專利名稱：執(zhí)行伺服缺陷補(bǔ)償操作的光盤驅(qū)動器系統(tǒng)及其方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明有關(guān)于一種光盤驅(qū)動器的伺服缺陷補(bǔ)償(servo defect compensating ) 操作，且特別有關(guān)于有刮痕光盤的伺服缺陷補(bǔ)償?shù)姆椒ㄒ约熬哂袛?shù)字信號處理 器(Digital Signal Processor,以下筒稱DSP )的相關(guān)光盤驅(qū)動器系統(tǒng)。
背景技術(shù)：
現(xiàn)有技術(shù)中的光盤驅(qū)動器包括一個光學(xué)拾取單元(optical pick-up unit )，用 于讀取具有缺陷(例如刮痕)的光學(xué)介質(zhì)，但是當(dāng)光學(xué)拾取單元通過所述缺陷 時，卻沒有相應(yīng)的缺陷補(bǔ)償方案。當(dāng)從光學(xué)介質(zhì)讀取數(shù)據(jù)時，聚焦伺服(focusing servo)及跟蹤伺服(tracking servo)處于閉環(huán)控制(close loop control)下，光 學(xué)拾取單元通過缺陷后，由于受主軸轉(zhuǎn)動速度(spindle rotating speed )、鉗制方 向(clamp direction )、缺陷尺寸(size of the defect )、在夾陷偵測水平(defect detect level)及數(shù)字均衡器(digital equalizer)設(shè)計等因素的影響，聚焦及跟蹤伺服所 指向的位置可能會遠(yuǎn)離所需聚焦點/跟蹤點。聚焦及跟蹤伺服回溯需要利用很大 的瞬態(tài)響應(yīng)，但從光學(xué)介質(zhì)讀取的數(shù)據(jù)的RF質(zhì)量通常很差。上述問題在高分辨 率光盤(例如藍(lán)光光盤)中變得尤為嚴(yán)重。

發(fā)明內(nèi)容
為了提高從光學(xué)介質(zhì)讀取的數(shù)據(jù)的RF質(zhì)量，特提供以下技術(shù)方案 本發(fā)明實施例提供一種執(zhí)行伺服缺陷補(bǔ)償操作的方法，通過補(bǔ)償伺服相關(guān) 信號來執(zhí)行光盤驅(qū)動器的伺服缺陷補(bǔ)償操作，該方法包括通過光學(xué)拾取單元 讀取光學(xué)介質(zhì)；偵測是否存在缺陷；當(dāng)偵測到光學(xué)介質(zhì)上存在缺陷時，基于伺 服誤差信號確定新的補(bǔ)償值；以及當(dāng)光學(xué)拾取單元通過所述缺陷時，利用新的 補(bǔ)償值補(bǔ)償伺服相關(guān)信號，以調(diào)整伺服控制。
本發(fā)明實施例另提供一種執(zhí)行伺服缺陷補(bǔ)償操作的光盤驅(qū)動器系統(tǒng)，通過 補(bǔ)償伺服相關(guān)信號來執(zhí)行伺服缺陷補(bǔ)償操作，該光盤驅(qū)動器系統(tǒng)包括光學(xué)拾取單元及數(shù)字信號處理器。光學(xué)拾取單元用于讀取光學(xué)介質(zhì)；數(shù)字信號處理器用
于通過監(jiān)視側(cè)光束信號來偵測是否存在缺陷，當(dāng)偵測到光學(xué)介質(zhì)上的缺陷時， 基于伺服誤差信號確定新的補(bǔ)償值，以及當(dāng)光學(xué)拾取單元通過所述缺陷時，利 用新的#卜償值補(bǔ)償伺服相關(guān)信號，以調(diào)整伺服控制。
以上所述的執(zhí)行伺服缺陷補(bǔ)償操作的光盤驅(qū)動器系統(tǒng)及其方法，能夠補(bǔ)償
伺月良相關(guān)信號以調(diào)整伺服控制，從而提高從光學(xué)介質(zhì)讀取的數(shù)據(jù)的RF質(zhì)量。


圖1是依本發(fā)明實施例的光盤驅(qū)動器系統(tǒng)的筒化方塊圖。
圖2是依本發(fā)明第一實施例的光盤驅(qū)動器中DSP的筒化方塊圖。
圖3是聚焦伺服就緒指示符FOK、子光束附加信號SBAD、缺陷信號
DEFECT及補(bǔ)償信號FEOFT—DEFECT / TEOFT—DEFECT的簡化時序圖。 圖4是光學(xué)介質(zhì)被劃分為多個環(huán)形的區(qū)域Z1、 Z2…Zi的示意圖。 圖5是聚焦誤差信號FE/跟蹤誤差信號TE、缺陷信號DEFECT及補(bǔ)償信號
FEOFT—DEFECT / TEOFT—DEFECT的簡化時序圖。
