專利名稱：無(wú)線電調(diào)諧器用的半導(dǎo)體裝置及其制造方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種無(wú)線電調(diào)諧器用的半導(dǎo)體裝置及其制造
方法，特別是涉及一種構(gòu)成無(wú)線電調(diào)諧器系統(tǒng)的集成電路(IC)。
背景技術(shù)：
圖2是表示以往的無(wú)線電調(diào)諧器的結(jié)構(gòu)的示意圖。在以往 的無(wú)線電調(diào)諧器中，在印制電路板等上裝載有包含調(diào)諧器主體 的主要部分的調(diào)諧器IC 2、以及具有控制調(diào)諧器IC 2的功能的 電子調(diào)諧控制IC4。調(diào)諧器IC 2具有寄存器6，能夠根據(jù)在寄存 器6中設(shè)定的一個(gè)比特等的數(shù)據(jù)來(lái)對(duì)該調(diào)諧器的各種動(dòng)作進(jìn)行 調(diào)整。在此，基本上由于電源的關(guān)閉而導(dǎo)致丟失保存在寄存器6 中的數(shù)據(jù)。另外，也有在動(dòng)作過(guò)程中被改寫的數(shù)據(jù)。因此，將 在起動(dòng)調(diào)諧器時(shí)實(shí)現(xiàn)最佳動(dòng)作狀態(tài)的數(shù)據(jù)保存到在電子調(diào)諧控 制IC4中形成的EEPROM等非易失性存儲(chǔ)器8中。然后，在起動(dòng) 調(diào)諧器時(shí)，從該存儲(chǔ)器8中讀出該數(shù)據(jù)，并通過(guò)總線等從電子調(diào) 諧控制IC 4設(shè)定到調(diào)諧器IC 2的寄存器6中。例如，根據(jù)保存在 寄存器6中的數(shù)據(jù)來(lái)設(shè)定RF調(diào)諧的精確度、搜索廣播站時(shí)的停 止靈敏度(站檢測(cè)靈敏度)、信號(hào)強(qiáng)度計(jì)(S meter)的輸出特性、IF 放大器的增益、立體聲分離度等。
此外，以雙才及(bipolar)工藝形成的IC與以CMOS工藝形成的 IC相比，能夠降低閃爍噪聲(flicker noise)的頻帶上限，因此主 要以雙極工藝形成調(diào)諧器IC 2。特別是在以COMS構(gòu)成AM無(wú)線 電的調(diào)諧器IC 2時(shí)，直到1 MHz左右都會(huì)受到某個(gè)COMS的閃爍 噪聲的影響而無(wú)法確保靈敏度，因此主要以雙極構(gòu)成調(diào)諧器IC 2。另一方面，基本上由數(shù)字電路構(gòu)成電子調(diào)諧控制IC4，不容
易受到噪聲的影響。因此，由與雙極相比具有可實(shí)現(xiàn)低功耗的
優(yōu)點(diǎn)的COMS來(lái)構(gòu)成電子調(diào)諧控制IC 4。
專利文獻(xiàn)l:日本特開平9-181630號(hào)7>才艮

發(fā)明內(nèi)容
發(fā)明要解決的問(wèn)題
以往，將預(yù)置在調(diào)諧器IC 2的寄存器6中的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)在作為 與調(diào)諧器IC 2不同的IC的電子調(diào)諧控制IC 4的存儲(chǔ)器8中。裝配 廠、調(diào)諧器制造商在將調(diào)諧器IC 2以及電子調(diào)諧控制IC 4安裝 到襯底上來(lái)組裝無(wú)線電調(diào)諧器時(shí)，向該存儲(chǔ)器8寫入數(shù)據(jù)。在裝 配廠、調(diào)諧器制造商對(duì)存儲(chǔ)器8寫入預(yù)置數(shù)據(jù)來(lái)調(diào)整組裝后的無(wú) 線電調(diào)諧器的作業(yè)存在如下問(wèn)題預(yù)置的項(xiàng)目數(shù)量很多，因此 需要工時(shí)，使生產(chǎn)成本增加。另外，用于進(jìn)行該調(diào)整的設(shè)備通 常是利用微型計(jì)算機(jī)、GPIB等控制通用的測(cè)量器來(lái)進(jìn)行。即， 與在該調(diào)整中使用能夠高速地控制IC的動(dòng)作的半導(dǎo)體測(cè)試器的 情況相比，能夠以較少的費(fèi)用構(gòu)建調(diào)整設(shè)備，另一方面存在難 以提高調(diào)整工序的生產(chǎn)性的問(wèn)題。
