專利名稱：用于再生光盤上存儲的信息信號的光學(xué)拾取系統(tǒng)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種光學(xué)拾取系統(tǒng)；且更具體地，涉及一種可增強(qiáng)其光學(xué)效率的改進(jìn)的光學(xué)拾取系統(tǒng)。
眾所周知，由于聚焦光束中的誤差，引起了與用于讀取記錄在一光盤，例如數(shù)字音頻磁盤或緊致磁盤上的信息的光學(xué)拾取系統(tǒng)相關(guān)的主要問題，并已引入一種束尺寸方法來解決這一問題。
在

圖1中，示出了一種現(xiàn)有技術(shù)中用于采用該束尺寸方法來再生存儲在光盤140的記錄表面142上的信息信號的光學(xué)拾取系統(tǒng)100，該光學(xué)拾取系統(tǒng)100包括一激光二極管110，用于發(fā)射激光束；一分束器120，設(shè)置有一基底122和一表面124；一目鏡130和一光學(xué)檢測單元150，其中該分束器120的基底122由對于激光束是透明的材料制成且該分束器120的表面124可反射該激光束的一半并透射該激光束的其余一半。
在光學(xué)撿取系統(tǒng)100中，自光源110發(fā)射的激光束在首先通過分束器120的基底122之后，通過分束器120的表面124被部分地透射給目鏡130。照射到目鏡130上的激光束被聚焦在光盤140的記錄表面142上以通過使用該光學(xué)拾取系統(tǒng)100再生其上記錄的數(shù)據(jù)。自光盤140的記錄表面142反射的激光束部分通過目鏡130被透射給分束器120的表面124并自其被部分地反射進(jìn)光學(xué)檢測單元150。
如圖2所示，該光學(xué)檢測單元150包括一具有三部分151至153的光檢測器155、一加法器156和一減法器157，其中該光檢測器155的各三部分151至153可測量照射到其上的激光束的強(qiáng)度。通過從部分151和153上強(qiáng)度的和中減去部分152上的程度而獲得一聚焦誤差信號。
在這樣一系統(tǒng)中，照射在光檢測器155的各部分151至153上的激光束154的總強(qiáng)度i可被確定為i＝rI*RS2*RO2其中I表示自光源110發(fā)射的激光束的強(qiáng)度，r表示輻射損失因子，RS表示分束器120的表面124中的損失因子，及RO表示目鏡130中的損失因子。如果r、I、RS和RO分別為0.8、0.3、0.5和0.97，則i變?yōu)?.056mw。在該光學(xué)拾取系統(tǒng)100中，激光束的一半被分束器120的表面124遮斷，從而降低了其整體光學(xué)效率。
因此，本發(fā)明的主要目的在于提供一種光學(xué)拾取系統(tǒng)，其通過采用一反射層和一對1/4λ板而能增強(qiáng)其光學(xué)效率。
根據(jù)本發(fā)明，提供有一種用于再生在包括一記錄表面的光盤上存儲的信息信號的光學(xué)拾取系統(tǒng)，該光學(xué)拾取系統(tǒng)包括一光源，用于生成一光束，其中該光束包括P和S偏振分量；一目鏡，用于將透射過該第一光學(xué)器件的的光束聚焦在光盤的記錄表面上；一分束器，用于將一偏振分量透射到光盤的記錄表面而反射另一偏振分量；第一光學(xué)器件，配置在該生成裝置和該光學(xué)裝置之間，用于改變透射過其的光束的偏振分量；檢測裝置，用于檢測自光盤的記錄表面反射的光束；及第二光學(xué)器件，帶有改變透射過其的光束的偏振分量的一1/4λ板和反射照射在其上的光束的一反射板，其中該檢測裝置和第二光學(xué)器件相對于該光學(xué)裝置的中心點(diǎn)被相互對立地安置。
通過以下結(jié)合附圖對優(yōu)選實(shí)施例的描述，本發(fā)明連同上述和其它目的及優(yōu)點(diǎn)變得顯然，附圖中圖1為現(xiàn)有技術(shù)的光學(xué)拾取系統(tǒng)的概略性側(cè)視圖；圖2為說明圖1中所示的光學(xué)檢測單元的常規(guī)性結(jié)構(gòu)的平面視圖；及圖3示出了根據(jù)本發(fā)明的一光學(xué)拾取系統(tǒng)的概略性側(cè)視圖。
