專(zhuān)利名稱(chēng)：光拾取裝置和光盤(pán)裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及光拾取裝置和光盤(pán)裝置。
背景技術(shù)：
作為本技術(shù)領(lǐng)域的背景技術(shù)，例如有日本專(zhuān)利特開(kāi)2006-344344號(hào)公報(bào)(專(zhuān)利文獻(xiàn)1)。該公報(bào)中，記載了“從具有多個(gè)記錄層的光盤(pán)高精度地獲取期望的信號(hào)”作為研究問(wèn)題，而作為解決方法記載了 “從光源單元51出射的P偏振的光束，被光盤(pán)15反射，成為S偏振入射到透鏡61。而1/4波片62、63均對(duì)入射到光軸的+X側(cè)的光束附加+1/4波長(zhǎng)的光學(xué)相位差，對(duì)入射到光軸的-X側(cè)的光束附加-1/4波長(zhǎng)的光學(xué)相位差。由此經(jīng)過(guò)1/4波片63 的信號(hào)光成為S偏振光，雜散光成為P偏振光，偏振光學(xué)元件64僅使信號(hào)光通過(guò)”。此外，例如在非專(zhuān)利文獻(xiàn)1記載了 “對(duì)雙層光盤(pán)進(jìn)行記錄/再現(xiàn)時(shí)，若包含從與目標(biāo)層不同的層反射的光的其它層雜散光入射到光電探測(cè)器，則TE信號(hào)中會(huì)產(chǎn)生偏移 (offset)。因此，在沒(méi)有應(yīng)對(duì)其它層雜散光措施的以往的結(jié)構(gòu)中，相比單層的情況雙層光盤(pán)時(shí)TE信號(hào)的偏移更大，妨礙了穩(wěn)定的控制”作為研究問(wèn)題，而作為解決方法，記載了“將跟蹤用光電探測(cè)器配置在沒(méi)有其它層雜散光的區(qū)域上”。此外，該結(jié)構(gòu)在日本專(zhuān)利特開(kāi) 2004-281026(專(zhuān)利文獻(xiàn)2)中也有記載。專(zhuān)利文獻(xiàn)1 日本專(zhuān)利特開(kāi)2006-344344號(hào)公報(bào)(第沈頁(yè)、圖3、圖5)專(zhuān)利文獻(xiàn)2 日本專(zhuān)利特開(kāi)2004-281026 (第71頁(yè)、圖22、圖24、圖25)專(zhuān)利文獻(xiàn)3 日本專(zhuān)利特開(kāi)2009-170060非專(zhuān)利文獻(xiàn)1 電子信息通信學(xué)會(huì)信學(xué)技報(bào)CPM2005-149 (2005-10)(第33頁(yè)、圖 4、圖 5)

發(fā)明內(nèi)容
一般地，光拾取裝置為了將光斑正確地照射在光盤(pán)內(nèi)的規(guī)定的記錄軌道上，除了通過(guò)檢測(cè)聚焦誤差信號(hào)使物鏡在聚焦方向上移位以在聚焦方向上進(jìn)行調(diào)整之外，還檢測(cè)跟蹤誤差信號(hào)，使物鏡在光盤(pán)半徑方向(Rad方向)上移位以進(jìn)行跟蹤調(diào)整。根據(jù)這些信號(hào)進(jìn)行物鏡的位置控制。上述伺服信號(hào)中的跟蹤誤差信號(hào)，在由2層以上的記錄層構(gòu)成的多層光盤(pán)的情況下成為較大的課題。多層光盤(pán)中，除了在目標(biāo)記錄層反射的信號(hào)光之外，在非目標(biāo)的多個(gè)記錄層反射的雜散光也同樣入射到受光部上。當(dāng)信號(hào)光和雜散光入射到受光部上時(shí)，兩束以上的光束發(fā)生干涉，其變動(dòng)成分會(huì)被作為跟蹤誤差信號(hào)檢測(cè)到。對(duì)于該問(wèn)題，專(zhuān)利文獻(xiàn)1中采用了以下結(jié)構(gòu)將光盤(pán)反射的光束用會(huì)聚透鏡會(huì)聚， 并使之透過(guò)2塊1/4波片和偏振光學(xué)元件，然后將發(fā)散的光用會(huì)聚透鏡會(huì)聚，照射到檢測(cè)器上。因此，存在檢測(cè)光學(xué)系統(tǒng)變得復(fù)雜、光拾取裝置尺寸變大的問(wèn)題。非專(zhuān)利文獻(xiàn)1 (專(zhuān)利文獻(xiàn)2、中，由于在產(chǎn)生于聚焦用光檢測(cè)器的周?chē)木劢褂霉馐膩?lái)自其它層的雜散光的外側(cè)配置跟蹤用光檢測(cè)器，并進(jìn)一步地使在全息元件的中央部衍射的光行進(jìn)到來(lái)自其它層的雜散光的外側(cè)，產(chǎn)生因光檢測(cè)器的大小增加所帶來(lái)的拾取裝置的尺寸的問(wèn)題和成本的問(wèn)題。本發(fā)明的目的在于，提供一種在對(duì)具有多個(gè)信息記錄面的信息記錄介質(zhì)進(jìn)行記錄 /再現(xiàn)時(shí)，能夠得到穩(wěn)定的伺服信號(hào)且能夠小型化的光拾取裝置和搭載該光拾取裝置的光
舟^晉
InL 且 O上述目的，可通過(guò)以下技術(shù)方案來(lái)實(shí)現(xiàn)。S卩，本發(fā)明提供一種光拾取裝置，包括出射激光的半導(dǎo)體激光器；將從上述半導(dǎo)體激光器出射的光束照射到光盤(pán)上的物鏡；將從光盤(pán)反射的光束分束的衍射光柵；和具有多個(gè)接收被上述衍射光柵分束后的光束的受光部的光檢測(cè)器，其中，上述衍射光柵，被經(jīng)過(guò)上述衍射光柵中心的與上述光盤(pán)的切線(xiàn)方向大致一致的分割線(xiàn)和與上述光盤(pán)的半徑方向大致一致的分割線(xiàn)，分成不包含與上述光盤(pán)的半徑方向大致一致的分割線(xiàn)的至少4個(gè)光柵區(qū)域，對(duì)入射到不包含與上述光盤(pán)的半徑方向大致一致的分割線(xiàn)的至少4個(gè)光柵區(qū)域的光束的+1級(jí)光柵衍射光和-1級(jí)光柵衍射光中的一種(一方的)光柵衍射光進(jìn)行檢測(cè)的受光部，在與上述光盤(pán)的半徑方向大致一致的方向上呈大致直線(xiàn)地排列，檢測(cè)另一種(另一方的)光柵衍射光的受光部，以相對(duì)于與上述光盤(pán)的切線(xiàn)方向大致一致的方向錯(cuò)開(kāi)(偏移) 的方式排列。通過(guò)本發(fā)明，能夠提供一種在對(duì)具有多個(gè)信息記錄面的信息記錄介質(zhì)進(jìn)行記錄/ 再現(xiàn)時(shí)，能夠得到穩(wěn)定的伺服信號(hào)且能夠小型化的光拾取裝置和搭載該光拾取裝置的光盤(pán)
直ο


圖1是說(shuō)明實(shí)施例1中本發(fā)明的光學(xué)系統(tǒng)的圖。圖2是表示實(shí)施例1中本發(fā)明的衍射光柵的圖。圖3是表示實(shí)施例1中本發(fā)明的光檢測(cè)器的受光部配置的圖。圖4是表示實(shí)施例1中本發(fā)明的雙層光盤(pán)記錄/再現(xiàn)時(shí)來(lái)自其它層的雜散光的圖。圖5是說(shuō)明實(shí)施例1中本發(fā)明的光束的光檢測(cè)器上的會(huì)聚位置隨著入射方向的不同而不同的圖。圖6是表示在與實(shí)施例1中的本發(fā)明不同的受光部配置下的雙層光盤(pán)記錄/再現(xiàn)時(shí)來(lái)自其它層的雜散光的圖。圖7是表示實(shí)施例1中本發(fā)明的其它的衍射光柵的圖。圖8是表示實(shí)施例2中本發(fā)明的光檢測(cè)器的受光部配置的圖。圖9是表示實(shí)施例3中本發(fā)明的光檢測(cè)器的受光部配置的圖。圖10是表示實(shí)施例3中本發(fā)明的雙層光盤(pán)記錄/再現(xiàn)時(shí)來(lái)自其它層的雜散光的圖。圖11是表示實(shí)施例4中本發(fā)明的光檢測(cè)器的受光部配置的圖。圖12是表示實(shí)施例4中本發(fā)明的衍射光柵的圖。圖13是表示實(shí)施例4中本發(fā)明的其它的衍射光柵的圖。圖14是說(shuō)明實(shí)施例5中的光學(xué)再現(xiàn)裝置的圖。
