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無(wú)線受電電路及使用了它的電子設(shè)備的制作方法

文檔序號(hào):7377966閱讀:143來(lái)源:國(guó)知局
無(wú)線受電電路及使用了它的電子設(shè)備的制作方法
【專利摘要】無(wú)線受電電路(100)與接收線圈(102)一起構(gòu)成無(wú)線受電裝置。內(nèi)部電源線(120)上連接電容器(C1),輸出線(122)連接充電電池(2)。H橋電路(104)包括N溝道MOSET的晶體管(MH1、MH2、ML1、ML2)。第1開關(guān)(SW1)被設(shè)在整流線(124)與內(nèi)部電源線(120)之間。第2開關(guān)(SW2)被設(shè)在整流線(124)與輸出線(122)之間。控制器(106)的電源端子(108)被供給內(nèi)部電源線(120)的電壓(VDD)。
【專利說(shuō)明】無(wú)線受電電路及使用了它的電子設(shè)備

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001] 本發(fā)明涉及無(wú)線供電技術(shù)。

【背景技術(shù)】
[0002] 為給電動(dòng)刮胡刀、電動(dòng)牙刷、無(wú)繩電話機(jī)、游戲設(shè)備的控制器、電動(dòng)工具等充電,非 接觸功率傳輸(也稱無(wú)接點(diǎn)功率傳輸、無(wú)線供電)被利用。圖1是表示本發(fā)明人們研究過(guò) 的具有無(wú)線受電裝置的電子設(shè)備的構(gòu)成的圖。
[0003] 電子設(shè)備Ir具有無(wú)線受電裝置300、充電電池2、DC/DC轉(zhuǎn)換器4、微控制器(MCU: MicroControllerUnit)6。無(wú)線受電裝置300接收來(lái)自無(wú)線供電裝置200的功率信號(hào)S1, 給充電電池2充電。例如充電電池2是鎳氫電池或鋰離子電池。DC/DC轉(zhuǎn)換器4使充電電 池2的電壓Vbat升壓或降壓,對(duì)微控制器6供給電源電壓。微控制器6控制電子設(shè)備Ir整 體。
[0004] 無(wú)線供電裝置200向無(wú)線受電裝置300提供功率信號(hào)。無(wú)線供電裝置200具有發(fā) 送線圈202、驅(qū)動(dòng)部204。驅(qū)動(dòng)部204是電壓源或電流源,使發(fā)送線圈202中流過(guò)交流的驅(qū) 動(dòng)電流。
[0005] 無(wú)線受電裝置300的接收線圈302為與發(fā)送線圈202耦合而被靠近配置。發(fā)送線 圈202中流過(guò)驅(qū)動(dòng)電流時(shí),基于電磁感應(yīng),在接收線圈302中流過(guò)線圈電流Iamtl
[0006] 無(wú)線受電裝置300除接收線圈302外還具有二極管橋電路304、輸出開關(guān)306、控 制開關(guān)308、電阻RlO?R12。以往,無(wú)線受電裝置300是將所謂的分立部件組合而構(gòu)成的。
[0007] 二極管橋電路304包含被橋接的4個(gè)二極管,對(duì)流入接收線圈302的線圈電流Iam 進(jìn)行整流,生成充電電流1?。電阻RlO被連接于二極管橋電路304的輸出端子。充電電流 Iaffi被介由輸出開關(guān)306提供給充電電池2,充電電池2被充電。
[0008] 無(wú)線受電裝置300被輸入微控制器6所生成的、指示對(duì)充電電池2供電的控制信 號(hào)CTRL。控制信號(hào)CTRL被置于有效(高電平)時(shí),輸出開關(guān)306變成導(dǎo)通,充電電流Iaffi 被提供給充電電池2。充電電池2可以例示鎳氫電池、鋰離子電池等。輸出開關(guān)306是PNP 型雙極晶體管,在其控制端子(基極)與接地線間設(shè)有電阻R12及控制開關(guān)308??刂崎_關(guān) 308是NPN型雙極晶體管,其基極被輸入控制信號(hào)CTRL,并且介由電阻Rl1與二極管橋電路 304的輸出相連接。
[0009] 控制信號(hào)CTRL變成高電平時(shí),控制開關(guān)308導(dǎo)通,輸出開關(guān)306的基極被供給接 地電壓。其結(jié)果,輸出開關(guān)306導(dǎo)通,充電電流Iaffi被提供給充電電池2??刂菩盘?hào)CTRL為 低電平時(shí),控制開關(guān)308是截止的,充電停止。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0010] 發(fā)明所要解決的課題
[0011] 由于以往的無(wú)線受電裝置300是由分立部件構(gòu)成的,故作為整流電路,需要使用 二極管橋電路304。因此,二極管的損耗較大,成為無(wú)線受電裝置300的效率降低的重要原 因。
[0012] 本發(fā)明是鑒于這樣的課題而研發(fā)的,其一個(gè)方案的例示性目的之一在于提供一種 改善了效率的無(wú)線受電裝置。
[0013] 用于解決課題的手段
[0014] 本發(fā)明的一個(gè)方案涉及一種與接收線圈一起構(gòu)成無(wú)線受電裝置的無(wú)線受電電路。 無(wú)線受電電路包括:連接電容器的內(nèi)部電源線;連接供電對(duì)象的電路的輸出線;整流線;接 地線;H橋電路,包含被設(shè)在整流線與接收線圈的一端之間的N溝道MOSET的第1晶體管、被 設(shè)在整流線與接收線圈的另一端之間的N溝道MOSET的第2晶體管、被設(shè)在接收線圈的一 端與接地線之間的N溝道MOSET的第3晶體管、被設(shè)在接收線圈的另一端與接地線之間的 N溝道MOSET的第4晶體管;第1開關(guān),被設(shè)在整流線與內(nèi)部電源線之間;第2開關(guān),被設(shè)在 整流線與輸出線之間;以及控制器,控制H橋電路的第1晶體管、第2晶體管、第3晶體管、 第4晶體管、第1開關(guān)、第2開關(guān)。控制器的電源端子被供給內(nèi)部電源線的電壓。
