專利名稱：差分比較器、模數轉換裝置和成像裝置的制作方法
技術領域：
本發(fā)明涉及差分比較器、模數轉換裝置和成像裝置，更具體地說，本發(fā)明涉及有效地應用于互補金屬氧化物半導體(CMOS)圖像傳感器等等中的光/電轉換信號的讀取電路的技術。
背景技術：
由于例如與電荷耦合器件(CCD)圖像傳感器相比，CMOS圖像傳感器在制造工藝和操作電壓等方面很好地與外圍圖像處理電路匹配，并且成像裝置、圖像處理電路和控制器等可以容易地集成在一個芯片上，所以CMOS圖像傳感器成為關注的焦點。
因為CMOS圖像傳感器在每個像素級不僅放大光電轉換器件，而且放大轉換信號，所以CMOS圖像傳感器具有在光電轉換信號的傳輸過程中抗噪聲的優(yōu)點。但是，由于在每個像素級的放大器之間不均勻的放大特性，所以CMOS圖像傳感器具有固定的模式噪聲，這是一個問題。
由于這個原因，有一種公知的配置，在該配置中對于在正交的行和列方向二維排列的多個像素的列方向的每組像素，與列具有相同數目的相關雙采樣(CDS)電路和模數轉換(ADC)電路被串聯排列，即，利用所謂的列ADC方法來降低固定模式噪聲的配置。
例如，關于CMOS圖像傳感器的列ADC，專利對比文獻1公開了一種技術，所述技術通過向光的三原色中每種色彩濾波器的像素列ADC選擇性地輸出不同的模擬比較參考電壓，實現了對于每種色彩的良好的色彩控制。具體地說，試圖通過使用反相器短路連接斬波(chopper)型比較器的輸入/輸出，并通過使參考電壓偏移與閾值電壓的偏移值相等的值，提高數字轉換的精度，其中，閾值電壓的偏移是由于組成相關的反相器的晶體管的寄生電容引起的。
專利對比文獻2公開了一種技術，所述技術通過在斬波型比較器的斜波(ramp)信號輸入側加上電容器，存儲像素的復位模式中的偏移電壓，并通過該偏移電壓修正在計數器模式中輸入的斜波信號的電壓，消除了可存在于像素內的固定模式噪聲以提高圖像質量，其中，在所述斬波型比較器中反相器采用雙級連接。
專利對比文獻3公開了一種技術，所述技術通過偏移組成AD轉換器的反相器的參考電壓，并通過控制以使得如果相關的參考電壓具有線性特性，則可將從像素輸出的信號與參考電壓相比較，從而實現穩(wěn)定的模數轉換特性。
專利對比文獻4公開了一種技術，所述技術通過提供多個模數轉換器，一個接一個地選擇多個模數轉換器的輸出，在用于獲得數字圖象輸出的固定成像設備中形成由差分放大器和反相器組成的多個放大器的噪聲抵消(比較)單元，并通過在第二級及其后的放大器提供鉗位電路，防止了在多個像素讀取信號間產生不同的直流電平以提高圖像質量。
然而，上述專利對比文獻1到4中的任何技術都沒有認識到以下當模數轉換器的比較器只由反相器組成，或由反相器和差分放大器組成時所引起的技術問題。
具體地說，圖1是示出了作為本發(fā)明對比技術的斬波型比較器的配置的方框圖。圖1中所示的使用反相器A100的斬波型比較器當開關S100和S100x閉合時，在C100中存儲模擬信號，并當S100和S100x斷開且S200閉合時，將模擬信號與參考電壓相比較來確定模擬信號。然而，在點B有寄生電容器(C200)，例如組成反相器A100的晶體管的柵極電容器等等。因此，如果輸入參考電壓用于比較，則點A、點B的電位就試圖基于點A的電位，轉移到存儲在C100中的電荷量的電位。然而，由于存在寄生電容器C200，因此點B以介于C100和C200之間的比率變化，且模數轉換精度下降，這是一個技術問題。
具體地說，如圖2所示，在CMOS圖像傳感器的反相器A100中，p型MOS晶體管Q100和n型MOS晶體管Q200(閾值Vth)串聯在電源VDD和地之間，而且它們各自的柵極以及它們源極間的電壓分別被用作輸入和輸出(OUT)。然而，Q100和Q200各自的寄生電容器Qp和Qn分別在輸入側影響電容器C100。因此，例如當SW100和SW200分別斷開和閉合，并且輸入RampV時，Q100和Q200各自的柵極電位以Vth-C100(ADC-RampV)/(C100+Cp+Cn)的比率變化，且模數轉換精度下降。
