專利名稱：用于改善倍頻性能的檢測控制裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種集成電路，特別涉及一種在集成電路中實現(xiàn)的倍頻器電路。
背景技術(shù)：
倍頻電路通常用在鎖相環(huán)中用于合成與輸入信號相位有關(guān)的時鐘信號。低頻時對輸入信號的倍頻可通過使用開關(guān)電容、差動放大器、具有不同發(fā)射區(qū)比率(W/L)的發(fā)射極耦合的晶體管對和使用由邏輯門與觸發(fā)器實現(xiàn)的信號延遲來實現(xiàn)。
高頻時對輸入信號的倍頻的實施就變得困難。
傳統(tǒng)的對具有高頻區(qū)內(nèi)預(yù)定頻率的輸入信號進行倍頻的方法包括使用輸入信號IN與輸入信號IN經(jīng)四分之一周期相移后的信號的乘積的方法，和，使用長度為輸入信號IN的波長的四分之一的微帶線(micro strip line)和輸入信號IN的二次諧波頻率的方法。
然而，微帶線并不能很容易地置入IC還不影響IC中其他元器件的工作和布局。
圖1顯示了傳統(tǒng)的倍頻電路，該倍頻電路具有多個放大器11、13和19；移相器17；和乘法器15。放大器11和13放大輸入信號IN，其工作在預(yù)定頻率fo。信號IN從鎖相環(huán)(PLL)的壓控振蕩器(VCO)輸出。放大器13的輸出信號I進入移相器17，該移相器對信號I移相π/2或90°形成信號Q。乘法器15將信號I與π/2相移后的信號Q相乘。乘法器15的輸出是其頻率為輸入信號頻率fo的兩倍即2fo的信號。該信號經(jīng)放大器19放大，放大后的信號施加到混頻器的本機振蕩器(LO)。
當I與Q的增益不匹配或兩個信號I與Q在相位上不匹配時，圖1中的電路就會存在問題。處理條件或溫度的變化能導(dǎo)致上述不匹配。
而且，有源元件的非線性還會導(dǎo)致頻率fo的諧波和調(diào)制頻率分量。提供給混頻器的LO(未示出)時，倍頻信號的諧波可能對系統(tǒng)的靈敏度特性產(chǎn)生不利影響。
因此，需要有在高頻區(qū)擁有改良倍頻性能并且易于在集成電路(IC)中實現(xiàn)的倍頻器電路。
還需要有即使在處理環(huán)境和溫度發(fā)生變化時也能改善倍頻性能的檢測控制單元。

發(fā)明內(nèi)容
提供了一種倍頻器電路，該電路包括移相器、第一緩沖器、第二緩沖器、檢測控制單元、第三緩沖器、第四緩沖器、乘法器和輸出緩沖器。移相器響應(yīng)于具有預(yù)定頻率的輸入信號輸出與輸入信號同相的第一信號和與輸入信號有相位差的第二信號。第一緩沖器對第一信號進行濾波和緩沖，第二緩沖器對第二信號進行濾波和緩沖。檢測控制單元響應(yīng)第一信號、第二信號、第一緩沖器的輸出信號和第二緩沖器的輸出信號，檢測第一信號與第二信號之間的相位差，并輸出第一控制信號和第二控制信號。
第三緩沖器響應(yīng)第一控制信號對第一緩沖器的輸出信號進行緩沖。第四緩沖器響應(yīng)第二控制信號對第二緩沖器的輸出信號進行緩沖。
乘法器將第三緩沖器的輸出信號與第四緩沖器的輸出信號相乘。輸出緩沖器對乘法器的輸出信號進行緩沖。
第二信號與第一信號之間的相位差最好是90°左右，第四緩沖器的輸出信號與第三緩沖器的輸出信號之間的相位差最好是90°左右。
而且，第一與第二緩沖器的濾波器最好是高通濾波器，輸出緩沖器的輸出濾波器最好是帶通濾波器。
