一種半成品電池片抗pid性能的測試方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及太陽能電池制造技術(shù)領(lǐng)域，特別是涉及一種半成品電池片抗PID性能的測試方法。
【背景技術(shù)】
[0002]PID效應(yīng)(Potential Induced Degradat1n)是一種高強度負(fù)電壓誘發(fā)的組件性能降低現(xiàn)象，指組件在偏壓、高溫和高濕度的惡劣環(huán)境中出現(xiàn)功率衰減的效應(yīng)，由于光伏組件使用時間長達(dá)25年，極有可能遇上較為惡劣的氣候環(huán)境，PID情況嚴(yán)重時可造成電站輸出功率大幅下降，甚至衰減高達(dá)90%以上，嚴(yán)重?fù)p害運營者和電站投資者的利益。上述失效的原理如下:在系統(tǒng)中，組件串聯(lián)工作時產(chǎn)生的高輸出電壓使組件相對鋁邊框處于高的負(fù)電位，在這種負(fù)電位的作用下，從鋁邊框有痕量的正電荷(主要為Na+)通過玻璃、EVA和硅膠等媒介流入電池片表面，在電池片表面的S iNj莫上聚集，中和PN結(jié)，從而損害電池片的電性能。目前的電池片的抗PID方式如下:在電池PN結(jié)表面與減反膜之間形成一層超薄的氧化層，即二氧化硅層，二氧化硅層可以阻擋正離子對PN結(jié)的侵蝕，從而減小PID效應(yīng)的影響，半成品表面生成的二氧化硅，不做其他特殊的處理，仍帶有親水基團的羥基。
[0003]現(xiàn)有技術(shù)中的一種確認(rèn)半成品抗PID性能的測試方法如下:取半成品電池片，將去離子飽和水滴在抗PID半成品電池表面，共設(shè)置5個點，四角分別設(shè)置一個點，中心處具有一點；將該抗PID半成品電池片傾斜成與水平面有一定角度的傾斜狀，傾斜度為45度;通過去離子水在抗PID半成品電池片的形態(tài)決定，若去離子水在PID半成品電池片上有擴散趨勢并且能夠沿著傾斜方向順勢流下，則該抗PID半成品電池片的抗PID性能合格。
[0004]然而，上述檢驗電池片抗PID性能的方法具有如下缺點:由于將滴去離子水后的半成品傾斜處理，只要有氧化層去離子水都會順勢流下，不能確認(rèn)硅片表面氧化層的均勻性，例如出現(xiàn)由于某些原因?qū)е虏糠中^(qū)域氧化層相對較薄的情況，則不能進(jìn)行有效的判斷，且該方法需要到特定的地點將滴去離子水后的半成品傾斜處理，操作也有所不便。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0005]為解決上述問題，本發(fā)明提供了一種半成品電池片抗PID性能的測試方法，能夠有效的測量半成品電池片的抗PID性能，且操作方便。
[0006]本發(fā)明提供的一種半成品電池片抗PID性能的測試方法，包括:
[0007]將半成品電池片水平放置；
[0008]在所述半成品電池片的表面上的多個位置點滴上去離子水；
[0009]觀察所述去離子水自然擴散之后的形態(tài)；
[0010]根據(jù)所述形態(tài)判斷所述半成品電池片的抗PID性能。
[0011]優(yōu)選的，在上述半成品電池片抗PID性能的測試方法中，在所述半成品電池片的表面上的多個位置點滴上去離子水為:
[0012]利用滴管吸取至少1毫升去離子水，在所述半成品電池片的表面上的多個位置點以上1厘米的位置滴上所述去離子水。
[0013]優(yōu)選的，在上述半成品電池片抗PID性能的測試方法中，在所述半成品電池片的表面上的多個位置點滴上去離子水為:
[0014]在所述半成品電池片的表面上的25個位置點滴上去離子水，且所述25個位置點在所述半成品電池片的表面均勻分布。
[0015]優(yōu)選的，在上述半成品電池片抗PID性能的測試方法中，在所述半成品電池片的表面上的多個位置點滴上去離子水為:
[0016]在所述半成品電池片的表面上的每個所述位置點滴一滴去離子水，且所述一滴去離子水的體積范圍為0.04毫升至0.05毫升。
