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集成發(fā)光二極管封裝方法

文檔序號(hào):7162986閱讀:274來源:國(guó)知局
專利名稱:集成發(fā)光二極管封裝方法
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及一種集成發(fā)光二極管封裝方法,其能有效調(diào)整集成發(fā)光二極管其熒光粉層厚度,提升出光效率以及降低色溫偏移量。
背景技術(shù)
發(fā)光二極管(Light Emitting Diodes ;LED)是目前的新型光源,可借由改變所采用的半導(dǎo)體材料的化學(xué)組成成份,以發(fā)出各種不同顏色的光源。由于發(fā)光二極管具有高效率、壽命長(zhǎng)、不易破損等優(yōu)于傳統(tǒng)光源的特性,因此傳統(tǒng)光源漸漸被發(fā)光二極管取代于生活上各種光源的應(yīng)用,且發(fā)光二極管在較低光源下有較佳效率(省電)特性,因此更廣泛被應(yīng)用于光度要求較低的道路、隧道、室內(nèi)照明或者野外活動(dòng)的燈具。目前集成發(fā)光二極管的封裝,主要是將兩顆或多顆發(fā)光二極管晶粒芯片固定在支架上面,固定好芯片的支架送入烤箱,依據(jù)所選用的銀膠或絕緣膠制程固化參數(shù)條件進(jìn)行固化,烤好的支架送入打線設(shè)備進(jìn)行芯片與支架的間的金線連接,打完線后的支架灌注熒光粉與硅膠,依據(jù)所選用的硅膠制程固化參數(shù)條件進(jìn)行固化,烤好的支架送入分光測(cè)試備進(jìn)行產(chǎn)品分類,產(chǎn)品分類后進(jìn)行包裝。傳統(tǒng)集成發(fā)光二極管其封裝方法,將支架上已經(jīng)灌好的熒光粉與硅膠的支架直接送入烤箱進(jìn)行硅膠固化動(dòng)作,但是因?yàn)槊科Ъ芷潼c(diǎn)膠時(shí)間的先后不同,造成不同程度的熒光粉沉淀濃度不同,所以會(huì)產(chǎn)生產(chǎn)品符合率以及產(chǎn)品良率不堪理想狀況。到目前為止制程工藝方法很難控制集成發(fā)光二極管封裝后的光色度集中率,都是依據(jù)所灌注熒光粉與硅膠自然溢流厚度決定其產(chǎn)品的光色度分布情況,且自然流溢后的熒光粉層厚度分布不均, 以致出光效率變差,色溫偏移量過大。有鑒于此,本發(fā)明人以累積該項(xiàng)產(chǎn)業(yè)領(lǐng)域多年的實(shí)務(wù)與經(jīng)驗(yàn),進(jìn)行制程上的研究與開發(fā),而終于發(fā)明了一種「集成發(fā)光二極管封裝方法」,解決以往熒光粉沉淀濃度不同所帶來的產(chǎn)品缺陷。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明所要解決的主要技術(shù)問題在于,克服現(xiàn)有技術(shù)存在的上述缺陷,而提供一種集成發(fā)光二極管封裝方法,其熒光粉層均勻厚度,可以提高集成發(fā)光二極管出光效率、產(chǎn)品色溫穩(wěn)定性以及色溫集中率,不會(huì)造成自然流溢后的熒光粉層厚度分布不均。本發(fā)明解決其技術(shù)問題所采用的技術(shù)方案是一種集成發(fā)光二極管封裝方法包括有下列步驟;(1)固晶,將數(shù)個(gè)發(fā)光二極管晶粒芯片固定在支架上;(2)第一次烘烤,固定各發(fā)光二極管晶粒芯片的支架送至烤箱烘烤;(3)打線,烘烤后的支架移至打線設(shè)備,將各發(fā) 光二極管晶粒芯片與支架的間以金線打線連接;(4)灌熒光粉與硅膠,打線完成的支架灌注熒光粉與硅膠;