[0015] 根據(jù)該方案,作為對(duì)流過(guò)接收電路的線圈電流進(jìn)行整流的整流電路,能夠取代二 極管橋電路而使用采用了MOSFET的H橋電路,故能減少功率損耗、提高效率。在此,為使H 橋電路的上側(cè)的晶體管導(dǎo)通,需要對(duì)柵極施加比整流線的電壓高的電壓。根據(jù)該方案,通過(guò) 用線圈電流對(duì)電容器進(jìn)行充電,能生成驅(qū)動(dòng)?xùn)艠O所需的電壓,就不需要所謂的自舉電路了, 故能抑制電路的部件個(gè)數(shù)、電路面積的增大。
[0016] 控制器可以被構(gòu)成為可切換使第1開關(guān)導(dǎo)通、第2開關(guān)截止的第1狀態(tài),和使第1 開關(guān)截止、第2開關(guān)導(dǎo)通的第2狀態(tài)。
[0017] 通過(guò)使之為第1狀態(tài),能用線圈電流對(duì)電容器充電,使內(nèi)部電源線的電壓提供到 可使H橋電路的上側(cè)的晶體管導(dǎo)通的程度。然后,通過(guò)切換為第2狀態(tài),能對(duì)H橋電路的上 側(cè)的晶體管進(jìn)行開關(guān)。因此,通過(guò)適當(dāng)切換第1狀態(tài)和第2狀態(tài),能將內(nèi)部電源線的電壓維 持在可使H橋電路的上側(cè)的晶體管導(dǎo)通的程度以上,能低損耗地對(duì)線圈電流進(jìn)行整流。
[0018] 控制器可以基于內(nèi)部電源線的電壓切換第1狀態(tài)和第2狀態(tài)。
[0019] 無(wú)線受電電路可以還具有將與內(nèi)部電源線的電壓相應(yīng)的第1檢測(cè)電壓與預(yù)定的 第1閾值電壓進(jìn)行比較的第1比較器。控制器可以基于第1比較器的輸出切換第1狀態(tài)和 第2狀態(tài)。
[0020] 第1比較器可以是遲滯比較器。此時(shí),第1閾值電壓在上側(cè)電平和下側(cè)電平之間 轉(zhuǎn)變,控制器能夠反復(fù)進(jìn)行以下動(dòng)作:在第1狀態(tài)下當(dāng)?shù)?檢測(cè)電壓達(dá)到上側(cè)電平時(shí),轉(zhuǎn)變 成第2狀態(tài),在第2狀態(tài)下當(dāng)?shù)?檢測(cè)電壓下降到下側(cè)電平時(shí),轉(zhuǎn)變成第1狀態(tài)。
[0021] 與內(nèi)部電源線的電壓相應(yīng)的第1檢測(cè)電壓可以是內(nèi)部電源線的電壓與輸出線的 電壓的差電壓。
[0022] 在第2開關(guān)導(dǎo)通的第2狀態(tài)下,為使第1晶體管、第2晶體管導(dǎo)通,需要對(duì)它們的 柵極施加比輸出線的電壓Vqut高M(jìn)OSFET的閾值電壓Vth的量的電壓。換言之,內(nèi)部電源 線的電壓Vdd必須滿足VDD>VTOT+Vth。根據(jù)該方案,即使輸出線的電壓變化,也能恰當(dāng)?shù)厍袚Q 第1狀態(tài)和第2狀態(tài)。從另一角度來(lái)說(shuō),能不改變電路內(nèi)部的設(shè)定地應(yīng)對(duì)種類或電池單元 (cell)數(shù)不同的各種各樣的充電電池。
[0023] 控制器可以按預(yù)定的時(shí)間周期切換第1狀態(tài)和第2狀態(tài)。若是供電功率穩(wěn)定的系 統(tǒng),則在第1狀態(tài)持續(xù)了預(yù)定時(shí)間時(shí),能夠預(yù)測(cè)、計(jì)算內(nèi)部電源線的電壓上升的幅度,以及 在第2狀態(tài)持續(xù)了預(yù)定時(shí)間時(shí),能夠預(yù)測(cè)、計(jì)算其電壓下降的幅度。因此,能夠不監(jiān)視內(nèi)部 電源線的電壓地控制狀態(tài)。
[0024] 控制器可以被構(gòu)成為能切換在將第1晶體管及第2晶體管的柵極電壓固定為低電 平電壓的狀態(tài)下對(duì)第3晶體管及第4晶體管進(jìn)行開關(guān)的第1模式,和對(duì)第1晶體管及第2 晶體管、第3晶體管及第4晶體管進(jìn)行開關(guān)的第2模式。
[0025] 在內(nèi)部電源線的電壓未達(dá)到可使第1晶體管、第2晶體管導(dǎo)通的程度的電壓電平 的狀況下,即使使第1晶體管、第2晶體管的柵極電壓擺動(dòng)(Swing),也不能對(duì)它們的導(dǎo)通和 截止進(jìn)行開關(guān),結(jié)果,對(duì)它們的柵極進(jìn)行充放電的電流就變得無(wú)用。因此,在內(nèi)部電源的電 壓較低的狀態(tài)下,通過(guò)選擇第1模式,能減少無(wú)用的電流。
[0026] 控制器可以基于內(nèi)部電源線的電壓切換第1模式和第2模式。
[0027] 可以還具有將與內(nèi)部電源線的電壓相應(yīng)的第2檢測(cè)電壓與預(yù)定的第2閾值電壓進(jìn) 行比較的第2比較器??刂破骺梢曰诘?比較器的輸出切換第1模式和第2模式。
[0028] 與內(nèi)部電源線的電壓相應(yīng)的第2檢測(cè)電壓可以是內(nèi)部電源線的電壓Vdd與輸出線 的電壓Vtm的差電壓。
