一種存儲芯片的測試設(shè)備的制造方法
【專利摘要】本實用新型涉及一種存儲芯片的測試設(shè)備，其特征在于，包括一恒溫箱，所述恒溫箱內(nèi)部設(shè)有溫度控制裝置，所述恒溫箱的內(nèi)部設(shè)有接口電路，所述接口電路連接有用于裝入硬盤的多個插槽，所述接口電路與多個系統(tǒng)主機連接，多個所述系統(tǒng)主機位于所述恒溫箱外側(cè)，多個所述系統(tǒng)主機連接至一個或多個顯示器；其中，多個所述系統(tǒng)主機均連接至一電源控制裝置。通過系統(tǒng)主機與恒溫箱的連接，實現(xiàn)了在存儲芯片運行過程中提供一個高溫環(huán)境，并通過電源控制裝置進行隨機斷電。所述存儲芯片的測試設(shè)備通過上述結(jié)構(gòu)可以在高溫環(huán)境下，高效率的測試儲存芯片的性能。
【專利說明】
一種存儲芯片的測試設(shè)備
技術(shù)領(lǐng)域
[0001]本實用新型涉及一種存儲芯片的測試設(shè)備，用于對存儲芯片性能進行測試。
【背景技術(shù)】
[0002]硬盤、U盤等存儲產(chǎn)品都是通過內(nèi)部的存儲顆粒對數(shù)據(jù)進行保存的，通常這類產(chǎn)品都是在正常溫度環(huán)境下使用的，然而在某些特殊情況下，這些產(chǎn)品的使用會接觸到高溫環(huán)境。對于產(chǎn)品內(nèi)部的存儲顆粒，環(huán)境的溫度不同，其工作狀態(tài)存在一定的差異，因為存儲顆粒是通過電子來存儲數(shù)據(jù)的，高溫下電子更加的活躍，因此，有必要測試存儲顆粒在高溫環(huán)境下對數(shù)據(jù)的保存能力，以判斷產(chǎn)品的整體性能。當(dāng)存儲顆粒發(fā)生漏電，則無法繼續(xù)保存數(shù)據(jù)。
[0003]以硬盤為例，現(xiàn)有技術(shù)中，通常只是對硬盤進行讀寫能力的測試(即老化測試)。讀寫能力的測試過程為:在常溫下，不斷地對硬盤進行寫入數(shù)據(jù)、讀取數(shù)據(jù)等測試，以判斷硬盤的性能。然而，僅僅是對硬盤進行這類測試，仍然無法整體地衡量硬盤的性能。
[0004]因此有必要設(shè)計一種存儲芯片的測試設(shè)備，以克服上述問題。
【實用新型內(nèi)容】
[0005]本實用新型的目的在于克服現(xiàn)有技術(shù)之缺陷，提供了一種存儲芯片的測試設(shè)備，其可在高溫環(huán)境下對儲存芯片進行測試，測試效率高。
[0006]本實用新型是這樣實現(xiàn)的:
[0007]本實用新型提供一種存儲芯片的測試設(shè)備，包括一恒溫箱，所述恒溫箱內(nèi)部設(shè)有溫度控制裝置，所述恒溫箱的內(nèi)部設(shè)有接口電路，所述接口電路連接有用于裝入硬盤的多個插槽，所述接口電路與多個系統(tǒng)主機連接，多個所述系統(tǒng)主機位于所述恒溫箱外側(cè)，多個所述系統(tǒng)主機連接至一個或多個顯示器;其中，多個所述系統(tǒng)主機均連接至一電源控制裝置。
[0008]進一步地，所述恒溫箱上設(shè)有顯示屏。
[0009]進一步地，所述恒溫箱上設(shè)有控制鍵。
[0010]進一步地，所述插槽的數(shù)量與所述系統(tǒng)主機的數(shù)量相同，保證一個硬盤對應(yīng)連接一個主機。
[0011]本實用新型具有以下有益效果:
[0012]在對硬盤進行寫入數(shù)據(jù)時，通過電源控制裝置隨機對系統(tǒng)主機進行斷電(即對硬盤進行斷電)，然后再通電，如果硬盤出現(xiàn)壞區(qū)，則系統(tǒng)主機無法開機，或顯示器出現(xiàn)藍屏現(xiàn)象。硬盤能夠承受的斷電次數(shù)越高，說明其性能越好。通過系統(tǒng)主機與恒溫箱的連接，實現(xiàn)了在存儲芯片運行過程中提供一個高溫環(huán)境，并通過電源控制裝置進行隨機斷電。所述存儲芯片的測試設(shè)備通過上述結(jié)構(gòu)可以在高溫環(huán)境下，高效率的測試儲存芯片的性能。
【附圖說明】
[0013]為了更清楚地說明本實用新型實施例或現(xiàn)有技術(shù)中的技術(shù)方案，下面將對實施例或現(xiàn)有技術(shù)描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本實用新型的一些實施例，對于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其它的附圖。
