專利名稱：自發(fā)光顯示模塊及其缺陷檢驗方法、安裝模塊的電子設備的制作方法
技術領域：
本發(fā)明涉及具有將例如有機EL(電致發(fā)光)元件作為自發(fā)光元件用于像素的發(fā)光顯示面板和對發(fā)光顯示面板進行點亮驅(qū)動的驅(qū)動裝置的自發(fā)光顯示模塊，特別涉及具有可以檢驗上述發(fā)光顯示面板或上述點亮驅(qū)動裝置、或上述發(fā)光顯示面板與上述點亮驅(qū)動裝置之間的連接部分等處的缺陷狀態(tài)功能的自發(fā)光顯示模塊以及該模塊的缺陷狀態(tài)的檢驗方法。
背景技術：
目前提供的多數(shù)電子設備等上都附帶有顯示器，該顯示器作為支持信息化社會的設備的人機界面是必不可少的。上述顯示器如果使用在象醫(yī)療器械或飛機的儀表等那樣萬一出現(xiàn)顯示故障將可能會殃及人命的領域，則相對于使用在移動電話機或汽車音響等中，其對顯示可靠性的要求更高。
譬如，在醫(yī)藥品的注射器械等中，當在表示注入量的數(shù)字顯示部分沿掃描線方向發(fā)生漏光(bright leak)現(xiàn)象時，所顯示的數(shù)字是“0”還是“8”很難判斷。此外，還會發(fā)生下述問題顯示小數(shù)點的部分的像素不點亮，數(shù)字的位被錯誤顯示，但用戶對此并未注意而將數(shù)值讀出。如果用戶誤認為上述處于顯示故障狀態(tài)的顯示是正常狀態(tài)而繼續(xù)使用上述設備是相當危險的，甚至會導致嚴重的問題。
因此，在使用于上述電子設備的顯示器中，在產(chǎn)品出廠前的半成品狀態(tài)，檢查排列在顯示面板的各像素的缺陷狀態(tài)，并判斷該缺陷的程度是否滿足搭載了該顯示器的產(chǎn)品的標準(例如，參照專利文獻1)。
專利第3437152號公報但是，上述專利文獻1所公開的發(fā)明其目的在于提供一種能夠在產(chǎn)品出廠前的半成品狀態(tài)，實施對顯示面板的各像素的評價，并利用有機EL顯示器的檢查用驅(qū)動電路，獲得可靠性較高的評價結(jié)果的評價裝置。
當利用上述專利文獻1所公開的評價裝置時，雖然能夠發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品的初始不良，并在有缺陷的顯示面板送到用戶手中之前采取對策，但是在該種顯示器中，在產(chǎn)品出廠后顯示單元使用的過程中，存在著排列在顯示面板上的像素重新產(chǎn)生缺陷的問題。另外，不僅排列在顯示面板上的像素會重新產(chǎn)生缺陷，包含對排列在顯示面板上的各像素進行點亮驅(qū)動的數(shù)據(jù)驅(qū)動器或掃描驅(qū)動器的驅(qū)動裝置、或者顯示面板和上述驅(qū)動裝置的連接部分等處也會重新產(chǎn)生缺陷。
為此，采取了將產(chǎn)生上述缺陷的程度降至最低并確?？煽啃缘母鞣N對策。但是，克服顯示器使用過程等中發(fā)生的像素缺陷或其他上述驅(qū)動裝置等產(chǎn)生缺陷的問題，存在非常多的技術課題，而提供一種產(chǎn)品出廠后不會發(fā)生上述缺陷的顯示模塊也不得不說是很困難的。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明著眼于上述實際存在的問題點而提出的，其目的旨在提供一種在自發(fā)光顯示模塊內(nèi)具有能夠檢驗上述顯示面板或驅(qū)動裝置等中是否產(chǎn)生缺陷的檢測裝置、當發(fā)生像素缺陷等時可向用戶通知該狀態(tài)，從而可以防止向用戶傳遞錯誤的顯示信息的自發(fā)光顯示模塊和搭載了該模塊的電子設備以及該模塊的缺陷狀態(tài)檢驗方法。