在使用反相器的配置中，反相器的消耗電流較高。更具體地說，在對于每列提供了許多ADC，如CMOS圖像傳感器中的列ADC的配置中，成像設備的總消耗電流變得非常高。作為對策，可以考慮增大Q100和Q200各自的柵長以抑制消耗電流。然而，因為各自的寄生電容Qp和Qm由于每個柵極面積的增大而變得遠大于原值，所以這一措施不是優(yōu)選的。
專利對比文獻1日本專利申請早期公開No.2000-261602專利對比文獻2日本專利申請早期公開No.2002-218324專利對比文獻3日本專利申請早期公開No.2000-286706專利對比文獻4日本專利申請早期公開No.2000-287137發(fā)明內容本發(fā)明的一個目的是提供一種能夠以更少量的消耗電流實現高精度模數轉換的差分比較器。
本發(fā)明的另一個目的是提供一種能夠以更少量的消耗電流實現高精度模數轉換的模數轉換器裝置。
本發(fā)明的另一個目的是提供一種能夠以更少量的消耗電流輸出高質量的圖象數據的成像裝置。
本發(fā)明的第一個方面是一種差分比較器，所述差分比較器根據分別被輸入到第一和第二輸入端的第一和第二輸入信號電平的一致/不一致，將正的和/或負的邏輯信號輸出到輸出端。
所述差分比較器包括偏移抵消功能，所述偏移抵消功能由偏移電容器件、第一開關和第二開關組成，其中，偏移電容器件位于第一和第二端的差分比較器側，第一開關用于短路連接第一和第二輸入端以使得形成包括偏移電容器件的閉合環(huán)路，第二開關用于短路連接偏移電容器件和差分比較器之間的連接點與輸出端。
本發(fā)明的第二個方面是一種模數轉換器裝置，所述模數轉換器裝置包括差分比較器和計數器，其中，所述差分比較器根據分別被輸入到第一和第二輸入端的模擬信號和參考信號各自的信號電平的一致/不一致，將正的和/或負的邏輯信號輸出到輸出端，所述計數器的啟動和停止由邏輯信號控制。所述模數轉換器裝置的輸出值是從模擬信號被作為觸發(fā)輸入時開始直到模擬信號與參考信號一致時為止的計數器的計數值。
所述差分比較器包括偏移抵消功能，所述偏移抵消功能由偏移電容器件、第一開關和第二開關組成，其中，偏移電容器件位于第一和第二端的差分比較器側，第一開關用于短路連接第一和第二輸入端以使得形成包括偏移電容器件的閉合環(huán)路，第二開關用于短路連接偏移電容器件和差分比較器之間的連接點與輸出端。
本發(fā)明的第三個方面是一種成像裝置，所述成像裝置包括多個讀取電路，其中，每個讀取電路由像素陣列和模數轉換器組成，在像素陣列中，多個包括光電轉換器件的像素單元在行和列方向上二維排列，所述模數轉換器用于將從每個像素單元輸出的光/電轉換信號轉換為數字信號。
所述模數轉換器包括差分比較器和偏移抵消功能，所述差分比較器根據分別被輸入到第一和第二輸入端的光電轉換信號和參考信號各自的信號電平的一致/不一致，將正的和/或負的邏輯信號輸出到輸出端，所述偏移抵消功能由偏移電容器件、第一開關和第二開關組成，其中，偏移電容器件位于第一和第二端的差分比較器側，第一開關用于短路連接第一和第二輸入端以使得形成包括偏移電容器件的閉合環(huán)路，第二開關用于短路連接輸出端和擁有偏移電容器件的第一輸入端。
根據本發(fā)明的第一和第二個方面，信號的電容器件連接到第一輸入端，模擬信號被作為第一輸入信號輸入到第一輸入端中。同時，模擬信號被輸入到該第一輸入端中，偏移抵消功能的第一和第二開關閉合，且差分比較器的偏移電壓被存儲在偏移電容器件中。然后，第一和第二開關斷開。接著，當輸入例如斜波波形信號等等的參考信號到第二輸入端中作為第二輸入信號，并將第一輸入端上的模擬信號與參考信號相比較時，存儲在偏移電容器件中的偏移電壓使得在第一輸入端一側上的電位恒定，其中，存儲在信號的電容器件中的模擬信號被輸入到所述的第一輸入端一側。因而，和當使用反相器時的情況不同，輸入的模擬信號的電平不受寄生電容等的影響而產生波動，且模擬信號可與斜波波形信號精確地進行比較。因此，可以提高基于相關比較的模擬信號的數字化精度。
