傾斜檢測(cè)方法和光盤裝置制造方法【專利摘要】本發(fā)明涉及傾斜檢測(cè)方法和執(zhí)行該方法的光盤裝置。所述傾斜檢測(cè)方法包括：向第一和第二濾波器提供從包括位于主軌道兩側(cè)的第一和第二相鄰軌道的至少兩個(gè)軌道分別幾乎同時(shí)再現(xiàn)的再現(xiàn)信號(hào)；使合成單元將所述第一和第二濾波器的輸出信號(hào)與以與所述第一和第二相鄰軌道幾乎同時(shí)地從所述主軌道再現(xiàn)的再現(xiàn)信號(hào)合成以消除串?dāng)_；使系數(shù)控制單元使用所述合成單元的輸出信號(hào)的目標(biāo)值來(lái)獲得誤差，并控制所述第一和第二濾波器的系數(shù)以減小所述誤差；以及根據(jù)所述第一和第二濾波器的預(yù)定抽頭的系數(shù)的值來(lái)檢測(cè)光盤的傾斜。為此，本發(fā)明提供了在不使用傾斜傳感器的同時(shí)避免了設(shè)置增益的困難的傾斜檢測(cè)方法和光盤裝置?！緦＠f(shuō)明】?jī)A斜檢測(cè)方法和光盤裝置【
技術(shù)領(lǐng)域：
】[0001]本發(fā)明涉及應(yīng)用到例如光盤的傾斜檢測(cè)(skewdetection)方法和光盤裝置?！?br>背景技術(shù)：
】[0002]在相關(guān)技術(shù)中，通過(guò)使用激光能夠記錄信息或再現(xiàn)所記錄的信息的光盤正逐漸被廣泛使用。為了增加表面記錄密度，可通過(guò)增加物鏡的數(shù)值孔徑(numericalaperture；NA)使光束光斑(beamspot)直徑變小。然而，數(shù)值孔徑的增加導(dǎo)致像差的增加。特別地，在物鏡的光軸與光盤的表面之間的角度由于光盤的扭曲等而從90度偏離時(shí)生成的像差增加。此像差在光盤表面上生成光斑變形，并從而出現(xiàn)模糊的問(wèn)題。由此，存在如下問(wèn)題:來(lái)自相鄰軌道的串?dāng)_增加，并從而使再現(xiàn)信號(hào)的質(zhì)量劣化。[0003]在此情況下，變形與光穿過(guò)光盤的距離成正比，即與覆蓋層的厚度成正比，因此將藍(lán)光光盤(注冊(cè)商標(biāo))中的覆蓋層的厚度減小至0.1毫米(_)。然而，由于光盤的翹曲等而光盤出現(xiàn)傾斜(也稱為偏斜等)，因此需要檢測(cè)并修正光盤的傾斜。本發(fā)明實(shí)施例的目的在于修正光盤的徑向(橫切于軌道的方向)上的傾斜。[0004]對(duì)于檢測(cè)光盤的傾斜的方法，存在有采用傾斜傳感器的方法。然而，傾斜傳感器使得構(gòu)造更加復(fù)雜，且在成本方面不存在優(yōu)勢(shì)。目前已經(jīng)提出了在不使用傾斜傳感器的情況下使用光盤的再現(xiàn)信號(hào)的技術(shù)(參見未經(jīng)審查的日本專利申請(qǐng)公開文本N0.2001-266385)。[0005]未經(jīng)審查的日本專利申請(qǐng)公開文本N0.2001-266385公開了下述技術(shù):將主光束照射到再現(xiàn)信息軌道的中心上，將兩個(gè)子光束照射到從再現(xiàn)信息軌道的中心向外偏離預(yù)定距離的位置上，并通過(guò)由四分光接收元件(four-dividedlightreceivingelement)接收兩個(gè)子光束的反射光。對(duì)四分光接收元件的輸出進(jìn)行計(jì)算，以獲得傾斜量。由于偏斜而生成慧形象差(comaaberration)，且再現(xiàn)信號(hào)值受到再現(xiàn)信號(hào)本身的失真以及來(lái)自相鄰軌道的串?dāng)_的影響。再現(xiàn)信號(hào)失真的原因在于光束光斑相對(duì)于偏斜方向變成非對(duì)稱形狀以及來(lái)自相鄰軌道的串?dāng)_。[0006]未經(jīng)審查的日本專利申請(qǐng)公開文本N0.2001-266385提供了通過(guò)計(jì)算光檢測(cè)器的輸出信號(hào)來(lái)檢測(cè)傾斜量的技術(shù)，但該技術(shù)由于難于設(shè)定再現(xiàn)信號(hào)的增益而變得不理想?！?br/>發(fā)明內(nèi)容】[0007]基于上述問(wèn)題，期望提供能夠在不使用傾斜傳感器的同時(shí)避免設(shè)置增益的困難的傾斜檢測(cè)方法和光盤裝置。