[0029] 在第2狀態(tài)下,為使第1晶體管、第2晶體管導(dǎo)通,內(nèi)部電源線的電壓Vdd必須滿足 VDD>VTOT+Vth。根據(jù)該方案,即使輸出線的電壓變化,也能恰當(dāng)切換第1模式和第2模式。從 另一角度來(lái)說(shuō),能夠不改變電路內(nèi)部的設(shè)定地應(yīng)對(duì)種類或電池單元數(shù)不同的各種各樣的充 電電池。
[0030] 第1開關(guān)可以包含作為P溝道MOSFET的第5晶體管,第5晶體管的背柵可以被接 線成其體二極管的陰極成為內(nèi)部電源線側(cè)的方式。據(jù)此,在第1開關(guān)截止的狀態(tài)下,能防止 電容器的電荷被放電到整流線上。
[0031] 第2開關(guān)可以包含作為MOSFET的第6晶體管,第6晶體管的背柵可以被接線成其 體二極管的陰極成為整流線側(cè)的方式。
[0032] 第2開關(guān)可以還包含與第6晶體管串聯(lián)而設(shè)的作為MOSFET的第7晶體管。第7 晶體管的背柵可以被接線成其體二極管的陰極成為輸出線側(cè)的方式。此時(shí),能防止來(lái)自電 池的逆流。
[0033] 無(wú)線受電電路可以被一體集成在一個(gè)半導(dǎo)體基板上。
[0034] 所謂"一體集成",包括電路的全部構(gòu)成要素都被形成在半導(dǎo)體基板上的情況,和 電路的主要構(gòu)成要素被集成為一體的情況,為調(diào)節(jié)電路常數(shù),一部分電阻或電容器等也可 以被設(shè)置在半導(dǎo)體基板外部。
[0035] 通過(guò)將電路集成為1個(gè)1C,能減少電路面積,并能使電路元件的特性保持均一。
[0036] 本發(fā)明的另一方案涉及電子設(shè)備。電子設(shè)備可以具有接收線圈和無(wú)線受電電路。
[0037] 此外,將以上構(gòu)成要素的任意組合、本發(fā)明的構(gòu)成要素或表現(xiàn)形式在方法、裝置、 系統(tǒng)等間相互置換后的實(shí)施方式,作為本發(fā)明的方案也是有效的。
[0038] 發(fā)明效果
[0039] 通過(guò)本發(fā)明的一個(gè)方案,能改善效率。

【專利附圖】

【附圖說(shuō)明】
[0040] 圖1是表示本發(fā)明人們研究過(guò)的具有無(wú)線受電裝置的電子設(shè)備的構(gòu)成的圖。
[0041] 圖2是表示具有實(shí)施方式的無(wú)線受電電路的電子設(shè)備的構(gòu)成的電路圖。
[0042] 圖3是圖2的無(wú)線受電電路的動(dòng)作波形圖。
[0043] 圖4是表示作為電子設(shè)備的一例的電動(dòng)刮胡刀的立體圖。

【具體實(shí)施方式】
[0044] 以下基于優(yōu)選實(shí)施方式、參照【專利附圖】
附圖
【附圖說(shuō)明】本發(fā)明。對(duì)各附圖所示的相同或等同的構(gòu) 成要素、部件、處理標(biāo)注相同的標(biāo)號(hào),并適當(dāng)省略重復(fù)的說(shuō)明。此外,實(shí)施方式僅是例示,并 非限定發(fā)明,并非實(shí)施方式中所記載的所有特征或其組合都是本發(fā)明的必要技術(shù)特征。
[0045] 在本說(shuō)明書中,所謂"部件A與部件B相連接的狀態(tài)",除部件A與部件B物理地直 接連接的情形外,還包括部件A與部件B介由不實(shí)質(zhì)影響其電連接狀態(tài)的其它部件、或不損 害其接合所發(fā)揮的功能或效果的其它部件間接連接的情形。
[0046] 同樣,所謂"部件C被設(shè)置在部件A與部件B之間的狀態(tài)",除部件A與部件C、或 者部件B與部件C直接連接的情形外,還包括介由不實(shí)質(zhì)影響其電連接狀態(tài)的其它部件、或 不損害其接合所發(fā)揮的功能或效果的其它部件間接相連接的情形。
[0047] 圖2是表示具有實(shí)施方式的無(wú)線受電電路100的電子設(shè)備1的構(gòu)成的電路圖。電 子設(shè)備1除無(wú)線受電電路100外還具有接收線圈102、充電電池2、DC/DC轉(zhuǎn)換器4、微控制 器6。
[0048] 電子設(shè)備1是電動(dòng)刮胡刀、電動(dòng)牙刷、無(wú)繩電話機(jī)、游戲設(shè)備的控制器、電動(dòng)工具 等可從充電器通過(guò)非接觸功率傳輸進(jìn)行供電的設(shè)備。
[0049] 無(wú)線受電電路100接收來(lái)自未圖示的無(wú)線供電裝置的功率信號(hào)S1,對(duì)充電電池2 進(jìn)行充電。例如充電電池2是鎳氫電池或鋰離子電池。DC/DC轉(zhuǎn)換器4使充電電池2的電 壓Vbat升壓或降壓,對(duì)微控制器6供給電源電壓。微控制器6控制電子設(shè)備Ir整體。
[0050] 充電時(shí),接收線圈102為與未圖示的供電裝置的發(fā)送線圈耦合而被靠近配置。發(fā) 送線圈中流過(guò)驅(qū)動(dòng)電流時(shí),通過(guò)電磁感應(yīng),接收線圈102中流過(guò)交流的線圈電流Iamtj
[0051] 無(wú)線受電電路100將線圈電流Iam整流,對(duì)充電電池2進(jìn)行充電。以上是電子設(shè) 備1的整體構(gòu)成。接下來(lái)詳細(xì)說(shuō)明無(wú)線受電電路100。
[0052] 無(wú)線受電電路100作為其輸入輸出端子,具有電源(VDD)端子、整流(RECT)端子、 輸出(OUT)端子、控制(CTRL)端子、接地(GND)端子、線圈連接(AC1、AC2)端子。無(wú)線受電 電路100優(yōu)選是被一體集成在一個(gè)半導(dǎo)體基板上的功能1C。
