專(zhuān)利名稱(chēng)：搭載△∑型調(diào)制器的半導(dǎo)體裝置以及半導(dǎo)體系統(tǒng)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種恰當(dāng)?shù)貦z測(cè)Ai:型調(diào)制器的振蕩狀態(tài)的半導(dǎo)體 裝置以及半導(dǎo)體系統(tǒng)。
背景技術(shù)：
在以往的搭載Ai:型調(diào)制器的半導(dǎo)體裝置以及半導(dǎo)體系統(tǒng)中，通 過(guò)由微型計(jì)算機(jī)(以下稱(chēng)作微機(jī))等確認(rèn)Ai:型調(diào)制器所輸出的溢出
(overflow)檢測(cè)信號(hào)來(lái)復(fù)位Ai:型調(diào)制器的內(nèi)部狀態(tài)，從而使AZ型 調(diào)制器從振蕩狀態(tài)復(fù)原(例如參照專(zhuān)利文獻(xiàn)l)。
下面說(shuō)明以往的搭載Ai:型調(diào)制器的半導(dǎo)體裝置。
圖19是表示以往的搭載Ai:型A/D變換器的半導(dǎo)體裝置的結(jié)構(gòu)
的框圖。
以往的搭載Ai:型A/D變換器的半導(dǎo)體裝置具有AZ型A/D變 換器100，其將輸入模擬數(shù)據(jù)A變換為數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)B;以及微機(jī)101， 其確認(rèn)AZ型A/D變換器100所輸出的溢出檢測(cè)信號(hào)C,來(lái)發(fā)出將Ai: 型A/D變換器100進(jìn)行復(fù)位的AS型A/D變換器軟復(fù)位設(shè)定D的命令。
在將積分器進(jìn)行級(jí)聯(lián)連接而進(jìn)行2次以上的AZ變換的情況下， Ai;型A/D變換器100有時(shí)對(duì)于大輸入信號(hào)、或者對(duì)于以階躍狀急劇 變化的輸入信號(hào)，電路的內(nèi)部狀態(tài)進(jìn)行振蕩。在這種情況下，在AZ型 A/D變換器100中， 一旦發(fā)生振蕩其振幅立刻變大，被受限的電源電 壓驅(qū)動(dòng)的運(yùn)算放大器等電路元件不能進(jìn)行線(xiàn)性的正常動(dòng)作，失去動(dòng)作 精度，無(wú)法進(jìn)行正常的A/D變換。另外，即使在振蕩開(kāi)始后輸入信號(hào) 回到正常值，Ai:型A/D變換器IOO也往往持續(xù)振蕩，在這種情況下 需要檢測(cè)振蕩來(lái)將內(nèi)部狀態(tài)進(jìn)行復(fù)位。為此，AZ型A/D變換器100 將積分器的輸出與所設(shè)定的比較器閾值進(jìn)行比較并將溢出檢測(cè)信號(hào)C輸出到微機(jī)101，從而能夠得知在Ai:型A/D變換器100中引起了溢出。微機(jī)101確認(rèn)溢出檢測(cè)信號(hào)C,在AS型A/D變換器100中引起了溢出的情況下，通過(guò)發(fā)送Ai:型A/D變換器軟復(fù)位設(shè)定D來(lái)復(fù)位A2:型A/D變換器100的內(nèi)部狀態(tài)，使得從振蕩狀態(tài)復(fù)原。
專(zhuān)利文獻(xiàn)l:專(zhuān)利第3192256號(hào)
專(zhuān)利文獻(xiàn)2:美國(guó)專(zhuān)利笫5012244號(hào)說(shuō)明書(shū)
發(fā)明要解決的課題
如以上所說(shuō)明，以往的搭栽Ai;型調(diào)制器的半導(dǎo)體裝置在AS型調(diào)制器發(fā)生振蕩的情況下能夠使AS型調(diào)制器從振蕩狀態(tài)復(fù)原，但是有時(shí)由于噪聲的影響等而臨時(shí)引起溢出，發(fā)生額外進(jìn)行復(fù)位的問(wèn)題，
因此需要恰當(dāng)?shù)貦z測(cè)Ai:型調(diào)制器的振蕩狀態(tài)。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明是為了解決上述問(wèn)題而作出的，其目的在于提供一種如下的半導(dǎo)體裝置以及半導(dǎo)體系統(tǒng)在臨時(shí)溢出的情況下不復(fù)位AZ型調(diào)
制器的內(nèi)部狀態(tài)，而只有在振蕩狀態(tài)持續(xù)的情況下復(fù)位Ai:型調(diào)制器
的內(nèi)部狀態(tài)，從而在由于噪聲等的影響而臨時(shí)引起溢出的情況下等不用額外進(jìn)行復(fù)位就能夠從振蕩狀態(tài)復(fù)原到能夠正常動(dòng)作的狀態(tài)。用于解決課題的方案
為了達(dá)到上述目的，本發(fā)明的發(fā)明1的半導(dǎo)體裝置的特征在于，具備AS型調(diào)制器，其具有將積分器的輸出信號(hào)進(jìn)行量化的量化器；
溢出檢測(cè)電路，其將Ai:型調(diào)制器的至少任一處的積分器的輸出與規(guī)
定值進(jìn)行比較，輸出溢出檢測(cè)信號(hào)；溢出頻率算出電路，其根據(jù)上述溢出檢測(cè)信號(hào)，算出上述積分器的輸出為正常范圍外的頻率(頻度)即溢出頻率值，并輸出該溢出頻率值；振蕩判定電路，其根據(jù)上述溢出頻率值，判定上述AS型調(diào)制器是否處于振蕩狀態(tài)；以及振蕩停止電路，其在由上述振蕩判定電路判定為上述AS型調(diào)制器處于振蕩狀態(tài)的情況下，使上述AE型調(diào)制器的振蕩收斂。
本發(fā)明的發(fā)明2的半導(dǎo)體裝置的特征在于，在發(fā)明l所述的半導(dǎo)
16體裝置中，當(dāng)上述AS型調(diào)制器的輸出信號(hào)是多位時(shí)，上述溢出檢測(cè)
電路將上述Ai:型調(diào)制器的量化器的輸出信號(hào)與規(guī)定值進(jìn)行比較，并輸出溢出檢測(cè)信號(hào)。
本發(fā)明的發(fā)明3的半導(dǎo)體裝置的特征在于，在發(fā)明l或者2所述的半導(dǎo)體裝置中，上述溢出檢測(cè)電路的規(guī)定值是可變的。
本發(fā)明的發(fā)明4的半導(dǎo)體裝置的特征在于，在發(fā)明l所述的半導(dǎo)體裝置中，上述溢出頻率算出電路對(duì)溢出檢測(cè)信號(hào)進(jìn)行積分，并輸出溢出頻率值。
本發(fā)明的發(fā)明5的半導(dǎo)體裝置的特征在于，在發(fā)明l或者4所述的半導(dǎo)體裝置中，上述溢出頻率算出電路對(duì)一定期間內(nèi)的檢測(cè)溢出檢測(cè)信號(hào)的次數(shù)進(jìn)行計(jì)數(shù)，并將計(jì)數(shù)值作為溢出頻率值而輸出。
本發(fā)明的發(fā)明6的半導(dǎo)體裝置的特征在于，在發(fā)明l或者4所述的半導(dǎo)體裝置中，上述振蕩判定電路比較上述溢出頻率值與閾值，在
溢出頻率值大于等于闞值的情況所連續(xù)的次數(shù)成為規(guī)定次數(shù)以上的情況下，判定為上述AS型調(diào)制器處于振蕩狀態(tài)。
本發(fā)明的發(fā)明7的半導(dǎo)體裝置的特征在于，在發(fā)明l或者4所述的半導(dǎo)體裝置中，算出溢出頻率值的期間以及上述振蕩判定電路的閾值是可變的。
本發(fā)明的發(fā)明8的半導(dǎo)體裝置的特征在于，在發(fā)明l所述的半導(dǎo)體裝置中，上述溢出頻率算出電路是低通濾波器。
本發(fā)明的發(fā)明9的半導(dǎo)體裝置的特征在于，在發(fā)明1所述的半導(dǎo)體裝置中，上述振蕩判定電路是將上述溢出頻率值與預(yù)先確定的值進(jìn)行比較的比較器。
本發(fā)明的發(fā)明10的半導(dǎo)體裝置的特征在于，在發(fā)明1所述的半導(dǎo)體裝置中，上述振蕩停止電路是軟件。
本發(fā)明的發(fā)明11的半導(dǎo)體裝置的特征在于，在發(fā)明1所述的半導(dǎo)體裝置中，上述振蕩停止電路是硬件。
本發(fā)明的發(fā)明12的半導(dǎo)體裝置的特征在于，在發(fā)明1所述的半導(dǎo)體裝置中，上述振蕩停止電路能夠進(jìn)行軟件/硬件的切換。
17本發(fā)明的發(fā)明13的半導(dǎo)體裝置的特征在于，在發(fā)明1所述的半導(dǎo)體裝置中，上述振蕩停止電路將AS型調(diào)制器的積分器進(jìn)行初始化。
本發(fā)明的發(fā)明14的半導(dǎo)體裝置的特征在于，在發(fā)明1所述的半導(dǎo)體裝置中，上述振蕩停止電路變更AS型調(diào)制器的積分器的乘數(shù)。
本發(fā)明的發(fā)明15的半導(dǎo)體裝置的特征在于，在發(fā)明1所述的半導(dǎo)體裝置中，上述振蕩停止電路使Ai:型調(diào)制器的積分器的輸出范圍變窄。
本發(fā)明的發(fā)明16的半導(dǎo)體裝置的特征在于，在發(fā)明4所述的半導(dǎo)體裝置中，上述振蕩判定電路是將上述溢出頻率值與預(yù)先確定的值進(jìn)行比較的比較器，上述振蕩停止電路將Ai:型調(diào)制器的積分器進(jìn)行
^刀士臺(tái)4b。
本發(fā)明的發(fā)明17的半導(dǎo)體裝置的特征在于，在發(fā)明1至16中的任一項(xiàng)所述的半導(dǎo)體裝置中，上述AZ型調(diào)制器是D/A。
本發(fā)明的發(fā)明18的半導(dǎo)體裝置的特征在于，在發(fā)明1至16中的任一項(xiàng)所述的半導(dǎo)體裝置中，上述AS型調(diào)制器是A/D。
本發(fā)明的發(fā)明19的半導(dǎo)體裝置的特征在于，在發(fā)明17或者18所述的半導(dǎo)體裝置中，上述溢出檢測(cè)電路在剛起動(dòng)后或者使振蕩收斂后，直到AS型調(diào)制器變穩(wěn)定為止，不輸出溢出檢測(cè)信號(hào)。
本發(fā)明的發(fā)明20的半導(dǎo)體裝置的特征在于，在發(fā)明17或者18所述的半導(dǎo)體裝置中，上述溢出頻率算出電路在剛起動(dòng)后或者使振蕩收斂后，直到Ai:型調(diào)制器變穩(wěn)定為止，不輸出溢出頻率值。
本發(fā)明的發(fā)明21的半導(dǎo)體裝置的特征在于，在發(fā)明17或者18所述的半導(dǎo)體裝置中，上述振蕩判定電路在剛起動(dòng)后或者使振蕩收斂后，直到Ai:型調(diào)制器變穩(wěn)定為止，不判定為AZ型調(diào)制器處于振蕩狀態(tài)。
本發(fā)明的發(fā)明22的半導(dǎo)體裝置的特征在于，在發(fā)明17或者18所述的半導(dǎo)體裝置中，上述振蕩停止電路在剛起動(dòng)后或者使振蕩收斂后，直到Ai:型調(diào)制器變穩(wěn)定為止，不使振蕩收斂。
本發(fā)明的發(fā)明23的半導(dǎo)體系統(tǒng)的特征在于，在具有發(fā)明19-22中的任一項(xiàng)所述的半導(dǎo)體裝置的半導(dǎo)體系統(tǒng)中，還具備對(duì)從上述半導(dǎo)體裝置輸出的數(shù)據(jù)進(jìn)行處理的信號(hào)處理電路，在由上述振蕩判定電路
判定為Ai:型調(diào)制器處于振蕩狀態(tài)的情況下，上述信號(hào)處理電路調(diào)整上述Ai:型調(diào)制器的輸出，使該輸出漸隱或停止。
本發(fā)明的發(fā)明24的半導(dǎo)體系統(tǒng)的特征在于，在具有發(fā)明19~22中的任一項(xiàng)所述的半導(dǎo)體裝置的半導(dǎo)體系統(tǒng)中，還具備調(diào)整輸入振幅后將數(shù)據(jù)輸出到上述半導(dǎo)體裝置內(nèi)的AZ型調(diào)制器的輸入振幅限制電路，在由上述振蕩判定電路判定為AZ型調(diào)制器處于振蕩狀態(tài)的情況下，上述輸入振幅限制電路調(diào)整上述AZ型調(diào)制器的輸入振幅。
本發(fā)明的發(fā)明25的半導(dǎo)體系統(tǒng)的特征在于，在發(fā)明23或者24所述的半導(dǎo)體系統(tǒng)中，具備即將振蕩判定電路，該即將振蕩判定電路根據(jù)溢出頻率值，判定AS型調(diào)制器是否處于即將振蕩的狀態(tài)，將上
的值，:據(jù)通過(guò)上述溢出檢測(cè)電路^Ai:型;制器的工分器的輸出與
上述變更后的規(guī)定值進(jìn)行比較而輸出的溢出檢測(cè)信號(hào)，由上述溢出頻
率算出電路算出溢出頻率值，由上述即將振蕩判定電路檢測(cè)Ai:型調(diào)
制器的即將振蕩的狀態(tài)。
本發(fā)明的發(fā)明26的半導(dǎo)體系統(tǒng)的特征在于，在發(fā)明23或者24所述的半導(dǎo)體系統(tǒng)中，具備即將振蕩判定電路，該即將振蕩判定電路根據(jù)溢出頻率值，判定AZ型調(diào)制器是否處于即將振蕩的狀態(tài)，將上
述即將振蕩判定電路的判定基準(zhǔn)值變更為振蕩沒(méi)被檢測(cè)時(shí)的基準(zhǔn)值的范圍內(nèi)的值，由上述即將振蕩判定電路比較溢出頻率值與上述變更后的判定基準(zhǔn)值，檢測(cè)AS型調(diào)制器的即將振蕩的狀態(tài)。
本發(fā)明的發(fā)明27的半導(dǎo)體裝置的特征在于，具備AZ型A/D變換器，其輸出溢出檢測(cè)信號(hào)；以及振蕩檢測(cè)電路，其通過(guò)對(duì)上述溢出檢測(cè)信號(hào)進(jìn)行積分，檢測(cè)上述Ai:型A/D變換器的振蕩狀態(tài)，上述振蕩檢測(cè)電路具有計(jì)數(shù)電路，其對(duì)在一定期間內(nèi)檢測(cè)上述溢出檢測(cè)信號(hào)的次數(shù)進(jìn)行計(jì)數(shù)，并輸出計(jì)數(shù)值；比較電路，其比較上述計(jì)數(shù)值與閾值，在一定期間內(nèi)的溢出檢測(cè)次數(shù)大于等于閾值的情況下判斷為上述AS型A/D變換器處于振蕩狀態(tài)，將振蕩檢測(cè)信號(hào)設(shè)為有效而輸出；以及復(fù)位生成電路，其被輸入上述振蕩檢測(cè)信號(hào)，生成將上述az型A/D變換器進(jìn)行復(fù)位的硬復(fù)位信號(hào)，在上述振蕩檢測(cè)電路檢測(cè)出上述ai:型a/D變換器處于振蕩狀態(tài)的情況下，上述振蕩檢測(cè)電路復(fù)位上述AZ型A/D變換器。
本發(fā)明的發(fā)明28的半導(dǎo)體裝置的特征在于，具備Ai:型A/D變換器，其輸出溢出檢測(cè)信號(hào)；振蕩檢測(cè)電路，其通過(guò)對(duì)上述溢出檢測(cè)信號(hào)進(jìn)行積分，檢測(cè)上述Ai;型A/D變換器的振蕩狀態(tài)；以及微型
計(jì)算機(jī)，其根據(jù)從上述振蕩檢測(cè)電路輸出的振蕩檢測(cè)監(jiān)視信號(hào)，發(fā)送復(fù)位上述as型a/D變換器的命令，上述振蕩檢測(cè)電路具有計(jì)數(shù)電
路，其對(duì)在一定期間內(nèi)檢測(cè)上述溢出檢測(cè)信號(hào)的次數(shù)進(jìn)行計(jì)數(shù)，并輸出計(jì)數(shù)值；以及比較電路，其比較上述計(jì)數(shù)值與閾值，在一定期間內(nèi)的溢出檢測(cè)次數(shù)大于等于閾值的情況下判斷為上述Ai;型A/D變換器
處于振蕩狀態(tài)，將保持振蕩檢測(cè)信息的振蕩檢測(cè)監(jiān)視信號(hào)輸出到上述微型計(jì)算機(jī)，在上述振蕩檢測(cè)電路檢測(cè)出上述Ai:型A/D變換器處于振蕩狀態(tài)的情況下，上述微型計(jì)算機(jī)復(fù)位上述Ai:型A/D變換器。
本發(fā)明的發(fā)明29的半導(dǎo)體裝置的特征在于，具備Ai:型A/D變換器，其輸出溢出檢測(cè)信號(hào)；振蕩檢測(cè)電路，其通過(guò)對(duì)上述溢出檢測(cè)信號(hào)進(jìn)行積分，檢測(cè)上述Ai:型A/D變換器的振蕩狀態(tài)；微型計(jì)算
機(jī)，其根據(jù)從上述振蕩檢測(cè)電路輸出的振蕩檢測(cè)監(jiān)視信號(hào)，發(fā)送復(fù)位上述Ai;型A/D變換器的命令；以及復(fù)位選擇電路，其選擇通過(guò)上述振蕩檢測(cè)電路或者上述微型計(jì)算機(jī)中的哪個(gè)來(lái)復(fù)位上述Ai:型A/D變換器，上述振蕩檢測(cè)電路具有計(jì)數(shù)電路，其對(duì)在一定期間內(nèi)檢測(cè)上述溢出檢測(cè)信號(hào)的次數(shù)進(jìn)行計(jì)數(shù)，并輸出計(jì)數(shù)值；比較電路，其比較上述計(jì)數(shù)值與閾值，在 一 定期間內(nèi)的溢出檢測(cè)次數(shù)大于等于閾值的情況下判斷為上述AS型A/D變換器處于振蕩狀態(tài)，將振蕩檢測(cè)信號(hào)設(shè)為有效而輸出，以及將保持振蕩檢測(cè)信息的振蕩檢測(cè)監(jiān)視信號(hào)輸出到上述微型計(jì)算機(jī)；以及復(fù)位生成電路，其被輸入上述振蕩檢測(cè)信號(hào)，輸出復(fù)位上述AZ型A/D變換器的硬復(fù)位信號(hào)，在上述振蕩檢測(cè)電路檢測(cè)出上述Ai:型A/d變換器處于振蕩狀態(tài)的情況下，由上述復(fù)位選
擇電路根據(jù)從上述微型計(jì)算機(jī)設(shè)定的Ai:型A/d變換器用硬復(fù)位有效 設(shè)定，選擇是上述振蕩檢測(cè)電路復(fù)位上述Ai:型A/d變換器、還是上
述微型計(jì)算機(jī)復(fù)位上述Ai:型A/d變換器。
本發(fā)明的發(fā)明30的半導(dǎo)體裝置的特征在于，具備AZ型A/d 變換器，其輸出溢出檢測(cè)信號(hào)；以及振蕩檢測(cè)電路，其通過(guò)對(duì)上述溢 出檢測(cè)信號(hào)進(jìn)行積分，檢測(cè)上述Ai;型A/d變換器的振蕩狀態(tài)，上述 振蕩檢測(cè)電路具有計(jì)數(shù)電路，其對(duì)等待到上述A5:型A/d變換器穩(wěn) 定為止之后的一定期間內(nèi)檢測(cè)上述溢出檢測(cè)信號(hào)的次數(shù)進(jìn)行計(jì)數(shù)，并 輸出計(jì)數(shù)值；以及比較電路，其比較上述計(jì)數(shù)值與閾值，在等待到上 述AS型A/d變換器穩(wěn)定為止之后的一定期間內(nèi)的溢出檢測(cè)次數(shù)大于 等于閾值的情況下判斷為上述AS型A/d變換器處于振蕩狀態(tài)，將振 蕩檢測(cè)信號(hào)設(shè)為有效而輸出；以及復(fù)位生成電路，其被輸入上述振蕩 檢測(cè)信號(hào)，生成復(fù)位上述AZ型A/d變換器的硬復(fù)位信號(hào)，在上述振 蕩檢測(cè)電路檢測(cè)出上述AS型A/d變換器處于振蕩狀態(tài)的情況下，上 述振蕩檢測(cè)電路復(fù)位上述AS型A/d變換器。
本發(fā)明的發(fā)明31的半導(dǎo)體裝置的特征在于，具備Ai:型A/d 變換器，其輸出溢出檢測(cè)信號(hào)；振蕩檢測(cè)電路，其通過(guò)對(duì)上述溢出檢 測(cè)信號(hào)進(jìn)行積分，檢測(cè)上述AZ型A/d變換器的振蕩狀態(tài)；以及微型
計(jì)算機(jī)，其根據(jù)從上述振蕩檢測(cè)電路輸出的振蕩檢測(cè)監(jiān)視信號(hào)，發(fā)送 復(fù)位上述AZ型A/d變換器的命令，上述振蕩檢測(cè)電路具有計(jì)數(shù)電 路，其對(duì)等待到上述Ai:型A/d變換器穩(wěn)定為止之后的一定期間內(nèi)檢 測(cè)上述溢出檢測(cè)信號(hào)的次數(shù)進(jìn)行計(jì)數(shù)，并輸出計(jì)數(shù)值；以及比較電路， 其比較上述計(jì)數(shù)值與閾值，在等待到上述AZ型A/d變換器穩(wěn)定為止
述:i:型a/d變換器處于振蕩狀態(tài)，將保，持振蕩檢測(cè)信k的振蕩檢測(cè)
監(jiān)視信號(hào)輸出到上述微型計(jì)算機(jī)中，在上述振蕩檢測(cè)電路檢測(cè)出上述 AZ型A/d變換器處于振蕩狀態(tài)的情況下，上述微型計(jì)算機(jī)復(fù)位上述 AS型A/d變換器。本發(fā)明的發(fā)明32的半導(dǎo)體裝置的特征在于，具備AZ型A/D 變換器，其輸出溢出檢測(cè)信號(hào)；振蕩檢測(cè)電路，其通過(guò)對(duì)上述溢出檢 測(cè)信號(hào)進(jìn)行積分，檢測(cè)上述AS型A/D變換器的振蕩狀態(tài)；微型計(jì)算