為實現(xiàn)上述目的而實施的本發(fā)明中的自發(fā)光顯示模塊包括自發(fā)光顯示單元，由將多個包含自發(fā)光元件的像素呈矩陣狀地排列在掃描線和數(shù)據(jù)線的交點位置的發(fā)光顯示面板和有選擇地對所述發(fā)光顯示面板中的各自發(fā)光元件進行點亮驅(qū)動的驅(qū)動裝置構成；故障檢測裝置，檢測上述自發(fā)光顯示單元的故障；存儲裝置，存儲上述故障檢測裝置的檢測結(jié)果，其特征在于上述故障檢測裝置構成為把向上述自發(fā)光元件提供恒定電流的恒流源的輸出端子電位與預先設定的參考電位相比較，從而檢測出上述自發(fā)光顯示單元中的故障。
此外，為實現(xiàn)上述目的而實施的本發(fā)明中的自發(fā)光顯示模塊的缺陷狀態(tài)的檢驗方法中，所述自發(fā)光顯示模塊包括自發(fā)光顯示單元，由將多個包含自發(fā)光元件的像素呈矩陣狀地排列在掃描線和數(shù)據(jù)線的交點位置的發(fā)光顯示面板和有選擇地對所述發(fā)光顯示面板中的各自發(fā)光元件進行點亮驅(qū)動的驅(qū)動裝置構成；故障檢測裝置，檢測上述自發(fā)光顯示單元的故障；存儲裝置，存儲上述故障檢測裝置的檢測結(jié)果，其特征在于在與上述各像素對應的各數(shù)據(jù)線和各掃描線的所有組合中分別執(zhí)行故障檢測步驟和檢測結(jié)果存儲步驟，其中，在故障檢測步驟中，利用安裝在上述故障檢測裝置的電壓比較裝置，把向上述自發(fā)光元件提供恒定電流的恒流源的輸出端子電位與預先設定的參考電位相比較，從而檢測出上述自發(fā)光顯示單元的故障；在檢測結(jié)果存儲步驟中，將上述故障檢測步驟中檢測出的檢測結(jié)果存儲到上述存儲裝置。


圖1是表示本發(fā)明的自發(fā)光顯示模塊的第1實施方式的電路結(jié)構圖。
圖2是表示利用圖1所示的數(shù)據(jù)寄存器中存儲的數(shù)據(jù)的缺陷地點判斷裝置和缺陷通知裝置的連接結(jié)構例的方框圖。
圖3是表示在圖2所示的缺陷地點判斷裝置中所實施的判斷方法的說明圖。
圖4是表示本發(fā)明的自發(fā)光顯示模塊的第2實施方式的電路結(jié)構圖。
具體實施例方式
以下，根據(jù)附圖所示的實施方式就本發(fā)明的自發(fā)光顯示模塊進行說明。本發(fā)明所示的自發(fā)光顯示模塊包括自發(fā)光顯示單元，由將多個自發(fā)光顯示元件作為像素呈矩陣狀排列而成的發(fā)光顯示模塊和有選擇地對該發(fā)光顯示面板中各自發(fā)光元件進行點亮驅(qū)動的驅(qū)動裝置所構成；故障檢測裝置，檢測自發(fā)光顯示單元的故障；存儲裝置，存儲其檢測結(jié)果。在以下說明的實施方式中，列舉采用了將有機材料用于發(fā)光層的有機EL元件作為自發(fā)光元件的例子。
上述有機EL元件可以電氣地置換為由具有二極管特性的發(fā)光元件和并聯(lián)耦合在該發(fā)光元件的寄生電容成分所組成的結(jié)構，并且有機EL元件為電容性的發(fā)光元件。該有機EL元件如果被施加正向發(fā)光驅(qū)動電壓，則首先，相當于該元件的電容的電荷作為位移電流流入到電極并存儲起來。其次，如果超過該元件固有的固定電壓(發(fā)光閾值電壓＝Vth)，則電流開始從一個電極(二極管成分的陽極)流向構成發(fā)光層的有機層，并以正比于該電流的強度發(fā)光。
另一方面，由于有機EL元件的電流·亮度特性不隨溫度變化而改變，而電壓·亮度特性隨溫度變化而改變，而且當有過電流流過時，有機EL元件嚴重劣化，使發(fā)光壽命縮短等原因，一般采用恒定電流驅(qū)動。作為采用上述有機EL元件的顯示面板，建議采用將EL元件呈矩陣狀排列的無源矩陣型顯示面板和通過TFT(Thin FilmTransistor薄膜晶體管)對呈矩陣狀排列的各EL元件分別分別點亮驅(qū)動的有源矩陣型顯示面板。
