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光學讀取裝置的制作方法

文檔序號:6747019閱讀:133來源:國知局
專利名稱:光學讀取裝置的制作方法
技術領域
本發(fā)明涉及光盤機,具體地說,涉及用于小尺寸光盤機的光學讀取裝置。
光學讀取裝置是通過激光束把信息記錄在光盤上或把記錄在光盤上的信息讀出的裝置。光學讀取裝置安裝在光盤的下方,并從光盤的中心向外緣線性移動,以便查詢所需要的光盤軌道位置。通過光學讀取裝置,把全息元件發(fā)出的光束投射到形成于光盤記錄表面的凹坑處。當所述光束從光盤上反射時,光學讀取裝置從通過一個光學系統(tǒng)的反射光束探測數(shù)字信號。所探測到的數(shù)字信號通過D/A轉換器轉換為模擬信號,以便再現(xiàn)記錄在光盤上的信息。
通常,光學讀取裝置包括一個用于產(chǎn)生激光束的光源,一個分束器,用于把光源發(fā)出的激光束傳輸?shù)轿镧R,該物鏡把激光束聚焦到光盤表面,以及一個光電二極管,用于接收從光盤表面反射的激光束。
記錄信息的信息軌道以同心或螺旋線形式形成在光盤的記錄面上,光學讀取裝置向信息軌道發(fā)射激光束,以便把信息記錄在光盤的預定位置或者從預定位置再現(xiàn)信息。
為了精確的記錄或再現(xiàn)信息,應該進行聚焦誤差控制和尋軌誤差控制。也就是說,在光盤機工作時,從光學讀取裝置發(fā)射到信息軌道的激光束應該跟蹤信息軌道。而且,從光盤記錄面到物鏡的距離應該保持不變。因此,光盤記錄/再現(xiàn)裝置利用從信息軌道反射的光束檢測伺服誤差信號,該伺服誤差信號包括聚焦誤差信號和尋軌誤差信號,并根據(jù)檢測到的伺服誤差信號向聚焦電路和尋軌電路施加電信號,從而沿聚焦方向和尋軌方向移動光學讀取裝置。
圖5示出一個傳統(tǒng)的光學讀取裝置10。如圖5所示,傳統(tǒng)光學讀取裝置10包括軛板44,懸置支撐板46與其相連,和一個物鏡架14,該物鏡架14通過懸置件50懸架在軛板44的上方,并支撐物鏡12。
在軛板44的中央形成一個激光束通過的孔45,以便允許激光束從此通過,一對內(nèi)磁軛38、40和一對外磁軛36、42彼此相對地設置在軛板上。內(nèi)磁軛38和40分別被聚焦線圈24和26包圍。永久磁鐵32和34分別設置在內(nèi)磁軛38和外磁軛36之間及內(nèi)磁軛40和外磁軛42之間。而且,尋軌線圈28和30分別設置在聚焦線圈24和永久磁鐵32之間及聚焦線圈26和永久磁鐵34之間。懸置支撐板46與軛板44的一端相連,端板48與懸置支撐板46的后面相連。
懸置件50由導電材料制成,并通過端板48接收來自電流源(未示出)的電流。每個懸置件50的一端穿過懸置支撐板46固定在端板48上,每個懸置件50的另一端固定在支撐件16和18上,支撐件16和18與物鏡架14的兩端一體形成。
具有上述結構的光學讀取裝置10按如下方式工作。
首先,當光盤例如CD放入光盤機的光盤盒中時,光學讀取裝置10通過驅動裝置(未示出)移動到光盤放置位置。然后,激光束從激光光源(未示出)通過物鏡12發(fā)射到光盤的記錄面。之后,激光束從記錄面反射并輸入光探測器(未示出)。