[0053] ACl端子和AC2端子分別被連接接收線圈102的一端、另一端。無(wú)線受電電路100 同接收線圈102-起形成無(wú)線受電裝置。OUT端子被連接供電對(duì)象的電路元件、即充電電池 2。GND端子被提供接地電位。VDD端子上連接電容器Cl。CTRL端子被輸入從微控制器6輸 出的控制信號(hào)CTRL。微控制器6在應(yīng)對(duì)充電電池2充電的狀態(tài)、期間內(nèi),將控制信號(hào)CTRL 置于有效(例如高電平),在應(yīng)停止充電的狀態(tài)、期間內(nèi),將其置于無(wú)效(例如低電平)。
[0054] 無(wú)線受電電路100包括H橋電路104、控制器106、第1開關(guān)SWl、第2開關(guān)SW2、第 1比較器110、第2比較器112、內(nèi)部電源線120、輸出線122、整流線124、接地線126。
[0055] 內(nèi)部電源線120介由VDD端子與電容器Cl連接。輸出線122介由OUT端子與供 電對(duì)象的充電電池2連接。此外,供電對(duì)象的電路不限定于電池,也可以是對(duì)電池進(jìn)行充電 的充電電路、或DC/DC轉(zhuǎn)換器、線性調(diào)節(jié)器。將輸出線122的電位稱作輸出電壓VQUT。OUT端 子上被直接連接充電電池2時(shí),輸出電壓Vtot等于電池電壓Vbat。整流線124與RECT端子 連接,接地線126介由GND端子接地。
[0056] H橋電路104具有作為N溝道MOSFET的第1晶體管MH1、第2晶體管MH2、第3晶 體管ML1、第4晶體管ML2。第1晶體管MHl被設(shè)于整流線124與接收線圈Ll的一端(ACl) 之間,第2晶體管MH2被設(shè)于整流線124與接收線圈Ll的另一端(AC2)之間。第3晶體管 MLl被設(shè)于接收線圈Ll的一端(ACl)與接地線126之間,第4晶體管ML2被設(shè)于接收線圈 102的另一端(AC2)與接地線126之間。
[0057] 第1開關(guān)SWl被設(shè)于整流線124與內(nèi)部電源線120之間。第1開關(guān)SWl包括作為 P溝道MOSFET的第5晶體管M5。第5晶體管M5的背柵被接線成其體二極管的陰極處于內(nèi) 部電源線120側(cè)的方式。在本實(shí)施方式中,第5晶體管M5是P溝道M0SFET,其源極與內(nèi)部 電源線120連接,其漏極與整流線124連接。由于使第1開關(guān)SWl常關(guān),故柵極源極間設(shè)有 電阻R1。在第5晶體管M5的柵極被施加低電平電壓(接地電壓)時(shí),第5晶體管M5導(dǎo)通, 第1開關(guān)SWl導(dǎo)通。另一方面,第5晶體管M5的柵極被施加高電平電壓(Vdd)、或者柵極成 為高阻時(shí),第5晶體管M5成為非導(dǎo)通,第1開關(guān)SWl截止。
[0058] 第2開關(guān)SW2被設(shè)在整流線124與輸出線122之間。第2開關(guān)SW2包括作為MOSFET 的第6晶體管M6。第6晶體管M6的背柵被接線成其體二極管的陰極處于整流線124側(cè)的 方式。
[0059] 第2開關(guān)SW2可以還包括與第6晶體管M6串聯(lián)而設(shè)的作為MOSFET的第7晶體管 M7。第7晶體管M7的背柵被接線成其體二極管的陰極處于輸出線122側(cè)的方式。
[0060] 在僅以第6晶體管M6構(gòu)成第2開關(guān)SW2時(shí),在第2開關(guān)SW2截止的狀態(tài)下,若 WVkect,則可能從電池向整流線124逆流過(guò)電流,但通過(guò)設(shè)置第7晶體管M7,能防止逆流 電流。
[0061] 在本實(shí)施方式中,第6晶體管M6及第7晶體管M7是N溝道M0SFET。第6晶體管 M6、第7晶體管M7的柵極被施加高電平電壓(Vdd)時(shí),使第2開關(guān)SW2導(dǎo)通。此外,在它們 的柵極被施加低電平電壓(接地電壓VraJ時(shí),第2開關(guān)SW2截止。
[0062] 接下來(lái)說(shuō)明控制器106對(duì)各晶體管的控制。
[0063] 1.第1開關(guān)SWl、第2開關(guān)SW2的控制
[0064] 控制器106控制H橋電路104的第1晶體管MHl、第2晶體管MH2、第3晶體管MLl、 第4晶體管ML2、第1開關(guān)SW1、第2開關(guān)SW2。
[0065] 控制器106的電源端子108與內(nèi)部電源線120相連接,被供給內(nèi)部電源線120的 電壓(稱作內(nèi)部電源電壓V??刂破?06可提供給各晶體管的控制端子(柵極)的高電 平電壓是與內(nèi)部電源電壓Vdd相同的電平。此外,控制器106可提供給柵極的低電平電壓是 接地電SVem(OV)。
[0066]控制器106被構(gòu)成為能切換使第1開關(guān)SWl導(dǎo)通、使第2開關(guān)SW2截止的第1狀 態(tài)φ?,和使第1開關(guān)SWl截止、使第2開關(guān)SW2導(dǎo)通的第2狀態(tài)φ2。
[0067] 在控制信號(hào)CTRL被置于無(wú)效的期間,為停止對(duì)充電電池2的電流供給,控制器106 成為第2狀態(tài)φ2。
[0068] 在控制信號(hào)CTRL被置于有效的期間,控制器106基于內(nèi)部電源線120的電壓Vdd 切換第1狀態(tài)φ?和第2狀態(tài)φ2。
[0069] 為切換第1狀態(tài)φ?和第2狀態(tài)φ2,設(shè)有第1比較器110。第1比較器110將與內(nèi) 部電源線120的內(nèi)部電源電壓Vdd相應(yīng)的第1檢測(cè)電壓與預(yù)定的第1閾值電壓Vm進(jìn)行比 較。控制器106基于第1比較器110的輸出信號(hào)(第1比較信號(hào))CMPl切換第1狀態(tài)φ?和 第2狀態(tài)φ2。