圖1表示本發(fā)明的自發(fā)光模塊的第1實施方式，示出了采用無源矩陣型顯示面板的例子。該無源矩陣驅(qū)動方式的有機EL元件的驅(qū)動方法包括陰極線掃描·陽極線驅(qū)動和陽極線掃描·陰極線驅(qū)動2種方法，但是圖1所示的結(jié)構表示前者，即陰極線掃描·陽極線驅(qū)動的方式。也就是說，在縱向(列方向)排列n條作為數(shù)據(jù)線的陽極線A1～An，在橫向(行方向)排列m條作為掃描線的陰極線K1～Km，在各交差位置(共計n×m處)配置由二極管的符號標記表示的有機EL元件E11～Enm，由此構成顯示面板1。
再有，構成像素的各EL元件E11～Enm與沿縱向排列的陽極線A1～An和沿橫向排列的陰極線K1～Km的各交點位置相對應，其一端(EL元件的等效二板管的陽極端子)與陽極線連接，另一端(EL元件的等效二極管的陰極端子)與陰極線連接。而且，各陽極線A1～An連接在作為構成點亮驅(qū)動裝置的數(shù)據(jù)驅(qū)動器的陽極線驅(qū)動電路2，各陰極線K1～Km連接在作為構成相同點亮驅(qū)動裝置的掃描驅(qū)動器的陰極線掃描電路3，由此進行分別驅(qū)動。
在上述陽極線驅(qū)動器電路2上具有例如利用DC-DC變換器的升壓電路(未圖示)所提供的驅(qū)動電壓VH(也稱之為“第1電源”)進行工作的恒流源I1～In以及驅(qū)動開關Sa1～San，驅(qū)動開關Sa1～San連接在上述恒流源I1～In側(cè)，從而來自恒流源I1～In的電流提供給與陰極線對應配置的各EL元件E11～Enm。此外，在該實施方式中，當不向各EL元件提供來自恒流源I1～In的電流時，上述驅(qū)動開關Sa1～San構成為將上述各陽極線與接地電位GND(也稱之為“第3電源”)相連接。
再者，上述陰極線掃描電路3上設置有與各陰極線K1～Km對應并作為切換裝置的掃描開關Sk1～Skm，將用于防止串擾發(fā)光的反向偏置電壓VM(也稱之為“第2電源”)或作為參考電位點的上述接地電位GND中的某一個連接在對應的陰極線。由此，以規(guī)定的周期將陰極線設定在參考電位點(接地電位)，同時將恒流源I1～In連接在所希望的陽極線A1～An，從而上述各EL元件有選擇地發(fā)光。
此外，上述陽極線驅(qū)動電路2和陰極線掃描電路3上連接有從包含CPU的控制器IC4引出的控制總線。并且，根據(jù)提供給控制器IC4的應顯示視頻信號，對上述掃描線Sk1～Skm和驅(qū)動開關Sa1～San進行切換操作。這樣，根據(jù)視頻信號以規(guī)定的周期將陰極掃描線設定在接地電位，同時將恒流源I1～In連接在所期望的陽極線上。因此，上述各發(fā)光元件可以有選擇地發(fā)光，并在顯示面板1上顯示基于上述視頻信號的圖象。
此外，在圖1所示的狀態(tài)中，第2陰極線K2設定在接地電位并處于掃描狀態(tài)，此時，非掃描狀態(tài)的陰極線K1、K3～Km上施加上述反向偏置電位VM。這里，當設處于掃描發(fā)光狀態(tài)的EL元件的正向電壓為VF時，對各電位進行設定(電位設定的具體例子在后文中加以敘述)使其滿足〔(正向電壓VF)-(反向偏置電壓VM)〕＜(發(fā)光閾值電壓Vth)。由此，在連接于被驅(qū)動的陽極線和未進行掃描選擇的陰極線的交點的各EL元件上施加不大于元件的發(fā)光閾值電壓Vth的電壓，防止EL元件串擾發(fā)光。
由上述說明的發(fā)光顯示面板1、作為驅(qū)動裝置的陽極線驅(qū)動電路2、陰極線掃描電路3、以及控制器IC4構成自發(fā)光顯示單元。在該圖1所示的自發(fā)光顯示模塊中，除此之外還包括檢測上述自發(fā)光顯示單元的故障的故障檢測裝置以及存儲該故障檢測裝置的檢測結(jié)果的存儲裝置。