圖15是說(shuō)明實(shí)施例6中的光學(xué)記錄再現(xiàn)裝置的圖。附圖標(biāo)記說(shuō)明2 物鏡5 致動(dòng)器10 光檢測(cè)器11 衍射光柵50 半導(dǎo)體激光器51 準(zhǔn)直透鏡52 分束器54 擴(kuò)束器55 立起反射鏡56 :1/4 波片170 光拾取裝置171 主軸電動(dòng)機(jī)驅(qū)動(dòng)電路172 訪(fǎng)問(wèn)控制電路173 致動(dòng)器驅(qū)動(dòng)電路174:伺服信號(hào)生成電路175 信息信號(hào)再現(xiàn)電路176:控制電路177:激光發(fā)光電路178 信息記錄電路179 球面像差修正元件驅(qū)動(dòng)電路180:主軸電動(dòng)機(jī)Da Di 衍射光柵區(qū)域Dab、Dcd 衍射光柵區(qū)域al ~ hl> a2 ~ h2> abl> ab2> cdl、cd2> r ~ v> re、se> tg、ug、tf > uf > rh> sh、il、
i2 :受光部
具體實(shí)施例方式(實(shí)施例1)圖1表示本發(fā)明的第一實(shí)施例的光拾取裝置的光學(xué)系統(tǒng)。此處針對(duì)BD(Blu-ray Disc，藍(lán)光光盤(pán))進(jìn)行說(shuō)明，但也可以是DVD(Digital Versatile Disc，數(shù)字多用途光盤(pán)) 或其他記錄方式。另外，以下說(shuō)明中，光盤(pán)的層包括記錄型光盤(pán)中的記錄層，和再現(xiàn)專(zhuān)用的光盤(pán)的再現(xiàn)層。波長(zhǎng)約405nm的光束從半導(dǎo)體激光器50作為發(fā)散光出射。從半導(dǎo)體激光器50 出射的光束在分束器52反射。此外一部分光束透過(guò)分束器52入射到前監(jiān)視器(front monitor) 53。一般來(lái)說(shuō)，在對(duì)BD-RE、BD-R等記錄型的光盤(pán)記錄信息時(shí)，由于將規(guī)定的光量照射到光盤(pán)的記錄面上，需要高精度地控制半導(dǎo)體激光器的光量。因此，在對(duì)記錄型的光盤(pán)記錄信號(hào)時(shí)，前監(jiān)視器53檢測(cè)半導(dǎo)體激光器50的光量的變化，反饋回半導(dǎo)體激光器50的驅(qū)動(dòng)電路(圖中未示出)。由此能夠監(jiān)視光盤(pán)上的光量。在分束器52反射的光束由準(zhǔn)直透鏡51變換成大致平行的光束。透過(guò)準(zhǔn)直透鏡51 的光束入射到擴(kuò)束器M。擴(kuò)束器M用于改變光束的發(fā)散、會(huì)聚的狀態(tài)，以補(bǔ)償因光盤(pán)100 的覆蓋層的厚度誤差引起的球面像差。從擴(kuò)束器M出射的光束經(jīng)立起反射鏡陽(yáng)反射，在通過(guò)1/4波片56后，由搭載于致動(dòng)器5的物鏡2會(huì)聚在光盤(pán)100上。光盤(pán)100反射的光束經(jīng)過(guò)物鏡2、1/4波片56、立起反射鏡55、擴(kuò)束器M、準(zhǔn)直透鏡51、分束器52，入射到衍射光柵11。在衍射光柵11的作用下，光束被分割成多個(gè)區(qū)域， 不同區(qū)域分別向不同方向行進(jìn)，聚焦在光檢測(cè)器10上。光檢測(cè)器10上形成有多個(gè)受光部， 各受光部被由衍射光柵11分割后的光束分別照射。根據(jù)照射到受光部上的光量，從光檢測(cè)器10輸出電信號(hào)，對(duì)這些輸出進(jìn)行運(yùn)算，輸出作為再現(xiàn)信號(hào)的RF信號(hào)、聚焦誤差信號(hào)和跟蹤誤差信號(hào)。圖2表示衍射光柵11的形狀。實(shí)線(xiàn)表示區(qū)域的邊界線(xiàn)，雙點(diǎn)劃線(xiàn)表示激光光束的外形，斜線(xiàn)部分表示經(jīng)光盤(pán)軌道衍射的0級(jí)衍射光與士1級(jí)衍射光干涉的區(qū)域(推挽圖樣， push-pull pattern)。衍射光柵11上形成有僅有經(jīng)光盤(pán)上的軌道衍射的衍射光的0級(jí)衍射光入射的區(qū)域De、Df、Dg、Dh (區(qū)域Α)、衍射光的0級(jí)衍射光和士 1級(jí)衍射光入射的區(qū)域 Da、Db、Dc、Dd (區(qū)域B)和區(qū)域Di (區(qū)域C)。衍射光柵11的區(qū)域Di以外的分光比例如為0級(jí)光+1級(jí)光-1級(jí)光= 0:7: 3，區(qū)域Di的分光比為0級(jí)光+1級(jí)光-1級(jí)光=0 1 1。光檢測(cè)器10為如圖3所的樣式(pattern)。圖中的黑點(diǎn)表示信號(hào)光。在此，經(jīng)衍射光柵11的區(qū)域Da、Db、Dc、Dd、De、Df、Dg、Dh、Di衍射的+1級(jí)光分別入射到如圖3所示的光檢測(cè)器10的受光部al、bl、Cl、dl、el、fl、gl、hl、il中。此外，經(jīng)區(qū)域Da、Db、Dc、Dd衍射的-1級(jí)光入射到聚焦誤差信號(hào)檢測(cè)用的受光部r、s、t、u、ν中，經(jīng)區(qū)域De、Df、Dg、Dh、Di衍射的-1級(jí)光分別入射到受光部e2、f2、g2、h2、i2中。對(duì)于從受光部&1、131、(；1、(11、61、打41、111、士1、1~、8、仏11、￥、62^242、112、土2得到的信號(hào) Al、B 1、C1、D1、E1、F1、G1、H1、I1、R、S、T、U、V、E2、F2、G2、H2、12，通過(guò)進(jìn)行以下運(yùn)算生成聚焦誤差信號(hào)、跟蹤誤差信號(hào)和RF信號(hào)。式1 FES = (R+T+V) - (S+U)TES = {(A1+B1+E1+F1)-(C1+D1+G1+H1)}_kt X {(E2+F2)-(G2+H2)}RF = A1+B1+C1+D1+E1+F1+G1+H1+I1+I2此外，關(guān)于跟蹤誤差信號(hào)也可以用下面的運(yùn)算。式2 TES= {(A1+B1) - (C1+D1)} -kt X {(E1+F1) - (G1+H1)}其中，kt是使得物鏡移位時(shí)跟蹤誤差信號(hào)中不產(chǎn)生DC成分的系數(shù)。在此，聚焦誤差檢測(cè)方式為刀口方式，由于該方式已為眾所周知故省略說(shuō)明。圖4表示雙層光盤(pán)記錄/再現(xiàn)時(shí)的受光部與來(lái)自其它層的雜散光的關(guān)系。本實(shí)施例中對(duì)雙層光盤(pán)進(jìn)行說(shuō)明，但對(duì)于層數(shù)在雙層以上的光盤(pán)也可得到同樣的效果。在此，(a) 表示LO層記錄/再現(xiàn)時(shí)，(b)表示Ll層記錄/再現(xiàn)時(shí)。并且，圖中的斜線(xiàn)區(qū)域表示來(lái)自雙層光盤(pán)的其它層的雜散光。此外，圖4(a)的受光部上的箭頭表示雜散光的模糊的方向(變模糊的方向)，點(diǎn)劃線(xiàn)表示連結(jié)受光部e2和g2的中心的直線(xiàn)，以及連接f2和h2的中心的直線(xiàn)。由該圖可知，除經(jīng)衍射光柵11的Di區(qū)域衍射的光束外，受光面上信號(hào)光與來(lái)自其它層的雜散光沒(méi)有重合。不過(guò)，由于從受光面il、 2檢測(cè)出的信號(hào)II、12不用于跟蹤誤差信號(hào)的檢測(cè)，僅用于再現(xiàn)信號(hào)的檢測(cè)，所以即使存在雜散光在實(shí)用上也不存在問(wèn)題。在實(shí)際的信號(hào)檢測(cè)中，由于物鏡一邊追蹤光盤(pán)上的軌道一邊進(jìn)行記錄/再現(xiàn)，所以物鏡在半徑方向(下面稱(chēng)為Rad方向)上移位。