機(jī)，其根據(jù)從上述振蕩檢測(cè)電路輸出的振蕩檢測(cè)監(jiān)視信號(hào)，發(fā)送復(fù)位 上述AZ型A/D變換器的命令；以及復(fù)位選擇電路，其選擇通過(guò)上述
振蕩檢測(cè)電路或者上述微型計(jì)算機(jī)中的哪個(gè)來(lái)復(fù)位上述Ai;型A/D變 換器，上述振蕩檢測(cè)電路具有計(jì)數(shù)電路，其對(duì)等待到上述Ai:型A/D 變換器穩(wěn)定為止之后的一定期間內(nèi)檢測(cè)上述溢出檢測(cè)信號(hào)的次數(shù)進(jìn) 行計(jì)數(shù)，并輸出計(jì)數(shù)值；比較電路，其比較上述計(jì)數(shù)值與閣值，在等 待到上述AS型A/D變換器穩(wěn)定為止之后的一定期間內(nèi)的溢出檢測(cè)次 數(shù)大于等于閾值的情況下判斷為上述Ai:型A/D變換器處于振蕩狀 態(tài)，將振蕩檢測(cè)信號(hào)設(shè)為有效而輸出，以及將保持振蕩檢測(cè)信息的振 蕩檢測(cè)監(jiān)視信號(hào)輸出到上述微型計(jì)算機(jī)；以及復(fù)位生成電路，其被輸 入上述振蕩檢測(cè)信號(hào)，輸出復(fù)位上述Ai;型A/D變換器的硬復(fù)位信號(hào)， 在上述振蕩檢測(cè)電路檢測(cè)出上述Ai:型A/D變換器處于振蕩狀態(tài)的情 況下，由上述復(fù)位選擇電路根據(jù)從上述微型計(jì)算機(jī)設(shè)定的AZ型A/D 變換器用硬復(fù)位有效設(shè)定，來(lái)選擇是上述振蕩檢測(cè)電路復(fù)位上述Ai: 型A/D變換器、還是上述微型計(jì)算機(jī)復(fù)位上述Ai:型A/D變換器。
本發(fā)明的發(fā)明33的半導(dǎo)體裝置的特征在于，具備AS型A/D 變換器，其輸出溢出檢測(cè)信號(hào)；以及振蕩檢測(cè)電路，其通過(guò)對(duì)上述溢 出檢測(cè)信號(hào)進(jìn)行積分，檢測(cè)上述AZ型A/D變換器的振蕩狀態(tài)，上述 振蕩檢測(cè)電路具有計(jì)數(shù)電路，其對(duì)一定期間內(nèi)檢測(cè)上述溢出檢測(cè)信 號(hào)的次數(shù)進(jìn)行計(jì)數(shù)，并輸出計(jì)數(shù)值；以及比較電路，其比較上述計(jì)數(shù) 值與閾值，在一定期間內(nèi)的溢出檢測(cè)次數(shù)大于等于閾值的情況所連續(xù)
的次數(shù)成為規(guī)定次數(shù)以上的情況下判斷為上述Ai:型A/D變換器處于
振蕩狀態(tài)，將振蕩檢測(cè)信號(hào)設(shè)為有效而輸出；以及復(fù)位生成電路，其 被輸入上述振蕩檢測(cè)信號(hào)，生成復(fù)位上述AS型A/D變換器的硬復(fù)位 信號(hào)，在上述振蕩檢測(cè)電路檢測(cè)出上述Ai;型A/D變換器處于振蕩狀 態(tài)的情況下，上述振蕩檢測(cè)電路復(fù)位上述Ai;型A/D變換器。本發(fā)明的發(fā)明34的半導(dǎo)體裝置的特征在于，具備AZ型A/D 變換器，其輸出溢出檢測(cè)信號(hào)；振蕩檢測(cè)電路，其通過(guò)對(duì)上述溢出檢 測(cè)信號(hào)進(jìn)行積分，檢測(cè)上述Ai;型A/D變換器的振蕩狀態(tài)；以及微型 計(jì)算機(jī)，其根據(jù)從上述振蕩檢測(cè)電路輸出的振蕩檢測(cè)監(jiān)視信號(hào)，發(fā)送 復(fù)位上述Ai;型A/D變換器的命令，上述振蕩檢測(cè)電路具有計(jì)數(shù)電 路，其對(duì)在一定期間內(nèi)檢測(cè)上述溢出檢測(cè)信號(hào)的次數(shù)進(jìn)行計(jì)數(shù)，并輸 出計(jì)數(shù)值；以及比較電路，其比較上述計(jì)數(shù)值與閾值，在一定期間內(nèi) 的溢出檢測(cè)次數(shù)大于等于閾值的情況所連續(xù)的次數(shù)成為規(guī)定次數(shù)以 上的情況下判斷為上述Ai;型A/D變換器處于振蕩狀態(tài)，將保持振蕩 檢測(cè)信息的振蕩檢測(cè)監(jiān)視信號(hào)輸出到上述微型計(jì)算機(jī)，在上述振蕩檢 測(cè)電路檢測(cè)到上述Ai:型A/D變換器處于振蕩狀態(tài)的情況下，上述微 型計(jì)算機(jī)復(fù)位上述Ai:型A/D變換器。
本發(fā)明的發(fā)明35的半導(dǎo)體裝置的特征在于，具備AZ型A/D 變換器，其輸出溢出檢測(cè)信號(hào)；振蕩檢測(cè)電路，其通過(guò)對(duì)上述溢出檢 測(cè)信號(hào)進(jìn)行積分，檢測(cè)上述AZ型A/D變換器的振蕩狀態(tài)；微型計(jì)算
機(jī)，其根據(jù)從上述振蕩檢測(cè)電路輸出的振蕩檢測(cè)監(jiān)視信號(hào)，發(fā)送復(fù)位 上述AZ型A/D變換器的命令；以及復(fù)位選擇電路，其選擇通過(guò)上述 振蕩檢測(cè)電路或者上述微型計(jì)算機(jī)中的哪個(gè)來(lái)復(fù)位上述Ai:型A/D變 換器，上述振蕩檢測(cè)電路具有計(jì)數(shù)電路，其對(duì)在一定期間內(nèi)檢測(cè)上 述溢出檢測(cè)信號(hào)的次數(shù)進(jìn)行計(jì)數(shù)，并輸出計(jì)數(shù)值；比較電路，其比較 上述計(jì)數(shù)值與閾值，在一定期間內(nèi)的溢出檢測(cè)次數(shù)大于等于閾值的情 況所連續(xù)的次數(shù)成為規(guī)定次數(shù)以上的情況下判斷為上述AS型A/D變 換器處于振蕩狀態(tài)，將振蕩檢測(cè)信號(hào)設(shè)為有效而輸出，以及將保持振 蕩檢測(cè)信息的振蕩檢測(cè)監(jiān)視信號(hào)輸出到上述微型計(jì)算機(jī)；以及復(fù)位生 成電路，其被輸入上述振蕩檢測(cè)信號(hào)，輸出復(fù)位上述AS型A/D變換 器的硬復(fù)位信號(hào)，在上述振蕩檢測(cè)電路檢測(cè)出上述AZ型A/D變換器
處于振蕩狀態(tài)的情況下，由上述復(fù)位選擇電路根據(jù)從上述微型計(jì)算機(jī) 設(shè)定的Ai;型A/D變換器用硬復(fù)位有效設(shè)定，來(lái)選擇是上述振蕩檢測(cè)
電路復(fù)位上述Ai:型A/D變換器、還是上述微型計(jì)算機(jī)復(fù)位上述Ai:
23型A/D變換器。
本發(fā)明的發(fā)明36的半導(dǎo)體裝置的特征在于，具備AS型A/D 變換器，其輸出溢出檢測(cè)信號(hào)；以及振蕩檢測(cè)電路，其通過(guò)對(duì)上述溢 出檢測(cè)信號(hào)進(jìn)行積分，檢測(cè)上述AS型A/D變換器的振蕩狀態(tài)，上述 振蕩檢測(cè)電路具有計(jì)數(shù)電路，其對(duì)等待到上述Ai:型A/D變換器穩(wěn) 定為止之后的一定期間內(nèi)檢測(cè)上述溢出檢測(cè)信號(hào)的次數(shù)進(jìn)行計(jì)數(shù)，并 輸出計(jì)數(shù)值；比較電路，其比較上述計(jì)數(shù)值與閾值，在等待到上述Ai: 型A/D變換器穩(wěn)定為止之后的一定期間內(nèi)的溢出檢測(cè)次數(shù)大于等于 閾值的情況所連續(xù)的次數(shù)成為規(guī)定次數(shù)以上的情況下判斷為上述AS 型A/D變換器處于振蕩狀態(tài)，將振蕩檢測(cè)信號(hào)設(shè)為有效而輸出；以及
復(fù)位生成電路，其被輸入上述振蕩檢測(cè)信號(hào)，生成復(fù)位上述Ai:型A/D
變換器的硬復(fù)位信號(hào)，在上述振蕩檢測(cè)電路檢測(cè)出上述Ai:型A/D變 換器處于振蕩狀態(tài)的情況下，上述振蕩檢測(cè)電路復(fù)位上述Ai:型A/D 變換器。
本發(fā)明的發(fā)明37的半導(dǎo)體裝置的特征在于，具備AS型A/D 變換器，其輸出溢出檢測(cè)信號(hào)；振蕩檢測(cè)電路，其通過(guò)對(duì)上述溢出檢 測(cè)信號(hào)進(jìn)行積分，檢測(cè)上述Ai;型A/D變換器的振蕩狀態(tài)；以及微型 計(jì)算機(jī)，其根據(jù)從上述振蕩檢測(cè)電路輸出的上述振蕩檢測(cè)監(jiān)視信號(hào)， 發(fā)送復(fù)位上述AS型A/D變換器的命令，上述振蕩檢測(cè)電路具有計(jì) 數(shù)電路，其對(duì)等待到上述AZ型A/D變換器穩(wěn)定為止之后的一定期間 內(nèi)檢測(cè)上述溢出檢測(cè)信號(hào)的次數(shù)進(jìn)行計(jì)數(shù)，并輸出計(jì)數(shù)值；以及比較 電路，其比較上述計(jì)數(shù)值與闊值，在等待到上述Ai:型A/D變換器穩(wěn) 定為止之后的 一 定期間內(nèi)的溢出檢測(cè)次數(shù)大于等于閾值的情況所連 續(xù)的次數(shù)成為規(guī)定次數(shù)以上的情況下判斷為上述AZ型A/D變換器處 于振蕩狀態(tài)，將保持振蕩檢測(cè)信息的振蕩檢測(cè)監(jiān)視信號(hào)輸出到上述微 型計(jì)算機(jī)中，在上述振蕩檢測(cè)電路檢測(cè)出上述AS型A/D變換器處于 振蕩狀態(tài)的情況下，上述微型計(jì)算機(jī)復(fù)位上述Ai:型A/D變換器。
本發(fā)明的發(fā)明38的半導(dǎo)體裝置的特征在于，具備AS型A/D 變換器，其輸出溢出檢測(cè)信號(hào)；振蕩檢測(cè)電路，其通過(guò)對(duì)上述溢出檢測(cè)信號(hào)進(jìn)行積分，檢測(cè)上述Ai:型A/D變換器的振蕩狀態(tài)；微型計(jì)算
機(jī)，其根據(jù)從上述振蕩檢測(cè)電路輸出的振蕩檢測(cè)監(jiān)視信號(hào)，發(fā)送復(fù)位 上述AS型A/D變換器的命令；以及復(fù)位選擇電路，其選擇通過(guò)上述
振蕩檢測(cè)電路或者上述微型計(jì)算機(jī)中的哪個(gè)來(lái)復(fù)位上述AS型A/D變 換器，上述振蕩檢測(cè)電路具有計(jì)數(shù)電路，其對(duì)等待到上述Ai:型A/D 變換器穩(wěn)定為止之后的 一 定期間內(nèi)檢測(cè)上述溢出檢測(cè)信號(hào)的次數(shù)進(jìn) 行計(jì)數(shù)，并輸出計(jì)數(shù)值；比較電路，其比較上述計(jì)數(shù)值與閾值，在等 待到上述AZ型A/D變換器穩(wěn)定為止之后的一定期間內(nèi)的溢出檢測(cè)次 數(shù)大于等于閾值的情況所連續(xù)的次數(shù)成為規(guī)定次數(shù)以上的情況下判 斷為上述Ai;型A/D變換器處于振蕩狀態(tài)，將振蕩檢測(cè)信號(hào)設(shè)為有效 而輸出，以及將保持振蕩檢測(cè)信息的振蕩檢測(cè)監(jiān)視信號(hào)輸出到上述微 型計(jì)算機(jī)；以及復(fù)位生成電路，其被輸入上述振蕩檢測(cè)信號(hào)，輸出復(fù) 位上述ai;型A/D變換器的硬復(fù)位信號(hào)，在上述振蕩檢測(cè)電路檢測(cè)出 上述AS型A/D變換器處于振蕩狀態(tài)的情況下，由上述復(fù)位選擇電路 根據(jù)從上述微型計(jì)算機(jī)設(shè)定的AS型A/D變換器用硬復(fù)位有效設(shè)定， 來(lái)選擇是上述振蕩檢測(cè)電路復(fù)位上迷Ai:型A/D變換器、還是上述微 型計(jì)算機(jī)復(fù)位上述Ai:型A/D變換器。
本發(fā)明的發(fā)明39的半導(dǎo)體裝置的特征在于，在發(fā)明27至29中 的任一項(xiàng)所述的半導(dǎo)體裝置中，具備向上述振蕩檢測(cè)電路發(fā)送振蕩檢 測(cè)條件設(shè)定命令的微型計(jì)算機(jī)，上述振蕩檢測(cè)電路將根據(jù)從上述微型 計(jì)算機(jī)輸出的振蕩檢測(cè)周期設(shè)定對(duì)一定期間內(nèi)的上述溢出檢測(cè)信號(hào) 的檢測(cè)次數(shù)進(jìn)行計(jì)數(shù)得到的結(jié)果、與從上述微型計(jì)算機(jī)輸出的振蕩檢 測(cè)閾值設(shè)定進(jìn)行比較，從而判斷上述AZ型A/D變換器是否處于振蕩狀態(tài)。
本發(fā)明的發(fā)明40的半導(dǎo)體裝置的特征在于，在發(fā)明30至32中 的任一項(xiàng)所述的半導(dǎo)體裝置中，具備向上述振蕩檢測(cè)電路發(fā)送振蕩檢 測(cè)條件設(shè)定命令的微型計(jì)算機(jī)，上述振蕩檢測(cè)電路在根據(jù)從上述微型 計(jì)算機(jī)輸出的AS型A/D變換器穩(wěn)定等待設(shè)定而等待到a5:型A/D變
換器穩(wěn)定為止之后，將根據(jù)從上述微型計(jì)算機(jī)輸出的振蕩檢測(cè)周期設(shè)定對(duì) 一 定期間內(nèi)的上述溢出檢測(cè)信號(hào)的檢測(cè)次數(shù)進(jìn)行計(jì)數(shù)得到的結(jié) 果、與從上述微型計(jì)算機(jī)輸出的振蕩檢測(cè)閾值設(shè)定進(jìn)行比較，從而判
斷上述Ai;型A/D變換器是否處于振蕩狀態(tài)。
本發(fā)明的發(fā)明41的半導(dǎo)體裝置的特征在于，在發(fā)明33至35中 的任一項(xiàng)所述的半導(dǎo)體裝置中，具備向上述振蕩檢測(cè)電路發(fā)送振蕩檢 測(cè)條件設(shè)定命令的微型計(jì)算機(jī)，上述振蕩檢測(cè)電路在根據(jù)從上述微型 計(jì)算機(jī)輸出的振蕩檢測(cè)周期設(shè)定對(duì)一定期間內(nèi)的上述溢出檢測(cè)信號(hào)
的檢測(cè)次數(shù)進(jìn)行計(jì)數(shù)得到的結(jié)果大于從上述微型計(jì)算機(jī)輸出的振蕩 檢測(cè)閾值設(shè)定的情況連續(xù)了從上述微型計(jì)算機(jī)輸出的振蕩檢測(cè)連續(xù) 次數(shù)設(shè)定以上的情況下，判斷為AS型A/D變換器處于振蕩狀態(tài)。
本發(fā)明的發(fā)明42的半導(dǎo)體裝置的特征在于，在發(fā)明36至38中 的任一項(xiàng)所述的半導(dǎo)體裝置中，具備向上述振蕩檢測(cè)電路發(fā)送振蕩檢 測(cè)條件設(shè)定命令的微型計(jì)算機(jī)，上述振蕩檢測(cè)電路在根據(jù)從上述微型 計(jì)算機(jī)輸出的AS型A/D變換器穩(wěn)定等待設(shè)定而等待到Ai:型A/D變 換器穩(wěn)定為止之后，在根據(jù)從上述微型計(jì)算機(jī)輸出的振蕩檢測(cè)周期設(shè) 定對(duì) 一 定期間內(nèi)的上述溢出檢測(cè)信號(hào)的檢測(cè)次數(shù)進(jìn)行計(jì)數(shù)得到的結(jié) 果大于從上述微型計(jì)算機(jī)輸出的振蕩檢測(cè)閾值設(shè)定的情況連續(xù)了從 上述微型計(jì)算機(jī)輸出的振蕩檢測(cè)連續(xù)次數(shù)設(shè)定以上的情況下，判斷為 AS型A/D變換器處于振蕩狀態(tài)。
本發(fā)明的發(fā)明43的半導(dǎo)體系統(tǒng)的特征在于，在具有發(fā)明27至 42中的任一項(xiàng)所述的半導(dǎo)體裝置的半導(dǎo)體系統(tǒng)中，還具備對(duì)從上述半 導(dǎo)體裝置輸出的數(shù)據(jù)進(jìn)行處理的信號(hào)處理電路，上述信號(hào)處理電路從 上述半導(dǎo)體裝置被輸入Ai:型A/D變換器的復(fù)位信號(hào)，在上述AS型
A/D變換器被復(fù)位的情況下進(jìn)行上述數(shù)據(jù)的漸隱處理。
本發(fā)明的發(fā)明44的半導(dǎo)體系統(tǒng)的特征在于，在具有發(fā)明28、 29、 31、 32、 34、 35、 37、 38、 39至42中的任一項(xiàng)所述的半導(dǎo)體裝置的 半導(dǎo)體系統(tǒng)中，還具備調(diào)整輸入振幅后將數(shù)據(jù)輸出到上述半導(dǎo)體裝置 內(nèi)的AZ型A/D變換器的輸入振幅限制電路，上述半導(dǎo)體裝置內(nèi)的微 型計(jì)算機(jī)確認(rèn)振蕩檢測(cè)監(jiān)視信號(hào)，在上述AS型A/D變換器處于振蕩狀態(tài)的情況下，向上述輸入振幅限制電路發(fā)送A]E型A/D變換器的振 蕩確認(rèn)命令，在上述AS型A/D變換器處于振蕩狀態(tài)的情況下，上述 輸入振幅限制電路減小上述數(shù)據(jù)的輸入振幅后輸出數(shù)據(jù)。 發(fā)明的效果
與本發(fā)明有關(guān)的半導(dǎo)體裝置以及半導(dǎo)體系統(tǒng)，即使在ai;型a/D
變換器所輸出的溢出檢測(cè)信號(hào)表示溢出狀態(tài)時(shí)也不立即判斷為是振 蕩狀態(tài)，而是結(jié)合振蕩檢測(cè)條件對(duì)Ai:型A/D變換器輸出的溢出檢測(cè) 信號(hào)進(jìn)行計(jì)數(shù)，只在計(jì)數(shù)值大于閾值的情況下判斷為AS型A/D變換 器進(jìn)行了振蕩，從而能夠恰當(dāng)?shù)貦z測(cè)出AZ型A/D變換器的振蕩狀態(tài)， 在臨時(shí)溢出的情況下不復(fù)位AZ型A/D變換器的內(nèi)部狀態(tài)，只在振蕩 狀態(tài)持續(xù)的情況下復(fù)位Ai:型A/D變換器的內(nèi)部狀態(tài)，不用額外進(jìn)行 復(fù)位就能夠從振蕩狀態(tài)復(fù)原到能夠正常動(dòng)作的狀態(tài)。
另外，當(dāng)AS型調(diào)制器進(jìn)行振蕩時(shí)，AZ型調(diào)制器的多級(jí)的積分 器的輸出振幅超過(guò)正常值，因此監(jiān)視上述多級(jí)的積分器中的任一個(gè)或 者多個(gè)輸出，并將上述輸出振幅與上述規(guī)定值進(jìn)行比較，從而在規(guī)定 值超出到正常范圍外側(cè)的情況下輸出溢出檢測(cè)信號(hào)，通過(guò)上述溢出頻 率算出電路，從上述溢出檢測(cè)信號(hào)中求出上述積分器的輸出處于正常 范圍外的頻率。通過(guò)求出該頻率，能夠確定上述積分器的輸出是因噪 聲等而臨時(shí)在正常范圍外、還是因振蕩而在正常范圍外，能夠只在振
蕩的情況下使Ai:型調(diào)制器的振蕩收斂。


圖l是與本發(fā)明的實(shí)施方式l有關(guān)的半導(dǎo)體裝置的框圖。
圖2是與本發(fā)明的實(shí)施方式1有關(guān)的半導(dǎo)體裝置的一個(gè)例子的框圖。
圖3是圖2所示的與本發(fā)明的實(shí)施方式1有關(guān)的半導(dǎo)體裝置的時(shí)序圖。
圖4是與本發(fā)明的實(shí)施方式2有關(guān)的半導(dǎo)體裝置的一個(gè)例子的框圖。
27圖5是圖4所示的與本發(fā)明的實(shí)施方式2有關(guān)的半導(dǎo)體裝置的時(shí)序圖。
圖6是與本發(fā)明的實(shí)施方式3有關(guān)的半導(dǎo)體裝置的一個(gè)例子的框圖。
圖7是圖6所示的與本發(fā)明的實(shí)施方式3有關(guān)的半導(dǎo)體裝置的時(shí)序圖。
圖8是與本發(fā)明的實(shí)施方式4有關(guān)的半導(dǎo)體裝置的一個(gè)例子的框圖。
圖9是圖8所示的與本發(fā)明的實(shí)施方式4有關(guān)的半導(dǎo)體裝置的時(shí)序圖。
圖10是與本發(fā)明的實(shí)施方式5有關(guān)的半導(dǎo)體裝置的一個(gè)例子的框圖。
圖11是與本發(fā)明的實(shí)施方式5有關(guān)的半導(dǎo)體裝置的框圖。
圖12是與本發(fā)明的實(shí)施方式6有關(guān)的半導(dǎo)體系統(tǒng)的一個(gè)例子的框圖。
圖13是圖12所示的與本發(fā)明的實(shí)施方式6有關(guān)的半導(dǎo)體系統(tǒng)的 時(shí)序圖。
圖14是與本發(fā)明的實(shí)施方式7有關(guān)的半導(dǎo)體系統(tǒng)的框圖。
