終端缺陷檢驗(yàn)的方法
【專利摘要】本發(fā)明提供一種終端缺陷檢驗(yàn)的方法，包含：準(zhǔn)備檢驗(yàn)設(shè)備步驟、原點(diǎn)補(bǔ)正步驟、掃描條形碼步驟、缺陷檢查步驟、缺陷區(qū)域劃記步驟以及產(chǎn)生出貨檔案步驟，終端檢驗(yàn)設(shè)備包含主機(jī)、顯微鏡、條形碼掃描儀、承載治具、信號(hào)接收傳送裝置，在原點(diǎn)補(bǔ)正后觀察到缺陷時(shí)，以電磁筆在發(fā)現(xiàn)缺陷的檢驗(yàn)區(qū)上劃記，信號(hào)接收傳送接收劃記位置，并傳送至主機(jī)，主機(jī)根據(jù)原點(diǎn)補(bǔ)正時(shí)所產(chǎn)生的主機(jī)板輪廓中的原點(diǎn)及劃記位置的相對(duì)位置計(jì)算出報(bào)廢區(qū)的坐標(biāo)，并產(chǎn)生出貨檔案，而能避免數(shù)據(jù)輸入錯(cuò)誤、劃記與輸入數(shù)據(jù)不合的問(wèn)題，同時(shí)取代以黑筆與白漆標(biāo)記來(lái)減低工作板件污染的風(fēng)險(xiǎn)。
【專利說(shuō)明】終端缺陷檢驗(yàn)的方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及一種終端檢驗(yàn)的方法，尤其是信號(hào)接收傳送裝置而能更直覺(jué)地進(jìn)行檢驗(yàn)標(biāo)記，而避免標(biāo)示錯(cuò)誤。
【背景技術(shù)】
[0002]終端檢驗(yàn)是在光學(xué)檢驗(yàn)后，以人工的方式逐步地進(jìn)行將電路板放到顯微鏡或是放大鏡下檢測(cè)電路板上的檢驗(yàn)區(qū)，作為出貨時(shí)的最終檢驗(yàn)。傳統(tǒng)的人工操作檢查，當(dāng)發(fā)現(xiàn)缺陷時(shí)再以黑筆或白漆筆劃記為報(bào)廢區(qū)，在完成干燥等作業(yè)程序后，其可作為后續(xù)雷射標(biāo)示報(bào)廢與產(chǎn)出電子缺陷文件的依據(jù)。然而，在缺陷紀(jì)錄電子化同時(shí)，這樣的作業(yè)模式有幾項(xiàng)的缺點(diǎn):第一，通過(guò)人工檢驗(yàn)時(shí)，由于作業(yè)員必須在輸入計(jì)算機(jī)時(shí)，開(kāi)啟與電路板相關(guān)的布局圖案文件，在將報(bào)廢區(qū)的位置輸入，在作業(yè)程序上不夠自動(dòng)化，且可能有開(kāi)啟檔案錯(cuò)誤的潛在問(wèn)題；第二，隨著電路板微小精密化的趨勢(shì)，單一區(qū)塊排布的檢驗(yàn)區(qū)也越來(lái)越多，人工必須通過(guò)數(shù)行、列來(lái)判定檢驗(yàn)區(qū)，這也可能使得人工劃記時(shí)與計(jì)算機(jī)輸入的位置不一致的問(wèn)題產(chǎn)生；第三，傳統(tǒng)黑筆與白漆筆標(biāo)示，其表面容易脫落，而后造成板便污染等問(wèn)題。
[0003]由于終端檢驗(yàn)后，產(chǎn)品將直接送至客戶端，若發(fā)生而良品、報(bào)廢區(qū)分辨錯(cuò)誤與標(biāo)記脫落造成板件污染等問(wèn)題，會(huì)導(dǎo)致后續(xù)客戶端產(chǎn)品的報(bào)廢，衍生的成本提高，公司的商譽(yù)也可能受損，因此，需要一種更直覺(jué)性并改善現(xiàn)有檢驗(yàn)時(shí)間較長(zhǎng)、容易發(fā)生錯(cuò)誤的檢驗(yàn)系統(tǒng)及方法。