當(dāng)物鏡移位時(shí)，光檢測(cè)器上僅雜散光成分移位。因此，如果是通常的光檢測(cè)器的受光面樣式，則當(dāng)物鏡移位時(shí)，受光面上可能有來(lái)自其它層的雜散光入射。對(duì)此，本發(fā)明中通過(guò)針對(duì)衍射光柵11的樣式對(duì)光檢測(cè)器10進(jìn)行最優(yōu)化，使物鏡的移位容許量變大。在此必須考慮的是，相對(duì)于透鏡移位方向如何分離信號(hào)光和雜散光。對(duì)此，按照日本專(zhuān)利特開(kāi)2009-170060(專(zhuān)利文獻(xiàn)幻所說(shuō)明的那樣，當(dāng)衍射光柵的區(qū)域在Rad方向上遠(yuǎn)離光束中心15的情況下(Da、Db、Dc、Dd(區(qū)域B))，對(duì)經(jīng)這些區(qū)域衍射的光束進(jìn)行檢測(cè)的受光面在Tan方向上排列，在Rad方向上避開(kāi)雜散光。另外，當(dāng)衍射光柵的區(qū)域在Tan方向上遠(yuǎn)離光束中心15的情況下(De、Df、Dg、Dh (區(qū)域A))，對(duì)經(jīng)這些區(qū)域衍射的光束進(jìn)行檢測(cè)的受光面在Rad方向上排列，在Tan方向上避開(kāi)雜散光。在此，針對(duì)本實(shí)施例與專(zhuān)利文獻(xiàn)3的不同進(jìn)行說(shuō)明。如上所述，專(zhuān)利文獻(xiàn)3使用與本實(shí)施例相同的衍射光柵11，使對(duì)經(jīng)衍射光柵區(qū)域Da、Db、Dc、Dd(區(qū)域B)衍射的光束進(jìn)行檢測(cè)的受光部在Tan方向上排列，并使對(duì)經(jīng)Dh、De、Df、Dg (區(qū)域A)衍射的光束進(jìn)行檢測(cè)的受光部在Rad方向上排列，由此有效地回避其它層的雜散光。然而在光拾取器小型化方面， 專(zhuān)利文獻(xiàn)3存在以下問(wèn)題。為了使光拾取裝置小型化，減小光學(xué)倍率是有效的。然而，若返回路徑的光學(xué)倍率變小，則入射到衍射光柵的光束的入射角在各區(qū)域上大為不同。圖5表示從圖2的Rad方向的正側(cè)觀察衍射光柵11時(shí)的光束、衍射光柵11、光檢測(cè)器10的關(guān)系。在此，圖中的虛線(xiàn)表示入射到衍射光柵區(qū)域De、Dh的光束，點(diǎn)劃線(xiàn)表示入射到衍射光柵區(qū)域Df、Dg的光束。 在此需要注意的是，入射到衍射光柵區(qū)域De、Dh的光束的入射角度與入射到衍射光柵區(qū)域 Df、Dg的光束的入射角度大為不同。根據(jù)衍射光柵的原理，從衍射光柵出射的光束，以相對(duì)于入射的光束的入射角成相同的衍射角度的方式衍射。因此，如果使衍射光柵區(qū)域De、Df、 Dg、Dh的+1級(jí)衍射光在受光部上的Tan方向上的位置一致，則-1級(jí)衍射光在受光部上的 Tan方向上的位置不一致。此外，例如如果使衍射光柵區(qū)域De、Df、Dg、Dh的-1級(jí)衍射光在受光部上的Tan方向上的位置一致，則+1級(jí)衍射光在受光部上的Tan方向上的位置不一致。最多只能使士 1級(jí)衍射光中之一者的Tan方向上的位置一致。在此，雖然在Tan方向上增大受光部就可以應(yīng)對(duì)，但若增大受光部則多層雜散光會(huì)隨之入射到受光部中。此外，雖然也可以配合信號(hào)光的位置來(lái)配置受光部，但根據(jù)受光部的配置方法的不同，會(huì)成為多層雜散光容易入射的結(jié)構(gòu)。圖6表示在將與本實(shí)施例相反的一側(cè)的受光部(e2、f2、g2、h2)在Rad方向排列的情況下，雙層光盤(pán)記錄/再現(xiàn)時(shí)受光部與來(lái)自其它層的雜散光的關(guān)系。并且，(a)表示LO 層記錄/再現(xiàn)時(shí)，(b)表示Ll層記錄/再現(xiàn)時(shí)。此外，圖6(a)的受光部上的箭頭表示雜散光的模糊方向，點(diǎn)劃線(xiàn)表示連結(jié)受光部el和gl的中心的直線(xiàn)，以及連結(jié)fl和hi的中心的直線(xiàn)。
由圖6(a)可知，在LO層記錄/再現(xiàn)時(shí)，完全地回避了雜散光。相對(duì)地，在圖6(b) 所示的Ll層記錄/再現(xiàn)的情況下有雜散光入射(點(diǎn)線(xiàn)部分)。此外，隨著物鏡在Rad方向上追蹤，雜散光也在Rad方向上移位，所以圖6的結(jié)構(gòu)不能回避雜散光。這依賴(lài)于雜散光模糊的方向與連結(jié)受光部的直線(xiàn)間的角度。隨著雜散光的模糊方向(箭頭)與連結(jié)受光部的直線(xiàn)(點(diǎn)劃線(xiàn))的角度偏離垂直，雜散光變得容易入射到受光部，例如當(dāng)雜散光的模糊方向(箭頭)與連結(jié)受光部的直線(xiàn)(點(diǎn)劃線(xiàn))的角度達(dá)到0或者 180度的情況下，雜散光將完全地入射到相鄰的受光部中。因此，盡量地使雜散光的模糊方向(箭頭)與連結(jié)受光部的直線(xiàn)(點(diǎn)劃線(xiàn))的角度接近垂直變得非常重要。在此，本實(shí)施例的受光部配置下，可考慮圖3(圖4)的受光部配置和圖6的受光部配置，雜散光的模糊方向(箭頭)與連結(jié)受光部的直線(xiàn)(點(diǎn)劃線(xiàn))間的角度接近垂直的是圖3(圖4)所示的本實(shí)施例的受光部配置，通過(guò)如此配置能夠有效地回避雜散光。此外，作為本實(shí)施例的特征，使對(duì)雜散光的模糊方向大致相同的衍射光柵區(qū)域 (相對(duì)于衍射光柵中心呈點(diǎn)對(duì)稱(chēng)的區(qū)域。區(qū)域a和C、區(qū)域b和d)的衍射光進(jìn)行檢測(cè)的受光部相鄰地配置。通過(guò)如此配置，相鄰受光部的雜散光的模糊方向相同，所以容易回避雜散光。另外，如圖3 (圖4)所示的本發(fā)明的結(jié)構(gòu)中，通過(guò)將-1級(jí)衍射光的受光部r、s、t、 u、ν、e2、f2、g2、h2以Y字形狀配置，受光部r、s、t、u、ν、e2、f2、g2、h2成為不易受雜散光影響的受光部配置。此外，通過(guò)將+1級(jí)衍射光的受光部31、131、(31、(11、61、打41、111以T 字狀配置，能夠與專(zhuān)利文獻(xiàn)3同樣地有效地回避雜散光。如上所述，當(dāng)使入射到由經(jīng)過(guò)衍射光柵中心的大致Tan方向和大致Rad方向的分割線(xiàn)分開(kāi)的不包含大致Rad方向的分割線(xiàn)的至少4個(gè)區(qū)域上的光束在大致Tan方向上衍射，而(受光部)在光檢測(cè)器上沿大致Rad方向排列時(shí)，通過(guò)使+1級(jí)衍射光和-1級(jí)衍射光中之一種衍射光(例如+1級(jí)衍射光)的受光部在大致Rad方向上成大致直線(xiàn)，并使另一種衍射光(例如-1級(jí)衍射光)的受光部在Tan方向上錯(cuò)開(kāi)，則即使減小光學(xué)倍率，也能夠有效地分離信號(hào)光和雜散光。由此，即使減小光學(xué)倍率來(lái)將光拾取裝置小型化，也能夠檢測(cè)出穩(wěn)定的伺服信號(hào)。此外，本實(shí)施例中衍射光柵11以圖2說(shuō)明，但為例如圖7(a)、(b)的樣式也可以得到相同的效果。進(jìn)一步地，本實(shí)施例中衍射光柵配置在透過(guò)分束器后的位置，但若使衍射光柵11為偏振衍射光柵，則即使配置在透過(guò)分束器前的位置也可以得到相同的效果。此外，對(duì)于球面像差修正沒(méi)有限定。并且，本實(shí)施例中衍射光柵區(qū)域Di的衍射光由受光部il、i2檢測(cè)，但并不限定于此，也可以利用一側(cè)的受光面進(jìn)行檢測(cè)。