本發(fā)明涉及半導(dǎo)體處理設(shè)備,具體而言,涉及一種半導(dǎo)體的晶圓頂升裝置。
背景技術(shù):
1、在半導(dǎo)體集成電路制造領(lǐng)域中,集成電路通常是制作在晶圓(wafer)上,而一個(gè)完整的芯片的制作需要經(jīng)過多個(gè)步驟。在進(jìn)行各工藝步驟中,需要將晶圓放置到對(duì)應(yīng)的半導(dǎo)體設(shè)備的工藝腔中,在晶圓的放置都是自動(dòng)化進(jìn)行的,在進(jìn)行晶圓的自動(dòng)取放過程中需要采用的晶圓升降裝置,通過晶圓升降裝置來使工藝腔的晶圓上升和下降,方便機(jī)械手的取放。
2、經(jīng)檢索發(fā)現(xiàn),現(xiàn)有技術(shù)大多通過氣缸、氣源等升降頂針,而氣缸通常需要在設(shè)備中占據(jù)一定的空間來安裝,這可能導(dǎo)致設(shè)備設(shè)計(jì)的靈活性受限,在某些緊湊的工藝腔室中,氣缸的安裝位置可能難以滿足,從而限制了晶圓升降裝置的應(yīng)用范圍;若使用氣源的話,為了確保氣源輸入的均勻性,需要安裝額外的閥門控制系統(tǒng)來調(diào)節(jié)氣壓,這增加了設(shè)備的復(fù)雜性和成本,若不安裝的話,則會(huì)導(dǎo)致氣源輸入不均勻,進(jìn)而會(huì)導(dǎo)致晶圓升降過程中出現(xiàn)磨損、傾斜或卡頓現(xiàn)象,影響晶圓的加工質(zhì)量和設(shè)備的穩(wěn)定性。
3、如何發(fā)明一種半導(dǎo)體的晶圓頂升裝置來解決這些問題,成為了本領(lǐng)域技術(shù)人員亟待解決的問題。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路
1、為了彌補(bǔ)以上不足,本發(fā)明提供了一種半導(dǎo)體的晶圓頂升裝置,旨在解決上述背景中所提到的問題。
2、本發(fā)明是這樣實(shí)現(xiàn)的:
3、本發(fā)明提供一種半導(dǎo)體的晶圓頂升裝置,包括工藝腔體、支撐部和晶圓,所述支撐部由平面部和支撐軸所組成,所述平面部上安裝有吸盤,所述平面部位于工藝腔體內(nèi),用于支撐晶圓,平面部和吸盤內(nèi)對(duì)應(yīng)間隔開設(shè)有若干通槽,所述支撐軸與平面部底部連接,且自工藝腔體內(nèi)部延伸到工藝腔體外部,還包括:
4、頂升組件:所述頂升組件設(shè)置于工藝腔體內(nèi)部,所述頂升組件用于彈性升降晶圓;
5、勻流通氣組件:所述勻流通氣組件設(shè)置于工藝腔體內(nèi)部,所述勻流通氣組件用于保證氣流均勻作用于彈性頂升組件;
6、阻排氣組件:所述阻排氣組件設(shè)置于工藝腔體的底部,所述阻排氣組件根據(jù)勻流通氣組件的狀態(tài)控制頂升組件內(nèi)部的氣路流通。
7、優(yōu)選的,所述頂升組件包括活動(dòng)部、安裝腔和波紋套管,所述安裝腔位于工藝腔體的底部側(cè)壁內(nèi),所述活動(dòng)部的底部安裝有密封墊,所述活動(dòng)部的頂部貫穿工藝腔體的內(nèi)側(cè)底壁,所述活動(dòng)部的頂部安裝有頂針,所述頂針的底部設(shè)置有螺桿,所述活動(dòng)部的頂部設(shè)置有與螺桿相嚙合的螺槽。
8、優(yōu)選的,所述波紋套管的上端與密封墊的底部固定連接,下端與安裝腔的底部固定連接,所述波紋套管的內(nèi)部設(shè)置有第三彈簧,所述第三彈簧的端部分別與密封墊的底部、波紋套管的內(nèi)底壁固定連接,所述安裝腔、波紋套管的底部均為貫通設(shè)置。