[0070] 優(yōu)選的是,第1比較器110為遲滯比較器,第1閾值電壓Vm根據(jù)作為其輸出的第 1比較信號(hào)CMPl的電平,轉(zhuǎn)變上側(cè)電平Vthih和下側(cè)電平VTm。
[0071] 在本實(shí)施方式中,第1檢測(cè)電壓是內(nèi)部電源電壓Vdd與輸出線122的電壓(即電 池電壓)VBAT的差電壓AV=Vdd-Vbat。第1閾值電壓Vm的下側(cè)電平VTm被設(shè)定為N溝道 MOSFET的柵極源極間閾值電壓Vth以上的值。
[0072] 2.H橋電路104的控制
[0073] 控制器106被構(gòu)成為能根據(jù)內(nèi)部電源線120的電壓VDD,以第1模式和第2模式切 換H橋電路104的控制順序。具體來(lái)說(shuō),在內(nèi)部電源電壓Vdd比預(yù)定的第2閾值電壓Vth2低 時(shí)成為第1模式,在不對(duì)第1晶體管MHl及第2晶體管MH2的柵極信號(hào)進(jìn)行開關(guān)、將它們固 定為截止的狀態(tài)下,對(duì)第3晶體管MLl及第4晶體管ML2進(jìn)行開關(guān)。
[0074] 相反,在內(nèi)部電源電壓Vdd比第2閾值電壓Vth2高時(shí)成為第2模式,對(duì)第1晶體管 MHl及第2晶體管MH2、第3晶體管MLl及第4晶體管ML2進(jìn)行開關(guān)。
[0075] 為切換第1模式和第2模式,設(shè)有第2比較器112。第2比較器112將與內(nèi)部電源 線120的內(nèi)部電源電壓Vdd相應(yīng)的第2檢測(cè)電壓與預(yù)定的第2閾值電壓Vth2進(jìn)行比較。控制 器106基于第2比較器112的輸出信號(hào)(第2比較信號(hào))CMP2切換第1模式和第2模式。
[0076] 除第1模式、第2模式外,將使H橋電路104的所有晶體管的開關(guān)都停止、使其作 為二極管橋電路進(jìn)行動(dòng)作的期間稱作第3模式。控制器106在來(lái)自微控制器6的控制信號(hào) CTRL被置于無(wú)效的期間成為第3模式。
[0077] 在本實(shí)施方式中,第2檢測(cè)電壓同第1檢測(cè)電壓一樣,是內(nèi)部電源電壓Vdd與輸出 線122的電壓(即電池電壓)Vbat的差電壓AV=Vdd-Vbat。即,
[0078] (i)VDD-VBAT>VTH2 時(shí)成為第 1 模式;
[0079] (ii)VDD_VBAT〈VTH2 時(shí)成為第 2 模式。
[0080] 第2閾值電壓Vth2被設(shè)定為N溝道MOSFET的柵極源極間閾值電壓Vth以上的值。
[0081] 以上是無(wú)線受電電路100的構(gòu)成。接下來(lái)說(shuō)明其動(dòng)作。
[0082] 圖3是圖2的無(wú)線受電電路100的動(dòng)作波形圖。從上至下按順序分別表示控制信 號(hào)CTRL、內(nèi)部電源電壓Vdd及整流電壓Vkect、第1比較信號(hào)CMPl、第2比較信號(hào)CMP2、第1開 關(guān)SW1、第2開關(guān)SW2。關(guān)于第1開關(guān)SW1、第2開關(guān)SW2,高電平表示導(dǎo)通狀態(tài)、低電平表示 截止?fàn)顟B(tài)。
[0083] 在時(shí)刻t0以前,無(wú)線受電電路100為停止?fàn)顟B(tài),整流電壓Vkect及內(nèi)部電源電壓Vdd 下降到0V。在時(shí)刻to,開始來(lái)自發(fā)送線圈的供電。在該時(shí)刻,內(nèi)部電源電壓Vdd已下降到 0V,故無(wú)線受電電路100的能動(dòng)元件不能進(jìn)行動(dòng)作,第1開關(guān)SW1、第2開關(guān)SW2都截止。
[0084] 由于控制信號(hào)CTRL被置于無(wú)效,故H橋電路104作為由4個(gè)體二極管構(gòu)成的二極 管橋電路進(jìn)行動(dòng)作(第3模式)。通過(guò)二極管橋電路,流入接收線圈102的線圈電流Iam被 整流,并被提供到整流線124,進(jìn)而介由第5晶體管M5的體二極管提供給內(nèi)部電源線120, 電容器Cl被充電,內(nèi)部電源電壓Vdd及整流電壓Vkect隨時(shí)間而上升。在該期間,成立Vkect = VDD+VF的關(guān)系。Vf是體二極管的正向電壓。
[0085] 在時(shí)刻t0以后,第5晶體管M5的柵極被施加接地電壓(OV)。在時(shí)刻tl,第5晶 體管M5的源極電位、即內(nèi)部電源電壓Vdd若超過(guò)P溝道MOSFET的柵極源極間閾值電壓Vth, 則第5晶體管M5導(dǎo)通,第1開關(guān)SWl成為導(dǎo)通(第1狀態(tài)φ?)。由此,Vkect =VDD。
[0086] 之后,電容器Cl也被整流后的線圈電流Iam充電,電壓VKKT、Vdd繼續(xù)上升。在時(shí) 亥Ijt2,來(lái)自微控制器6的控制信號(hào)CTRL被置于有效(高電平),指示無(wú)線受電電路100開 始充電。
[0087] 控制信號(hào)CTRL被置于有效后,控制器106開始第1開關(guān)SW1、第2開關(guān)SW2、H橋 電路104的控制。第2檢測(cè)電壓Vdd-Vbat比MOSFET的閾值電壓Vth低,因此第2比較信號(hào)CMP2為低電平,H橋電路104被按第1模式控制。
[0088] 在時(shí)刻t3,第2檢測(cè)電壓(Vdd-Vbat)變得比閾值電壓Vth高時(shí),第2比較信號(hào)CMP2 成為高電平,控制器106開始以第2模式控制H橋電路104。