圖15是與本發(fā)明的實(shí)施方式7有關(guān)的半導(dǎo)體系統(tǒng)的一個(gè)例子的框圖。
圖16是與本發(fā)明的實(shí)施方式8有關(guān)的半導(dǎo)體系統(tǒng)的框圖。 圖17是與本發(fā)明的實(shí)施方式9有關(guān)的半導(dǎo)體系統(tǒng)的框圖。 圖18是與本發(fā)明的實(shí)施方式IO有關(guān)的半導(dǎo)體裝置的框圖。 圖19是以往的半導(dǎo)體裝置的框圖。 附圖標(biāo)記說(shuō)明
1:輸入端子；2、 3、 4:積分器；5:溢出檢測(cè)電路；6:溢出頻 率檢測(cè)電路；7:振蕩判定電路；8:振蕩停止電路；9:量化電路； 10、 11、 12:運(yùn)算器；13: AZ型調(diào)制器；14:輸出端子；16:信號(hào) 處理電路；17:輸入振幅限制電路；18:即將振蕩判定電路；100: AS
28型A/D變換器；101:微機(jī)；112、 1112、 2112、 3112、 4112:振蕩檢 測(cè)電路；113:復(fù)位選擇電路；114:信號(hào)處理電路；115:輸入振幅 限制電路；201、 1201、 3201、 4201:計(jì)數(shù)電路；202、 2202、 3202、 4202:比較電路；203:復(fù)位生成電路；201a、 1201a、 4201a:檢測(cè) 定時(shí)生成電路；201b、 1201b、 4201b:溢出計(jì)數(shù)電路；4202a:振蕩 檢測(cè)信號(hào)生成電路；4202b:振蕩檢測(cè)監(jiān)視信號(hào)生成電路；A:輸入模 擬數(shù)據(jù)信號(hào)；B:數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)信號(hào)；C:溢出檢測(cè)信號(hào)；D: AZ型A/D 變換器軟復(fù)位設(shè)定；E:振蕩檢測(cè)周期設(shè)定；F:振蕩閾值設(shè)定；G: 振蕩檢測(cè)監(jiān)視信號(hào)；H:振蕩檢測(cè)電路復(fù)位信號(hào)；I:溢出計(jì)數(shù)器；J: 振蕩檢測(cè)信號(hào)；K: Ai:型A/D變換器硬復(fù)位信號(hào)；L: AZ型A/D變 換器穩(wěn)定等待設(shè)定；M:振蕩檢測(cè)連續(xù)次數(shù)設(shè)定;N: AS型A/D變 換器硬復(fù)位有效設(shè)定；O: AS型A/D變換器復(fù)位信號(hào)；P: AZ型 A/D變換器振蕩確認(rèn)命令；Q:信號(hào)處理部輸出；R:振蕩檢測(cè)連續(xù) 次數(shù)；S:檢測(cè)定時(shí)信號(hào)；T:振蕩檢測(cè)監(jiān)視信號(hào)用清除信號(hào)。
具體實(shí)施方式
(實(shí)施方式1)
圖1是表示將本發(fā)明應(yīng)用于具有開(kāi)關(guān)電容器電路的3階AZ型調(diào) 制器的振蕩檢測(cè)中的實(shí)施方式1所涉及的半導(dǎo)體裝置的結(jié)構(gòu)的框圖。
在圖1中，l是輸入端子，5是溢出檢測(cè)電路，6是溢出頻率算 出電路，7是振蕩判定電路，8是振蕩停止電路，14是輸出端子，13 是AS型調(diào)制器。此外，Ai:型調(diào)制器13由運(yùn)算器10、 11、 12、積分 器2、 3、 4和量化電路9構(gòu)成。積分器2 4是構(gòu)成積分電路的3個(gè)級(jí) 聯(lián)連接的第1 第3積分器，本實(shí)施方式1的積分電路是3個(gè)積分器串 聯(lián)連接而成。作為積分電路，能夠使用l個(gè)以上的積分器，除了串聯(lián) 連接之外，也可以是并聯(lián)連接或者其組合。此外，AS型調(diào)制器13既 可以是A/D變換器，也可以是D/A變換器。
另外，9是將積分器的輸出信號(hào)以規(guī)定的閾值量化為l或者O的 量化電路，輸出AS型調(diào)制器13的輸出信號(hào)。12是對(duì)輸入端子1的輸出信號(hào)和量化電路9的輸出進(jìn)行運(yùn)算的運(yùn)算器。10、 ll是對(duì)本實(shí)施 方式1的積分器1、 2的輸出和量化電路9的輸出進(jìn)行運(yùn)算的運(yùn)算器。
并且，5是溢出檢測(cè)電路，其監(jiān)視上述多級(jí)的積分器中的某一個(gè) 或者多個(gè)的輸出，將輸出振幅與規(guī)定值進(jìn)行比較，從而在上述積分器 中的至少一個(gè)的輸出振幅超過(guò)上述規(guī)定值而在正常范圍外的情況下， 作為溢出檢測(cè)信號(hào)而輸出表示溢出狀態(tài)的狀態(tài)。此外，上述溢出檢測(cè) 電路5的規(guī)定值也可以是可變的。
6是溢出頻率算出電路，其使溢出檢測(cè)信號(hào)通過(guò)低通濾波器來(lái)截 去(cut)臨時(shí)的信號(hào)振幅的異常，并輸出溢出頻率值。在此，溢出頻 率算出電路6使溢出檢測(cè)信號(hào)通過(guò)濾波器，根據(jù)其結(jié)果進(jìn)行振蕩判定， 因此能夠除去振蕩誤判定。此外，溢出頻率算出電路6也可以對(duì)溢出 檢測(cè)信號(hào)進(jìn)行積分，輸出溢出頻率值。7是振蕩判定電路，其將上述 溢出頻率值與規(guī)定值進(jìn)行比較，在大于規(guī)定值的情況下判定為振蕩狀 態(tài)。此外，上述振蕩判定電路7的規(guī)定值也可以是可變的。
8是當(dāng)由振蕩判定電路7判定Ai:型調(diào)制器13處于振蕩狀態(tài)時(shí)將 各積分器2、 3、 4進(jìn)行復(fù)位從而使振蕩收斂的振蕩停止電路。此外， 振蕩停止電路8也可以通過(guò)變更積分器2、 3、 4的乘數(shù)，減小積分器 2、 3、 4的輸出，從而使動(dòng)作回到穩(wěn)定狀態(tài)。另外，振蕩停止電路8 也可以通過(guò)使積分器2、 3、 4的輸出范圍變窄從而使動(dòng)作回到穩(wěn)定狀 態(tài)。另外，振蕩停止電路8也可以是軟件、硬件、或者能夠進(jìn)行選擇 軟件和硬件中的某個(gè)的切換的任意結(jié)構(gòu)。
下面詳細(xì)說(shuō)明結(jié)構(gòu)以及動(dòng)作。
這里，作為實(shí)施方式1的半導(dǎo)體裝置的一個(gè)例子，說(shuō)明圖1的作 為溢出頻率算出電路6使用計(jì)數(shù)電路、作為振蕩判定電路7使用比較 電路、作為振蕩停止電路8使用復(fù)位生成電路、作為AZ型調(diào)制器13 使用AS型A/D變換器的情況。
此外，如上所述，雖然說(shuō)明了圖1的半導(dǎo)體裝置的溢出頻率算出 電路6是使溢出檢測(cè)信號(hào)通過(guò)低通濾波器的結(jié)構(gòu)的情況，但是作為溢 出頻率算出電路6使用計(jì)數(shù)電路的情況下，溢出頻率算出電路6也可
30以對(duì)在一定期間內(nèi)溢出檢測(cè)信號(hào)表示溢出狀態(tài)的次數(shù)進(jìn)行計(jì)數(shù)，從溢
出頻率算出電路6作為溢出頻率值而輸出作為該次數(shù)的計(jì)數(shù)值。在這 種情況下，該計(jì)數(shù)值每隔上述一定期間被復(fù)位。此外，上述一定期間 也可以是可變的。
圖2是表示與本發(fā)明的實(shí)施方式1有關(guān)的半導(dǎo)體裝置的一個(gè)例子 的結(jié)構(gòu)的框圖。
本實(shí)施方式1的半導(dǎo)體裝置具有AZ型A/D變換器100，其將 輸入模擬數(shù)據(jù)信號(hào)A變換為數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)信號(hào)B;振蕩檢測(cè)電路112，其 通過(guò)對(duì)Ai:型A/D變換器IOO輸出的溢出檢測(cè)信號(hào)C進(jìn)行積分來(lái)檢測(cè) AZ型A/D變換器100的振蕩狀態(tài)，生成AZ型A/D變換器硬復(fù)位信 號(hào)K;以及微機(jī)IOI，其設(shè)定振蕩檢測(cè)條件。振蕩檢測(cè)電路112具有 計(jì)數(shù)電路201，其對(duì)在一定期間內(nèi)檢測(cè)Ai:型A/D變換器100所輸出 的溢出檢測(cè)信號(hào)C的次數(shù)進(jìn)行計(jì)數(shù)；比較電路202,其將計(jì)數(shù)電路201 輸出的計(jì)數(shù)值I與振蕩閣值設(shè)定F進(jìn)行比較；以及復(fù)位生成電路203, 其從比較電路202輸出的振蕩檢測(cè)信號(hào)J生成Ai:型A/D變換器硬復(fù) 位信號(hào)K。這里，計(jì)數(shù)電路201具有檢測(cè)定時(shí)生成電路201a，其根 據(jù)振蕩檢測(cè)周期設(shè)定E生成表示溢出檢測(cè)定時(shí)的檢測(cè)定時(shí)信號(hào)S;以 及溢出計(jì)數(shù)電路201b，其對(duì)在一定期間內(nèi)檢測(cè)溢出檢測(cè)信號(hào)C的次 數(shù)進(jìn)行計(jì)數(shù)。從微機(jī)101向檢測(cè)定時(shí)生成電路201a輸入振蕩檢測(cè)周 期設(shè)定E，從檢測(cè)定時(shí)生成電路201a向溢出計(jì)數(shù)電路201b以及比較 電路202輸出檢測(cè)定時(shí)信號(hào)S。溢出計(jì)數(shù)電路201b從Ai:型A/D變換 器IOO被輸入溢出檢測(cè)信號(hào)C，根據(jù)檢測(cè)定時(shí)信號(hào)S對(duì)在振蕩檢測(cè)周 期設(shè)定E的期間內(nèi)檢測(cè)溢出檢測(cè)信號(hào)C的次數(shù)進(jìn)行計(jì)數(shù)，計(jì)數(shù)值I 從溢出計(jì)數(shù)電路201b輸出到比較電路202。
此外，AS型A/D變換器100和微機(jī)101與以往的半導(dǎo)體裝置中 的相同。
圖3是圖2所示的與本發(fā)明的實(shí)施方式1有關(guān)的半導(dǎo)體裝置中的 AS型A/D變換器的振蕩檢測(cè)的時(shí)序圖。參照?qǐng)D3說(shuō)明檢測(cè)Ai:型A/D 變換器的振蕩狀態(tài)的動(dòng)作。從微機(jī)101對(duì)振蕩檢測(cè)電路112內(nèi)的計(jì)數(shù)電路201設(shè)定振蕩檢測(cè) 周期設(shè)定E，對(duì)振蕩檢測(cè)電路112內(nèi)的比較電路202設(shè)定振蕩閾值設(shè) 定F。在計(jì)數(shù)電路201中，解除振蕩檢測(cè)電路復(fù)位H后(定時(shí)(timing) T101)，在振蕩檢測(cè)周期設(shè)定E的每個(gè)期間內(nèi)對(duì)AS型A/D變換器 100所輸出的溢出檢測(cè)信號(hào)C表示溢出狀態(tài)的次數(shù)進(jìn)行計(jì)數(shù)，并將作 為該次數(shù)的計(jì)數(shù)值I輸出到比較電路202。計(jì)數(shù)值I根據(jù)檢測(cè)定時(shí)信 號(hào)S在振蕩檢測(cè)周期設(shè)定E的每個(gè)期間被復(fù)位(定時(shí)T102、 T104 T107、 T109、 TllO、 T112、 T113)。
在比較電路202中，根據(jù)檢測(cè)定時(shí)信號(hào)S在振蕩檢測(cè)周期設(shè)定E 的每個(gè)期間(定時(shí)T102、 T104 T107、 T109、 TllO、 T112、 T113) 比較計(jì)數(shù)值I與振蕩閾值設(shè)定F，在計(jì)數(shù)值I大于振蕩閾值設(shè)定F的 情況下(定時(shí)T102、 T107)，將振蕩檢測(cè)信號(hào)J設(shè)為"H"并輸出到 復(fù)位生成電路203。在復(fù)位生成電路203中，如果振蕩檢測(cè)信號(hào)J變 成"H"，則生成Ai;型A/D變換器硬復(fù)位信號(hào)K并輸出給Ai:型A/D 變換器lOO使得Ai:型A/D變換器100的內(nèi)部狀態(tài)復(fù)位。另外，硬復(fù) 位信號(hào)K從復(fù)位生成電路203輸入到比較電路202，振蕩檢測(cè)信號(hào)J 通過(guò)硬復(fù)位信號(hào)K回到"L",等待下一個(gè)振蕩檢測(cè)。另外，硬復(fù)位 信號(hào)K從復(fù)位生成電路203輸入到計(jì)數(shù)電路201，當(dāng)硬復(fù)位信號(hào)K被 解除時(shí)，開(kāi)始下一個(gè)振蕩檢測(cè)周期(定時(shí)T103、 T108)。
此外，理想的是將振蕩檢測(cè)監(jiān)視信號(hào)G輸出到微機(jī)lOl，使得能 夠從微機(jī)101確認(rèn)振蕩檢測(cè)電路112將AS型A/D變換器100的內(nèi)部 狀態(tài)進(jìn)行了復(fù)位。如果振蕩檢測(cè)信號(hào)J變成"H"(定時(shí)T102)，則 將振蕩檢測(cè)監(jiān)視信號(hào)G設(shè)定為"H"，如果由微機(jī)101讀出振蕩檢測(cè) 監(jiān)視信號(hào)G來(lái)確認(rèn)Ai:型A/D變換器100的振蕩狀態(tài)(定時(shí)Tlll), 則從微機(jī)101向比較電路202輸出振蕩檢測(cè)監(jiān)視信號(hào)用清除信號(hào)T, 并將振蕩檢測(cè)監(jiān)視信號(hào)G設(shè)定為"L",從而使微機(jī)101能夠確實(shí)地 確認(rèn)振蕩檢測(cè)電路112將Ai:型A/D變換器IOO進(jìn)行了復(fù)位。
如上所述，與實(shí)施方式1有關(guān)的半導(dǎo)體裝置具備振蕩檢測(cè)電路 112,該振蕩檢測(cè)電路112具有計(jì)數(shù)電路201，其對(duì)振蕩檢測(cè)周期設(shè)定E的期間內(nèi)的檢測(cè)溢出檢測(cè)信號(hào)C的次數(shù)進(jìn)行計(jì)數(shù)，并輸出計(jì)數(shù)值 I;比較電路202，其比較上述計(jì)數(shù)值I與振蕩閾值設(shè)定F，在振蕩檢 測(cè)周期設(shè)定E的期間內(nèi)的溢出檢測(cè)次數(shù)大于等于閾值的情況下判斷 為Ai:型A/D變換器IOO處于振蕩狀態(tài)，并將振蕩檢測(cè)信號(hào)J設(shè)為有 效而進(jìn)行輸出；以及生成將上述AZ型A/D變換器IOO進(jìn)行復(fù)位的硬 復(fù)位信號(hào)K的復(fù)位生成電路203,因此，能夠在由于噪聲等的影響而 臨時(shí)引起了溢出的情況下等不用額外地進(jìn)行復(fù)位，只有在振蕩狀態(tài)持 續(xù)的情況下將Ai:型A/D變換器的內(nèi)部狀態(tài)進(jìn)行復(fù)位而使其從振蕩狀 態(tài)恰當(dāng)?shù)貜?fù)原到能夠進(jìn)行正常動(dòng)作的狀態(tài)。另外，當(dāng)振蕩檢測(cè)電路檢 測(cè)出振蕩狀態(tài)時(shí)，該振蕩檢測(cè)電路自動(dòng)地將Ai:型A/D變換器的內(nèi)部 狀態(tài)進(jìn)行復(fù)位，從而也可以不用使微機(jī)頻繁地確認(rèn)Ai:型A/D變換器 的振蕩狀態(tài)來(lái)復(fù)位AZ型A/D變換器的內(nèi)部狀態(tài)，具有能夠減輕微機(jī) 負(fù)擔(dān)的效果。
另外，在本實(shí)施方式1中說(shuō)明了從微機(jī)101設(shè)定作為振蕩檢測(cè)條 件的振蕩檢測(cè)周期設(shè)定E、振蕩閾值設(shè)定F使得能夠自由地變更振蕩 檢測(cè)條件，但是也可以將該兩個(gè)設(shè)定E、 F作為常數(shù)預(yù)先設(shè)定，能夠 得到與從微機(jī)101設(shè)定該兩個(gè)設(shè)定E、 F的情況相同的動(dòng)作、效果， 與能夠從微機(jī)自由地設(shè)定的情況相比，還能夠得到可縮小電路規(guī)模的 效果。
(實(shí)施方式2)
圖4是表示與本發(fā)明的實(shí)施方式2有關(guān)的半導(dǎo)體裝置的一個(gè)例子 的結(jié)構(gòu)的框圖。
本實(shí)施方式2的半導(dǎo)體裝置具有Ai:型A/D變換器100，其將 輸入模擬數(shù)據(jù)信號(hào)A變換為數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)信號(hào)B;振蕩檢測(cè)電路1112，其 在等待AS型A/D變換器穩(wěn)定等待設(shè)定L后對(duì)Ai:型A/D變換器100 輸出的溢出檢測(cè)信號(hào)C進(jìn)行積分，由此檢測(cè)AS型A/D變換器100的 振蕩狀態(tài)而生成Ai:型A/D變換器硬復(fù)位信號(hào)K;以及微機(jī)IOI,其 設(shè)定振蕩檢測(cè)條件。振蕩檢測(cè)電路1112具有計(jì)數(shù)電路1201，其對(duì) 在等待AS型A/D變換器穩(wěn)定等待設(shè)定L后的一定期間內(nèi)檢測(cè)Ai:型A/D變換器100所輸出的溢出檢測(cè)信號(hào)C的次數(shù)進(jìn)行計(jì)數(shù)；比較電路 202,其比較計(jì)數(shù)電路201輸出的計(jì)數(shù)值I與振蕩閾值設(shè)定F;以及復(fù) 位生成電路203，其從比較電路202所輸出的振蕩檢測(cè)信號(hào)J生成AS 型A/D變換器硬復(fù)位信號(hào)K。這里，計(jì)數(shù)電路1201具有檢測(cè)定時(shí) 生成電路1201a，其根據(jù)AH型A/D變換器穩(wěn)定等待設(shè)定L和振蕩檢 測(cè)周期設(shè)定E生成表示溢出檢測(cè)定時(shí)的檢測(cè)定時(shí)信號(hào)S;以及溢出計(jì) 數(shù)電路1201b，其對(duì)在一定期間內(nèi)檢測(cè)溢出檢測(cè)信號(hào)C的次數(shù)進(jìn)行計(jì) 數(shù)。從微機(jī)101向檢測(cè)定時(shí)生成電路1201a輸入振蕩檢測(cè)周期設(shè)定E 以及AS型A/D變換器穩(wěn)定等待設(shè)定L，從檢測(cè)定時(shí)生成電路1201a 向溢出計(jì)數(shù)電路1201b以及比較電路202輸出檢測(cè)定時(shí)信號(hào)S。溢出 計(jì)數(shù)電路1201b從AS型A/D變換器IOO被輸入溢出檢測(cè)信號(hào)C，根 據(jù)檢測(cè)定時(shí)信號(hào)S對(duì)在等待AS型A/D變換器穩(wěn)定等待設(shè)定L后的振 蕩檢測(cè)周期設(shè)定E的期間內(nèi)檢測(cè)溢出檢測(cè)信號(hào)C的次數(shù)進(jìn)行計(jì)數(shù)，計(jì) 數(shù)值I從溢出計(jì)數(shù)電路1201b輸出到比較電路202。另外，Ai;型A/D 變換器穩(wěn)定等待設(shè)定L是根據(jù)預(yù)先取得的A!]型A/D變換器100直到 穩(wěn)定為止的時(shí)間來(lái)決定的，當(dāng)振蕩檢測(cè)電路復(fù)位H被解除時(shí)，或者硬 復(fù)位信號(hào)K生成后被解除時(shí)，開(kāi)始Ai;型A/D變換器的穩(wěn)定等待。
此外，AZ型A/D變換器100和微機(jī)IOI與以往的半導(dǎo)體裝置中 的相同。另外，振蕩檢測(cè)電路1112內(nèi)的比較電路202和復(fù)位生成電 路203與實(shí)施方式1中的相同。
圖5是圖4所示的與本發(fā)明的實(shí)施方式2有關(guān)的半導(dǎo)體裝置中的 Ai:型A/D變換器的振蕩檢測(cè)的時(shí)序圖。參照?qǐng)D5說(shuō)明檢測(cè)AZ型A/D 變換器的振蕩狀態(tài)的動(dòng)作。