[0014]圖1為本實用新型實施例提供的一種存儲芯片的測試設(shè)備的結(jié)構(gòu)示意圖。
【具體實施方式】
[0015]下面將結(jié)合本實用新型實施例中的附圖，對本實用新型實施例中的技術(shù)方案進行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例僅僅是本實用新型一部分實施例，而不是全部的實施例?；诒緦嵱眯滦椭械膶嵤├?，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有做出創(chuàng)造性勞動的前提下所獲得的所有其它實施例，都屬于本實用新型保護的范圍。
[0016]如圖1，本實用新型實施例提供一種存儲芯片的測試設(shè)備，包括一恒溫箱，所述恒溫箱內(nèi)部設(shè)有溫度控制裝置，所述溫度控制裝置通過加熱的方式控制恒溫箱內(nèi)的溫度。所述恒溫箱的內(nèi)部設(shè)有接口電路，所述接口電路連接有用于裝入硬盤的多個插槽，所述恒溫箱具有箱門，通過打開箱門將硬盤插入接口電路的插槽上，可以一次性測試多個硬盤。
[0017]如圖1，所述接口電路與多個系統(tǒng)主機連接，所述插槽的數(shù)量與所述系統(tǒng)主機的數(shù)量相同，保證一個硬盤對應(yīng)連接一個主機。系統(tǒng)主機用于運行硬盤(每個硬盤連接一個主機)，并對硬盤進行數(shù)據(jù)寫入操作，寫入的數(shù)據(jù)必須大于硬盤的緩存容量，通常為硬盤緩存容量的5-10倍。
[0018]進一步地，多個所述系統(tǒng)主機位于所述恒溫箱外側(cè)，多個所述系統(tǒng)主機連接至一個或多個顯示器，用于顯示相關(guān)信息。其中，多個所述系統(tǒng)主機均連接至一電源控制裝置，通過電源控制裝置控制系統(tǒng)主機的通電斷電情況。
[0019]如圖1，進一步地，所述恒溫箱上設(shè)有控制鍵，所述控制鍵用于打開關(guān)閉溫度控制裝置，調(diào)節(jié)溫度等作用。所述恒溫箱上設(shè)有顯示屏，顯示屏用于顯示溫度、時間等信息。
[0020]調(diào)節(jié)所述恒溫箱處于一定的溫度，在對硬盤進行寫入數(shù)據(jù)時，通過電源控制裝置隨機對系統(tǒng)主機進行斷電(即對硬盤進行斷電)，然后再通電，如果硬盤出現(xiàn)壞區(qū)，則系統(tǒng)主機無法開機，或電腦出現(xiàn)藍屏現(xiàn)象。硬盤能夠承受的斷電次數(shù)越高，說明其性能越好。
[0021]綜上所述，通過系統(tǒng)主機與恒溫箱的連接，實現(xiàn)了在存儲芯片運行過程中提供一個高溫環(huán)境，并通過電源控制裝置進行隨機斷電。所述存儲芯片的測試設(shè)備通過上述結(jié)構(gòu)可以在高溫環(huán)境下，高效率的測試儲存芯片的性能。
[0022]以上所述僅為本實用新型的較佳實施例而已，并不用以限制本實用新型，凡在本實用新型的精神和原則之內(nèi)，所作的任何修改、等同替換、改進等，均應(yīng)包含在本實用新型的保護范圍之內(nèi)。
【主權(quán)項】
1.一種存儲芯片的測試設(shè)備，其特征在于，包括一恒溫箱，所述恒溫箱內(nèi)部設(shè)有溫度控制裝置，所述恒溫箱的內(nèi)部設(shè)有接口電路，所述接口電路連接有用于裝入硬盤的多個插槽，所述接口電路與多個系統(tǒng)主機連接，多個所述系統(tǒng)主機位于所述恒溫箱外側(cè)，多個所述系統(tǒng)主機連接至一個或多個顯示器； 其中，多個所述系統(tǒng)主機均連接至一電源控制裝置。2.如權(quán)利要求1所述的一種存儲芯片的測試設(shè)備，其特征在于:所述恒溫箱上設(shè)有顯示屏。3.如權(quán)利要求1或2所述的一種存儲芯片的測試設(shè)備，其特征在于:所述恒溫箱上設(shè)有控制鍵。4.如權(quán)利要求1或2所述的一種存儲芯片的測試設(shè)備，其特征在于:所述插槽的數(shù)量與所述系統(tǒng)主機的數(shù)量相同，保證一個硬盤對應(yīng)連接一個主機。
【文檔編號】G11C29/56GK205451779SQ201620194321
【公開日】2016年8月10日
【申請日】2016年3月14日
【發(fā)明人】昌林, 陸松林
【申請人】深圳市云儲科技有限公司