[0089] 在時(shí)刻t4,第1檢測(cè)電壓(Vdd-Vbat)達(dá)到第1閾值電壓Vm的上側(cè)電平Vthih時(shí),第 1比較信號(hào)CMPl成為高電平。以此為契機(jī),控制器106轉(zhuǎn)變?yōu)榈?狀態(tài)φ2,使第1開關(guān)SWl 截止、使第2開關(guān)SW2導(dǎo)通。此外,為防止第1開關(guān)SWl和第2開關(guān)SW2同時(shí)導(dǎo)通,優(yōu)選第2 開關(guān)SW2延遲死區(qū)時(shí)間Td地導(dǎo)通。從第2狀態(tài)φ2轉(zhuǎn)變?yōu)榈?狀態(tài)φ?時(shí)也是同樣,優(yōu)選第 1開關(guān)SWl延遲死區(qū)時(shí)間Td地導(dǎo)通。
[0090] 隨著第2開關(guān)SW2導(dǎo)通,被H橋電路104整流后的充電電流Iaie介由第2開關(guān)SW2 而被提供給充電電池2。此時(shí),整流電壓Vkect成為與電池電壓Vbat相同程度的電壓電平。
[0091] 為對(duì)H橋電路104的4個(gè)晶體管進(jìn)行開關(guān),需要使各晶體管的柵極電容充放電,從 電容器Cl供給用于此的電流。即、在時(shí)刻t4以后,內(nèi)部電源電壓Vdd隨時(shí)間而下降。
[0092] 在時(shí)刻t5,第1檢測(cè)電壓(Vdd-Vbat)下降到第1閾值電壓Vm的下側(cè)電平VTm時(shí), 第1比較信號(hào)CMPl轉(zhuǎn)變成低電平。由此,控制器106回到第1狀態(tài)φ?,第1開關(guān)SWl導(dǎo)通、 第2開關(guān)SW2截止。隨著第1開關(guān)SWl導(dǎo)通,電容器Cl被由H橋電路104整流后的電流充 電,內(nèi)部電源電壓Vdd再次上升。
[0093] 在控制信號(hào)CTRL被置于有效的期間,無(wú)線受電電路100交替反復(fù)第1狀態(tài)Cpl和第 2狀態(tài)φ2 (直到時(shí)刻t7)。
[0094] 在時(shí)刻t7、控制信號(hào)CTRL被置于無(wú)效時(shí),控制器106成為第1狀態(tài)φ?。其結(jié)果,電 容器Cl被介由第1開關(guān)SWl充電,內(nèi)部電源電壓Vdd及整流電壓Vkect上升。在時(shí)刻t8,控 制信號(hào)CTRL再次被置于有效時(shí),控制器106成為第2狀態(tài)φ2。
[0095] 另外,在控制信號(hào)CTRL被置于無(wú)效的期間t7_t8,可以使H橋電路104為第2模 式,也可以使其為第3模式。
[0096] 以上是無(wú)線受電電路100的動(dòng)作。通過(guò)無(wú)線受電電路100,能取得以下效果。
[0097] 1.在圖2的無(wú)線受電電路100中,作為整流電路,能夠取代圖1的二極管橋電路而 使用采用了MOSFET的H橋電路。因此,能減少二極管的壓降所導(dǎo)致的功率損耗,能提高效 率。
[0098] 在此,為使H橋電路104的上側(cè)的第1晶體管MH1、第2晶體管MH2導(dǎo)通,需要將 比它們的源極電壓、即整流線Vkect的電壓高的電壓施加于柵極。根據(jù)圖2的無(wú)線受電電路 100,利用線圈電流Iam對(duì)電容器Cl進(jìn)行充電,從而能夠生成驅(qū)動(dòng)?xùn)艠O所需的電壓。
[0099] -般來(lái)說(shuō),為驅(qū)動(dòng)N溝道M0SFET,需要所謂的自舉電路,但在圖2的無(wú)線受電電路 100中,不需要自舉電路,故能抑制電路部件個(gè)數(shù)、電路面積的增加。
[0100] 另外,無(wú)線受電電路100在控制信號(hào)CTRL被置于有效的期間交替反復(fù)第1狀態(tài) φ?和第2狀態(tài)φ2。通過(guò)成為第1狀態(tài)φ?,能利用線圈電流對(duì)電容器Cl充電,使內(nèi)部電源線 120的電壓Vdd提高到能使H橋電路104的上側(cè)的第1晶體管MH1、第2晶體管MH2導(dǎo)通的 程度。通過(guò)在此基礎(chǔ)上切換成第2狀態(tài)φ2,能對(duì)H橋電路104的上側(cè)的第1晶體管MH1、第 2晶體管ΜΗ2進(jìn)行開關(guān)。
[0101] 特別是通過(guò)基于內(nèi)部電源電壓Vdd切換第1狀態(tài)φ?和第2狀態(tài)φ2,能使內(nèi)部電源 電壓Vdd維持在可使H橋電路104的第1晶體管MHl、第2晶體管ΜΗ2導(dǎo)通的程度以上,能 繼續(xù)低損耗地對(duì)線圈電流進(jìn)行整流。
[0102] 另外,通過(guò)使第1比較器110為遲滯比較器,能使與內(nèi)部電源電壓Vdd相應(yīng)的第1 檢測(cè)電壓維持在第1閾值電壓的下側(cè)電平以上。即,通過(guò)適當(dāng)設(shè)定下側(cè)電平,能使內(nèi)部電源 電壓Vdd維持在可使第1晶體管ΜΗ1、第2晶體管ΜΗ2導(dǎo)通的電平以上。
[0103] 進(jìn)而,在圖2的無(wú)線受電電路100中,是使與內(nèi)部電源電壓Vdd相應(yīng)的第1檢測(cè)電 壓為內(nèi)部電源電壓Vdd與輸出線的電壓Votjt(Vbat)的差電壓ΔV的。在第2狀態(tài)φ2下,為使 第1晶體管ΜΗ1、第2晶體管ΜΗ2導(dǎo)通,需要使要施加于它們的柵極的高電平電壓、即內(nèi)部電 源電壓Vdd在VTOT+Vth以上。通過(guò)將Vdd-Vtot作為第1檢測(cè)電壓,能恰當(dāng)?shù)厍袚Q第1狀態(tài)φ? 和第2狀態(tài)φ2。從另一角度來(lái)說(shuō),能夠不改變電路內(nèi)部的設(shè)定地為電池電壓Vbat不同的各種 各樣的充電電池2供電。
