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基于混合算法的平面陣列天線和差波束方向圖合成方法與流程

文檔序號:12738001閱讀:737來源:國知局
基于混合算法的平面陣列天線和差波束方向圖合成方法與流程
本發(fā)明涉及無線通信、信號處理
技術(shù)領(lǐng)域
,特別是涉及基于混合算法的平面陣列天線和差波束方向圖合成方法。
背景技術(shù)
:平面天線和差波束天線方向圖綜合優(yōu)化方法是一種僅改變部分陣元的電流激勵以及相位激勵來實(shí)現(xiàn)和、差波束之間轉(zhuǎn)換的技術(shù)。在很多實(shí)際應(yīng)用中,抑制陣列方向圖的旁瓣是一個基本且十分重要的問題,對于采用單脈沖技術(shù)的雷達(dá)系統(tǒng),需要對和波束及差波束的旁瓣同時進(jìn)行抑制,為此可在陣元上采用兩種形式的加權(quán),用于和波束的Taylor加權(quán)及用于差波束的Bayliss加權(quán),但針對包含有幾百至幾千個陣元的大型相控陣?yán)走_(dá),饋電網(wǎng)絡(luò)將會及其復(fù)雜,為降低系統(tǒng)的復(fù)雜性,研究僅改變部分陣元的電流激勵以及相位激勵來實(shí)現(xiàn)和、差波束之間的轉(zhuǎn)換,有著極為重要的工程應(yīng)用價值。針對上述問題,常規(guī)的解決方法是智能優(yōu)化算法,如文獻(xiàn)M.Alvarez-Folgueiras,J.Rodriguez-Gonzales,andF.Ares-Pena,中基于模擬退火(SimulatedAnnealing)的改進(jìn)型全局優(yōu)化算法,但智能優(yōu)化方法處理單元的數(shù)量較多時,優(yōu)化變量將激增,導(dǎo)致優(yōu)化過程極為耗時,優(yōu)化的結(jié)果無法逼近理想和差波束方向圖。本發(fā)明結(jié)合改進(jìn)迭代傅里葉算法(MIFT,ModifiedIterativeFourierTechnique)與二次規(guī)劃算法(Quadratic0ptimization,QP)兩種技術(shù)進(jìn)行和差波束方向圖綜合,首先利用MIFT方法計算滿足和差波束副瓣要求所對應(yīng)的共用單元激勵值,再利用QP算法平行計算獲得滿足和差波束各自副瓣電平最大值、差波束零點(diǎn)位置斜率、最大方向性系數(shù)等輻射性能所對應(yīng)的共用單元外剩余單元的電流激勵。技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素:為了解決上述存在的問題,本發(fā)明提供基于混合算法的平面陣列天線和差波束方向圖合成方法,本發(fā)明中的混合優(yōu)化方法回避了傳統(tǒng)IFT算法無法完善和、差波束所有輻射性能以及QP算法當(dāng)未知變量激增時導(dǎo)致計算周期長的缺點(diǎn),而有效結(jié)合了迭代傅里葉算法以及QP算法無需參數(shù)調(diào)節(jié)且魯棒性強(qiáng),計算速度快,精度高的特點(diǎn),最終實(shí)現(xiàn)饋電網(wǎng)絡(luò)簡化,僅通過部分陣元的電流激勵以及相位激勵變化來實(shí)現(xiàn)和、差波束之間的轉(zhuǎn)換,為達(dá)此目的,本發(fā)明提供一種基于混合算法的平面陣列天線和差波束方向圖合成方法,包括以下步驟:步驟一:對平面陣列天線遠(yuǎn)場和、差方向圖做UV面轉(zhuǎn)化,過程如下;其中2M,2N為矩形平面陣列單元數(shù),單元間距d為半波長,θ與分別對應(yīng)俯、仰角,為對應(yīng)單元的幅相激勵參數(shù),amn、分別為電流和相位激勵參數(shù),m=1,...,