專利名稱：磁卡測(cè)試儀的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明屬于信息的存取。
一般磁卡測(cè)試由讀卡裝置、數(shù)模轉(zhuǎn)換裝置和計(jì)算機(jī)軟件等組成。它是將記錄在磁卡上的模擬信號(hào)經(jīng)讀卡機(jī)的磁頭讀出后，經(jīng)過(guò)放大，變?yōu)榭梢蕴幚淼男盘?hào)輸入模數(shù)轉(zhuǎn)換器，變?yōu)閿?shù)字量再經(jīng)主機(jī)控制和處理，同時(shí)將標(biāo)準(zhǔn)信號(hào)寫到磁卡中，再經(jīng)讀出后分析。故此種裝置包括磁頭驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)，讀/寫機(jī)構(gòu)和寫電流變化機(jī)構(gòu)。并具有選頻與寫電流變化后定標(biāo)及各種磁性能的檢測(cè)功能。
由電子工業(yè)出版社1990年5月6日出版的美國(guó)丁·斯威格爾茲著的《智能卡》一書中，第8章闡述的磁卡測(cè)試方法中說(shuō)到該測(cè)試方法用于封裝在自己的工作站中，在自己的輸入/輸出的磁卡所作的是有限測(cè)試，美國(guó)專利局發(fā)表的United Atabed Patent 4322613一文中也存在其成本高，結(jié)構(gòu)復(fù)雜等問(wèn)題。
本發(fā)明針對(duì)上述問(wèn)題進(jìn)行設(shè)計(jì)，按國(guó)際磁卡的生產(chǎn)標(biāo)準(zhǔn)，對(duì)磁卡進(jìn)行分辨率、殘余幅度、平均幅值和寫電流等項(xiàng)目的磁性能進(jìn)行測(cè)試，以保證生產(chǎn)的磁卡的質(zhì)量和可靠性及互換性。
本發(fā)明采用寫頻率可變的時(shí)鐘與碼型產(chǎn)生電路，可以在磁卡上寫上任何位密度的雙頻制及其它碼型，適應(yīng)各種用途的磁卡檢測(cè)。該裝置結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，操作方便，其框圖如圖(1)所示。
磁頭通過(guò)主機(jī)與電路，可以將磁卡上的信號(hào)讀出或根據(jù)主機(jī)要求，在磁卡上記錄信號(hào)。它包括以下幾個(gè)部分1.時(shí)鐘電路該時(shí)鐘產(chǎn)生電路采用晶振源可變化的脈沖源。根據(jù)測(cè)試的要求，選定其中的一種時(shí)鐘頻率，以保證磁卡的位密度。
2.碼型產(chǎn)生電路根據(jù)不同的磁卡的位密度，分別輸出不同頻率的碼，可以組成全“0”，全“1”，或任意測(cè)試碼型。
3.磁頭讀/寫電路磁頭讀/寫電路，采用前置放大，限幅濾波等方法，以保證讀/寫信號(hào)的可靠，其框圖如圖(2)4.數(shù)據(jù)采樣部分采用高精度的直接采樣的數(shù)模轉(zhuǎn)換器，對(duì)磁卡信號(hào)進(jìn)行直接采樣及數(shù)據(jù)處理5.寫電流變化及檢測(cè)電路寫電流的測(cè)量，既不能影響磁頭回路，又應(yīng)不失真地反映寫電流波形，為此設(shè)計(jì)出專用寫脈沖電流互感器，可以方便地對(duì)寫電流進(jìn)行定格。將寫放大器到磁頭去的線穿過(guò)磁環(huán)，作為原邊，原邊的電流即流過(guò)磁頭的寫電流i，在磁環(huán)上繞上付邊，付邊上并聯(lián)一個(gè)電阻，電阻上的電壓VR在滿足忽略原邊，付邊線圈電阻，漏電感;且線圈感抗大于付邊并聯(lián)的電阻;以及并聯(lián)電阻值在數(shù)值上與電流互感器原、付邊匝數(shù)比相等的條件下，即可算得寫電流。加上寫電流調(diào)節(jié)電路，從而保證寫電流的測(cè)試。
6.測(cè)試電路與主機(jī)的接口接口電路保證主機(jī)對(duì)讀卡機(jī)、測(cè)試電路及讀/寫電路和磁卡的控制數(shù)。