接收到反射光束以后,光探測器檢測由于光盤的垂直移動引起的聚焦誤差和由于光盤的徑向移動引起的尋軌誤差,并把聚焦和尋軌的誤差信號傳送至微型計算機(未示出)。然后,為了校正聚焦誤差和尋軌誤差,微型計算機向聚焦電路和尋軌電路發(fā)送電信號,以便向聚焦線圈24和26及尋軌線圈28和30施加電流。當向聚焦線圈24和26施加電流時,物鏡架14通過永久磁鐵32和34及聚焦線圈24和26之間的電磁作用沿聚焦方向F移動,從而校正聚焦誤差。
此外,當向尋軌線圈28和30施加電流時,物鏡架14通過永久磁鐵32和34及尋軌線圈28和30之間發(fā)生的電磁作用沿尋軌方向T移動,從而校正尋軌誤差。
然而,為了在聚焦方向或尋軌方向精確移動物鏡架14,尋軌和聚焦線圈應該精確放置在它們相對永久磁鐵32和34的工作位置上。雖然聚焦線圈24和26可以相對永久磁鐵32和34精確地盤繞在物鏡架14的周圍,但是把尋軌線圈28和30精確安裝在它們相對永久磁鐵32和34的工作位置上是困難的。
因此。生產(chǎn)者應該校正尋軌線圈28和30的位置,以便在尋軌線圈28和30臨時固定在聚焦線圈24和26上的條件下獲得相對永久磁鐵32和34的精確位置。因此,把尋軌線圈28和30安裝到聚焦線圈24和26的過程非常復雜,致使讀取裝置10的生產(chǎn)率下降。
此外,當施加電流時,附著在聚焦線圈24和26上的尋軌線圈28和30與永久磁鐵32和34之間產(chǎn)生電磁作用,以便沿尋軌方向移動物鏡架14。然而,因為只有尋軌線圈28和30彼此相對的側面相對永久磁鐵32和34產(chǎn)生電磁作用,所以工作效率降低。
此外,在軛板44上通過彎曲工藝設置一對外磁軛36和42、一對內(nèi)磁軛38和40及懸置支撐板46;其中所述的一對外磁軛36和42用于把永久磁鐵32和34固定在上面,一對內(nèi)磁軛38和40用于形成閉合磁路,懸置支撐板46用于把端板48固定上面。所述這種彎曲工藝需要精確地完成,所以工作效率降低。
此外,傳統(tǒng)的光學讀取裝置需要一對內(nèi)磁軛38和40、一對外磁軛36和42、一對聚焦線圈24和26、兩對尋軌線圈28和30以及一對永久磁鐵32和34,所以上面安裝有上述元件的軛板44應該設計成具有相當大的尺寸。因此,不僅需要許多安裝步驟,而且難以制成小尺寸的光學讀取裝置。
本發(fā)明就是為了克服現(xiàn)有技術的上述問題,因此本發(fā)明的目的是提供一種能夠制成尺寸很小的結構簡單的光學讀取裝置,而且其中的聚焦線圈和尋軌線圈可以容易地安裝在光學讀取裝置中。
為達到上述目的,本發(fā)明提供一種光學讀取裝置,包括一個基板,在該基板的一端提供一個向上突起的支撐板;一個永久磁鐵,安裝在所述支撐板的前表面;一個膠質(zhì)架,固定在基板的上表面;一個懸置件PCB,安裝在所述膠質(zhì)容器的后表面;一個線圈型芯,安裝在所述永久磁鐵的前面,與所述永久磁鐵相距預定距離;一個聚焦線圈和一個尋軌線圈,彼此互相垂直地盤繞在所述線圈型芯周圍;一對線圈用PCB,安裝在所述線圈型芯的前表面,聚焦線圈和尋軌線圈與它相連;一個物鏡架,物鏡安裝在上面,所述物鏡架安裝在所述的一對線圈用PCB的前表面;以及兩對懸置線,用于按下述方式懸置物鏡架,即物鏡架可以沿聚焦方向和尋軌方向移動,每對懸置線從懸置件PCB處延伸,分別通過膠質(zhì)容器與一對線圈用PCB的后表面相連。
根據(jù)本發(fā)明的最佳實施例,所述線圈型芯呈一個水平的H形狀,由上梁、與上梁平行的下梁和上下梁之間的支柱構成。聚焦線圈盤繞在所述支柱的周圍,尋軌線圈盤繞在所述上下梁的周圍。