另外，本實(shí)施例中 +1級(jí)衍射光的受光部31、131、(1、(11、61、打41、111以T字形狀配置，-1級(jí)衍射光的受光部 r、s、t、U、ν、e2、f2、g2、h2以Y字形狀配置，但并不限定于此，例如也可以通過(guò)交換相鄰受光部的信號(hào)光，將-1級(jí)衍射光的受光部配置為T(mén)字形狀，將+1級(jí)衍射光的受光部配置為Y 字形狀。此外，對(duì)于其它級(jí)數(shù)的衍射光也可以得到同樣的效果。(實(shí)施例2)圖8表示本發(fā)明的第二實(shí)施例的光拾取裝置的光檢測(cè)器10的受光部。其中，光檢測(cè)器10的受光部與實(shí)施例1不同，除此之外為與實(shí)施例1相同的結(jié)構(gòu)。波長(zhǎng)約405nm的光束從半導(dǎo)體激光器50作為發(fā)散光出射。從半導(dǎo)體激光器50出射的光束在分束器52反射。此外一部分光束透過(guò)分束器52入射到前監(jiān)視器53。一般來(lái)說(shuō)，在對(duì)BD-RE、BD-R等記錄型的光盤(pán)記錄信息時(shí)，由于將規(guī)定的光量照射到光盤(pán)的記錄面上，需要高精度地控制半導(dǎo)體激光器的光量。因此，在對(duì)記錄型的光盤(pán)記錄信號(hào)時(shí)，前監(jiān)視器53檢測(cè)半導(dǎo)體激光器50的光量的變化，反饋回半導(dǎo)體激光器50的驅(qū)動(dòng)電路(圖中未示出)。由此能夠監(jiān)視光盤(pán)上的光量。在分束器52反射的光束由準(zhǔn)直透鏡51變換成大致平行的光束。透過(guò)準(zhǔn)直透鏡51 的光束入射到擴(kuò)束器M。擴(kuò)束器M用于改變光束的發(fā)散、會(huì)聚的狀態(tài)，以補(bǔ)償因光盤(pán)100 的覆蓋層的厚度誤差引起的球面像差。從擴(kuò)束器M出射的光束經(jīng)立起反射鏡陽(yáng)反射，在通過(guò)1/4波片56后，由搭載于致動(dòng)器5的物鏡2會(huì)聚在光盤(pán)100上。光盤(pán)100反射的光束經(jīng)過(guò)物鏡2、1/4波片56、立起反射鏡55、擴(kuò)束器M、準(zhǔn)直透鏡51、分束器52，入射到衍射光柵11。在衍射光柵11的作用下，光束被分割成多個(gè)區(qū)域， 不同區(qū)域分別向不同方向行進(jìn)，聚焦在光檢測(cè)器10上。光檢測(cè)器10上形成有多個(gè)受光部， 各受光部被由衍射光柵11分割后的光束分別照射。根據(jù)照射到受光部上的光量，從光檢測(cè)器10輸出電信號(hào)，對(duì)這些輸出進(jìn)行運(yùn)算，輸出作為再現(xiàn)信號(hào)的RF信號(hào)、聚焦誤差信號(hào)和跟蹤誤差信號(hào)。圖2表示衍射光柵11的形狀。實(shí)線(xiàn)表示區(qū)域的邊界線(xiàn)，雙點(diǎn)劃線(xiàn)表示激光光束的外形，斜線(xiàn)部分表示經(jīng)光盤(pán)軌道衍射的0級(jí)衍射光與士1級(jí)衍射光干涉的區(qū)域(推挽圖樣， push-pull pattern)。衍射光柵11上形成有僅有經(jīng)光盤(pán)上的軌道衍射的衍射光的0級(jí)衍射光入射的區(qū)域De、Df、Dg、Dh (區(qū)域Α)、衍射光的0級(jí)衍射光和士 1級(jí)衍射光入射的區(qū)域 Da、Db、Dc、Dd (區(qū)域B)和區(qū)域Di (區(qū)域C)。衍射光柵11的區(qū)域Di以外的分光比例如為0級(jí)光+1級(jí)光-1級(jí)光= 0:3: 7，區(qū)域Di的分光比為0級(jí)光+1級(jí)光-1級(jí)光=0 1 1。光檢測(cè)器10為如圖8所的樣式(pattern)。圖中的黑點(diǎn)表示信號(hào)光。在此，經(jīng)衍射光柵11的區(qū)域Da、Db、Dc、Dd、Di衍射的+1級(jí)光分別入射到如圖8 所示的光檢測(cè)器10的受光部al、bl、cl、dl、il中，經(jīng)區(qū)域06、0廠08、1)11衍射的+1級(jí)光入射到聚焦誤差信號(hào)檢測(cè)用的受光部re、se、tf、uf、tg、ug、rh、sh中。此外，經(jīng)區(qū)域Da、Db、 Dc、DcU De、Df、Dg、Dh、Di 衍射的 _1 級(jí)光分別入射到受光部 a2、b2、c2、d2、e2、f2、g2、h2、 i2中。對(duì)于從受光部 al、bl、cl、dl、il、re、se、tf、uf、tg、ug、rh、sh、a2、b2、c2、d2、e2、 f2、g2、h2、i2 得到的信號(hào) Al、Bi、Cl、Dl、II、RE、SE、TF、UF、TG、UG、RH、SH、A2、B2、C2、D2、 E2、F2、G2、H2、12，通過(guò)進(jìn)行以下運(yùn)算生成聚焦誤差信號(hào)、跟蹤誤差信號(hào)和RF信號(hào)。式3 FES = (SE+TG+TF+SH)-(RE+UG+UF+RH)TES = {(A1+A2+B1+B2)-(C1+C2+D1+D2)}_kt X {(E2+F2)-(G2+H2)}RF = A1+B1+C1+D1+E1+F1+G1+H1+I1+I2其中，kt是使得物鏡移位時(shí)跟蹤誤差信號(hào)中不產(chǎn)生DC成分的系數(shù)。在此，聚焦誤差檢測(cè)方式為刀口方式，由于該方式已為眾所周知故省略說(shuō)明。并且，由于式中信號(hào)A1、B1、 Cl、Dl為與信號(hào)A2、B2、C2、D2相同的成分，故可以在運(yùn)算中省略。對(duì)于多層光盤(pán)的雜散光，本實(shí)施例的結(jié)構(gòu)與實(shí)施例1相同，能夠有效地回避多層光盤(pán)的雜散光。因此能夠檢測(cè)出穩(wěn)定的伺服信號(hào)。
本實(shí)施例的結(jié)構(gòu)與實(shí)施例1相同，通過(guò)將-1級(jí)衍射光的受光部a2、b2、c2、d2、e2、 f2、g2、h2以Y字形狀配置，受光部a2、b2、c2、d2、e2、f2、g2、h2成為不易受雜散光影響的受光部配置。此外，通過(guò)將+1級(jí)衍射光的受光部al、bl、cl、dl、re、se、tg、ug、tf、uf、rh、 sh以T字狀配置，能夠與專(zhuān)利文獻(xiàn)3同樣地有效地回避雜散光。如上所述，當(dāng)使入射到由經(jīng)過(guò)衍射光柵中心的大致Tan方向和大致Rad方向的分割線(xiàn)分開(kāi)的不包含大致Rad方向的分割線(xiàn)的至少4個(gè)區(qū)域上的光束在大致Tan方向上衍射，而在光檢測(cè)器上(受光部)沿大致Rad方向排列時(shí)，通過(guò)使+1級(jí)衍射光和-1級(jí)衍射光中之一種衍射光(例如+1級(jí)衍射光)的受光部在大致Rad方向上成大致直線(xiàn)，并使另一種衍射光(例如-1級(jí)衍射光)的受光部在Tan方向上錯(cuò)開(kāi)，則即使減小光學(xué)倍率，也能夠有效地分離信號(hào)光和雜散光。由此，即使減小光學(xué)倍率來(lái)將光拾取裝置小型化，也能夠檢測(cè)出穩(wěn)定的伺服信號(hào)。此外，本實(shí)施例中衍射光柵11以圖2說(shuō)明，但為例如圖7(a)、(b)的樣式也可以得到相同的效果。進(jìn)一步地，本實(shí)施例中衍射光柵配置在透過(guò)分束器后的位置，但若使衍射光柵11為偏振衍射光柵，則即使配置在透過(guò)分束器前的位置也可以得到相同的效果。 此外，對(duì)于球面像差修正沒(méi)有限定。并且，本實(shí)施例中衍射光柵區(qū)域Di的衍射光由受光部 il、i2檢測(cè)，但并不限定于此，也可以利用一側(cè)的受光面進(jìn)行檢測(cè)。另外，本實(shí)施例中+1級(jí)衍射光的受光部&1、131、(31、(11、1^、紹48、呢4廠吐、濁、吐以T字形狀配置，-1級(jí)衍射光的受光部a2、b2、c2、d2、e2、f2、g2、h2以Y字形狀配置，但并不限定于此，例如也可以通過(guò)交換相鄰受光部的信號(hào)光，將-1級(jí)衍射光的受光部配置為T(mén)字形狀，將+1級(jí)衍射光的受光部配置為Y字形狀。