圖6是依本發(fā)明第二實施例的光盤驅(qū)動器中DSP的筒化方塊圖。 圖7是依本發(fā)明第三實施例的光盤驅(qū)動器中DSP的簡化方塊圖。
具體實施例方式
在說明書及權(quán)利要求書當(dāng)中使用了某些詞匯來指稱特定的元件。所屬技術(shù) 領(lǐng)域的技術(shù)人員應(yīng)可理解，硬件制造商可能會用不同的名詞來稱呼同 一個元件。 本說明書及權(quán)利要求書并不以名稱的差異作為區(qū)分元件的方式，而是以元件在 功能上的差異作為區(qū)分的準(zhǔn)則。在通篇說明書及權(quán)利要求項中所提及的「包括J 為一開放式的用語，故應(yīng)解釋成「包括但不限定于」。此外，「耦接」一詞在此 包括任何直接及間接的電氣連接手段。因此，若文中描述第一裝置耦接于第二 裝置，則代表第一裝置可直接電氣連接于第二裝置，或透過其它裝置或連接手 段間接地電氣連接至第二裝置。
圖1是依本發(fā)明實施例的光盤驅(qū)動器系統(tǒng)1000的簡化方塊圖。如圖1所示， 光盤驅(qū)動器系統(tǒng)1000包括光學(xué)介質(zhì)(optical medium) 10、光學(xué)拾取單元l2、 RF信號處理器14 (此處的RF信號為光學(xué)介質(zhì)中數(shù)據(jù)讀取的信號的一種)、功 率驅(qū)動器(power driver) 16、主軸馬達(dá)(spindle motor) 18以及DSP 100。圖2 6是依本發(fā)明第一實施例的光盤驅(qū)動器系統(tǒng)1000中DSP 100的簡化方塊圖。如圖 2所示，DSP 100包括第一加法器(adder) 110、第二加法器120及數(shù)字均衡器 (digital equalizer) 130。第一加法器110接收并合并聚焦誤差信號(focus error signal) FE/跟蹤誤差信號(tracking error signal) TE與電子偏移(electrical offset) FE—OFFSET/TE_OFFSET,以產(chǎn)生輸出信號。第二加法器120耦接于第一加法器 110,其接收并合并所述輸出信號、刻意的偏差(intentional bias )FE—BAL/TE—BAL 以及補(bǔ)償信號(compensating signal) FEOFT—DEFECT/TEOFT—DEFECT,以產(chǎn) 生輸入信號FE—INPUT/TE—INPUT。數(shù)字均衡器130耦接于第二加法器120，其 接收所述的輸入信號FE—INPUT/TE—INPUT,以產(chǎn)生聚焦伺服輸出信號FOO或 跟蹤伺服輸出信號TRO。
圖3是聚焦伺服就緒(ON OK)指示符FOK、子光束附加信號(sub-beam addition signal ) SBAD 、缺陷信號DEFECT及先前涉及的補(bǔ)償信號 FEOFT—DEFECT/TEOFT—DEFECT的簡化時序圖。子光束附加信號SBAD可以 為四個光偵測器(light detector)所偵測的側(cè)光束光強(qiáng)(light intensity of the side beam)的總和(SBAD=E+F+G+H )。如圖2所示，當(dāng)伺服成功聚焦且偵測到光 學(xué)介質(zhì)10上存在缺陷時，SBAD低于閾值FLEVEL (SBAD〈FLEVEL)，且指示 符FOK為高值(FOK=l)，補(bǔ)償信號FEOFT—DEFECT ^皮設(shè)置為預(yù)測補(bǔ)償值 FEOFT—PROT或補(bǔ)償信號TEOFT—DEFECT被設(shè)置為預(yù)測補(bǔ)償值 TEOFT—PROT。當(dāng)伺服未聚焦時，F(xiàn)OK為低值(FOK=0 );或者當(dāng)沒有偵測到 缺陷時，這意味著FOK為高值，但SBAD超過闊值FLEVEL( SBAD〉FLEVEL )， 補(bǔ)償信號FEOFT—DEFECT或TEOFT—DEFECT被設(shè)置為0。
如圖4所示，在其它實施例中，光學(xué)介質(zhì)io可^:劃分為多個環(huán)形的區(qū)域
(circular zone) Zl 、 Z2…Zi，例如，總共可被劃分為15個區(qū)域。在播放期間， 當(dāng)前數(shù)據(jù)讀取位置所處的當(dāng)前區(qū)域被檢查，并與先前數(shù)據(jù)讀取位置所處的先前 區(qū)域進(jìn)行比較，以確定是否需要觸發(fā)伺服缺陷補(bǔ)償。若當(dāng)前區(qū)域不同于先前區(qū) 域，系統(tǒng)將執(zhí)行伺服缺陷補(bǔ)償操作，舉例來說，可利用預(yù)測補(bǔ)償值FEOFT—PROT 及TEOFT—PROT來補(bǔ)償聚焦誤差信號與跟蹤誤差信號。