在上梁的中部設置有上頸部,該部分的寬度小于上梁的寬度,在下梁的中部設置有下頸部,該部分的寬度小于下梁的寬度。尋軌線圈盤繞在上下頸部上。
上述結構的光學讀取裝置的工作過程如下。
全息元件發(fā)出的激光束通過反射鏡投射到物鏡。投射到物鏡的激光束通過物鏡聚焦到光盤的記錄面上,并從光盤的記錄面上反射。然后,反射光束通過物鏡輸入到全息元件內(nèi)的光探測器中。光探測器根據(jù)反射光束檢測尋軌和聚焦誤差,并把尋軌和聚焦誤差信號傳送給微型計算機。根據(jù)接收到的尋軌和聚焦誤差信號,微型計算機向電流源發(fā)送電流供給信號,以便從電流源向尋軌和聚焦線圈發(fā)送電流。
當電流傳送至尋軌/聚焦線圈時,在尋軌/聚焦線圈和永久磁鐵之間產(chǎn)生洛倫茲力,所以尋軌/聚焦線圈在尋軌/聚焦方向移動。因此,與線圈型芯連接的物鏡架沿尋軌方向移動,以便把物鏡設置在精確的尋軌/聚焦位置,從而校正由于光盤的徑向偏差引起的尋軌/聚焦誤差。
在光學讀取裝置工作過程中連續(xù)進行聚焦控制和尋軌控制,以便精確地把信息記錄在光盤上或再現(xiàn)光盤上的信息。
如上所述,根據(jù)本發(fā)明的光學讀取裝置,尋軌和聚焦線圈可以相對永久磁鐵精確定位,而且可以容易地盤繞在線圈型芯周圍,所以裝配工作可以容易地完成。
此外,尋軌線圈與永久磁鐵之間充分地產(chǎn)生電磁作用,所以提高了工作效率。
此外,因為不需在基板上安裝多個元件,例如外磁軛和內(nèi)磁軛,所以基板的結構簡單。
因為基板可以制成小尺寸,所以光學讀取裝置也可以制成小尺寸。
通過結合附圖詳細描述最佳實施例,本發(fā)明的上述目的和其他優(yōu)點將變得更加清楚。其中

圖1是根據(jù)本發(fā)明的第一實施例的光學讀取裝置的分解透視圖;圖2是根據(jù)本發(fā)明的第一實施例的光學讀取裝置的裝配透視圖;圖3是根據(jù)本發(fā)明的第二實施例的光學讀取裝置的分解透視圖;圖4是根據(jù)本發(fā)明的第二實施例的光學讀取裝置的裝配透視圖;以及圖5是傳統(tǒng)光學讀取裝置的透視圖。
下面,結合附圖詳細描述本發(fā)明的優(yōu)選實施例。
圖1和圖2示出根據(jù)本發(fā)明的第一實施例的光學讀取裝置100。
如圖1和圖2所示,光學讀取裝置100包括基板160,在基板160的一端提供一個向上突起的支撐板164。一個永久磁鐵168安裝在所述支撐板164的前表面。在本申請中,前表面或前邊意味著與光學讀取裝置100的前邊相應的位置,如圖1和2中的箭頭105所示,后表面或后邊意味著與光學讀取裝置100的后邊相應的位置,如圖1和2中的箭頭107所示。
一個膠質(zhì)架148固定在基板160的上表面,膠質(zhì)架148內(nèi)裝有用于減小振動的阻尼凝膠;一個懸置件PCB152安裝在所述膠質(zhì)架148的后表面;一個線圈型芯101安裝在所述永久磁鐵168的前面,與所述永久磁鐵168相距預定的距離,一個聚焦線圈128和一個尋軌線圈124彼此互相垂直地盤繞在所述線圈型芯101的周圍;在線圈型芯101的前表面安裝有一對線圈用PCB134,聚焦線圈128和尋軌線圈124與線圈用PCB134相連。
