RPE)中除去由tar引起的成分而得到的波形幾乎為零，所以在包含噪聲等的情況下，難以根據(jù)該數(shù)據(jù)推定長周期的e U)。
[0140]若能夠如上所述地獲取e (X)的數(shù)據(jù)列，則能夠變換為f (x)=e (x)+x的數(shù)據(jù)列。因此，該數(shù)據(jù)列能夠通過用內(nèi)插求出滿足f (v)=f (X)+d的V、并用最小二乘樣條法等對“X與V (X)的關(guān)系”、“X與V (X)-X的關(guān)系”或“X與V (X)-x-d的關(guān)系”進(jìn)行函數(shù)近似，從而適用于偏移修正。
[0141]圖28是表示根據(jù)在圖15中得到的e (x)的數(shù)據(jù)列而求出修正量內(nèi)插值vi并算出樣條函數(shù)的系數(shù)的步驟的流程圖。在圖28中，示出了在d > O的情況下、區(qū)間為x[i_init]?x[i_end]的例子。在此，d為如圖5所示的“幾何R/W偏移”，根據(jù)全部區(qū)域中的多點(diǎn)的偏移測定值和幾何關(guān)系，進(jìn)行內(nèi)插而得到半徑位置的值。
[0142]參照圖28說明根據(jù)e (X)的數(shù)據(jù)列求出修正量內(nèi)插值vi而算出樣條函數(shù)的系數(shù)的步驟。在圖28中，使一個(gè)3次樣條曲線的區(qū)間的磁道坐標(biāo)為x[i_init]?x[i_end]。在該區(qū)間內(nèi)，按照圖15的步驟獲取(i_end-1_init+l)個(gè)磁道誤差e (x[i])的數(shù)據(jù)。在此，為了方便起見，將e (x[i])表示為e[i]。在S300中，將區(qū)間的最初的編號設(shè)為計(jì)數(shù)i，在S302中，算出包含磁道x[i]的誤差在內(nèi)的絕對坐標(biāo)值y。y在幾何學(xué)上為RWO (d)與磁道的絕對坐標(biāo)即f (X) =e (X)+X的和。通過S303、S304搜索f (x)=e (x)+x超過y的j，在S305中根據(jù)第(j-Ι)個(gè)和第j個(gè)數(shù)據(jù)進(jìn)行直線內(nèi)插而求出vi [i]。重復(fù)該步驟直到i到達(dá)i_end,根據(jù)得到的vi[i_init]?vi[i_end]的數(shù)據(jù)列求出對于該區(qū)間的最小二乘樣條函數(shù)的系數(shù)。
[0143]以下，參照圖29至圖31，示出與本實(shí)施方式的磁道偏差的推定和根據(jù)其推定值求出的修正量相關(guān)的例子。
[0144]圖29是表示根據(jù)圖27的磁道偏差的數(shù)據(jù)算出的v (X)的樣條近似函數(shù)(10軌道數(shù)據(jù)/區(qū)塊)的例子的圖。在圖29中，重疊地描繪了根據(jù)f (v)=f (x)+d而通過Newton法求出的V U)、通過內(nèi)插求出的V U)、及根據(jù)通過最小二乘樣條法求出的系數(shù)而算出的結(jié)果。在圖29中，表示這些的線基本一致。
[0145]圖30是表示根據(jù)圖27的磁道偏差算出的修正量V (x)-x-d的樣條函數(shù)的示例的圖。在圖30中，重疊地描繪有修正量V (X)-x-d、通過內(nèi)插求出的V (X)、及根據(jù)通過“最小二乘樣條法”求出的系數(shù)算出的V (x)0在圖30中，表示這些的線基本一致。
[0146]圖31是表示樣條近似的相對于V (x)的近似誤差的示例的圖。在圖31中，橫軸為磁道，縱軸為近似誤差。在圖31所示的例子中，樣條近似的相對于V (X)的近似誤差不足 0.05。
[0147]通過以上的方法，在磁道偏差的周期短的情況下，不向數(shù)據(jù)扇區(qū)追加寫入位置信號，就能夠根據(jù)位置誤差信號獲取修正函數(shù)參數(shù)。
[0148]此外，在本實(shí)施方式中作為修正對象的R/W偏移的誤差不用于數(shù)據(jù)的寫入時(shí)。在本實(shí)施方式中，不進(jìn)行用于得到修正值的、向數(shù)據(jù)區(qū)域進(jìn)行的寫入，因此也能夠在產(chǎn)品出貨后生成修正數(shù)據(jù)。即，能夠在進(jìn)行數(shù)據(jù)寫入后僅在發(fā)生Read error的區(qū)域?qū)嵤┍緦?shí)施方式中的根據(jù)推算的磁道偏差獲取修正值的操作。
[0149]在本實(shí)施方式中，例如，上述的樣條函數(shù)等近似內(nèi)插函數(shù)保持在非易失性存儲器11或磁盤等中，修正值的計(jì)算及處理由MPUlO等執(zhí)行。此外，也可以通過在保持于圖12的RROl、RR02中的信息中添加算出的偏移修正值來保持偏移修正信息。此外，用于推定磁道偏差e (x)的推定部等也可以設(shè)置在磁盤裝置I中。