以下，根據(jù)圖1所示的實施方式說明上述故障檢測裝置和存儲裝置的結(jié)構。即，從陽極線驅(qū)動電路2的各恒流源I1～In的輸出端子分別引出檢查線TL1～TLn并提供給選擇開關SW1。該選擇開關SW1的功能為擇一地取出經(jīng)由各檢查線TL1～TLn獲得的各恒流源I1～In的輸出端子電位，選擇開關SW1所選擇的電位分別供給到作為第1和第2電壓比較裝置的比較器CP1和CP2。
也就是說，由上述選擇開關SW1選擇的電位分別供給到第1比較器CP1的非反相輸入端子和第2比較器CP2的反相輸入端子。另一方面，向上述第1比較器CP1的反相輸入端子供給上述反向偏置電位VM(第2電源)。再有，向上述第2比較器CP2的非反相輸入端子供給邏輯工作電位VDD。
此處，如果對圖1所示結(jié)構的各部分的電位及EL元件的電位特性進行舉例說明，則驅(qū)動恒流源I1～In的驅(qū)動電位(第1電源)VH＝16V，反向偏置電壓(第2電源)VM＝10V，EL元件的正向電壓VF＝8V，EL元件的發(fā)光閾值電壓Vth＝7V，邏輯工作電位VDD＝3V，接地電位(第3電源)VDD＝0。再有，關于上述EL元件的正向電壓，因各發(fā)光色的不同而異，即便是相同發(fā)光色的元件中也或多或少存在偏差，因此，以下將正常狀態(tài)下的EL元件的正向電壓表示為VF目標值(＝8V)。
根據(jù)上述電位關系，選擇開關SW1所選擇的VF目標值為VF＝8V，該電位被供給到第1比較器CP1的非反相輸入端子和第2比較器CP2的反相輸入端子。向上述第1比較器CP1的反相輸入端子供給VM＝10V，所以發(fā)光顯示面板1和陽極線驅(qū)動電路2、陰極線掃描電路3正常工作時，第1比較器CP1的輸出為“-”(負)。再者，向上述第2比較器CP2的非反相輸入端子供給VDD＝3V，因此，當發(fā)光顯示面板1和陽極線驅(qū)動電路2、陰極線掃描電路3正常工作時，第2比較器CP2的輸出同樣為“-”(負)。
上述第1和第2比較器CP1和CP2的各輸出分別提供給第1鎖存電路LC1和第2鎖存電路LC2，通過供給到這些第1和第2鎖存電路LC1、LC2的鎖存脈沖LP，各比較器CP1、CP2的輸出被鎖存。而且，各第1和第2鎖存電路LC1、LC2的各鎖存輸出A和B分別提供給構成存儲裝置的數(shù)據(jù)寄存器6并存儲到該數(shù)據(jù)寄存器6中。
上述結(jié)構的自發(fā)光顯示模塊構成為可在發(fā)光驅(qū)動模式和檢測模式之間切換，例如，當開啟工作電源時或者工作電源正在開啟的狀態(tài)下定期地或者根據(jù)外部操作在任意時間切換為上述檢測模式。然后，當執(zhí)行檢測模式時，例如在1幀(或1個子幀)期間中預先設定的時間內(nèi)，對所有的對應于1條掃描線的各EL元件進行點亮控制。在圖1所示的狀態(tài)中，第2掃描線K2處于掃描狀態(tài)，來自各恒流源I1～In的電流分別經(jīng)由驅(qū)動開關Sa1～San供給到對應于該第2掃描線的各EL元件E12、E22、E32～En2。
在該狀態(tài)下，上述選擇開關SW1工作，使經(jīng)由各檢查線TL1～TLn獲得的各恒流源I1～In的輸出端子電位依次分別提供給第1和第2比較器CP1、CP2。這時，將選擇開關SW1首先連接在檢查線TL1并將鎖存脈沖LP分別提供給第1和第2鎖存電路LC1和LC2，由此實現(xiàn)將第1和第2比較器CP1、CP2的輸出A、B供給到數(shù)據(jù)寄存器6。并且，數(shù)據(jù)寄存器6存儲此時的輸出A、B。
繼而，將選擇開關SW1連接到檢查線TL2，同樣地將第1和第2比較器CP1、CP2的輸出A、B存儲在數(shù)據(jù)寄存器6。這樣，對經(jīng)由與各恒流源I1～In對應的所有的檢查線TL1～TLn的電位進行同樣的檢驗，將輸出A、B存儲到數(shù)據(jù)寄存器6。