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0004]本發(fā)明的主要目的是提供一種終端缺陷檢驗(yàn)的方法，該方法包含:準(zhǔn)備檢驗(yàn)設(shè)備步驟、掃描條形碼步驟、原點(diǎn)補(bǔ)正步驟、缺陷檢查步驟、缺陷區(qū)域劃記步驟，以及產(chǎn)生出貨檔案步驟。準(zhǔn)備檢驗(yàn)設(shè)備步驟，準(zhǔn)備一終端檢驗(yàn)設(shè)備，該終端檢驗(yàn)設(shè)備包含一主機(jī)、一顯微鏡、一條形碼掃描儀、一承載治具、一信號(hào)接收傳送裝置及一電磁筆，該主機(jī)具有一數(shù)據(jù)庫(kù)以儲(chǔ)存數(shù)據(jù)及線路布局圖案，該條形碼掃描儀與該主機(jī)電氣連接，該承載治具用以裝設(shè)欲檢驗(yàn)的一電路板，該顯微鏡用以檢查該電路板上的檢驗(yàn)區(qū)，該信號(hào)接收傳送裝置設(shè)置于該承載治具上，并與該主機(jī)及該電磁筆電氣連接。
[0005]掃描條形碼步驟，以該條形碼掃描儀掃描在該電路板上的一條形碼，該主機(jī)根據(jù)該條形碼從數(shù)據(jù)庫(kù)選出對(duì)應(yīng)于該電路板的數(shù)據(jù)及一線路布局圖案；原點(diǎn)補(bǔ)正步驟，是將該電磁筆在該電路板的對(duì)角線位置進(jìn)行劃記，而產(chǎn)生多個(gè)初始標(biāo)記位置，該信號(hào)接收傳送裝置接收所述初始標(biāo)記位置并傳送至該主機(jī)，該主機(jī)依照所述初始標(biāo)記位置及該線路布局圖案定義出該電路板的輪廓，并以該電路板中的一點(diǎn)作為原點(diǎn)。
[0006]缺陷檢查步驟，是將裝設(shè)有該電路板及該信號(hào)接收傳送裝置的該承載治具放到該顯微鏡的一載臺(tái)上，移動(dòng)該載臺(tái)并通過(guò)該顯微鏡的一目鏡及至少一物鏡該電路板的多個(gè)檢驗(yàn)區(qū)中是否存在缺陷；缺陷區(qū)域劃記步驟，在觀察到缺陷時(shí)，以該電磁筆在發(fā)現(xiàn)缺陷的所述檢驗(yàn)區(qū)上進(jìn)行劃記，該信號(hào)接收傳送裝置接收到多個(gè)劃記位置，并傳送至主機(jī)；以及產(chǎn)生出-實(shí)施例的流程圖；
切的單元示意圖；
I進(jìn)行劃記的示意圖；二實(shí)施例的流程圖；
切的單元示意圖；以及X意圖。[0035]120條形碼
[0036]SI終端缺陷檢驗(yàn)的方法
[0037]S2終端缺陷檢驗(yàn)的方法
[0038]SlO準(zhǔn)備檢驗(yàn)設(shè)備步驟
[0039]S12準(zhǔn)備檢驗(yàn)設(shè)備步驟
[0040]S15設(shè)備校準(zhǔn)步驟
[0041]S20掃描條形碼步驟
[0042]S30原點(diǎn)補(bǔ)正步驟
[0043]S35原點(diǎn)補(bǔ)正步驟
[0044]S40缺陷檢查步驟
[0045]S50缺陷區(qū)域劃記步驟
[0046]S55缺陷位置確認(rèn)步驟
[0047]S60產(chǎn)生出貨檔案步驟
【具體實(shí)施方式】
[0048]以下配合圖式及組件符號(hào)對(duì)本創(chuàng)作的實(shí)施方式做更詳細(xì)的說(shuō)明，以令本領(lǐng)域技術(shù)人員參照說(shuō)明書(shū)文字能夠據(jù)以實(shí)施。
[0049]參見(jiàn)圖1，圖1為本發(fā)明終端缺陷檢驗(yàn)的方法第一實(shí)施例的流程圖。如圖1所示，第一實(shí)施例的終端缺陷檢驗(yàn)的方法SI包含準(zhǔn)備檢驗(yàn)設(shè)備步驟S10、掃描條形碼步驟S20、原點(diǎn)補(bǔ)正步驟S30、缺陷檢查步驟S40、缺陷區(qū)域劃記步驟S50以及產(chǎn)生出貨檔案步驟S60。
