專利名稱：存儲(chǔ)卡讀寫信號(hào)測(cè)試裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種測(cè)試裝置，特別涉及一種存儲(chǔ)卡讀寫信號(hào)測(cè)試裝置。
背景技術(shù)：
電子設(shè)備發(fā)展日新月異，功能越來越多，大部分電子產(chǎn)品支持各種各樣的存儲(chǔ)卡， 如Memory Stick (MS)、Multi Media Card (MMC)、Secure DigitalMemory (SD)、Compact Flash Card(CF)等。在對(duì)這些電子產(chǎn)品的印刷電路板上的存儲(chǔ)卡的讀寫信號(hào)進(jìn)行測(cè)試時(shí)， 目前的測(cè)試方法是在電子產(chǎn)品的印刷電路板上引出線來進(jìn)行測(cè)試，這種測(cè)試方法需要焊接測(cè)試點(diǎn)，給測(cè)試帶來不便，且焊接時(shí)容易短路，可能造成測(cè)試不準(zhǔn)確。

發(fā)明內(nèi)容
鑒于上述內(nèi)容，有必要提供一種測(cè)試準(zhǔn)確、使用方便的存儲(chǔ)卡讀寫信號(hào)測(cè)試裝置。一種存儲(chǔ)卡讀寫信號(hào)測(cè)試裝置，用于測(cè)試一待測(cè)印刷電路板的存儲(chǔ)卡讀寫信號(hào)， 所述存儲(chǔ)卡讀寫信號(hào)測(cè)試裝置包括一測(cè)試設(shè)備及一轉(zhuǎn)接卡，所述待測(cè)印刷電路板上包括一卡槽，所述測(cè)試設(shè)備包括一轉(zhuǎn)接卡槽、一開關(guān)單元及一存儲(chǔ)卡槽，所述開關(guān)單元包括若干開關(guān)，每一開關(guān)的兩端分別連接所述轉(zhuǎn)接卡槽中的一引腳及所述存儲(chǔ)卡槽中的一引腳，每一開關(guān)兩端的任意位置設(shè)備一測(cè)量點(diǎn)，所述轉(zhuǎn)接卡用于連接所述測(cè)試設(shè)備上的轉(zhuǎn)接卡槽與所述待測(cè)印刷電路板上的卡槽，所述測(cè)試設(shè)備上的存儲(chǔ)卡槽用于插接一存儲(chǔ)卡。相較現(xiàn)有技術(shù)，所述存儲(chǔ)卡讀寫信號(hào)測(cè)試裝置通過所述轉(zhuǎn)接卡及所述測(cè)試設(shè)備即可實(shí)現(xiàn)對(duì)待測(cè)印刷電路板上存儲(chǔ)卡讀寫信號(hào)的測(cè)試，而不需要在待測(cè)印刷電路板上焊接測(cè)試點(diǎn)，節(jié)省了測(cè)試成本，方便了測(cè)試。


下面參照附圖結(jié)合具體實(shí)施方式
對(duì)本發(fā)明作進(jìn)一步的描述。圖1為本發(fā)明存儲(chǔ)卡讀寫信號(hào)測(cè)試裝置連接一待測(cè)印刷電路板及一存儲(chǔ)卡的較佳實(shí)施方式的方框圖。主要元件符號(hào)說明
測(cè)試設(shè)備100
待測(cè)印刷電路板200
轉(zhuǎn)接卡300
存儲(chǔ)卡400
卡槽210
基板310,101
接腳330,320
轉(zhuǎn)接卡槽110
開關(guān)單元120
存儲(chǔ)卡槽130開關(guān)121測(cè)量點(diǎn)12具體實(shí)施例方式請(qǐng)參照?qǐng)D1，本發(fā)明存儲(chǔ)卡讀寫信號(hào)測(cè)試裝置用于測(cè)試一待測(cè)印刷電路板200的存儲(chǔ)卡讀寫信號(hào)，其較佳實(shí)施方式包括一測(cè)試設(shè)備100及一轉(zhuǎn)接卡300。所述待測(cè)印刷電路板200的印刷電路板上包括一卡槽210。所述轉(zhuǎn)接卡300包括一基板310。所述基板310的對(duì)應(yīng)兩邊緣上分別設(shè)置若干接腳320、330(即俗稱的“金手指”)。所述測(cè)試設(shè)備100包括一基板101、一轉(zhuǎn)接卡槽110、一開關(guān)單元120及一存儲(chǔ)卡槽130。