以上說明涉及上述檢測模式中第2掃描線K2處于掃描狀態(tài)時的工作，譬如，當處于下一幀(或1個子幀)期間的檢測模式時，例如使下一個第3掃描線K3處于掃描狀態(tài)，對經(jīng)由所有檢查線TL1～TLn的電位進行同樣的檢驗，并將輸出A和B存儲到數(shù)據(jù)寄存器6。該操作在下一幀(或1個子幀)中也同樣執(zhí)行，使所有的各掃描線處于掃描狀態(tài)，將它們的所述輸出A、B分別存儲在數(shù)據(jù)寄存器6。
即，在發(fā)光顯示面板1的各EL元件E11～Enm所對應的各掃描線和各數(shù)據(jù)線的所有組合中分別執(zhí)行上述檢驗(檢測工作)，檢測工作的檢測結(jié)果，即輸出A、B的組合都存儲到作為存儲裝置的數(shù)據(jù)寄存器6中。這樣，就完成了對包含發(fā)光顯示面板1、作為驅(qū)動裝置的陽極線驅(qū)動電路2、陰極線掃描電路3的自發(fā)光顯示單元的一系列檢驗。此外，上述一系列檢驗可以再度定期進行，并通過外部操作在任意時間內(nèi)進行。
圖2表示如前述那樣利用數(shù)據(jù)寄存器6中存儲的各檢驗結(jié)果，即上述A、B的組合數(shù)據(jù)來指定存在故障(缺陷)的地點，并據(jù)此使缺陷通知裝置運行。即，圖2所示的標記6表示圖1所示的數(shù)據(jù)寄存器，該數(shù)據(jù)寄存器6中存儲的輸出A、B的組合所構成的數(shù)據(jù)使用在附圖標記7所表示的缺陷地點判斷裝置中，判斷(指定)包含發(fā)光顯示面板1、作為驅(qū)動裝置的陽極線驅(qū)動電路2、陰極線掃描電路3的自發(fā)光顯示單元的缺陷地點。而且根據(jù)在缺陷地點判斷裝置7中判斷出的缺陷地點來驅(qū)動缺陷通知裝置8。
圖3是說明圖2所示的缺陷地點判斷裝置中所執(zhí)行的判斷手法的圖。在該圖3所示的判斷手法中列舉了下述情形如圖1所示那樣第2掃描線K2接地并處于掃描狀態(tài)，在其余的掃描線K1、K3～Km上施加反相偏置電壓VM，并且選擇開關SW1選擇檢查線TL1。而且，圖3所示的輸出A和輸出B表示所述的作為存儲裝置的數(shù)據(jù)寄存器6中存儲的第1和第2比較器CP1和CP2的各輸出狀態(tài)。
在圖3中出現(xiàn)的表示為地點標記的標記中，譬如E11、E12等表示圖1所示的EL元件。此外，C1和C2表示圖1中帶×標記的第1和第2陰極布線部分，以下同樣對圖1劃×標記并附加地點標記。即，通過利用圖3所示的判斷手法，如下例示的那樣可以判斷出帶地點標記并劃×標記的部分為故障。
圖3中如No.0所表示的那樣，輸出A、B為“-”，通過“-”進行正常的判斷，并且第2掃描線K2前后的掃描線K1和K3掃描時輸出A、B仍未發(fā)現(xiàn)異常時，如狀態(tài)欄中所示的那樣判斷為“無故障”。另一方面，如No.1所表示的那樣，盡管輸出A、B為“-”，通過“-”進行正常的判斷，但正如備注欄中所示的那樣，當掃描線K1掃描時發(fā)生異常的情形，如地點標記和狀態(tài)欄中所示的那樣判斷為“EL元件E11被破壞，元件處于絕緣狀態(tài)”。
另外，如圖3所表示的那樣，當輸出A、B為“+”和“-”的組合并實施異常的判斷時，如地點標記和狀態(tài)欄所示的那樣，判斷為“EL元件12被破壞，元件處于絕緣狀態(tài)”。還有，例如如No.9所表示的那樣，盡管輸出A、B為“-”，通過“-”進行正常的判斷，但正如備注欄中所示的那樣，當掃描線K1掃描時發(fā)生異常的情形，如地點標記和狀態(tài)欄中所示的那樣，判斷為“在C1處陰極線布線被切斷”。