[0050]同時(shí)參見(jiàn)圖2，圖2為本發(fā)明終端檢驗(yàn)設(shè)備第一實(shí)施例的單元示意圖。準(zhǔn)備檢驗(yàn)設(shè)備步驟SlO準(zhǔn)備如圖2所示的終端檢驗(yàn)設(shè)備1，終端檢驗(yàn)設(shè)備I包含主機(jī)10、顯微鏡20、條形碼掃描儀30、承載治具40、信號(hào)接收傳送裝置51及電磁筆53。主機(jī)10具有一數(shù)據(jù)庫(kù)以儲(chǔ)存數(shù)據(jù)(如編號(hào)ID、出貨廠商等)，及線路布局圖案(layout)，條形碼掃描儀30與主機(jī)10電氣連接，承載治具40用以裝設(shè)欲檢驗(yàn)的電路板100，顯微鏡20用以檢查電路板100上的檢驗(yàn)區(qū)110，信號(hào)接收傳送裝置51設(shè)置于承載治具40上，與主機(jī)10及電磁筆53電氣連接。
[0051]另外,進(jìn)一步參考圖3,承載治具40的剖面示意圖。如圖3所示,承載治具40包含一基座41、一基板載臺(tái)43，基板41具有凹槽以容置基板載臺(tái)43，基座載臺(tái)43也同樣地具有凹槽以容置電路板100，基板載臺(tái)43可依據(jù)電路板100的大小、形狀可以更換。而信號(hào)接收傳送裝置51是設(shè)置在基座41上。
[0052]掃描條形碼步驟S20是以條形碼掃描儀20掃描在電路板100上的條形碼120，從而主機(jī)10根據(jù)該條形碼120從數(shù)據(jù)庫(kù)選出對(duì)應(yīng)于電路板100的數(shù)據(jù)及線路布局圖案。
[0053]原點(diǎn)補(bǔ)正步驟S30，同時(shí)參照?qǐng)D4，是將電磁筆53在電路板對(duì)角線的位置進(jìn)行劃記，而產(chǎn)生初始標(biāo)記位置，信號(hào)接收傳送裝置51接收初始標(biāo)記位置并傳送至主機(jī)10，主機(jī)10依照初始標(biāo)記位置及對(duì)應(yīng)于電路板100的線路布局圖案定義出電路板100的輪廓，并以電路板100中的一點(diǎn)作為原點(diǎn)。
[0054]缺陷檢查步驟S40是將裝設(shè)有電路板100及信號(hào)接收傳送裝置51的承載治具40放到顯微鏡20的載臺(tái)27上，通過(guò)顯微鏡20的目鏡21及至少一物鏡23，并移動(dòng)載臺(tái)27觀察電路板100的檢驗(yàn)區(qū)110中是否存在缺陷。顯微鏡20的目鏡21及至少一物鏡23與載臺(tái)27是通過(guò)支架25而連接，載臺(tái)27可以移動(dòng)來(lái)觀察。目鏡21的放大倍率為IOX?100X，物鏡23的放大倍率為IX?10X。
[0055]缺陷區(qū)域劃記步驟S50是在觀察到缺陷時(shí)，以電磁筆53在發(fā)現(xiàn)缺陷的檢驗(yàn)區(qū)110上進(jìn)行劃記，信號(hào)接收傳送裝置51接收到劃記位置，并將劃記位置傳送至主機(jī)10。產(chǎn)生出貨檔案步驟S60是在缺陷檢查完畢后，主機(jī)10根據(jù)原點(diǎn)與劃記位置的相對(duì)位置計(jì)算出報(bào)廢區(qū)的坐標(biāo)，并產(chǎn)生包含有報(bào)廢區(qū)的坐標(biāo)的一出貨檔案。