(5)第二次烘烤,熒光粉沉淀后的支架依據(jù)選用的硅膠制程固化參數(shù)條件化進(jìn)行第二次烘烤時(shí)間及溫度設(shè)定;(6)分光測(cè)試,第二次烘烤后的支架送入分光測(cè)試設(shè)備,依據(jù)所測(cè)得光學(xué)數(shù)據(jù)進(jìn)行分類;(7)切削表面,分光測(cè)試后的支架送至旋轉(zhuǎn)切削加工裝置的承載盤上,并依據(jù)分光測(cè)試所得光學(xué)數(shù)據(jù)決定熒光粉層切削厚度,進(jìn)行集成發(fā)光二極管表面平整化切削動(dòng)作,使得各發(fā)光二極管晶粒芯片上方形成均勻厚度熒光粉層;(8)包裝,完成上述切削表面的成品進(jìn)行分類包裝。本發(fā)明「集成發(fā)光二極管封裝方法」進(jìn)一步包括有下列技術(shù)特征;1.該發(fā)光二極管晶粒芯片以銀膠或絕緣膠固定在支架上。2.在第一次烘烤時(shí),其依據(jù)選用的銀膠或絕緣膠制程固化參數(shù)條件進(jìn)行第一次烘烤時(shí)間及溫度設(shè)定。3.在第二次烘烤時(shí),其依據(jù)選用的銀膠或絕緣膠制程固化參數(shù)條件進(jìn)行第二次烘烤時(shí)間及溫度設(shè)定。4.依據(jù)分光測(cè)試所得光學(xué)數(shù)據(jù)決定熒光粉層切削厚度,設(shè)定承載盤旋轉(zhuǎn)速度、夾刀移動(dòng)機(jī)構(gòu)移動(dòng)范圍及夾刀移動(dòng)機(jī)構(gòu)切削量。5.在切削表面時(shí),對(duì)于集成發(fā)光二極管其熒光粉層表面為凸形型態(tài),其切削方式是由中心點(diǎn)向外圍切割。6.在切削表面時(shí),對(duì)于集成發(fā)光二極管其熒光粉層表面為凹形型態(tài),其切削方式是由外圍向內(nèi)中心點(diǎn)方向進(jìn)行切割。本發(fā)明的有益效果是,其熒光粉層均勻厚度,可以提高集成發(fā)光二極管出光效率、 產(chǎn)品色溫穩(wěn)定性以及色溫集中率,不會(huì)造成自然流溢后的熒光粉層厚度分布不均。


下面結(jié)合附圖和實(shí)施例對(duì)本發(fā)明進(jìn)一步說明。 圖1是本發(fā)明流程圖。
圖2是本發(fā)明集成發(fā)光二極管其熒光粉層表面為凸形型態(tài)示意圖。 圖3是本發(fā)明集成發(fā)光二極管置放于旋轉(zhuǎn)切削加工裝置的承載盤上,并以?shī)A刀移
動(dòng)機(jī)構(gòu)對(duì)集成發(fā)光二極管進(jìn)行切削表面示意圖。圖4是本發(fā)明以集成發(fā)光二極管其熒光粉層表面為凸形型態(tài)加工流程示意圖,圖5是本發(fā)明集成發(fā)光二極管其熒光粉層表面為凹形型態(tài)示意圖。圖6是本發(fā)明以集成發(fā)光二極管其熒光粉層表面為凹形型態(tài)加工流程示意圖,圖中標(biāo)號(hào)說明1支架2發(fā)光二極管晶粒芯片3金線4熒光粉5硅膠6旋轉(zhuǎn)切削加工裝置61承載盤62馬達(dá)7夾刀移動(dòng)機(jī)構(gòu)
具體實(shí)施例方式為了達(dá)到上述集成發(fā)光二極管熒光粉層均勻厚度,而可以提高集成發(fā)光二極管出光效率、產(chǎn)品色溫穩(wěn)定性以及色溫集中率,不會(huì)造成自然流溢后的熒光粉層厚度分布不均。 