為實現(xiàn)第二個目標提供了一種檢測控制設(shè)備，用于響應(yīng)具有預(yù)定頻率的輸入信號來控制與輸入信號相位相同的第一信號和與輸入信號存在相位差的第二信號參與乘法運算。該檢測控制器包括相位檢測器、轉(zhuǎn)換器和驅(qū)動緩沖器。相位檢測器響應(yīng)第一和第二信號輸出與第一信號和第二信號之間的相位差成正比的電壓。轉(zhuǎn)換器響應(yīng)相位檢測網(wǎng)絡(luò)的輸出電壓產(chǎn)生與上述電壓成正比的電流。驅(qū)動緩沖器響應(yīng)第一與第二緩沖器的輸出信號對轉(zhuǎn)換器的輸出信號進行緩沖，并輸出用于控制第三緩沖器的第一控制信號和用于控制第四緩沖器的第二控制信號。


通過對下列附圖的簡介能更好地理解本發(fā)明，其中圖1顯示了傳統(tǒng)的倍頻電路；圖2是根據(jù)本發(fā)明實施例的倍頻器電路的原理框圖；圖3顯示了圖2中的相位檢測器輸出的波形圖；圖4是圖2中電壓-電流轉(zhuǎn)換器的原理電路圖；和圖5是圖2中驅(qū)動緩沖器的原理電路圖。
具體實施例方式
要充分理解上述目的與本發(fā)明的優(yōu)點，參照以下結(jié)合附圖對優(yōu)選實施例的闡述。
下面將通過參照附圖對優(yōu)選實施例的記述來詳細說明本發(fā)明。圖中相同的標號表示相同的元器件。
圖2是根據(jù)本發(fā)明實施例的倍頻器電路的原理框圖。該倍頻器電路包括移相器200、第一緩沖器210、第二緩沖器230、檢測控制單元250、第三緩沖器215、第四緩沖器235、乘法器270和輸出緩沖器290。
移相器200包括放大器201和移相網(wǎng)絡(luò)203。放大器201放大輸入信號IN的信號電平。信號IN以從VCO(未顯示)輸出的頻率fo操作。通常，輸入信號應(yīng)保持在500mV或更高以便得到最小相位誤差特征。
為使對頻率等于或小于參考頻率的噪聲的傳輸最小，移相網(wǎng)絡(luò)203輸出第一信號in_I和第二信號in_Q，信號in_I與輸入信號IN同相，這里稱為“同相信號”，信號in_Q與輸入信號IN不同相，這里稱為“異相信號”。
第一緩沖器210對第一信號in_I進行濾波和緩沖。第一緩沖器210包括濾波器211和放大器(或限幅器)213。濾波器211最好是高通濾波器(HPF)，用于消除第一信號in_I中包含的低頻噪聲，經(jīng)過高通濾波的信號輸出給放大器213。
第二緩沖器230對與第一信號in_I有四分之一周期相移的第二信號in_Q進行濾波和緩沖。第二緩沖器230包括濾波器231和放大器(或限幅器)233。濾波器231最好也是高通濾波器，用于消除第二信號in_Q中包含的低頻噪聲，經(jīng)過高通濾波的信號輸出給放大器233。
圖2中的檢測控制單元250包括相位檢測器251、電壓-電流轉(zhuǎn)換器253和驅(qū)動緩沖器255。
相位檢測器251檢測輸入信號in_I與in_Q之間的相位差并提供電壓Vd(t)，電壓Vd(t)與上述兩個信號之間的相位差成正比。電壓Vd(t)輸入給電壓-電流轉(zhuǎn)換器253，電流轉(zhuǎn)換器253產(chǎn)生與電壓Vd(t)成正比的電流。
根據(jù)本發(fā)明的本實施例，檢測器檢測第一信號in_I與第二信號in_Q的相位和頻率。響應(yīng)第一緩沖器210的差動輸出信號QIIN和第二緩沖器230的差動輸出信號QLIN，驅(qū)動緩沖器255輸出第一差動控制信號I_OUT以控制第三緩沖器215和第二差動控制信號Q_OUT以控制第四緩沖器235。
根據(jù)本發(fā)明的另一實施例，檢測控制單元可能包括用于檢測相位和頻率的相位-頻率檢測器(未顯示)和驅(qū)動緩沖器255。
第三緩沖器215在驅(qū)動緩沖器255的第一差動控制信號I_OUT的控制下對第一緩沖器210的輸出信號QIIN進行緩沖，并輸出與輸入信號IN同相的信號I。