圖3中示出了根據(jù)本發(fā)明的一優(yōu)選實(shí)施例的創(chuàng)造性光學(xué)拾取系統(tǒng)200的概略性側(cè)視圖。
如圖3所示，光學(xué)拾取系統(tǒng)200包括一光源210，用于生成包括一P和S偏振光分量的光束；一分束器220，帶有一基底222和一偏振膜224；第一1/4λ板230；一目鏡240；一光學(xué)裝置260，帶有一第二1/4λ板264和一反射板262；和一光學(xué)檢測器270，其中該分束器的偏振膜224可通過沉積一能只透射P偏振光分量而全反射S偏振光分量的材料而制成。
在系統(tǒng)200中，從光源210，例如一激光二極管發(fā)射的光束進(jìn)入分束器220，其中分束器220的基底222對該光束來說是透明的。偏振膜224只通過其將P偏振光分量透射給第一1/4λ板230，其中該第一1/4λ板230配置在分束器220和目鏡240之間、該P(yáng)偏振光束在被透射過第一1/4λ板230后，通過目鏡240被聚焦在光盤250的記錄表面252上。從光盤250的記錄表面252反射的該P(yáng)偏振光束首先通過目錄240被會聚，然后透射過第一1/4λ板230，從而將該P(yáng)偏振光束轉(zhuǎn)換成S偏振光束，且然后該S偏振光束落到分束器220的偏振膜224上。
該S偏振光束由偏振膜224全反射通過第二1/4λ板264到光學(xué)裝置260的反射板262，其中該反射板262可全反射照射到其上的S偏振光束。偏振膜224被配置成使相對于由光源210的中心點(diǎn)和目鏡240的焦點(diǎn)形成的一光軸而傾斜一預(yù)定角度。該預(yù)定角度最好為45度。反射板262被附連至第二1/4λ板264的一表面，該表面不面對于分束器220。光源210和分束器220的中心點(diǎn)之間的距離是光學(xué)檢測器270和反射板262的中心點(diǎn)之間距離的一倍半。
在S偏振光束通過第二1/4λ板264后，該S偏振光束落到光學(xué)裝置260的反射板262上，其中反射板262全反射入射到其上的S偏振光束，該S偏振光束在透射過第二1/4λ板262后被轉(zhuǎn)換成P偏振光束，然后，該P(yáng)偏振光束傳送至偏振膜224。該P(yáng)偏振光束的路徑在圖3中用虛線表示。
來自第二1/4λ板264的P偏振光束全部透射過偏振膜224并照射到光學(xué)檢測器270上。該光學(xué)檢測器270相對于偏振膜224位在與第二1/4λ板264相對立的位置。在本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施例中，光學(xué)檢測器270和偏振膜224的中心點(diǎn)之間的距離等于分束器220的中心點(diǎn)和反射板262的中心點(diǎn)之間距離。
光學(xué)檢測器270位于目鏡240的焦點(diǎn)處，并可測量在其上被檢測的光束的強(qiáng)度。在光學(xué)拾取系統(tǒng)200中，該經(jīng)檢測的光束在通過使用束尺寸方法來計(jì)算一信息信號，例如聚焦誤差信號的一檢測單元(未示出)中被處理，從而使光學(xué)拾取系統(tǒng)200可再生離開光盤250的記錄表面252的信息信號。
在系統(tǒng)200中，照射在光學(xué)檢測器270上的光束的總強(qiáng)度i可通過使用以下關(guān)系式而被計(jì)算出i＝rI*FL*RO2其中，I表示自光源210發(fā)射的光束的強(qiáng)度，r表示光源210的輻射損失因子，F(xiàn)L表示偏振膜224的損失因子，RO表示目鏡240的損失因子、如果r、I、FL和RO分別為0.8、0.3、0.5和0.97，則i為0.112mw。因此照射在本發(fā)明的光學(xué)檢測器270的接收表面上的光束的強(qiáng)度是現(xiàn)有技術(shù)的兩倍。
