專利名稱：采樣電路與采樣方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明與數(shù)據(jù)采樣技術(shù)有關(guān)，尤指一種藉由比較所讀回的數(shù)據(jù)來動態(tài)校 正采樣信號(通常為一頻率)，以正確采樣該數(shù)據(jù)的采樣電路與其采樣方法。
背景技術(shù)：
一般在數(shù)字電路中都會提供一采樣信號(通常為一頻率)來作為采樣數(shù)
據(jù)時的參考基準(zhǔn)，例如在雙倍數(shù)據(jù)速率動態(tài)存取存儲器(DDR DRAM)中，存 在有數(shù)據(jù)信號(data signal )、以及數(shù)據(jù)采樣信號(data strobe signal), 其中數(shù)據(jù)采樣信號的上升沿(rising edge)以及下降沿(falling edge)在 理想情況下需位于凝:據(jù)信號的凝:據(jù)有效區(qū)間內(nèi)，如此一來系統(tǒng)才能正確的采 樣出輸入數(shù)據(jù)的位值。
在現(xiàn)有技術(shù)中，通常在系統(tǒng)剛開始運作時數(shù)據(jù)采樣電路會先進入一測試 模式，并借著讀取一串已知的位流(known bit stream)來檢測數(shù)據(jù)采樣信 號是否能夠正確的采樣出數(shù)據(jù)信號，并定出一最佳的數(shù)據(jù)采樣信號。但是在 電路中隨著操作時間的增加，各種環(huán)境因素(例如溫度)也會隨著改變，這 些改變會讓數(shù)據(jù)采樣信號與數(shù)據(jù)信號間的相位關(guān)系發(fā)生變化，使得采樣出的 數(shù)據(jù)信號的位值可能發(fā)生錯誤?，F(xiàn)有技術(shù)通常選擇忽略這個問題，或者在系 統(tǒng)開始運作一段時間后再度進入測試模式并讀取已知的位流來進行校正。用 來測試的位流若太少則在統(tǒng)計上無法代表有意義的長期趨勢(long term trend),因為可能會受到噪聲的干擾；若位流太長或測試頻率太頻繁又會浪 費系統(tǒng)的帶寬而影響正常才喿作;漠式下的工作。

發(fā)明內(nèi)容
所以本發(fā)明提供一種藉由比較所讀回的數(shù)據(jù)來動態(tài)校正采樣信號(通常 為一頻率)，以正確采樣該數(shù)據(jù)的采樣電路與其采樣方法，如此一來便不需停 止系統(tǒng)正在進行中的工作而進入測試模式來校正該采樣信號，以解決上述問題。
5依據(jù)本發(fā)明的實施例，其提供了一種采樣電路。該采樣電路包括 一延遲控制單元用來將一采樣信號延遲一第一延遲量以產(chǎn)生一第一延遲信號以及延遲一第二延遲量以產(chǎn)生一第二延遲信號； 一第一采樣單元，耦接該延遲控制單元，用來依據(jù)該第一延遲信號來采樣一輸入數(shù)據(jù)以得到一第一采樣值，該第一采樣單元用來產(chǎn)生該輸出數(shù)據(jù)； 一第二采樣單元，耦接該延遲控制單元，用來依據(jù)該第二延遲信號來采樣該輸入數(shù)據(jù)以得到一第二采樣值；以及一處理單元，耦接該延遲控制單元與該第一、第二采樣單元，用來^4居該第一、第二采樣值控制該延遲控制單元至少調(diào)整該第 一延遲量以校正該第 一延遲信號。
依據(jù)本發(fā)明的實施例，其還提供了一種采樣方法。該采樣方法包括將一采樣信號延遲一第一延遲量以產(chǎn)生一第一延遲信號；將該采樣信號延遲一第二延遲量以產(chǎn)生一第二延遲信號；依據(jù)該第 一延遲信號來采樣一輸入數(shù)據(jù)以得到一第一采樣值，該第一采樣單元用來產(chǎn)生該輸出數(shù)據(jù)；依據(jù)該第二延遲信號來采樣該輸入數(shù)據(jù)以得到一第二采樣值；根據(jù)該第一、第二采樣值來至少調(diào)整該第 一延遲量以校正該第 一延遲信號。