2M,n=1,...,2N,設(shè)對(1)式做如下變化,其中和波束遠(yuǎn)場方向圖為差波束遠(yuǎn)場方向圖為設(shè)置w=[I00,I10,...I(2M-2)(2N-1),I(2M-1)(2N-1)](5);公式(2)轉(zhuǎn)化為;AF(u,v)=wc(7);根據(jù)和差波束方向圖形成特點(diǎn),將矩形平面陣列規(guī)則分為四象限,對于和波束,采用所有單元等相位激勵,對于差波束方向圖方位面掃描,一、四象限內(nèi)所有單元相位激勵統(tǒng)一為180度,二三象限內(nèi)所有單元相位激勵統(tǒng)一為0度,對于俯仰面掃描,一三或二四象限中相位對調(diào)即可,和波束對應(yīng)各單元的電流激勵如下:形成差波束方向圖對應(yīng)各單元的電流激勵如下:步驟二:利用改近的迭代傅里葉算法,得出滿足副瓣電平、3dB波寬要求的和、差波束方向圖對應(yīng)的單元電流激勵值,并保留其中兩種波束對應(yīng)的相同激勵單元部分的幅值,步驟如下:1)將和差兩種波束對應(yīng)的相同激勵單元部分設(shè)置為;其中Ψ為包含具有相同激勵幅值單元的集合,為更加簡化饋電網(wǎng)絡(luò),相同激勵幅值單元可被分為若干個子陣,對應(yīng)和、差波束形成的子陣定義如下;2)對進(jìn)行補(bǔ)零處理,首次迭代,和差波束對應(yīng)的所有陣元激勵可設(shè)置為1,變成C×L個值,C、L至少分別大于M、N的4倍整數(shù),根據(jù)式(3)和(4)計算平面陣列的陣因子AF(u,v)(Σ/Δ),將輻射區(qū)域的離散取樣點(diǎn)總數(shù)確定為K,將陣因子簡化表述為AF(Σ/Δ)k,k=1,...K,不可見空間區(qū)域中的值繼續(xù)保留,u2+v2>1區(qū)域,如下步驟針對“∑”即和波束形式與“Δ”即差波束形式;3)把陣因子AF(Σ/Δ)k歸一化后分解成幅度|AF|(Σ/Δ)k和相位ψ(Σ/Δ)k;4)把|AF|(Σ/Δ)k分為主瓣和副瓣兩個區(qū)域;首先,找出二維方向圖主瓣和副瓣區(qū)域之間的分界線,即主瓣的第一零陷;然后,把零陷以內(nèi)即主瓣區(qū)域內(nèi)3dB波束寬度位置以及周圍區(qū)域中|AF|(Σ/Δ)k的值與理想的方向圖的相同區(qū)域進(jìn)行對比,超出理想方向圖上下波紋的區(qū)域,直接用上下波紋的期望陣因子值代替,在副瓣區(qū)域內(nèi)將|AF|(Σ/Δ)k與期望最大副瓣電平Sll(Σ/Δ)進(jìn)行比較,對于超越最大副瓣電平的區(qū)域,即|AF|(Σ/Δ)k>Sll(Σ/Δ),直接用最大副瓣電平值代替,主瓣以及副瓣調(diào)整后,得到新的幅度值|AF|'(Σ/Δ)k,再利用步驟3)中的相位ψ(Σ/Δ)k計算得出新的AF('Σ/Δ)k,公式如下:5)對AF('Σ/Δ)k進(jìn)行二維離散傅里葉逆變換得出C×L個I(Σ/Δ)(c,l),取前面的M×N個值作為激勵幅值其中和波束對應(yīng)的激勵為差波束包含方位面掃描對應(yīng)的激勵與俯仰面對應(yīng)的激勵在(10)式(m,n)∈Ψ的陣元中,將和差波束分別對應(yīng)的同一單元不同電流激勵取均值處理作為共用激勵單元的幅值Icommon,對于子陣分布情況,將同一子陣集合內(nèi)的所有和差波束對應(yīng)的激勵值求和取均值處理后作為該子陣共同的激勵幅值;6)直至和差波束均滿足理想方向圖的要求,或者達(dá)到最大迭代次數(shù)后停止迭代,否則重復(fù)步驟1-5;步驟三:利用改進(jìn)的二次規(guī)劃算法來改進(jìn)和、差波束方向圖的副瓣電平最大值、差波束零點(diǎn)位置的斜率、方向性系數(shù)及相關(guān)輻射性能參數(shù),步驟如下:最大方向性系數(shù)由如下表達(dá)式確定:az與el分