一個物鏡架110安裝在所述的一對線圈用PCB134的前表面,物鏡114安裝在物鏡架110上。物鏡114形成在物鏡架110的上表面,在物鏡架110的上表面形成有透鏡座112,物鏡114安裝在透鏡座112中。此外,兩對懸置線158從懸置件用PCB152處延伸,并分別通過膠質(zhì)架148與一對線圈用PCB134的后表面相連。兩對懸置線158用于按下述方式懸置物鏡架110,即物鏡架110可以沿聚焦方向F或尋軌方向T移動。
在膠質(zhì)架148的前表面形成有矩形槽147,支撐件140放置在矩形槽147中。在支撐件140的中央部分形成有螺孔155。此外,分別在膠質(zhì)架148和懸置件用PCB 152的中央部分形成有第一和第二鉆孔150和154。第一螺栓156通過第一和第二鉆孔150和154旋入第一螺孔155中,以便膠質(zhì)架148和懸置件用PCB152固定支撐在基板160中。
此外,在支撐件140的下部具有一對固定板144。每個固定板144具有一個螺孔146。一對第二螺栓170通過一對第三鉆孔162旋入螺孔146中,以便支撐件140固定在基板160的上表面。
在支撐板164的前下部一體地提供有一對凸起166。永久磁鐵168通過紫外粘合劑粘附在支撐板164的前表面上,同時支撐在凸起166上。
在線圈型芯101的前表面一體提供至少一個連接栓130,在物鏡架110的后表面一體提供至少一個連接孔116,連接栓130插入連接孔116中。此外,在線圈型芯101的前表面形成一對凹槽132,所述的一對線圈用PCB134部分插入一對凹槽132中。所述的一對線圈用PCB134通過紫外粘合劑粘附在線圈型芯101的凹槽132中。此外,物鏡架110也通過紫外粘合劑粘附在線圈用PCB134的前表面。因此,當物鏡架110粘附在線圈用PCB134上時,線圈型芯101被線圈用PCB134與物鏡架110隔開一個預定距離,以便盤繞在線圈型芯101周圍的尋軌和聚焦線圈124和128不與物鏡架110的后表面接觸。
線圈型芯101呈一個水平的H形狀,由上梁120、與上梁120平行的下梁129和位于上梁120和下梁129之間的支柱126構成。聚焦線圈128盤繞在所述支柱126的周圍,尋軌線圈124盤繞在上梁120的下梁129的周圍。
為了能夠容易地把尋軌線圈124盤繞在上梁120和下梁129上,在上梁120的中部設置有上頸部121,該頸部121的寬度小于上梁120的寬度,在下梁129的中部設置有下頸部122,該部分的寬度小于下梁129的寬度。尋軌線圈124盤繞在上頸部121和下頸部122上。因此,尋軌和聚焦線圈124和128可以相對永久磁鐵168精確定位。采用這種結構,可以形成很大的與永久磁鐵168產(chǎn)生電磁作用的尋軌線圈124的后表面,所以工作效率提高。
具有上述結構的光學讀取裝置的工作過程如下。
首先,全息元件(未示出)發(fā)出的激光束通過反射鏡部分(未示出)投射到物鏡114。投射到物鏡114的激光束通過物鏡114聚焦到光盤的記錄面上,并從光盤的記錄面上反射。然后,反射光束通過物鏡114輸入到全息元件內(nèi)的光探測器中。光探測器根據(jù)反射光束檢測尋軌和聚焦誤差,并把尋軌和聚焦誤差信號傳送給微型計算機(未示出)。一但接收到尋軌和聚焦誤差信號,微型計算機就向電流源發(fā)送電流供給信號,以便從電流源向尋軌線圈124和聚焦線圈128發(fā)送電流。