[0008]根據(jù)本發(fā)明的第一實(shí)施例的傾斜檢測(cè)方法包括:將分別從至少兩個(gè)軌道幾乎同時(shí)地再現(xiàn)的再現(xiàn)信號(hào)提供到第一濾波器和第二濾波器，所述至少兩個(gè)軌道包括位于主軌道兩側(cè)的第一相鄰軌道和第二相鄰軌道；使合成單元將所述第一濾波器和所述第二濾波器的輸出信號(hào)與以與所述第一相鄰軌道和所述第二相鄰軌道幾乎同時(shí)的方式從所述主軌道再現(xiàn)的再現(xiàn)信號(hào)合成，以便消除串?dāng)_；使系數(shù)控制單元使用所述合成單元的輸出信號(hào)的目標(biāo)值來(lái)獲得誤差，并控制所述第一濾波器和所述第二濾波器的系數(shù)以減小所述誤差；以及根據(jù)所述第一濾波器和所述第二濾波器的預(yù)定抽頭的系數(shù)的值來(lái)檢測(cè)光盤的傾斜。[0009]根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例的光盤裝置其包括:拾取器，其分別從主軌道和至少兩個(gè)軌道幾乎同時(shí)地獲取再現(xiàn)信號(hào)，所述至少兩個(gè)軌道包括位于所述主軌道兩側(cè)的第一相鄰軌道和第二相鄰軌道；第一濾波器，從所述第一相鄰軌道再現(xiàn)的第一再現(xiàn)信號(hào)被提供到所述第一濾波器；第二濾波器，從所述第二相鄰軌道再現(xiàn)的第二再現(xiàn)信號(hào)被提供到所述第二濾波器；合成單元，其將所述第一濾波器和所述第二濾波器的輸出信號(hào)與所述主軌道的再現(xiàn)信號(hào)進(jìn)行合成，以消除串?dāng)_；系數(shù)控制單元，其使用所述合成單元的輸出信號(hào)的目標(biāo)值來(lái)獲得誤差，并控制所述第一濾波器和所述第二濾波器的系數(shù)以減少所述誤差；傾斜檢測(cè)單元，其根據(jù)所述第一濾波器和所述第二濾波器的預(yù)定抽頭的系數(shù)的值作為光盤的傾斜進(jìn)行檢測(cè)；以及傾斜校正單元，其校正所檢測(cè)的傾斜。[0010]根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例，提供了能夠在不使用傾斜傳感器的同時(shí)減小增益設(shè)置困難并簡(jiǎn)化處理的傾斜檢測(cè)方法和光盤裝置?！緦＠綀D】【附圖說(shuō)明】[0011]圖1是圖示了應(yīng)用有本發(fā)明實(shí)施例的光盤裝置的構(gòu)造的框圖；[0012]圖2A-2B是用于解釋應(yīng)用有本發(fā)明實(shí)施例的光盤上的LSF和標(biāo)記圖案的示意圖；[0013]圖3是用于解釋本發(fā)明實(shí)施例的傾斜的示意圖；[0014]圖4A-4B是用于解釋在存在傾斜時(shí)的光斑形狀和LSF的示意圖；[0015]圖5A-5B是說(shuō)明在不存在傾斜時(shí)主軌道的LSF和相鄰軌道的LSF的示意圖；[0016]圖6A-6E是說(shuō)明LSF的模擬結(jié)果的示例的示意圖；[0017]圖7A-7C是說(shuō)明在存在軌道偏離(detrack)時(shí)LSF的模擬結(jié)果的示例的示意圖；[0018]圖8是表示具有傾斜的傾斜信號(hào)的變化的曲線圖；[0019]圖9是本發(fā)明實(shí)施例的信號(hào)處理單元的第一示例的框圖；[0020]圖10A-10C是表示FIR濾波器的抽頭系數(shù)(tapcoefficient)的計(jì)算示例(計(jì)算機(jī)模擬)的曲線圖；[0021]圖1IA-1IC是表示FIR濾波器的抽頭系數(shù)的計(jì)算示例(計(jì)算機(jī)模擬)的曲線圖；[0022]圖12A-12C是表示FIR濾波器的抽頭系數(shù)的計(jì)算示例(計(jì)算機(jī)模擬)的曲線圖；[0023]圖13A-13C是表示FIR濾波器的抽頭系數(shù)的計(jì)算示例(計(jì)算機(jī)模擬)的曲線圖；[0024]圖14是本發(fā)明實(shí)施例的信號(hào)處理單元的第二示例的框圖；[0025]圖15是用于解釋延遲量的示意圖；及[0026]圖16是圖示了具有用于控制延遲量的構(gòu)造的信號(hào)處理單元的第二示例的構(gòu)造的框圖?！