本技術(shù)涉及電子電路，特別是涉及一種芯片電路及采樣系統(tǒng)。

背景技術(shù)：

1、圖1示出一種芯片采樣系統(tǒng)，利用分壓電阻對待采信號進行分壓得到采樣信號輸入至芯片中以進行后續(xù)處理。應(yīng)用中，為了保護芯片的端口，通過設(shè)置分壓電阻的值來設(shè)計分壓比，使芯片端口電壓小于芯片供電電壓。但是，在待采信號出現(xiàn)較大波動時，輸入至芯片的采樣信號也會出現(xiàn)較大波動，導(dǎo)致其電壓值超過芯片端口的保護閾值，使芯片端口因過大電壓造成損壞，從而損壞芯片。因此，在信號采樣時如何有效保護芯片端口，是本領(lǐng)域技術(shù)人員迫切想要解決的技術(shù)問題。

2、應(yīng)該注意，上面對技術(shù)背景的介紹只是為了方便對本申請的技術(shù)方案進行清楚、完整的說明，并方便本領(lǐng)域技術(shù)人員的理解而闡述的。不能僅僅因為這些方案在本申請的背景技術(shù)部分進行了闡述而認(rèn)為上述技術(shù)方案為本領(lǐng)域技術(shù)人員所公知。

技術(shù)實現(xiàn)思路

1、鑒于以上所述現(xiàn)有技術(shù)的缺點，本實用新型的目的在于提供一種芯片電路及采樣系統(tǒng)，解決了現(xiàn)有芯片采樣系統(tǒng)通過分壓電阻進行信號采樣時，因信號波動使芯片端口電壓超出端口保護閾值導(dǎo)致芯片損壞的問題。

2、為實現(xiàn)上述目的及其他相關(guān)目的，本實用新型提供一種芯片電路，所述芯片電路包括：

3、放大器、第一電阻、第二電阻、第三電阻及第四電阻，所述第一電阻設(shè)置于芯片外部，所述第二電阻設(shè)置于芯片外部或芯片內(nèi)部，所述放大器、所述第三電阻及所述第四電阻設(shè)置于芯片內(nèi)部；

4、所述放大器的同相端經(jīng)第一芯片端口及所述第一電阻連接輸入信號，反相端經(jīng)第二芯片端口及所述第二電阻連接參考地，輸出端生成輸出信號；所述第三電阻連接于所述放大器的同相端及參考地之間，所述第四電阻連接于所述放大器的反相端及輸出端之間。

5、可選地，所述第三電阻采用至少兩個第五電阻選通的方式實現(xiàn)，其中，所述芯片電路還包括第一開關(guān)，固定端連接所述放大器的同相端，各選擇端分別經(jīng)各所述第五電阻連接參考地。

6、可選地，所述第四電阻采用至少兩個第六電阻選通的方式實現(xiàn)，其中，所述芯片電路還包括第二開關(guān)，固定端連接所述放大器的反相端，各選擇端分別經(jīng)各所述第六電阻連接所述放大器的輸出端。

7、可選地，所述第三電阻采用至少兩個第五電阻選通的方式實現(xiàn)且所述第四電阻采用至少兩個第六電阻選通的方式實現(xiàn)，其中，所述第五電阻與所述第六電阻的數(shù)量相等且各所述第五電阻與各所述第六電阻的阻值對應(yīng)相等。

