本發(fā)明涉及固態(tài)硬盤，尤其涉及一種雙接口智能切換的固態(tài)硬盤自動化測試方法。

背景技術(shù)：

1、固態(tài)硬盤(solid?state?drives)，簡稱固盤，固態(tài)硬盤(solid?state?drive)用固態(tài)電子存儲芯片陣列而制成的硬盤，由控制單元和存儲單元(flash芯片、dram芯片)組成。固態(tài)硬盤在接口的規(guī)范和定義、功能及使用方法上與傳統(tǒng)硬盤的完全相同，在產(chǎn)品外形和尺寸上也完全與傳統(tǒng)硬盤一致，但i/o性能相對于傳統(tǒng)硬盤大大提升。被廣泛應(yīng)用于軍事、車載、工控、視頻監(jiān)控、網(wǎng)絡(luò)監(jiān)控、網(wǎng)絡(luò)終端、電力、醫(yī)療、航空、導(dǎo)航設(shè)備等領(lǐng)域。其芯片的工作溫度范圍很寬，商規(guī)產(chǎn)品(0～70℃)工規(guī)產(chǎn)品(-40～85℃)。雖然成本較高，但也正在逐漸普及到diy市場。由于固態(tài)硬盤技術(shù)與傳統(tǒng)硬盤技術(shù)不同，所以產(chǎn)生了不少新興的存儲器廠商。廠商只需購買nand存儲器，再配合適當(dāng)?shù)目刂菩酒涂梢灾圃旃虘B(tài)硬盤了。新一代的固態(tài)硬盤普遍采用sata-3接口、m.2接口、msata接口、pci-e接口、sas接口、cfast接口和sff-8639接口。但是當(dāng)固態(tài)硬盤長時間斷電并在高溫環(huán)境下放置將會面臨數(shù)據(jù)丟失的風(fēng)險。因此使用固態(tài)硬盤來備份數(shù)據(jù)并不是一個很好的選擇。隨著互聯(lián)網(wǎng)的飛速發(fā)展，人們對數(shù)據(jù)信息的存儲需求也在不斷提升，現(xiàn)在多家存儲廠商推出了自己的便攜式固態(tài)硬盤，更有支持type-c接口的移動固態(tài)硬盤和支持指紋識別的固態(tài)硬盤推出。

2、在固態(tài)硬盤生產(chǎn)過程中，產(chǎn)品量產(chǎn)測試是固態(tài)硬盤生產(chǎn)中的一個非常重要的環(huán)節(jié)，常規(guī)的固態(tài)硬盤量產(chǎn)測試通常有k1開卡(燒錄rdt固件)--->可靠性自測(rdt)--->k2開卡(繼承rdt測試結(jié)果，燒錄正常功能固件)--->bit老化測試(burn-in?test)--->k3開卡(繼承bit老化測試結(jié)果，燒錄正常功能固件)五個步驟，即五站式分立測試方法，需要一步一步的進行測試，需要大量人力物力多次插拔操作，很容易出現(xiàn)誤操作，測試效率也低，而且不便于測試數(shù)據(jù)的統(tǒng)計和分析。目前市場上雖然有nvme固態(tài)硬盤自動化量產(chǎn)測試設(shè)備，但是目前都是單口測試設(shè)備，固態(tài)硬盤直接通過pcie接口(總線接口)連接到電腦主機，由于pcie接口熱拔插問題導(dǎo)致測試切換過程中經(jīng)常出現(xiàn)認(rèn)盤慢，認(rèn)盤不全，藍屏等問題，因此測試效率也比較低。

技術(shù)實現(xiàn)思路

1、為解決現(xiàn)有技術(shù)中的問題，本發(fā)明提供一種雙接口智能切換的固態(tài)硬盤自動化測試方法，通過適時的智能切換連接不同的物理接口，就可以在一個m2固態(tài)硬盤測試座中完成固態(tài)硬盤的五站式分立測試，大幅度提高了固態(tài)硬盤量產(chǎn)測試效率，解決了現(xiàn)有技術(shù)中人工五站式分立測試效率低、容易出錯、單口測試設(shè)備認(rèn)盤慢、易認(rèn)盤不全的問題。