本發(fā)明于下列舉一實(shí)施例,并請(qǐng)配合參閱圖1及圖2所示,圖1顯示本發(fā)明集成發(fā)光二極管封裝方法的流程圖,而圖2是以集成發(fā)光二極管其熒光粉層表面為凸形型態(tài)為例;該方法包括有下列步驟所完成;(1)固晶,將數(shù)個(gè)發(fā)光二極管晶粒芯片2固定在支架1上;各發(fā)光二極管晶粒芯片 2以銀膠或絕緣膠固定在支架1上,在本實(shí)施例以銀膠為例;(2)第一次烘烤,固定好各發(fā)光二極管晶粒芯片2的支架1送至烤箱烘烤;在第一次烘烤時(shí),其依據(jù)選用的銀膠或絕緣膠制程固化參數(shù)條件進(jìn)行第一次烘烤時(shí)間及溫度設(shè)定;(3)打線,烘烤后的支架1移至打線設(shè)備,進(jìn)行各發(fā)光二極管晶粒芯片2與支架1 的間以金線3打線連接;(4)灌熒光粉與硅膠,打線完成的支架1灌注熒光粉4與硅膠5 ;此時(shí)熒光粉4與硅膠5于支架1上呈混料狀態(tài);(5)第二次烘烤,熒光粉4沉淀后的支架1依據(jù)選用的硅膠制程固化參數(shù)條件化進(jìn)行第二次烘烤時(shí)間及溫度設(shè)定;在第二次烘烤時(shí),其依據(jù)選用的銀膠或絕緣膠制程固化參數(shù)條件進(jìn)行第二次烘烤時(shí)間及溫度設(shè)定(6)分光測(cè)試,第二次烘烤后的支架1送入分光測(cè)試設(shè)備,依據(jù)所測(cè)得光學(xué)數(shù)據(jù)進(jìn)行分類;(7)切削表面,分光測(cè)試后的支架1送至旋轉(zhuǎn)切削加工裝置6的承載盤61上,并依據(jù)分光測(cè)試所得光學(xué)數(shù)據(jù)決定熒光粉層切削厚度,同時(shí)設(shè)定承載盤61旋轉(zhuǎn)速度(在此以馬達(dá)62驅(qū)動(dòng)承載盤61旋轉(zhuǎn))、夾刀移動(dòng)機(jī)構(gòu)7移動(dòng)范圍及夾刀移動(dòng)機(jī)構(gòu)7切削量,進(jìn)行集成發(fā)光二極管表面平整化切削動(dòng)作,而在此集成發(fā)光二極管其熒光粉層表面為凸形型態(tài)為例,因此其切削方式是由中心點(diǎn)向外圍切割,如圖3與圖4所示;使得各發(fā)光二極管晶粒芯片2上方形成均勻厚度熒光粉層;(8)包裝,完成上述切削表面的成品進(jìn)行分類包裝。經(jīng)由上述說明后可明白,本發(fā)明利用在切削表面時(shí),依據(jù)分光測(cè)試所得光學(xué)數(shù)據(jù)決定熒光粉層切削厚度,進(jìn)行集成發(fā)光二極管表面平整化切削動(dòng)作,而得以讓集成發(fā)光二極管熒光粉層有均勻厚度,而可以提高集成發(fā)光二極管出光效率、產(chǎn)品色溫穩(wěn)定性以及色溫集中率,不會(huì)造成自然流溢后的熒光粉層厚度分布不均,據(jù)此達(dá)成本發(fā)明的目的與功效。 而且本發(fā)明運(yùn)用于白光的發(fā)光二極管能提升產(chǎn)品良率,及產(chǎn)品符合率,同時(shí)更能提高白光發(fā)光二極管的光強(qiáng)度與光效能。此外,本發(fā)明另外亦可適用于集成發(fā)光二極管其熒光粉層表面為凹形型態(tài)如圖5 與圖6所示,其切削方式是由外圍向內(nèi)中心點(diǎn)方向進(jìn)行切割。
權(quán)利要求
1.一種集成發(fā)光二極管封裝方法,其特征在于,包括下列步驟;固晶,將數(shù)個(gè)發(fā)光二極管晶粒芯片固定在支架上;第一次烘烤,固定各發(fā)光二極管晶粒芯片的支架送至烤箱烘烤;打線,烘烤后的支架移至打線設(shè)備,將各發(fā)光二極管晶粒芯片與支架之間以金線打線連接;灌熒光粉與硅膠,打線完成的支架灌注熒光粉與硅膠;第二次烘烤,熒光粉沉淀后的支架依據(jù)選用的硅膠制程固化參數(shù)條件化進(jìn)行第二次烘烤時(shí)間及溫度設(shè)定;分光測(cè)試,第二次烘烤后的支架送入分光測(cè)試設(shè)備,依據(jù)所測(cè)得光學(xué)數(shù)據(jù)進(jìn)行分類;切削表面,分光測(cè)試后的支架送至旋轉(zhuǎn)切削加工裝置的承載盤上,并依據(jù)分光測(cè)試所得光學(xué)數(shù)據(jù)決定熒光粉層切削厚度,進(jìn)行集成發(fā)光二極管表面平整化切削動(dòng)作,使得各發(fā)光二極管晶粒芯片上方形成均勻厚度熒光粉層;包裝,完成上述切削表面的成品進(jìn)行分類包裝。