此外，對(duì)于其它級(jí)數(shù)的衍射光也可以得到同樣的效果。(實(shí)施例3)圖9表示本發(fā)明的第三實(shí)施例的光拾取裝置的光檢測(cè)器10的受光部。其中，光檢測(cè)器10的受光部與實(shí)施例1不同，除此之外為與實(shí)施例1相同的結(jié)構(gòu)。波長(zhǎng)約405nm的光束從半導(dǎo)體激光器50作為發(fā)散光出射。從半導(dǎo)體激光器50出射的光束在分束器52反射。此外一部分光束透過(guò)分束器52入射到前監(jiān)視器53。一般來(lái)說(shuō)，在對(duì)BD-RE、BD-R等記錄型的光盤(pán)記錄信息時(shí)，由于將規(guī)定的光量照射到光盤(pán)的記錄面上，需要高精度地控制半導(dǎo)體激光器的光量。因此，在對(duì)記錄型的光盤(pán)記錄信號(hào)時(shí)，前監(jiān)視器53檢測(cè)半導(dǎo)體激光器50的光量的變化，反饋回半導(dǎo)體激光器50的驅(qū)動(dòng)電路(圖中未示出)。由此能夠監(jiān)視光盤(pán)上的光量。在分束器52反射的光束由準(zhǔn)直透鏡51變換成大致平行的光束。透過(guò)準(zhǔn)直透鏡51 的光束入射到擴(kuò)束器M。擴(kuò)束器M用于改變光束的發(fā)散、會(huì)聚的狀態(tài)，以補(bǔ)償因光盤(pán)100 的覆蓋層的厚度誤差引起的球面像差。從擴(kuò)束器M出射的光束經(jīng)立起反射鏡陽(yáng)反射，在通過(guò)1/4波片56后，由搭載于致動(dòng)器5的物鏡2會(huì)聚在光盤(pán)100上。光盤(pán)100反射的光束經(jīng)過(guò)物鏡2、1/4波片56、立起反射鏡55、擴(kuò)束器M、準(zhǔn)直透鏡51、分束器52，入射到衍射光柵11。在衍射光柵11的作用下，光束被分割成多個(gè)區(qū)域， 不同區(qū)域分別向不同方向行進(jìn)，聚焦在光檢測(cè)器10上。光檢測(cè)器10上形成有多個(gè)受光部， 各受光部被由衍射光柵11分割后的光束分別照射。根據(jù)照射到受光部上的光量，從光檢測(cè)器10輸出電信號(hào)，對(duì)這些輸出進(jìn)行運(yùn)算，輸出作為再現(xiàn)信號(hào)的RF信號(hào)、聚焦誤差信號(hào)和跟蹤誤差信號(hào)。圖2表示衍射光柵11的形狀。實(shí)線(xiàn)表示區(qū)域的邊界線(xiàn)，雙點(diǎn)劃線(xiàn)表示激光光束的外形，斜線(xiàn)部分表示經(jīng)光盤(pán)軌道衍射的0級(jí)衍射光與士1級(jí)衍射光干涉的區(qū)域(推挽圖樣， push-pull pattern)。衍射光柵11上形成有僅有經(jīng)光盤(pán)上的軌道衍射的衍射光的0級(jí)衍射光入射的區(qū)域De、Df、Dg、Dh (區(qū)域Α)、衍射光的0級(jí)衍射光和士 1級(jí)衍射光入射的區(qū)域 Da、Db、Dc、Dd (區(qū)域B)和區(qū)域Di (區(qū)域C)。衍射光柵11的區(qū)域Di以外的分光比例如為0級(jí)光+1級(jí)光-1級(jí)光= 0:7: 3，區(qū)域Di的分光比為0級(jí)光+1級(jí)光-1級(jí)光=0 1 1。光檢測(cè)器10為如圖9所的樣式。圖中的黑點(diǎn)表示信號(hào)光。在此，經(jīng)衍射光柵11的區(qū)域Da、Db、Dc、Dd、De、Df、Dg、Dh、Di衍射的+1級(jí)光分別入射到如圖9所示的光檢測(cè)器10的受光部￡11、131、(31、(11、61、打41、111、il中。此外，經(jīng)區(qū)域Da、Db、Dc、Dd衍射的-1級(jí)光入射到聚焦誤差信號(hào)檢測(cè)用的受光部r、s、t、u、v中。并且，經(jīng)區(qū)域De、Df、Dg、Dh、Di衍射的-1級(jí)光分別入射到受光部e2、f2、g2、h2、i2中。對(duì)于從受光部&1、131、(；1、(11、61、打、81、111、士1、1~、8、扒11、￥、62汀2、82、112、士2得到的信號(hào) A1、B1、C1、D1、E1、F1、G1、H1、II、R、S、Τ、U、V、E2、F2、G2、H2、12，通過(guò)進(jìn)行以下運(yùn)算生成聚焦誤差信號(hào)、跟蹤誤差信號(hào)和RF信號(hào)。式4:FES = (R+T+V) - (S+U)TES= {(A1+B1+E1+F1) - (C1+D1+G1+H1)} -kt X {(E2+F2) - (G2+H2)}RF = A1+B1+C1+D1+E1+F1+G1+H1+I1+I2其中，kt是使得物鏡移位時(shí)跟蹤誤差信號(hào)中不產(chǎn)生DC成分的系數(shù)。在此，聚焦誤差檢測(cè)方式為刀口方式，由于該方式已為眾所周知故省略說(shuō)明。圖10表示雙層光盤(pán)記錄/再現(xiàn)時(shí)的受光部與來(lái)自其它層的雜散光的關(guān)系。本實(shí)施例中對(duì)雙層光盤(pán)進(jìn)行說(shuō)明，但對(duì)于層數(shù)在雙層以上的光盤(pán)也可得到同樣的效果。在此， (a)表示LO層記錄/再現(xiàn)時(shí)，(b)表示Ll層記錄/再現(xiàn)時(shí)。并且，圖中的斜線(xiàn)區(qū)域表示來(lái)自雙層光盤(pán)的其它層的雜散光。此外，圖10(a)的受光部上的箭頭表示雜散光的模糊的方向(變模糊的方向)，點(diǎn)劃線(xiàn)表示連結(jié)受光部al和Cl的中心的直線(xiàn)，以及連接bl和dl的中心的直線(xiàn)。由該圖可知，除經(jīng)衍射光柵11的Di區(qū)域衍射的光束外，受光面上信號(hào)光與來(lái)自其它層的雜散光沒(méi)有重合。不過(guò)，由于從受光面il、 2檢測(cè)出的信號(hào)II、12不用于跟蹤誤差信號(hào)的檢測(cè)，僅用于再現(xiàn)信號(hào)的檢測(cè)，所以即使存在雜散光在實(shí)用上也不存在問(wèn)題。相比實(shí)施例1，本實(shí)施例的特征在于改變了衍射的方向。實(shí)施例1中，由于入射到衍射光柵區(qū)域De、Df、Dg、Dh(區(qū)域Α)的光束在大致Tan方向上衍射，所以入射方向和衍射方向大致一致。因此，需要使排列在大致Rad方向上的受光部在Tan方向上錯(cuò)開(kāi)。同樣地本實(shí)施例中，由于入射到衍射光柵區(qū)域Da、Db、Dc、Dd的光束在大致Rad方向上衍射，所以入射方向和衍射方向大致一致。因此，需要使排列在大致Tan方向上的受光部在Rad方向上錯(cuò)開(kāi)。錯(cuò)開(kāi)的方法與實(shí)施例1相同，通過(guò)采用使雜散光的模糊方向(箭頭)與連結(jié)受光部的直線(xiàn)(點(diǎn)劃線(xiàn))的角度接近垂直的結(jié)構(gòu)，有效地回避雜散光。與實(shí)施例1相同，本實(shí)施例的結(jié)構(gòu)通過(guò)將+1級(jí)衍射光的受光部al、bl、cl、dl、el、 fl、gl、hl以Y字形狀配置，受光部al、bl、cl、dl、el、fl、gl、hl成為不易受雜散光影響的受光部配置。此外，通過(guò)將-1級(jí)衍射光的受光部r、s、t、U、ν、e2、f2、g2、h2以T字形狀配置，能夠與專(zhuān)利文獻(xiàn)3同樣地有效地回避雜散光。如上所述，當(dāng)使入射到由經(jīng)過(guò)衍射光柵中心的大致Tan方向和大致Rad方向的分割線(xiàn)分開(kāi)的不包含大致Tan方向的分割線(xiàn)的至少4個(gè)區(qū)域上的光束在大致Rad方向上衍射，而在光檢測(cè)器上(受光部)沿大致Tan方向排列時(shí)，通過(guò)使+1級(jí)衍射光和-1級(jí)衍射光中之一種衍射光的受光部在大致Tan方向上成大致直線(xiàn)，并使另一種衍射光的受光部在 Rad方向上錯(cuò)開(kāi)，則即使減小光學(xué)倍率，也能夠有效地分離信號(hào)光和雜散光。