9、優(yōu)選的,所述安裝腔、波紋套管均呈環(huán)狀且與支撐軸同軸心,所述頂針與通槽相匹配式設(shè)置,所述螺槽與通槽的數(shù)量相等,所述頂針、第三彈簧沿活動(dòng)部的邊緣環(huán)狀分布。
10、優(yōu)選的,所述活動(dòng)部與安裝腔頂部、密封墊與安裝腔內(nèi)壁之間均為滑動(dòng)密封連接,第三彈簧處于初始狀態(tài)時(shí)的所述頂針的頂部位于通槽內(nèi)部,活動(dòng)部的底部與安裝腔的頂部接觸時(shí)的所述頂針的頂部位于平面部的頂部之上。
11、優(yōu)選的,所述勻流通氣組件包括工藝腔體底部內(nèi)設(shè)置的蓄氣槽,所述蓄氣槽的底壁連接有通氣管,朝向平面部外側(cè)的所述蓄氣槽的一側(cè)開設(shè)有排氣環(huán)槽。
12、優(yōu)選的,所述蓄氣槽具有一定高度且為環(huán)狀設(shè)置,所述排氣環(huán)槽位于蓄氣槽的底部,所述通氣管的上端位于蓄氣槽的中部,所述通氣管的下端延伸至工藝腔體的外部,所述通氣管的下端與輸氣泵通過管路連接,所述排氣環(huán)槽的端部與安裝腔的底部連通。
13、優(yōu)選的,所述勻流通氣組件還包括工藝腔體底部設(shè)置的凸臺(tái)和排氣環(huán)槽底部設(shè)置的限位腔,所述限位腔的頂部貫穿排氣環(huán)槽的底壁,所述限位腔的底壁沿其邊緣環(huán)形連接有若干第一彈簧,所述第一彈簧的上端固定連接有環(huán)形擋塊,朝向蓄氣槽的所述環(huán)形擋塊的一側(cè)為棱形設(shè)置,所述環(huán)形擋塊呈環(huán)狀且其截面為直角梯形,第一彈簧處于初始狀態(tài)下的所述環(huán)形擋塊的頂部與排氣環(huán)槽的頂部形成接觸密封。
14、優(yōu)選的,所述阻排氣組件包括凸臺(tái)底部設(shè)置的滑動(dòng)腔、通氣槽以及環(huán)形擋塊底部安裝的磁柱,所述限位腔與滑動(dòng)腔之間貫穿設(shè)置有腰孔,靠近于腰孔的所述滑動(dòng)腔的側(cè)壁上固定連接有第二彈簧,所述第二彈簧的端部固定連接有截流磁板,所述通氣槽的端部貫穿工藝腔體和凸臺(tái)的側(cè)壁,所述通氣槽的底部安裝有濾板。
15、優(yōu)選的,所述磁柱位于第一彈簧的內(nèi)部,所述截流磁板的寬度大于通氣槽的寬度,所述磁柱與截流磁板的相對(duì)面為同極磁性設(shè)置,初始狀態(tài)下的所述截流磁板位于滑動(dòng)腔內(nèi)、磁柱底部位于滑動(dòng)腔上方,所述磁柱與截流磁板正對(duì)時(shí)的所述截流磁板與通氣槽之間形成接觸密封。
16、本發(fā)明的有益效果是:
17、1、勻流通氣組件通過蓄氣槽、環(huán)形擋板的設(shè)置,能夠確保活動(dòng)部在上升過程中受到的是均勻且穩(wěn)定的推力,從而避免了因壓力不均導(dǎo)致的磨損、傾斜或卡頓現(xiàn)象,這不僅延長了設(shè)備的使用壽命,還提高了晶圓頂升的精度和穩(wěn)定性,同時(shí)僅需一個(gè)輸氣泵即可實(shí)現(xiàn)氣體的輸送、儲(chǔ)存和均勻排放,無需額外的閥門控制系統(tǒng),不僅降低了系統(tǒng)的制造成本和維護(hù)難度,還提高了系統(tǒng)的可靠性和穩(wěn)定性。