本發(fā)明是為了解決上述問(wèn)題而完成的，其目的在于提供一 種能夠降低裝配廠、調(diào)諧器制造商的生產(chǎn)成本并能夠提高生產(chǎn) 性的無(wú)線電調(diào)諧器系統(tǒng)用IC及其制造方法。
用于解決問(wèn)題的方案
本發(fā)明所涉及的無(wú)線電調(diào)諧器用的半導(dǎo)體裝置將無(wú)線電 調(diào)諧器部與控制上述無(wú)線電調(diào)諧器部的動(dòng)作的控制器部?jī)?nèi)置在 一個(gè)半導(dǎo)體封裝中，上述無(wú)線電調(diào)諧器部具有調(diào)整寄存器，該 調(diào)整寄存器根據(jù)所保存的數(shù)據(jù)對(duì)該無(wú)線電調(diào)諧器部的規(guī)定的功 能進(jìn)行調(diào)整，上述控制器部具有存儲(chǔ)器，其預(yù)先存儲(chǔ)對(duì)于上 述調(diào)整寄存器的預(yù)置數(shù)據(jù)；以及控制部，其在上述無(wú)線電調(diào)諧
器部開始動(dòng)作時(shí)，從上述存儲(chǔ)器中讀出上述預(yù)置數(shù)據(jù)并保存到 上述調(diào)整寄存器中。
另外，本發(fā)明所涉及的無(wú)線電調(diào)諧器用的半導(dǎo)體裝置制造
方法是制造上述半導(dǎo)體裝置的方法，具有如下工序封裝工序， 將上述無(wú)線電調(diào)諧器部和上述控制器部?jī)?nèi)置在上述半導(dǎo)體封裝 中；以及成品檢查工序，在上述封裝工序之后，進(jìn)行使用半導(dǎo) 體測(cè)試器來(lái)判斷上述半導(dǎo)體裝置的動(dòng)作是否良好的成品檢查， 其中，在上述成品檢查工序中，根據(jù)從上述半導(dǎo)體測(cè)試器施加 到上述半導(dǎo)體封裝的端子的電信號(hào)，確認(rèn)上述半導(dǎo)體裝置的動(dòng) 作，并且向上述存儲(chǔ)器寫入上述預(yù)置數(shù)據(jù)。 發(fā)明的效果
根據(jù)本發(fā)明，無(wú)線電調(diào)諧器部和控制器部構(gòu)成為一個(gè)IC, 因此能夠在該IC的制造工序中，在控制器部的存儲(chǔ)器中保存將 無(wú)線電調(diào)諧器部的動(dòng)作設(shè)定為最佳狀態(tài)的預(yù)置數(shù)據(jù)。即，由IC 制造商進(jìn)行調(diào)整作業(yè)，不需要由裝配廠、調(diào)諧器制造商進(jìn)行調(diào) 整作業(yè)。能夠與IC的成品檢查 一起進(jìn)行向存儲(chǔ)器的預(yù)置數(shù)據(jù)的 寫入，能夠以與用于成品檢查的半導(dǎo)體測(cè)試器的處理速度相應(yīng) 的吞吐量來(lái)執(zhí)行。在成品檢查工序中使用的半導(dǎo)體測(cè)試器通常 是高速的，因此能高速地進(jìn)行構(gòu)成無(wú)線電調(diào)諧器系統(tǒng)的IC的調(diào) 整作業(yè)。


圖l是作為本發(fā)明的實(shí)施方式的無(wú)線電調(diào)諧器系統(tǒng)的示意 性的結(jié)構(gòu)圖。
圖2是表示以往的無(wú)線電調(diào)諧器的結(jié)構(gòu)的示意圖。 附圖標(biāo)記i兌明
20:調(diào)諧器系統(tǒng)IC; 22:天線；24:主微型計(jì)算機(jī)；30:
無(wú)線電調(diào)諧器部；32:電子調(diào)諧控制部；40:前置電路；42: IF解調(diào)電路；44:噪聲抵消電路；46:多路復(fù)用電路；48: LNA; 50: BPF; 52、 70: DAC; 54:寄存器；56、 72:總線；60: CPU; 62:非易失性存儲(chǔ)器；64: PLL電3各；66: RDS解碼器； 68: ADC; 74: "C接口電路。
具體實(shí)施例方式
下面，根據(jù)

本發(fā)明的實(shí)施方式(下面稱為實(shí)施方式)。
圖l是作為本發(fā)明的實(shí)施方式的無(wú)線電調(diào)諧器系統(tǒng)的示意 性的結(jié)構(gòu)圖。該系統(tǒng)構(gòu)成為包括調(diào)諧器系統(tǒng)IC20、天線22、以 及主微型計(jì)算機(jī)24。
調(diào)諧器系統(tǒng)IC 20構(gòu)成為包括無(wú)線電調(diào)諧器部30和電子調(diào) 諧控制部32(控制器部)。無(wú)線電調(diào)諧器部30和電子調(diào)諧控制部 32例如能夠分別構(gòu)成為半導(dǎo)體芯片。調(diào)諧器系統(tǒng)IC 20將這些多 個(gè)芯片容納在一個(gè)IC封裝中，在封裝內(nèi)進(jìn)行無(wú)線電調(diào)諧器部30 與電子調(diào)諧控制部32之間所需的配線。該混合IC結(jié)構(gòu)在如下情 況下有效以能夠低噪聲化的雙極工藝來(lái)制造無(wú)線電調(diào)諧器部 30,以能夠降低功耗等的CMOS工藝來(lái)制造電子調(diào)諧控制部32。 另 一方面，內(nèi)置在調(diào)諧器系統(tǒng)IC 20中的無(wú)線電調(diào)諧器部30和電 子調(diào)諧控制部32也可以構(gòu)成為一個(gè)芯片。并且，也可以不封裝 該一個(gè)芯片的調(diào)諧器系統(tǒng)IC 20而直接表面安裝在印制電路板 等上。
無(wú)線電調(diào)諧器部3 0是被輸入由天線2 2接收的無(wú)線頻率(RF) 的信號(hào)并從該RF信號(hào)中提取所希望的廣播站的信號(hào)而進(jìn)行檢 波并輸出的電路，該無(wú)線電調(diào)諧器部30具有前置電路40、 IF解 調(diào)電路42、噪聲抵消電路44、多路復(fù)用電路(MPX)46、低噪聲
放大器(LNA)48、帶通濾波器(BPF)50、 D/A(Digita卜to-Analog: 數(shù)字-模擬)轉(zhuǎn)換電路(DAC)52、寄存器54、以及總線56。
另 一方面，電子調(diào)諧控制部32具有CPU(Central Processing Unit:中央處理單元)60、非易失性存儲(chǔ)器62、 PLL(Phase Locked Loop:鎖相環(huán))電3各64、 RDS(Radio Data System:無(wú)線凄史據(jù)系統(tǒng)) 解碼器66 、 A/D(Analog-to-Digital: 模擬-數(shù)字)轉(zhuǎn)換電路 (ADC)68、 DAC 70、總線72、以及l(fā)2C(Inter-Integrated Circuit: 內(nèi)置集成電路)接口電路74。
前置電路40被輸入PLL電路64所生成的振蕩信號(hào)，將對(duì)該 振蕩信號(hào)進(jìn)行分頻得到的信號(hào)與RF信號(hào)混合，將所希望的廣播 站的RF接收信號(hào)轉(zhuǎn)換為具有中間頻率(Intermediate Frequency: IF)的IF信號(hào)。IF解調(diào)電路42對(duì)作為AM信號(hào)或FM信號(hào)的IF信號(hào) 進(jìn)行解調(diào)。噪聲抵消電路44具有除去脈沖噪聲的功能。多路復(fù) 用電路46在由IF解調(diào)電路42檢波得到的FM調(diào)制信號(hào)是合成信 號(hào)的情況下，提取構(gòu)成該信號(hào)的差信號(hào)(L-R)與和信號(hào)(L+R)， 并且通過(guò)矩陣方式從這些差信號(hào)與和信號(hào)中分離出L信號(hào)與R 信號(hào)，輸出由L信號(hào)和R信號(hào)構(gòu)成的立體聲信號(hào)。LNA48例如以 低噪聲來(lái)放大RF信號(hào)。BPF 50例如構(gòu)成為可改變通頻帶，根據(jù) 相鄰干擾的有無(wú)、接收電場(chǎng)強(qiáng)度等來(lái)切換通頻帶的寬窄，由此 降低相鄰干擾、噪聲。