由此，即使減小光學(xué)倍率來(lái)將光拾取裝置小型化，也能夠檢測(cè)出穩(wěn)定的伺服信號(hào)。此外，本實(shí)施例中衍射光柵11以圖2說(shuō)明，但為例如圖7(a)、(b)的樣式也可以得到相同的效果。進(jìn)一步地，本實(shí)施例中衍射光柵配置在透過(guò)分束器后的位置，但若使衍射光柵11為偏振衍射光柵，則即使配置在透過(guò)分束器前的位置也可以得到相同的效果。此外，對(duì)于球面像差修正沒(méi)有限定。并且，本實(shí)施例中衍射光柵區(qū)域Di的衍射光由受光部il、i2檢測(cè)，但并不限定于此，也可以利用一側(cè)的受光面進(jìn)行檢測(cè)。另外，本實(shí)施例中+1級(jí)衍射光的受光部al、bl、Cl、dl、el、fl、 gl、h 1以Y字形狀配置，-1級(jí)衍射光的受光部r、s、t、u、ν、e2、f 2、g2、h2以T字形狀配置， 但并不限定于此，例如也可以通過(guò)交換相鄰受光部的信號(hào)光，將-1級(jí)衍射光的受光部配置為Y字形狀，將+1級(jí)衍射光的受光部配置為T(mén)字形狀。此外，對(duì)于其它級(jí)數(shù)的衍射光也可以得到同樣的效果。(實(shí)施例4)圖11表示本發(fā)明的第四實(shí)施例的光拾取裝置的光檢測(cè)器10的受光部。其中，光檢測(cè)器10的受光部和衍射光柵11的區(qū)域與實(shí)施例1不同，除此之外為與實(shí)施例1相同的結(jié)構(gòu)。波長(zhǎng)約405nm的光束從半導(dǎo)體激光器50作為發(fā)散光出射。從半導(dǎo)體激光器50出射的光束在分束器52反射。此外一部分光束透過(guò)分束器52入射到前監(jiān)視器53。一般來(lái)說(shuō)，在對(duì)BD-RE、BD-R等記錄型的光盤(pán)記錄信息時(shí)，由于將規(guī)定的光量照射到光盤(pán)的記錄面上，需要高精度地控制半導(dǎo)體激光器的光量。因此，在對(duì)記錄型的光盤(pán)記錄信號(hào)時(shí)，前監(jiān)視器53檢測(cè)半導(dǎo)體激光器50的光量的變化，反饋回半導(dǎo)體激光器50的驅(qū)動(dòng)電路(圖中未示出)。由此能夠監(jiān)視光盤(pán)上的光量。在分束器52反射的光束由準(zhǔn)直透鏡51變換成大致平行的光束。透過(guò)準(zhǔn)直透鏡51 的光束入射到擴(kuò)束器M。擴(kuò)束器M用于改變光束的發(fā)散、會(huì)聚的狀態(tài)，以補(bǔ)償因光盤(pán)100 的覆蓋層的厚度誤差引起的球面像差。從擴(kuò)束器M出射的光束經(jīng)立起反射鏡陽(yáng)反射，在通過(guò)1/4波片56后，由搭載于致動(dòng)器5的物鏡2會(huì)聚在光盤(pán)100上。光盤(pán)100反射的光束經(jīng)過(guò)物鏡2、1/4波片56、立起反射鏡55、擴(kuò)束器M、準(zhǔn)直透鏡51、分束器52，入射到衍射光柵11。在衍射光柵11的作用下，光束被分割成多個(gè)區(qū)域， 不同區(qū)域分別向不同方向行進(jìn)，聚焦在光檢測(cè)器10上。光檢測(cè)器10上形成有多個(gè)受光部， 各受光部被由衍射光柵11分割后的光束分別照射。根據(jù)照射到受光部上的光量，從光檢測(cè)器10輸出電信號(hào)，對(duì)這些輸出進(jìn)行運(yùn)算，輸出作為再現(xiàn)信號(hào)的RF信號(hào)、聚焦誤差信號(hào)和跟蹤誤差信號(hào)。圖12表示衍射光柵11的形狀。實(shí)線(xiàn)表示區(qū)域的邊界線(xiàn)，雙點(diǎn)劃線(xiàn)表示激光光束的外形，斜線(xiàn)部分表示經(jīng)光盤(pán)軌道衍射的0級(jí)衍射光與士1級(jí)衍射光干涉的區(qū)域(推挽圖樣，push-pull pattern) 0衍射光柵11上形成有僅有經(jīng)光盤(pán)上的軌道衍射的衍射光的0級(jí)衍射光入射的區(qū)域De、Df、Dg、Dh (區(qū)域Α)、衍射光的0級(jí)衍射光和士 1級(jí)衍射光入射的區(qū)域Dab、Dcd (區(qū)域B)和區(qū)域Di (區(qū)域C)。衍射光柵11的區(qū)域Di以外的分光比例如為0級(jí)光+1級(jí)光-1級(jí)光= 0:3: 7，區(qū)域Di的分光比為0級(jí)光+1級(jí)光-1級(jí)光=0 1 1。光檢測(cè)器10為如圖11所的樣式。圖中的黑點(diǎn)表示信號(hào)光。在此，經(jīng)衍射光柵11的區(qū)域Dab、DccUDi衍射的+1級(jí)光分別入射到如圖11所示的光檢測(cè)器10的受光部abl、cdl、il中，經(jīng)區(qū)域De、Df、Dg、Dh衍射的+1級(jí)光入射到聚焦誤差信號(hào)檢測(cè)用的受光部re、se、tg、ug、tf、uf、rh、sh中。此外，經(jīng)區(qū)域Dab, Dcd, De、Df、 Dg、Dh、Di衍射的-1級(jí)光分別入射到受光部油2、((12、62^242、112、12中。對(duì)于從受光部 abl、cdl、il、re、se、tf、uf、tg、ug、rh、sh、ab2、cd2、e2、f2、g2、 h2、i2 得到的信號(hào) AB1、CD1、I1、RE、SE、TF、UF、TG、UG、RH、SH、AB2、CD2、E2、F2、G2、H2、12， 通過(guò)進(jìn)行以下運(yùn)算生成聚焦誤差信號(hào)、跟蹤誤差信號(hào)和RF信號(hào)。式5:FES = (SE+TG+TF+SH)-(RE+UG+UF+RH)TES = {(AB1+AB2)-(CD1+Cd2)}_kt X {(E2+F2)-(G2+H2)}RF = AB1+CD1+E1+F1+G1+H1+I1+I2其中，kt是使得物鏡移位時(shí)跟蹤誤差信號(hào)中不產(chǎn)生DC成分的系數(shù)。在此，聚焦誤差檢測(cè)方式為刀口方式，由于該方式已為眾所周知故省略說(shuō)明。并且，由于式中信號(hào)AB1、 CDl為與信號(hào)AB2、CD2相同的成分，故可以在運(yùn)算中省略。本實(shí)施例的結(jié)構(gòu)與實(shí)施例2對(duì)比，只是使衍射光柵11的區(qū)域Da、Db和Dc、Dd分別成為一個(gè)區(qū)域，所以根據(jù)實(shí)施例1、2可知多層雜散光不會(huì)入射到受光部。因此本實(shí)施例的結(jié)構(gòu)也能夠檢測(cè)出穩(wěn)定的伺服信號(hào)。本實(shí)施例的結(jié)構(gòu)與實(shí)施例1相同，通過(guò)將+1級(jí)衍射光的受光部ab2、cd2、e2、f2、 g2、h2以Y字形狀配置，受光部ab2、cd2、e2、f2、g2、h2成為不易受雜散光影響的受光部配置。此外，通過(guò)將-1級(jí)衍射光的受光部&131、(3(11、1^、紹48、呢4廠吐、濁、吐以T字狀配置，能夠與專(zhuān)利文獻(xiàn)3同樣地有效地回避雜散光。如上所述，當(dāng)使入射到由經(jīng)過(guò)衍射光柵中心的大致Tan方向和大致Rad方向的分割線(xiàn)分開(kāi)的不包含大致Rad方向的分割線(xiàn)的至少4個(gè)區(qū)域上的光束在大致Tan方向上衍射，而在光檢測(cè)器上(受光部)沿大致Rad方向排列時(shí)，通過(guò)使+1級(jí)衍射光和-1級(jí)衍射光中之一種衍射光(例如+1級(jí)衍射光)的受光部在大致Rad方向上成大致直線(xiàn)，并使另一種衍射光(例如-1級(jí)衍射光)的受光部在Tan方向上錯(cuò)開(kāi)，則即使減小光學(xué)倍率，也能夠有效地分離信號(hào)光和雜散光。