揪唧w實(shí)施方式】[0027]在下文中，將參考附圖詳細(xì)說(shuō)明本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施例。應(yīng)注意的是，在本說(shuō)明書和附圖中，具有大致相同功能和結(jié)構(gòu)的結(jié)構(gòu)元件由相同的附圖標(biāo)記表示，并省略對(duì)這些結(jié)構(gòu)元件的重復(fù)說(shuō)明。[0028]將以下述順序進(jìn)行說(shuō)明。[0029]1.本發(fā)明的實(shí)施例[0030]2.變化例[0031]1.本發(fā)明的實(shí)施例[0032](光盤裝置的構(gòu)造)[0033]下面將參考圖1說(shuō)明本發(fā)明實(shí)施例的光盤裝置的構(gòu)造。本發(fā)明實(shí)施例的光盤裝置經(jīng)配置用于從或向例如藍(lán)光光盤(注冊(cè)商標(biāo))記錄并再現(xiàn)數(shù)據(jù)。然而，本發(fā)明的實(shí)施例適用于諸如只讀光盤或可記錄盤(一次寫入式光盤(write-oncedisk)或可擦寫式盤(rewritabledisk))等包括壓縮盤(⑶)、數(shù)字多功能光盤(DVD)或下一代光盤等光盤。[0034]例如，在可記錄藍(lán)光光盤的情況下，將波長(zhǎng)為405nm的激光(所謂的藍(lán)色激光)和數(shù)值孔徑(numericalaperture,NA)為0.85的物鏡彼此組合使用，因此針對(duì)相變標(biāo)記(phase-changemark)或變色素標(biāo)記(pigmentchangemark)執(zhí)行記錄和再現(xiàn)操作。在將64KB(千字節(jié))的數(shù)據(jù)塊用作一個(gè)記錄和再現(xiàn)單元(記錄單元塊:RUB(recordingunitblock))的情況下，以0.32μm的軌道間距和0.12μm/bit的線密度執(zhí)行記錄和再現(xiàn)操作。在只讀盤的情況下，使用均具有約λ/4的深度的壓印凹坑(embossedpit)來(lái)記錄數(shù)據(jù)。[0035]記錄和再現(xiàn)單元(RUB)總共具有498幀，這498幀是針對(duì)具有156個(gè)符號(hào)X496中貞的錯(cuò)誤校正碼(ECC:error-correctingcode)塊(簇)通過(guò)在ECC塊的開始和結(jié)束處增加單幀鏈接區(qū)域而生成的。可記錄盤具有形成在其上的蜿蜒槽(擺動(dòng)槽)。擺動(dòng)槽形成記錄/再現(xiàn)軌道。槽的擺動(dòng)包括所謂的“預(yù)刻槽地址(ADIP:addressinpregroove)”數(shù)據(jù)。換句話說(shuō)，可通過(guò)檢測(cè)槽的擺動(dòng)信息來(lái)獲得盤上的地址。[0036]在可記錄盤的情況下，通過(guò)使用軌道上的由擺動(dòng)槽形成的相變標(biāo)記對(duì)記錄標(biāo)記進(jìn)行記錄。通過(guò)使用RLL(I,7)PP(RLL:runlengthlimited,游程限制；PP:Paritypreserve/Prohibitrmtr(repeatedminimumtransitionrunlength)，奇偶保持/禁止重復(fù)最小跳變游程)調(diào)制方法等，以0.12μm/bit(0.08μm/chbit)的線密度來(lái)記錄相變標(biāo)記。當(dāng)由“T”表示通道時(shí)鐘周期時(shí)，標(biāo)記長(zhǎng)度的值處于2T?8T的范圍內(nèi)。在只讀盤的情況下，沒有形成槽。然而，只讀盤包含通過(guò)類似地使用RLL(1，7)PP調(diào)制法調(diào)制的并被記錄在壓印凹坑串中的數(shù)據(jù)。[0037]在將諸如藍(lán)光光盤等光盤90裝載在光盤裝置上時(shí)，主軸馬達(dá)2在記錄/再現(xiàn)期間以恒定線速度(CLV:constantlinearvelocity)或恒定角速度(CAV:constantangularvelocity)可旋轉(zhuǎn)地驅(qū)動(dòng)光盤90。