[0056]其中主機(jī)10與條形碼掃描儀30、主機(jī)10與信號(hào)接收傳送裝置51以有線或無(wú)線方式電氣連接，無(wú)線電氣連接可以藉由藍(lán)牙或無(wú)線網(wǎng)絡(luò)的方式來(lái)進(jìn)行信號(hào)傳輸/接收，而信號(hào)接收傳送裝置51與電磁筆53之間以有線或無(wú)線方式電氣連接，無(wú)線電氣連接，可以藉由超音波、藍(lán)牙、紅外線的方式來(lái)進(jìn)行。
[0057]參見(jiàn)圖5，圖5為本發(fā)明終端缺陷檢驗(yàn)的方法第二實(shí)施例的流程圖。如圖5所示，第一實(shí)施例的終端缺陷檢驗(yàn)的方法S2包含準(zhǔn)備檢驗(yàn)設(shè)備步驟S12、設(shè)備校準(zhǔn)步驟S15、掃描條形碼步驟S20、原點(diǎn)補(bǔ)正步驟S35、缺陷檢查步驟S40、缺陷位置確認(rèn)步驟S55以及產(chǎn)生出貨檔案步驟S60。
[0058]同時(shí)參見(jiàn)圖6，圖6為本發(fā)明終端檢驗(yàn)設(shè)備第二實(shí)施例的單元示意圖。準(zhǔn)備檢驗(yàn)設(shè)備步驟S12準(zhǔn)備如圖2所示的終端檢驗(yàn)設(shè)備2，如圖6所示，終端檢驗(yàn)系統(tǒng)2是第一實(shí)施例終端檢驗(yàn)系統(tǒng)I的變化形式，終端檢驗(yàn)系統(tǒng)2包含主機(jī)10、顯微鏡20、條形碼掃描儀30、承載治具40、信號(hào)接收傳送裝置51、信號(hào)發(fā)射器55、腳踏板57以及電池59，主機(jī)10、顯微鏡
20、條形碼掃描儀30、承載治具40，與第一實(shí)施例相同，在此不在贅述。信號(hào)發(fā)射器55設(shè)置在顯微鏡20的載臺(tái)27上，與信號(hào)接收傳送裝置51及主機(jī)10電氣連接，腳踏板57與信號(hào)發(fā)射器55電氣連接。電池59提供電力給信號(hào)發(fā)射器55,可設(shè)置在顯微鏡的載臺(tái)27上。
[0059]并同時(shí)參照?qǐng)D7，設(shè)備校準(zhǔn)步驟S15是將顯微鏡20中所看到的十字區(qū)域與信號(hào)發(fā)射器55對(duì)準(zhǔn)，并踩踏腳踏板57而使得顯微鏡20與信號(hào)發(fā)射器55的的位置相對(duì)應(yīng)，信號(hào)發(fā)射器55發(fā)送一定位信號(hào)給主機(jī)10以完成校準(zhǔn)定位，進(jìn)一步地，還可以在顯微鏡20的支架上裝設(shè)一雷射筆以提升亮度，而在設(shè)備校準(zhǔn)步驟S15，除了將顯微鏡20中所看到的十字區(qū)域與信號(hào)發(fā)射器55對(duì)準(zhǔn)，還需要將雷射筆60所產(chǎn)生的光點(diǎn)與十字區(qū)域?qū)?zhǔn)，再踩下腳踏板57，以完成校準(zhǔn)定位。
[0060]掃描條形碼步驟S20如同第一實(shí)施例，以條形碼掃描儀20掃描在電路板100上的條形碼120，從而主機(jī)10根據(jù)該條形碼120從數(shù)據(jù)庫(kù)選出對(duì)應(yīng)于電路板100的數(shù)據(jù)及線路
布局圖案。
[0061]原點(diǎn)補(bǔ)正步驟S35，是移動(dòng)顯微鏡的載臺(tái)，將顯微鏡20中所看到的十字區(qū)對(duì)準(zhǔn)到裝設(shè)在承載治具40中電路板100的對(duì)角線兩點(diǎn)(例如左上、右下)，并在對(duì)準(zhǔn)時(shí)踩踏腳踏板57，而產(chǎn)生初始對(duì)準(zhǔn)位置，信號(hào)接收傳送裝置51接收初始對(duì)準(zhǔn)位置并傳送至主機(jī)10，主機(jī)10根據(jù)線路布局圖案及初始對(duì)準(zhǔn)位置定義出電路板100的輪廓，并以電路板上的一點(diǎn)作為原點(diǎn)。