第四緩沖器235在驅(qū)動緩沖器255的第二差動控制信號Q_OUT的控制下對第二緩沖器230的輸出信號QLIN進行緩沖，并輸出與輸入信號IN存在π/2左右相位差的異相的信號Q。
這樣，第一差動控制信號I_OUT或第二差動控制輸出信號Q_OUT控制信號I或Q，以使兩者之間存在π/2的相位差。第三緩沖器215和第四緩沖器235最好是放大器或限幅器。
為了使當由乘法器270的晶體管開關(guān)導(dǎo)致產(chǎn)生噪聲時的諧波失真的增加或由輸入信號in_I、in_Q或QIIN與QLIN的電平過大導(dǎo)致的諧波失真的增加最小，第一緩沖器210的放大器213、第三緩沖器215、第二緩沖器230的放大器233和第四緩沖器235將輸入信號in_I與in_Q或QIIN與QLIN轉(zhuǎn)換為電平補償后的信號I和Q。乘法器270的輸入信號I與Q的幅值匹配使與乘法器270的晶體管功率匹配時的負載影響最小。
乘法器270將第三緩沖器215的信號I即cosωt和與信號I存在π/2相移的第四緩沖器235的信號Q即cos(ωt-π/2)相乘。cosωt·cos(ωt-π/2)的積為cos2ωt。亦即，該信號的頻率為輸入信號IN的頻率fo的兩倍，即2fo。
輸出緩沖器290對乘法器270的輸出信號cos2ωt進行緩沖，并將頻率為2fo的信號輸出給混頻器。輸出驅(qū)動器290包括輸出濾波器291和放大器293。輸出信號cos2ωt除包括輸入信號頻率fo的倍頻2fo外還包含一些諧波。因而，輸出濾波器291包括中心頻率為2fo的帶通濾波器(BPF)291，用于濾除寄生諧波。通過BPF 291的信號2fo是混頻器的LO信號，該信號輸入給匹配放大器293泵激(pumping)。
圖3顯示了圖2中相位檢測器251的輸出波形圖。圖3(a)顯示了第一信號in_I的波形，其中Φ表示圖3(b)中第一信號in_I與第二信號in_Q之間的相位差。圖3(c)顯示了相位差Φ為π/2時相位檢測器251的輸出Vd(t)，輸出表示為DC電壓改變/Vd(t)。DC電壓的變化/Vd(t)可由相位檢測器251的輸出電壓Vd(t)的改變控制。相移值通過驅(qū)動緩沖器255提供給乘法器270作為輸入控制信號I_OUT和Q_OUT。
圖3(d)顯示相位差Φ小于參考相位π/2的情況，圖3(e)顯示相位差Φ大于參考相位π/2的情況。同樣，/Vd(t)表示相位檢測器251的直流電平。
圖4是圖2中電壓-電流轉(zhuǎn)換器253的原理電路圖。電壓-電流轉(zhuǎn)換器253包括漏極接電流源40、柵極接參考電壓Vref的nMOS晶體管43；漏極與柵極都接nMOS晶體管43的源極、源極與地電壓相連的nMOS晶體管47；漏極接電流源40、柵極輸入為相位檢測器251的輸出電壓Vd(t)的nMOS晶體管41；漏極與柵極都接nMOS晶體管41的源極、源極接地的nMOS晶體管45。電壓-電流轉(zhuǎn)換器253的輸出節(jié)點49與nMOS晶體管41的源極和nMOS晶體管45的漏極相連。
晶體管41和43的通斷取決于Vd(t)或參考電壓Vref，晶體管41和43根據(jù)其狀態(tài)允許恒定電流流過。輸出節(jié)點49的電壓VB也根據(jù)輸出電壓Vd(t)的電平變化。
圖5是圖2中驅(qū)動緩沖器255的原理電路圖。驅(qū)動緩沖器包括第一差動比較器60和第二差動比較器70。