上述說明盡管是圖3所示的整個判斷手法中的一部分，但以至少相鄰的3條掃描線的掃描結(jié)果的上述輸出A、B的數(shù)據(jù)為基礎，就能夠判斷出圖3所示的No.0～No.20所表示的地點標記和狀態(tài)的組合。并且，同樣地，以其他掃描線為對象進行同樣的檢測，以及執(zhí)行據(jù)此的判斷工作。
如上所述，通過將圖1所示的故障檢測裝置與圖2所示的缺陷地點判斷裝置組合，可以檢測出形成于顯示面板的EL元件的所有像素的發(fā)光故障，并檢測出發(fā)生故障的EL元件的地點(坐標值)。另外，不僅EL元件，正如在圖1劃上×標記并附加地點標記那樣，能夠分別判斷出顯示面板的驅(qū)動裝置以及驅(qū)動裝置的各連接部位的故障。
根據(jù)上述缺陷地點判斷裝置7判斷出的缺陷地點，驅(qū)動缺陷通知裝置8，但此時即使判斷出像素發(fā)生缺陷，如果該缺陷地點是不容易看錯顯示的位置，則可以原封不動地使用而不需要使缺陷通知裝置8工作。此外，當像素的缺陷位置例如是顯示小數(shù)點的位置時，即使發(fā)生缺陷的像素數(shù)很少，也需要使缺陷通知裝置8工作。上述選擇最好根據(jù)搭載了該自發(fā)光顯示模塊的設備進行適當?shù)脑O定。
上述缺陷通知裝置8可以采用例如蜂鳴器那樣進行聽覺性通知的裝置，也可以將通知顯示面板1上發(fā)生故障的信息顯示出來?；蛘咄ㄟ^消除顯示面板1的顯示，從而明確已經(jīng)發(fā)生了故障。這時，例如諸如使用在飛機上的計量儀器等不允許使顯示消失的情形，可以考慮采用適當變更顯示位置的裝置。
圖4表示本發(fā)明的自發(fā)光模塊的第2實施方式，該實施方式也同樣列舉了采用無源矩陣型顯示面板的例子。此外，在圖4中，與圖1所示各部分相當?shù)牟糠植捎孟嗤柋硎?，因此省略其詳細的說明。
在圖4所示的實施方式中，由選擇開關SW1選擇的各恒流源I1～In的輸出端子電位提供給構成電壓比較裝置的1個比較器CP1中的非反相輸入端子。該比較器CP1的反相輸入端子與電壓值可變的參考電位發(fā)生裝置5連接。
該參考電位發(fā)生裝置5通過輸入數(shù)字數(shù)據(jù)而輸出與之對應的模擬電壓值。
在圖4所示的實施方式中，分別作為參考電位輸入到圖1所示的第1和第2比較器CP1和CP2中的反向偏置電位VM和邏輯工作電位VDD被程序化，以便從上述參考電位發(fā)生裝置5交替地輸出。這樣，上述選擇開關SW1選擇的1個恒流源的輸出端子電位VF首先與相當于從參考電位發(fā)生裝置5供給的反向偏置電位VM的電位進行比較，其比較輸出供給到鎖存電路LC1，隨著鎖存脈沖LP的到來，該輸出被鎖存。而且，鎖存電路LC1的鎖存輸出被存儲到構成存儲裝置的數(shù)據(jù)寄存器6中。
接著，上述1個恒流源的輸出端子VF繼而與相當于從參考電位發(fā)生裝置5供給的邏輯工作電位VDD的電位進行比較，其比較輸出供給到鎖存電路LC1，隨著相同的鎖存脈沖LP的到來，該輸出被鎖存。而且，鎖存電路LC1的鎖存輸出被存儲到構成存儲裝置的數(shù)據(jù)寄存器6中。
通過上述動作從上述鎖存電路LC1相繼輸出以上述反向偏置電位VM為參考電位的比較輸出(即，相當于圖1所示的輸出A)和以上述邏輯工作電位VDD為參考電位的比較輸出(即，相當于圖1所示的輸出B)，并將其存儲到數(shù)據(jù)寄存器6。因此，通過利用與相繼存儲到圖4所示的數(shù)據(jù)寄存器6的上述A和B相當?shù)妮敵?，從而利用與根據(jù)圖3說明的例子相同的判斷手法，掌握自發(fā)光顯示單元中故障的發(fā)生狀態(tài)。
另外，保持從參考電位發(fā)生裝置5向圖4所示的比較器CP1供給一定的參考電位，從而可以構筑結(jié)構簡單的缺陷狀態(tài)檢驗裝置。此時，從上述參考電位發(fā)生裝置5向比較器CP1提供比所述VF目標值(＝8V)低若干電位例如6V左右的參考電位。