寄存器54被連接在總線56上，通過(guò)總線56保存數(shù)據(jù)。該寄 存器54構(gòu)成為能夠根據(jù)保存在寄存器中的數(shù)據(jù)來(lái)對(duì)如上所述那 樣的無(wú)線電調(diào)諧器部30內(nèi)的各部的動(dòng)作進(jìn)行調(diào)整。根據(jù)以一個(gè) 比特或多個(gè)比特表示的數(shù)據(jù)來(lái)控制各部的電路的動(dòng)作。DAC 52 將保存在寄存器54中的數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為電壓信號(hào)，并施加到控制對(duì) 象的電路。例如，如已說(shuō)明的那樣，根據(jù)保存在寄存器中的數(shù) 據(jù)來(lái)對(duì)RF調(diào)諧的精確度、搜索廣播站時(shí)的停止靈敏度(站檢測(cè)
靈敏度)、信號(hào)強(qiáng)度計(jì)的輸出特性、IF放大器的增益、以及立體 聲分離度等進(jìn)行調(diào)整。
CPU 60例如通過(guò)總線72控制電子調(diào)諧控制部32的各部的 動(dòng)作，通過(guò)該各部的動(dòng)作來(lái)控制無(wú)線電調(diào)諧器部30的動(dòng)作。PLL 電路64在CPU 60的控制下，才艮據(jù)所希望的廣播站的頻率來(lái)切換 振蕩信號(hào)的頻率。RDS解碼器66提取被疊加在由IF解調(diào)電路42 解調(diào)得到的信號(hào)中的RDS信息。PC接口電路74利用調(diào)諧器系統(tǒng) IC20的兩個(gè)外部連接端子與外部電路進(jìn)行通信。例如，主微型 計(jì)算機(jī)24能夠通過(guò)該^C接口電路74對(duì)電子調(diào)諧控制部32進(jìn)行 控制。
非易失性存儲(chǔ)器62被連接在總線72上。非易失性存儲(chǔ)器62 例3口由EEPROM(Electronically Erasable and Programmable Read Only Memory:電可擦寫可編程只讀存儲(chǔ)器)構(gòu)成。根據(jù)從調(diào)諧 器系統(tǒng)IC 20的外部施加的信號(hào)能夠改寫非易失性存儲(chǔ)器62的 存儲(chǔ)內(nèi)容。另一方面，在CPU60的控制下，能夠向總線72讀出 被寫入的數(shù)據(jù)。
無(wú)線電調(diào)諧器部30的總線56與電子調(diào)諧控制部32的總線 72相互連4妻，CPU 60例如能夠在調(diào)諧器系統(tǒng)IC 20起動(dòng)時(shí)讀出存 儲(chǔ)在非易失性存儲(chǔ)器6 2中的數(shù)據(jù)，并在寄存器5 4中進(jìn)行設(shè)定。
接著，說(shuō)明調(diào)諧器系統(tǒng)IC 20的制造方法。調(diào)諧器系統(tǒng)IC 20 將無(wú)線電調(diào)諧器部30與電子調(diào)諧控制部32內(nèi)置在一個(gè)封裝中， 由此能夠在制造調(diào)諧器系統(tǒng)IC 20時(shí)對(duì)非易失性存儲(chǔ)器62寫入 無(wú)線電調(diào)諧器部30的寄存器54的最佳的預(yù)置數(shù)據(jù)，其中，上述 無(wú)線電調(diào)諧器部30中設(shè)置有寄存器54,上述電子調(diào)諧控制部32 具有存儲(chǔ)被預(yù)置在寄存器54中的數(shù)據(jù)的非易失性存儲(chǔ)器62。