第一差動比較器60響應(yīng)電壓-電流轉(zhuǎn)換器253的輸出信號VB和第一緩沖器210中放大器213的差動輸出信號QIIN和QIINB，輸出用于控制第三緩沖器215的第一差動控制信號I_OUT和I_OUTB。第二差動比較器70響應(yīng)電壓-電流轉(zhuǎn)換器253的輸出信號VB和第二緩沖器230中放大器233的差動輸出信號QLIN和QLINB，輸出用于控制第四緩沖器235的第二差動控制信號Q_OUT和Q_OUTB。
第一差動比較器60包括一端接電源電壓VCC的電阻R1；一端接電源電壓VCC的電阻R2；其集電極接電阻R1的另一端、柵極接收第一緩沖器210中放大器(或限幅器)213的差動輸出信號QIIN和QIINB的第一晶體管51；其集電極接電阻R2的另一端、柵極接收接第一緩沖器210中放大器213的差動輸出信號QIIN和QIINB的第二晶體管53；其柵極接收電壓-電流轉(zhuǎn)換器253的輸出電壓VB、漏極同時接第一晶體管51和第二晶體管53的發(fā)射極、源極與地電源VSS相連的nMOS晶體管55。第一晶體管51的集電極和第二晶體管53的集電極輸出第一控制信號I_OUT和I_OUTB給第三緩沖器215。
第二差動比較器70包括一端接電源電壓VCC的電阻R3；一端接電阻R3另一端的電阻R4；一端接電阻R3另一端的電阻R5；其集電極接電阻R4的另一端、柵極接收第二緩沖器230中放大器233的差動輸出信號QLIN和QLINB的第三晶體管58；其集電極接電阻R5的另一端、其柵極接收第二緩沖器230中放大器233的差動輸出信號QLIN和QLINB的第四晶體管59；其柵極接收電壓-電流轉(zhuǎn)換器253的輸出電壓VB、漏極同時接第三晶體管58和第四晶體管59的發(fā)射極、源極與地電源VSS相連的nMOS晶體管57。第三晶體管58的集電極和第四晶體管59的集電極輸出第二控制信號Q_OUT和Q_OUTB給第四緩沖器215。
第一差動比較器60的差動輸出信號I_OUT和I_OUTB響應(yīng)于施加給nMOS晶體管55柵極的電壓-電流轉(zhuǎn)換器253的輸出信號VB和第一緩沖器210的差動輸出信號QIIN與QIINB確定。第一差動比較器60的差動輸出信號I_OUT和I_OUTB輸入給第三緩沖器215用于控制第三緩沖器215。
另外，第二差動比較器70的差動輸出信號Q_OUT和Q_OUTB響應(yīng)于施加給nMOS晶體管57柵極的電壓-電流轉(zhuǎn)換器253的輸出信號VB和第二緩沖器230的差動輸出信號QLIN與QLINB確定。第二差動比較器70的差動輸出信號Q_OUT和Q_OUTB輸入給第四緩沖器235用于控制第三緩沖器235。
這樣，第三緩沖器215響應(yīng)第一控制信號I_OUT和I_OUTB而輸出與輸入信號IN同相的信號I。
第四緩沖器235響應(yīng)第二控制信號Q_OUT和Q_OUTB而輸出與輸入信號IN相位相差約π/2的異相的信號Q。
這樣，第三緩沖器215的輸出信號I和第四緩沖器235的輸出信號Q被調(diào)整為具有約π/2的相位差，然后輸入給乘法器270。乘法器將信號I和信號Q相乘并輸出頻率為輸入信號頻率(fo)二倍(2fo)的信號給混頻器。
因此，移相網(wǎng)絡(luò)203的信號in_I和in_Q的頻率、溫度或參數(shù)等條件的改變會導(dǎo)致信號I和信號Q在相位上的相應(yīng)變化，這將使乘法器270在產(chǎn)生輸入信號IN的倍頻信號時的特性變壞。
為了補償乘法器270的特性，相位檢測器251輸出與第一信號in_I和第二信號in_Q之間的相位差成正比的電壓Vd(t)給電壓-電流轉(zhuǎn)換器253。