另外,在再現(xiàn)期間,通過(guò)光學(xué)拾取器I(光度頭(opticalhead))讀取光盤90的軌道上所記錄的標(biāo)記信息。當(dāng)在光盤90上記錄數(shù)據(jù)時(shí)，光學(xué)拾取器I將用戶數(shù)據(jù)作為相變標(biāo)記或變色素標(biāo)記記錄在光盤90的軌道上。[0038]另外，例如，通過(guò)壓印凹坑或擺動(dòng)槽記錄等將盤的物理信息等作為再現(xiàn)專用的管理信息記錄在光盤90的內(nèi)周區(qū)域等上。通過(guò)光學(xué)拾取器I讀取所記錄的信息。光學(xué)拾取器I還讀取以槽軌道的擺動(dòng)形式嵌入在盤90上的ADIP信息。[0039]另外，本發(fā)明實(shí)施例的傾斜檢測(cè)和所檢測(cè)的傾斜的校正并不限于在再現(xiàn)光盤時(shí)的處理，也可以在記錄期間執(zhí)行。換句話說(shuō)，如果在記錄期間存在傾斜，則用于記錄的光束光斑發(fā)生變形。為了防止該問(wèn)題，在記錄之前就通過(guò)使用預(yù)先記錄在光盤的預(yù)定記錄區(qū)域中的信號(hào)來(lái)檢測(cè)傾斜，并接著在記錄期間校正該傾斜。特別是，在窄軌道間距的高密度記錄的情況下，優(yōu)選地在記錄期間執(zhí)行傾斜校正。因此，本發(fā)明實(shí)施例的下述說(shuō)明適用于光盤的記錄和再現(xiàn)這兩者。[0040]光學(xué)拾取器I包括充當(dāng)激光源的激光二極管、用于檢測(cè)反射光的光檢測(cè)器、作為激光的輸出端的物鏡以及光學(xué)系統(tǒng)，該光學(xué)系統(tǒng)使用穿過(guò)物鏡的激光照射盤記錄表面并將從盤反射的光引導(dǎo)至光檢測(cè)器。物鏡被保持在光學(xué)拾取器I內(nèi)，使得物鏡可通過(guò)二軸機(jī)構(gòu)在循跡和聚焦方向上移動(dòng)。另外，光學(xué)拾取器I設(shè)置有傾斜校正單元。整個(gè)光學(xué)拾取器I可通過(guò)滑動(dòng)機(jī)構(gòu)3在盤徑向上移動(dòng)。激光驅(qū)動(dòng)器13將驅(qū)動(dòng)電流提供到光學(xué)拾取器I的激光二極管，激光二極管由此生成激光。[0041]來(lái)自盤90的反射光由光檢測(cè)器檢測(cè)，并被轉(zhuǎn)換為與所接收的光的量相對(duì)應(yīng)的電信號(hào)以被提供到矩陣電路4。矩陣電路4包括電流-電壓轉(zhuǎn)換電路、矩陣計(jì)算/放大電路以及用于對(duì)從充當(dāng)光檢測(cè)器的多個(gè)光接收元件輸出的電流進(jìn)行處理的其他電路，且矩陣電路4通過(guò)矩陣計(jì)算處理來(lái)生成所需信號(hào)。例如，矩陣電路4生成對(duì)應(yīng)于再現(xiàn)數(shù)據(jù)的再現(xiàn)信息信號(hào)(reproductioninformationsignal,RF信號(hào))、用于伺服控制的聚焦誤差信號(hào)、循跡誤差信號(hào)(trackingerrorsignal)等。另外,矩陣電路4還生成與槽的擺動(dòng)相關(guān)的信號(hào)，即作為用于檢測(cè)擺動(dòng)的推挽信號(hào)(push-pullsignal)。[0042]從矩陣電路4輸出的再現(xiàn)信息信號(hào)被提供到數(shù)據(jù)檢測(cè)處理單元5。從矩陣電路4輸出的聚焦誤差信號(hào)和循跡誤差信號(hào)被提供到光學(xué)模塊伺服電路11。從矩陣電路4輸出的推挽信號(hào)被提供到擺動(dòng)信號(hào)處理電路6。[0043]數(shù)據(jù)檢測(cè)處理單元5對(duì)再現(xiàn)信息信號(hào)執(zhí)行二值化處理(binarizationprocess)。例如，數(shù)據(jù)檢測(cè)處理單元5對(duì)RF信號(hào)執(zhí)行A/D轉(zhuǎn)換處理、通過(guò)PLL執(zhí)行再現(xiàn)時(shí)鐘生成處理、執(zhí)行局部響應(yīng)(PR:partialresponse)均衡處理、執(zhí)行維特比解碼(Viterbidecoding)(最大似然解碼(maximumlikelihooddecoding))以及執(zhí)行其它處理。