具體地說(shuō)，由半導(dǎo)體制造商將無(wú)線電調(diào)諧器部30與電子調(diào) 諧控制部3 2內(nèi)置在 一 個(gè)半導(dǎo)體封裝中，在形成調(diào)諧器系統(tǒng)IC 2 0
的封裝工序結(jié)束后，使用半導(dǎo)體測(cè)試器進(jìn)行判斷調(diào)諧器系統(tǒng)I c 20的動(dòng)作是否良好的成品檢查。另外，在以半導(dǎo)體芯片的狀態(tài) 直接表面安裝的調(diào)諧器系統(tǒng)IC 20的情況下，在晶圓上形成無(wú)線 電調(diào)諧器部30和電子調(diào)諧控制部32的工序結(jié)束之后，在晶圓狀 態(tài)下、或者#1切割后的切片的狀態(tài)下進(jìn)4于成品4全查。在該成品 檢查工序中，根據(jù)從半導(dǎo)體測(cè)試器對(duì)調(diào)諧器系統(tǒng)IC 20的外部連 接端子施加的電信號(hào)，不僅確認(rèn)調(diào)諧器系統(tǒng)IC 20的動(dòng)作，還向 非易失性存儲(chǔ)器62寫入預(yù)置數(shù)據(jù)。
例如，在成品檢查中，通過(guò)總線56、 72來(lái)控制調(diào)諧器系統(tǒng) IC20的各種功能，由此進(jìn)行調(diào)整。能夠?qū)⒃谠撜{(diào)整中得到的、 最佳的寄存器54的保存值寫入到非易失性存儲(chǔ)器62中。
特別是半導(dǎo)體制造商所使用的半導(dǎo)體測(cè)試器的價(jià)格非常 高，另 一 方面，與利用GPIB等來(lái)控制通用的測(cè)量器的情況相比， 能夠以1 OO倍以上的速度高速進(jìn)行IC的調(diào)整，能夠降低IC的制造 成本。因此， 一般半導(dǎo)體制造商引進(jìn)這種裝置。另一方面，裝 配廠、調(diào)諧器制造商僅僅為了設(shè)定非易失性存儲(chǔ)器62而引進(jìn)該 裝置的情況下，較大的費(fèi)用負(fù)擔(dān)成為瓶頸。
即，由半導(dǎo)體制造商使用半導(dǎo)體測(cè)試器進(jìn)行調(diào)諧器系統(tǒng)IC
20的調(diào)整與由裝配廠等進(jìn)行調(diào)整相比更容易。并且，通過(guò)由半 導(dǎo)體制造商進(jìn)行該調(diào)整，裝配廠等可以節(jié)省該調(diào)整工序，能夠 構(gòu)成只要在襯底上裝載調(diào)諧器系統(tǒng)IC 20而不調(diào)整從而滿足所 期望的特性、標(biāo)準(zhǔn)的調(diào)諧器。
此外，在需要制造不同規(guī)格、特性的調(diào)諧器系統(tǒng)IC20的情 況下，能夠根據(jù)該規(guī)格等變更半導(dǎo)體測(cè)試器的程序而改變寄存 器54的值來(lái)進(jìn)行調(diào)整。
權(quán)利要求
1.一種無(wú)線電調(diào)諧器用的半導(dǎo)體裝置，其特征在于，將無(wú)線電調(diào)諧器部與控制上述無(wú)線電調(diào)諧器部的動(dòng)作的控制器部?jī)?nèi)置在一個(gè)半導(dǎo)體封裝中，上述無(wú)線電調(diào)諧器部具有調(diào)整寄存器，該調(diào)整寄存器根據(jù)所保存的數(shù)據(jù)對(duì)該無(wú)線電調(diào)諧器部的規(guī)定的功能進(jìn)行調(diào)整，上述控制器部具有:存儲(chǔ)器，其預(yù)先存儲(chǔ)對(duì)于上述調(diào)整寄存器的預(yù)置數(shù)據(jù)；以及控制部，其在上述無(wú)線電調(diào)諧器部開始動(dòng)作時(shí)，從上述存儲(chǔ)器中讀出上述預(yù)置數(shù)據(jù)并保存到上述調(diào)整寄存器中。