8、可選地，所述第三電阻的阻值小于所述第一電阻的阻值。

9、可選地，所述第一電阻的阻值與所述第二電阻的阻值相等，所述第三電阻的阻值與所述第四電阻的阻值相等。

10、可選地，所述第一電阻的阻值大于或等于1kω且小于或等于100kω。

11、可選地，所述放大器包括運算放大器或增益放大器。

12、本實用新型還提供一種采樣系統(tǒng)，所述采樣系統(tǒng)包括：如上所述的芯片電路，用于對輸入信號進行放大采樣。

13、可選地，所述采樣系統(tǒng)還包括分壓電路，用于對待采信號進行分壓得到所述輸入信號。

14、如上所述，本實用新型的一種芯片電路及采樣系統(tǒng)，利用設(shè)置于芯片內(nèi)部的放大器進行信號采樣，并利用設(shè)置于芯片外部的第一電阻及設(shè)置于芯片內(nèi)部的第三電阻構(gòu)成的分壓結(jié)構(gòu)對輸入信號進行分壓來降低第一芯片端口處的電壓，使芯片端口電壓小于輸入信號電壓，有效保護芯片端口的同時還可以拓寬輸入信號的電壓范圍，使其可以是超出芯片供電電壓的電信號。本發(fā)明實現(xiàn)信號采樣的同時還可以保護芯片端口，使芯片可以更安全地工作，提高系統(tǒng)的魯棒性；而且，本發(fā)明電路架構(gòu)簡單，有利于降低電路成本。

技術(shù)特征：

1.一種芯片電路，其特征在于，所述芯片電路包括：

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的芯片電路，其特征在于，所述第三電阻采用至少兩個第五電阻選通的方式實現(xiàn)，其中，所述芯片電路還包括第一開關(guān)，固定端連接所述放大器的同相端，各選擇端分別經(jīng)各所述第五電阻連接參考地。

3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的芯片電路，其特征在于，所述第四電阻采用至少兩個第六電阻選通的方式實現(xiàn)，其中，所述芯片電路還包括第二開關(guān)，固定端連接所述放大器的反相端，各選擇端分別經(jīng)各所述第六電阻連接所述放大器的輸出端。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的芯片電路，其特征在于，所述第三電阻采用至少兩個第五電阻選通的方式實現(xiàn)且所述第四電阻采用至少兩個第六電阻選通的方式實現(xiàn)，其中，所述第五電阻與所述第六電阻的數(shù)量相等且各所述第五電阻與各所述第六電阻的阻值對應(yīng)相等。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的芯片電路，其特征在于，所述第三電阻的阻值小于所述第一電阻的阻值。

6.根據(jù)權(quán)利要求1或5所述的芯片電路，其特征在于，所述第一電阻的阻值與所述第二電阻的阻值相等，所述第三電阻的阻值與所述第四電阻的阻值相等。

7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的芯片電路，其特征在于，所述第一電阻的阻值大于或等于1kω且小于或等于100kω。

8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的芯片電路，其特征在于，所述放大器包括運算放大器或增益放大器。

9.一種采樣系統(tǒng)，其特征在于，所述采樣系統(tǒng)包括：如權(quán)利要求1～8任意一項所述的芯片電路，用于對輸入信號進行放大采樣。

10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的采樣系統(tǒng)，其特征在于，所述采樣系統(tǒng)還包括分壓電路，用于對待采信號進行分壓得到所述輸入信號。

技術(shù)總結(jié)
本技術(shù)提供一種芯片電路及采樣系統(tǒng)，其中，芯片電路包括放大器、第一電阻、第二電阻、第三電阻及第四電阻，第一電阻設(shè)置于芯片外部，第二電阻設(shè)置于芯片外部或芯片內(nèi)部，放大器、第三電阻及第四電阻設(shè)置于芯片內(nèi)部；放大器的同相端經(jīng)第一芯片端口及第一電阻連接輸入信號，反相端經(jīng)第二芯片端口及第二電阻連接參考地，輸出端生成輸出信號；第三電阻連接于放大器的同相端及參考地之間，第四電阻連接于放大器的反相端及輸出端之間。通過本技術(shù)解決了現(xiàn)有芯片采樣系統(tǒng)通過分壓電阻進行信號采樣時，因信號波動使芯片端口電壓超出保護閾值導(dǎo)致芯片損壞的問題。

技術(shù)研發(fā)人員：單琰,李宗憲,朱健瑋
受保護的技術(shù)使用者：睿興科技（南京）有限公司
技術(shù)研發(fā)日：20240322
技術(shù)公布日：2024/12/19