通過(guò)執(zhí)行部分響應(yīng)最大似然處理(PRML檢測(cè)方法)來(lái)獲得二進(jìn)制數(shù)據(jù)串。稍后將對(duì)其進(jìn)行詳細(xì)說(shuō)明。數(shù)據(jù)檢測(cè)處理單元5將作為從光盤90讀取的信息的二進(jìn)制數(shù)據(jù)串提供到下一級(jí)的編碼/解碼單元7ο[0044]編碼/解碼單元7在再現(xiàn)期間對(duì)被再現(xiàn)的數(shù)據(jù)執(zhí)行解調(diào)處理，并在記錄期間對(duì)被記錄的數(shù)據(jù)執(zhí)行調(diào)制處理。也就是說(shuō)，編碼/解碼單元7在再現(xiàn)期間執(zhí)行數(shù)據(jù)解調(diào)、去交錯(cuò)、ECC解碼、地址解碼等。編碼/解碼單元7在記錄期間執(zhí)行ECC編碼、交錯(cuò)、數(shù)據(jù)調(diào)制等。[0045]在再現(xiàn)期間，將在數(shù)據(jù)檢測(cè)處理單元5中解碼的二進(jìn)制數(shù)據(jù)串提供到編碼/解碼單元7。編碼/解碼單元7對(duì)二進(jìn)制數(shù)據(jù)串執(zhí)行解調(diào)處理，以從光盤90獲得再現(xiàn)數(shù)據(jù)。也就是說(shuō)，例如，執(zhí)行諸如RLL(1，7)PP調(diào)制等游程限制碼調(diào)制，以便針對(duì)記錄在光盤90中的數(shù)據(jù)執(zhí)行解調(diào)處理和用于執(zhí)行誤差校正的ECC解碼處理，從而從光盤90獲得再現(xiàn)數(shù)據(jù)。[0046]在編碼/解碼單元7中被解碼為再現(xiàn)數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)被傳輸?shù)街鳈C(jī)接口8，并接著基于系統(tǒng)控制器10的指令被傳輸?shù)街鳈C(jī)裝置200。主機(jī)裝置200例如包括計(jì)算機(jī)裝置、視聽(AV)系統(tǒng)裝置等。[0047]在針對(duì)光盤90的記錄/再現(xiàn)期間，對(duì)ADIP信息執(zhí)行處理。換句話說(shuō)，通過(guò)擺動(dòng)信號(hào)處理電路6將從矩陣電路4輸出的作為與槽的擺動(dòng)相關(guān)聯(lián)的信號(hào)的推挽信號(hào)轉(zhuǎn)換為數(shù)字?jǐn)[動(dòng)數(shù)據(jù)。PLL處理生成與推挽信號(hào)同步的時(shí)鐘信號(hào)。ADIP解調(diào)處理單元16對(duì)擺動(dòng)數(shù)據(jù)執(zhí)行解調(diào)處理，以生成用于構(gòu)成ADIP地址的數(shù)據(jù)流，并將數(shù)據(jù)流提供到地址解碼器9。地址解碼器9對(duì)所提供的數(shù)據(jù)執(zhí)行解碼處理以獲得地址值，并將地址值提供到系統(tǒng)控制器10。[0048]在記錄模式中，從主機(jī)裝置200傳輸?shù)挠涗洈?shù)據(jù)通過(guò)主機(jī)接口8被提供到編碼/解碼單元7。在此情況下，編碼/解碼單元7執(zhí)行諸如誤差校正碼相加(ECC編碼)、交錯(cuò)、子碼相加等處理，以作為記錄數(shù)據(jù)的編碼處理。對(duì)具有受到這些處理的數(shù)據(jù)執(zhí)行諸如RLL(1，7)PP方法等游程限制碼調(diào)制。[0049]由編碼/解碼單元7處理的記錄數(shù)據(jù)被提供到寫策略單元14。在寫策略單元14中，對(duì)記錄層的特性、激光光斑形狀、記錄線速度等執(zhí)行作為記錄偏置處理的激光驅(qū)動(dòng)脈沖波形調(diào)整。接著，將激光驅(qū)動(dòng)脈沖輸出到激光驅(qū)動(dòng)器13。[0050]激光驅(qū)動(dòng)器13基于受到記錄補(bǔ)償處理的激光驅(qū)動(dòng)脈沖使電流流入光學(xué)拾取器I中的激光二極管，從而使光學(xué)拾取器I發(fā)出激光。這樣能夠在光盤90上形成與記錄數(shù)據(jù)相對(duì)應(yīng)的標(biāo)記。