由此，即使減小光學(xué)倍率來(lái)將光拾取裝置小型化，也能夠檢測(cè)出穩(wěn)定的伺服信號(hào)。此外，本實(shí)施例中衍射光柵11以圖12說(shuō)明，但為例如圖13(a)、(b)的樣式也可以得到相同的效果。進(jìn)一步地，本實(shí)施例中衍射光柵配置在透過(guò)分束器后的位置，但若使衍射光柵11為偏振衍射光柵，則即使配置在透過(guò)分束器前的位置也可以得到相同的效果。此外，對(duì)于球面像差修正沒(méi)有限定。并且，本實(shí)施例中衍射光柵區(qū)域Di的衍射光由受光部il、i2檢測(cè)，但并不限定于此，也可以利用一側(cè)的受光面進(jìn)行檢測(cè)。另外，本實(shí)施例中+1級(jí)衍射光的受光部abl、cdl、re、se、tg、ug、tf、uf、rh、sh以T字形狀配置，_1級(jí)衍射光的受光部ab2、cd2、e2、f2、g2、h2以Y字形狀配置，但并不限定于此，例如也可以通過(guò)交換相鄰受光部的信號(hào)光，將-1級(jí)衍射光的受光部配置為T(mén)字形狀，將+1級(jí)衍射光的受光部配置為Y字形狀。此外，對(duì)于其它級(jí)數(shù)的衍射光也可以得到同樣的效果。(實(shí)施例5)實(shí)施例5中針對(duì)搭載了光拾取裝置170的光學(xué)再現(xiàn)裝置進(jìn)行說(shuō)明。圖14為光學(xué)再現(xiàn)裝置的概要結(jié)構(gòu)。光拾取裝置170設(shè)有能夠沿光盤(pán)100的Rad方向進(jìn)行驅(qū)動(dòng)的機(jī)構(gòu)， 根據(jù)來(lái)自訪(fǎng)問(wèn)控制電路172的訪(fǎng)問(wèn)控制信號(hào)進(jìn)行位置控制。規(guī)定的激光驅(qū)動(dòng)電流從激光發(fā)光電路177供給到光拾取裝置170內(nèi)的半導(dǎo)體激光器，依據(jù)再現(xiàn)所需，以規(guī)定的光量從半導(dǎo)體激光器出射激光。此外，激光發(fā)光電路177也能夠組裝到光拾取裝置170中。從光拾取裝置170內(nèi)的光檢測(cè)器10輸出的信號(hào)，發(fā)送到伺服信號(hào)生成電路174和信息信號(hào)再現(xiàn)電路175。伺服信號(hào)生成電路174中，基于來(lái)自光檢測(cè)器10的信號(hào)生成聚焦誤差信號(hào)、跟蹤誤差信號(hào)和傾斜控制信號(hào)等伺服信號(hào)，并基于這些信號(hào)，通過(guò)致動(dòng)器驅(qū)動(dòng)電路173驅(qū)動(dòng)光拾取裝置170內(nèi)的致動(dòng)器，實(shí)現(xiàn)物鏡的位置控制。所述信息信號(hào)再現(xiàn)電路175中，基于來(lái)自所述光檢測(cè)器10的信號(hào)，再現(xiàn)記錄在光盤(pán)100中的信息信號(hào)。由所述伺服信號(hào)生成電路174和信息信號(hào)再現(xiàn)電路175獲得的信號(hào)的一部分被發(fā)送到控制電路176。該控制電路176連接有主軸電動(dòng)機(jī)驅(qū)動(dòng)電路171、訪(fǎng)問(wèn)控制電路172、伺服信號(hào)生成電路174、激光發(fā)光電路177和球面像差修正元件驅(qū)動(dòng)電路179等，進(jìn)行使光盤(pán)100旋轉(zhuǎn)的主軸電動(dòng)機(jī)180的旋轉(zhuǎn)控制、訪(fǎng)問(wèn)方向和訪(fǎng)問(wèn)位置的控制、物鏡的伺服控制、 光拾取裝置170內(nèi)的半導(dǎo)體激光器發(fā)光光量的控制、對(duì)因光盤(pán)基板厚度的不同引起的球面像差進(jìn)行的修正等。(實(shí)施例6)實(shí)施例6中針對(duì)搭載了光拾取裝置170的光學(xué)記錄再現(xiàn)裝置進(jìn)行說(shuō)明。圖15是光學(xué)記錄再現(xiàn)裝置的概要結(jié)構(gòu)。該裝置與上述圖14說(shuō)明的光學(xué)再現(xiàn)裝置的不同之處在于， 在控制電路176與激光發(fā)光電路177之間設(shè)有信息信號(hào)記錄電路178，基于來(lái)自信息信號(hào)記錄電路178的記錄控制信號(hào)進(jìn)行激光發(fā)光電路177的發(fā)光控制，由此附加將期望的信息寫(xiě)入光盤(pán)100的功能。此外，本發(fā)明不限定于上述實(shí)施例，包括各種變形例。例如，上述實(shí)施例是為了易于理解地說(shuō)明本發(fā)明而作出的詳細(xì)說(shuō)明，并不限定于必須具備說(shuō)明的所有結(jié)構(gòu)。此外，能夠?qū)⒛硞€(gè)實(shí)施例的結(jié)構(gòu)的一部分置換為其他實(shí)施例的結(jié)構(gòu)，并且也能夠在某個(gè)實(shí)施例的結(jié)構(gòu)上添加其他實(shí)施例的結(jié)構(gòu)。此外，對(duì)于各實(shí)施例的結(jié)構(gòu)的一部分，能夠添加、刪除、置換其他結(jié)構(gòu)。
權(quán)利要求
1.一種光拾取裝置，其特征在于，包括 出射激光的半導(dǎo)體激光器；將從所述半導(dǎo)體激光器出射的光束照射到光盤(pán)上的物鏡； 將從光盤(pán)反射的光束分束的衍射光柵；和具有多個(gè)接收被所述衍射光柵分束后的光束的受光部的光檢測(cè)器，其中， 所述衍射光柵，被經(jīng)過(guò)所述衍射光柵中心的與所述光盤(pán)的切線(xiàn)方向大致一致的分割線(xiàn)和與所述光盤(pán)的半徑方向大致一致的分割線(xiàn)，分成不包含與所述光盤(pán)的半徑方向大致一致的分割線(xiàn)的至少4個(gè)光柵區(qū)域，對(duì)入射到不包含與所述光盤(pán)的半徑方向大致一致的分割線(xiàn)的至少4個(gè)光柵區(qū)域的光束的+1級(jí)光柵衍射光和-1次光柵衍射光中的一種光柵衍射光進(jìn)行檢測(cè)的受光部，在與所述光盤(pán)的半徑方向大致一致的方向上呈大致直線(xiàn)地排列，檢測(cè)另一種光柵衍射光的受光部，以在與所述光盤(pán)的切線(xiàn)方向大致一致的方向上錯(cuò)開(kāi)的方式排列。
2.如權(quán)利要求1所述的光拾取裝置，其特征在于將在與所述光盤(pán)的半徑方向大致一致的方向上呈大致直線(xiàn)地排列的受光部連結(jié)的直線(xiàn)，相對(duì)于所述光檢測(cè)器的中心離開(kāi)規(guī)定距離。
3.如權(quán)利要求1或2所述的光拾取裝置，其特征在于不包含與所述光盤(pán)的半徑方向大致一致的分割線(xiàn)的至少4個(gè)光柵區(qū)域中，存在相對(duì)于所述衍射光柵的大致中心呈點(diǎn)對(duì)稱(chēng)的至少2個(gè)區(qū)域，對(duì)相對(duì)于所述衍射光柵的大致中心呈點(diǎn)對(duì)稱(chēng)的至少2個(gè)區(qū)域的衍射光進(jìn)行檢測(cè)的受光部相鄰。
4.如權(quán)利要求3所述的光拾取裝置，其特征在于將對(duì)相對(duì)于所述衍射光柵的大致中心呈點(diǎn)對(duì)稱(chēng)的至少2個(gè)區(qū)域的+1級(jí)光柵衍射光和-1級(jí)光柵衍射光中的一種光柵衍射光進(jìn)行檢測(cè)的受光部連結(jié)的直線(xiàn)，與所述光盤(pán)的半徑方向大致一致，將檢測(cè)另一種光柵衍射光的受光部連結(jié)的直線(xiàn)，成為相對(duì)于受光部上光束模糊的方向最接近垂直的排列。