在差分比較器中，因為第一和第二輸入端各自的比較操作不依賴于電流量，所以可以抑制消耗電流而不增大寄生電容，因此，可以少量的消耗電流執(zhí)行高精度的模數轉換過程。
根據本發(fā)明的第三個方面，通過組成模數轉換器，并提供偏移抵消功能，可以使用例如斜波波形信號等等的參考信號執(zhí)行光電轉換信號的數字化過程，因此，可以提高所獲得的圖像質量，其中，模數轉換器用于差分比較器的成像裝置的光/電轉換信號讀取電路。
因為差分比較器可抑制消耗電流而不增大寄生電容，所以在放置了許多個模數轉換器的配置中，如在對于CMOS圖像傳感器中多個像素單元的每列都提供了模數轉換器的情況下，消耗電流的抑制效果是巨大的，所述情況如在列ADC中的那樣。
圖1是示出了作為本發(fā)明對比技術的斬波型比較器的配置的方框圖；圖2是示出了作為本發(fā)明對比技術的斬波型比較器的內部組成的電路圖；圖3是示出了模數轉換器裝置的一種配置的方框圖，該模數轉換器裝置包括作為本發(fā)明一個優(yōu)選實施例的差分比較器；圖4是詳細示出了模數轉換器裝置的內部配置的電路圖，該模數轉換器裝置包括作為本發(fā)明一個優(yōu)選實施例的差分比較器；圖5是示出了成像裝置的一種整體配置的方框圖，該成像裝置包括模數轉換器裝置，該模數轉換器裝置包括作為本發(fā)明一個優(yōu)選實施例的差分比較器；以及圖6是示出了成像裝置的一種功能的時序圖，該成像裝置包括作為本發(fā)明一個優(yōu)選實施例的模數轉換器裝置。
具體實施例方式
下面參考附圖描述本發(fā)明的優(yōu)選實施例。
圖3是示出了模數轉換器裝置的一種配置的方框圖，該模數轉換器裝置包括作為本發(fā)明一個優(yōu)選實施例的差分比較器。圖4是詳細示出了其內部配置的電路圖。圖5是示出了成像裝置的一種整體配置的方框圖，該成像裝置包括作為本發(fā)明一個優(yōu)選實施例的模數轉換器裝置。
使用本發(fā)明被應用到例如由CMOS圖像傳感器組成的成像裝置10的例子來描述優(yōu)選實施例。
如圖5中所示，這個優(yōu)選實施例中的成像裝置10包括像素陣列20、垂直掃描電路31和水平掃描電路32，在像素陣列20中，多個像素單元23沿每行21和每列22二維排列。
每個像素單元23例如由作為光電轉換器件的光電二極管和晶體管等等組成，其中，所述晶體管用于初始化該光電二極管，放大輸出信號和控制其時序等等。每個像素單元23覆蓋有具有光的三原色其中之一的色彩濾波器，并將具有每種色彩的光從光信號轉換為電信號。
垂直掃描電路31控制用于選擇像素陣列20中每行的多個像素單元的時序。水平掃描電路32控制用于在行21中個別地選擇每列的每個像素單元23的時序。
在這個優(yōu)選實施例中，對于每個像素單元23的列22，提供了列CDS電路40、列AMP電路50、列ADC電路60(模數轉換器裝置)和鎖存器電路70。
列CDS電路40通過相關雙采樣技術，從光/電轉換信號中消除當復位像素單元中的光電轉換器件時產生的噪聲。
列AMP電路放大從列CDS電路40輸出的光/電轉換信號。
列ADC電路60使用從斜波波形生成電路51獲得的斜波波形信號RampV，數字化光電轉換信號，斜波波形生成電路51將在后面描述。
鎖存器電路70為每列22(像素單元23)存儲數字化轉換后的光電轉換信號，并與從水平掃描電路32輸出的水平掃描信號同步地將該光電轉換信號輸出到色彩處理器80，色彩處理器80位于鎖存器電路70之后。