[0150]根據(jù)以上的上述實(shí)施方式，能夠在STW中獲取修正值V (x)-x的數(shù)據(jù)，因此能夠不增加制造工序中的調(diào)整時(shí)間地執(zhí)行修正值獲取。此外，在上述的實(shí)施方式中，內(nèi)插近似函數(shù)為樣條函數(shù)，但內(nèi)插函數(shù)也可以不是樣條函數(shù)。在上述實(shí)施方式中，例如內(nèi)插函數(shù)可以是拉格朗日函數(shù)。
[0151]以上說明了本發(fā)明的數(shù)個(gè)實(shí)施方式，但這些實(shí)施方式是作為示例而提出的，并不意圖限定發(fā)明的范圍。這些新的實(shí)施方式能夠以其他各種方式實(shí)施，能夠在不脫離發(fā)明的主旨的范圍內(nèi)進(jìn)行各種省略、置換、變更。這些實(shí)施方式和其變形包含在發(fā)明的范圍和主旨中，并且包含在權(quán)利要求書所記載的發(fā)明及其均等的范圍內(nèi)。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種讀寫偏移的修正方法，該方法適用于具有磁頭和磁盤的磁盤裝置，所述磁頭具有進(jìn)行數(shù)據(jù)的讀取的再現(xiàn)頭元件和進(jìn)行寫入的記錄頭元件，所述磁盤具有記錄面，該方法的特征在于，包括如下步驟: 使用樣條函數(shù)來對通過所述再現(xiàn)頭讀取的位置數(shù)據(jù)進(jìn)行重構(gòu)； 使用重構(gòu)的所述位置數(shù)據(jù)來修正由所述記錄頭元件與所述再現(xiàn)頭元件的相距距離引起的讀寫偏移。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的讀寫偏移的修正方法，其特征在于，包括如下步驟: 通過所述記錄頭元件對所述記錄面上的伺服扇區(qū)和與該伺服扇區(qū)相鄰的數(shù)據(jù)扇區(qū)寫入位置解調(diào)用的伺服圖案； 通過所述再現(xiàn)頭元件讀入被寫入到所述數(shù)據(jù)扇區(qū)中的所述位置解調(diào)用的伺服圖案；使用通過讀入被寫入到所述數(shù)據(jù)扇區(qū)中的所述位置解調(diào)用的伺服圖案而獲取的所述位置數(shù)據(jù)，求出用于定義樣條函數(shù)的系數(shù)。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的讀寫偏移的修正方法，其特征在于，包括如下步驟: 在塊組寫入方式的自伺服磁道寫入期間實(shí)施:通過所述記錄頭元件寫入所述位置解調(diào)用的伺服圖案、和通過所述再現(xiàn)頭元件讀入被寫入的所述位置解調(diào)用的伺服圖案； 在所述自伺服磁道寫入期間、或在所述自伺服磁道寫入后實(shí)施:使用通過由所述再現(xiàn)頭元件進(jìn)行讀入而獲取的所述位置數(shù)據(jù)，求出用于定義所述樣條函數(shù)的系數(shù)。
4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的讀寫偏移的修正方法，其特征在于，包括如下步驟:通過最小二乘樣條法求出所述樣條函數(shù)的系數(shù)。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的讀寫偏移的修正方法，其特征在于，包括如下步驟: 根據(jù)位置誤差信號推定磁道偏差； 使用所述推定的磁道偏差來求出定義樣條函數(shù)的系數(shù)，該樣條函數(shù)用于求出對于作為位置誤差的測定對象的磁道的、讀寫偏移的修正值。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的讀寫偏移的修正方法，其特征在于，包括如下步驟: 對一周的伺服扇區(qū)提供呈正弦波狀變化的目標(biāo)偏移值； 測定在所述磁道中控制所述磁頭使其追隨在該磁道的中心的值加上所述伺服扇區(qū)的所述目標(biāo)偏移值而得到的目標(biāo)軌道時(shí)的位置誤差信號； 通過具有追隨控制系統(tǒng)的靈敏度函數(shù)的逆特性的濾波器，處理一周量的所述位置誤差信號的數(shù)據(jù)； 按扇區(qū)進(jìn)行所述目標(biāo)偏移值的減法運(yùn)算； 將按所述扇區(qū)進(jìn)行所述目標(biāo)偏移值的減法運(yùn)算而獲取的值，加到按所述扇區(qū)加上了所述目標(biāo)偏移值的所述磁道的累計(jì)值上； 用按所述磁道的加法運(yùn)算次數(shù)來除所述累計(jì)值，得到推定值。