從微機(jī)101對(duì)振蕩檢測(cè)電路1112內(nèi)的計(jì)數(shù)電路1201設(shè)定振蕩檢 測(cè)周期設(shè)定E和AS型A/D變換器穩(wěn)定等待設(shè)定L，對(duì)振蕩檢測(cè)電路 1112內(nèi)的比較電路202設(shè)定振蕩閾值設(shè)定F。在計(jì)數(shù)電路1201中， 在解除振蕩檢測(cè)電路復(fù)位H后(定時(shí)T201)，直到Ai;型A/D變換 器穩(wěn)定為止等待AS型A/D變換器穩(wěn)定等待設(shè)定L后(定時(shí)T202)， 對(duì)在振蕩檢測(cè)周期設(shè)定E的每個(gè)期間內(nèi)AS型A/D變換器100所輸出
34的溢出檢測(cè)信號(hào)c表示溢出狀態(tài)的次數(shù)進(jìn)行計(jì)數(shù)，并將作為該次數(shù)的
計(jì)數(shù)值I輸出到比較電路202。計(jì)數(shù)值I根據(jù)檢測(cè)定時(shí)信號(hào)S在等待 AS型A/D變換器穩(wěn)定等待設(shè)定L后在振蕩檢測(cè)周期設(shè)定E的每個(gè)期 間被復(fù)位(定時(shí)T203 T205、 T209 )。在比較電路202中，根據(jù)檢測(cè) 定時(shí)信號(hào)S在等待AS型A/D變換器穩(wěn)定等待設(shè)定L后在振蕩檢測(cè)周 期設(shè)定E的每個(gè)期間(定時(shí)T203 T205、 T209 )比較計(jì)數(shù)值I與振蕩 閾值設(shè)定F，在計(jì)數(shù)值I大于振蕩閾值設(shè)定F的情況下(定時(shí)T205 ), 將振蕩檢測(cè)信號(hào)J設(shè)為"H"而輸出到復(fù)位生成電路203。在復(fù)位生 成電路203中，如果振蕩檢測(cè)信號(hào)J變成"H",則生成AS型A/D
變換器硬復(fù)位信號(hào)k并輸出到Ai:型a/d變換器ioo使得將ai:型
A/D變換器100的內(nèi)部狀態(tài)進(jìn)行復(fù)位。另外，硬復(fù)位信號(hào)K從復(fù)位生 成電路203輸入到比較電路202,振蕩檢測(cè)信號(hào)J通過(guò)硬復(fù)位信號(hào)K 回到"L",等待下一個(gè)振蕩檢測(cè)。另外，硬復(fù)位信號(hào)K從復(fù)位生成 電路203輸入到計(jì)數(shù)電路1201，當(dāng)硬復(fù)位信號(hào)K被解除時(shí)，再次開(kāi) 始Ai;型A/D變換器穩(wěn)定等待(定時(shí)T206)，在經(jīng)過(guò)AZ型A/D變換 器穩(wěn)定等待設(shè)定L的期間后，開(kāi)始下一個(gè)振蕩檢測(cè)周期(定時(shí)T208 )。
此外，理想的是將振蕩檢測(cè)監(jiān)視信號(hào)G輸出到微機(jī)101使得能 夠從微機(jī)101確認(rèn)振蕩檢測(cè)電路1112將AS型A/D變換器100的內(nèi) 部狀態(tài)進(jìn)行了復(fù)位。如果振蕩檢測(cè)信號(hào)J變成"H"(定時(shí)T205)， 則將振蕩檢測(cè)監(jiān)視信號(hào)G設(shè)定為"H"，如果由微機(jī)101讀出振蕩檢 測(cè)監(jiān)^f見(jiàn)信號(hào)G來(lái)確認(rèn)Ai:型A/D變換器100的振蕩狀態(tài)(定時(shí)T207)， 則從微機(jī)101向比較電路202輸出振蕩檢測(cè)監(jiān)視信號(hào)用清除信號(hào)T, 并將振蕩檢測(cè)監(jiān)視信號(hào)G設(shè)定為"L，，，由此使微機(jī)101能夠確實(shí)地 確認(rèn)振蕩檢測(cè)電路1112將AS型A/D變換器100進(jìn)行了復(fù)位。
另夕卜，在本實(shí)施方式2中，說(shuō)明了在圖4的半導(dǎo)體裝置中輸出溢 出檢測(cè)信號(hào)C，并在等待Ai:型A/D變換器穩(wěn)定等待設(shè)定L的期間之 后的振蕩檢測(cè)周期設(shè)定E的期間內(nèi)的溢出檢測(cè)次數(shù)大于等于閾值時(shí) 判斷為AZ型A/D變換器IOO處于振蕩狀態(tài)的情況，但是在圖1所示 的半導(dǎo)體裝置中，也可以直到Ai:型調(diào)制器13穩(wěn)定為止，使溢出檢測(cè)電路5、溢出頻率算出電路6、振蕩判定電路7、振蕩停止電路8的動(dòng) 作進(jìn)行待機(jī)。
詳細(xì)地說(shuō)，在圖l所示的半導(dǎo)體裝置中，有時(shí)在剛啟動(dòng)后、或在 想要通過(guò)振蕩停止電路8使動(dòng)作回到穩(wěn)定狀態(tài)后，在遷移到穩(wěn)定狀態(tài) 的期間內(nèi)維持積分器2、 3、 4的輸出振幅大的狀態(tài)并判定為Ai:型調(diào) 制器13處于振蕩狀態(tài)，想要通過(guò)振蕩停止電路8再次使動(dòng)作回到穩(wěn) 定狀態(tài)。當(dāng)它持續(xù)時(shí)始終想要回到穩(wěn)定狀態(tài)，因此有可能無(wú)法正常進(jìn) 行AS型調(diào)制。因此，在剛啟動(dòng)后、或在想要通過(guò)振蕩停止電路8使 動(dòng)作回到穩(wěn)定狀態(tài)后，溢出檢測(cè)電路5直到AE型調(diào)制器13變得穩(wěn)定 為止不輸出溢出檢測(cè)信號(hào)?；蛘撸趧倖?dòng)后、或在想要通過(guò)振蕩停 止電路8使動(dòng)作回到穩(wěn)定狀態(tài)后，溢出頻率算出電路6直到Ai:型調(diào) 制器13變得穩(wěn)定為止不輸出溢出頻率值。或者，在剛啟動(dòng)后、或在 想要通過(guò)振蕩停止電路8使動(dòng)作回到穩(wěn)定狀態(tài)后，振蕩判定電路7直 到AS型調(diào)制器13變得穩(wěn)定為止不判定為振蕩?；蛘撸趧倖?dòng)后、 或在想要通過(guò)振蕩停止電路8使動(dòng)作回到穩(wěn)定狀態(tài)后，振蕩停止電路 8直到Ai:型調(diào)制器13變得穩(wěn)定為止不使動(dòng)作回到穩(wěn)定狀態(tài)。在由上 述溢出檢測(cè)電路5、溢出頻率算出電路6、振蕩判定電路7、振蕩停止 電路8進(jìn)行的至少一個(gè)動(dòng)作的階段中，在剛啟動(dòng)后、或在想要通過(guò)振 蕩停止電路8使動(dòng)作回到穩(wěn)定狀態(tài)后，直到AS型調(diào)制器13變得穩(wěn)定 為止進(jìn)4亍待才幾。
如上所述，與實(shí)施方式2有關(guān)的半導(dǎo)體裝置具備振蕩檢測(cè)電路 1112，該振蕩檢測(cè)電路1112具有計(jì)數(shù)電路1201，其對(duì)在等待Ai:型
檢測(cè)溢出檢測(cè)信號(hào)C的次數(shù)進(jìn)行計(jì)數(shù)，輸出計(jì)數(shù)值I;比較電路202， 其比較上述計(jì)數(shù)值I與振蕩閾值設(shè)定F，在等待Ai:型A/D變換器穩(wěn)
數(shù)大于等于閾值的情況下判斷為Ai;型A/D變換器100處于振蕩狀 態(tài)，將振蕩檢測(cè)信號(hào)J設(shè)為有效并進(jìn)行輸出；以及復(fù)位生成電路203， 其被輸入上述振蕩檢測(cè)信號(hào)J，生成將上述AZ型A/D變換器100進(jìn)
36行復(fù)位的硬復(fù)位信號(hào)k，因此，與實(shí)施方式l相同，只有在振蕩狀態(tài) 持續(xù)的情況下復(fù)位AE型A/d變換器的內(nèi)部狀態(tài)，從而能夠使其從振 蕩狀態(tài)恰當(dāng)?shù)貜?fù)原，另外，微機(jī)也可以不用頻繁地確認(rèn)Ai:型A/d變 換器的振蕩狀態(tài)來(lái)復(fù)位Ai:型A/d變換器的內(nèi)部狀態(tài)，具有能夠減輕 微機(jī)負(fù)擔(dān)的效果。
另外，根據(jù)本實(shí)施方式2具有如下效果在振蕩檢測(cè)電路1112 內(nèi)的計(jì)數(shù)電路1201中設(shè)定AS型A/d變換器穩(wěn)定等待設(shè)定L，直到 AS型A/d變換器穩(wěn)定為止等待溢出檢測(cè)次數(shù)的計(jì)數(shù)，從而具有防止
在a:e型a/d變換器不穩(wěn)定的期間內(nèi)ai:型a/d變換器被復(fù)位的情況
的效果。
另外，在本實(shí)施方式2中說(shuō)明了從微機(jī)101設(shè)定作為振蕩檢測(cè)條 件的振蕩檢測(cè)周期設(shè)定E、振蕩閾值設(shè)定F、 AS型A/d變換器穩(wěn)定 等待設(shè)定L使得能夠自由地變更振蕩檢測(cè)條件的情形，但是也可以將 該設(shè)定E、 F、 L作為常數(shù)預(yù)先設(shè)定，并能夠得到與從微機(jī)101設(shè)定 該設(shè)定E、 F、 L的情況相同的動(dòng)作、效果，與能夠從微機(jī)自由地設(shè) 定的情況相比，還能夠得到可縮小電路規(guī)模的效果。 (實(shí)施方式3)
圖6是表示與本發(fā)明的實(shí)施方式3有關(guān)的半導(dǎo)體裝置的一個(gè)例子 的結(jié)構(gòu)的框圖。
本實(shí)施方式3的半導(dǎo)體裝置具有AS型A/d變換器100，其將 輸入模擬數(shù)據(jù)信號(hào)A變換為數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)信號(hào)b;振蕩檢測(cè)電路2112，其 對(duì)AZ型A/d變換器100所輸出的溢出檢測(cè)信號(hào)C進(jìn)行積分，由此檢 測(cè)Ai:型A/d變換器100的振蕩狀態(tài)而生成Ai:型A/d變換器硬復(fù)位 信號(hào)k;以及微機(jī)ioi，其設(shè)定振蕩檢測(cè)條件。振蕩檢測(cè)電路2112具 有計(jì)數(shù)電路201，其對(duì)在一定期間內(nèi)檢測(cè)Ai:型A/d變換器100所 輸出的溢出檢測(cè)信號(hào)C的次數(shù)進(jìn)行計(jì)數(shù)；比較電路2202,其對(duì)比較 計(jì)數(shù)電路201所輸出的計(jì)數(shù)值i與振蕩閾值設(shè)定F而得到的結(jié)果進(jìn)行 計(jì)數(shù)，并與振蕩檢測(cè)連續(xù)次數(shù)設(shè)定m進(jìn)行比較；以及復(fù)位生成電路 203，其根據(jù)比較電路2202所輸出的振蕩檢測(cè)信號(hào)j，生成AS型A/d變換器硬復(fù)位信號(hào)K。
在此，AZ型A/D變換器100和微機(jī)101與以往的半導(dǎo)體裝置中 的相同。另外，振蕩檢測(cè)電路2112內(nèi)的計(jì)數(shù)電路201以及復(fù)位生成 電路203與實(shí)施方式1中的相同。
圖7是圖6所示的與本發(fā)明的實(shí)施方式3有關(guān)的半導(dǎo)體裝置中的 振蕩檢測(cè)連續(xù)次數(shù)設(shè)定M=2的情況下的AZ型A/D變換器的振蕩檢 測(cè)的時(shí)序圖。參照?qǐng)D7說(shuō)明檢測(cè)AZ型A/D變換器的振蕩狀態(tài)的動(dòng)作。
從微機(jī)101對(duì)振蕩檢測(cè)電路2112內(nèi)的計(jì)數(shù)電路201設(shè)定振蕩檢 測(cè)周期設(shè)定E，對(duì)振蕩檢測(cè)電路2112內(nèi)的比較電路2202設(shè)定振蕩閾 值設(shè)定F以及振蕩檢測(cè)連續(xù)次數(shù)設(shè)定M。在計(jì)數(shù)電路201中，在解除 振蕩檢測(cè)電路復(fù)位H后(定時(shí)T301),對(duì)在振蕩檢測(cè)周期設(shè)定E的 每個(gè)期間內(nèi)AZ型A/D變換器100所輸出的溢出檢測(cè)信號(hào)C表示溢出 狀態(tài)的次數(shù)進(jìn)行計(jì)數(shù)，將作為該次數(shù)的計(jì)數(shù)值I輸出到比較電路2202。 計(jì)數(shù)值I基于檢測(cè)定時(shí)信號(hào)S而在振蕩檢測(cè)周期設(shè)定E的每個(gè)期間被 復(fù)位(定時(shí)T302 T307、 T309、 T311)。
在比較電路2202中，根據(jù)檢測(cè)定時(shí)信號(hào)S，在振蕩檢測(cè)周期設(shè) 定E的每個(gè)期間(定時(shí)T302 T307、 T309、 T311)比較計(jì)數(shù)值I和 振蕩閾值設(shè)定F,在計(jì)數(shù)值I大于振蕩閾值設(shè)定F的情況下(定時(shí) T302、 T306、 T307 )，使振蕩檢測(cè)連續(xù)次數(shù)R遞增，在計(jì)數(shù)值I小 于振蕩閾值設(shè)定F的情況下(定時(shí)T303、 T304、 T305、 T309、 T311)， 使振蕩檢測(cè)連續(xù)次數(shù)R復(fù)位。例如，在定時(shí)T302中計(jì)數(shù)值I大于振 蕩閾值設(shè)定F，因此振蕩檢測(cè)連續(xù)次數(shù)R從"0"變成"1"，但是在 下個(gè)定時(shí)T303中計(jì)數(shù)值I小于振蕩閾值設(shè)定F，計(jì)數(shù)值I大于振蕩閾 值設(shè)定F的情況不連續(xù)，因此振蕩檢測(cè)連續(xù)次數(shù)R從"1"被復(fù)位為 "0"。并且，在振蕩檢測(cè)連續(xù)次數(shù)R變成振蕩檢測(cè)連續(xù)次數(shù)設(shè)定M=2 的情況下(定時(shí)T307)，將振蕩檢測(cè)信號(hào)J設(shè)為"H"并輸出到復(fù)位 生成電路203。
在復(fù)位生成電路203中，如果振蕩檢測(cè)信號(hào)J變成"H"，則生 成AS型A/D變換器硬復(fù)位信號(hào)K并輸出到AS型A/D變換器100使
38得將Ai:型A/D變換器100的內(nèi)部狀態(tài)進(jìn)行復(fù)位。另外，硬復(fù)位信號(hào) K從復(fù)位生成電路203輸入到比較電路2202，振蕩檢測(cè)連續(xù)次數(shù)R 通過(guò)硬復(fù)位信號(hào)K從"2"復(fù)位為"0"，振蕩檢測(cè)信號(hào)J也通過(guò)硬復(fù) 位信號(hào)K而回到"L"，等待下一個(gè)振蕩檢測(cè)。另外，硬復(fù)位信號(hào)K 從復(fù)位生成電路203輸入到計(jì)數(shù)電路201，當(dāng)硬復(fù)位信號(hào)K被解除時(shí)， 開(kāi)始下一個(gè)振蕩檢測(cè)周期(定時(shí)T308)。
此外，理想的是將振蕩檢測(cè)監(jiān)視信號(hào)G輸出到微機(jī)101使得能 夠從微機(jī)101確認(rèn)由振蕩檢測(cè)電路2112將Ai:型A/D變換器100的 內(nèi)部狀態(tài)進(jìn)行了復(fù)位。如果振蕩檢測(cè)信號(hào)J變成"H"(定時(shí)T307)， 則將振蕩檢測(cè)監(jiān)視信號(hào)G設(shè)定為"H",如果由微機(jī)101讀出振蕩檢 測(cè)監(jiān)視信號(hào)G來(lái)確認(rèn)AZ型A/D變換器100的振蕩狀態(tài)(定時(shí)T310 )， 則從^:機(jī)101向比較電路2202輸出振蕩檢測(cè)監(jiān)^L信號(hào)用清除信號(hào)T， 并將振蕩檢測(cè)監(jiān)視信號(hào)G設(shè)定為"L"，由此能夠可靠地確認(rèn)振蕩檢 測(cè)電路2112將AS型A/D變換器100進(jìn)行了復(fù)位。
另外，在本實(shí)施方式3中，說(shuō)明了在圖6的半導(dǎo)體裝置中只有在 溢出檢測(cè)次數(shù)大于等于閾值的情況是連續(xù)時(shí)判斷為AS型A/D變換器 處于振蕩狀態(tài)的情況，但是在圖1所示的半導(dǎo)體裝置中，也可以是振 蕩判定電路7比較溢出頻率值與闊值，只有在溢出頻率值大于等于閾 值的情況是連續(xù)時(shí)判斷為AZ型A/D變換器處于振蕩狀態(tài)。在這種情 況下，圖1的半導(dǎo)體裝置的溢出頻率算出電路6對(duì)溢出檢測(cè)信號(hào)連續(xù) 地表示溢出狀態(tài)的次數(shù)進(jìn)行計(jì)數(shù)，并將作為該次數(shù)的計(jì)數(shù)值作為溢出 頻率值而輸出，計(jì)數(shù)值在溢出檢測(cè)信號(hào)不表示溢出狀態(tài)的情況下被復(fù) 位。
如上所述，與實(shí)施方式3有關(guān)的半導(dǎo)體裝置具備振蕩檢測(cè)電路 2112，該振蕩檢測(cè)電路2112具有計(jì)數(shù)電路201，其對(duì)振蕩檢測(cè)周期 設(shè)定E的期間內(nèi)的檢測(cè)溢出檢測(cè)信號(hào)C的次數(shù)進(jìn)行計(jì)數(shù)，輸出計(jì)數(shù)值 I;比較電路2202，其在振蕩檢測(cè)周期設(shè)定E的期間內(nèi)的溢出檢測(cè)次 數(shù)大于等于閾值的情況所連續(xù)的次數(shù)大于等于振蕩檢測(cè)連續(xù)次數(shù)設(shè) 定M的情況下，判斷為AS型A/D變換器處于振蕩狀態(tài)，并將振蕩檢
39測(cè)信號(hào)J設(shè)為有效而進(jìn)行輸出；以及復(fù)位生成電路203，其被輸入上 述振蕩檢測(cè)信號(hào)J，生成將上述AZ型A/D變換器100進(jìn)行復(fù)位的硬 復(fù)位信號(hào)K，因此，通過(guò)只在溢出檢測(cè)次數(shù)大于等于閾值的情況所連 續(xù)的情況下判斷為AS型A/D變換器處于振蕩狀態(tài)，從而具有防止 AS型A/D變換器不慎被復(fù)位這樣的效果。
另外，在本實(shí)施方式3中說(shuō)明了從微機(jī)101設(shè)定作為振蕩檢測(cè)條 件的振蕩檢測(cè)周期設(shè)定E、振蕩閾值設(shè)定F、振蕩檢測(cè)連續(xù)次數(shù)設(shè)定 M使得能夠自由地變更振蕩檢測(cè)條件，但是也可以將該設(shè)定E、 F、 M作為常數(shù)而預(yù)先設(shè)定，能夠得到與從微機(jī)101設(shè)定該設(shè)定E、 F、 M的情況相同的動(dòng)作、效果，與能夠從微機(jī)自由地設(shè)定的情況相比， 還能夠得到可縮小電路規(guī)模的效果。
此外，本實(shí)施方式3與實(shí)施方式2相同，如果在振蕩檢測(cè)電路內(nèi) 的計(jì)數(shù)電路中設(shè)定Ai;型A/D變換器穩(wěn)定等待設(shè)定L，對(duì)等待到AS型 A/D變換器穩(wěn)定為止后的一定期間內(nèi)的溢出檢測(cè)次數(shù)進(jìn)行計(jì)數(shù)，則還 能夠得到如下效果防止在Ai:型A/D變換器不穩(wěn)定的期間Ai;型A/D 變換器被復(fù)位。
(實(shí)施方式4)
圖8是表示與本發(fā)明的實(shí)施方式4有關(guān)的半導(dǎo)體裝置的一個(gè)例子 的結(jié)構(gòu)的框圖。
