專利名稱：視圖特性的測(cè)試方法及裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種通訊晶片的測(cè)試方法及其裝置，特別涉及一種通訊晶片的視圖(Eye Diagram)特性的測(cè)試方法及其裝置。
一種已知的測(cè)試裝置，如

圖1所示，包括一測(cè)試主機(jī)(mainframe)11、一射頻分析儀15、一待測(cè)晶片14及一機(jī)械，手臂12，且該待測(cè)晶片14置于該機(jī)械手臂12的測(cè)試盤31上。首先，該主機(jī)11發(fā)出一預(yù)設(shè)條件(precondition)至該待測(cè)晶片14，并驅(qū)使該待測(cè)晶片14輸出高斯低通濾波信號(hào)至該射頻分析儀15。該射頻分析儀15將該高斯低通濾波信號(hào)轉(zhuǎn)換成為視圖，而由工作人員經(jīng)過(guò)該射頻分析儀15的屏幕檢查該待測(cè)晶片14是否符合規(guī)格。
然而上述方法并無(wú)法自動(dòng)化，導(dǎo)致一個(gè)晶片的測(cè)試周期需花費(fèi)許多的時(shí)間，而降低產(chǎn)出量。其次，該射頻分析儀15很貴，致使整個(gè)測(cè)試成本被提高。第三，以人眼檢查該待測(cè)晶片14是否符合規(guī)格，往往因?yàn)槿藶榈氖韬龊蜔o(wú)法精確比對(duì)，而導(dǎo)致錯(cuò)誤。此外，已知的測(cè)試裝置另須以專人進(jìn)行系統(tǒng)整合，也非常耗時(shí)。
本發(fā)明的第二目的是提供一種視圖特性的測(cè)試方法及裝置，可快速測(cè)試視圖特性。
為了達(dá)到上述目的，本發(fā)明并不采用已知技藝的射頻分析儀，而是直接由一主機(jī)送出預(yù)設(shè)條件至一待測(cè)晶片，由該待測(cè)晶片讀出GLPF信號(hào)。經(jīng)數(shù)字化和規(guī)格化該GLPF信號(hào)后，可執(zhí)行存在于該主機(jī)內(nèi)的一視圖重建程序而重建該視圖。接著仍可以軟件分析該視圖參數(shù)和預(yù)設(shè)規(guī)格間的誤差，且依據(jù)該誤差的分析而判斷該待測(cè)晶片是否仍在規(guī)格所允許的范圍內(nèi)。若不在所允許的范圍內(nèi)，則予以丟棄。
具體地講，本發(fā)明提供一種視圖特性的測(cè)試方法，它包括下列步驟由一主機(jī)送出預(yù)設(shè)條件至一待測(cè)晶片，且由該待測(cè)晶片讀出GLPF信號(hào)；數(shù)字化和規(guī)格化該GLPF信號(hào)；依規(guī)格化后的GLPF信號(hào)而重建一視圖；分析該視圖的參數(shù)和預(yù)設(shè)規(guī)格間的誤差；及依據(jù)該誤差分析而判斷該待測(cè)晶片的正確性。
所述的視圖的參數(shù)包括視圖的寬度、高度、交叉百分比和RMS抖動(dòng)。
所述的重建視圖的步驟還包括以下步驟計(jì)算規(guī)格化后的GLPF信號(hào)的平均值；依據(jù)該平均值而計(jì)算零交叉點(diǎn)的位置；及利用GLPF信號(hào)的傳輸速率作為視圖周期，且將一連串GLPF信號(hào)重疊至該視圖周期內(nèi)。
本發(fā)明還提供一種視圖特性的測(cè)試裝置，它包括
一測(cè)試主機(jī)，包括一提取器，用于提取一待測(cè)晶片的GLPF輸出信號(hào)，且數(shù)字化和規(guī)格化該GLPF輸出信號(hào)；一視圖重建裝置，用于將規(guī)格化后的一連串GLPF輸出信號(hào)重疊至同一視圖周期內(nèi)而形成視圖；及一誤差比較裝置，用于計(jì)算該視圖的各參數(shù)的誤差是否仍在規(guī)格所允許的范圍內(nèi)；以及一機(jī)械手臂，連接至該測(cè)試主機(jī)，用于承載該待測(cè)晶片。
所述的機(jī)械手臂另包括一測(cè)試盤，用于承載該待測(cè)晶片。
所述的視圖參數(shù)包括視圖的寬度、高度、交叉百分比和RMS抖動(dòng)，
圖3是本發(fā)明的測(cè)試流程圖。在步驟31，本發(fā)明啟始。在步驟32，該主機(jī)21送出預(yù)設(shè)條件至該待測(cè)晶片24，且由該待測(cè)晶片24讀出GLPF信號(hào)。一般而言，可依據(jù)測(cè)試時(shí)間，而提取大約數(shù)千個(gè)測(cè)試周期的信號(hào)。在步驟33，數(shù)字化和規(guī)格化該GLPF信號(hào)。在步驟34，依圖4所述的步驟重建視圖。在步驟35，計(jì)算視圖的參數(shù)(例如視圖的寬度、高度、交叉百分比、RMS抖動(dòng)等)，并分析和規(guī)格間的誤差，該規(guī)格和一可接受的誤差度可由測(cè)試者輸入。若該通訊晶片的誤差超過(guò)可接受的范圍，則予以丟棄。在步驟36，本發(fā)明結(jié)束。