[0062]缺陷檢查步驟S40如同第一實(shí)施例，通過(guò)顯微鏡20的目鏡21及至少一物鏡23并移動(dòng)載臺(tái)27觀察電路板100的檢驗(yàn)區(qū)110中是否存在缺陷。缺陷位置確認(rèn)步驟S55是在觀察到檢驗(yàn)區(qū)110中存在缺陷時(shí)，將顯微鏡20中所看到的十字區(qū)域?qū)?zhǔn)缺陷位置，并踩踏腳踏板57，以產(chǎn)生出缺陷對(duì)準(zhǔn)位置。產(chǎn)生出貨檔案步驟S60是在缺陷檢查完畢后，主機(jī)10根據(jù)原點(diǎn)與缺陷對(duì)準(zhǔn)位置的相對(duì)位置計(jì)算出報(bào)廢區(qū)的坐標(biāo)，并產(chǎn)生包含有報(bào)廢區(qū)的坐標(biāo)的一出貨檔案。
[0063]其中信號(hào)發(fā)射器55與信號(hào)接收傳送裝置57及主機(jī)10電氣連接，是以有線或無(wú)線的連接，信號(hào)發(fā)射器55與信號(hào)接收傳送裝置57無(wú)線連接的方式可以為超音波、藍(lán)牙或紅外線，而與主機(jī)無(wú)線連接的方式可以為藍(lán)牙或無(wú)線網(wǎng)絡(luò)。
[0064]本發(fā)明的特點(diǎn)在于，通過(guò)主機(jī)、條形碼讀取器、信號(hào)接收傳送裝置，以及電磁筆，或信號(hào)發(fā)射器及腳踏板的組合，能夠自動(dòng)地讀取電路板的數(shù)據(jù)、并運(yùn)算出劃記位置，而能避免數(shù)據(jù)輸入錯(cuò)誤、劃記與輸入數(shù)據(jù)不合的問(wèn)題，同時(shí)取代傳統(tǒng)以黑筆與白漆標(biāo)記，而減低工作板件污染的風(fēng)險(xiǎn)。
[0065]以上所述者僅為用以解釋本發(fā)明的較佳實(shí)施例，并非企圖據(jù)以對(duì)本發(fā)明做任何形式上的限制，因此，凡有在相同的發(fā)明精神下所作有關(guān)本發(fā)明的任何修飾或變更，皆仍應(yīng)包括在本發(fā)明意圖保護(hù)的范疇。
【權(quán)利要求】
1.一種終端缺陷檢驗(yàn)的方法，其特征在于，包含: 一準(zhǔn)備檢驗(yàn)設(shè)備步驟，準(zhǔn)備一終端檢驗(yàn)設(shè)備，該終端檢驗(yàn)設(shè)備包含一主機(jī)、一顯微鏡、一條形碼掃描儀、一承載治具、一信號(hào)接收傳送裝置及一電磁筆，該主機(jī)具有一數(shù)據(jù)庫(kù)，該條形碼掃描儀與該主機(jī)電氣連接，該承載治具用以裝設(shè)欲檢驗(yàn)的一電路板，該信號(hào)接收傳送裝置設(shè)置于該承載治具上，并與該主機(jī)及該電磁筆電氣連接； 一掃描條形碼步驟，以該條形碼掃描儀掃描在該電路板上的一條形碼，該主機(jī)根據(jù)該條形碼從該數(shù)據(jù)庫(kù)選出對(duì)應(yīng)于該電路板的一數(shù)據(jù)及一線路布局圖案； 一原點(diǎn)補(bǔ)正步驟，以該電磁筆在該電路板的對(duì)角線位置進(jìn)行劃記，而產(chǎn)生多個(gè)初始標(biāo)記位置，該信號(hào)接收傳送裝置接收所述初始標(biāo)記位置并傳送至該主機(jī)，該主機(jī)依照所述初始標(biāo)記位置及該線路布局圖案定義出該電路板的輪廓，并以該電路板中的一點(diǎn)作為一原占.