本實(shí)施方式4的半導(dǎo)體裝置具有AZ型A/D變換器100，其將 輸入模擬數(shù)據(jù)信號(hào)A變換為數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)信號(hào)B;振蕩檢測(cè)電路4112，其 通過(guò)對(duì)AS型A/D變換器IOO所輸出的溢出檢測(cè)信號(hào)C進(jìn)行積分，檢 測(cè)AS型A/D變換器100的振蕩狀態(tài)；以及微機(jī)IOI，其確認(rèn)從振蕩 檢測(cè)電路4112輸出的振蕩檢測(cè)監(jiān)視信號(hào)G，向AS型A/D變換器100 發(fā)行AS型A/D變換器軟復(fù)位設(shè)定D。振蕩檢測(cè)電路4112具有計(jì)數(shù) 電路4201，其對(duì)在一定期間內(nèi)檢測(cè)AZ型A/D變換器100所輸出的溢 出檢測(cè)信號(hào)C的次數(shù)進(jìn)行計(jì)數(shù)；以及比較電路4202，其比較計(jì)數(shù)電 路4201所輸出的計(jì)數(shù)值I與振蕩閾值設(shè)定F。這里，計(jì)數(shù)電路4201 具有檢測(cè)定時(shí)生成電路4201a，其根據(jù)振蕩檢測(cè)周期設(shè)定E,生成表示溢出檢測(cè)的定時(shí)的檢測(cè)定時(shí)信號(hào)S;以及溢出計(jì)數(shù)電路4201b， 其對(duì)溢出檢測(cè)信號(hào)C的檢測(cè)次數(shù)進(jìn)行計(jì)數(shù)。從微機(jī)101向檢測(cè)定時(shí)生 成電路4201a輸入振蕩檢測(cè)周期設(shè)定E，從檢測(cè)定時(shí)生成電路4201a 向溢出計(jì)數(shù)電路4201b以及比較電路4202輸出檢測(cè)定時(shí)信號(hào)S。溢出 計(jì)數(shù)電路4201b從Ai:型A/D變換器IOO被輸入溢出檢測(cè)信號(hào)C，根 據(jù)檢測(cè)定時(shí)信號(hào)S對(duì)在振蕩檢測(cè)周期設(shè)定E的期間內(nèi)檢測(cè)溢出檢測(cè)信 號(hào)C的次數(shù)進(jìn)行計(jì)數(shù)，計(jì)數(shù)值I從溢出計(jì)數(shù)電路4201b輸出到比較電 路4202。另外，比較電路4202具有生成振蕩檢測(cè)信號(hào)J的振蕩檢測(cè) 信號(hào)生成電路4202a、和生成振蕩檢測(cè)監(jiān)視信號(hào)G的振蕩檢測(cè)監(jiān)視信 號(hào)生成電路4202b。從振蕩檢測(cè)信號(hào)生成電路4202a向振蕩檢測(cè)監(jiān)視 信號(hào)生成電路4202b輸入振蕩檢測(cè)信號(hào)J，從振蕩檢測(cè)監(jiān)視信號(hào)生成 電路4202b向微機(jī)101輸出振蕩檢測(cè)監(jiān)視信號(hào)G。
此外，AS型A/D變換器100和微機(jī)101與以往的半導(dǎo)體裝置中 的相同。
圖9是圖8所示的與本發(fā)明的實(shí)施方式4有關(guān)的半導(dǎo)體裝置中的 Ai:型A/D變換器的振蕩檢測(cè)的時(shí)序圖。參照?qǐng)D9說(shuō)明檢測(cè)AZ型A/D 變換器的振蕩狀態(tài)的動(dòng)作。
從微機(jī)101對(duì)振蕩檢測(cè)電路4112內(nèi)的計(jì)數(shù)電路4201設(shè)定振蕩檢 測(cè)周期設(shè)定E，對(duì)振蕩檢測(cè)電路4112內(nèi)的比較電路4202設(shè)定振蕩閾 值設(shè)定F。在計(jì)數(shù)電路4201中，解除振蕩檢測(cè)電路復(fù)位H后(定時(shí) T501)，對(duì)在振蕩檢測(cè)周期設(shè)定E的每個(gè)期間Ai:型A/D變換器100 所輸出的溢出檢測(cè)信號(hào)C表示溢出狀態(tài)的次數(shù)進(jìn)行計(jì)數(shù)，并將作為該 次數(shù)的計(jì)數(shù)值I輸出到比較電路4202。計(jì)數(shù)值I根據(jù)檢測(cè)定時(shí)信號(hào)S 而在振蕩檢測(cè)周期設(shè)定E的每個(gè)期間被復(fù)位(定時(shí)T502、T506、T507、 T509 T511、 T515)。另外，從微機(jī)101向計(jì)數(shù)電路4201輸入軟復(fù) 位設(shè)定D，當(dāng)軟復(fù)位設(shè)定D被解除時(shí)，開(kāi)始下一個(gè)振蕩檢測(cè)周期(定 時(shí)T505、 T514)。
在比較電路4202內(nèi)的振蕩檢測(cè)信號(hào)生成電路4202a中，根據(jù)檢 測(cè)定時(shí)信號(hào)S，在振蕩檢測(cè)周期設(shè)定E的每個(gè)期間(定時(shí)T502、 T506、T507、 T509 T511、 T515)比較計(jì)數(shù)值I與振蕩閾值設(shè)定F，在計(jì)數(shù) 值I大于振蕩閾值設(shè)定F的情況下(定時(shí)T502、 T510),將下一個(gè) 振蕩檢測(cè)周期的振蕩檢測(cè)信號(hào)J設(shè)定為"H"。在比較電路4202內(nèi)的 振蕩檢測(cè)監(jiān)視信號(hào)生成電路4202b中，如果振蕩檢測(cè)信號(hào)J變成"H"， 則將振蕩檢測(cè)監(jiān)視信號(hào)G設(shè)定為"H"并輸出到微機(jī)IOI。另外，從 微機(jī)101向比較電路4202輸入軟復(fù)位設(shè)定D，振蕩檢測(cè)信號(hào)J以及 振蕩檢測(cè)監(jiān)視信號(hào)G通過(guò)軟復(fù)位設(shè)定D回到"L"，等待下一個(gè)振蕩 檢測(cè)。
微機(jī)101定期地監(jiān)視從振蕩檢測(cè)電路4112輸出的振蕩檢測(cè)監(jiān)視 信號(hào)G(定時(shí)T503、 T508、 T512 )，在振蕩檢測(cè)監(jiān)視信號(hào)G表示AZ 型A/D變換器100的振蕩狀態(tài)的情況下(定時(shí)T503、 T512 )發(fā)行AZ 型A/D變換器軟復(fù)位設(shè)定D (定時(shí)T504、 T513)使得將AS型A/D 變換器100的內(nèi)部狀態(tài)進(jìn)行復(fù)位。
這里，在從定時(shí)T502起的振蕩檢測(cè)的期間，振蕩檢測(cè)周期設(shè)定 E的長(zhǎng)度的期間結(jié)束之前，在定時(shí)T503微機(jī)101確認(rèn)了通過(guò)振蕩檢 測(cè)監(jiān)視信號(hào)G表示了 AH型A/D變換器100的振蕩狀態(tài)時(shí)，AZ型A/D 變換器軟復(fù)位設(shè)定D從微機(jī)101輸入到比較電路202，在該時(shí)刻，振 蕩檢測(cè)信號(hào)J以及振蕩檢測(cè)監(jiān)視信號(hào)G回到"L"(定時(shí)T504)。另 外如上所述，在從定時(shí)T510起的振蕩檢測(cè)周期的期間，振蕩檢測(cè)信 號(hào)J被設(shè)定為"H"，在定時(shí)T511，振蕩檢測(cè)信號(hào)J回到"L"。從 定時(shí)T511起的振蕩檢測(cè)的期間，振蕩檢測(cè)監(jiān)視信號(hào)G直到被微機(jī)101 檢測(cè)出為止是"H",在被微機(jī)101檢測(cè)出之后(定時(shí)T512)，通過(guò) Ai:型A/D變換器軟復(fù)位設(shè)定D而被設(shè)定為"L"(定時(shí)T513 )。
此外，在本實(shí)施方式4中，說(shuō)明了在圖8的半導(dǎo)體裝置中從微機(jī) 向Ai:型A/D變換器發(fā)送根據(jù)振蕩檢測(cè)監(jiān)視信號(hào)將Ai:型A/D變換器 進(jìn)行復(fù)位的軟復(fù)位設(shè)定的情況，但是在圖l所示的半導(dǎo)體裝置中也可 以與圖8的半導(dǎo)體裝置同樣地，還具備微機(jī)，從微機(jī)向AS型調(diào)制器 發(fā)送根據(jù)振蕩檢測(cè)監(jiān)視信號(hào)將A S型調(diào)制器進(jìn)行復(fù)位的軟復(fù)位設(shè)定。
如以上所述，與實(shí)施方式4有關(guān)的半導(dǎo)體裝置具備振蕩檢測(cè)電路4112，該振蕩檢測(cè)電路4112具有計(jì)數(shù)電路4201，其對(duì)振蕩檢測(cè)周 期設(shè)定E的期間內(nèi)的檢測(cè)溢出檢測(cè)信號(hào)C的次數(shù)進(jìn)行計(jì)數(shù)，輸出計(jì)數(shù) 值I;以及比較電路4202,比較上述計(jì)數(shù)值I與振蕩閾值設(shè)定F，在 振蕩檢測(cè)周期設(shè)定E的期間內(nèi)的溢出檢測(cè)次數(shù)大于等于閾值的情況 下判斷為Ai:型A/D變換器IOO處于振蕩狀態(tài)，將表示AS型A/D變 換器IOO處于振蕩狀態(tài)的振蕩檢測(cè)監(jiān)視信號(hào)G輸出到微機(jī)101，其中， 從微機(jī)101向AZ型A/D變換器100發(fā)送根據(jù)上述振蕩檢測(cè)監(jiān)視信號(hào) G將上述Ai:型A/D變換器IOO進(jìn)行復(fù)位的軟復(fù)位設(shè)定D，因此，與 實(shí)施方式1的效果相同，只有在振蕩狀態(tài)持續(xù)的情況下將Ai:型A/D 變換器100的內(nèi)部狀態(tài)進(jìn)行復(fù)位，能夠從振蕩狀態(tài)復(fù)原到能夠正常動(dòng) 作的狀態(tài)。
另外，在本實(shí)施方式4中說(shuō)明了從微機(jī)101設(shè)定作為振蕩檢測(cè)條 件的振蕩檢測(cè)周期設(shè)定E、振蕩閾值設(shè)定F使得能夠自由地變更振蕩 檢測(cè)條件，但是也可以將該兩個(gè)設(shè)定E、 F作為常數(shù)而預(yù)先設(shè)定，能 夠得到與從微機(jī)101設(shè)定了該兩個(gè)設(shè)定E、 F的情況相同的動(dòng)作、效 果，與能夠從微機(jī)自由地設(shè)定的情況相比，還能夠起到可縮小電路規(guī) 模的效果。
另外，在本實(shí)施方式4中，作為振蕩檢測(cè)方法，與實(shí)施方式1 同樣地使用了在一定期間內(nèi)的溢出檢測(cè)次數(shù)大于等于闊值的情況下 判斷為AZ型A/D變換器處于振蕩狀態(tài)的方法，但是也可以與實(shí)施方 式4同樣地，使用在檢測(cè)為連續(xù)溢出檢測(cè)次數(shù)大于等于閾值的情況下 判斷為Ai:型A/D變換器處于振蕩狀態(tài)的方法，能夠得到相同效果。
并且，與實(shí)施方式2同樣地，在振蕩檢測(cè)電路內(nèi)的計(jì)數(shù)電路中設(shè) 定AZ型A/D變換器穩(wěn)定等待設(shè)定L，等待到AZ型A/D變換器穩(wěn)定 為止，從而還能夠起到如下效果防止在Ai:型A/D變換器不穩(wěn)定的 期間內(nèi)AZ型A/D變換器被復(fù)位的情況。
另外，與實(shí)施方式3同樣地，只有在溢出檢測(cè)次數(shù)大于等于閾值 的情況所連續(xù)的情況下判斷為AS型A/D變換器處于振蕩狀態(tài)，從而 還能夠得到如下效果防止Ai:型A/D變換器不慎被復(fù)位的情況。
43(實(shí)施方式5)
圖10是表示與本發(fā)明的實(shí)施方式5有關(guān)的半導(dǎo)體裝置的一個(gè)例 子的結(jié)構(gòu)的框圖。
本實(shí)施方式5的半導(dǎo)體裝置具有AZ型A/D變換器100，其將 輸入模擬數(shù)據(jù)信號(hào)A變換為數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)信號(hào)B;振蕩檢測(cè)電路112，其 對(duì)檢測(cè)Ai:型A/D變換器100所輸出的溢出檢測(cè)信號(hào)C的次數(shù)進(jìn)行計(jì) 數(shù)，由此檢測(cè)AS型A/D變換器100的振蕩狀態(tài)而生成Ai:型A/D變 換器硬復(fù)位信號(hào)K;微機(jī)IOI，其確認(rèn)從振蕩檢測(cè)電路112輸出的振 蕩檢測(cè)監(jiān)視信號(hào)G，向AZ型A/D變換器lOO發(fā)行Ai:型A/D變換器 軟復(fù)位設(shè)定D;以及復(fù)位選擇電路113，其根據(jù)微機(jī)101所發(fā)行的AS 型A/D變換器用硬復(fù)位有效設(shè)定N,切換Ai:型A/D變換器硬復(fù)位信 號(hào)K與AZ型A/D變換器軟復(fù)位設(shè)定D。振蕩檢測(cè)電路112具有計(jì) 數(shù)電路201，其對(duì)檢測(cè)AS型A/D變換器100所輸出的溢出檢測(cè)信號(hào) C的次數(shù)進(jìn)行計(jì)數(shù)；比較電路202，其根據(jù)計(jì)數(shù)電路201所輸出的檢 測(cè)定時(shí)信號(hào)S，比較計(jì)數(shù)電路201輸出的計(jì)數(shù)值I與振蕩閾值設(shè)定F; 以及復(fù)位生成電路203，其從比較電路202輸出的振蕩檢測(cè)信號(hào)J中 生成Ai;型A/D變換器硬復(fù)位信號(hào)K。
這里，AZ型A/D變換器100和微機(jī)101與以往的半導(dǎo)體裝置中 的相同。另外，本實(shí)施方式5的振蕩檢測(cè)電路112與實(shí)施方式1中的 相同。此外，在本實(shí)施方式5中，振蕩檢測(cè)電路與實(shí)施方式1中的相 同，但是也可以使用與實(shí)施方式2或者3相同的振蕩檢測(cè)電路。
接著說(shuō)明動(dòng)作。此外，對(duì)于與實(shí)施方式l相同的動(dòng)作，省略其說(shuō)明。
首先，根據(jù)來(lái)自微機(jī)IOI的硬復(fù)位有效設(shè)定N，預(yù)先決定使用硬 復(fù)位信號(hào)K或者軟復(fù)位設(shè)定D中的哪一個(gè)。
復(fù)位選擇電路113根據(jù)微機(jī)101發(fā)行的AZ型A/D變換器用硬復(fù) 位有效設(shè)定N,切換是像實(shí)施方式1至3那樣使用硬復(fù)位信號(hào)K而由 振蕩檢測(cè)電路112復(fù)位Ai:型A/D變換器100、還是像實(shí)施方式4那 樣使用軟復(fù)位設(shè)定D由微機(jī)101復(fù)位Ai:型A/D變換器100，并向AS
44型A/D變換器100輸出AZ型A/D變換器復(fù)位信號(hào)O。
另外，Ai:型A/D變換器復(fù)位信號(hào)O從復(fù)位選擇電路113輸入 到比較電路202，振蕩檢測(cè)信號(hào)J根據(jù)AS型A/D變換器復(fù)位信號(hào)O 而回到"L"。另外，AS型A/D變換器復(fù)位信號(hào)O從復(fù)位選擇電路 113輸入到計(jì)數(shù)電路201，當(dāng)Ai:型A/D變換器復(fù)位信號(hào)O被解除時(shí)， 開(kāi)始下一個(gè)振蕩檢測(cè)周期。
在振蕩檢測(cè)電路112復(fù)位AZ型A/D變換器100的情況下，當(dāng)檢 測(cè)出振蕩狀態(tài)時(shí)自動(dòng)地將Ai;型A/D變換器100的內(nèi)部狀態(tài)進(jìn)行復(fù) 位，因此具有微機(jī)不用頻繁地確認(rèn)Ai:型A/D變換器100的振蕩狀態(tài) 的效果，但不是能夠從外部確認(rèn)振蕩檢測(cè)電路112復(fù)位了 AH型A/D 變換器100的構(gòu)造的情況下，存在如下問(wèn)題AS型A/D變換器100 頻繁地引起振蕩狀態(tài)，即使原本需要考慮振蕩檢測(cè)條件、AS型A/D 變換器100的前級(jí)的輸入等，有時(shí)也持續(xù)復(fù)位AS型A/D變換器100 從而使動(dòng)作持續(xù)。另一方面，在微機(jī)101復(fù)位AZ型A/D變換器100 的情況下，必須在微機(jī)101中確認(rèn)振蕩檢測(cè)監(jiān)視信號(hào)G，因此不會(huì)引 起如上所述的問(wèn)題，但是微機(jī)101需要頻繁地確認(rèn)振蕩檢測(cè)監(jiān)視信號(hào) G，因此對(duì)微機(jī)101的處理帶來(lái)負(fù)擔(dān)。這樣，在振蕩檢測(cè)電路112復(fù) 位Ai;型A/D變換器100的情況和微機(jī)101復(fù)位AZ型A/D變換器100 的情況下，考慮兩者中具有不同效果的情況，根據(jù)半導(dǎo)體裝置的使用 條件來(lái)切換Ai:型A/D變換器硬復(fù)位信號(hào)K和AS型A/D變換器軟復(fù) 位設(shè)定D。
此外，在本實(shí)施方式5中，說(shuō)明了在圖10的半導(dǎo)體裝置中能夠 利用復(fù)位選擇電路來(lái)切換Ai:型A/D變換器硬復(fù)位信號(hào)K和AS型 A/D變換器軟復(fù)位設(shè)定D的情況，但是也可以在圖1的半導(dǎo)體裝置中 還具備微機(jī)和復(fù)位選擇電路，與圖10的半導(dǎo)體裝置同樣地，能夠利 用復(fù)位選擇電路來(lái)切換Ai:型A/D變換器硬復(fù)位信號(hào)K和AZ型A/D 變換器軟復(fù)位設(shè)定D。
如以上所說(shuō)明，與實(shí)施方式5有關(guān)的半導(dǎo)體裝置能夠利用復(fù)位選 擇電路113來(lái)切換Ai:型A/D變換器硬復(fù)位信號(hào)K和Ai:型A/D變換器軟復(fù)位設(shè)定D，由此，根據(jù)半導(dǎo)體裝置的使用條件來(lái)選擇由振蕩檢 測(cè)電路112復(fù)位AZ型A/D變換器100的情況、和由微機(jī)101復(fù)位AS 型A/D變換器100的情況，來(lái)復(fù)位AZ型A/D變換器100的內(nèi)部狀態(tài)， 從而具有如下效果能夠恰當(dāng)?shù)貜?fù)原AS型A/D變換器100的振蕩狀 態(tài)。
另外，根據(jù)本實(shí)施方式5還有如下故障保險(xiǎn)(failsafe)的效果 在振蕩檢測(cè)電路112內(nèi)的復(fù)位生成電路203或者來(lái)自微機(jī)的AZ型 A/D變換器軟復(fù)位命令中的某個(gè)不能正常地動(dòng)作的情況下，能夠選擇 正常動(dòng)作的復(fù)位。
此外，在本實(shí)施方式5中，說(shuō)明了作為檢測(cè)Ai:型A/D變換器 100的振蕩狀態(tài)的振蕩檢測(cè)電路而使用與實(shí)施方式1相同的振蕩檢測(cè) 電路112的情況，但是與實(shí)施方式2同樣地使用在等待到AZ型A/D
狀態(tài)的振蕩檢測(cè)電路1112的情況下，或者與實(shí)施方式3同樣地使用 在振蕩檢測(cè)連續(xù)次數(shù)大于等于振蕩檢測(cè)連續(xù)設(shè)定次數(shù)的情況下判斷 為處于振蕩狀態(tài)的振蕩檢測(cè)電路2112的情況下，也能夠得到相同的 效果。
(實(shí)施方式6)
圖11是表示與本發(fā)明的實(shí)施方式6有關(guān)的半導(dǎo)體系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)的 框圖。圖11中的1 14與圖1中的1 14相同，因此省略說(shuō)明。與實(shí) 施方式6有關(guān)的半導(dǎo)體系統(tǒng)在圖1所示的與實(shí)施方式l有關(guān)的半導(dǎo)體 裝置上進(jìn)一步具備信號(hào)處理電路16。
在圖11中，16是對(duì)AZ型調(diào)制器13輸出的數(shù)據(jù)信號(hào)進(jìn)行信號(hào)處 理的信號(hào)處理電路。當(dāng)由振蕩判定電路7判定為Ai:型調(diào)制器13處于 振蕩狀態(tài)時(shí)，通過(guò)由上述信號(hào)處理電路16進(jìn)行漸隱(fade out)處理， 減小因Ai;型調(diào)制器13被復(fù)位而造成的數(shù)據(jù)不連續(xù)帶給后級(jí)信號(hào)處 理的影響。另外,振蕩收斂后，信號(hào)處理電路16通過(guò)進(jìn)行漸現(xiàn)(fade in)處理，減小因Ai:型調(diào)制器13被復(fù)位而造成的數(shù)據(jù)不連續(xù)帶給后 級(jí)信號(hào)處理的影響。此外，當(dāng)由振蕩判定電路7判定為az型調(diào)制器13振蕩時(shí)，也 可以在上述信號(hào)處理電路16中進(jìn)行關(guān)閉向外部的數(shù)據(jù)輸出的處理， 減小因Ai:型調(diào)制器13被復(fù)位而造成的數(shù)據(jù)不連續(xù)帶給后級(jí)信號(hào)處 理的影響。
下面詳細(xì)地i兌明結(jié)構(gòu)以及動(dòng)作。
這里，作為本實(shí)施方式6的半導(dǎo)體系統(tǒng)的一個(gè)例子，說(shuō)明圖1 的作為溢出頻率算出電路5使用計(jì)數(shù)電路、作為振蕩判定電路7使用 比較電路、作為振蕩停止電路8使用復(fù)位生成電路、作為Ai;型調(diào)制 器13使用AS型A/D變換器的情況。
圖12是表示與本發(fā)明的實(shí)施方式6有關(guān)的半導(dǎo)體系統(tǒng)的一個(gè)例 子的結(jié)構(gòu)的框圖。