[0051]光學(xué)模塊伺服電路11根據(jù)矩陣電路4生成聚焦誤差信號(hào)，并根據(jù)循跡誤差信號(hào)生成諸如聚焦、循跡和滑動(dòng)等各種伺服驅(qū)動(dòng)信號(hào)，從而允許執(zhí)行伺服操作。也就是說(shuō)，光學(xué)模塊伺服電路11分別根據(jù)聚焦誤差信號(hào)和循跡誤差信號(hào)生成聚焦驅(qū)動(dòng)信號(hào)和循跡驅(qū)動(dòng)信號(hào)，并允許驅(qū)動(dòng)器18驅(qū)動(dòng)光學(xué)拾取器I中的二軸機(jī)構(gòu)的聚焦線圈和循跡線圈。因此，光學(xué)拾取器1、矩陣電路4、光學(xué)模塊伺服電路11、驅(qū)動(dòng)器18和二軸機(jī)構(gòu)形成了循跡伺服環(huán)路和聚焦伺服環(huán)路。[0052]另外，光學(xué)模塊伺服電路11根據(jù)傾斜校正信號(hào)生成傾斜伺服信號(hào)，并由此生成用于驅(qū)動(dòng)光學(xué)拾取器I中設(shè)置的傾斜校正單元的信號(hào)。如稍后所述，從數(shù)據(jù)檢測(cè)處理單元5提供傾斜校正信號(hào)。傾斜校正單元例如經(jīng)配置通過(guò)使用致動(dòng)器使整個(gè)光學(xué)拾取器或物鏡傾斜?；蛘撸墒褂镁哂杏糜谛Ｕ坌蜗蟛畹膱D案的液晶裝置。[0053]另外，光學(xué)模塊伺服電路11允許光學(xué)拾取器I通過(guò)響應(yīng)于來(lái)自系統(tǒng)控制器10的軌道跳躍(trackjump)命令來(lái)關(guān)閉循跡伺服環(huán)路并輸出跳躍驅(qū)動(dòng)信號(hào)來(lái)執(zhí)行軌道跳躍操作。另外，光學(xué)模塊伺服電路11例如基于作為循跡誤差信號(hào)的低頻成分獲取的滑動(dòng)誤差信號(hào)、來(lái)自系統(tǒng)控制器10的存取執(zhí)行控制等來(lái)生成滑動(dòng)驅(qū)動(dòng)信號(hào)。光學(xué)模塊伺服電路11通過(guò)使用滑動(dòng)驅(qū)動(dòng)器15來(lái)驅(qū)動(dòng)滑動(dòng)機(jī)構(gòu)3。[0054]主軸伺服電路12控制主軸馬達(dá)2以執(zhí)行CLV旋轉(zhuǎn)。主軸伺服電路12通過(guò)如下方式生成主軸誤差信號(hào):獲取在PLL處理中生成的用于擺動(dòng)信號(hào)的時(shí)鐘以作為主軸馬達(dá)2的當(dāng)前旋轉(zhuǎn)速度信息，并將當(dāng)前旋轉(zhuǎn)速度信息與預(yù)定的CLV參考速度信息進(jìn)行比較。另外，在數(shù)據(jù)再現(xiàn)期間，在數(shù)據(jù)信號(hào)處理電路5中由PLL生成的再現(xiàn)時(shí)鐘信號(hào)充當(dāng)主軸馬達(dá)2的當(dāng)前旋轉(zhuǎn)速度信息。因此，通過(guò)將再現(xiàn)時(shí)鐘信號(hào)與預(yù)定的CLV參考速度信息進(jìn)行比較來(lái)生成主軸誤差信號(hào)。此外，主軸伺服電路12輸出基于主軸誤差信號(hào)所生成的主軸驅(qū)動(dòng)信號(hào)，并通過(guò)使用主軸驅(qū)動(dòng)器17來(lái)執(zhí)行主軸馬達(dá)2的CLV旋轉(zhuǎn)。[0055]另外，主軸伺服電路12響應(yīng)于來(lái)自系統(tǒng)控制器10的主軸反沖/制動(dòng)控制信號(hào)而生成主軸驅(qū)動(dòng)信號(hào)，并控制主軸驅(qū)動(dòng)器17以執(zhí)行諸如主軸馬達(dá)2的開始、停止、加速、減速等操作。[0056]通過(guò)經(jīng)配置包括微型計(jì)算機(jī)的系統(tǒng)控制器10對(duì)伺服系統(tǒng)和記錄再現(xiàn)系統(tǒng)中的上述各種操作進(jìn)行控制。系統(tǒng)控制器10響應(yīng)于通過(guò)主機(jī)接口8從主機(jī)裝置200提供的命令執(zhí)行各種處理。例如，當(dāng)從主機(jī)裝置200發(fā)出寫入命令時(shí)，系統(tǒng)控制器10將光學(xué)拾取器I移動(dòng)到將被寫入的地址。