專利名稱：一種具有碎片檢測(cè)裝置的自動(dòng)上料機(jī)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及一種太陽(yáng)能電池片生產(chǎn)線的自動(dòng)上料機(jī)，特別是一種具有碎片檢測(cè)裝置的自動(dòng)上料機(jī)。
背景技術(shù)：
目前，在太陽(yáng)能硅片制造領(lǐng)域中自動(dòng)上料機(jī)中，通常采用5道傳送帶的傳送機(jī)構(gòu)同時(shí)對(duì)硅片進(jìn)行傳送。這種傳送機(jī)構(gòu)存在生產(chǎn)效率不高的缺陷。同時(shí)在傳送過(guò)程中，由于硅片比較輕比較薄，因此容易在上料過(guò)程中碎裂損壞。如果不將碎裂的硅片篩檢出來(lái)，很容易使碎裂的硅片(以下簡(jiǎn)稱碎片)流入到生產(chǎn)線上而浪費(fèi)時(shí)間和原材料，同時(shí)也導(dǎo)致了合格產(chǎn) 品產(chǎn)量的下降。為了避免這種情況發(fā)生，現(xiàn)有技術(shù)的做法是采用人工識(shí)別的方式進(jìn)行碎片的篩選，但這種方式存在效率低下及人力資源的浪費(fèi)，并且人工篩選也存在一定的失誤率。

實(shí)用新型內(nèi)容鑒于現(xiàn)有技術(shù)存在的上述問(wèn)題，本實(shí)用新型的目的在于提供一種具有碎片檢測(cè)裝置的自動(dòng)上料機(jī)。為了實(shí)現(xiàn)上述目的，本實(shí)用新型提供的一種具有碎片檢測(cè)裝置的自動(dòng)上料機(jī)，包括機(jī)架和設(shè)置于所述機(jī)架上、硅片傳送機(jī)構(gòu)、承載盒以及控制裝置，其中，還包括用于對(duì)所述硅片傳送機(jī)構(gòu)上的硅片進(jìn)行檢測(cè)的碎片檢測(cè)裝置，所述碎片檢測(cè)裝置與所述控制裝置連接并設(shè)置于所述硅片傳送機(jī)構(gòu)的傳送面的正上方或者正下方。作為優(yōu)選，所述碎片檢測(cè)裝置為CXD圖像傳感器。作為優(yōu)選，還包括一碎片盒，所述碎片盒設(shè)置于所述硅片傳送機(jī)構(gòu)的一側(cè)，所述控制器在所述碎片檢測(cè)裝置檢測(cè)到碎片時(shí)控制所述硅片傳送機(jī)構(gòu)將碎片傳送至所述碎片盒。作為優(yōu)選，所硅片傳送機(jī)構(gòu)包括第一傳送部、第二傳送部和轉(zhuǎn)角機(jī)構(gòu)，所述第一傳送部和所述第二傳送部的傳送方向垂直，所述轉(zhuǎn)角機(jī)構(gòu)設(shè)置于所述第一傳送部的末端及所述第二傳送部的起始端用于將所述第一傳送部上的硅片轉(zhuǎn)向傳送到所述第二傳送部上。作為優(yōu)選，所述碎片盒設(shè)置于所述第一傳送部沿傳送方向的起始端，所述控制器在所述碎片檢測(cè)裝置檢測(cè)到碎片時(shí)控制所述第一傳送部傳送碎片至所述碎片盒。作為優(yōu)選，所述碎片檢測(cè)裝置設(shè)置于所述第一傳送部的傳送面的正上方或者正下方。作為優(yōu)選，所述承載盒設(shè)置有四個(gè)。作為優(yōu)選，所述第二傳送部為平行設(shè)置且傳送方向相同的八個(gè)傳送道。作為優(yōu)選，所述第一傳送部有兩個(gè)并對(duì)稱設(shè)于所述第二傳送部的兩側(cè)，兩個(gè)所述第一傳送部的傳送方向相對(duì)且均垂直于所述第二傳送部的傳送方向。本實(shí)用新型的有益效果是(I)通過(guò)碎片檢測(cè)裝置對(duì)硅片傳送機(jī)構(gòu)上的硅片進(jìn)行碎片的檢測(cè)識(shí)別，可以把不合格的硅片過(guò)濾出來(lái)并輸送到獨(dú)立的碎片盒內(nèi)，從而可以保證生產(chǎn)線上的產(chǎn)品質(zhì)量。無(wú)需人工進(jìn)行碎片檢查，節(jié)省人力且提高產(chǎn)品質(zhì)量；(2)通過(guò)碎片檢測(cè)裝置配合8道硅片上料，使得生產(chǎn)的效率進(jìn)一步獲得提高。