依據(jù)本發(fā)明的實施例，其又提供了一種用于一存儲器的采樣方法，其包括產(chǎn)生一數(shù)據(jù)信號；產(chǎn)生一數(shù)據(jù)采樣信號；以一第一延遲量延遲該數(shù)據(jù)采樣信號，以產(chǎn)生一第一延遲信號；以一第二延遲量延遲該數(shù)據(jù)采樣信號，以產(chǎn)生一第二延遲信號；利用該第一延遲信號對該數(shù)據(jù)信號進行采樣，以產(chǎn)生一第一采樣值；利用該第二延遲信號對該數(shù)據(jù)信號進行采樣，以產(chǎn)生一第二采樣值；對該第一采樣值及該第二采樣值進行一第一比較；以及依據(jù)該第一比較的結(jié)果，調(diào)整該第一延遲量。


圖1為本發(fā)明采樣電路之一較佳實施例的框圖。
圖2 (a)至(d)為輸入數(shù)據(jù)Din、第一延遲信號SD1、第二延遲信號SD2以及第三延遲信號S。3的波形與第一采樣值DOTt、第二采樣值02以及第三采樣值DJ司的關(guān)系示意圖。
圖3為輸入數(shù)據(jù)Din、第一延遲信號Sm以及第三延遲信號S。3的波形與第一采樣值D。ut以及第三采樣值D3間的關(guān)系示意圖。
主要組件的附圖標(biāo)號說明100采樣電路
110延遲控制單元
120、130、 140采樣單元
150處理單元
160移位寄存器
170延遲鏈
180計數(shù)器
190、195 比較器
200動態(tài)隨機存取存儲器
具體實施例方式
請參考圖1，圖1為本發(fā)明采樣電路100之一較佳實施例的框圖。在本實施例中，采樣電路100為一動態(tài)隨機存取存儲器(dynamic random accessmemory, DRAM)的數(shù)據(jù)采樣電路，其自一 DRAM 200接收一數(shù)據(jù)信號Din (datasignal)及一數(shù)據(jù)采樣信號Sin (data strobe signal),并依據(jù)該數(shù)據(jù)采樣信號Sin來對該數(shù)據(jù)信號Di。進行采樣，然而熟悉此項技術(shù)的人應(yīng)可理解，本發(fā)明的采樣電路并不限于存儲器領(lǐng)域的應(yīng)用。采樣電路100包括一延遲控制單元IIO、 一第一采樣單元120、 一第二采樣單元130、 一第三采樣單元140以及一處理單元150。在本實施例中，當(dāng)采樣電路100進行初始化時，采樣
電路100會先進入一測試模式，此時一串已知的位流會作為輸入數(shù)據(jù)Din輸入
至采樣電路100，延遲控制單元110則將一采樣信號Sin延遲若干個延遲量后由采樣單元來分別采樣該位流以得到與延遲量相對應(yīng)的若干個采樣值，處理單元150根據(jù)該已知位流與該若干個采樣值作比較后定出一初始延遲量，使得采樣信號Sin被延遲該初始延遲量后能夠正確地采樣該位流并且具有最大的誤差容限(error margin )。然而應(yīng)注意的是，上述初始化時的測試才莫式操:作并非本發(fā)明的限制條件之一。
決定出初始延遲量后采樣電路100恢復(fù)為正常操作模式，此時輸入數(shù)據(jù)Dh輸入至釆樣電路100,延遲控制單元110將初始延遲量作為第一延遲量來延遲采樣信號Sin后產(chǎn)生一第一延遲信號SD1，并將第一延遲信號Sw輸入第一采樣單元120，第一采樣單元120則利用第一延遲信號SM來釆樣輸入數(shù)據(jù)Din以產(chǎn)生一第一采樣值D。ut作為輸出數(shù)據(jù)。請同時參考圖1與圖2,圖2為輸入數(shù)據(jù)Dh、第一延遲信號S。,、第二延遲信號S。2以及第三延遲信號S。3的波形與
第一采樣值D。ut、第二采樣值02以及第三采樣值D3間的關(guān)系示意圖。延遲控
制單110亦會產(chǎn)生小于該第一延遲量的第二延遲量與產(chǎn)生大于該第一延遲量