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的集成發(fā)光二極管封裝方法,其特征在于,各所述發(fā)光二極管晶粒芯片以銀膠或絕緣膠固定在支架上。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的集成發(fā)光二極管封裝方法,其特征在于,在第一次烘烤時(shí),其依據(jù)選用的銀膠或絕緣膠制程固化參數(shù)條件進(jìn)行第一次烘烤時(shí)間及溫度設(shè)定。
4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的集成發(fā)光二極管封裝方法,其特征在于,在第二次烘烤時(shí),其依據(jù)選用的銀膠或絕緣膠制程固化參數(shù)條件進(jìn)行第二次烘烤時(shí)間及溫度設(shè)定。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的集成發(fā)光二極管封裝方法,其特征在于,在切削表面時(shí),其依據(jù)分光測(cè)試所得光學(xué)數(shù)據(jù)決定熒光粉層切削厚度,設(shè)定承載盤旋轉(zhuǎn)速度、夾刀移動(dòng)機(jī)構(gòu)移動(dòng)范圍及夾刀移動(dòng)機(jī)構(gòu)切削量。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的集成發(fā)光二極管封裝方法,其特征在于,在削表面時(shí),對(duì)于集成發(fā)光二極管其熒光粉層表面為凸形型態(tài),其切削方式是由中心點(diǎn)向外圍切割。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的集成發(fā)光二極管封裝方法,其特征在于,在切削表面時(shí),對(duì)于集成發(fā)光二極管其熒光粉層表面為凹形型態(tài),其切削方式是由外圍向內(nèi)中心點(diǎn)方向進(jìn)行切割。
全文摘要
一種集成發(fā)光二極管封裝方法,包括下列步驟固晶,將數(shù)個(gè)發(fā)光二極管晶粒芯片固定在支架上;第一次烘烤,固定各發(fā)光二極管晶粒芯片的支架送至烤箱烘烤;打線,烘烤后的支架移至打線設(shè)備;灌熒光粉與硅膠,打線完成的支架灌注熒光粉與硅膠;第二次烘烤,熒光粉沉淀后的支架依據(jù)選用的硅膠制程固化參數(shù)條件化進(jìn)行第二次烘烤時(shí)間及溫度設(shè)定;分光測(cè)試,第二次烘烤后的支架送入分光測(cè)試設(shè)備;切削表面,分光測(cè)試后的支架送至旋轉(zhuǎn)切削加工裝置的承載盤上,依據(jù)分光測(cè)試所得光學(xué)數(shù)據(jù)決定熒光粉層切削厚度;完成切削表面的成品進(jìn)行分類包裝。本發(fā)明能有效調(diào)整集成發(fā)光二極管熒光粉層厚度,提高集成發(fā)光二極管出光效率、產(chǎn)品色溫穩(wěn)定性以及色溫集中率。
文檔編號(hào)H01L33/00GK102386289SQ20111033177
公開日2012年3月21日 申請(qǐng)日期2011年10月27日 優(yōu)先權(quán)日2011年10月27日
發(fā)明者陳正煥 申請(qǐng)人:寧波瑞昀光電照明科技有限公司
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