一缺陷檢查步驟，是將裝設(shè)有該電路板及該信號(hào)接收傳送裝置的該承載治具放到該顯微鏡的一載臺(tái)上，移動(dòng)該載臺(tái)并透過(guò)該顯微鏡的一目鏡及至少一物鏡該電路板的多個(gè)檢驗(yàn)區(qū)中是否存在多個(gè)缺陷； 一缺陷區(qū)域劃記步驟，在觀察到所述缺陷時(shí)，以該電磁筆在發(fā)現(xiàn)所述缺陷的所述檢驗(yàn)區(qū)上進(jìn)行劃記，該信號(hào)接收傳送裝置接收到多個(gè)劃記位置，并傳送至主機(jī)；以及 一產(chǎn)生出貨檔案步驟，該主機(jī)根據(jù)該原點(diǎn)與所述劃記位置的相對(duì)位置計(jì)算出報(bào)廢區(qū)的坐標(biāo)，并產(chǎn)生包含有該報(bào)廢區(qū)的坐標(biāo)的一出貨檔案。
2.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，該目鏡的放大倍率為10X100X，而該至少一物鏡的放大倍率為1X~10X。
3.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，該主機(jī)與該條形碼掃描儀，以及該主機(jī)與信號(hào)接收傳送裝置以有線或無(wú)線電氣連接。
4.如權(quán)利要求3所述的方法，其特征在于，該無(wú)線電氣連接藉由藍(lán)牙或無(wú)線網(wǎng)絡(luò)的方式來(lái)進(jìn)行信號(hào)傳輸/接收。
5.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，該信號(hào)接收傳送裝置與該電磁筆之間以有線或無(wú)線電氣連接，無(wú)線電氣連接藉由超音波、藍(lán)牙、紅外線的方式來(lái)進(jìn)行信號(hào)傳輸/接收。
6.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，該承載治具包含一基座以及一基板載臺(tái)，該基座具有一凹槽以容置該基板載臺(tái)，該基板載臺(tái)具有一另一凹槽以承載該電路板。
7.—種終端缺陷檢驗(yàn)的方法，其特征在于，包含: 準(zhǔn)備檢驗(yàn)設(shè)備步驟，該終端檢驗(yàn)設(shè)備包含一主機(jī)、一顯微鏡、一條形碼掃描儀、一承載治具、一信號(hào)接收傳送裝置、一信號(hào)發(fā)射器以及一腳踏板，該主機(jī)具有一數(shù)據(jù)庫(kù)，該條形碼掃描儀與該主機(jī)電氣連接，該承載治具用以裝設(shè)欲檢驗(yàn)的一電路板，該信號(hào)接收傳送裝置設(shè)置于該承載治具上，并與該主機(jī)電氣連接，該信號(hào)發(fā)射器設(shè)置在該顯微鏡的一載臺(tái)上，并與該信號(hào)接收傳送裝置及該主機(jī)電氣連接，該腳踏板與該信號(hào)發(fā)射器電氣連接； 一設(shè)備校準(zhǔn)步驟，將從該顯微鏡中所看到的一十字區(qū)域與該信號(hào)發(fā)射器對(duì)準(zhǔn)，并踩踏該腳踏板而使得該顯 微鏡與該信號(hào)發(fā)射器的位置相對(duì)應(yīng)，該信號(hào)發(fā)射器發(fā)射一定位主機(jī)完成校準(zhǔn)定位； 一掃描條形碼步驟，以該條形碼掃描儀掃描在該電路板上的一條形碼，該主機(jī)根據(jù)該條形碼從該數(shù)據(jù)庫(kù)選出對(duì)應(yīng)于該電路板的一數(shù)據(jù)及一線路布局圖案； 