其中，所述開關(guān)單元120 包括若干開關(guān)121，通過選擇性的閉合所述開關(guān)121即可使插接在所述存儲(chǔ)卡槽130中的一存儲(chǔ)卡400與所述待測(cè)印刷電路板200進(jìn)行通信。所述轉(zhuǎn)接卡槽110、所述開關(guān)121及所述存儲(chǔ)卡槽130均設(shè)置在所述基板101上。在本實(shí)施方式中，所述基板310及101均為印刷電路板。所述存儲(chǔ)卡槽130用于插接不同類型的存儲(chǔ)卡，如Memory Stick(MS)^Multi Media Card (MMC), Secure DigitalMemory (SD)、Compact Flash Card (CF)。針對(duì)每一類型的存儲(chǔ)卡選擇與所述存儲(chǔ)卡類型相同的轉(zhuǎn)接卡300。因?yàn)椴煌愋偷拇鎯?chǔ)卡的外形及厚度不同，因此在測(cè)試時(shí)只需選擇與所述存儲(chǔ)卡類型相同的轉(zhuǎn)接卡130并根據(jù)所述存儲(chǔ)卡類型選擇性的閉合所述開關(guān)121即可通過所述測(cè)試設(shè)備100對(duì)待測(cè)印刷電路板200上不同類型的存儲(chǔ)卡的讀寫信號(hào)進(jìn)行測(cè)試。所述轉(zhuǎn)接卡槽110中的每一引腳均通過一開關(guān)121連接所述存儲(chǔ)卡槽130中的一對(duì)應(yīng)引腳。所述轉(zhuǎn)接卡300上的接腳320與所述測(cè)試設(shè)備100上的轉(zhuǎn)接卡槽110中的引腳一一對(duì)應(yīng)，所述轉(zhuǎn)接卡300上的接腳330與所述待測(cè)印刷電路板200上的卡槽210中的引腳一一對(duì)應(yīng)，所述轉(zhuǎn)接卡300上的接腳320與接腳330 —一對(duì)應(yīng)連接。所述測(cè)試設(shè)備100 上的存儲(chǔ)卡槽130用于插接所述存儲(chǔ)卡400，所述存儲(chǔ)卡槽130上的引腳與所述存儲(chǔ)卡400 上的引腳一一對(duì)應(yīng)，所述每一開關(guān)121兩端的任意位置設(shè)置一測(cè)量點(diǎn)122，一測(cè)量?jī)x器的探針電性連接所述測(cè)量點(diǎn)122以在所述開關(guān)121閉合時(shí)通過所述卡槽210從所述待測(cè)印刷電路板200獲取待測(cè)存儲(chǔ)卡讀寫信號(hào)。測(cè)試時(shí)，首先選擇一種類型的存儲(chǔ)卡400插入所述存儲(chǔ)卡槽130中，并選擇與所述存儲(chǔ)卡400的類型對(duì)應(yīng)的轉(zhuǎn)接卡300，再將所述轉(zhuǎn)接卡300上的接腳330插接入所述待測(cè)印刷電路板200上的卡槽210中，同時(shí)將所述轉(zhuǎn)接卡300上的接腳320插接入所述測(cè)試設(shè)備 100上的轉(zhuǎn)接卡槽110中，再根據(jù)選擇的存儲(chǔ)卡400的類型選擇性的閉合所述開關(guān)121以使所述存儲(chǔ)卡400與所述待測(cè)印刷電路板200進(jìn)行通信，即可通過所述測(cè)量設(shè)備100上的測(cè)量點(diǎn)122對(duì)所述待測(cè)印刷電路板200上的對(duì)應(yīng)所述存儲(chǔ)卡400的存儲(chǔ)卡讀寫信號(hào)進(jìn)行測(cè)試。在測(cè)試待測(cè)印刷電路板200上的一存儲(chǔ)卡讀寫信號(hào)時(shí)，將所述測(cè)量?jī)x器的探針連接至待測(cè)存儲(chǔ)卡讀寫信號(hào)對(duì)應(yīng)的開關(guān)121兩端的測(cè)量點(diǎn)122，即可在所述測(cè)量?jī)x器上獲得所述待測(cè)存儲(chǔ)卡讀寫信號(hào)的顯示結(jié)果，以便測(cè)試人員進(jìn)行分析。測(cè)試所述印刷電路板200上其他類型的存儲(chǔ)卡的讀寫信號(hào)的原理與上述相同，在此不再贅述。所述存儲(chǔ)卡讀寫信號(hào)測(cè)試裝置通過所述轉(zhuǎn)接卡300及所述測(cè)試設(shè)備100即可實(shí)現(xiàn)對(duì)待測(cè)印刷電路板上不同類型的存儲(chǔ)卡讀寫信號(hào)進(jìn)行測(cè)試，而不需要在待測(cè)印刷電路板上焊接測(cè)試點(diǎn)，節(jié)省了測(cè)試成本，方便了測(cè)試。