圖I為本實(shí)用新型的具有碎片檢測(cè)裝置的自動(dòng)上料機(jī)的整體結(jié)構(gòu)示意圖。圖2為本實(shí)用新 型的具有碎片檢測(cè)裝置的自動(dòng)上料機(jī)的俯視圖。圖3為本實(shí)用新型的具有碎片檢測(cè)裝置的自動(dòng)上料機(jī)的局部結(jié)構(gòu)示意圖。圖4為本實(shí)用新型的具有碎片檢測(cè)裝置的自動(dòng)上料機(jī)的碎片檢測(cè)裝置與第一傳送部的結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實(shí)施方式
以下結(jié)合附圖對(duì)本實(shí)用新型的結(jié)構(gòu)做進(jìn)一步詳細(xì)的說(shuō)明。如圖I、圖2和圖3所示，本實(shí)用新型提供的一種具有碎片檢測(cè)裝置的自動(dòng)上料機(jī)，包括機(jī)架10、硅片傳送機(jī)構(gòu)(圖中未示出)、搬運(yùn)機(jī)構(gòu)2、承載盒I以及控制裝置(圖中未示出)，其中，還包括用于對(duì)所述硅片傳送機(jī)構(gòu)上的硅片6進(jìn)行檢測(cè)的碎片檢測(cè)裝置3，所述碎片檢測(cè)裝置3與所述控制裝置連接并設(shè)置于所述硅片傳送機(jī)構(gòu)的傳送面的正上方或者正下方。本實(shí)施例中機(jī)架10、硅片傳送機(jī)構(gòu)、搬運(yùn)機(jī)構(gòu)2及控制裝置的設(shè)置可以與現(xiàn)有技術(shù)的自動(dòng)上料機(jī)基本相同，如圖3所示，當(dāng)承載盒I內(nèi)的硅片6通過(guò)搬運(yùn)機(jī)構(gòu)2放置到硅片傳送機(jī)構(gòu)上后，碎片檢測(cè)裝置3開(kāi)始進(jìn)行碎片檢測(cè)處理并將檢測(cè)結(jié)果發(fā)送到控制裝置，如果判斷當(dāng)前檢測(cè)的硅片6正常，則硅片傳送機(jī)構(gòu)正常將硅片6傳送到下一工序；相反如果碎片檢測(cè)裝置3判斷硅片6有碎裂現(xiàn)象，則由所述硅片傳送機(jī)構(gòu)將碎片傳送出生產(chǎn)線，或者單獨(dú)設(shè)置專門負(fù)責(zé)清理碎片的搬運(yùn)裝置甚至由人工將碎片取出，相比較于人工檢測(cè)碎片，本實(shí)施例的具有碎片檢測(cè)裝置的自動(dòng)上料機(jī)無(wú)需人工進(jìn)行碎片檢查，節(jié)省人力且提高產(chǎn)品質(zhì)量。在本實(shí)用新型中，碎片檢測(cè)裝置3用于檢測(cè)處于硅片傳送機(jī)構(gòu)上的硅片6是否有碎片現(xiàn)象，理論上說(shuō)，現(xiàn)有技術(shù)中各類探傷手段均可以采用，例如X光射線、超聲波或者CCD圖像檢測(cè)技術(shù)。作為優(yōu)選，在本實(shí)施例中采用非接觸式的CCD圖像檢測(cè)技術(shù)，此時(shí)所述碎片檢測(cè)裝置3為CXD圖像傳感器。