根據(jù)該結(jié)構，當選擇開關SW1所選擇的電位VF達到VF目標值(＝8V)時，比較器CP1的輸出為“+”，該狀態(tài)可大體判斷為正常。另一方面，當比較器CP1的輸出為“-”時，連接在選擇開關SW1所選擇的恒流源上且處于掃描狀態(tài)的EL元件可視為發(fā)生了短路。
因此，當僅檢驗排列在顯示面板上的EL元件的上述故障時，也可以適當采用始終將一定的參考電位提供給1個比較器CP1的上述結(jié)構。
再有，在圖4所示的實施方式中，亦與圖1所示的實施方式一樣，構成為可在發(fā)光驅(qū)動模式和檢測模式之間進行切換，在處于檢測模式的狀態(tài)下檢測上述顯示單元中故障的發(fā)生狀態(tài)。但是，在圖1和圖4所示的實施方式中，不需要轉(zhuǎn)移到上述檢測模式，在驅(qū)動裝置保持發(fā)光驅(qū)動動作的狀態(tài)下，由上述故障檢測裝置執(zhí)行故障的檢測工作。
也就是說，處理輸入視頻信號時，圖1和圖4所示的控制器IC4可以預先掌握排列在顯示面板1上的各EL元件的點亮控制狀態(tài)。因此，以執(zhí)行點亮控制的EL元件為對象，通過指定選擇開關SW1的選擇操作、鎖存脈沖的輸出定時、以及寫入到數(shù)據(jù)寄存器6的寫入地址，從而與各EL元件的點亮定時相吻合，獲得檢驗數(shù)據(jù)(上述輸出A和B)。并且，將數(shù)據(jù)存儲到數(shù)據(jù)寄存器6，在可以采用例如圖3所示的判斷手法進行判斷的狀態(tài)下，使圖2所示的缺陷地點判斷裝置7工作。
在上述說明的實施方式中，采用有機EL元件作為自發(fā)光元件，但本發(fā)明并不限于有機EL元件，可以采用電流驅(qū)動的其他自發(fā)光元件。再有，包含上述故障檢測裝置的自發(fā)光顯示模塊不僅應用在前面已經(jīng)敘述的包括醫(yī)療器械或飛機的儀表的電子設備上，也可以將其應用到具有發(fā)光顯示面板的其他電子設備上，從而可以直接享受前面已經(jīng)敘述的作用效果。
權利要求
1.一種自發(fā)光顯示模塊，具有自發(fā)光顯示單元，由將多個包含自發(fā)光元件的像素呈矩陣狀地排列在掃描線和數(shù)據(jù)線的交點位置的發(fā)光顯示面板和有選擇地對所述發(fā)光顯示面板中的各自發(fā)光元件進行點亮驅(qū)動的驅(qū)動裝置構成；故障檢測裝置，用于檢測所述自發(fā)光顯示單元的故障；存儲裝置，存儲所述故障檢測裝置的檢測結(jié)果，其特征在于上述故障檢測裝置構成為通過將向所述自發(fā)光元件供給恒定電流的恒流源的輸出端子電位與預先設定的參考電位進行比較，從而檢測所述自發(fā)光顯示單元的故障。
2.如權利要求1所述的自發(fā)光顯示模塊，其特征在于所述驅(qū)動裝置上設置有第1電源、比所述第1電源電位低的第2電源、比所述2電源電位還低的第3電源，所述第1電源作為經(jīng)由所述數(shù)據(jù)線向各自發(fā)光元件提供點亮驅(qū)動電流的恒流源的工作電源而發(fā)揮功能，所述第2和第3電源的功能是經(jīng)由切換裝置被提供給所述掃描線，從而有選擇地改變該掃描線的電位。
3.如權利要求2所述的自發(fā)光顯示模塊，其特征在于所述驅(qū)動裝置構成為可以在發(fā)光驅(qū)動模式和檢測模式之間進行切換，在所述檢測模式中，所述恒流源的輸出端子電位大于等于所述自發(fā)光元件的發(fā)光閾值電壓，并且在對無故障的所述自發(fā)光元件的恒定電流驅(qū)動中成為不超過所述第2電源電位的電位。
4.如權利要求2所述的自發(fā)光顯示模塊，其特征在于在所述驅(qū)動裝置保持發(fā)光驅(qū)動工作的狀態(tài)下，執(zhí)行所述故障檢測裝置的故障檢測工作。