權(quán)利要求
1.一種存儲(chǔ)卡讀寫信號(hào)測(cè)試裝置，用于測(cè)試一待測(cè)印刷電路板的存儲(chǔ)卡讀寫信號(hào)，所述存儲(chǔ)卡讀寫信號(hào)測(cè)試裝置包括一測(cè)試設(shè)備及一轉(zhuǎn)接卡，所述待測(cè)印刷電路板上包括一卡槽，所述測(cè)試裝置包括一轉(zhuǎn)接卡槽、一開關(guān)單元及一存儲(chǔ)卡槽，所述開關(guān)單元包括若干開關(guān)，每一開關(guān)的兩端分別連接所述轉(zhuǎn)接卡槽中的一引腳及所述存儲(chǔ)卡槽中的一引腳，每一開關(guān)兩端的任意位置設(shè)置一測(cè)量點(diǎn)，用于電性連接一測(cè)量?jī)x器，所述轉(zhuǎn)接卡用于連接所述測(cè)試設(shè)備上的轉(zhuǎn)接卡槽與所述待測(cè)印刷電路板上的卡槽，所述測(cè)試設(shè)備上的存儲(chǔ)卡槽用于插接一存儲(chǔ)卡。
2.如權(quán)利要求1所述的存儲(chǔ)卡讀寫信號(hào)測(cè)試裝置，其特征在于所述測(cè)試裝置還包括一第一基板，所述轉(zhuǎn)接卡槽、所述開關(guān)及所述存儲(chǔ)卡槽均設(shè)置在所述第一基板上。
3.如權(quán)利要求1所述的存儲(chǔ)卡讀寫信號(hào)測(cè)試裝置，其特征在于所述轉(zhuǎn)接卡包括一第二基板，所述第二基板的兩邊緣上分別設(shè)置若干第一接腳及若干第二接腳，所述轉(zhuǎn)接卡上的第一接腳與所述測(cè)試設(shè)備上的轉(zhuǎn)接卡槽中的引腳一一對(duì)應(yīng)，所述轉(zhuǎn)接卡上的第二接腳與所述待測(cè)印刷電路板上的卡槽中的引腳一一對(duì)應(yīng)。
4.如權(quán)利要求3所述的存儲(chǔ)卡讀寫信號(hào)測(cè)試裝置，其特征在于所述第一及第二基板為印刷電路板。
全文摘要
一種存儲(chǔ)卡讀寫信號(hào)測(cè)試裝置，用于測(cè)試一待測(cè)印刷電路板的存儲(chǔ)卡讀寫信號(hào)，測(cè)試裝置包括測(cè)試設(shè)備及轉(zhuǎn)接卡，待測(cè)印刷電路板上包括卡槽，測(cè)試裝置包括轉(zhuǎn)接卡槽、開關(guān)單元及存儲(chǔ)卡槽，開關(guān)單元包括若干開關(guān)，每一開關(guān)的兩端分別連接轉(zhuǎn)接卡槽中的一引腳及存儲(chǔ)卡槽中的一引腳，每一開關(guān)兩端的任意位置設(shè)備一測(cè)量點(diǎn)，轉(zhuǎn)接卡連接所述測(cè)試設(shè)備上的轉(zhuǎn)接卡槽與待測(cè)印刷電路板上的卡槽，測(cè)試設(shè)備上的存儲(chǔ)卡槽用于插接一存儲(chǔ)卡。存儲(chǔ)卡讀寫信號(hào)測(cè)試裝置通過轉(zhuǎn)接卡及測(cè)試設(shè)備即可實(shí)現(xiàn)對(duì)待測(cè)印刷電路板上存儲(chǔ)卡讀寫信號(hào)的測(cè)試，而不需要在待測(cè)印刷電路板上焊接測(cè)試點(diǎn)，節(jié)省了測(cè)試成本，方便了測(cè)試。
文檔編號(hào)G11C29/56GK102403045SQ20101027705
公開日2012年4月4日 申請(qǐng)日期2010年9月9日 優(yōu)先權(quán)日2010年9月9日
發(fā)明者徐鳳 申請(qǐng)人:鴻富錦精密工業(yè)(深圳)有限公司, 鴻海精密工業(yè)股份有限公司