2、本發(fā)明的一種雙接口智能切換的固態(tài)硬盤自動化測試方法包括如下步驟：

3、步驟1：固態(tài)硬盤插入雙接口測試板的m2固態(tài)硬盤測試座中，點擊開始測試；

4、步驟2：服務(wù)器下發(fā)k1開卡測試指令至測試電腦，測試電腦控制高速信號切換開關(guān)芯片切換固態(tài)硬盤通過usb橋接芯片和usb接口連接到測試電腦，測試電腦調(diào)用k1開卡軟件對待測試的固態(tài)硬盤做k1開卡測試；

5、步驟3：服務(wù)器讀取k1開卡測試數(shù)據(jù)并分析固態(tài)硬盤的k1開卡測試是否通過；

6、步驟4：當(dāng)服務(wù)器判定固態(tài)硬盤的k1開卡測試通過時，服務(wù)器下發(fā)rdt可靠性測試指令至測試電腦，固態(tài)硬盤繼續(xù)通過usb橋接芯片和usb接口連接到測試電腦，測試電腦調(diào)用rdt可靠性測試軟件對待測試的固態(tài)硬盤做rdt可靠性測試；

7、步驟5：服務(wù)器讀取rdt可靠性測試數(shù)據(jù)并分析固態(tài)硬盤的rdt可靠性測試是否通過；

8、步驟6：當(dāng)服務(wù)器判定固態(tài)硬盤的rdt可靠性測試通過時，服務(wù)器下發(fā)k2開卡測試指令至測試電腦，固態(tài)硬盤繼續(xù)通過usb橋接芯片和usb接口連接到測試電腦，測試電腦調(diào)用k2開卡軟件對待測試的固態(tài)硬盤做k2開卡測試；

9、步驟7：服務(wù)器讀取k2開卡測試數(shù)據(jù)并分析固態(tài)硬盤的k2開卡測試是否通過；

10、步驟8：當(dāng)服務(wù)器判定固態(tài)硬盤的k2開卡測試通過時，服務(wù)器下發(fā)bit老化測試指令至測試電腦，測試電腦控制高速信號切換開關(guān)芯片切換固態(tài)硬盤通過pcie信號接口連接到測試電腦，測試電腦調(diào)用bit老化測試軟件對待測試的固態(tài)硬盤做bit老化測試；

11、步驟9：服務(wù)器讀取bit老化測試數(shù)據(jù)并分析固態(tài)硬盤的bit老化測試是否通過；

12、步驟10：當(dāng)服務(wù)器判定固態(tài)硬盤的bit老化測試通過時，服務(wù)器下發(fā)k3開卡測試指令至測試電腦，測試電腦控制高速信號切換開關(guān)芯片切換固態(tài)硬盤通過usb橋接芯片和usb接口連接到測試電腦，測試電腦調(diào)用k3開卡軟件對待測試的固態(tài)硬盤做k3開卡測試；

13、步驟11：服務(wù)器讀取k3開卡測試數(shù)據(jù)并分析固態(tài)硬盤的k3開卡測試是否通過；

14、步驟12：當(dāng)服務(wù)器判定固態(tài)硬盤的k3開卡測試通過時，固態(tài)硬盤測試完成，產(chǎn)品合格。

15、本發(fā)明作進一步改進，在所述步驟3中，當(dāng)服務(wù)器判定固態(tài)硬盤的k1開卡測試失敗時，服務(wù)器定位測試失敗的固態(tài)硬盤，并下發(fā)指令到對應(yīng)的測試電腦，測試電腦通過雙接口測試板的單片機芯片斷掉固態(tài)硬盤和usb橋接芯片的電源，同時測試失敗的固態(tài)硬盤測試座對應(yīng)指示燈亮紅燈提示測試人員該固態(tài)硬盤測試失敗。