與現(xiàn)有技術(shù)中的光學(xué)拾取系統(tǒng)100相比，本發(fā)明的光學(xué)拾取系統(tǒng)200比常規(guī)的光學(xué)拾取系統(tǒng)100更有效地發(fā)送光束，從而提高了其光學(xué)效率。這是通過在其內(nèi)裝有一偏振膜224、一第一1/4λ板230和具有一第二1/4λ板264的一光學(xué)裝置260而實(shí)現(xiàn)的，從而減小了現(xiàn)有技術(shù)的光學(xué)拾取系統(tǒng)100中分束器120的表面124的損失因子，進(jìn)而提高了光學(xué)拾取系統(tǒng)200的整體光學(xué)效率。
盡管已相對于優(yōu)選實(shí)施例對本發(fā)明進(jìn)行了描述，但在不脫離由所附權(quán)利要求定義的本發(fā)明的精神和范圍的前提下，可作出其它的改型和變化。
權(quán)利要求
1.一種光學(xué)拾取系統(tǒng)，用于再生在包括有一記錄表面的光盤上存儲的信息信號，該光學(xué)拾取系統(tǒng)包括有生成裝置，用于生成一光束，其中該光束包括有一P和S偏振分量；光學(xué)裝置，用于將一偏振分量透射到該光盤的記錄表面而反射另一偏振分量；第一光學(xué)器件，帶有一1/4λ板并配置在相對于該光學(xué)裝置而與該生成裝置相對立的位置，用于改變透射過其的光束的偏振分量；檢測裝置，用于檢測自光盤的記錄表面反射的光束；及第二光學(xué)器件，帶有一用于改變透射過其的光束的偏振分量的1/4λ板和一用于反射照射到其上的光束的反射板，其中該檢測裝置和第二光學(xué)器件相對于該光學(xué)裝置而被彼此相對立地安置。
2.根據(jù)權(quán)利要求1的光學(xué)拾取系統(tǒng)，還包括有聚焦裝置，用于將透射過第一光學(xué)器件的光束聚焦在光盤的記錄表面上。
3.根據(jù)權(quán)利要求2的光學(xué)拾取系統(tǒng)，其中該聚焦裝置被定位于光盤和第一光學(xué)器件之間。
4.根據(jù)權(quán)利要求3的光學(xué)拾取系統(tǒng)，其中該反射板被附連至第二光學(xué)器件的一表面，其中該表面為不面對于該光學(xué)裝置的一表面。
5.根據(jù)權(quán)利要求4的光學(xué)拾取系統(tǒng)，其中該檢測裝置和該光學(xué)裝置的中心點(diǎn)之間的距離等于該光學(xué)裝置的中心點(diǎn)和該反射板的中心點(diǎn)之間的距離。
6.根據(jù)權(quán)利要求4的光學(xué)拾取系統(tǒng)，其中該生成裝置和該光學(xué)裝置的中心點(diǎn)之間的距離為該檢測裝置的中心點(diǎn)和該反射板的中心點(diǎn)之間距離的一倍半。
7.根據(jù)權(quán)利要求2的光學(xué)拾取系統(tǒng)，其中該光學(xué)裝置被配置成相對于由該生成裝置的中心點(diǎn)和該聚焦裝置的焦點(diǎn)形成的一光軸傾斜過一預(yù)定角度。
8.根據(jù)權(quán)利要求7的光學(xué)拾取系統(tǒng)，其中該預(yù)定角度為45度。
9.根據(jù)權(quán)利要求1的光學(xué)拾取系統(tǒng)，其中該第二光學(xué)器件的反射板可全反射照射到其上的光束。
全文摘要
一種光學(xué)拾取系統(tǒng),用于再生在包括有一記錄表面的光盤上存儲的信息信號。其包括一生成具有P和S偏振分量的光束的光源;一分束器;第一1/4λ板;一目鏡;一帶有第二1/4λ板和一反射板的光學(xué)器件及一光學(xué)檢測器。該分束器可只透射P偏振光分量而反射S偏振光分量,且第二1/4板帶有用于全反射照射在其上的光束的反射板,從而提高了該光學(xué)拾取系統(tǒng)的整體光學(xué)效率。
文檔編號G11B7/135GK1188306SQ9712570
公開日1998年7月22日 申請日期1997年12月25日 優(yōu)先權(quán)日1997年12月25日
發(fā)明者崔良吾 申請人:大宇電子株式會社