專利名稱：雙工器、合路器輸入輸出結(jié)構(gòu)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及一種雙工器、合路器，尤其涉及一種雙工器、合路器輸入 輸出結(jié)構(gòu)。
背景技術(shù)：
現(xiàn)有技術(shù)中，用于雙工器、合路器輸入輸出的抽頭與諧振桿之間多通過焊
接固定的方式連接，但由于抽頭與諧振桿之間焊點(diǎn)的存在，從而造成對(duì)PIM的 不利影響，導(dǎo)致了調(diào)試難度較高，調(diào)試時(shí)間較長(zhǎng)，生產(chǎn)難度較大，PIM較高。
發(fā)明內(nèi)容
本實(shí)用新型目的在于提供一種可減輕調(diào)試難度、縮短調(diào)試時(shí)間、加強(qiáng)產(chǎn)品 的可生產(chǎn)性、降低PIM的雙工器、合路器輸入輸出結(jié)構(gòu)，解決了現(xiàn)有技術(shù)存在 的抽頭與諧振桿之間焊點(diǎn)的存在，從而造成對(duì)PIM的不利影響，導(dǎo)致了調(diào)試難 度較高，調(diào)試時(shí)間較長(zhǎng)，生產(chǎn)難度較大，PIM較高等問題。
本實(shí)用新型的上述技術(shù)目的主要是通過以下技術(shù)方案解決的它包括諧振 桿和抽頭，諧振桿與抽頭之間通過電感或電容耦合。本實(shí)用新型將抽頭與諧振 桿之間通過電容或電感耦合，從而避免了抽頭與諧振桿之間的焊接，減輕了調(diào) 試難度，縮短了調(diào)試時(shí)間，加強(qiáng)了產(chǎn)品的可生產(chǎn)性，降低了 PIM,在原來鍍銀 工藝的基礎(chǔ)上，PIM可以提高至少10 15dBC，達(dá)到了預(yù)期的設(shè)計(jì)目標(biāo)。
作為優(yōu)選，所述抽頭為容性抽頭，容性抽頭與諧振桿之間通過電容耦合。
作為優(yōu)選，所述抽頭為接地的感性抽頭，所述感性抽頭與諧振桿之間通過 電感耦合。
因此，本實(shí)用新型具有可減輕調(diào)試難度、縮短調(diào)試時(shí)間、加強(qiáng)產(chǎn)品的可生
產(chǎn)性、降低PIM等特點(diǎn)。


圖1是本實(shí)用新型的一種結(jié)構(gòu)示意圖； 圖2是本實(shí)用新型的另一種結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實(shí)施方式

下面通過實(shí)施例，并結(jié)合附圖，對(duì)本實(shí)用新型的技術(shù)方案作進(jìn)一步具體的 說明。
實(shí)施例1:如圖1所示，雙工器、合路器輸入輸出結(jié)構(gòu)包括諧振桿1和容性 抽頭2，諧振桿1與容性抽頭2之間通過電容耦合。將抽頭與諧振桿之間通過電 容耦合，從而避免了抽頭與諧振桿之間的焊接，減輕了調(diào)試難度，縮短了調(diào)試
時(shí)間，加強(qiáng)了產(chǎn)品的可生產(chǎn)性，降低了 PIM，在原來鍍銀工藝的基礎(chǔ)上，PIM 可以提高至少10 15dBC，達(dá)到了預(yù)期的設(shè)計(jì)目標(biāo)。
實(shí)施例2:雙工器、合路器輸入輸出結(jié)構(gòu)包括諧振桿1和接地的感性抽頭3， 諧振桿1與感性抽頭3之間通過電感耦合。將抽頭與諧振桿之間通過電感耦合， 從而避免了抽頭與諧振桿之間的焊接，減輕了調(diào)試難度，縮短了調(diào)試時(shí)間，加 強(qiáng)了產(chǎn)品的可生產(chǎn)性，降低了 PIM，在原來鍍銀工藝的基礎(chǔ)上，PIM可以提高 至少10 15dBC，達(dá)到了預(yù)期的設(shè)計(jì)目標(biāo)。
權(quán)利要求1.一種雙工器、合路器輸入輸出結(jié)構(gòu)，包括諧振桿和抽頭，其特征在于諧振桿與抽頭之間通過電感或電容耦合。
2、 根據(jù)權(quán)利要求1所述的雙工器、合路器輸入輸出結(jié)構(gòu)，其特征在于所述 抽頭為容性抽頭，容性抽頭與諧振桿之間通過電容耦合。
3、 根據(jù)權(quán)利要求1所述的雙工器、合路器輸入輸出結(jié)構(gòu)，其特征在于所述 抽頭為接地的感性抽頭，所述感性抽頭與諧振桿之間通過電感耦合。
專利摘要本實(shí)用新型涉及一種雙工器、合路器，尤其涉及一種雙工器、合路器輸入輸出結(jié)構(gòu)。它包括諧振桿和抽頭，諧振桿與抽頭之間通過電感或電容耦合。它可減輕調(diào)試難度、縮短調(diào)試時(shí)間、加強(qiáng)產(chǎn)品的可生產(chǎn)性、降低PIM，解決了現(xiàn)有技術(shù)存在的抽頭與諧振桿之間焊點(diǎn)的存在，從而造成對(duì)PIM的不利影響，導(dǎo)致了調(diào)試難度較高，調(diào)試時(shí)間較長(zhǎng)，生產(chǎn)難度較大，PIM較高等問題。
文檔編號(hào)H01P5/12GK201199539SQ200820086489
公開日2009年2月25日 申請(qǐng)日期2008年4月24日 優(yōu)先權(quán)日2008年4月24日
發(fā)明者余勝敏, 張需溥, 王萌穎, 歡 馬 申請(qǐng)人:杭州紫光網(wǎng)絡(luò)技術(shù)有限公司