本實(shí)施方式6的半導(dǎo)體系統(tǒng)由半導(dǎo)體裝置和對(duì)Ai:型A/D變換器 100輸出的數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)信號(hào)B進(jìn)行信號(hào)處理的信號(hào)處理電路114構(gòu)成， 其中該半導(dǎo)體裝置包括as型A/D變換器100，其將輸入模擬數(shù)據(jù) 信號(hào)A變換為數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)信號(hào)B;振蕩檢測(cè)電路112,其通過(guò)對(duì)檢測(cè)AS 型A/D變換器100輸出的溢出檢測(cè)信號(hào)C的次數(shù)進(jìn)行計(jì)數(shù)，來(lái)檢測(cè)AS 型A/D變換器100的振蕩狀態(tài)；以及微機(jī)101,其確認(rèn)從振蕩檢測(cè)電 路112輸出的振蕩檢測(cè)監(jiān)視信號(hào)G。
本實(shí)施方式6的AS型A/D變換器100和微機(jī)101與以往的半導(dǎo) 體裝置中的相同。另外，本實(shí)施方式6的振蕩檢測(cè)電路112與實(shí)施方 式1中的相同。與實(shí)施方式1不同之處在于，除了將振蕩檢測(cè)電路112 輸出的AS型A/D變換器硬復(fù)位信號(hào)K輸入到AZ型A/D變換器100 之外，還輸入到信號(hào)處理電路114中。此外，本實(shí)施方式6的振蕩檢 測(cè)電路與實(shí)施方式l中的相同，但是也可以使用與實(shí)施方式2至5相 同的振蕩檢測(cè)電路。
接著說(shuō)明動(dòng)作。此外，對(duì)于與實(shí)施方式1相同的動(dòng)作省略其說(shuō)明。
圖13是圖12所示的與本發(fā)明的實(shí)施方式6有關(guān)的半導(dǎo)體系統(tǒng)中 的ai:型a/D變換器的振蕩狀態(tài)和信號(hào)處理的時(shí)序圖。
與本發(fā)明的實(shí)施方式6有關(guān)的半導(dǎo)體系統(tǒng)如實(shí)施方式1所示，在通過(guò)振蕩檢測(cè)電路112，在振蕩檢測(cè)周期設(shè)定E的期間內(nèi)的溢出檢測(cè) 次數(shù)大于等于振蕩閾值設(shè)定F的情況下，判斷Ai:型A/D變換器100 處于振蕩狀態(tài)，檢測(cè)AS型A/D變換器100的振蕩狀態(tài)，將AS型A/D 變換器硬復(fù)位信號(hào)K輸入到Ai:型A/D變換器100和信號(hào)處理電路 114。
當(dāng)AZ型A/D變換器100根據(jù)AS型A/D變換器硬復(fù)位信號(hào)K 而被復(fù)位時(shí)，如圖13所示，在從AZ型A/D變換器100輸出的數(shù)字 數(shù)據(jù)信號(hào)B中發(fā)生數(shù)據(jù)的不連續(xù)。這里，從AS型A/D變換器100向 信號(hào)處理電路114輸入數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)信號(hào)B，當(dāng)數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)信號(hào)B被處理時(shí)， 通常在信號(hào)處理電路114內(nèi)產(chǎn)生信號(hào)處理延遲。
在信號(hào)處理電路114未進(jìn)行漸隱處理的情況下，如果AZ型A/D 變換器100變成振蕩狀態(tài)(定時(shí)T701)，則在信號(hào)處理電路114中 的延遲了與信號(hào)處理延遲相應(yīng)量的定時(shí)T702中，信號(hào)處理電路114 的輸出Q中發(fā)生因AS型A/D變換器被復(fù)位而造成的數(shù)據(jù)的不連續(xù)。 為了防止該數(shù)據(jù)的不連續(xù)，在信號(hào)處理電路114中確認(rèn)AS型A/D變 換器硬復(fù)位信號(hào)K,如果確認(rèn)AZ型A/D變換器100被復(fù)位(定時(shí) T701),則信號(hào)處理電路114進(jìn)行漸隱處理，直到發(fā)生數(shù)據(jù)的不連續(xù) 的定時(shí)T702為止逐漸地對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)4亍靜噪(mute)。
此時(shí)，利用圖13的定時(shí)T701至T702之間的信號(hào)處理延遲的期 間，在信號(hào)處理電路114中對(duì)數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)信號(hào)B的數(shù)據(jù)進(jìn)行漸隱處理并 進(jìn)行輸出Q，，從而減小因AS型A/D變換器100的復(fù)位而所致的數(shù)據(jù) 不連續(xù)對(duì)外部的影響，能夠減小因數(shù)據(jù)不連續(xù)而造成的不協(xié)調(diào)感。
如上所述，與實(shí)施方式6有關(guān)的半導(dǎo)體系統(tǒng)具備信號(hào)處理電路 114，該信號(hào)處理電路114確認(rèn)從半導(dǎo)體裝置內(nèi)的振蕩檢測(cè)電路112 輸入的Ai:型A/D變換器硬復(fù)位信號(hào)K，如果確認(rèn)AS型A/D變換器 IOO被復(fù)位，則進(jìn)行數(shù)據(jù)的漸隱處理，因此，與實(shí)施方式l同樣地， 只在振蕩狀態(tài)持續(xù)的情況下將Ai:型A/D變換器的內(nèi)部狀態(tài)進(jìn)行復(fù) 位，能夠從振蕩狀態(tài)恰當(dāng)?shù)貜?fù)原到能夠正常動(dòng)作的狀態(tài)，另外微機(jī)也 可以不用頻繁地確認(rèn)Ai;型A/D變換器的振蕩狀態(tài)來(lái)復(fù)位Ai:型A/D
48變換器的內(nèi)部狀態(tài)，從而具有能夠減輕微機(jī)負(fù)擔(dān)的效果。
另夕卜，根據(jù)本實(shí)施方式6，從半導(dǎo)體裝置內(nèi)的振蕩檢測(cè)電路向信 號(hào)處理電路輸入硬復(fù)位信號(hào)，因此假定通過(guò)AZ型A/d變換器被復(fù)位 而產(chǎn)生的數(shù)據(jù)的不連續(xù)，在as型A/d變換器100的后級(jí)的信號(hào)處理 電路中，在向外部輸出不連續(xù)的數(shù)據(jù)之前進(jìn)行漸隱處理，從而具有能 夠減小對(duì)外部的影響的效果。
此外，在本實(shí)施方式6中，記載了使用如實(shí)施方式1那樣在一定 期間內(nèi)的溢出檢測(cè)次數(shù)大于等于閾值的情況下判斷為處于振蕩狀態(tài)
的振蕩檢測(cè)方法的情況，但是在使用如實(shí)施方式2那樣等待到Ai:型
A/d變換器穩(wěn)定為止后的溢出檢測(cè)次數(shù)大于等于閾值的情況下判斷為 處于振蕩狀態(tài)的振蕩檢測(cè)方法、如實(shí)施方式3那樣在振蕩檢測(cè)連續(xù)次 數(shù)大于等于振蕩檢測(cè)連續(xù)設(shè)定次數(shù)的情況下判斷為處于振蕩狀態(tài)的 振蕩檢測(cè)方法的情況下，也假定通過(guò)az型A/d變換器被復(fù)位而產(chǎn)生 的數(shù)據(jù)的不連續(xù)，在Ai:型A/d變換器的后級(jí)的信號(hào)處理電路中，在 向外部輸出不連續(xù)的數(shù)據(jù)之前進(jìn)行漸隱處理，從而具有能夠減小對(duì)外 部的影響的效果。
另夕卜，在使用如實(shí)施方式4那樣檢測(cè)AS型A/d變換器的振蕩狀 態(tài)并通過(guò)來(lái)自微機(jī)的Ai:型A/d變換器軟復(fù)位設(shè)定來(lái)復(fù)位Ai:型A/d 變換器的振蕩檢測(cè)方法、以及如實(shí)施方式5那樣檢測(cè)Ai:型A/d變換 器的振蕩狀態(tài)并通過(guò)將來(lái)自振蕩檢測(cè)電路的硬復(fù)位信號(hào)與來(lái)自微機(jī) 的AZ型A/d變換器軟復(fù)位設(shè)定進(jìn)行切換而輸出的Ai:型A/d變換器 復(fù)位信號(hào)來(lái)復(fù)位Ai:型A/d變換器的振蕩檢測(cè)方法的情況下，也假定
通過(guò)Ai:型a/d變換器被復(fù)位而產(chǎn)生的數(shù)據(jù)的不連續(xù)，在ai:型A/d
變換器的后級(jí)的信號(hào)處理電路中，在向外部輸出不連續(xù)的數(shù)據(jù)之前進(jìn) 行漸隱處理，從而具有能夠減小對(duì)外部的影響的效果。
另外，根據(jù)本實(shí)施方式6，在振蕩收斂后由信號(hào)處理電路16對(duì) AS型調(diào)制器的輸出信號(hào)進(jìn)行漸現(xiàn)處理，從而具有如下效果減小因 AZ型調(diào)制器13被復(fù)位而造成的數(shù)據(jù)的不連續(xù)帶給后級(jí)的信號(hào)處理 的影響。(實(shí)施方式7)
圖14是表示與本發(fā)明的實(shí)施方式7有關(guān)的半導(dǎo)體系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)的 框圖。圖14中的1~14與圖1中的1 14相同，因此省略說(shuō)明。與實(shí) 施方式7有關(guān)的半導(dǎo)體系統(tǒng)，在圖l所示的與實(shí)施方式l有關(guān)的半導(dǎo) 體裝置上進(jìn)一步具備輸入振幅限制電路17。
在圖14中，17是使得Ai:型調(diào)制器13不發(fā)生振蕩地調(diào)整輸入振 幅后將輸入數(shù)據(jù)信號(hào)輸出到AZ型調(diào)制器13的輸入振幅限制電路。當(dāng) 由振蕩判定電路7判定為AS型調(diào)制器13處于振蕩狀態(tài)時(shí)，上述輸入 振幅限制電路17減小輸入振幅而輸出數(shù)據(jù)。AS型調(diào)制器13發(fā)生了 振蕩時(shí)，有時(shí)成為輸入信號(hào)容易較大地進(jìn)行振蕩的狀態(tài)，因此通過(guò)減 小輸入振幅，在振蕩收斂后，防止Ai:型調(diào)制器13再次立即振蕩。
下面詳細(xì)地il明結(jié)構(gòu)以及動(dòng)作。
這里，作為本實(shí)施方式7的半導(dǎo)體系統(tǒng)的一個(gè)例子，說(shuō)明圖1 的作為溢出頻率算出電路5使用計(jì)數(shù)電路，作為振蕩判定電路7使用 比較電路，作為振蕩停止電路8使用復(fù)位生成電路，作為AS型調(diào)制 器13使用A2型A/D變換器的情況。
圖15是表示與本發(fā)明的實(shí)施方式7有關(guān)的半導(dǎo)體系統(tǒng)的一個(gè)例 子的結(jié)構(gòu)的框圖。
本實(shí)施方式7的半導(dǎo)體系統(tǒng)由半導(dǎo)體裝置和使得AE型A/D變換 器100不發(fā)生振蕩地調(diào)整輸入振幅后將輸入模擬數(shù)據(jù)信號(hào)A輸出到 Ai:型A/D變換器100的輸入振幅限制電路115構(gòu)成，其中，上述半 導(dǎo)體裝置包括AS型A/D變換器100,其將輸入模擬數(shù)據(jù)信號(hào)A變 換為數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)信號(hào)B;振蕩檢測(cè)電路112,其通過(guò)對(duì)檢測(cè)Ai:型A/D 變換器IOO輸出的溢出檢測(cè)信號(hào)C的次數(shù)進(jìn)行計(jì)數(shù)，檢測(cè)AS型A/D 變換器100的振蕩狀態(tài)；以及微機(jī)IOI，其確認(rèn)從振蕩檢測(cè)電路112 輸出的振蕩檢測(cè)監(jiān)視信號(hào)G，向輸入振幅限制電路115發(fā)行AZ型A/D 變換器振蕩確認(rèn)命令P。
本實(shí)施方式7的AS型A/D變換器100和微機(jī)101與以往的半導(dǎo) 體裝置中的相同。另外，振蕩檢測(cè)電路112與實(shí)施方式1中的相同。與實(shí)施方式1的不同之處在于，從微機(jī)101向輸入振幅限制電路115 發(fā)送AS型A/D變換器.的振蕩確認(rèn)命令P,通過(guò)輸入振幅限制電路115 調(diào)整輸入振幅，將輸入模擬數(shù)據(jù)A輸入到Ai:型A/D變換器100。此 外，在本實(shí)施方式7中，振蕩檢測(cè)電路與實(shí)施方式1中的相同，但是 也可以使用與實(shí)施方式2至5相同的振蕩檢測(cè)電路。
接著說(shuō)明動(dòng)作。此外，對(duì)于與實(shí)施方式1相同的動(dòng)作省略其說(shuō)明。 與本發(fā)明的實(shí)施方式7有關(guān)的半導(dǎo)體系統(tǒng)如實(shí)施方式1所示，通 過(guò)振蕩檢測(cè)電路112，在振蕩檢測(cè)周期設(shè)定E的期間內(nèi)的溢出檢測(cè)次 數(shù)大于等于振蕩閾值設(shè)定F的情況下，判斷為Ai:型A/D變換器100 處于振蕩狀態(tài)，檢測(cè)AZ型A/D變換器100的振蕩狀態(tài)。微機(jī)101確 認(rèn)來(lái)自振蕩檢測(cè)電路112內(nèi)的比較電路202的振蕩檢測(cè)監(jiān)視信號(hào)G， 在Ai;型A/D變換器IOO處于振蕩狀態(tài)的情況下，向輸入振幅限制電 路115發(fā)送Ai:型A/D變換器的振蕩確認(rèn)命令P，告知Ai;型A/D變 換器100的振蕩狀態(tài)。輸入振幅限制電路115在AS型A/D變換器100 振蕩的情況下，判斷為輸入模擬數(shù)據(jù)A超過(guò)AZ型A/D變換器100的 允許范圍，減小增益并將輸入模擬數(shù)據(jù)A輸出到Ai:型A/D變換器 100，從而在AZ型A/D變換器100的允許范圍內(nèi)，使AZ型A/D變換 器IOO難以振蕩。
如上所述，在與實(shí)施方式7有關(guān)的半導(dǎo)體系統(tǒng)中，半導(dǎo)體裝置內(nèi) 的微機(jī)101確認(rèn)振蕩檢測(cè)監(jiān)視信號(hào)G，在表示AS型A/D變換器100 處于振蕩狀態(tài)的情況下，從微機(jī)101向輸入振幅限制電路115發(fā)送厶i: 型A/D變換器的振蕩確認(rèn)命令P,上述輸入振幅限制電路115在上述 AS型A/D變換器100處于振蕩狀態(tài)的情況下，減小數(shù)據(jù)的輸入振幅 而輸出數(shù)據(jù)，因此與實(shí)施方式l同樣地，只在振蕩狀態(tài)持續(xù)的情況下 將Ai;型A/D變換器的內(nèi)部狀態(tài)進(jìn)行復(fù)位，能夠從振蕩狀態(tài)恰當(dāng)?shù)貜?fù)
原到能夠進(jìn)行正常動(dòng)作的狀態(tài)，另外微機(jī)也可以不用頻繁地確認(rèn)Ai:
型A/D變換器的振蕩狀態(tài)來(lái)復(fù)位AS型A/D變換器的內(nèi)部狀態(tài)，具有 能夠減輕微機(jī)的負(fù)擔(dān)的效果。
另外，根據(jù)本實(shí)施方式7能夠?qū)崿F(xiàn)如下系統(tǒng)通過(guò)在檢測(cè)到AZ
51型A/D變換器的振蕩的情況下減小AZ型A/D變換器的輸入增益，使 AS型A/D變換器難以振蕩。
此外，在本實(shí)施方式7中，記載了使用如實(shí)施方式1那樣在一定
的振蕩檢測(cè)方法的情況，但是在使用如實(shí)施方式2那樣等待到Ai:型
A/D變換器穩(wěn)定為止后的溢出檢測(cè)次數(shù)大于等于闊值的情況下判斷為 處于振蕩狀態(tài)的振蕩檢測(cè)方法、如實(shí)施方式3那樣在振蕩檢測(cè)連續(xù)次 數(shù)大于等于振蕩檢測(cè)連續(xù)設(shè)定次數(shù)的情況下判斷為處于振蕩狀態(tài)的 振蕩檢測(cè)方法，來(lái)檢測(cè)出Ai:型A/D變換器的振蕩的情況下，能夠?qū)?現(xiàn)通過(guò)由輸入振幅限制電路減小Ai:型A/D變換器的輸入增益從而使 AZ型A/D變換器難以振蕩的系統(tǒng)。
另夕卜，在使用如實(shí)施方式4那樣檢測(cè)AS型A/D變換器的振蕩狀 態(tài)并通過(guò)來(lái)自微機(jī)的Ai;型A/D變換器軟復(fù)位設(shè)定來(lái)復(fù)位Ai:型A/D 變換器的振蕩檢測(cè)方法、以及如實(shí)施方式5那樣檢測(cè)Ai;型A/D變換 器的振蕩狀態(tài)并通過(guò)將來(lái)自振蕩檢測(cè)電路的硬復(fù)位信號(hào)與來(lái)自微機(jī) 的Ai:型A/D變換器軟復(fù)位設(shè)定進(jìn)行切換而輸出的AS型A/D變換器 復(fù)位信號(hào)來(lái)復(fù)位Ai;型A/D變換器的振蕩檢測(cè)方法，來(lái)檢測(cè)出Ai:型 A/D變換器的振蕩的情況下，能夠?qū)崿F(xiàn)通過(guò)由輸入振幅限制電路減小 AZ型A/D變換器的輸入增益從而使AS型A/D變換器難以振蕩的系 統(tǒng)。
(實(shí)施方式8 )
圖16是表示與本發(fā)明的實(shí)施方式8有關(guān)的半導(dǎo)體系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)的 框圖。這里，圖16中的1~6、 9 14與圖1中的1 6、 9 14相同，圖 16中的17與圖14中的17相同，因此省略說(shuō)明。與實(shí)施方式8有關(guān) 的半導(dǎo)體系統(tǒng)在圖l所示的與實(shí)施方式l有關(guān)的半導(dǎo)體裝置上進(jìn)一步 具備輸入振幅限制電路17，另外代替圖1的振蕩判定電路7以及振蕩 停止電路8而具備即將振蕩判定電路18。
在圖16中，18是比較溢出頻率值與基準(zhǔn)值來(lái)判定Ai:型調(diào)制器 13是否處于即將振蕩狀態(tài)的即將振蕩判定電路。
52這里，在溢出檢測(cè)電路5中，當(dāng)比較輸入信號(hào)與基準(zhǔn)值時(shí)，將溢 出檢測(cè)電路5內(nèi)的基準(zhǔn)值變更為與通常的振蕩檢測(cè)時(shí)的基準(zhǔn)值相比， 處于振蕩沒(méi)被檢測(cè)時(shí)的基準(zhǔn)值的范圍內(nèi)。由此，即使是在AS型調(diào)制 器13進(jìn)行振蕩之前，在將要進(jìn)行振蕩時(shí)，溢出檢測(cè)電路5將溢出檢 測(cè)信號(hào)輸出到溢出頻率算出電路6，通過(guò)即將振蕩判定電路18比較溢 出頻率值與基準(zhǔn)值，判斷為即將振蕩。當(dāng)由即將振蕩判定電路18判 斷為即將振蕩時(shí)，即將振蕩判定信號(hào)從即將振蕩判定電路18輸出到 輸入振幅限制電路17,由輸入振幅限制電路17減小模擬輸入信號(hào)的 輸入振幅，能夠避免AZ型調(diào)制器13的振蕩。
當(dāng)檢測(cè)即將振蕩時(shí)，可以如上所述在溢出檢測(cè)電路5中變更與模 擬輸入信號(hào)進(jìn)行比較的基準(zhǔn)值，但是也可以不變更溢出檢測(cè)電路5內(nèi) 的基準(zhǔn)值而降低在即將振蕩判定電路18中判定振蕩的基準(zhǔn)值來(lái)檢測(cè) 即將振蕩。當(dāng)AS型調(diào)制器13開(kāi)始振蕩時(shí)，來(lái)自溢出頻率算出電路6 的溢出頻率值的輸出少，溢出頻率值的輸出逐漸地變多，但是例如通 過(guò)將即將振蕩判定電路18的基準(zhǔn)值從50次變更為30次，從而即使 是在Ai:型調(diào)制器13進(jìn)行振蕩之前，在將要進(jìn)行振蕩時(shí)，能夠由即將 振蕩判定電路18判定為是即將振蕩。
此外，例如也可以進(jìn)一步具備微機(jī)，通過(guò)來(lái)自微機(jī)的指示來(lái)變更 即將振蕩判定電路18的基準(zhǔn)值、以及溢出檢測(cè)電路5的基準(zhǔn)值。
如上所述，與實(shí)施方式8有關(guān)的半導(dǎo)體系統(tǒng)具備根據(jù)溢出頻率值 來(lái)判定Ai:型調(diào)制器13是否處于即將振蕩狀態(tài)的即將振蕩判定電路 18，將上述溢出檢測(cè)電路5的規(guī)定值變更為振蕩沒(méi)被檢測(cè)時(shí)的基準(zhǔn)值 范圍內(nèi)的值，根據(jù)由上述溢出檢測(cè)電路5比較Ai:型調(diào)制器13的積分 器的輸出與上述變更后的規(guī)定值而輸出的溢出檢測(cè)信號(hào)，通過(guò)上述溢 出頻率算出電路6計(jì)算溢出頻率值，并通過(guò)上述即將振蕩判定電路18