色彩處理器80的功能是處理對應于每種顏色的像素單元23的每個光電轉換信號的數字值，并進行轉換，然后將光電轉換信號以任意標準，如YUV、YcbCr、RGB等輸入到圖像信號中。
如圖3所示，作為示例，這個優(yōu)選實施例中的列ADC電路60包括差分比較器61和62以及反相器69，其中，差分比較器61和62從輸入側到輸出側順序地采用雙級連接，反相器69插入連接在差分比較器62的輸出側和鎖存器電路70之間。
差分比較器61的參考信號輸入端61a經由開關68(開關S2)連接到斜波波形生成電路51，且輸入斜波波形信號RampV。
光電轉換信號23a(ADC-in)被從像素單元23經由開關67(開關S1x)輸入到差分比較器61的模擬信號輸入端61b。對這個模擬信號輸入端61b，提供了信號的電容器件63(信號的電容器件C3)以存儲光電轉換信號23a的電壓電平。
放置在前級的差分比較器的輸出端61c和61d以同樣的正/負極性分別連接到放置在后級的差分比較器62的輸入端62a和62b。
在這個優(yōu)選實施例中，差分比較器61包括偏移抵消功能，所述偏移抵消功能由開關64(開關S1)(第一開關)、開關65(開關S1)(第二開關)和電容器件66(電容器件C1)(偏移電容器件)組成，其中，開關64用于控制差分比較器61的參考信號輸入端61a和輸入端62b的短路，開關65用于控制模擬信號輸入端61b和輸出端61d的短路，電容器件66位于模擬信號輸入端61b中開關64的短路位置和開關65的短路位置之間。
類似地，放置在后級的差分比較器62包括偏移抵消功能，所述偏移抵消功能由開關64a(開關S1)(第一開關)、開關65a(開關S1)(第二開關)和電容器件66a(電容器件C2)(偏移電容器件)組成。
如圖4所示，差分比較器61包括pMOS晶體管Q1、nMOS晶體管Q2、pMOS晶體管Q3、nMOS晶體管Q4和用于將這些系統(tǒng)總地接地的nMOS晶體管Q5。每個系統(tǒng)的pMOS晶體管Q1和pMOS晶體管Q3各自的柵極通過連接到pMOS晶體管Q1的源極側，組成了負載電阻。模擬信號輸入端61b連接到nMOS晶體管Q2的柵極。參考信號輸入端61a連接到nMOS晶體管Q4的柵極。nMOS晶體管Q5充當恒電流源。
下面參考如圖6中所示的圖等描述了這個優(yōu)選實施例的一個功能。
首先，在像素陣列20中，由來自垂直掃描電路31的垂直同步信號選擇每行21，并且相關行21中像素單元23的光電轉換器件被復位。然后，相關行21中的每個像素單元23(列22)被來自水平掃描電路32的水平同步信號(列選擇輸出信號)一個接一個地讀取。
然后，復位噪聲等被列CDS電路40從自一個像素單元23(列22)輸出的光電轉換信號23a中消除，且光電轉換信號23a被列AMP電路50放大。然后，光電轉換信號23a被作為ADC-in輸入到列ADC電路60中，且對此信號施加模數轉換過程來進行數字化。
具體地說，在列ADC電路60中，開關S1和S1x與列選擇輸出信號同步地被閉合，其中列選擇輸出信號是光電轉換信號23a的輸入觸發(fā)，且對應于到達的光電轉換信號23a的電位電平的電荷被存儲在信號的電容器件C3中。同時，因為差分比較器61(或差分比較器62)的輸入/輸出側被開關S1短路，所以對應于基于差分比較器61(或差分比較器62)的閾值電壓電平(操作點)的光電轉換信號23a的電位的電荷被存儲在電容器件C1中。從而，如圖3所示的點A和E之間的電位變?yōu)楣怆娹D換信號23a(ADC-in)的電平。