18、2、阻排氣組件通過磁控機(jī)制在頂升過程中實(shí)現(xiàn)了對(duì)通氣槽的開閉控制,確保氣體在頂升過程中的穩(wěn)定流動(dòng),且在頂升完成后會(huì)自動(dòng)排氣,無需額外泵吸處理,節(jié)約了能源消耗,整體結(jié)構(gòu)簡單,減少了故障點(diǎn)和維護(hù)成本。
19、3、在波紋套管作為主密封和緩沖元件的基礎(chǔ)上,在活動(dòng)部上增加了密封墊,確保了即使在波紋套管意外破裂等極端情況下,晶圓也能被安全頂升、支撐和下降,減少了生產(chǎn)中斷和晶圓損失的風(fēng)險(xiǎn);第三彈簧與波紋套管協(xié)同為活動(dòng)部的升降提供了良好的彈性支撐和緩沖效果,顯著減少了頂升和下降過程中的振動(dòng)和沖擊,有效保護(hù)了晶圓免受損傷;頂針的數(shù)量和高度可根據(jù)晶圓的規(guī)格進(jìn)行靈活調(diào)節(jié),滿足了不同尺寸和重量晶圓的處理需求,增強(qiáng)了設(shè)備的通用性和適應(yīng)性。
1.一種半導(dǎo)體的晶圓頂升裝置,包括工藝腔體(1)、支撐部和晶圓(10),所述支撐部由平面部(2)和支撐軸(21)所組成,所述平面部(2)上安裝有吸盤(4),所述平面部(2)位于工藝腔體(1)內(nèi),用于支撐晶圓(10),平面部(2)和吸盤(4)內(nèi)對(duì)應(yīng)間隔開設(shè)有若干通槽(22),所述支撐軸(21)與平面部(2)底部連接,且自工藝腔體(1)內(nèi)部延伸到工藝腔體(1)外部,其特征在于,還包括:
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種半導(dǎo)體的晶圓頂升裝置,其特征在于,所述頂升組件包括活動(dòng)部(3)、安裝腔(5)和波紋套管(9),所述安裝腔(5)位于工藝腔體(1)的底部側(cè)壁內(nèi),所述活動(dòng)部(3)的底部安裝有密封墊(34),所述活動(dòng)部(3)的頂部貫穿工藝腔體(1)的內(nèi)側(cè)底壁,所述活動(dòng)部(3)的頂部安裝有頂針(31),所述頂針(31)的底部設(shè)置有螺桿(32),所述活動(dòng)部(3)的頂部設(shè)置有與螺桿(32)相嚙合的螺槽(33)。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種半導(dǎo)體的晶圓頂升裝置,其特征在于,所述波紋套管(9)的上端與密封墊(34)的底部固定連接,下端與安裝腔(5)的底部固定連接,所述波紋套管(9)的內(nèi)部設(shè)置有第三彈簧(91),所述第三彈簧(91)的端部分別與密封墊(34)的底部、波紋套管(9)的內(nèi)底壁固定連接,所述安裝腔(5)、波紋套管(9)的底部均為貫通設(shè)置。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種半導(dǎo)體的晶圓頂升裝置,其特征在于,所述安裝腔(5)、波紋套管(9)均呈環(huán)狀且與支撐軸(21)同軸心,所述頂針(31)與通槽(22)相匹配式設(shè)置,所述螺槽(33)與通槽(22)的數(shù)量相等,所述頂針(31)、第三彈簧(91)沿活動(dòng)部(3)的邊緣環(huán)狀分布。
5.根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種半導(dǎo)體的晶圓頂升裝置,其特征在于,所述活動(dòng)部(3)與安裝腔(5)頂部、密封墊(34)與安裝腔(5)內(nèi)壁之間均為滑動(dòng)密封連接,第三彈簧(91)處于初始狀態(tài)時(shí)的所述頂針(31)的頂部位于通槽(22)內(nèi)部,活動(dòng)部(3)的底部與安裝腔(5)的頂部接觸時(shí)的所述頂針(31)的頂部位于平面部(2)的頂部之上。