接著，編碼/解碼單元7對(duì)主機(jī)裝置200傳輸?shù)臄?shù)據(jù)(例如，視頻數(shù)據(jù)、音頻數(shù)據(jù)等)執(zhí)行上述編碼處理。接著，激光驅(qū)動(dòng)器13被驅(qū)動(dòng)以基于編碼數(shù)據(jù)發(fā)射激光，以執(zhí)行記錄。[0057]另外，在從主機(jī)裝置200提供用于請(qǐng)求對(duì)記錄在光盤90上的數(shù)據(jù)進(jìn)行傳輸?shù)淖x取命令的情況下，系統(tǒng)控制器10首先將指定地址用作目標(biāo)來(lái)執(zhí)行搜索操作控制。也就是說(shuō)，系統(tǒng)控制器10向光學(xué)模塊伺服電路11發(fā)出命令，并使光學(xué)模塊伺服電路11通過(guò)使用被搜索命令指定為目標(biāo)的地址來(lái)執(zhí)行光學(xué)拾取器I的存取操作。接著，系統(tǒng)控制器10執(zhí)行必要的操作控制以將所指示的數(shù)據(jù)段中的數(shù)據(jù)傳輸?shù)街鳈C(jī)裝置200。也就是說(shuō)，系統(tǒng)控制器10從盤90讀取數(shù)據(jù)，并使數(shù)據(jù)檢測(cè)處理單元5和編碼/解碼單元7對(duì)數(shù)據(jù)執(zhí)行再現(xiàn)處理，從而傳輸所請(qǐng)求的數(shù)據(jù)。[0058]另外，雖然在圖1的示例中說(shuō)明了與主機(jī)裝置200連接的光盤裝置，但光盤裝置可具有沒有連接到其他裝置的構(gòu)造。在此情況下，光盤裝置可設(shè)置有操作單元或顯示單元，或它的數(shù)據(jù)輸入/輸出接口單元的構(gòu)造不同于圖1中的構(gòu)造。也就是說(shuō)，上述構(gòu)造允許基于用戶操作來(lái)執(zhí)行記錄或再現(xiàn)，且其可設(shè)置有用于輸入或輸出各種類型的數(shù)據(jù)的端子。顯然地，光盤裝置也可以具有各種其它構(gòu)造示例。[0059](實(shí)施例的數(shù)據(jù)檢測(cè)處理單元)[0060]實(shí)施例的數(shù)據(jù)檢測(cè)處理單元5經(jīng)配置用于通過(guò)對(duì)相鄰軌道的信號(hào)執(zhí)行數(shù)字濾波處理并從主軌道的再現(xiàn)信號(hào)中減去數(shù)字濾波器的輸出信號(hào)來(lái)消除串?dāng)_。在本發(fā)明的實(shí)施例中，根據(jù)數(shù)字濾波器的抽頭系數(shù)的值來(lái)檢測(cè)光盤的傾斜。[0061](使用LSF對(duì)串?dāng)_特性進(jìn)行估計(jì))[0062]在實(shí)施例中，使用線散布函數(shù)(LSF:linespreadfunction)來(lái)估計(jì)串?dāng)_特性。這里，將對(duì)LSF和光盤的再現(xiàn)信號(hào)之間的關(guān)系進(jìn)行說(shuō)明。[0063]可通過(guò)執(zhí)行偽計(jì)算(pseudo-calculation)來(lái)獲得來(lái)自光盤90的再現(xiàn)信號(hào)，在該偽計(jì)算中，對(duì)通過(guò)使由光學(xué)拾取器I的物鏡收集的光斑的強(qiáng)度分布(點(diǎn)散布函數(shù)(PSF:pointspreadfunction);二維分布)乘以標(biāo)記反射率Mark(x,y)(O表示不存在標(biāo)記，I表示存在標(biāo)記)而獲得的值進(jìn)行積分。這里，X表示軌道方向上的移動(dòng)量。【權(quán)利要求】1.一種傾斜檢測(cè)方法，其包括:將分別從至少兩個(gè)軌道幾乎同時(shí)地再現(xiàn)的再現(xiàn)信號(hào)提供到第一濾波器和第二濾波器，所述至少兩個(gè)軌道包括位于主軌道兩側(cè)的第一相鄰軌道和第二相鄰軌道；使合成單元將所述第一濾波器和所述第二濾波器的輸出信號(hào)與以與所述第一相鄰軌道和所述第二相鄰軌道幾乎同時(shí)的方式從所述主軌道再現(xiàn)的再現(xiàn)信號(hào)合成，以便消除串?dāng)_；使系數(shù)控制單元使用所述合成單元的輸出信號(hào)的目標(biāo)值來(lái)獲得誤差，并控制所述第一濾波器和所述第二濾波器的系數(shù)以減小所述誤差；以及根據(jù)所述第一濾波器和所述第二濾波器的預(yù)定抽頭的系數(shù)的值來(lái)檢測(cè)光盤的傾斜。