的第三延遲量，采樣信號Sin被延遲第二延遲量后成為一第二延遲信號S。2并
被輸入至第二采樣單元130，第二采樣單元130利用第二延遲信號S。2來采樣輸入數(shù)據(jù)Di。以產(chǎn)生一第二采樣值D2;同樣地，采樣信號Sin被延遲第三延遲量后成為一第三延遲信號S。3并被輸入至第三釆樣單元140,第三采樣單元140
利用第三延遲信號SD3來采樣輸入數(shù)據(jù)Din以產(chǎn)生一第三采樣值D3。以輸入信
號的位值為1時且為上升沿采樣(rising edge trigger)為例，請參考圖2(a),第一延遲信號S^由于是采用初始延遲量來延遲采樣信號S^所產(chǎn)生，所以第一延遲信號S^的上升沿理論上會發(fā)生在位值為1的數(shù)據(jù)有效區(qū)間的中心處，如此才會有最大的誤差容限，而在本實施例中，該第一、第二延遲量
之間的第一差值Pm等于該第一、第三延遲量之間的第二差值P。2,此時根據(jù)第
一延遲信號SD1、第二延遲信號S。2以及第三延遲信號SD3來采樣的第一采樣值
D。ut、第二釆樣值D2以及第三采樣值D3皆為位1，請注意，第一差值Pm與第二差值P。2可由設(shè)計者根據(jù)釆樣電路100可容許的誤差容限來決定。
當(dāng)操作時間增加，各種環(huán)境因素(例如，溫度)隨著改變時，輸入數(shù)據(jù)
D^與第一延遲信號S:n間的相位關(guān)系發(fā)生變化，有可能使得第一延遲信號SD1的上升沿往前移或往后移。在第一種情況中，若第一延遲信號Sm上升沿的前
移量大于一臨界值，如圖2 (b)所示，此時根據(jù)第一延遲信號Sm所采祥的第一采樣值D。w以及根據(jù)第三延遲信號S。3所采樣的第三采樣值D3仍為正確的位值1，但是根據(jù)第二延遲信號S。2所采樣到的第二采樣值D2則為錯誤的位值0。也就是說，當(dāng)采樣電路100處于正常操作模式下時，若處理單元150檢測到第 一采樣值D。ut與第三采樣值D3相同，而第二采樣值D2與第 一采樣值D。ut及第
三采樣值D3皆不同時，則可判斷第一延遲信號Srn上升沿發(fā)生前移，處理單元150會發(fā)出控制信號Se來通知延遲控制單元110增加第一延遲量，直到該第
一、第二、第三采樣值皆相同為止。同樣地，在第二種情況中，若第一延遲
信號Sm上升沿的后移量大于一臨界值，如圖2(C)所示，此時根據(jù)第一延遲
信號Sw所采樣的第一采樣值D。ut以及根據(jù)第二延遲信號S。2所采樣的第二采樣值D2仍為正確的位值1,但是根據(jù)第三延遲信號SD3所釆樣到的第三釆樣值D3則為錯誤的位值0。也就是說，當(dāng)釆樣電路100處于正常操作模式下時，若
8處理單元150 ^r測到第一釆樣值D則與第二采樣值D2相同，而第三采樣值D3與第一采樣值D。ut及第二采樣值仏皆不同時，則可判斷第一延遲信號Sm上升沿發(fā)生后移，處理單元150會發(fā)出控制信號Se來通知延遲控制單元110減少第一延遲量，直到該第一、第二、第三采樣值皆相同為止。請注意，本發(fā)明不需要知道輸入數(shù)據(jù)Din的正確位值，輸入數(shù)據(jù)Din可為正常操作模式下系統(tǒng)所讀取的數(shù)據(jù)，也就是說利用本發(fā)明采樣電路不需要中斷系統(tǒng)正在進行中的動作，而在線進行實時校正(on the fly)，因此不需考慮占用系統(tǒng)帶寬的問題。
另一種處理單元150可能檢測到的問題是第二采樣值02與第三采樣值D3皆與第一采樣值D滅不同，如圖2 (d)所示。這種情況發(fā)生在由設(shè)計者所定義的第一差值Pm與第二差但P。2的值太大使得第二延遲信號S。2與第三延遲信號S。3皆釆樣到錯誤的位值，所以當(dāng)處理單元150檢測到第二采樣值D2與第三采樣值03皆與第一采樣值D滅不同時，處理單元150會發(fā)出控制信號Sc來通知延遲控制單元110增加第二延遲量以及減少第三延遲量來減少第一差值Pm與第二差值P。2的值，直到該第二、第三采樣值其中之一與該第一采樣值D。ut相同為止。