7.一種磁盤裝置，其特征在于，包括: 磁頭，其具有進(jìn)行數(shù)據(jù)的讀取的再現(xiàn)頭元件和進(jìn)行寫入的記錄頭元件； 磁盤，其具有與所述磁頭相對的記錄面； 執(zhí)行機(jī)構(gòu)，其在前端具有所述磁頭；以及 控制器，其實(shí)施所述執(zhí)行機(jī)構(gòu)的驅(qū)動控制的處理， 所述控制器使用樣條函數(shù)對由所述再現(xiàn)頭讀取的位置數(shù)據(jù)進(jìn)行重構(gòu)，使用重構(gòu)的所述位置數(shù)據(jù)算出由所述記錄頭元件與所述再現(xiàn)頭元件的相距距離引起的讀寫偏移的修正值，基于所述修正值實(shí)施驅(qū)動控制的處理。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的磁盤裝置，其特征在于， 所述記錄頭對所述記錄面上的伺服扇區(qū)和與該伺服扇區(qū)相鄰的數(shù)據(jù)扇區(qū)寫入位置解調(diào)用的伺服圖案， 所述再現(xiàn)頭讀取被寫入到所述數(shù)據(jù)扇區(qū)中的所述位置解調(diào)用的伺服圖案， 所述控制器使用通過讀取被寫入到所述數(shù)據(jù)扇區(qū)中的所述位置解調(diào)用的伺服圖案而獲取的所述位置數(shù)據(jù)，算出定義樣條函數(shù)的系數(shù)。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的磁盤裝置，其特征在于， 該磁盤裝置是執(zhí)行塊組寫入方式的自伺服磁道寫入的磁盤裝置， 所述記錄頭元件在所述自伺服磁道寫入期間寫入所述位置解調(diào)用的伺服圖案， 所述再現(xiàn)頭元件在所述自伺服磁道寫入期間讀入所述位置解調(diào)用的伺服圖案， 所述控制器在所述自伺服磁道寫入期間、或在所述自伺服磁道寫入后，使用由所述再現(xiàn)頭元件讀入的所述位置數(shù)據(jù)來算出定義所述樣條函數(shù)的系數(shù)。
10.根據(jù)權(quán)利要求8所述的磁盤裝置，其特征在于，所述控制器通過最小二乘樣條法算出所述樣條函數(shù)的系數(shù)。
11.根據(jù)權(quán)利要求7所述的磁盤裝置，其特征在于， 所述控制器進(jìn)行根據(jù)從所述磁頭獲取的位置誤差信號來推定磁道偏差的處理，并使用所述推定的磁道偏差來算出定義樣條函數(shù)的系數(shù)，該樣條函數(shù)用于算出相對于作為位置誤差的測定對象的磁道的、讀寫偏移的修正值。
12.根據(jù)權(quán)利要求11所述的磁盤裝置，其特征在于， 所述控制器對一周的伺服扇區(qū)提供呈正弦波狀變化的目標(biāo)偏移值， 測定在所述磁道中控制所述磁頭使其追隨在該磁道的中心的值加上所述伺服扇區(qū)的所述目標(biāo)偏移值而得到的目標(biāo)軌道時(shí)的位置誤差信號， 通過具有追隨控制系統(tǒng)的靈敏度函數(shù)的逆特性的濾波器，處理所述磁道的一周量的所述位置誤差信號的數(shù)據(jù)， 按扇區(qū)進(jìn)行所述目標(biāo)偏移值的減法運(yùn)算， 將按所述扇區(qū)進(jìn)行所述目標(biāo)偏移值的減法運(yùn)算而獲取的值，加到按所述扇區(qū)加上了所述目標(biāo)偏移值的所述磁道的累計(jì)值上， 用按所述磁道的加法運(yùn)算次數(shù)來除所述累計(jì)值，得到推定值。
【專利摘要】本發(fā)明提供一種磁盤裝置及讀寫偏移的修正方法。實(shí)施方式涉及的磁盤裝置具有：包括進(jìn)行數(shù)據(jù)的讀取的再現(xiàn)頭元件和進(jìn)行寫入的記錄頭元件的磁頭；和具有記錄面的磁盤。實(shí)施方式涉及的用于修正讀寫偏移的方法適用于如上所述的磁盤裝置。本實(shí)施方式涉及的上述修正讀寫偏移的方法包括使用樣條函數(shù)對由所述再現(xiàn)頭讀取的位置數(shù)據(jù)進(jìn)行重構(gòu)的過程，該方法是使用該重構(gòu)的位置數(shù)據(jù)來修正由記錄頭元件與再現(xiàn)頭元件的相距距離引起的讀寫偏移的方法。
【IPC分類】G11B5-02
【公開號】CN104715762
【申請?zhí)枴緾N201410074672
【發(fā)明人】山田朋良
【申請人】株式會社東芝
【公開日】2015年6月17日
【申請日】2014年3月3日
【公告號】US8964325