[0017]優(yōu)選的，在上述半成品電池片抗PID性能的測試方法中，所述根據(jù)所述形態(tài)判斷所述半成品電池片的抗PID性能為:
[0018]當(dāng)所述去離子水的水滴直徑不變，則判斷所述半成品電池片的抗PID性能不合格。
[0019]優(yōu)選的，在上述半成品電池片抗PID性能的測試方法中，所述根據(jù)所述形態(tài)判斷所述半成品電池片的抗PID性能為:
[0020]當(dāng)所述去離子水的水滴具有擴散形態(tài)，且所述水滴的邊緣為鋸齒狀，則判斷所述半成品電池片的抗PID性能不合格。
[0021]優(yōu)選的，在上述半成品電池片抗PID性能的測試方法中，所述根據(jù)所述形態(tài)判斷所述半成品電池片的抗PID性能為:
[0022]當(dāng)所述去離子水的水滴具有擴散形態(tài)，且在5秒至10秒之后，各個所述位置點的所述水滴的直徑不同，則判斷所述半成品電池片的抗PID性能不合格。
[0023]優(yōu)選的，在上述半成品電池片抗PID性能的測試方法中，所述根據(jù)所述形態(tài)判斷所述半成品電池片的抗PID性能為:
[0024]當(dāng)各個所述位置點的所述水滴具有擴散形態(tài)，且擴散直徑相同，邊緣平滑，則判斷所述半成品電池片的抗PID性能合格。
[0025]通過上述描述可知，本發(fā)明提供的上述半成品電池片抗PID性能的測試方法，由于將半成品電池片水平放置，在所述半成品電池片的表面上的多個位置點滴上去離子水，觀察所述去離子水自然擴散之后的形態(tài)，根據(jù)所述形態(tài)判斷所述半成品電池片的抗PID性能，因此避免了傾斜設(shè)置的麻煩，也能實時測試，節(jié)省測試時間，從而能夠有效的測量半成品電池片的抗PID性能，且操作方便。
【附圖說明】
[0026]為了更清楚地說明本發(fā)明實施例或現(xiàn)有技術(shù)中的技術(shù)方案，下面將對實施例或現(xiàn)有技術(shù)描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本發(fā)明的實施例，對于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動的前提下，還可以根據(jù)提供的附圖獲得其他的附圖。
[0027]圖1為本申請實施例提供的第一種半成品電池片抗PID性能的測試方法的示意圖；
[0028]圖2為本申請實施例提供的第二種半成品電池片抗PID性能的測試方法的示意圖。
【具體實施方式】
[0029]本發(fā)明的核心思想在于提供一種半成品電池片抗PID性能的測試方法，能夠有效的測量半成品電池片的抗PID性能，且操作方便。
[0030]下面將結(jié)合本發(fā)明實施例中的附圖，對本發(fā)明實施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例僅僅是本發(fā)明一部分實施例，而不是全部的實施例?；诒景l(fā)明中的實施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有做出創(chuàng)造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例，都屬于本發(fā)明保護的范圍。
[0031]本申請實施例提供的第一種半成品電池片抗PID性能的測試方法如圖1所示，圖1為本申請實施例提供的第一種半成品電池片抗PID性能的測試方法的示意圖。該方法包括如下步驟:
[0032]S1:將半成品電池片水平放置；
[0033]在該步驟中，只需將電池片水平放置，且在后續(xù)步驟中也一直水平放置即可，尋找操作平臺更為便捷快速，無需像現(xiàn)有技術(shù)中那樣傾斜電池片，從而避免了不必要的麻煩。
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