在本實施例中，延遲控制電路110包括一延遲鏈170,其由復(fù)數(shù)個延遲單元(例如64個)相互串接所構(gòu)成。此外延遲控制電路110亦包括一移位寄存器(shift register) 160，其包括與延遲鏈170中的延遲單元的數(shù)目相同的字段，而在這些字段當(dāng)中僅有其中之一的值被設(shè)定為l,其它則被設(shè)定為0，以用來標(biāo)示第一延遲信號Sw應(yīng)自延遲鏈170的哪一級延遲單元取出。而于本實施例中，第二延遲信號S。2所被取出的級數(shù)與第一延遲信號Sm所被取出的級數(shù)之間相差一固定級數(shù)，而第三延遲信號S。3所被取出的級數(shù)與第一延遲信號SD1所被取出的級數(shù)之間亦相差 一 固定級數(shù)(于圖1所示，均固定相差2級)，故當(dāng)?shù)?一延遲信號SD1所被取出的級數(shù)因移位寄存器16 0中所儲存的數(shù)值有所改變而隨之改變時，第二延遲信號S。2及第三延遲信號S。3所被取出的級數(shù)亦會跟著改變。應(yīng)注意的是，雖然本實施例以移位寄存器160來實現(xiàn)延遲信號的延遲量的標(biāo)示，但是本發(fā)明并不以此為限，其它能夠達(dá)到相同目的的電路組態(tài)，亦為本發(fā)明所欲保護的范圍；又雖然本實施例中第二延遲信號S。2及第三延遲信號S。3與第一延遲信號SM之間的延遲差值屬固定，但是本發(fā)明并不以此為限，在其它實施例中，其并不需要為固定值，而可依照處理單元的控
9制而為其它任意數(shù)值。
在本實施例中，處理單元中包括一第一比較器190及一第二比較器195，均以異或門(XOR gate)來實現(xiàn)，其中第一比較器190用來比較第一采樣值D。ut與第二采樣值D2之間的異同，第二比較器195則用來比較第一采樣值D。ut與第三釆樣值03之間的異同。為了增加釆樣電路100的穩(wěn)定度，處理單元150可包含一計數(shù)器180，用來于特定期間內(nèi)或是特定次數(shù)的釆樣當(dāng)中，分別計數(shù)第一比較器190及第二比較器195所檢測到該第一采樣值與另兩個采樣值產(chǎn)生相異的相異次數(shù)，當(dāng)該相異次數(shù)大于一臨界值時處理單元150才會指示延遲控制電路110增加(在第二采樣值D2與第一、第三采樣值D。ut、 03不同的情形下)或減少(在第三采樣值D3與第一、第二采樣值D。ut、"不同的情形下)該第一延遲量、或縮小該第一、第二差值(在第二、第三采樣值D2、 03與第一采樣值D。ut不同的情形下)，這是為了觀察采樣值改變的長期趨勢，以避免因為如噪聲等因素，使得處理單元150過于頻繁地、甚至錯誤地命令延遲控制單元110調(diào)整第一、第二、第三延遲量。
請注意，圖1所示為本發(fā)明一較佳實施例，由于環(huán)境因素對第一延遲信號Sm飄移的影響， 一般來說均為一固定趨勢(trend )，則可以藉由只檢測兩個采樣值來判斷是否需要調(diào)整延遲量，亦即第二釆樣單元130與第三采樣單元140可以只留下其中之一。例如若第一延遲信號Sm的上升沿只會往后移而不會發(fā)生往前移的狀況，則第二采樣單元130可以舍棄；反之，若第一延遲信號Sw的上升沿只會往前移而不會發(fā)生往后移的狀況，則第三采樣單元140可以舍棄。以第一延遲信號SM的上升沿只會往后移而不會發(fā)生往前移的狀況
舉例說明，請參考圖3,圖3為輸入數(shù)據(jù)Din、第一延遲信號Sw以及第三延遲
