǔn)電壓值比較得到的邏輯信號；將與每個基準(zhǔn)電壓值比較得到的邏輯信號組合，作為對應(yīng)的管腳狀態(tài)。
4、 一種管腳狀態(tài)的配置方法，其特征在于，包括在與可變電阻器連接的管腳上加載可變電流，并檢測可變電阻器在不同 阻值下產(chǎn)生的電壓值；將所述電壓值和基準(zhǔn)電壓值比較，根據(jù)比較結(jié)果輸出 對應(yīng)的管腳狀態(tài)。
5、 如權(quán)利要求4所述的配置方法，其特征在于，將所述電壓值和基準(zhǔn)電 壓值比較，根據(jù)比較結(jié)果輸出對應(yīng)的管腳狀態(tài)包括將所述電壓值和基準(zhǔn)電壓值比較，并輸出與基準(zhǔn)電壓值比較得到的邏輯 信號，作為對應(yīng)的管腳狀態(tài)。
6、 一種管腳狀態(tài)的配置電路，其特征在于，包括 管腳、可變電阻器和纟企測電路；所述管腳的第一端和所述可變電阻器的第一端相連，所述可變電阻器第二端與地相連；所述管腳的第二端和所述檢測電路的輸入端相連；所述檢測電路在所述管腳的第二端加載固定電壓，當(dāng)檢測到所述可變電阻器在不同阻值下產(chǎn)生的電流值時，將所述電流值分別和至少二個不同的基準(zhǔn)電流值比較，根據(jù)比較結(jié)果輸出對應(yīng)的管腳狀態(tài)；或，所述檢測電路在所述管腳的第二端加載固定電流，當(dāng)檢測到所述可變電阻器在不同阻值下產(chǎn)生的電壓值時，將所述電壓值分別和至少二個不同基準(zhǔn)電壓值比較，根據(jù)比較結(jié)果輸出對應(yīng)的管腳狀態(tài)。
7、 如權(quán)利要求6所述的配置電路，其特征在于，若所述檢測電路在所述 管腳的第二端加載固定電壓，則所述檢測電路包括與所述管腳的第二端相連的固定電壓提供電路，用于在所述管腳的第二 端加載固定電壓；與所述管腳的第二端相連的電流比較電路，用于檢測所述可變電阻器在 不同阻值下產(chǎn)生的電流值，并將所述電流值分別和至少二個不同的基準(zhǔn)電流 值比較，根據(jù)比較結(jié)果輸出對應(yīng)的管腳狀態(tài)。
8、 如權(quán)利要求6所述的配置電路，其特征在于，若所述檢測電路在所述 管腳的第二端加載固定電流，則所述檢測電路包括與所述管腳的第二端相連的固定電流提供電路，用于在所述管腳的第二 端加載固定電流；與所述管腳的第二端相連的電壓比較電路，用于檢測所述可變電阻器在 不同阻值下產(chǎn)生的電壓值，并將所述電壓值分別和至少二個不同的基準(zhǔn)電壓 值比較，根據(jù)比較結(jié)果輸出對應(yīng)的管腳狀態(tài)。
9、 一種管腳狀態(tài)的配置電路，其特征在于，包括 管腳、可變電阻器和4全測電路；所述管腳的第一端和所述可變電阻器的第一端相連，所述可變電阻器第 二端與地相連；所述管腳的第二端和所述檢測電路的輸入端相連；所述檢測電路在所述管腳的第二端加載可變電流，當(dāng)檢測到所述可變電 阻器在不同阻值下產(chǎn)生的電壓值時，將所述電壓值和基準(zhǔn)電壓值比較，根據(jù) 比較結(jié)果輸出對應(yīng)的管腳狀態(tài)。
10、如權(quán)利要求9所述的配置電路，其特征在于，所述檢測電if各包括與所述管腳的第二端相連的可變電流提供電路，用于在所述管腳的第二端加載可變電流；與所述管腳的第二端相連的電壓比較電路，用于檢測所述可變電阻器在 不同阻值下產(chǎn)生的電壓值，并將所述電壓值和基準(zhǔn)電壓值比較，根據(jù)比較結(jié) 果對應(yīng)的管腳狀態(tài)。
全文摘要
本發(fā)明實施例涉及電子技術(shù)領(lǐng)域，公開了一種管腳狀態(tài)的配置方法及電路，其中，一種管腳狀態(tài)的配置方法包括建立管腳與可變電阻器之間的連接；在管腳上加載固定電壓，并檢測可變電阻器在不同阻值下產(chǎn)生的電流值；將檢測的電流值分別和至少二個不同的基準(zhǔn)電流值比較，根據(jù)比較結(jié)果輸出對應(yīng)的管腳狀態(tài)；或，在管腳上加載固定電流，并檢測可變電阻器在不同阻值下產(chǎn)生的電壓值；將檢測的電壓值分別和至少二個不同的基準(zhǔn)電壓值比較，根據(jù)比較結(jié)果輸出對應(yīng)的管腳狀態(tài)。本發(fā)明實施例可以容易地獲得多種不同的管腳狀態(tài)。
文檔編號H03K19/00GK101615903SQ20091016151
公開日2009年12月30日 申請日期2009年7月24日 優(yōu)先權(quán)日2009年7月24日
發(fā)明者波 李 申請人:華為技術(shù)有限公司