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的傾斜檢測(cè)方法，其中，所述第一濾波器和所述第二濾波器是FIR濾波器，且檢測(cè)所述系數(shù)的值之間的差值作為所述光盤的傾斜。3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的傾斜檢測(cè)方法，其中，通過(guò)使用所述主軌道、所述第一相鄰軌道和所述第二相鄰軌道在軌道方向上的布置位置作為基準(zhǔn)來(lái)獲得所述第一濾波器和所述第二濾波器各自的與直到預(yù)定位置的范圍相對(duì)應(yīng)的抽頭系數(shù)的和，并檢測(cè)所述系數(shù)的和之間的差值作為所述光盤的傾斜。4.根據(jù)權(quán)利要求1-3中任一項(xiàng)所述的傾斜檢測(cè)方法，其中，根據(jù)模擬結(jié)果來(lái)設(shè)置所述范圍。5.根據(jù)權(quán)利要求1-3中任一項(xiàng)所述的傾斜檢測(cè)方法，其中，所述預(yù)定位置是直到±(λ/ΝΑ/2~λ/NA)的位置。6.根據(jù)權(quán)利要求1-3中任一項(xiàng)所述的傾斜檢測(cè)方法，其中，檢測(cè)所述系數(shù)的和之間的差值作為所述光盤的傾斜的方向。7.一種光盤裝置，其包括:拾取器，其分別從主軌道和至少兩個(gè)軌道幾乎同時(shí)地獲取再現(xiàn)信號(hào)，所述至少兩個(gè)軌道包括位于所述主軌道兩側(cè)的第一相鄰軌道和第二相鄰軌道；第一濾波器，從所述第一相鄰軌道再現(xiàn)的第一再現(xiàn)信號(hào)被提供到所述第一濾波器；第二濾波器，從所述第二相鄰軌道再現(xiàn)的第二再現(xiàn)信號(hào)被提供到所述第二濾波器；合成單元，其將所述第一濾波器和所述第二濾波器的輸出信號(hào)與所述主軌道的再現(xiàn)信號(hào)進(jìn)行合成，以消除串?dāng)_；系數(shù)控制單元，其使用所述合成單元的輸出信號(hào)的目標(biāo)值來(lái)獲得誤差，并控制所述第一濾波器和所述第二濾波器的系數(shù)以減少所述誤差；傾斜檢測(cè)單元，其根據(jù)所述第一濾波器和所述第二濾波器的預(yù)定抽頭的系數(shù)的值作為光盤的傾斜進(jìn)行檢測(cè)；以及傾斜校正單元，其校正所檢測(cè)的傾斜。8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的光盤裝置，其中，所述第一濾波器和所述第二濾波器是FIR濾波器，且所述傾斜檢測(cè)單元檢測(cè)所述系數(shù)的值之間的差值作為所述光盤的傾斜。9.根據(jù)權(quán)利要求7所述的光盤裝置，其中，所述傾斜檢測(cè)單元通過(guò)使用所述主軌道、所述第一相鄰軌道和所述第二相鄰軌道在軌道方向上的布置位置作為基準(zhǔn)來(lái)獲得所述第一濾波器和所述第二濾波器各自的與直到預(yù)定位置的范圍相對(duì)應(yīng)的抽頭系數(shù)的和，并檢測(cè)所述系數(shù)的和之間的差值作為所述光盤的傾斜。10.根據(jù)權(quán)利要求7-9中任一項(xiàng)所述的光盤裝置，其中，所述傾斜檢測(cè)單元根據(jù)模擬結(jié)果來(lái)設(shè)置所述范圍。11.根據(jù)權(quán)利要求7-9中所述的光盤裝置，其中，所述預(yù)定位置是直到±(λ/ΝΑ/2~λ/NA)的位置。12.根據(jù)權(quán)利要求7-9中所述的光盤裝置，其中，所述傾斜檢測(cè)單元檢測(cè)所述系數(shù)的和之間的差值作為所述光盤的傾斜的方向?！疚臋n編號(hào)】G11B7/007GK103680529SQ201310381547【公開日】2014年3月26日申請(qǐng)日期:2013年8月28日優(yōu)先權(quán)日:2012年9月6日【發(fā)明者】齊藤公博,白石淳也申請(qǐng)人:索尼公司