信號SD3的波形與第一采樣值D。ut以及第三采樣值D3間的關(guān)系示意圖。假設(shè)在初始狀態(tài)時便妥善設(shè)定了第二差值PD2, —般正常狀態(tài)下第一延遲信號SD1以及第三延遲信號S。3皆會正確地采樣到輸入數(shù)據(jù)Din,如圖3 (a)表示，因此第一釆樣值D。ut以及第三采樣值03皆為正確的位值1，由于第一延遲信號Sm只會往后飄移，所以可以不用如圖2般考慮第二采樣值D2，唯一可能發(fā)生的情形如圖3(b)所示，由于第一延遲信號Scn只會往后飄移，因此當(dāng)處理單元15 0才企測到第 一采樣值Di與第三釆樣值D3不同時，處理單元150會發(fā)出控制信號Se來通知延遲控制單元110減少第一延遲量，直到該第一、第二采樣值相同為止。同理，若第一延遲信號SM的上升沿只會往前移而不會往后移時，則第三采樣單元140可以舍棄，在此不再贅述。
以上所述僅為本發(fā)明的較佳實施例，凡依本發(fā)明申請專利范圍所做的均等變化與修飾，皆應(yīng)屬本發(fā)明的涵蓋范圍。
權(quán)利要求
1. 一種采樣電路，用來采樣輸入數(shù)據(jù)以得到輸出數(shù)據(jù)，該采樣電路包括延遲控制單元，用來將采樣信號延遲第一延遲量以產(chǎn)生第一延遲信號，并延遲第二延遲量以產(chǎn)生第二延遲信號；第一采樣單元，耦接該延遲控制單元，用來依據(jù)該第一延遲信號來采樣輸入數(shù)據(jù)，以得到第一采樣值，該第一采樣單元用來產(chǎn)生該輸出數(shù)據(jù)；第二采樣單元，耦接該延遲控制單元，用來依據(jù)該第二延遲信號來采樣該輸入數(shù)據(jù)，以得到第二采樣值；以及處理單元，耦接該延遲控制單元與該第一、第二采樣單元，用來根據(jù)該第一、第二采樣值，控制該延遲控制單元至少調(diào)整該第一延遲量，以校正該第一延遲信號。
2. 如權(quán)利要求1所述的采樣電路，其中當(dāng)該采樣電路進入測試才莫式時，該延遲控制單元依據(jù)測試結(jié)果來設(shè)定該第一延遲量，并在該第一延遲量完成設(shè)定之后決定該第二延遲量；并且，該采樣電路在正常操作模式下采樣該輸入數(shù)據(jù)以得到該輸出數(shù)據(jù)。
3. 如權(quán)利要求1所述的采樣電路，其中該處理單元包括計數(shù)器，用來計數(shù);險測該第一、第二采樣值相異時的相異次數(shù)，當(dāng)該相異次數(shù)大于臨界值時，該處理單元同時增加或者同時減少該第一、第二延遲量，直到該第一、第二采樣值相同為止。
4. 如權(quán)利要求1所述的采樣電路，其還包括第三采樣電路，耦接該延遲控制單元，用來依據(jù)第三延遲信號來采樣該輸入數(shù)據(jù)以得到第三采樣值；其中，該延遲控制單元將該采樣信號延遲第三延遲量以產(chǎn)生該第三延遲信號，以及該處理單元根據(jù)該第一、第二與第三采樣值來控制該延遲控制單元至少調(diào)整該第一延遲量；并且，當(dāng)該采樣電路進入測試模式時，該延遲控制單元依據(jù)測試結(jié)果設(shè)定該第一延遲量，接著設(shè)定小于該第一延遲量的該第二延遲量、并設(shè)定大于該第一延遲量的該第三延遲量，而該第一、第二延遲量之間的第一差值等于該第一、第三延遲量之間的第二差值；并且，該采樣電路在正常操作模式下采樣該輸入凄t據(jù)，以得到該輸出數(shù)據(jù)。
5. 如權(quán)利要求4所述的釆樣電路，其中該處理單元若檢測到該第一、第二采樣值相同而該第三采樣值相異于該第一采樣值，則減少該第一、第二、第三延遲量，直到該第一、第二、第三采樣值皆相同為止；若^r測到該第一、第三采樣值相同而該第二采樣值相異于該第一采樣值，則增加該第一、第二、第三延遲量，直到該第一、第二、第三采樣值皆相同為止；若4企測到該第二、第三采樣值皆與該第一采樣值相異，則縮小該第一、第二差值，直到該第二、第三采樣值其中之一與該第一采樣值相同為止；并且，該處理單元還包括計數(shù)器，用來計數(shù);險測到該第一、第二、第三采樣值中的一個采樣值與另兩個采樣值相異時的相異次數(shù)，當(dāng)該相異次數(shù)大于臨界值時，該處理單元才增加或減少該第一、第二、第三延遲量或縮小該第一、第二差值。