6.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種半導(dǎo)體的晶圓頂升裝置,其特征在于,所述勻流通氣組件包括工藝腔體(1)底部內(nèi)設(shè)置的蓄氣槽(6),所述蓄氣槽(6)的底壁連接有通氣管(61),朝向平面部(2)外側(cè)的所述蓄氣槽(6)的一側(cè)開設(shè)有排氣環(huán)槽(62)。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的一種半導(dǎo)體的晶圓頂升裝置,其特征在于,所述蓄氣槽(6)具有一定高度且為環(huán)狀設(shè)置,所述排氣環(huán)槽(62)位于蓄氣槽(6)的底部,所述通氣管(61)的上端位于蓄氣槽(6)的中部,所述通氣管(61)的下端延伸至工藝腔體(1)的外部,所述通氣管(61)的下端與輸氣泵通過管路連接,所述排氣環(huán)槽(62)的端部與安裝腔(5)的底部連通。
8.根據(jù)權(quán)利要求6所述的一種半導(dǎo)體的晶圓頂升裝置,其特征在于,所述勻流通氣組件還包括工藝腔體(1)底部設(shè)置的凸臺(tái)(11)和排氣環(huán)槽(62)底部設(shè)置的限位腔(71),所述限位腔(71)的頂部貫穿排氣環(huán)槽(62)的底壁,所述限位腔(71)的底壁沿其邊緣環(huán)形連接有若干第一彈簧(72),所述第一彈簧(72)的上端固定連接有環(huán)形擋塊(7),朝向蓄氣槽(6)的所述環(huán)形擋塊(7)的一側(cè)為棱形設(shè)置,所述環(huán)形擋塊(7)呈環(huán)狀且其截面為直角梯形,第一彈簧(72)處于初始狀態(tài)下的所述環(huán)形擋塊(7)的頂部與排氣環(huán)槽(62)的頂部形成接觸密封。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的一種半導(dǎo)體的晶圓頂升裝置,其特征在于,所述阻排氣組件包括凸臺(tái)(11)底部設(shè)置的滑動(dòng)腔(81)、通氣槽(12)以及環(huán)形擋塊(7)底部安裝的磁柱(73),所述限位腔(71)與滑動(dòng)腔(81)之間貫穿設(shè)置有腰孔(74),靠近于腰孔(74)的所述滑動(dòng)腔(81)的側(cè)壁上固定連接有第二彈簧(82),所述第二彈簧(82)的端部固定連接有截流磁板(8),所述通氣槽(12)的端部貫穿工藝腔體(1)和凸臺(tái)(11)的側(cè)壁,所述通氣槽(12)的底部安裝有濾板(13)。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的一種半導(dǎo)體的晶圓頂升裝置,其特征在于,所述磁柱(73)位于第一彈簧(72)的內(nèi)部,所述截流磁板(8)的寬度大于通氣槽(12)的寬度,所述磁柱(73)與截流磁板(8)的相對(duì)面為同極磁性設(shè)置,初始狀態(tài)下的所述截流磁板(8)位于滑動(dòng)腔(81)內(nèi)、磁柱(73)底部位于滑動(dòng)腔(81)上方,所述磁柱(73)與截流磁板(8)正對(duì)時(shí)的所述截流磁板(8)與通氣槽(12)之間形成接觸密封。