2. —種無(wú)線電調(diào)諧器用的半導(dǎo)體裝置的制造方法，是制造 權(quán)利要求1所述的無(wú)線電調(diào)諧器用的半導(dǎo)體裝置的方法，其特征 在于，具有以下工序封裝工序，將上述無(wú)線電調(diào)諧器部和上述控制器部?jī)?nèi)置在 上述半導(dǎo)體封裝中；以及成品檢查工序，在上述封裝工序之后，進(jìn)行使用半導(dǎo)體測(cè) 試器來(lái)判斷上述半導(dǎo)體裝置的動(dòng)作是否良好的成品檢查，其中，在上述成品檢查工序中，根據(jù)從上述半導(dǎo)體測(cè)試器 施加到上述半導(dǎo)體封裝的端子的電信號(hào)，確認(rèn)上述半導(dǎo)體裝置 的動(dòng)作，并且向上述存儲(chǔ)器寫入上述預(yù)置數(shù)據(jù)。
3. —種無(wú)線電調(diào)諧器用的半導(dǎo)體裝置，其特征在于，將無(wú)線電調(diào)諧器部與控制上述無(wú)線電調(diào)諧器部的動(dòng)作的控 制器部?jī)?nèi)置在一個(gè)半導(dǎo)體芯片中，上述無(wú)線電調(diào)諧器部具有調(diào)整寄存器，該調(diào)整寄存器根據(jù) 所保存的數(shù)據(jù)對(duì)該無(wú)線電調(diào)諧器部的規(guī)定的功能進(jìn)行調(diào)整，上述控制器部具有存儲(chǔ)器，其預(yù)先存儲(chǔ)對(duì)于上述調(diào)整寄存器的預(yù)置數(shù)據(jù)；以及控制部，其在上述無(wú)線電調(diào)諧器部開始動(dòng)作時(shí)，從上述存 儲(chǔ)器中讀出上述預(yù)置數(shù)據(jù)并保存到上述調(diào)整寄存器中。
4. 一種無(wú)線電調(diào)諧器用的半導(dǎo)體裝置的制造方法，是制造 權(quán)利要求3所述的無(wú)線電調(diào)諧器用的半導(dǎo)體裝置的方法，其特征 在于，具有成品檢查工序，在該成品檢查工序中，在將上述無(wú)線 電調(diào)諧器部和上述控制器部形成在共用的半導(dǎo)體襯底上之后， 使用半導(dǎo)體測(cè)試器進(jìn)行判斷上述半導(dǎo)體裝置的動(dòng)作是否良好的 成品檢查，在上述成品檢查工序中，根據(jù)從上述半導(dǎo)體測(cè)試器施加到 上述半導(dǎo)體裝置的端子的電信號(hào)，確認(rèn)上述半導(dǎo)體裝置的動(dòng)作， 并且向上述存儲(chǔ)器寫入上述預(yù)置數(shù)據(jù)。
全文摘要
本發(fā)明提供無(wú)線電調(diào)諧器用的半導(dǎo)體裝置及其制造方法。節(jié)省無(wú)線電調(diào)諧器系統(tǒng)用IC的調(diào)整作業(yè)的勞力。將內(nèi)置有保持動(dòng)作參數(shù)的寄存器(54)的無(wú)線電調(diào)諧器部(30)與內(nèi)置有存儲(chǔ)被預(yù)置在寄存器(54)中的數(shù)據(jù)的非易失性存儲(chǔ)器(62)的電子調(diào)諧控制部(32)構(gòu)成為一個(gè)調(diào)諧器系統(tǒng)IC(20)。通過(guò)該結(jié)構(gòu)可在調(diào)諧器系統(tǒng)IC(20)的制造階段對(duì)非易失性存儲(chǔ)器(62)寫入與相同封裝內(nèi)的無(wú)線電調(diào)諧器部(30)對(duì)應(yīng)的數(shù)據(jù)。通過(guò)在調(diào)諧器系統(tǒng)IC(20)的封裝后的成品檢查中同時(shí)進(jìn)行該非易失性存儲(chǔ)器(62)的調(diào)整作業(yè)，可使該作業(yè)省工。在該檢查中通常使用高速的半導(dǎo)體測(cè)試器，能夠高速進(jìn)行非易失性存儲(chǔ)器(62)的調(diào)整作業(yè)。
文檔編號(hào)H03J1/00GK101373979SQ20081014721
公開日2009年2月25日 申請(qǐng)日期2008年8月21日 優(yōu)先權(quán)日2007年8月21日
發(fā)明者佐佐木文博, 小林啟二 申請(qǐng)人:三洋電機(jī)株式會(huì)社;三洋半導(dǎo)體株式會(huì)社