7.系統(tǒng)處理軟件，包括以下幾個(gè)部份(1)峰-峰值檢測(cè)及平均峰-峰值幅值的求取磁卡信息記錄采用FM制，根據(jù)頻率不同，判斷數(shù)據(jù)“1”與“0”的周期，在一定周期內(nèi)，求出一個(gè)峰點(diǎn)值，再判斷第二個(gè)峰點(diǎn)與第一個(gè)峰點(diǎn)的方向，求出正負(fù)峰點(diǎn)值，后存入寄存器內(nèi)，將所有峰-峰值采光處理后，進(jìn)行平均值的計(jì)算，框圖如圖(3)(2)殘余幅度采用快速Fourier變換，設(shè)Fourier變換點(diǎn)數(shù)N可分為μ個(gè)互為質(zhì)數(shù)的因子的整數(shù)，則可把一維序列X(n)映射到U維陣列S〔n1，n2……nu〕，利用Sino關(guān)系
，對(duì)各個(gè)因子完成處理前的編排塊，然后對(duì)數(shù)據(jù)陣列逐點(diǎn)與一個(gè)實(shí)數(shù)陣列相乘，再根據(jù)中國(guó)剩余定理，完成U維陣列S〔R1，R2……Ru〕的映射?？驁D如圖(4)(3)寫電流曲線測(cè)試從DA1，DA2通道輸出電壓以控制寫電流，采用灰色預(yù)測(cè)模型，對(duì)下一時(shí)刻電流值進(jìn)行預(yù)測(cè)，并進(jìn)行超前控制，程序框圖如圖(5)

圖1是測(cè)試儀的結(jié)構(gòu)示意圖。磁頭與讀寫放大器相連，讀/寫放大器又與脈沖整形電路連接。而脈沖整形電路與接口連接，接口與主機(jī)機(jī)連，讀/寫放大器與隔離器連，經(jīng)放大濾波后送A/D轉(zhuǎn)換器，與接口及主機(jī)連，接口與時(shí)鐘頻率源相連，控制碼型產(chǎn)生器，它的輸出送讀/寫放大器，再送入磁頭，接口經(jīng)A/D轉(zhuǎn)換器經(jīng)放大濾波，可控增益及寫電流調(diào)節(jié)送入讀/寫放大器。
圖2是碼形產(chǎn)生器。磁頭與前置放大器連，經(jīng)低通濾波，限幅放大，微分電路，整形電路再通過(guò)輸出與主機(jī)連，主機(jī)與可變時(shí)鐘源，編碼電路及寫入驅(qū)動(dòng)器連，驅(qū)動(dòng)器與磁頭連。
圖3是峰-峰值檢測(cè)及平均峰-峰值幅值求取框圖。
圖4是用快速付剩葉變換處理框圖。
圖5是寫電流曲線測(cè)試框圖。
權(quán)利要求
1.磁卡測(cè)試儀，其特征在于磁頭與讀寫放大器連接，它的輸出一路與脈沖整形電路相連脈沖整形輸出與接口相連，接口與主機(jī)相連，另一路與隔離器相連，經(jīng)放大濾波后送A/D轉(zhuǎn)換器，經(jīng)接口送主機(jī)，接口與時(shí)鐘頻率源相連，控制碼型產(chǎn)生器，它的輸出送讀/寫放大器，再送磁頭，接口經(jīng)A/D轉(zhuǎn)換器通過(guò)放大濾波經(jīng)可控增益及寫電流調(diào)節(jié)再送讀/寫放大器。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)試儀，其特征在于磁頭與前置放大器連，經(jīng)低通濾波、限幅放大、微分電路、整形電路再通過(guò)輸出與主機(jī)相連，主機(jī)與可變時(shí)鐘源，編碼電路及寫入驅(qū)動(dòng)器相連，驅(qū)動(dòng)器與磁頭連接。
全文摘要
本發(fā)明采用寫頻可變的時(shí)鐘與碼型產(chǎn)生電路，可以在磁卡上寫任何位密度的測(cè)試碼型，適用于各種類型的磁卡檢測(cè)。它是保證磁卡生產(chǎn)質(zhì)量和可靠性，按國(guó)際磁卡生產(chǎn)標(biāo)準(zhǔn)生產(chǎn)的重要手段，本發(fā)明功能齊全，測(cè)試精度高，重復(fù)性好，使用方便，數(shù)據(jù)結(jié)果準(zhǔn)確，測(cè)試時(shí)間快和成本低等特點(diǎn)。
文檔編號(hào)G11B25/04GK1066743SQ91103160
公開日1992年12月2日 申請(qǐng)日期1991年5月10日 優(yōu)先權(quán)日1991年5月10日
發(fā)明者周敬利, 余勝生, 徐有青, 倪漿銘, 黃益森 申請(qǐng)人:華中理工大學(xué)