然后，當斷開開關S1和S1x，閉合開關S2并將斜波波形信號RampV從斜波波形生成電路輸入到參考信號輸入端61a時，輸出側點C和D各自的電位在已經使用ADC-in的電平輸入光電轉換信號23a的情況下，被反轉為相反電平，并且由反相器69的反相輸出啟動計數器71中的計數。然后，當逐漸降低的斜波波形信號RampV與點B處光電轉換信號23a的電壓值相交叉時，差分比較器61和62輸出側的點C和E之間各自的電位被反轉，且計數器71的計數值被鎖存器電路70使用反相器69的反相輸出鎖住。這個計數值通過將光電轉換信號23a以規(guī)定的比特寬度轉換為數字值來獲得。
然后，鎖存器電路70的數字輸出與水平同步信號同步地被輸出到色彩處理器中，并在色彩處理器中被處理。
如上所述，根據本發(fā)明，當閉合開關S1x并輸入光電轉換信號23a時，通過閉合開關S1并存儲基于組成差分比較器61的晶體管的閾值電壓的光電轉換信號23a的電壓，抵消了差分比較器61的閾值電壓、寄生電容等等。因此，電位點A是固定的。當斷開開關S1和S1x，閉合開關S2，并輸入斜波波形信號RampV以進行比較時，在點B不因電容器件C1的電荷波動而產生電位波動，且光電轉換信號23a可與斜波波形信號RampV精確地進行比較。
因此例如，不因光電轉換信號23a不均勻的數字轉換特性而產生拍照圖像的層次、不均勻色彩等等，而且可以提高成像裝置10的圖像質量。
因為差分比較器61通過具體電流值的分布來操作，其中，具體電流值由nMOS晶體管Q5確定，nMOS晶體管Q5由pMOS晶體管Q1、nMOS晶體管Q2、pMOS晶體管Q3和nMOS晶體管Q4中的每個輸入系統(tǒng)共享，所以不必增大由nMOS晶體管Q5控制的電流值，因此，可以抑制消耗電流。同時，既不必增大組成差分比較器61的晶體管的柵長以控制電流，也不會使寄生電容增大。
因為每列22都提供了列ADC電路60，所以例如當增大像素陣列20中像素單元的數目或密度以提高分辨率時，列ADC電路的數目也增大。然而，通過抑制每個列ADC電路的消耗電流，如這個優(yōu)選實施例中的那樣，可以以低消耗電流(功率)實現用于輸出高質量的高分辨率圖象的高性能成像裝置10，其中，高性能成像裝置10的列ADC電路60具有很高的數字化精度。
本發(fā)明不限于上述的優(yōu)選實施例，而且只要不偏離本發(fā)明的主題，對本發(fā)明的變更和修改也是可能的。
根據本發(fā)明，可以提供能以更少量的消耗電流實現高精度模數轉換的差分比較器。
還可提供能以更少量的消耗電流實現高精度模數轉換的模數轉換裝置。
還可提供能以更少量的消耗電流輸出高質量的圖象數據的成像裝置。
權利要求
1.一種差分比較器，所述差分比較器根據分別被輸入到第一和第二輸入端的第一和第二輸入信號電平的一致/不一致，將正的和/或負的邏輯信號輸出到輸出端，所述差分比較器包括偏移抵消功能，所述偏移抵消功能由偏移電容器件、第一開關和第二開關組成，其中，偏移電容器件位于所述第一和第二端的差分比較器側，所述第一開關用于短路連接所述第一和第二輸入端以使得形成包括所述偏移電容器件的閉合環(huán)路，所述第二開關用于短路連接所述偏移電容器件和所述差分比較器之間的連接點與所述輸出端。
2.如權利要求1所述的差分比較器，其中通過將從被放置在前一級的所述差分比較器輸出的正的和負的邏輯信號輸入到被放置在后續(xù)級的第一和第二輸入端，多級連接多個所述差分比較器。
3.如權利要求1所述的差分比較器，所述差分比較器充當模數轉換器，所述模數轉換器通過將要從模擬轉換為數字的模擬信號輸入到設有所述偏移電容器件的第一和第二輸入端中，將斜波波形信號輸入到所述另外的第二或第一輸入端中，并通過輸出端的邏輯信號控制計數器的開啟/關閉，來將模擬信號數字化地轉換為所述計數器的計數器值，所述計數器用于對從所述模擬信號被作為觸發(fā)輸入時開始直到所述模擬信號的電平與所述斜波波形信號的電平一致時為止的時間進行計數。
