靠穩(wěn)定，大大提高了測試的可靠性和標(biāo)準(zhǔn)性。
[0038]由于現(xiàn)有技術(shù)僅使用測試電腦主板自帶的存儲(chǔ)接口(比如SATA接口 )作為存儲(chǔ)設(shè)備測試接口 21，通常自帶的存儲(chǔ)接口數(shù)量有限(一般在10個(gè)以內(nèi))，為了增加整體設(shè)備的測試盤數(shù)量而被迫增加過多的測試電腦，導(dǎo)致設(shè)備體積龐大、內(nèi)部布置復(fù)雜、維修困難。
[0039]為了解決上述技術(shù)問題，本實(shí)用新型提出一種通過PC1-E插槽擴(kuò)展存儲(chǔ)接口的技術(shù)方案。通常，測試主機(jī)51的主板上具有多個(gè)PC1-E插槽，通過在該主板上的多個(gè)PC1-E插槽插接存儲(chǔ)數(shù)據(jù)接口擴(kuò)展卡擴(kuò)展存儲(chǔ)接口。比如通過PC1-E插槽擴(kuò)展SATA接口可以插接多個(gè)PC1-E-SATA轉(zhuǎn)接卡，一個(gè)PC1-E插槽可以擴(kuò)展為4個(gè)、8個(gè)或者16個(gè)SATA接口，從而使單臺(tái)測試主機(jī)51可測試的存儲(chǔ)設(shè)備達(dá)20個(gè)以上。
[0040]在上述技術(shù)方案中，控制線路板用于接收測試主機(jī)51的控制信號(hào)并完成對(duì)被測試存儲(chǔ)設(shè)備的電源控制，因此控制線路板的設(shè)計(jì)非常關(guān)鍵。參見圖6，所示為本實(shí)用新型提供的用于存儲(chǔ)設(shè)備的溫控式測試系統(tǒng)中控制線路板的原理框圖，控制線路板包括與測試主機(jī)51相連接的電源接口及通訊接口、用于測試控制的主控芯片、開關(guān)控制電路以及多個(gè)從屬電源接口，電源接口用于接入供電電源為控制線路板提供供電；通訊接口用于與測試主機(jī)51進(jìn)行數(shù)據(jù)通信接收測試主機(jī)51的控制信號(hào)；主控芯片接收控制信號(hào)并根據(jù)該控制信號(hào)發(fā)出控制指令，開關(guān)控制電路控制從屬電源接口與存儲(chǔ)設(shè)備測試接口 21上的存儲(chǔ)電源接口一一對(duì)應(yīng)，開關(guān)控制電路根據(jù)控制指令控制從屬電源接口的通電與斷電，進(jìn)而實(shí)現(xiàn)對(duì)被測試存儲(chǔ)設(shè)備的通斷電自動(dòng)控制。
[0041]在一種優(yōu)選實(shí)施方式中，主控芯片為單片機(jī)，具體為型號(hào)為PIC16F688的工業(yè)級(jí)單片機(jī)。通訊接口為UART接口，和測試主機(jī)51按照約定的串口通訊協(xié)議進(jìn)行通信，并接收控制信號(hào)(bit信息)。
[0042]由于單片機(jī)的1 口數(shù)量有限，為了控制多路被測試存儲(chǔ)設(shè)備的通斷電測試，開關(guān)控制電路包括多片串入并出的邏輯芯片，主控芯片通過內(nèi)部數(shù)據(jù)總線與開關(guān)控制電路相連接。優(yōu)選的，串入并出的邏輯芯片型號(hào)為74HC595工業(yè)級(jí)芯片。單片機(jī)以SPI串行通信模式，將bit信息發(fā)給74HC595芯片，74HC595芯片將串行控制信號(hào)轉(zhuǎn)換為并行控制信號(hào)，從而實(shí)現(xiàn)多路從屬電源控制，彌補(bǔ)了主控芯片1 口數(shù)量不足。
[0043]在一種優(yōu)選實(shí)施方式中，開關(guān)控制電路還包括電源保護(hù)芯片，參加圖7，所示為本實(shí)用新型提供的控制線路板中的電源保護(hù)芯片的連接圖，每個(gè)從屬電源接口連接一片電源保護(hù)芯片。優(yōu)選地，電源保護(hù)芯片型號(hào)為TPS22980工業(yè)級(jí)芯片。TPS22980芯片包括一使能端、電源輸入端和電源輸出端，其中，電源輸入端與存儲(chǔ)電源接口相連接，電源輸出端與從屬電源接口，使能端與74HC595芯片相連接，間接受控與主控芯片。使能端為高電平時(shí)，電源輸入端和電源輸出端電氣導(dǎo)通，此時(shí)，從屬電源接口輸出電源信號(hào)為被測試存儲(chǔ)設(shè)備提供供電；使能端為低電平時(shí)，電源輸入端和電源輸出端處于斷路狀態(tài)，此時(shí)，從屬電源接口無電源信號(hào)輸出，被測試存儲(chǔ)設(shè)備為斷電狀態(tài)。