5.如權利要求1至4的任意一項所述的自發(fā)光顯示模塊，其特征在于所述故障檢測裝置上設置有1個電壓比較裝置，所述恒流源的輸出端子電位的某一個被有選擇地提供給所述電壓比較裝置的一個電壓輸入端子，而參考電位被供給到所述電壓比較裝置的另一個電壓輸入端子。
6.如權利要求5所述的自發(fā)光顯示模塊，其特征在于供給到所述電壓比較裝置的另一個電壓輸入端子的參考電位的電壓值可以改變。
7.如權利要求1所述的自發(fā)光顯示模塊，其特征在于所述故障檢測裝置上設置有至少2個電壓比較裝置，所述恒流源的輸出端子電位的某一個被有選擇地提供給各電壓比較裝置的一個電壓輸入端子，向所述各電壓比較裝置的另一個電壓輸入端子提供各不相同的參考電位。
8.如權利要求7所述的自發(fā)光顯示模塊，其特征在于分別提供給所述各電壓比較裝置的另一個電壓輸入端子的參考電位之一與所述第2電源的電位相等，而且參考電位的另一個被設定為低于所述自發(fā)光元件的發(fā)光閾值電壓且高于所述第3電源的電位。
9.如權利要求7或者8所述的自發(fā)光顯示模塊，其特征在于所述故障檢測元件上設置有依次選擇所述恒流源的輸出端子電位并提供給所述各電壓比較裝置的選擇開關裝置。
10.如權利要求1所述的自發(fā)光顯示模塊，其特征在于在與所述發(fā)光顯示面板的各像素對應的各數(shù)據(jù)線和各掃描線的所有組合中分別執(zhí)行所述故障檢測裝置的檢測工作，并將基于檢測工作的檢測結(jié)果存儲到所述存儲裝置中。
11.如權利要求1所述的自發(fā)光顯示模塊，其特征在于排列于所述發(fā)光顯示面板上的自發(fā)光元件是將有機化合物使用于發(fā)光層的有機EL元件。
12.一種電子設備，其特征在于搭載了所述權利要求1所述的自發(fā)光顯示模塊。
13.一種自發(fā)光顯示模塊的缺陷狀態(tài)的檢驗方法，該自發(fā)光顯示模塊具有由將多個包含自發(fā)光元件的像素呈矩陣狀排列在掃描線和數(shù)據(jù)線的交點位置的發(fā)光顯示面板和有選擇地對所述發(fā)光顯示面板中的各自發(fā)光元件進行點亮驅(qū)動的驅(qū)動裝置構成的自發(fā)光顯示單元；用于檢測所述自發(fā)光顯示單元的故障的故障檢測裝置；以及存儲所述故障檢測裝置的檢測結(jié)果的存儲裝置，其特征在于在與所述各像素對應的各數(shù)據(jù)線和各掃描線的所有組合中分別執(zhí)行下述步驟故障檢測步驟，利用設置在所述故障檢測裝置的電壓比較裝置把向所述自發(fā)光元件提供恒定電流的恒流源的輸出端子電位與預先設定的參考電位進行比較，從而檢測所述自發(fā)光顯示單元的故障；以及檢測結(jié)果存儲步驟，將所述故障檢測步驟中檢測的檢測結(jié)果存儲到所述存儲裝置。
全文摘要
本發(fā)明提供一種例如當發(fā)光顯示面板的像素產(chǎn)生缺陷時可迅速向用戶通知的自發(fā)光顯示模塊。向排列在發(fā)光顯示面板(1)上的各EL元件E11～Enm提供恒定電流的恒流源I1～In的輸出端子電位經(jīng)由檢查線TL1～TLn引出，并通過選擇開關SW1進行選擇。所選擇的電位提供給比較參考電位互不相同的第1和第2比較器CP1和CP2，其比較結(jié)果分別通過鎖存電路LC1和LC2而被鎖存，并存儲在作為存儲裝置的數(shù)據(jù)寄存器(6)中。通過數(shù)據(jù)寄存器(6)中存儲的數(shù)據(jù)判斷包含各EL元件和各驅(qū)動器(2、3)的部分部位是否發(fā)生了缺陷。
文檔編號H01L51/50GK1667682SQ20051005473
公開日2005年9月14日 申請日期2005年3月11日 優(yōu)先權日2004年3月12日
發(fā)明者后藤隆志, 佐藤宏幸, 佐藤一浩 申請人:東北先鋒電子股份有限公司