圖4是本發(fā)明的視圖重建流程圖，且圖5是一視圖的示意圖。在步驟41，本發(fā)明啟始。在步驟42，計(jì)算所提取信號(hào)52的平均值(mean)，例如可將所提取的信號(hào)相加，再予以平均。在步驟43，依據(jù)該平均值而計(jì)算零交叉點(diǎn)(zero-crossing point)的位置(如圖5所示的位置51)，以作為一基準(zhǔn)點(diǎn)。在步驟44，利用已知信號(hào)傳輸速率(Date Rate)來(lái)作一個(gè)固定重疊的時(shí)間T，而重疊回一個(gè)下的時(shí)間間格為Δt(即為提取器的取樣頻率的倒數(shù))，如此一來(lái)可以完整正確的將一串的數(shù)據(jù)重疊回一個(gè)周期內(nèi)，而產(chǎn)生視圖。在步驟45，本發(fā)明結(jié)束。
本發(fā)明的技術(shù)內(nèi)容及技術(shù)特點(diǎn)已公開(kāi)如上，然而本領(lǐng)域的技術(shù)人員仍可能基于本發(fā)明的教導(dǎo)和提示而作種種不背離本發(fā)明精神的替換及修飾。因此，本發(fā)明的保護(hù)范圍應(yīng)不限于實(shí)施例所揭示者，而應(yīng)包括各種不背離本發(fā)明的替換及修飾，并為本發(fā)明的權(quán)利要求所涵蓋。
權(quán)利要求
1.一種視圖特性的測(cè)試方法，其特征在于，它包括下列步驟由一主機(jī)送出預(yù)設(shè)條件至一待測(cè)晶片，且由該待測(cè)晶片讀出GLPF信號(hào)；數(shù)字化和規(guī)格化該GLPF信號(hào)；依規(guī)格化后的GLPF信號(hào)而重建一視圖；分析該視圖的參數(shù)和預(yù)設(shè)規(guī)格間的誤差；及依據(jù)該誤差分析而判斷該待測(cè)晶片的正確性。
2.如權(quán)利要求1所述的測(cè)試方法，其特征在于所述的視圖的參數(shù)包括視圖的寬度、高度、交叉百分比和RMS抖動(dòng)。
3.如權(quán)利要求1所述的測(cè)試方法，其特征在于所述的重建視圖的步驟還包括以下步驟計(jì)算規(guī)格化后的GLPF信號(hào)的平均值；依據(jù)該平均值而計(jì)算零交叉點(diǎn)的位置；及利用GLPF信號(hào)的傳輸速率作為視圖周期，且將一連串GLPF信號(hào)重疊至該視圖周期內(nèi)。
4.一種視圖特性的測(cè)試裝置，其特征在于，它包括一測(cè)試主機(jī)，包括一提取器，用于提取一待測(cè)晶片的GLPF輸出信號(hào)，且數(shù)字化和規(guī)格化該GLPF輸出信號(hào)；一視圖重建裝置，用于將規(guī)格化后的一連串GLPF輸出信號(hào)重疊至同一視圖周期內(nèi)而形成視圖；及一誤差比較裝置，用于計(jì)算該視圖的各參數(shù)的誤差是否仍在規(guī)格所允許的范圍內(nèi)；以及一機(jī)械手臂，連接至該測(cè)試主機(jī)，用于承載該待測(cè)晶片。
5.如權(quán)利要求4所述的測(cè)試方法，其特征在于所述的機(jī)械手臂另包括一測(cè)試盤，用于承載該待測(cè)晶片。
6.如權(quán)利要求4所述的測(cè)試方法，其特征在于所述的視圖參數(shù)包括視圖的寬度、高度、交叉百分比和RMS抖動(dòng)，
全文摘要
本發(fā)明涉及一種視圖特性的測(cè)試方法及裝置，其直接由一主機(jī)送出預(yù)設(shè)條件至一待測(cè)晶片，且由該待測(cè)晶片讀出GLPF信號(hào)。經(jīng)數(shù)字化和規(guī)格化該GLPF信號(hào)后，可執(zhí)行存在于該主機(jī)內(nèi)的一視圖重建程序而重建該視圖。接著仍可以軟件分析該視圖參數(shù)和預(yù)設(shè)規(guī)格間的誤差，且依據(jù)該誤差的分析而判斷該待測(cè)晶片是否仍在規(guī)格所允許的范圍內(nèi)。若不在所允許的范圍內(nèi)，則予以丟棄。
文檔編號(hào)H01L21/66GK1449007SQ0210818
公開(kāi)日2003年10月15日 申請(qǐng)日期2002年3月28日 優(yōu)先權(quán)日2002年3月28日
發(fā)明者鄭貽仁 申請(qǐng)人:華邦電子股份有限公司