[0104] 進(jìn)而,關(guān)于H橋電路104的控制,可切換第1模式和第2模式。
[0105] 在內(nèi)部電源電壓Vdd未達(dá)到可使第1晶體管、第2晶體管導(dǎo)通的程度的電壓電平 的狀況下,即使使第1晶體管ΜΗ1、第2晶體管ΜΗ2的柵極電壓擺動(dòng)(swing),也不能使它們 切換導(dǎo)通和截止,結(jié)果,對(duì)它們的柵極充放電的電流變得無(wú)用。在圖2的無(wú)線受電電路100 中,通過(guò)在內(nèi)部電源電壓Vdd低的狀態(tài)下選擇第1模式,能減少無(wú)用的電流。
[0106] 進(jìn)而,關(guān)于第2檢測(cè)電壓,也是定為內(nèi)部電源電壓Vdd與輸出線122的電壓Vqut的 差電壓AV的。由此,即使輸出線122的電壓發(fā)生變化,也能適當(dāng)?shù)厍袚Q第1模式和第2模 式。從另一角度來(lái)說(shuō),能夠不改變電路內(nèi)部的設(shè)定地、應(yīng)對(duì)種類和電池單元(cell)數(shù)不同 的各種各樣的充電電池。
[0107] 接下來(lái)說(shuō)明利用了無(wú)線受電電路100的電子設(shè)備1的具體例子。
[0108] 圖4是表不作為電子設(shè)備1的一例的電動(dòng)刮胡刀500的立體圖。電動(dòng)刮胡刀500 具有殼體502和刮頭504。上述的接收線圈102、無(wú)線受電電路100及充電電池2同未圖示 的DC/DC轉(zhuǎn)換器4、微控制器6 -起被設(shè)于殼體502內(nèi)。當(dāng)然,它們的布局不特意限定。
[0109] 以上基于實(shí)施方式說(shuō)明了本發(fā)明。這些實(shí)施方式僅是例示,本領(lǐng)域技術(shù)人員能理 解其各構(gòu)成要素和各處理過(guò)程的組合可以有各種各樣的變形例,且這樣的變形例也包含在 本發(fā)明的范圍內(nèi)。下面說(shuō)明這樣的變形例。
[0110](變形例1)
[0111] 第1比較器110進(jìn)行與閾值電壓Vm的比較的第1檢測(cè)電壓也可以是內(nèi)部電源電 壓Vdd本身。此時(shí),根據(jù)安裝無(wú)線受電電路100的組件(電子設(shè)備),在規(guī)格參數(shù)上規(guī)定電池 電壓Vbat。因此,通過(guò)基于電池電壓Vbat的規(guī)格值,設(shè)定閾值電壓VTH1(遲滯比較器時(shí)的下側(cè) 電平)、使得VTH1>VBAT+Vth,就能進(jìn)行與實(shí)施方式同樣的控制。進(jìn)而,還可以使閾值電壓Vm 根據(jù)電池電壓Vbat而可變。
[0112] (變形例2)
[0113] 關(guān)于第2比較器112進(jìn)行與閾值電壓Vth2的比較的第2檢測(cè)電壓,也可以采用內(nèi) 部電源電壓Vdd本身。此時(shí),通過(guò)設(shè)定第2閾值電壓Vth2以使得VTH2>VBAT+Vth,也能進(jìn)行與實(shí) 施方式同樣的控制。進(jìn)而,也可以使閾值電壓Vth2能根據(jù)電池電壓Vbat而可變。
[0114] (變形例3)
[0115] 在實(shí)施方式中,是基于內(nèi)部電源電壓Vdd切換第1狀態(tài)φ?、第2狀態(tài)φ2的,但本發(fā) 明不限定于此。例如控制器106也可以在控制信號(hào)CTRL被置于有效的期間、按預(yù)定的時(shí)間 周期切換第1狀態(tài)φ?和第2狀態(tài)φ2。
[0116] 若為供電功率穩(wěn)定的系統(tǒng),則在第1狀態(tài)φ?持續(xù)了預(yù)定的第1時(shí)間時(shí),能準(zhǔn)確地 預(yù)測(cè)、計(jì)算內(nèi)部電源電壓Vdd上升的幅度,并在第2狀態(tài)φ2持續(xù)了預(yù)定的第2時(shí)間時(shí),準(zhǔn)確地 預(yù)測(cè)、計(jì)算該電壓Vdd下降的幅度。因此,還能不監(jiān)視內(nèi)部電源電壓Vdd地控制狀態(tài)。此時(shí), 只要利用計(jì)時(shí)器電路取代第1比較器110即可。
[0117] 進(jìn)而,也可以組合采用了比較器的狀態(tài)控制和采用了計(jì)時(shí)器的狀態(tài)控制。例如,可 以在第2狀態(tài)φ2下、若第1檢測(cè)電壓下降到第1閾值電壓Vm,則轉(zhuǎn)變?yōu)榈?狀態(tài)φ?,從轉(zhuǎn) 變?yōu)榈?狀態(tài)φ?起經(jīng)過(guò)預(yù)定時(shí)間后,轉(zhuǎn)變?yōu)榈?狀態(tài)φ2。此時(shí),也能將內(nèi)部電源電壓Vdd維 持在可使第1晶體管導(dǎo)通的電平。
[0118] 基于實(shí)施方式,以具體的用語(yǔ)說(shuō)明了本發(fā)明,但實(shí)施方式僅是表示本發(fā)明的原理、 應(yīng)用,在不脫離權(quán)利要求書所規(guī)定的本發(fā)明的思想的范圍內(nèi),實(shí)施方式可以有多種變形例 或配置的變更。
[0119] 標(biāo)號(hào)說(shuō)明
[0120] 1…電子設(shè)備、2…充電電池、4··· DC/DC轉(zhuǎn)換器、6…微控制器、300…無(wú)線受電裝 置、302…接收線圈、304…二極管橋電路、306…輸出開關(guān)、308…控制開關(guān)、Rll,R12...電阻、 100···無(wú)線受電電路、102…接收線圈、MHl…第1晶體管、ΜΗ2…第2晶體管、MLl…第3晶體 管、ML2…第4晶體管、104…H橋電路、106…控制器、SWl…第1開關(guān)、SW2…第2開關(guān)、Μ5... 第5晶體管、Μ6…第6晶體管、Μ7…第7晶體管、Cl…電容器、108…電源端子、110…第1比較 器、112…第2比較器、120…內(nèi)部電源線、122…輸出線、124…整流線、126…接地線、200… 無(wú)線供電裝置、202···發(fā)送線圈、204···驅(qū)動(dòng)部。