[0044]在一種優(yōu)選實(shí)施方式中，測試控制單元2還包括多個(gè)設(shè)置在溫控試驗(yàn)腔體I內(nèi)的擋板(圖2和圖3中并未示出)，擋板用于固定存儲(chǔ)設(shè)備測試接口 21和控制線路板。擋板上設(shè)有使存儲(chǔ)設(shè)備測試接口 21露出擋板正面的凹槽同時(shí)設(shè)有用于固定的螺絲固定孔，存儲(chǔ)設(shè)備測試接口 21為帶螺絲固定位的母座，通過擰緊螺絲將存儲(chǔ)設(shè)備測試接口 21固定在擋板。同樣，擋板上還設(shè)有用于將控制線路板固定在擋板背面的固定孔。
[0045]在一種優(yōu)選實(shí)施方式中，溫控試驗(yàn)腔體I和測試腔體4之間還設(shè)有隔板7。隔板7起到隔熱作用，保證溫控試驗(yàn)腔體I的高低溫環(huán)境不會(huì)影響測試腔體4中測試系統(tǒng)5的正常工作。
[0046]在一種優(yōu)選實(shí)施方式中，溫控試驗(yàn)腔體I靠近測試腔體4 一側(cè)的內(nèi)壁上還設(shè)有多個(gè)與測試腔體4連通的出線孔8，該出線孔8用于連接測試主機(jī)51和測試控制單元2的線纜9的走線，為了保證隔熱性和密閉性，出線孔8與測試系統(tǒng)5和測試控制單元2之間的連接線的尺寸相適應(yīng)。
[0047]在一種優(yōu)選實(shí)施方式中，出線孔8中還設(shè)有絕熱膠泥，絕熱膠泥用于封閉溫控試驗(yàn)腔體I與出線孔8之間的空隙。保證溫控試驗(yàn)腔體I的高低溫環(huán)境不會(huì)影響測試腔體4中測試系統(tǒng)5的正常工作。
[0048]在一種優(yōu)選實(shí)施方式中，還包括常溫測試區(qū)，常溫測試區(qū)設(shè)置在測試腔體4的側(cè)門上，并設(shè)有多個(gè)與測試系統(tǒng)5相連接的存儲(chǔ)設(shè)備測試接口 21。從而能夠滿足多種不同的測試要求。
[0049]現(xiàn)有技術(shù)的高低溫試驗(yàn)箱，制冷/制熱裝置3通常設(shè)置述溫控試驗(yàn)腔體I的下方，但本實(shí)用新型提供的用于存儲(chǔ)設(shè)備的溫控式測試系統(tǒng)的溫控試驗(yàn)腔體I設(shè)有100多個(gè)存儲(chǔ)測試接口，若將制冷/制熱裝置3設(shè)置設(shè)置在下方，在操作上層存儲(chǔ)測試接口時(shí)將導(dǎo)致操作不便；同時(shí)存儲(chǔ)設(shè)備測試接口 21與測試主機(jī)51連接線將變得更長，造成數(shù)據(jù)信號(hào)衰減，從而影響測試結(jié)果的準(zhǔn)確性。
[0050]在一種優(yōu)選實(shí)施方式中，為了盡量縮減測試主機(jī)51與測試控制單元2之間的接線長度，保證數(shù)據(jù)信號(hào)的正常傳輸。測試系統(tǒng)5與溫控試驗(yàn)腔體I左右設(shè)置，測試系統(tǒng)5的多臺(tái)測試主機(jī)51與溫控試驗(yàn)腔體I內(nèi)的多塊測試控制單元2 —一對(duì)應(yīng)且基本處于同一水平位置上。
[0051]在一種優(yōu)選實(shí)施方式中，測試系統(tǒng)還包括網(wǎng)絡(luò)交換機(jī)，實(shí)現(xiàn)系統(tǒng)內(nèi)部的多臺(tái)電腦聯(lián)網(wǎng)集中控制，同時(shí)還可用于與遠(yuǎn)程控制中心相連接，使系統(tǒng)能夠聯(lián)網(wǎng)擴(kuò)展。