16、本發(fā)明作進一步改進，在所述步驟5中，當(dāng)服務(wù)器判定固態(tài)硬盤的rdt可靠性測試失敗時，服務(wù)器定位測試失敗的固態(tài)硬盤，并下發(fā)指令到對應(yīng)的測試電腦，測試電腦通過雙接口測試板的單片機芯片斷掉固態(tài)硬盤和usb橋接芯片的電源，同時測試失敗的固態(tài)硬盤測試座對應(yīng)指示燈亮紅燈提示測試人員該固態(tài)硬盤測試失敗。

17、本發(fā)明作進一步改進，在所述步驟7中，當(dāng)服務(wù)器判定固態(tài)硬盤的k2開卡測試失敗時，服務(wù)器定位測試失敗的固態(tài)硬盤，并下發(fā)指令到對應(yīng)的測試電腦，測試電腦通過雙接口測試板的單片機芯片斷掉固態(tài)硬盤和usb橋接芯片的電源，同時測試失敗的固態(tài)硬盤測試座對應(yīng)指示燈亮紅燈提示測試人員該固態(tài)硬盤測試失敗。

18、本發(fā)明作進一步改進，在所述步驟9中，當(dāng)服務(wù)器判定固態(tài)硬盤的bit老化測試失敗時，服務(wù)器定位測試失敗的固態(tài)硬盤，并下發(fā)指令到對應(yīng)的測試電腦，測試電腦通過雙接口測試板的單片機芯片斷掉固態(tài)硬盤和usb橋接芯片的電源，同時測試失敗的固態(tài)硬盤測試座對應(yīng)指示燈亮紅燈提示測試人員該固態(tài)硬盤測試失敗。

19、本發(fā)明作進一步改進，在所述步驟11中，當(dāng)服務(wù)器判定固態(tài)硬盤的k3開卡測試失敗時，服務(wù)器定位測試失敗的固態(tài)硬盤，并下發(fā)指令到對應(yīng)的測試電腦，測試電腦通過雙接口測試板的單片機芯片斷掉固態(tài)硬盤和usb橋接芯片的電源，同時測試失敗的固態(tài)硬盤測試座對應(yīng)指示燈亮紅燈提示測試人員該固態(tài)硬盤測試失敗。

20、本發(fā)明作進一步改進，在所述步驟1中，固態(tài)硬盤在雙接口智能切換的固態(tài)硬盤自動化設(shè)備上進行測試，雙接口智能切換的固態(tài)硬盤自動化設(shè)備的服務(wù)器端能夠通過網(wǎng)絡(luò)連接到多臺測試電腦，測試電腦能夠通過雙接口測試板的m2固態(tài)硬盤測試座連接到多片待測固態(tài)硬盤。

21、本發(fā)明作進一步改進，在所述步驟1-12中，待測固態(tài)硬盤能夠在一個m2固態(tài)硬盤測試座中完成固態(tài)硬盤的五站式分立測試。

22、本發(fā)明的有益效果是：本發(fā)明提供的一種雙接口智能切換的固態(tài)硬盤自動化測試方法，通過適時的智能切換連接不同的物理接口，無需人工重復(fù)插拔固態(tài)硬盤到不同接口，就可以在一個m2固態(tài)硬盤測試座中完成固態(tài)硬盤的五站式分立測試，大幅度提升了固態(tài)硬盤自動化測試設(shè)備的認(rèn)盤速度、測試速度和認(rèn)盤穩(wěn)定性，同時通過服務(wù)器統(tǒng)一下發(fā)測試指令，測試電腦調(diào)用對應(yīng)測試腳本，服務(wù)器全程實時監(jiān)測并收集測試數(shù)據(jù)，能夠統(tǒng)計和分析生成量產(chǎn)測試報告，標(biāo)識和追蹤測試失敗的固態(tài)硬盤的位置，大幅度提高了固態(tài)硬盤量產(chǎn)測試效率，解決了現(xiàn)有技術(shù)中人工五站式分立測試效率低、容易出錯、單口測試設(shè)備認(rèn)盤慢、易認(rèn)盤不全的問題。