別對應(yīng)差波束方位面與俯仰面的掃描,ρ、τ與σ均為正數(shù),其中τ=σ,合理設(shè)置可有效控制和、差波束的最大方向性系數(shù);在UV面,將和波束的輻射性能要求歸結(jié)為如下凸優(yōu)化問題:-|AF∑(u0,v0)|<-kΣ(18);(u0,v0)為UV面最大輻射增益處所對應(yīng)的位置,kΣ為最大增益限定值;|AF∑(us,vs|)≤UB∑,s=1,...S(19);s對應(yīng)副瓣區(qū)域的陣因子,S為副瓣區(qū)域的離散取樣點(diǎn)總數(shù),UB∑為和波束副瓣最大電平;||AF(us,vs)|2-ds(∑)|≤ε∑(20);s對應(yīng)主瓣區(qū)域的陣因子,S為主瓣區(qū)域的離散取樣點(diǎn)總數(shù),ε∑為主瓣區(qū)域?qū)嶋H輻射的方向圖與理想方向圖ds(∑)之間允許的最大差值,合理設(shè)置可有效控制主瓣區(qū)域方向圖的輻射范圍;結(jié)合公式(5)的AF(u,v)=wc,上式等價轉(zhuǎn)化為;將(21)式做如下變化,其中將由替換,為步驟二算法中求得的和波束對應(yīng)的幅相激勵參數(shù),w∑為待求的和波束對應(yīng)的激勵值,此處輻射單元(m,n)屬于共用陣元集合外,為保證公式的可靠性,將向量中最大的G個(G小于陣元個數(shù))電流激勵值直接賦給待求復(fù)值向量w∑中的相同激勵單元;在UV面,將差波束的輻射性能要求歸結(jié)為如下凸優(yōu)化問題,以方位面為例,AFΔ(u0,v0)=0(24);(u0,v0)為UV面差波束兩主瓣間的零陷處,kΔ為正數(shù),可有效控制零陷處的最大斜率;s對應(yīng)副瓣區(qū)域的陣因子,S為副瓣區(qū)域的離散取樣點(diǎn)總數(shù),為差波束副瓣最大電平;參考公式(21,22)得出;εΔ為主瓣區(qū)域?qū)嶋H輻射的方向圖與理想方向圖ds(Δ)之間允許的最大差值,合理設(shè)置可有效控制差波束情況下主瓣區(qū)域方向圖的輻射范圍,與和波束相同,值來源于步驟二。其中此處輻射單元(m,n)屬于共用陣元集合外。為保證公式的可靠性,將向量中最大的V個(V小于陣元個數(shù))電流激勵值直接賦給待求復(fù)值向量waz(Δ)中的相同激勵單元;步驟三的優(yōu)化方程為凸優(yōu)化問題,采用現(xiàn)有的優(yōu)化工具求得滿足上述約束條件下的最優(yōu)性能和、差方向圖分別對應(yīng)的加權(quán)矢量;步驟四:在上述計算過程中,為實(shí)現(xiàn)差波束中各項輻射性能由方位面向俯仰面轉(zhuǎn)換,如零點(diǎn)位置斜率,通過一三或者二四象限中任意一對相位對調(diào)即可完成。本發(fā)明的進(jìn)一步改進(jìn),所述平面陣列天線為25×25,單元間距為0.5λ,為簡化饋網(wǎng)絡(luò),設(shè)置陣面邊緣20%或40%的單元為共用陣元,本發(fā)明可用于以上情況的平面陣列天線。本發(fā)明與現(xiàn)有技術(shù)方法相比,其有益效果是:1)本發(fā)明的計算效率高且最大化和、差波束各項輻射性能,本方法采用了改進(jìn)的MIFT算法與QP算法相結(jié)合的方法對平面陣列進(jìn)行和差波束方向圖綜合,充分挖掘迭代傅里葉算法的結(jié)果數(shù)值,將和、差波束方向圖綜合問題變成凸二次規(guī)劃模型求解,本方法結(jié)合了迭代傅里葉算法的運(yùn)算速度優(yōu)勢,與傳統(tǒng)的非凸尋優(yōu)問題改進(jìn)方法相比,本發(fā)明中的二次規(guī)劃模型求解過程只需要一步即可完成,最大化和、差方向圖各項輻射性能的同時,有效減少了凸優(yōu)化問題求解過程中的未知變量,縮短了計算求解時間,便于應(yīng)用于實(shí)際工程。