[0052]以上實(shí)施例的說明只是用于幫助理解本實(shí)用新型的方法及其核心思想。應(yīng)當(dāng)指出，對(duì)于本技術(shù)領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來說，在不脫離本實(shí)用新型原理的前提下，還可以對(duì)本實(shí)用新型進(jìn)行若干改進(jìn)和修飾，這些改進(jìn)和修飾也落入本實(shí)用新型權(quán)利要求的保護(hù)范圍內(nèi)。
[0053]對(duì)所公開的實(shí)施例的上述說明，使本領(lǐng)域?qū)I(yè)技術(shù)人員能夠?qū)崿F(xiàn)或使用本實(shí)用新型。對(duì)這些實(shí)施例的多種修改對(duì)本領(lǐng)域的專業(yè)技術(shù)人員來說將是顯而易見的，本實(shí)用新型中所定義的一般原理可以在不脫離本實(shí)用新型的精神或范圍的情況下，在其它實(shí)施例中實(shí)現(xiàn)。因此，本實(shí)用新型將不會(huì)被限制于本實(shí)用新型所示的這些實(shí)施例，而是要符合與本實(shí)用新型所公開的原理和新穎特點(diǎn)相一致的最寬的范圍。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種用于存儲(chǔ)設(shè)備的溫控式測試系統(tǒng)，其特征在于，包括溫控試驗(yàn)腔體、置于所述溫控試驗(yàn)腔體內(nèi)的至少一塊測試控制單元、用于在所述溫控試驗(yàn)腔體內(nèi)產(chǎn)生高溫或者低溫的制冷/制熱裝置、與所述溫控試驗(yàn)腔體相鄰設(shè)置的測試腔體、以及置于所述測試腔體內(nèi)用于控制所述制冷/制熱裝置和所述測試控制單元的測試系統(tǒng)，其中， 所述測試系統(tǒng)包括至少一臺(tái)測試主機(jī)，該測試主機(jī)主板上設(shè)有多個(gè)第一存儲(chǔ)數(shù)據(jù)接P ； 所述測試控制單元包括至少一個(gè)用于與被測試存儲(chǔ)設(shè)備相連接的存儲(chǔ)設(shè)備測試接口和控制線路板，所述測試控制單元與所述測試主機(jī)相連接，用于接收所述測試主機(jī)的控制信號(hào)、數(shù)據(jù)信號(hào)和電源信號(hào)；所述存儲(chǔ)設(shè)備測試接口固定在所述測試控制單元上，其正面設(shè)有與被測試存儲(chǔ)設(shè)備相卡合的標(biāo)準(zhǔn)接口，其背面直接設(shè)有與所述標(biāo)準(zhǔn)接口相連接的信號(hào)延長線，所述信號(hào)延長線另一端用于接收數(shù)據(jù)信號(hào)的部分設(shè)有第二存儲(chǔ)數(shù)據(jù)接口，所述第一存儲(chǔ)數(shù)據(jù)接口和所述第二存儲(chǔ)數(shù)據(jù)接口之間對(duì)應(yīng)連接使所述存儲(chǔ)設(shè)備測試接口與所述測試主機(jī)直接連接；所述信號(hào)延長線另一端中用于接收電源信號(hào)的部分設(shè)有存儲(chǔ)電源接口，所述存儲(chǔ)電源接口與所述控制線路板相連接并受控于所述控制線路板。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于存儲(chǔ)設(shè)備的溫控式測試系統(tǒng)，其特征在于，所述第一存儲(chǔ)數(shù)據(jù)接口由該測試主機(jī)主板本身自帶或者通過在該主板上的多個(gè)PC1-E插槽插接存儲(chǔ)數(shù)據(jù)接口擴(kuò)展卡擴(kuò)展得到。3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的用于存儲(chǔ)設(shè)備的溫控式測試系統(tǒng)，其特征在于，所述制冷/制熱裝置設(shè)置在所述溫控試驗(yàn)腔體的上方。