[0121] 工業(yè)上的可利用性
[0122] 本發(fā)明涉及無(wú)線供電技術(shù)。
【權(quán)利要求】
1. 一種與接收線圈一起構(gòu)成無(wú)線受電裝置的無(wú)線受電電路,其特征在于,包括: 連接電容器的內(nèi)部電源線, 輸出線, 整流線, 接地線, H橋電路,包含被設(shè)在上述整流線與上述接收線圈的一端之間的N溝道MOSET的第1晶 體管、被設(shè)在上述整流線與上述接收線圈的另一端之間的N溝道MOSET的第2晶體管、被設(shè) 在上述接收線圈的一端與上述接地線之間的N溝道MOSET的第3晶體管、被設(shè)在上述接收 線圈的另一端與上述接地線之間的N溝道MOSET的第4晶體管, 第1開關(guān),被設(shè)在上述整流線與上述內(nèi)部電源線之間, 第2開關(guān),被設(shè)在上述整流線與上述輸出線之間,以及 控制器,控制上述H橋電路的上述第1晶體管、上述第2晶體管、上述第3晶體管、上述 第4晶體管、上述第1開關(guān)、上述第2開關(guān); 其中,上述控制器的電源端子被供給上述內(nèi)部電源線的電壓。
2. 如權(quán)利要求1所述的無(wú)線受電電路,其特征在于, 上述控制器被構(gòu)成為可切換使上述第1開關(guān)導(dǎo)通、使上述第2開關(guān)截止的第1狀態(tài),和 使上述第1開關(guān)截止、使上述第2開關(guān)導(dǎo)通的第2狀態(tài)。
3. 如權(quán)利要求2所述的無(wú)線受電電路,其特征在于, 上述控制器基于上述內(nèi)部電源線的電壓切換上述第1狀態(tài)和上述第2狀態(tài)。
4. 如權(quán)利要求3所述的無(wú)線受電電路,其特征在于,還包括: 比較器,將與上述內(nèi)部電源線的電壓相應(yīng)的第1檢測(cè)電壓與預(yù)定的第1閾值電壓進(jìn)行 比較; 上述控制器基于上述比較器的輸出,切換上述第1狀態(tài)和上述第2狀態(tài)。
5. 如權(quán)利要求4所述的無(wú)線受電電路,其特征在于, 上述比較器是遲滯比較器。
6. 如權(quán)利要求4所述的無(wú)線受電電路,其特征在于, 與上述內(nèi)部電源線的電壓相應(yīng)的上述第1檢測(cè)電壓是上述內(nèi)部電源線的電壓與上述 輸出線的電壓的差電壓。
7. 如權(quán)利要求2所述的無(wú)線受電電路,其特征在于, 上述控制器按預(yù)定的時(shí)間周期切換上述第1狀態(tài)和上述第2狀態(tài)。
8. 如權(quán)利要求1至7的任一項(xiàng)所述的無(wú)線受電電路,其特征在于, 上述控制器被構(gòu)成為能切換在將上述第1晶體管及上述第2晶體管的柵極電壓固定為 低電平電壓的狀態(tài)下、對(duì)上述第3晶體管及上述第4晶體管進(jìn)行開關(guān)的第1模式,和對(duì)上述 第1晶體管及上述第2晶體管、上述第3晶體管及上述第4晶體管進(jìn)行開關(guān)的第2模式。
9. 如權(quán)利要求8所述的無(wú)線受電電路,其特征在于, 上述控制器基于上述內(nèi)部電源線的電壓切換上述第1模式和上述第2模式。
10. 如權(quán)利要求9所述的無(wú)線受電電路,其特征在于,還包括: 第2比較器,將與上述內(nèi)部電源線的電壓相應(yīng)的第2檢測(cè)電壓與預(yù)定的第2閾值電壓 進(jìn)行比較; 上述控制器基于上述第2比較器的輸出切換上述第1模式和上述第2模式。
11. 如權(quán)利要求10所述的無(wú)線受電電路,其特征在于, 與上述內(nèi)部電源線的電壓相應(yīng)的上述第2檢測(cè)電壓是上述內(nèi)部電源線的電壓與上述 輸出線的電壓的差電壓。
12. 如權(quán)利要求1至11的任一項(xiàng)所述的無(wú)線受電電路,其特征在于, 上述第1開關(guān)包含作為MOSFET的第5晶體管,上述第5晶體管的背柵被接線成其體二 極管的陰極處于上述內(nèi)部電源線側(cè)的方式。
13. 如權(quán)利要求1至12的任一項(xiàng)所述的無(wú)線受電電路,其特征在于, 上述第2開關(guān)包含作為MOSFET的第6晶體管,上述第6晶體管的背柵被接線成其體二 極管的陰極處于上述整流線側(cè)的方式。
14. 如權(quán)利要求13所述的無(wú)線受電電路,其特征在于, 上述第2開關(guān)還包含與上述第6晶體管串聯(lián)而設(shè)的作為MOSFET的第7晶體管,上述第 7晶體管的背柵被接線成其體二極管的陰極處于上述輸出線側(cè)的方式。
15. 如權(quán)利要求1至14的任一項(xiàng)所述的無(wú)線受電電路,其特征在于, 被一體集成在一個(gè)半導(dǎo)體基板上。
16. -種電子設(shè)備,其特征在于,包括: 接收線圈,和 權(quán)利要求1至15的任一項(xiàng)所述的無(wú)線受電電路。
【文檔編號(hào)】H02J17/00GK104364993SQ201380031138
【公開日】2015年2月18日 申請(qǐng)日期:2013年9月25日 優(yōu)先權(quán)日:2012年10月1日
【發(fā)明者】?jī)?nèi)本大介, 井上直樹, 巖崎竜也 申請(qǐng)人:羅姆股份有限公司
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