5.一種光拾取裝置，其特征在于，包括 出射激光的半導(dǎo)體激光器；將從所述半導(dǎo)體激光器出射的光束照射到光盤(pán)上的物鏡； 將從光盤(pán)反射的光束分束的衍射光柵；和具有多個(gè)接收被所述衍射光柵分束后的光束的受光部的光檢測(cè)器，其中， 所述衍射光柵，被經(jīng)過(guò)所述衍射光柵中心的與所述光盤(pán)的切線(xiàn)方向大致一致的分割線(xiàn)和與所述光盤(pán)的半徑方向大致一致的分割線(xiàn)，分成不包含與所述光盤(pán)的切線(xiàn)方向大致一致的分割線(xiàn)的至少4個(gè)光柵區(qū)域，對(duì)入射到不包含與所述光盤(pán)的切線(xiàn)方向大致一致的分割線(xiàn)的至少4個(gè)光柵區(qū)域的光束的+1級(jí)光柵衍射光和-1次光柵衍射光中的一種光柵衍射光進(jìn)行檢測(cè)的受光部，在與所述光盤(pán)的切線(xiàn)方向大致一致的方向上呈大致直線(xiàn)地排列，檢測(cè)另一種光柵衍射光的受光部，以在與所述光盤(pán)的半徑方向大致一致的方向上錯(cuò)開(kāi)的方式排列。
6.如權(quán)利要求5所述的光拾取裝置，其特征在于將在與所述光盤(pán)的切線(xiàn)方向大致一致的方向上呈大致直線(xiàn)地排列的受光部連結(jié)的直線(xiàn)，相對(duì)于所述光檢測(cè)器的中心離開(kāi)規(guī)定距離。
7.如權(quán)利要求5或6所述的光拾取裝置，其特征在于不包含與所述光盤(pán)的切線(xiàn)方向大致一致的分割線(xiàn)的至少4個(gè)光柵區(qū)域中，存在相對(duì)于所述衍射光柵的大致中心呈點(diǎn)對(duì)稱(chēng)的至少2個(gè)區(qū)域，檢測(cè)相對(duì)于所述衍射光柵的大致中心呈點(diǎn)對(duì)稱(chēng)的至少2個(gè)區(qū)域的衍射光的受光部相鄰。
8.如權(quán)利要求7所述的光拾取裝置，其特征在于檢測(cè)相對(duì)于所述衍射光柵的大致中心呈點(diǎn)對(duì)稱(chēng)的至少2個(gè)區(qū)域的+1級(jí)光柵衍射光和-1級(jí)光柵衍射光中的一種光柵衍射光的受光部，在與所述光盤(pán)的切線(xiàn)方向大致一致的方向上呈大致直線(xiàn)地排列，檢測(cè)另一種光柵衍射光的受光部，成為相對(duì)于受光部上光束模糊的方向最接近垂直的排列。
9.如權(quán)利要求1至8中任一項(xiàng)所述的光拾取裝置，其特征在于將檢測(cè)除包含所述衍射光柵的中心的區(qū)域以外的光柵區(qū)域的+1級(jí)光柵衍射光和-1級(jí)光柵衍射光中的一種光柵衍射光的受光部連結(jié)的直線(xiàn)，呈大致T字形狀， 將檢測(cè)另一種光柵衍射光的受光部連結(jié)的直線(xiàn)，呈大致Y字形狀。
10.一種光拾取裝置，其特征在于，包括 出射激光的半導(dǎo)體激光器；將從所述半導(dǎo)體激光器出射的光束照射到光盤(pán)上的物鏡； 將從光盤(pán)反射的光束分束的衍射光柵；和具有多個(gè)接收被所述衍射光柵分束后的光束的受光部的光檢測(cè)器，其中， 所述衍射光柵具有區(qū)域A、區(qū)域B、區(qū)域C三個(gè)區(qū)域， 被所述光盤(pán)上的軌道衍射的光盤(pán)衍射光中， 0級(jí)光盤(pán)衍射光入射到所述區(qū)域A， 0級(jí)、士 1級(jí)光盤(pán)衍射光入射到所述區(qū)域B，在所述光檢測(cè)器中，根據(jù)在所述區(qū)域A、B、C衍射的光柵衍射光檢測(cè)再現(xiàn)信號(hào)，并且， 檢測(cè)所述衍射光柵區(qū)域A的+1級(jí)光柵衍射光和-1級(jí)光柵衍射光中的一種光柵衍射光的至少4個(gè)受光部，在與所述光盤(pán)的半徑方向大致一致的方向上呈大致直線(xiàn)地排列， 檢測(cè)另一種光柵衍射光的受光部，以在所述光盤(pán)的切線(xiàn)方向上錯(cuò)開(kāi)的方式排列。
11.一種光拾取裝置，其特征在于，包括 出射激光的半導(dǎo)體激光器；將從所述半導(dǎo)體激光器出射的光束照射到光盤(pán)上的物鏡； 將從光盤(pán)反射的光束分束的衍射光柵；和具有多個(gè)接收被所述衍射光柵分束后的光束的受光部的光檢測(cè)器，其中， 所述衍射光柵具有區(qū)域A、區(qū)域B、區(qū)域C三個(gè)區(qū)域， 被所述光盤(pán)上的軌道衍射的光盤(pán)衍射光中，0級(jí)光盤(pán)衍射光入射到所述區(qū)域A， 0級(jí)、士 1級(jí)光盤(pán)衍射光入射到所述區(qū)域B，在所述光檢測(cè)器中，根據(jù)在所述區(qū)域A、B、C衍射的光柵衍射光檢測(cè)再現(xiàn)信號(hào)，并且， 檢測(cè)所述衍射光柵區(qū)域B的+1級(jí)光柵衍射光和-1級(jí)光柵衍射光中的一種光柵衍射光的至少4個(gè)受光部，在與所述光盤(pán)的切線(xiàn)方向大致一致的方向上呈大致直線(xiàn)地排列， 檢測(cè)另一種光柵衍射光的受光部，以在所述光盤(pán)的半徑方向上錯(cuò)開(kāi)的方式排列。
12.如權(quán)利要求10所述的光拾取裝置，其特征在于檢測(cè)所述衍射光柵區(qū)域B的+1級(jí)光柵衍射光、-1級(jí)光柵衍射光或者士 1級(jí)光柵衍射光的至少2個(gè)受光部，在與所述光盤(pán)的切線(xiàn)方向大致一致的方向上呈大致直線(xiàn)地排列。
13.如權(quán)利要求11所述的光拾取裝置，其特征在于檢測(cè)所述衍射光柵區(qū)域A的+1級(jí)光柵衍射光、-1級(jí)光柵衍射光或者士 1級(jí)光柵衍射光的至少2個(gè)受光部，在與所述光盤(pán)的半徑方向大致一致的方向上呈大致直線(xiàn)地排列。
14.如權(quán)利要求1至13中任一項(xiàng)所述的光拾取裝置，其特征在于根據(jù)檢測(cè)所述衍射光柵的+1級(jí)光柵衍射光、-1級(jí)光柵衍射光所得的信號(hào)，至少生成聚焦誤差信號(hào)和跟蹤誤差信號(hào)。
15.如權(quán)利要求1至14中任一項(xiàng)所述的光拾取裝置，其特征在于 聚焦誤差信號(hào)檢測(cè)采用刀口方式。
16.一種光盤(pán)裝置，其特征在于，包括權(quán)利要求1至15中任一項(xiàng)所述的光拾取裝置； 驅(qū)動(dòng)所述光拾取裝置內(nèi)的所述半導(dǎo)體激光器的激光發(fā)光電路； 利用由所述光拾取裝置內(nèi)的所述光檢測(cè)器檢測(cè)出的信號(hào)，生成聚焦誤差信號(hào)和/或跟蹤誤差信號(hào)的伺服信號(hào)生成電路；和再現(xiàn)記錄在光盤(pán)上的信息信號(hào)的信息信號(hào)再現(xiàn)電路。
全文摘要
本發(fā)明提供光拾取裝置和光盤(pán)裝置，在多層光盤(pán)的記錄或再現(xiàn)時(shí)，聚焦誤差信號(hào)和跟蹤誤差信號(hào)均不受來(lái)自其它層的雜散光的影響，能夠得到穩(wěn)定的伺服信號(hào)并實(shí)現(xiàn)小型化。來(lái)自多層光盤(pán)的反射光被衍射光柵分割成多個(gè)區(qū)域。衍射光柵由通過(guò)衍射光柵的大致中心的光盤(pán)切線(xiàn)方向上的分割線(xiàn)和半徑方向上的分割線(xiàn)分成至少4個(gè)區(qū)域。對(duì)入射到至少4個(gè)區(qū)域的光束的+1級(jí)光柵衍射光和-1級(jí)光柵衍射光中之一種光柵衍射光進(jìn)行檢測(cè)的受光部，在光盤(pán)半徑方向上呈大致直線(xiàn)地排列，檢測(cè)另一種光柵衍射光的受光部以在與所述光盤(pán)的切線(xiàn)方向大致一致的方向上錯(cuò)開(kāi)的方式排列。
文檔編號(hào)G11B7/12GK102270470SQ201110091988
公開(kāi)日2011年12月7日 申請(qǐng)日期2011年4月7日 優(yōu)先權(quán)日2010年6月7日
發(fā)明者富田大輔, 山崎和良 申請(qǐng)人:日立視聽(tīng)媒體股份有限公司