檢測(cè)AS型調(diào)制器13的即將振蕩的狀態(tài)，因此相對(duì)于在Ai:型調(diào)制器
振蕩之后進(jìn)行了限制輸入的情況下需要復(fù)位的情形，具有如下效果
當(dāng)判定為A2型調(diào)制器處于即將振蕩的狀態(tài)時(shí)，通過(guò)進(jìn)行Ai:型調(diào)制 器的輸入限制來(lái)避免振蕩，從而不需要進(jìn)行復(fù)位。另外，通過(guò)檢測(cè)Ai:型調(diào)制器處于即將振蕩狀態(tài)來(lái)避免Ai:型調(diào)制器的振蕩，從而能夠避 免振蕩狀態(tài)的不快感、例如在收音機(jī)的情況下的噪音。
(實(shí)施方式9)
圖17是表示與本發(fā)明的實(shí)施方式9有關(guān)的半導(dǎo)體系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)的 框圖。這里，圖17中的1~6、 9~14與圖1中的1~6、 9~14相同，圖 17中的16與圖11中的16相同，圖17中的18與圖16中的18相同， 因此省略說(shuō)明。與實(shí)施方式9有關(guān)的半導(dǎo)體系統(tǒng)在圖1所示的與實(shí)施 方式l有關(guān)的半導(dǎo)體裝置上進(jìn)一步具備信號(hào)處理電路16，另外代替圖
':圖17中，當(dāng)由即將k蕩判定電路18判定為是^將振蕩時(shí)，即 將振蕩判定信號(hào)被輸出到信號(hào)處理電路16以及輸入振幅限制電路18。 在溢出檢測(cè)電路5中，當(dāng)比較模擬輸入信號(hào)與基準(zhǔn)值時(shí)，將溢出 檢測(cè)電路5內(nèi)的基準(zhǔn)值變更為與通常的振蕩檢測(cè)時(shí)的基準(zhǔn)值相比，處 于振蕩沒(méi)被檢測(cè)時(shí)的基準(zhǔn)值的范圍內(nèi)。由此，即使是在AS型調(diào)制器 13進(jìn)行振蕩之前，在將要進(jìn)行振蕩時(shí)，溢出檢測(cè)電路5將溢出檢測(cè)信 號(hào)輸出到溢出頻率算出電路6，通過(guò)即將振蕩判定電路18比較溢出頻 率值與基準(zhǔn)值，判斷為即將振蕩。當(dāng)由即將振蕩判定電路18判斷為 即將振蕩時(shí)，即將振蕩判定信號(hào)從即將振蕩判定電路18輸出到信號(hào) 處理電路16，由信號(hào)處理電路16對(duì)Ai:型調(diào)制器13的輸出信號(hào)進(jìn)行 漸隱處理，從而能夠減小因Ai:型調(diào)制器13進(jìn)行振蕩而造成的數(shù)據(jù)的 不連續(xù)帶給后級(jí)的信號(hào)處理的影響。
當(dāng)檢測(cè)即將振蕩時(shí)，也可以如上所述在溢出檢測(cè)電路5中變更與 輸入信號(hào)進(jìn)行比較的基準(zhǔn)值，但是也可以不變更溢出檢測(cè)電路5內(nèi)的 基準(zhǔn)值，而降低在即將振蕩判定電路18中判定振蕩的基準(zhǔn)值來(lái)檢測(cè) 即將振蕩。
此外，在圖17的半導(dǎo)體系統(tǒng)中也可以進(jìn)一步具備振蕩停止電路 8，當(dāng)來(lái)自即將振蕩判定電路18的即將振蕩判定信號(hào)被輸出到振蕩停 止電路8時(shí)，抑制AS型調(diào)制器13的即將振蕩的狀態(tài)。
另外，例如也可以在圖17的半導(dǎo)體系統(tǒng)中進(jìn)一步具備微機(jī)，根據(jù)來(lái)自微機(jī)的指示，來(lái)變更即將振蕩判定電路18的基準(zhǔn)值、以及溢 出檢測(cè)電路5的基準(zhǔn)值。
如上所述，與實(shí)施方式9有關(guān)的半導(dǎo)體系統(tǒng)具備根據(jù)溢出頻率值 來(lái)判定Ai:型調(diào)制器13是否處于即將振蕩狀態(tài)的即將振蕩判定電路 18，將上述溢出檢測(cè)電路5的規(guī)定值變更為振蕩沒(méi)被檢測(cè)時(shí)的基準(zhǔn)值 的范圍內(nèi)的值，根據(jù)由上述溢出檢測(cè)電路5比較AZ型調(diào)制器13的積 分器的輸出與上述變更后的規(guī)定值而輸出的溢出檢測(cè)信號(hào)，通過(guò)上述 溢出頻率算出電路6計(jì)算溢出頻率值，通過(guò)上述即將振蕩判定電路18 檢測(cè)Ai;型調(diào)制器13的即將振蕩的狀態(tài)，在判定為是即將振蕩的狀態(tài) 的情況下，通過(guò)信號(hào)處理電路16對(duì)AS型調(diào)制器13的輸出進(jìn)行漸隱 處理，因此，與實(shí)施方式6的效果同樣地，具有能夠減小振蕩對(duì)后級(jí)
的信號(hào)處理的影響的效果。另外，在該實(shí)施方式9中檢測(cè)Ai:型調(diào)制
器13的即將振蕩的狀態(tài)，因此與檢測(cè)出振蕩之后進(jìn)行漸隱處理的情 況相比，具有如下效果即使在信號(hào)處理電路16內(nèi)的信號(hào)處理延遲 小的情況下，也能夠減小振蕩對(duì)后級(jí)的信號(hào)處理的影響。 (實(shí)施方式10)
圖18是表示與本發(fā)明的實(shí)施方式10有關(guān)的半導(dǎo)體裝置的結(jié)構(gòu)的 框圖。這里，圖18中的1 4、 6~14與圖1中的1~4、 6~14相同，因 此省略說(shuō)明。與實(shí)施方式IO有關(guān)的半導(dǎo)體系統(tǒng)將圖1所示的與實(shí)施 方式l有關(guān)的半導(dǎo)體裝置的量化電路9的輸出，輸入到溢出檢測(cè)電路
在圖18中，當(dāng)量化電路9是多位時(shí)，溢出檢測(cè)電路5通過(guò)將量 化電路9的輸出與規(guī)定值進(jìn)行比較，在量化電路9的輸出超過(guò)規(guī)定值 的情況下，輸出表示溢出狀態(tài)的狀態(tài)而作為溢出檢測(cè)信號(hào)。例如，在 量化電路9由3位的比較器構(gòu)成的情況下，量化電路9的數(shù)字輸出是 0~7，在將溢出檢測(cè)電路5內(nèi)的基準(zhǔn)值設(shè)為6時(shí)，溢出檢測(cè)電路5將 量化電路9的數(shù)字輸出是6以上的情況作為溢出來(lái)進(jìn)行檢測(cè)。
在實(shí)施方式1的圖1所示的半導(dǎo)體裝置中，溢出檢測(cè)電路5通過(guò) 將Ai:型調(diào)制器13的積分器2 4的輸出的模擬信號(hào)的電壓與基準(zhǔn)值進(jìn)行比較，進(jìn)行溢出檢測(cè)，但是在實(shí)施方式10的圖18所示的半導(dǎo)體裝 置中，將量化電路9的輸出的數(shù)字信號(hào)與基準(zhǔn)值進(jìn)行比較，在實(shí)施方 式10中，利用量化電路9的輸出來(lái)判斷溢出狀態(tài)，從而能夠簡(jiǎn)化溢 出檢測(cè)電路5的結(jié)構(gòu)。
如上所述，在與實(shí)施方式IO有關(guān)的半導(dǎo)體裝置中，當(dāng)AZ型調(diào)
制器13的輸出信號(hào)是多位時(shí)，溢出檢測(cè)電路5將上述Ai:型調(diào)制器
13的量化電路9的輸出信號(hào)與規(guī)定值進(jìn)行比較，輸出溢出檢測(cè)信號(hào)， 因此具有如下效果能夠削減溢出檢測(cè)電路5的面積、功耗，另外能 夠節(jié)省設(shè)計(jì)溢出檢測(cè)電路5時(shí)的工作量。 產(chǎn)業(yè)上的可利用性
與本發(fā)明有關(guān)的半導(dǎo)體裝置以及半導(dǎo)體系統(tǒng)能夠應(yīng)用于對(duì)收音 機(jī)接收進(jìn)行數(shù)字處理的無(wú)線(xiàn)接收裝置等中。
權(quán)利要求
1. 一種半導(dǎo)體裝置，其特征在于，具備Δ∑型調(diào)制器，其具有將積分器的輸出信號(hào)進(jìn)行量化的量化器；溢出檢測(cè)電路，其將Δ∑型調(diào)制器的至少任一處的積分器的輸出與規(guī)定值進(jìn)行比較，輸出溢出檢測(cè)信號(hào)；溢出頻率算出電路，其根據(jù)上述溢出檢測(cè)信號(hào)，算出上述積分器的輸出為正常范圍外的頻率即溢出頻率值，并輸出該溢出頻率值；振蕩判定電路，其根據(jù)上述溢出頻率值，判定上述Δ∑型調(diào)制器是否處于振蕩狀態(tài)；以及振蕩停止電路，其在由上述振蕩判定電路判定為上述Δ∑型調(diào)制器處于振蕩狀態(tài)的情況下，使上述Δ∑型調(diào)制器的振蕩收斂。
2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體裝置，其特征在于， 當(dāng)上述AS型調(diào)制器的輸出信號(hào)是多位時(shí)，上述溢出檢測(cè)電路將上述AZ型調(diào)制器的量化器的輸出信號(hào)與規(guī)定值進(jìn)行比較，并輸出溢 出檢測(cè)信號(hào)。
3. 根據(jù)權(quán)利要求1或者2所述的半導(dǎo)體裝置，其特征在于， 上述溢出檢測(cè)電路的規(guī)定值是可變的。
4. 根據(jù)權(quán)利要求l所述的半導(dǎo)體裝置，其特征在于， 上述溢出頻率算出電路對(duì)溢出檢測(cè)信號(hào)進(jìn)行積分，并輸出溢出頻率值。
5. 根據(jù)權(quán)利要求1或者4所述的半導(dǎo)體裝置，其特征在于， 上述溢出頻率算出電路對(duì)一定期間內(nèi)的檢測(cè)溢出檢測(cè)信號(hào)的次數(shù)進(jìn)行計(jì)數(shù)，并將計(jì)數(shù)值作為溢出頻率值而輸出。
6. 根據(jù)權(quán)利要求1或者4所述的半導(dǎo)體裝置，其特征在于， 上述振蕩判定電路比較上述溢出頻率值與閾值，在溢出頻率值大于等于閾值的情況所連續(xù)的次數(shù)成為規(guī)定次數(shù)以上的情況下，判定為上述AS型調(diào)制器處于振蕩狀態(tài)。
7. 根據(jù)權(quán)利要求1或者4所述的半導(dǎo)體裝置，其特征在于，算出溢出頻率值的期間以及上述振蕩判定電路的閾值是可變的。
8. 根據(jù)權(quán)利要求l所述的半導(dǎo)體裝置，其特征在于， 上述溢出頻率算出電路是低通濾波器。
9. 根據(jù)權(quán)利要求l所述的半導(dǎo)體裝置，其特征在于， 上述振蕩判定電路是將上述溢出頻率值與預(yù)先確定的值進(jìn)行比較的比較器。
10. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體裝置，其特征在于， 上述振蕩停止電路是軟件。
11. 根據(jù)權(quán)利要求l所述的半導(dǎo)體裝置，其特征在于， 上述振蕩停止電路是硬件。
12. 根據(jù)權(quán)利要求l所述的半導(dǎo)體裝置，其特征在于， 上述振蕩停止電路能夠進(jìn)行軟件/硬件的切換。
13. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體裝置，其特征在于， 上述振蕩停止電路將A Z型調(diào)制器的積分器進(jìn)行初始化。
14. 根據(jù)權(quán)利要求l所述的半導(dǎo)體裝置，其特征在于， 上述振蕩停止電路變更AS型調(diào)制器的積分器的乘數(shù)。
15. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體裝置，其特征在于， 上述振蕩停止電路使AS型調(diào)制器的積分器的輸出范圍變窄。
16. 根據(jù)權(quán)利要求4所述的半導(dǎo)體裝置，其特征在于， 上述振蕩判定電路是將上述溢出頻率值與預(yù)先確定的值進(jìn)行比較的比較器，上述振蕩停止電路將Ai:型調(diào)制器的積分器進(jìn)行初始化。
17. 根據(jù)權(quán)利要求1至16中的任一項(xiàng)所述的半導(dǎo)體裝置，其特 征在于，上述Ai;型調(diào)制器是D/A。
18. 根據(jù)權(quán)利要求1至16中的任一項(xiàng)所述的半導(dǎo)體裝置，其特 征在于，上述AZ型調(diào)制器是A/D。
19. 根據(jù)權(quán)利要求17或者18所述的半導(dǎo)體裝置，其特征在于， 上述溢出檢測(cè)電路在剛起動(dòng)后或者使振蕩收斂后，直到A Z型調(diào)制器變穩(wěn)定為止，不輸出溢出檢測(cè)信號(hào)。
20. 根據(jù)權(quán)利要求17或者18所述的半導(dǎo)體裝置，其特征在于， 上述溢出頻率算出電路在剛起動(dòng)后或者使振蕩收斂后，直到AZ型調(diào)制器變穩(wěn)定為止，不輸出溢出頻率值。
21. 根據(jù)權(quán)利要求17或者18所述的半導(dǎo)體裝置，其特征在于， 上述振蕩判定電路在剛起動(dòng)后或者使振蕩收斂后，直到Ai;型調(diào)制器變穩(wěn)定為止，不判定為△Z型調(diào)制器處于振蕩狀態(tài)。
22. 根據(jù)權(quán)利要求17或者18所述的半導(dǎo)體裝置，其特征在于， 上述振蕩停止電路在剛起動(dòng)后或者使振蕩收斂后，直到Ai:型調(diào)制器變穩(wěn)定為止，不使振蕩收斂。
23. —種半導(dǎo)體泉統(tǒng)，具有權(quán)利要求19 22中的任一項(xiàng)所述的半 導(dǎo)體裝置，該半導(dǎo)體系統(tǒng)的特征在于，還具備對(duì)從上述半導(dǎo)體裝置輸出的數(shù)據(jù)進(jìn)行處理的信號(hào)處理電路，在由上述振蕩判定電路判定為Ai;型調(diào)制器處于振蕩狀態(tài)的情 況下，上述信號(hào)處理電路調(diào)整上述A2:型調(diào)制器的輸出，使該輸出漸 隱或停止。
24. —種半導(dǎo)體系統(tǒng)，具有權(quán)利要求19-22中的任一項(xiàng)所述的半 導(dǎo)體裝置，該半導(dǎo)體系統(tǒng)的特征在于，還具備調(diào)整輸入振幅后將數(shù)據(jù)輸出到上述半導(dǎo)體裝置內(nèi)的AS型調(diào)制器的輸入振幅限制電路，在由上述振蕩判定電路判定為AS型調(diào)制器處于振蕩狀態(tài)的情 況下，上述輸入振幅限制電路調(diào)整上述Ai:型調(diào)制器的輸入振幅。
25. 根據(jù)權(quán)利要求23或者24所述的半導(dǎo)體系統(tǒng)，其特征在于， 具備即將振蕩判定電路，該即將振蕩判定電路根據(jù)溢出頻率值，判定AZ型調(diào)制器是否處于即將振蕩的狀態(tài)，將上述溢出檢測(cè)電路的規(guī)定值變更為振蕩沒(méi)被檢測(cè)時(shí)的基準(zhǔn)值 的范圍內(nèi)的值，根據(jù)通過(guò)上述溢出檢測(cè)電路將Ai:型調(diào)制器的積分器 的輸出與上述變更后的規(guī)定值進(jìn)行比較而輸出的溢出檢測(cè)信號(hào)，由上述溢出頻率算出電路算出溢出頻率值，由上述即將振蕩判定電路檢測(cè)AZ型調(diào)制器的即將振蕩的狀態(tài)。
26. 根據(jù)權(quán)利要求23或者24所述的半導(dǎo)體系統(tǒng)，其特征在于， 具備即將振蕩判定電路，該即將振蕩判定電路根據(jù)溢出頻率值，判定AZ型調(diào)制器是否處于即將振蕩的狀態(tài)，將上述即將振蕩判定電路的判定基準(zhǔn)值變更為振蕩沒(méi)被檢測(cè)時(shí) 的基準(zhǔn)值的范圍內(nèi)的值，由上述即將振蕩判定電路比較溢出頻率值與 上述變更后的判定基準(zhǔn)值，檢測(cè)AZ型調(diào)制器的即將振蕩的狀態(tài)。
27. —種半導(dǎo)體裝置，其特征在于，具備 AS型A/D變換器，其輸出溢出檢測(cè)信號(hào)；以及振蕩檢測(cè)電路，其通過(guò)對(duì)上述溢出檢測(cè)信號(hào)進(jìn)行積分，檢測(cè)上述 AS型A/D變換器的振落狀態(tài)， 上述振蕩檢測(cè)電路具有計(jì)數(shù)電路，其對(duì)在一定期間內(nèi)檢測(cè)上述溢出檢測(cè)信號(hào)的次數(shù)進(jìn)行 計(jì)數(shù)，并輸出計(jì)數(shù)值；比較電路，其比較上述計(jì)數(shù)值與閾值，在一定期間內(nèi)的溢出檢測(cè) 次數(shù)大于等于閾值的情況下判斷為上述Ai:型A/D變換器處于振蕩狀態(tài)，將振蕩檢測(cè)信號(hào)設(shè)為有效而輸出；以及復(fù)位生成電路，其被輸入上述振蕩檢測(cè)信號(hào)，生成將上述AS型A/D變換器進(jìn)行復(fù)位的硬復(fù)位信號(hào)，在上述振蕩檢測(cè)電路檢測(cè)出上述Ai:型A/D變換器處于振蕩狀 態(tài)的情況下，上述振蕩檢測(cè)電路復(fù)位上述Ai:型A/D變換器。
28. —種半導(dǎo)體裝置，其特征在于，具備 AE型A/D變換器，其輸出溢出檢測(cè)信號(hào)；振蕩檢測(cè)電路，其通過(guò)對(duì)上述溢出檢測(cè)信號(hào)進(jìn)行積分，檢測(cè)上述 AS型A/D變換器的振蕩狀態(tài)；以及微型計(jì)算機(jī)，其根據(jù)從上述振蕩檢測(cè)電路輸出的振蕩檢測(cè)監(jiān)視信 號(hào)，發(fā)送復(fù)位上述Ai;型A/D變換器的命令，上述振蕩檢測(cè)電路具有計(jì)數(shù)電路，其對(duì)在一定期間內(nèi)檢測(cè)上述溢出檢測(cè)信號(hào)的次數(shù)進(jìn)行計(jì)數(shù)，并輸出計(jì)數(shù)值；以及比較電路，其比較上述計(jì)數(shù)值與閾值，在一定期間內(nèi)的溢出檢測(cè) 次數(shù)大于等于闊值的情況下判斷為上述Ai:型A/D變換器處于振蕩狀 態(tài)，將保持振蕩檢測(cè)信息的振蕩檢測(cè)監(jiān)視信號(hào)輸出到上述微型計(jì)算 機(jī)，在上述振蕩檢測(cè)電路檢測(cè)出上述AZ型A/D變換器處于振蕩狀 態(tài)的情況下，上述微型計(jì)算機(jī)復(fù)位上述Ai:型A/D變換器。
29. —種半導(dǎo)體裝置，其特征在于，具備 AZ型A/D變換器，其輸出溢出檢測(cè)信號(hào)；振蕩檢測(cè)電路，其通過(guò)對(duì)上述溢出檢測(cè)信號(hào)進(jìn)行積分，檢測(cè)上述 AS型A/D變換器的振落狀態(tài)；微型計(jì)算機(jī)，其根據(jù)從上述振蕩檢測(cè)電路輸出的振蕩檢測(cè)監(jiān)視信 號(hào)，發(fā)送復(fù)位上述AZ型A/D變換器的命令；以及復(fù)位選擇電路，其選擇通過(guò)上述振蕩檢測(cè)電路或者上述微型計(jì)算 機(jī)中的哪個(gè)來(lái)復(fù)位上述AS型A/D變換器，上述振蕩檢測(cè)電路具有計(jì)數(shù)電路，其對(duì)在一定期間內(nèi)檢測(cè)上述溢出檢測(cè)信號(hào)的次數(shù)進(jìn)行 計(jì)數(shù)，并輸出計(jì)數(shù)值；比較電路，其比較上述計(jì)數(shù)值與閾值，在一定期間內(nèi)的溢出檢測(cè) 次數(shù)大于等于閾值的情況下判斷為上述Ai:型A/D變換器處于振蕩狀 態(tài)，將振蕩檢測(cè)信號(hào)設(shè)為有效而輸出，以及將保持振蕩檢測(cè)信息的振 蕩檢測(cè)監(jiān)視信號(hào)輸出到上述微型計(jì)算機(jī)；以及復(fù)位生成電路，其被輸入上述振蕩檢測(cè)信號(hào)，輸出復(fù)位上述AS型A/D變換器的硬復(fù)位信號(hào)，在上述振蕩檢測(cè)電路檢測(cè)出上述Ai:型A/D變換器處于振蕩狀態(tài)的情況下，由上述復(fù)位選擇電路根據(jù)從上述微型計(jì)算機(jī)設(shè)定的A Z 型A/D變換器用硬復(fù)位有效設(shè)定，選擇是上述振蕩檢測(cè)電路復(fù)位上述 AZ型A/D變換器、還是上述微型計(jì)算機(jī)復(fù)位上述Ai:型A/D變換器。