一原點(diǎn)補(bǔ)正步驟，移動(dòng)該顯微鏡的該載臺(tái)，將從該顯微鏡中所看到的該十字區(qū)對(duì)準(zhǔn)到裝設(shè)在該承載治具中的該電路板的對(duì)角線兩點(diǎn)，并在對(duì)準(zhǔn)時(shí)踩踏該腳踏板，而產(chǎn)生多個(gè)初始對(duì)準(zhǔn)位置，該信號(hào)接收傳送裝置接收所述初始對(duì)準(zhǔn)位置并傳送至主機(jī)，該主機(jī)根據(jù)該線路布局圖案及所述初始對(duì)準(zhǔn)位置定義出電路板的輪廓，并以該電路板上的一點(diǎn)作為一原占.一缺陷檢查步驟，移動(dòng)該載臺(tái)并透過(guò)該顯微鏡的一目鏡及至少一物鏡該電路板的多個(gè)檢驗(yàn)區(qū)中是否存在多個(gè)缺陷； 一缺陷位置確認(rèn)步驟，當(dāng)觀察到所述檢驗(yàn)區(qū)中存在所述缺陷時(shí)，將該顯微鏡中所看到的該十字區(qū)域?qū)?zhǔn)所述缺陷的位置，并踩踏該腳踏板，以產(chǎn)生出多個(gè)缺陷對(duì)準(zhǔn)位置；以及 一產(chǎn)生出貨檔案步驟，該主機(jī)根據(jù)該原點(diǎn)與所述缺陷對(duì)準(zhǔn)位置的相對(duì)位置計(jì)算出報(bào)廢區(qū)的坐標(biāo)，并產(chǎn)生包含有報(bào)廢區(qū)的坐標(biāo)的一出貨檔案。
8.如權(quán)利要求7所述的方法，其特征在于，該承載治具包含一基座以及一基板載臺(tái)，該基座具有一凹槽以容置該基板載臺(tái)，該基板載臺(tái)具有一另一凹槽以承載該電路板。
9.如權(quán)利要求7所述的方法，其特征在于，該終端檢驗(yàn)設(shè)備進(jìn)一步包含一雷射筆，該雷射筆安裝于該顯微鏡的該支架上提供光源來(lái)提升亮度，在設(shè)備校準(zhǔn)時(shí)，同時(shí)將該雷射筆所產(chǎn)生的光點(diǎn)與該十字區(qū)域及該信號(hào)產(chǎn)生器對(duì)準(zhǔn)，再踩下該腳踏板，以完成校準(zhǔn)定位。
10.如權(quán)利要求7所述的方法，其特征在于，該目鏡的放大倍率為IOX~100X，而該至少一物鏡的放大倍率為1X~10X。
11.如權(quán)利要求7所述的終端檢驗(yàn)系統(tǒng)，其特征在于，該主機(jī)與該條形碼掃描儀、該主機(jī)與信號(hào)接收傳送裝置，以及該主機(jī)與該信號(hào)發(fā)射器以有線或無(wú)線電氣連接。
12.如權(quán)利要求11所述的方法，其特征在于，該無(wú)線電氣連接藉由藍(lán)牙或無(wú)線網(wǎng)絡(luò)的方式來(lái)進(jìn)行信號(hào)傳輸/接收。
13.如權(quán)利要求7所述的方法，其特征在于，該終端檢驗(yàn)設(shè)備進(jìn)一步包含一電池，該電池設(shè)置在顯微鏡的載臺(tái)上，提供電力給該信號(hào)發(fā)射器。
14.如權(quán)利要求7所述的方法，其特征在于，該信號(hào)接收傳送裝置與該信號(hào)發(fā)射器之間以有線或無(wú)線電氣連接，無(wú)線電氣連接藉由超音波、藍(lán)牙、紅外線的方式來(lái)進(jìn)行信號(hào)傳輸/接收。
【文檔編號(hào)】G01N21/956GK103839119SQ201210477253
【公開(kāi)日】2014年6月4日 申請(qǐng)日期:2012年11月22日 優(yōu)先權(quán)日:2012年11月22日
【發(fā)明者】羅家麒, 楊正雄, 徐潤(rùn)忠 申請(qǐng)人:景碩科技股份有限公司