當(dāng)所述碎片檢測(cè)裝置3檢測(cè)到所述硅片傳送機(jī)構(gòu)上存在碎片時(shí)，為了防止不合格的硅片進(jìn)入生產(chǎn)線，需要將檢測(cè)出的硅片從所述硅片傳送機(jī)構(gòu)上過(guò)濾出來(lái)。如圖I和圖4所示，作為優(yōu)選，還包括一碎片盒53，所述碎片盒53設(shè)置于所述硅片傳送機(jī)構(gòu)的一側(cè)，所述控制器在所述碎片檢測(cè)裝置3檢測(cè)到碎片時(shí)控制所述硅片傳送機(jī)構(gòu)將碎片傳送至所述碎片盒53。所述硅片傳送機(jī)構(gòu)是太陽(yáng)能電池生產(chǎn)線的自動(dòng)上料機(jī)的一個(gè)重要部件，用于將承載盒I內(nèi)的硅片自動(dòng)上料至下道生產(chǎn)工序。在本實(shí)施例中，作為優(yōu)選，所硅片傳送機(jī)構(gòu)包括第一傳送部5、第二傳送部8和轉(zhuǎn)角機(jī)構(gòu)4，所述第一傳送部5和所述第二傳送部8的傳送方向垂直，所述轉(zhuǎn)角機(jī)構(gòu)4設(shè)置于所述第一傳送部5沿傳送方向的末端及所述第二傳送部8沿傳送方向的起始端用于將所述第一傳送部5上的硅片垂直轉(zhuǎn)向傳送到所述第二傳送部8上?，F(xiàn)有技術(shù)中的自動(dòng)上料機(jī)的第二傳送部8具有五個(gè)傳送道，傳送速度較慢，效率較低，在本實(shí)施例中，作為優(yōu)選，所述第二傳送部8具有平行設(shè)置且傳送方向相同的八個(gè)傳送道。并且，本實(shí)施例中的第一傳送部5和第二傳送部8均可以為平帶傳送機(jī)構(gòu)或者圓皮帶傳送機(jī)構(gòu)。
所述碎片盒53用于收容碎裂的硅片，為了便于將檢測(cè)出的碎片方便的過(guò)濾，作為優(yōu)選，如圖4所示，所述碎片盒53設(shè)置于所述第一傳送部5沿傳送方向的起始端，所述控制器在所述碎片檢測(cè)裝置3檢測(cè)到碎片時(shí)控制所述第一傳送部5傳送碎片至所述碎片盒53。另外，本實(shí)施例的碎片檢測(cè)裝置3 —般設(shè)置于所述硅片傳送機(jī)構(gòu)的上方或者下方都可以，即所述碎片檢測(cè)裝置3設(shè)置于第一傳送部5或者第二傳送部8的上方或者下方。但作為優(yōu)選，如圖4所示，所述碎片檢測(cè)裝置3設(shè)置于所述第一傳送部5的傳送面的正上方或者正下方。配合與第一傳送部5相接設(shè)置的碎片盒53，可以方便的在硅片處于第一傳送部5上時(shí)就對(duì)碎片進(jìn)行篩選和分離。另外，本實(shí)施例中的具有碎片檢測(cè)裝置的自動(dòng)上料機(jī)中的承載盒I可以設(shè)置有多個(gè)以增加自動(dòng)上料的效率，滿足同時(shí)八道上料。因此作為優(yōu)選，所述承載盒設(shè)置有4個(gè)。再進(jìn)一步優(yōu)選地，所述第一傳送部5有兩個(gè)并對(duì)稱設(shè)于所述第二傳送部8的兩側(cè)，兩個(gè)所述第一傳送部5的傳送方向相對(duì)且均垂直于所述第二傳送部8的傳送方向。
權(quán)利要求1.一種具有碎片檢測(cè)裝置的自動(dòng)上料機(jī)，包括機(jī)架、硅片傳送機(jī)構(gòu)、承載盒以及控制裝置，其特征在于，還包括用于對(duì)所述硅片傳送機(jī)構(gòu)上的硅片進(jìn)行檢測(cè)的碎片檢測(cè)裝置，所述碎片檢測(cè)裝置與所述控制裝置連接并設(shè)置于所述硅片傳送機(jī)構(gòu)的傳送面的正上方或者正下方。
