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片間互連方法與流程

文檔序號:11836187閱讀:來源:國知局

技術(shù)特征:

1.一種片間互連方法,其特征在于,該方法包括:

在襯底上形成第一鍵合凸點(diǎn);

在所述第一鍵合凸點(diǎn)上沉積具有導(dǎo)電性能的第一三維納米結(jié)構(gòu);

利用所述第一三維納米結(jié)構(gòu)將所述第一鍵合凸點(diǎn)與待鍵合件上形成的第二鍵合凸點(diǎn)進(jìn)行鍵合,以使所述襯底與所述待鍵合件互連。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,在所述第一鍵合凸點(diǎn)上沉積所述第一三維納米結(jié)構(gòu)的步驟包括:在所述襯底上未形成所述第一鍵合凸點(diǎn)的區(qū)域上涂覆保護(hù)層;在所述襯底上沉積所述第一三維納米結(jié)構(gòu),以使所沉積的第一三維納米結(jié)構(gòu)覆蓋所述保護(hù)層和所述第一鍵合凸點(diǎn);以及

所述方法還包括:移除所述保護(hù)層。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法,其特征在于,移除所述保護(hù)層的步驟在利用所述第一三維納米結(jié)構(gòu)將所述第一鍵合凸點(diǎn)與所述第二鍵合凸點(diǎn)進(jìn)行鍵合的步驟之前完成。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的方法,其特征在于,所述第一鍵合凸點(diǎn)相對于所述保護(hù)層向內(nèi)凹陷。

5.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法,其特征在于,移除所述保護(hù)層的步驟在利用所述第一三維納米結(jié)構(gòu)將所述第一鍵合凸點(diǎn)與待鍵合件上形成的第二鍵合凸點(diǎn)進(jìn)行鍵合的步驟之后完成。

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的方法,其特征在于,所述第一鍵合凸點(diǎn)相對于所述保護(hù)層向外突出。

7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,在所述第一鍵合凸點(diǎn)上沉積所述第一三維納米結(jié)構(gòu)的步驟包括:在所述襯底上沉積所述第一三維納米結(jié)構(gòu),以使所沉積的第一三維納米結(jié)構(gòu)覆蓋所述襯底上未形成所述第一鍵合凸點(diǎn)的區(qū)域以及所述第一鍵合凸點(diǎn);

直接移除所述襯底上未形成所述第一鍵合凸點(diǎn)的區(qū)域上的第一三維納米結(jié)構(gòu)。

8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,在所述第一鍵合凸點(diǎn)上沉積所述第一三維納米結(jié)構(gòu)的步驟包括:

在所述襯底上沉積所述第一三維納米結(jié)構(gòu),以使所沉積的第一三維納米結(jié)構(gòu)覆蓋所述襯底上未形成所述第一鍵合凸點(diǎn)的區(qū)域以及所述第一鍵合凸點(diǎn);

在所述第一鍵合凸點(diǎn)周圍形成保護(hù)層,以使所述保護(hù)層包圍所述第一鍵合凸點(diǎn)及所述第一鍵合凸點(diǎn)上的第一三維納米結(jié)構(gòu);

移除所述襯底上未形成所述第一鍵合凸點(diǎn)的區(qū)域上的第一三維納米結(jié)構(gòu);以及

移除所述保護(hù)層。

9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,在所述第一鍵合凸點(diǎn)上沉積所述第一三維納米結(jié)構(gòu)的步驟包括:

在所述襯底的所述第一鍵合凸點(diǎn)的上方設(shè)置一模板,該模板上形成有與所述第一鍵合凸點(diǎn)相對應(yīng)的通孔;

在所述模板上沉積所述第一三維納米結(jié)構(gòu),以使所沉積的第一三維納米結(jié)構(gòu)的至少一部分穿過所述通孔到達(dá)所述第一鍵合凸點(diǎn)上;以及

移除所述模板。

10.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,所述待鍵合件為晶圓或芯片。

11.根據(jù)權(quán)利要求1-10中任一權(quán)利要求所述的方法,其特征在于,該方法還包括:

在利用所述第一三維納米結(jié)構(gòu)將所述第一鍵合凸點(diǎn)與所述第二鍵合凸點(diǎn)進(jìn)行鍵合的步驟之前,先在所述待鍵合件的所述第二鍵合凸點(diǎn)上沉積具有導(dǎo)電性能的第二三維納米結(jié)構(gòu);之后,再利用所述第一三維納米結(jié)構(gòu)和所述第二三維納米結(jié)構(gòu)將所述第一鍵合凸點(diǎn)與所述第二鍵合凸點(diǎn)進(jìn)行鍵合。

12.根據(jù)權(quán)利要求11所述的方法,其特征在于,所述第一三維納米結(jié)構(gòu)和/或所述第二三維納米結(jié)構(gòu)形成為絮狀或團(tuán)簇狀。

13.根據(jù)權(quán)利要求11所述的方法,其特征在于,所述第一三維納米結(jié)構(gòu)和/或所述第二三維納米結(jié)構(gòu)由以下材料中的至少一者形成:銅(Cu)、鋁(Al)、鎳(Ni)、銀(Ag)、金(Au)。

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