30. —種半導(dǎo)體裝置，其特征在于，具備 AS型A/D變換器，其輸出溢出檢測(cè)信號(hào)；以及振蕩檢測(cè)電路，其通過(guò)對(duì)上述溢出檢測(cè)信號(hào)進(jìn)行積分，檢測(cè)上述 AS型A/D變換器的振蕩狀態(tài)， 上述振蕩檢測(cè)電路具有計(jì)數(shù)電路，其對(duì)等待到上述Ai:型A/D變換器穩(wěn)定為止之后的一 定期間內(nèi)檢測(cè)上述溢出檢測(cè)信號(hào)的次數(shù)進(jìn)行計(jì)數(shù)，并輸出計(jì)數(shù)值；以 及比較電路，其比較上述計(jì)數(shù)值與閾值，在等待到上迷ai:型a/D變換器穩(wěn)定為止之后的 一 定期間內(nèi)的溢出檢測(cè)次數(shù)大于等于闊值的 情況下判斷為上述AS型A/D變換器處于振蕩狀態(tài)，將振蕩檢測(cè)信號(hào)設(shè)為有效而輸出；以及復(fù)位生成電路，其被輸入上述振蕩檢測(cè)信號(hào)，生成復(fù)位上述Ai:型A/D變換器的硬復(fù)位信號(hào)，在上述振蕩檢測(cè)電路檢測(cè)出上述Ai:型A/D變換器處于振蕩狀 態(tài)的情況下，上述振蕩檢測(cè)電路復(fù)位上述Ai:型A/D變換器。
31. —種半導(dǎo)體裝置，其特征在于，具備 AS型A/D變換器，其輸出溢出檢測(cè)信號(hào)；振蕩檢測(cè)電路，其通過(guò)對(duì)上述溢出檢測(cè)信號(hào)進(jìn)行積分，檢測(cè)上述 AS型A/D變換器的振蕩狀態(tài)；以及微型計(jì)算機(jī)，其根據(jù)從上述振蕩檢測(cè)電路輸出的振蕩檢測(cè)監(jiān)視信 號(hào)，發(fā)送復(fù)位上述Ai:型A/D變換器的命令，上述振蕩檢測(cè)電路具有計(jì)數(shù)電路，其對(duì)等待到上述AS型A/D變換器穩(wěn)定為止之后的一 定期間內(nèi)檢測(cè)上述溢出檢測(cè)信號(hào)的次數(shù)進(jìn)行計(jì)數(shù)，并輸出計(jì)數(shù)值；以 及比較電路，其比較上述計(jì)數(shù)值與閾值，在等待到上述Ai:型A/D 變換器穩(wěn)定為止之后的 一定期間內(nèi)的溢出檢測(cè)次數(shù)大于等于閾值的 情況下判斷為上述Ai:型A/D變換器處于振蕩狀態(tài)，將保持振蕩檢測(cè)信息的振蕩檢測(cè)監(jiān)視信號(hào)輸出到上述微型計(jì)算機(jī)中，在上述振蕩檢測(cè)電路檢測(cè)出上述Ai:型A/D變換器處于振蕩狀 態(tài)的情況下，上述微型計(jì)算機(jī)復(fù)位上述Ai:型A/D變換器。
32. —種半導(dǎo)體裝置，其特征在于，具備 AZ型A/D變換器，其輸出溢出檢測(cè)信號(hào)；振蕩檢測(cè)電路，其通過(guò)對(duì)上述溢出檢測(cè)信號(hào)進(jìn)行積分，檢測(cè)上述 AS型A/D變換器的振蕩狀態(tài)；微型計(jì)算機(jī)，其根據(jù)從上述振蕩檢測(cè)電路輸出的振蕩檢測(cè)監(jiān)視信 號(hào)，發(fā)送復(fù)位上述AZ型A/D變換器的命令；以及復(fù)位選擇電路，其選擇通過(guò)上述振蕩檢測(cè)電路或者上述微型計(jì)算 機(jī)中的哪個(gè)來(lái)復(fù)位上述az型a/D變換器，上述振蕩檢測(cè)電路具有計(jì)數(shù)電路，其對(duì)等待到上述AZ型A/D變換器穩(wěn)定為止之后的一 定期間內(nèi)檢測(cè)上述溢出檢測(cè)信號(hào)的次數(shù)進(jìn)行計(jì)數(shù)，并輸出計(jì)數(shù)值；比較電路，其比較上述計(jì)數(shù)值與閾值，在等待到上述Ai:型A/D變換器穩(wěn)定為止之后的一定期間內(nèi)的溢出檢測(cè)次數(shù)大于等于閾值的 情況下判斷為上述Ai:型A/D變換器處于振蕩狀態(tài)，將振蕩檢測(cè)信號(hào) 設(shè)為有效而輸出，以及將保持振蕩檢測(cè)信息的振蕩檢測(cè)監(jiān)視信號(hào)輸出 到上述^t型計(jì)算機(jī)；以及復(fù)位生成電路，其被輸入上述振蕩檢測(cè)信號(hào)，輸出復(fù)位上述A]E型A/D變換器的硬復(fù)位信號(hào)，在上述振蕩檢測(cè)電路檢測(cè)出上述Ai:型A/D變換器處于振蕩狀態(tài)的情況下，由上述復(fù)位選擇電路根據(jù)從上述微型計(jì)算機(jī)設(shè)定的A Z 型A/D變換器用硬復(fù)位有效設(shè)定，來(lái)選擇是上述振蕩檢測(cè)電路復(fù)位上 述Ai:型A/D變換器、還是上述微型計(jì)算機(jī)復(fù)位上述Ai:型A/D變換 器。
33. —種半導(dǎo)體裝置，其特征在于，具備 AZ型A/D變換器，其輸出溢出檢測(cè)信號(hào)；以及 振蕩檢測(cè)電路，其通過(guò)對(duì)上述溢出檢測(cè)信號(hào)進(jìn)行積分，檢測(cè)上述AZ型A/D變換器的振蕩狀態(tài)， 上述振蕩檢測(cè)電路具有計(jì)數(shù)電路，其對(duì)一定期間內(nèi)檢測(cè)上述溢出檢測(cè)信號(hào)的次數(shù)進(jìn)行計(jì) 數(shù)，并輸出計(jì)數(shù)值；以及比較電路，其比較上述計(jì)數(shù)值與閾值，在一定期間內(nèi)的溢出檢測(cè) 次數(shù)大于等于閾值的情況所連續(xù)的次數(shù)成為規(guī)定次數(shù)以上的情況下 判斷為上述Ai:型A/D變換器處于振蕩狀態(tài)，將振蕩檢測(cè)信號(hào)設(shè)為有 效而輸出；以及復(fù)位生成電路，其被輸入上述振蕩檢測(cè)信號(hào)，生成復(fù)位上述Ai;型A/D變換器的硬復(fù)位信號(hào)，在上述振蕩檢測(cè)電路檢測(cè)出上述Ai:型A/D變換器處于振蕩狀 態(tài)的情況下，上述振蕩檢測(cè)電路復(fù)位上述AS型A/D變換器。
34. —種半導(dǎo)體裝置，其特征在于，具備 AS型A/D變換器，其輸出溢出檢測(cè)信號(hào)；振蕩檢測(cè)電路，其通過(guò)對(duì)上述溢出檢測(cè)信號(hào)進(jìn)行積分，檢測(cè)上述 AZ型A/D變換器的振蕩狀態(tài)；以及微型計(jì)算機(jī)，其根據(jù)從上述振蕩檢測(cè)電路輸出的振蕩檢測(cè)監(jiān)視信 號(hào)，發(fā)送復(fù)位上述AS型A/D變換器的命令，上述振蕩檢測(cè)電路具有計(jì)數(shù)電路，其對(duì)在一定期間內(nèi)檢測(cè)上述溢出檢測(cè)信號(hào)的次數(shù)進(jìn)行 計(jì)數(shù)，并輸出計(jì)數(shù)值；以及比較電路，其比較上述計(jì)數(shù)值與閾值，在一定期間內(nèi)的溢出檢測(cè) 次數(shù)大于等于閾值的情況所連續(xù)的次數(shù)成為規(guī)定次數(shù)以上的情況下 判斷為上述AZ型A/D變換器處于振蕩狀態(tài)，將保持振蕩檢測(cè)信息的振蕩檢測(cè)監(jiān)視信號(hào)輸出到上述微型計(jì)算機(jī)，在上述振蕩檢測(cè)電路檢測(cè)到上述Ai:型A/D變換器處于振蕩狀 態(tài)的情況下，上述微型計(jì)算機(jī)復(fù)位上述AS型A/D變換器。
35. —種半導(dǎo)體裝置，其特征在于，具備 AS型A/D變換器，其輸出溢出檢測(cè)信號(hào)；振蕩檢測(cè)電路，其通過(guò)對(duì)上述溢出檢測(cè)信號(hào)進(jìn)行積分，檢測(cè)上述Ai:型A/D變換器的振蕩狀態(tài)；微型計(jì)算機(jī)，其根據(jù)從上述振蕩檢測(cè)電路輸出的振蕩檢測(cè)監(jiān)視信 號(hào)，發(fā)送復(fù)位上述Ai:型A/D變換器的命令；以及復(fù)位選擇電路，其選擇通過(guò)上述振蕩檢測(cè)電路或者上述微型計(jì)算 機(jī)中的哪個(gè)來(lái)復(fù)位上述AS型A/D變換器，上述振蕩檢測(cè)電路具有計(jì)數(shù)電路，其對(duì)在一定期間內(nèi)檢測(cè)上述溢出檢測(cè)信號(hào)的次數(shù)進(jìn)行 計(jì)數(shù)，并輸出計(jì)數(shù)值；比較電路，其比較上述計(jì)數(shù)值與閾值，在一定期間內(nèi)的溢出檢測(cè) 次數(shù)大于等于閾值的情況所連續(xù)的次數(shù)成為規(guī)定次數(shù)以上的情況下 判斷為上述Ai:型A/D變換器處于振蕩狀態(tài)，將振蕩檢測(cè)信號(hào)設(shè)為有 效而輸出，以及將保持振蕩檢測(cè)信息的振蕩檢測(cè)監(jiān)視信號(hào)輸出到上述 微型計(jì)算機(jī)；以及復(fù)位生成電路，其被輸入上述振蕩檢測(cè)信號(hào)，輸出復(fù)位上述Ai;型A/D變換器的硬復(fù)位信號(hào)，在上述振蕩檢測(cè)電路檢測(cè)出上述Ai;型A/D變換器處于振蕩狀 態(tài)的情況下，由上述復(fù)位選擇電路根據(jù)從上述微型計(jì)算機(jī)設(shè)定的A Z 型A/D變換器用硬復(fù)位有效設(shè)定，來(lái)選擇是上述振蕩檢測(cè)電路復(fù)位上 述Ai;型A/D變換器、還是上述微型計(jì)算機(jī)復(fù)位上述Ai;型A/D變換 器。
36. —種半導(dǎo)體裝置，其特征在于，具備 AS型A/D變換器，其輸出溢出檢測(cè)信號(hào)；以及 振蕩檢測(cè)電路，其通過(guò)對(duì)上述溢出檢測(cè)信號(hào)進(jìn)行積分，檢測(cè)上述 AS型A/D變換器的振蕩狀態(tài)， 上述振蕩檢測(cè)電路具有計(jì)數(shù)電路，其對(duì)等待到上述AE型A/D變換器穩(wěn)定為止之后的一 定期間內(nèi)檢測(cè)上述溢出檢測(cè)信號(hào)的次數(shù)進(jìn)行計(jì)數(shù)，并輸出計(jì)數(shù)值；比較電路，其比較上述計(jì)數(shù)值與閾值，在等待到上述AS型A/D變換器穩(wěn)定為止之后的 一 定期間內(nèi)的溢出檢測(cè)次數(shù)大于等于閾值的情況所連續(xù)的次數(shù)成為規(guī)定次數(shù)以上的情況下判斷為上述Ai;型A/D 變換器處于振蕩狀態(tài)，將振蕩檢測(cè)信號(hào)設(shè)為有效而輸出；以及復(fù)位生成電路，其被輸入上述振蕩檢測(cè)信號(hào)，生成復(fù)位上述Ai:型A/D變換器的硬復(fù)位信號(hào)，在上述振蕩檢測(cè)電路檢測(cè)出上述Ai;型A/D變換器處于振蕩狀 態(tài)的情況下，上述振蕩檢測(cè)電路復(fù)位上述AS型A/D變換器。
37. —種半導(dǎo)體裝置，其特征在于，具備 AZ型A/D變換器，其輸出溢出檢測(cè)信號(hào)；振蕩檢測(cè)電路，其通過(guò)對(duì)上述溢出檢測(cè)信號(hào)進(jìn)行積分，檢測(cè)上述 AS型A/D變換器的振蕩狀態(tài)；以及微型計(jì)算機(jī)，其根據(jù)從上述振蕩檢測(cè)電路輸出的上述振蕩檢測(cè)監(jiān) 視信號(hào)，發(fā)送復(fù)位上述AS型A/D變換器的命令，上述振蕩檢測(cè)電路具有計(jì)數(shù)電路，其對(duì)等待到上述AE型A/D變換器穩(wěn)定為止之后的一 定期間內(nèi)檢測(cè)上述溢出檢測(cè)信號(hào)的次數(shù)進(jìn)行計(jì)數(shù)，并輸出計(jì)數(shù)值；以 及比較電路，其比較上述計(jì)數(shù)值與閾值，在等待到上述AS型A/D 變換器穩(wěn)定為止之后的 一定期間內(nèi)的溢出檢測(cè)次數(shù)大于等于閾值的 情況所連續(xù)的次數(shù)成為規(guī)定次數(shù)以上的情況下判斷為上述AS型A/D 變換器處于振蕩狀態(tài)，將保持振蕩檢測(cè)信息的振蕩檢測(cè)監(jiān)視信號(hào)輸出 到上述微型計(jì)算機(jī)中，在上述振蕩檢測(cè)電路檢測(cè)出上述AE型A/D變換器處于振蕩狀 態(tài)的情況下，上述微型計(jì)算機(jī)復(fù)位上述AS型A/D變換器。
38. —種半導(dǎo)體裝置，其特征在于，具備 AS型A/D變換器，其輸出溢出檢測(cè)信號(hào)；振蕩檢測(cè)電路，其通過(guò)對(duì)上述溢出檢測(cè)信號(hào)進(jìn)行積分，檢測(cè)上述 AS型A/D變換器的振蕩狀態(tài)；微型計(jì)算機(jī)，其根據(jù)從上述振蕩檢測(cè)電路輸出的振蕩檢測(cè)監(jiān)視信號(hào)，發(fā)送復(fù)位上述Ai:型A/D變換器的命令；以及復(fù)位選擇電路，其選擇通過(guò)上述振蕩檢測(cè)電路或者上述微型計(jì)算 機(jī)中的哪個(gè)來(lái)復(fù)位上述AS型A/D變換器，上述振蕩檢測(cè)電路具有計(jì)數(shù)電路，其對(duì)等待到上述Ai:型A/D變換器穩(wěn)定為止之后的一 定期間內(nèi)檢測(cè)上述溢出檢測(cè)信號(hào)的次數(shù)進(jìn)行計(jì)數(shù)，并輸出計(jì)數(shù)值；比較電路，其比較上述計(jì)數(shù)值與閾值，在等待到上述Ai:型A/D變換器穩(wěn)定為止之后的一定期間內(nèi)的溢出檢測(cè)次數(shù)大于等于閾值的 情況所連續(xù)的次數(shù)成為規(guī)定次數(shù)以上的情況下判斷為上述Ai:型A/D 變換器處于振蕩狀態(tài)，將振蕩檢測(cè)信號(hào)設(shè)為有效而輸出，以及將保持 振蕩檢測(cè)信息的振蕩檢測(cè)監(jiān)視信號(hào)輸出到上述微型計(jì)算機(jī)；以及復(fù)位生成電路，其被輸入上述振蕩檢測(cè)信號(hào)，輸出復(fù)位上述AS型A/D變換器的硬復(fù)位信號(hào)，在上述振蕩檢測(cè)電路檢測(cè)出上述Ai:型A/D變換器處于振蕩狀 態(tài)的情況下，由上述復(fù)位選擇電路根據(jù)從上述微型計(jì)算機(jī)設(shè)定的A S 型A/D變換器用硬復(fù)位有效設(shè)定，來(lái)選擇是上述振蕩檢測(cè)電路復(fù)位上 述AS型A/D變換器、還是上述微型計(jì)算機(jī)復(fù)位上述AS型A/D變換器。
39. 根據(jù)權(quán)利要求27至29中的任一項(xiàng)所述的半導(dǎo)體裝置，其特 征在于，具備向上述振蕩檢測(cè)電路發(fā)送振蕩檢測(cè)條件設(shè)定命令的微型計(jì)算機(jī)，上述振蕩檢測(cè)電路將根據(jù)從上述微型計(jì)算機(jī)輸出的振蕩檢測(cè)周 期設(shè)定而對(duì)一定期間內(nèi)的上述溢出檢測(cè)信號(hào)的檢測(cè)次數(shù)進(jìn)行計(jì)數(shù)得 到的結(jié)果、與從上述微型計(jì)算機(jī)輸出的振蕩檢測(cè)閾值設(shè)定進(jìn)行比較， 從而判斷上述AS型A/D變換器是否處于振蕩狀態(tài)。
40. 根據(jù)權(quán)利要求30至32中的任一項(xiàng)所述的半導(dǎo)體裝置，其特 征在于，具備向上述振蕩檢測(cè)電路發(fā)送振蕩檢測(cè)條件設(shè)定命令的微型計(jì)算機(jī)，上述振蕩檢測(cè)電路在根據(jù)從上述微型計(jì)算機(jī)輸出的AZ型A/D 變換器穩(wěn)定等待設(shè)定而等待到AS型A/D變換器穩(wěn)定為止之后，將根 據(jù)從上述微型計(jì)算機(jī)輸出的振蕩檢測(cè)周期設(shè)定而對(duì)一定期間內(nèi)的上 述溢出檢測(cè)信號(hào)的檢測(cè)次數(shù)進(jìn)行計(jì)數(shù)得到的結(jié)果、與從上述微型計(jì)算 機(jī)輸出的振蕩檢測(cè)閾值設(shè)定進(jìn)行比較，從而判斷上述Ai;型A/D變換 器是否處于振蕩狀態(tài)。
41. 根據(jù)權(quán)利要求33至35中的任一項(xiàng)所述的半導(dǎo)體裝置，其特 征在于，具備向上述振蕩檢測(cè)電路發(fā)送振蕩檢測(cè)條件設(shè)定命令的微型計(jì)算機(jī)，上述振蕩檢測(cè)電路在根據(jù)從上述微型計(jì)算機(jī)輸出的振蕩檢測(cè)周 期設(shè)定而對(duì)一定期間內(nèi)的上述溢出檢測(cè)信號(hào)的檢測(cè)次數(shù)進(jìn)行計(jì)數(shù)得 到的結(jié)果大于從上述微型計(jì)算機(jī)輸出的振蕩檢測(cè)閾值設(shè)定的情況連 續(xù)了從上述微型計(jì)算機(jī)輸出的振蕩檢測(cè)連續(xù)次數(shù)設(shè)定以上的情況下， 判斷為AS型A/D變換器處于振蕩狀態(tài)。
42. 根據(jù)權(quán)利要求36至38中的任一項(xiàng)所述的半導(dǎo)體裝置，其特 征在于，具備向上述振蕩檢測(cè)電路發(fā)送振蕩檢測(cè)條件設(shè)定命令的微型計(jì)算機(jī)，上述振蕩檢測(cè)電路在根據(jù)從上述微型計(jì)算機(jī)輸出的△ S型A/D 變換器穩(wěn)定等待設(shè)定而等待到A^:型A/D變換器穩(wěn)定為止之后，在根 據(jù)從上述微型計(jì)算機(jī)輸出的振蕩檢測(cè)周期設(shè)定而對(duì)一定期間內(nèi)的上 述溢出檢測(cè)信號(hào)的檢測(cè)次數(shù)進(jìn)行計(jì)數(shù)得到的結(jié)果大于從上述微型計(jì) 算機(jī)輸出的振蕩檢測(cè)閾值設(shè)定的情況連續(xù)了從上述微型計(jì)算機(jī)輸出 的振蕩檢測(cè)連續(xù)次數(shù)設(shè)定以上的情況下，判斷為AS型A/D變換器處于振蕩狀態(tài)。
43. —種半導(dǎo)體系統(tǒng)，具有權(quán)利要求27至42中的任一項(xiàng)所述的 半導(dǎo)體裝置，該半導(dǎo)體系統(tǒng)的特征在于，、還具備對(duì)從上述半導(dǎo)體裝置輸出的數(shù)據(jù)進(jìn)行處理的信號(hào)處理電路，上述信號(hào)處理電路從上述半導(dǎo)體裝置被輸入Ai:型A/D變換器的復(fù)位信號(hào)，在上述AS型A/D變換器被復(fù)位的情況下進(jìn)行上述數(shù)據(jù) 的漸隱處理。
44. 一種半導(dǎo)體系統(tǒng)，具有權(quán)利要求28、 29、 31、 32、 34、 35、 37、 38、 39至42中的任一項(xiàng)所述的半導(dǎo)體裝置，該半導(dǎo)體系統(tǒng)的特 征在于，還具備調(diào)整輸入振幅后將數(shù)據(jù)輸出到上述半導(dǎo)體裝置內(nèi)的AS 型A/D變換器的輸入振幅限制電路，上述半導(dǎo)體裝置內(nèi)的微型計(jì)算機(jī)確認(rèn)振蕩檢測(cè)監(jiān)視信號(hào)，在上述 AZ型A/D變換器處于振蕩狀態(tài)的情況下，向上述輸入振幅限制電路 發(fā)送AZ型A/D變換器的振蕩確認(rèn)命令，在上述AZ型A/D變換器處于振蕩狀態(tài)的情況下，上述輸入振幅 限制電路減小上述數(shù)據(jù)的輸入振幅后輸出數(shù)據(jù)。
全文摘要
本發(fā)明具備溢出檢測(cè)電路(5)，比較Δ∑型調(diào)制器(13)的至少一處的積分器的輸出與規(guī)定值，輸出溢出檢測(cè)信號(hào)；溢出頻率算出電路(6)，根據(jù)上述溢出檢測(cè)信號(hào)算出上述積分器的輸出為正常范圍外的頻率即溢出頻率值，并輸出該溢出頻率值；振蕩判定電路(7)，根據(jù)上述溢出頻率值判定上述Δ∑型調(diào)制器(13)是否處于振蕩狀態(tài)；和振蕩停止電路(8)，在由上述振蕩判定電路(7)判定上述Δ∑型調(diào)制器處于振蕩狀態(tài)的情況下，使上述Δ∑型調(diào)制器(13)的振蕩收斂，其中，通過(guò)求出積分器的輸出為正常范圍外的頻率，確定積分器的輸出是否因噪聲等而臨時(shí)為正常范圍外、或者因振蕩而在正常范圍外，只在振蕩的情況下使上述Δ∑型調(diào)制器(13)的振蕩收斂。
文檔編號(hào)H03M3/02GK101523731SQ20078003815
公開(kāi)日2009年9月2日 申請(qǐng)日期2007年10月11日 優(yōu)先權(quán)日2006年10月13日
發(fā)明者井口直哉, 村木志穗, 松川和生, 永野孝一, 高山雅夫 申請(qǐng)人:松下電器產(chǎn)業(yè)株式會(huì)社