6. —種采樣方法，用來采樣輸入數(shù)據(jù)以得到輸出數(shù)據(jù)，該采樣方法包括將采樣信號延遲第一延遲量，以產(chǎn)生第一延遲信號；將該采樣信號延遲第二延遲量，以產(chǎn)生第二延遲信號；依據(jù)該第一延遲信號來釆樣輸入數(shù)據(jù)，以得到第一采樣值，該第一采樣單元用來產(chǎn)生該輸出數(shù)據(jù)；依據(jù)該第二延遲信號來采樣該輸入數(shù)據(jù)，以得到第二采樣值；根據(jù)該第一、第二采樣值來至少調(diào)整該第延遲量，以校正該第一延遲信號。
7. 如權(quán)利要求6所述的采樣方法，還包括在測試模式下，依據(jù)測試結(jié)果來設(shè)定該第一延遲量，并于該第一延遲量完成設(shè)定之后決定該第二延遲量；并且，在正常操作模式下，采樣該輸入數(shù)據(jù)以得到該輸出數(shù)據(jù)。
8. 如權(quán)利要求6所述的采樣方法，還包括計數(shù)檢測該第 一 、第二釆樣值相異時的相異次數(shù)；其中，當(dāng)該相異次it大于臨界值時，該處理單元才同時增加或者同時減少該第一、第二延遲量，直到該第一、第二采樣值相同為止。
9. 如權(quán)利要求6所述的釆樣方法，還包括將該采樣信號延遲第三延遲量，以產(chǎn)生第三延遲信號；依據(jù)該第三延遲信號來采樣該輸入數(shù)據(jù)，以得到第三采樣值；其中，調(diào)整該采樣信號的延遲量的步驟根據(jù)該第一、第二與第三采樣值來控制該延遲控制單元至少調(diào)整該第 一延遲量；并且，在測試模式下，依據(jù)測試結(jié)果設(shè)定該第一延遲量，接著設(shè)定小于該第一延遲量的該第二延遲量，并設(shè)定大于該第一延遲量的該第三延遲量，而該第一、第二延遲量之間的第一差值等于該第一、第三延遲量之間的第二差值；并且，在正常操作模式下，采樣該輸入數(shù)據(jù)以得到該輸出數(shù)據(jù)。
10.如權(quán)利要求9所述的采樣方法，還包括若檢測到該第 一 、第二采樣值相同而該第三采樣值相異于該第 一釆樣值，則減少該第一、第二、第三延遲量，直到該第一、第二、第三采樣值皆相同為止；若;f企測到該第一、第三采樣值相同而該第二采樣值相異于該第一采樣值，則增加該第一、第二、第三延遲量，直到該第一、第二、第三采樣值皆相同為止；若檢測到該第二、第三采樣值皆與該第一采樣值相異，則縮小該第一、第二差值，直到該第二、第三采樣值其中之一與該第一采樣值相同為止；并且，計數(shù)檢測到該第一、第二、第三采樣值中的一個采樣值與另兩個采樣值相異時的相異次數(shù)；其中，當(dāng)該相異次數(shù)大于臨界值時，該處理單元才增加或減少該第一、第二、第三延遲量或縮小該第一、第二差值。
全文摘要
一種采樣電路，用來采樣一輸入數(shù)據(jù)以得到一輸出數(shù)據(jù)，該采樣電路包括一延遲控制單元、一第一采樣單元、一第二采樣單元以及一處理單元。該延遲控制單元將一采樣信號延遲一第一延遲量以產(chǎn)生一第一延遲信號以及延遲一第二延遲量以產(chǎn)生一第二延遲信號；該第一采樣單元依據(jù)該第一延遲信號來采樣一輸入數(shù)據(jù)以得到一第一采樣值，該第一采樣單元用來產(chǎn)生該輸出數(shù)據(jù)；該第二采樣單元依據(jù)該第二延遲信號來采樣該輸入數(shù)據(jù)以得到一第二采樣值；以及該處理單元根據(jù)該第一、第二采樣值控制該延遲控制單元至少調(diào)整該第一延遲量以校正該第一延遲信號。
文檔編號H03K5/14GK101465632SQ20071016215
公開日2009年6月24日 申請日期2007年12月21日 優(yōu)先權(quán)日2007年12月21日
發(fā)明者郭東政, 陳逸琳, 黃怡智 申請人:瑞昱半導(dǎo)體股份有限公司