當電流傳送至尋軌線圈124時,在尋軌線圈124和永久磁鐵168之間產(chǎn)生洛倫茲力,所以尋軌線圈沿T方向移動。因此,與線圈型芯101連接的物鏡架110沿尋軌方向T移動,以便把物鏡114設置在精確的尋軌位置,從而校正由于光盤的徑向偏差引起的尋軌誤差。
同時,當電流傳送至聚焦線圈128時,在聚焦線圈128和永久磁鐵168之間產(chǎn)生洛倫茲力,以便物鏡架110沿聚焦方向F移動。因此,固定在物鏡架110上表面的物鏡114沿聚焦方向F移動,從而校正由于光盤的垂直移動引起的聚焦誤差。
在光學讀取裝置工作過程中連續(xù)進行聚焦控制和尋軌控制,以便精確地把信息記錄在光盤上或再現(xiàn)光盤上的信息。
如上所述,根據(jù)本發(fā)明的光學讀取裝置,尋軌和聚焦線圈可以相對永久磁鐵精確定位,而且可以容易地盤繞在線圈型芯周圍,所以裝配工作可以容易地完成。
此外,尋軌線圈與永久磁鐵之間充分地產(chǎn)生電磁作用,所以提高了工作效率。
此外,因為不需在基板上安裝多個元件,例如外磁軛和內(nèi)磁軛,所以基板的結構簡單。
因為基板可以制成小尺寸,所以光學讀取裝置也可以制成小尺寸。
另一方面,圖3和圖4示出根據(jù)本發(fā)明的第二實施例的光學讀取裝置200。
如圖所示,根據(jù)本發(fā)明的第二實施例的光學讀取裝置200具有基板260,在基板260的第一端具有向上凸起的第一支撐板262,在第二端具有向上凸起的第二支撐板265。第一支撐板262和第二支撐板265通過彎曲基板260的兩端形成。當?shù)诙伟?65彎曲時,在基板260的后端形成一對支撐件268。
一個永久磁鐵276安裝在所述第一支撐板262的后表面,一個膠質(zhì)架246固定在第二支撐板265的后表面,膠質(zhì)架246內(nèi)裝有阻尼凝膠。一個懸置件PCB240安裝在所述膠質(zhì)架246的后表面。一個線圈型芯220安裝在鄰近永久磁鐵276的后表面處,一個聚焦線圈280和一個尋軌線圈270彼此互相垂直地盤繞在線圈型芯220的周圍。
在線圈型芯220的兩邊安裝有一對線圈用PCB234,聚焦線圈280和尋軌線圈270與線圈用PCB134相連。線圈用PCB134通過紫外粘合劑粘附在線圈型芯220上。一個物鏡架210安裝在線圈型芯220的后表面,物鏡212安裝在物鏡架210上。此外,兩對懸置線242從懸置件PCB240處延伸,并通過膠質(zhì)架246與一對線圈用PCB234的側壁相連,兩對懸置線242用于按下述方式懸置物鏡架210,即物鏡架210可以沿聚焦方向或尋軌方向移動。
在膠質(zhì)架246的前表面形成有矩形槽247,第二支撐板265放置在矩形槽247中。在懸置件PCB240和膠質(zhì)架246的上部形成有第一和第二鉆孔244和248。一個螺栓250通過第一和第二鉆孔244和248旋入螺孔266中,螺孔266形成在第二支撐板265的上部,以便懸置件PCB240和膠質(zhì)架246可以固定到第二支撐板265中。
在基板260的鄰近第一支撐板262的上表面一體地提供有一對凸起264。永久磁鐵276通過紫外粘合劑粘附在第一支撐板262的后表面上,同時支撐在凸起264上。
線圈型芯220呈一個水平的H形狀,由上梁222、與上梁222平行的下梁224和位于上梁222和下梁224之間的支柱226構成。聚焦線圈280盤繞在支柱226的周圍,尋軌線圈270盤繞在上梁222和下梁224的周圍。