4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的用于存儲(chǔ)設(shè)備的溫控式測試系統(tǒng)，其特征在于，所述測試系統(tǒng)與所述溫控試驗(yàn)腔體左右設(shè)置，所述測試系統(tǒng)的多臺(tái)測試主機(jī)與所述溫控試驗(yàn)腔體內(nèi)的多塊測試控制單元一一對(duì)應(yīng)且基本處于同一水平位置上。5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的用于存儲(chǔ)設(shè)備的溫控式測試系統(tǒng)，其特征在于，所述測試控制單元還包括多個(gè)擋板，所述擋板用于固定所述存儲(chǔ)設(shè)備測試接口和所述控制線路板。6.根據(jù)權(quán)利要求4所述的用于存儲(chǔ)設(shè)備的溫控式測試系統(tǒng)，其特征在于，所述溫控試驗(yàn)腔體和所述測試腔體之間還設(shè)有隔板。7.根據(jù)權(quán)利要求4所述的用于存儲(chǔ)設(shè)備的溫控式測試系統(tǒng)，其特征在于，所述溫控試驗(yàn)腔體靠近所述測試腔體一側(cè)的內(nèi)壁上還設(shè)有多個(gè)與所述測試腔體連通的出線孔，所述出線孔與所述測試系統(tǒng)和所述測試控制單元之間的連接線的尺寸相適應(yīng)。8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的用于存儲(chǔ)設(shè)備的溫控式測試系統(tǒng)，其特征在于，所述出線孔中還設(shè)有絕熱膠泥，所述絕熱膠泥用于封閉所述溫控試驗(yàn)腔體的引出連接線與所述出線孔之間的空隙。9.根據(jù)權(quán)利要求4所述的用于存儲(chǔ)設(shè)備的溫控式測試系統(tǒng)，其特征在于，還包括與所述測試主機(jī)相連接的常溫測試區(qū)，所述常溫測試區(qū)設(shè)置在所述測試腔體的側(cè)門上，并設(shè)有多個(gè)與所述測試系統(tǒng)相連接的存儲(chǔ)設(shè)備測試接口。10.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于存儲(chǔ)設(shè)備的溫控式測試系統(tǒng)，其特征在于，所述存儲(chǔ)設(shè)備測試接口為SATA接口、SAS接口、PC1-E接口或USB接口中的一種或者幾種組合；所述第一存儲(chǔ)數(shù)據(jù)接口或所述第二存儲(chǔ)數(shù)據(jù)接口為SATA接口、SAS接口、PC1-E接口或USB接口中的任一種；所述控制線路板與所述測試主機(jī)之間通過SATA、SAS、PC1-E、UART或USB等數(shù)據(jù)總線相連接。
【專利摘要】本實(shí)用新型涉及一種用于存儲(chǔ)設(shè)備的溫控式測試系統(tǒng)，包括溫控試驗(yàn)腔體、置于所述溫控試驗(yàn)腔體內(nèi)的至少一塊測試控制單元、用于在所述溫控試驗(yàn)腔體內(nèi)產(chǎn)生高溫或者低溫的制冷/制熱裝置、與所述溫控試驗(yàn)腔體相鄰設(shè)置的測試腔體、以及置于所述測試腔體用于控制所述制冷/制熱裝置和所述測試控制單元的測試系統(tǒng)。采用本實(shí)用新型的技術(shù)方案，通過將存儲(chǔ)設(shè)備測試接口固定在測試控制單元上，并在存儲(chǔ)設(shè)備測試接口的背面通過線纜引出存儲(chǔ)數(shù)據(jù)接口使其直接插接在測試主機(jī)的主板上，從而存儲(chǔ)設(shè)備的數(shù)據(jù)信號(hào)無需經(jīng)過測試板中轉(zhuǎn)，使存儲(chǔ)數(shù)據(jù)信號(hào)的傳輸更為穩(wěn)定，大大提高了測試的可靠性和標(biāo)準(zhǔn)性。
【IPC分類】G11C29/56
【公開號(hào)】CN204904845
【申請(qǐng)?zhí)枴緾N201520674706
【發(fā)明人】車嶸, 駱建軍, 章浙源
【申請(qǐng)人】杭州華瀾微電子股份有限公司
【公開日】2015年12月23日
【申請(qǐng)日】2015年9月1日