2)本發(fā)明通用性好,本方法不依賴平面陣列天線的陣元類型,基于任何類型陣元的平面陣列天線均可采用本方法進(jìn)行綜合,無需智能優(yōu)化算法中的參數(shù)設(shè)置調(diào)節(jié)。附圖說明圖1,和波束UV面三維視圖。圖2,共用20%單元對應(yīng)的差波束UV面三維視圖。圖3,共用40%單元對應(yīng)的差波束UV面三維視圖。具體實(shí)施方式下面結(jié)合附圖與具體實(shí)施方式對本發(fā)明作進(jìn)一步詳細(xì)描述:本發(fā)明提供基于混合算法的平面陣列天線和差波束方向圖合成方法,本發(fā)明利用MIFT方法計算滿足和差波束副瓣要所求對應(yīng)的共用單元激勵值,再利用QP算法平行計算獲得滿足和差波束各自副瓣電平最大值、差波束零點(diǎn)位置斜率、最大方向性系數(shù)等輻射性能所對應(yīng)的共用單元外剩余單元的電流激勵。作為本發(fā)明一種實(shí)施例,本發(fā)明考慮一個25×25的平面陣列天線,單元間距為0.5λ,為簡化饋網(wǎng)絡(luò),設(shè)置陣面邊緣20%或40%的單元為共用陣元,表1為和波束對應(yīng)的平面陣列第一象限單元的電流幅度值,表2,表3分別為共用20%和40%單元差波束對應(yīng)的第一象限單元的電流幅度值,圖1為和波束UV面三維俯視圖,圖2為共用20%單元差波束UV面三維俯視圖,圖3為共用40%單元差波束UV面三維俯視圖,表4中,和、差波束方向圖各項性能指標(biāo),包括最大副瓣電平,和波束最大方向性系數(shù),差波束零陷位置最大斜率,3dB波束在U面以及V面寬度?!撇ㄊ闆r下方向性系數(shù)達(dá)到36.2,最終得到和波束增益為39.85,共用20%激勵單元的Δ波束情況下方向性系數(shù)達(dá)到18.4,差波束最大零陷處斜率為380.8,副瓣電平最大為-24.1,共用40%激勵單元的Δ波束情況下方向性系數(shù)達(dá)到18.2,差波束最大零陷處斜率為267.7,副瓣電平最大為-22.28,對比現(xiàn)有的采用凸優(yōu)化方法的優(yōu)化結(jié)果,在考慮簡化饋電網(wǎng)絡(luò)結(jié)構(gòu)的前提條件下,本發(fā)明在旁瓣限制,差波束最大零陷斜率等輻射性能上均有較大進(jìn)步。表10.27570.39360.66220.88101.00000.23030.34520.56730.76930.87550.15540.26260.41770.56160.66040.07680.17010.24900.35690.42850.02280.08170.11940.17370.2267表20.27570.67490.85940.81720.31520.23030.62420.79620.73850.29310.15540.52590.61560.61150.21270.07680.34560.45720.38310.18840.02280.23080.17230.25590.0454表30.27570.39360.64550.62740.24360.23030.34520.57860.56590.21370.15540.26260.45670.42700.18640.07680.17010.30120.31350.10990.02280.08170.17360.15000.0900表4以上所述,僅是本發(fā)明的較佳實(shí)施例而已,并非是對本發(fā)明作任何其他形式的限制,而依據(jù)本發(fā)明的技術(shù)實(shí)質(zhì)所作的任何修改或等同變化,仍屬于本發(fā)明所要求保護(hù)的范圍。當(dāng)前第1頁1 2 3 
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