此外,在上梁222的上表面彼此相對地一體提供一對上擋板228,上擋板228寬度大于上梁222的寬度,在下梁224的下面彼此相對地一體地提供有一對下?lián)醢?30,下?lián)醢?30的寬度大于下梁224的寬度。由于上擋板228和下?lián)醢?30,所以尋軌線圈270和聚焦線圈280不與永久磁鐵276接觸。
在每個上擋板228的后表面提供有連接栓232,在每個下?lián)醢?30的后表面提供有連接栓233。在物鏡架210的前表面形成有多個連接孔216,上連接栓232和下連接栓233插入連接孔216中。
為了能夠容易地把尋軌線圈270盤繞在上梁222和下梁224上,在上梁222的中部設置有上頸部272,該上頸部272的寬度小于上梁222的寬度,在下梁224的中部設置有下頸部282,該下頸部282的寬度小于下梁224的寬度。尋軌線圈270盤繞在上頸部272和下頸部282上。
因此,與本發(fā)明的第一實施例類似,尋軌線圈270和聚焦線圈280根據(jù)本發(fā)明的第二實施例可以相對永久磁鐵276精確定位。
雖然結合優(yōu)選實施例特別示出和描述了本發(fā)明,但本領域的技術人員應該明白,可以在形式和細節(jié)上進行各種變形,而不脫離本發(fā)明的精神和權利要求書所限定的范圍。
權利要求
1.一種光學讀取裝置,包括一個基板,在該基板的一端提供一個向上突起的支撐板;一個永久磁鐵,安裝在所述支撐板的前表面;一個膠質(zhì)架,固定在基板的上表面;一個懸置件用PCB,安裝在所述膠質(zhì)架的后表面;一個線圈型芯,安裝在所述永久磁鐵的前面,與所述永久磁鐵相距預定距離;一個聚焦線圈和一個尋軌線圈,彼此互相垂直地盤繞在所述線圈型芯周圍;一對線圈用PCB,安裝在所述線圈型芯的前表面,聚焦線圈和尋軌線圈與它相連;一個物鏡架,物鏡安裝在上面,所述物鏡架安裝在所述的一對線圈用PCB的前表面;以及兩對懸置線,用于按下述方式懸置物鏡架,即物鏡架可以沿聚焦方向或尋軌方向移動,每對懸置線從懸置件PCB處延伸,分別通過膠質(zhì)架與一對線圈用PCB的后表面相連。
2.如權利要求1所述的光學讀取裝置,其中在膠質(zhì)架的前表面形成有矩形槽,一個支撐件放置在所述矩形槽中;所述懸置件用PCB和膠質(zhì)架通過第一螺栓螺旋固定連接在支撐件上。
3.如權利要求2所述的光學讀取裝置,其中在支撐件的下部具有一對固定板,固定板設置在支撐件的兩邊,并通過第二螺栓固定在基板的上表面。
4.如權利要求1所述的光學讀取裝置,其中在支撐板的前下部一體地提供有一對凸起,所述永久磁鐵安裝在凸起上,并通過紫外粘合劑粘附在支撐板的前表面上。
5.如權利要求1所述的光學讀取裝置,其中在線圈型芯的前表面一體地提供有至少一個連接栓,在所述物鏡架的后表面一體地提供有至少一個連接孔,所述連接栓插入所述連接孔中。
6.如權利要求5所述的光學讀取裝置,其中在線圈型芯的前表面形成一對凹槽,所述的一對線圈用PCB部分地插入所述的一對凹槽中,當線圈型芯安裝到物鏡架上時,線圈型芯被線圈用PCB與物鏡架隔開一個預定距離。
7.如權利要求6所述的光學讀取裝置,其中,所述的一對線圈用PCB通過紫外粘合劑粘附在所述的一對凹槽中。
8.如權利要求6所述的光學讀取裝置,其中所述線圈型芯呈一個水平的H形狀,由上梁、與上梁平行的下梁和上下梁之間的支柱構成,所述聚焦線圈盤繞在所述支柱的周圍,所述尋軌線圈盤繞在所述上下梁的周圍。