2.如權(quán)利要求I所述的具有碎片檢測(cè)裝置的自動(dòng)上料機(jī)，其特征在于，所述碎片檢測(cè)裝置為CXD圖像傳感器。
3.如權(quán)利要求I所述的具有碎片檢測(cè)裝置的自動(dòng)上料機(jī)，其特征在于，還包括一碎片盒，所述碎片盒設(shè)置于所述硅片傳送機(jī)構(gòu)的一側(cè)，所述控制裝置在所述碎片檢測(cè)裝置檢測(cè)到碎片時(shí)控制所述硅片傳送機(jī)構(gòu)將碎片傳送至所述碎片盒。
4.如權(quán)利要求3所述的具有碎片檢測(cè)裝置的自動(dòng)上料機(jī)，其特征在于，所硅片傳送機(jī)構(gòu)包括第一傳送部、第二傳送部和轉(zhuǎn)角機(jī)構(gòu)，所述第一傳送部和所述第二傳送部的傳送方向垂直，所述轉(zhuǎn)角機(jī)構(gòu)設(shè)置于所述第一傳送部的末端及所述第二傳送部的起始端用于將所述第一傳送部上的硅片轉(zhuǎn)向傳送到所述第二傳送部上。
5.如權(quán)利要求4所述的具有碎片檢測(cè)裝置的自動(dòng)上料機(jī)，其特征在于，所述碎片盒設(shè)置于所述第一傳送部沿傳送方向的起始端，所述控制裝置在所述碎片檢測(cè)裝置檢測(cè)到碎片時(shí)控制所述第一傳送部傳送碎片至所述碎片盒。
6.如權(quán)利要求4所述的具有碎片檢測(cè)裝置的自動(dòng)上料機(jī)，其特征在于，所述碎片檢測(cè)裝置設(shè)置于所述第一傳送部的傳送面的正上方或者正下方。
7.如權(quán)利要求I所述的具有碎片檢測(cè)裝置的自動(dòng)上料機(jī)，其特征在于，所述承載盒設(shè)置有四個(gè)。
8.如權(quán)利要求4所述的具有碎片檢測(cè)裝置的自動(dòng)上料機(jī)，其特征在于，所述第二傳送部為平行設(shè)置且傳送方向相同的八個(gè)傳送道。
9.如權(quán)利要求4所述的具有碎片檢測(cè)裝置的自動(dòng)上料機(jī)，其特征在于，所述第一傳送部有兩個(gè)并對(duì)稱設(shè)于所述第二傳送部的兩側(cè)，兩個(gè)所述第一傳送部的傳送方向相對(duì)且均垂直于所述第二傳送部的傳送方向。
專利摘要本實(shí)用新型公開(kāi)了一種具有碎片檢測(cè)裝置的自動(dòng)上料機(jī)，包括機(jī)架、硅片傳送機(jī)構(gòu)、承載盒以及控制裝置，其中，還包括用于對(duì)所述硅片傳送機(jī)構(gòu)上的硅片進(jìn)行檢測(cè)的碎片檢測(cè)裝置，所述碎片檢測(cè)裝置與所述控制裝置連接并設(shè)置于所述硅片傳送機(jī)構(gòu)的傳送面的正上方或者正下方。本實(shí)用新型的具有碎片檢測(cè)裝置的自動(dòng)上料機(jī)通過(guò)碎片檢測(cè)裝置對(duì)硅片傳送機(jī)構(gòu)上的硅片進(jìn)行碎片的檢測(cè)識(shí)別，可以把不合格的硅片過(guò)濾出來(lái)并輸送到獨(dú)立的碎片盒內(nèi)，從而可以保證生產(chǎn)線上的產(chǎn)品質(zhì)量。
文檔編號(hào)H01L21/677GK202796882SQ20122045067
公開(kāi)日2013年3月13日 申請(qǐng)日期2012年9月6日 優(yōu)先權(quán)日2012年9月6日
發(fā)明者馮曉瑞, 戴秋喜 申請(qǐng)人:庫(kù)特勒自動(dòng)化系統(tǒng)(蘇州)有限公司