當有不同于參考相位π/2的相位差改變時，如圖3所示，取決于相位改變Φ的DC電壓變化使相位檢測器251的Vd(t)改變，Vd(t)的改變導(dǎo)致控制信號I_OUT和Q_OUT的改變，從而補償輸入給乘法器270的信號I和信號Q的改變。這樣，不管經(jīng)過移相的信號的諸如頻率、溫度及參數(shù)等條件如何改變，都能得到恒定的倍頻特性。
因此，根據(jù)本發(fā)明實施例的倍頻器電路改善了與混頻器LO信號有關(guān)的諧波即2fo信號的載波噪聲比(CNR)。
如上所述，根據(jù)本發(fā)明優(yōu)選實施例的說明性的倍頻器電路由IC實現(xiàn)，并且不管溫度及其他諸如處理等參數(shù)如何變化，都通過精密地將信號I與信號Q之間的相位差調(diào)整為π/2，來改善倍頻性能。
盡管本文出于說明本發(fā)明的目的使用了一些特殊術(shù)語，但并不是要將本發(fā)明限制在該范圍。因此，本技術(shù)領(lǐng)域的普通技術(shù)人員都能理解到，這些實施例的一些變型都包括在本發(fā)明的實質(zhì)和范圍內(nèi)。相應(yīng)地，本領(lǐng)域的技術(shù)人員可在不背離由所附權(quán)利要求書限定的范圍和實質(zhì)的情況下，對這些實施例作出修改。
權(quán)利要求
1.一種檢測控制裝置，用于響應(yīng)具有預(yù)定頻率的輸入信號，控制與輸入信號同相的第一信號和與輸入信號異相的第二信號相乘，該檢測控制裝置包括相位檢測器，用于輸出與第一信號和第二信之間的相位差成正比的電壓；轉(zhuǎn)換器，用于生成與該電壓成正比的電流；和驅(qū)動緩沖器，用于響應(yīng)第一和第二緩沖器的輸出信號對轉(zhuǎn)換器的輸出信號進行緩沖，分別緩沖第一和第二信號，并輸出用于控制第三緩沖器的第一控制信號和用于控制第四緩沖器的第二控制信號。
2.根據(jù)權(quán)利要求1的檢測控制單元，其中轉(zhuǎn)換器包括第一MOS晶體管，其漏極接電流源，柵極接收參考電壓；第二MOS晶體管，其漏極和柵極共接第一MOS晶體管的源極，源極與地電壓相連接；第三MOS晶體管，其漏極接電流源，柵極接收相位檢測器的輸出電壓；和第四MOS晶體管，其漏極和柵極共接第三MOS晶體管的源極，源極與地電壓相連接，其中轉(zhuǎn)換器的輸出節(jié)點接第三MOS晶體管的源極。
3.根據(jù)權(quán)利要求1的檢測控制單元，其中驅(qū)動緩沖器包括第一差動比較器，用于響應(yīng)第一緩沖器的輸出信號和轉(zhuǎn)換器的輸出信號，輸出用于控制第三緩沖器的第一控制信號；和第二差動比較器，用于響應(yīng)第二緩沖器的輸出信號和轉(zhuǎn)換器的輸出信號，輸出用于控制第四緩沖器的第二控制信號。
全文摘要
本發(fā)明涉及一種在集成電路中實現(xiàn)的倍頻器電路。按照本發(fā)明的一種檢測控制裝置，用于響應(yīng)具有預(yù)定頻率的輸入信號，控制與輸入信號同相的第一信號和與輸入信號異相的第二信號相乘，該檢測控制裝置包括相位檢測器，用于輸出與第一信號和第二信號之間的相位差成正比的電壓；轉(zhuǎn)換器，用于生成與該電壓成正比的電流；和驅(qū)動緩沖器，用于響應(yīng)第一和第二緩沖器的輸出信號對轉(zhuǎn)換器的輸出信號進行緩沖，分別緩沖第一和第二信號，并輸出用于控制第三緩沖器的第一控制信號和用于控制第四緩沖器的第二控制信號。通過采用本發(fā)明的檢測控制裝置，即使在處理環(huán)境和溫度發(fā)生變化時也能改善倍頻性能。
文檔編號H03B19/14GK1627629SQ20041010032
公開日2005年6月15日 申請日期2001年7月10日 優(yōu)先權(quán)日2000年9月26日
發(fā)明者金正鎬 申請人:三星電子株式會社