9.如權利要求8所述的光學讀取裝置,其中在所述上梁的中部設置有上頸部,該上頸部的寬度小于所述上梁的寬度,在所述下梁的中部設置有下頸部,該下頸部的寬度小于所述下梁的寬度,所述尋軌線圈盤繞在上下瓶頸部分。
10.一種光學讀取裝置,包括一個基板,在該基板第一端具有向上凸起的第一支撐板,在第二端具有向上凸起的第二支撐板;一個永久磁鐵,安裝在所述第一支撐板的后表面;一個膠質(zhì)架,固定在所述第二支撐板的后表面;一個懸置件PCB,安裝在所述膠質(zhì)架的后表面;一個線圈型芯,安裝在鄰近所述永久磁鐵的后表面處;一個聚焦線圈和一個尋軌線圈,彼此互相垂直地盤繞在所述線圈型芯的周圍;一對線圈用PCB,安裝在所述線圈型芯的兩邊,所述聚焦線圈和尋軌線圈與線圈用PCB相連;一個物鏡架,安裝在所述線圈型芯的后表面,在所述物鏡架上安裝有一個物鏡;以及兩對懸置線,每對懸置線從所述懸置件用PCB處延伸,并分別與所述一對線圈用PCB的側壁相連,兩對懸置線用于按下述方式懸置物鏡架,即物鏡架可以沿聚焦方向或尋軌方向移動。
11.如權利要求10所述的光學讀取裝置,其中在所述膠質(zhì)架的前表面形成矩形槽,所述第二支撐板放置在該矩形槽中,所述懸置件用PCB和膠質(zhì)架通過螺栓螺旋連接到第二支撐板上。
12.如權利要求10所述的光學讀取裝置,其中在所述基板的鄰近第一支撐板的上表面一體地提供有一對凸起,所述永久磁鐵安裝在所述凸起上,并通過紫外粘合劑粘附在所述第一支撐板的后表面上。
13.如權利要求10所述的光學讀取裝置,其中所述線圈型芯呈一個水平的H形狀,由上梁、與上梁平行的下梁和位于上梁和下梁之間的支柱構成,所述聚焦線圈盤繞在所述支柱的周圍,所述尋軌線圈盤繞在所述上梁和所述下梁的周圍。
14.如權利要求13所述的光學讀取裝置,其中在上梁的上表面彼此相對地一體地提供有一對上擋板,所述上擋板的寬度大于所述上梁的寬度,在所述下梁的下面彼此相對地一體地提供有一對下?lián)醢澹鱿聯(lián)醢宓膶挾却笥谒鱿铝旱膶挾?,所述尋軌線圈和聚焦線圈被上下?lián)醢迮c永久磁鐵分開一預定距離。
15.如權利要求14所述的光學讀取裝置,其中在每個所述上下?lián)醢宓暮蟊砻嫣峁┻B接栓,在所述物鏡架的前表面形成有多個連接孔,所述連接栓插入所述連接孔中。
16.如權利要求14所述的光學讀取裝置,其中在所述上梁的中部設置有上頸部,在所述下梁的中部設置有下頸部,所述尋軌線圈盤繞在所述上下瓶頸部分。
全文摘要
一種用于光盤機的光學讀取裝置,結構簡單,可以做的尺寸很小。該裝置具有一個基板,在該基板的一端提供一個向上突起的支撐板;一個永久磁鐵安裝在所述支撐板上;一個膠質(zhì)架固定在基板的上表面;線圈型芯呈一個水平的H形狀,由上梁、與上梁平行的下梁和上下梁之間的支柱構成。尋軌和聚焦線圈可以相對永久磁鐵精確定位,而且可以容易地盤繞在線圈型芯周圍,所以裝配工作可以容易地完成,而且提高了工作效率。
文檔編號G11B7/09GK1197978SQ9810697
公開日1998年11月4日 申請日期1998年2月28日 優(yōu)先權日1997年2月28日
發(fā)明者李光錫 申請人:大宇電子株式會社
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