4.一種模數轉換裝置，所述模數轉換裝置包括差分比較器和計數器，其中，所述差分比較器根據分別被輸入到第一和第二輸入端的模擬信號和參考信號各自的信號電平的一致/不一致，將正的和/或負的邏輯信號輸出到輸出端，所述計數器的啟動和停止由所述邏輯信號控制，且所述計數器的輸出值是從所述模擬信號被作為觸發(fā)輸入時開始直到所述模擬信號與所述參考信號一致時為止的計數器的計數值，所述差分比較器包括偏移抵消功能，所述偏移抵消功能由偏移電容器件、第一開關和第二開關組成，其中，偏移電容器件位于所述第一和第二端的差分比較器側，所述第一開關用于短路連接所述第一和第二輸入端以使得形成包括所述偏移電容器件的閉合環(huán)路，所述第二開關用于短路連接所述偏移電容器件和所述差分比較器之間的連接點與所述輸出端。
5.如權利要求4所述的模數轉換裝置，其中通過將從被放置在前一級的所述差分比較器輸出的正的和負的邏輯信號輸入到被放置在后續(xù)級的第一和第二輸入端，多級連接多個所述差分比較器。
6.如權利要求4所述的模數轉換裝置，還包括信號的電容器件，所述信號的電容器件連接到所述模擬信號所輸入的所述第一輸入端，用于存儲所述模擬信號。
7.如權利要求4所述的模數轉換裝置，其中所述參考信號是斜波波形信號。
8.一種成像裝置，所述成像裝置包括多個讀取電路，其中，每個讀取電路由像素陣列和模數轉換器組成，在像素陣列中，多個包括光電轉換器件的像素單元在行和列方向上二維排列，所述模數轉換器用于將從每個像素單元輸出的光/電轉換信號轉換為數字信號，所述模數轉換器包括差分比較器，所述差分比較器根據分別被輸入到第一和第二輸入端的模擬信號和參考信號各自的信號電平的一致/不一致，將正的和/或負的邏輯信號輸出到輸出端；以及偏移抵消功能，所述偏移抵消功能由偏移電容器件、第一開關和第二開關組成，其中，偏移電容器件位于所述第一端，第一開關用于短路連接所述第一和第二輸入端以使得形成包括所述偏移電容器件的閉合環(huán)路，第二開關用于短路連接所述輸出端和設有所述偏移電容器件的所述第一輸入端。
9.如權利要求8所述的成像裝置，其中所述模數轉換器還包括計數器，所述計數器通過由所述邏輯信號控制其啟動和停止，輸出從所述模擬信號被作為觸發(fā)輸入時開始直到所述模擬信號的電平與所述參考信號的電平一致時為止的時間，作為所述模擬信號的數字轉換值。
10.如權利要求8所述的成像裝置，其中在所述模數轉換器中，通過將來自被放置在前一級的所述差分比較器的正的和負的邏輯信號輸入到位于后續(xù)級的所述差分比較器的第一和第二輸入端，使多個所述差分比較器多級連接。
11.如權利要求8所述的成像裝置，其中所述讀取電路還包括被放置在所述模數轉換器之前的噪聲消除電路，所述噪聲消除電路通過相關雙采樣消除包括在光電轉換信號中的噪聲。
12.如權利要求8所述的成像裝置，其中對于所述像素單元的每行或每列，都提供了所述讀取電路。
13.如權利要求8所述的成像裝置，其中所述參考信號是斜波波形信號。
14.如權利要求8所述的成像裝置，所述成像裝置是互補金屬氧化物半導體圖像傳感器。
全文摘要
本發(fā)明提供了一種差分比較器，所述差分比較器根據分別被輸入到第一和第二輸入端的第一和第二輸入信號電平的一致/不一致，將正的和/或負的邏輯信號輸出到輸出端，所述差分比較器包括偏移抵消功能，所述偏移抵消功能由偏移電容器件、第一開關和第二開關組成，其中，偏移電容器件位于第一和第二端的差分比較器側，第一開關用于短路連接第一和第二輸入端以使得形成包括偏移電容器件的閉合環(huán)路，第二開關用于短路連接偏移電容器件和差分比較器之間的連接點與輸出端。
文檔編號H03M1/08GK1716773SQ200510001639
公開日2006年1月4日 申請日期2005年2月3日 優(yōu)先權日2004年7月2日
發(fā)明者水口壽孝, 船越純, 山縣誠司, 樋口剛 申請人:富士通株式會社