圖5是聚焦誤差信號FE/跟蹤誤差信號TE、缺陷信號DEFECT及補(bǔ)償信號 FEOFT—DEFECT/TEOFT—DEFECT的簡化時序圖。如圖5所示，在圖1中光學(xué) 拾耳又單元12偵測到缺陷之后，使能伺服峰谷偵觀'J ( servo peak bottom detection ) 以計算光盤驅(qū)動器系統(tǒng)1000的聚焦誤差信號FE或跟蹤誤差信號TE的偏移。當(dāng)
7焦誤差信號FE/跟蹤誤差信號 TE的峰值/谷值以及刻意的偏差FE—BAL/TE—BAL來計算偏差結(jié)果FE—DEV或 TE—DEV,所利用的公式(l)如下FE—DEV/TE—DEV=(T1時的峰值/谷值)-FE—BAL/TE—BAL (1) 接著，可以利用公式(2)與公式(3),從當(dāng)前補(bǔ)償值FEOFT—PROT—now或 TEOFT—PROT—now、偏差結(jié)果FE—DEV或TE—DEV，以及增益GAIN—FE或 GAIN—TE中得到新的補(bǔ)償值FEOFT—PROT—new或TEOFT PROT—new: FEOFT—PROT—new=FEOFT—PROT—now+FE—DEV/GAIN一FE (2) TEOFTPROT—new=TEOFT—PROT—now+TE—DEV/GAIN一TE (3) 新的補(bǔ)償值FEOFT—PROT—new/TEOFT—PROT_new隨后被更新至DSP命 令，以在通過偵測的缺陷時補(bǔ)償聚焦誤差信號FE或跟蹤誤差信號TE。基于聚 焦誤差信號FE/跟蹤誤差信號TE，本實施例的伺服缺陷補(bǔ)償方法偵測并預(yù)測由 光盤缺陷導(dǎo)致的聚焦誤差信號FE偏移/跟蹤誤差信號TE偏移的方向及/或數(shù)量。 當(dāng)通過光盤缺陷時，F(xiàn)E/TE通過與預(yù)測FE補(bǔ)償值/預(yù)測TE補(bǔ)償值合并來得到 補(bǔ)償，以使伺服控制在通過缺陷區(qū)域后接近實際的聚焦點/跟蹤點。與沒有采用 伺服缺陷補(bǔ)償方法的系統(tǒng)相比，伺服控制在通過光盤的缺陷后，需要更大的瞬 態(tài)響應(yīng)以跟蹤至實際的聚焦點/跟蹤點。在第二實施例中，伺服缺陷補(bǔ)償操作是通過補(bǔ)償光盤驅(qū)動器系統(tǒng)1000中聚 焦i吳差直^/(言號(focus error DC signal )FEDC或3艮3宗i吳差直:i^/[言號(tracking error DC signal )TEDC來執(zhí)行的。圖6是依本發(fā)明第二實施例的光盤驅(qū)動器中DSP 200 的簡化方塊圖，DSP 200用于替代光盤驅(qū)動器系統(tǒng)1000中的DSP 100。與圖1 中的DSP100相比，DSP200進(jìn)一步包括第一非均勻(non-unity)增益數(shù)字均衡 器140，而其余組件則可與DSP 100中的對應(yīng)組件相同，因此，這些相同組件的 組態(tài)的進(jìn)一步解釋在此略過，以簡化說明。第一非均勻增益數(shù)字均衡器140均 衡信號FE—LPF/TE—LPF，其中信號FE—LPF/TE—LPF的直流增益被設(shè)計成非均 勻增益且稱為FEDC/TEDC。信號FE—LPF/TE—LPF是聚焦誤差信號FE/跟蹤誤 差信號TE經(jīng)過低通濾波(low-pass filtering )后的信號，其是由數(shù)字均衡器130 在通過缺陷期間得出。從FE—LPF/TE—LPF得出的信號FEDC/TEDC可通過改 變信號的幅值及方向來補(bǔ)償，以使聚焦伺服/跟蹤伺服定位于接近實際聚焦點/8類似于第一實施例中的公式(2)與(3)，本實施例中可利用公式(4)與(5)，從當(dāng) 前聚焦誤差直流信號FEDC—now/跟蹤誤差直流信號TEDC—now、偏差結(jié)果 FE—DEV/TE—DEV以及增益GAIN—FEDC/GAIN—TEDC中得到新的聚焦誤差直 流信號FEDC一new/跟蹤誤差直流信號TEDC一new:FEDC_new=FEDC—now+FEDEV/GAIN—FEDC (4)TEDC—new=TEDC—now+TE—DEV/GAIN一TEDC (5)在第三實施例中，伺服缺陷補(bǔ)償才喿作是通過補(bǔ)償光盤驅(qū)動器系統(tǒng)1000中聚 焦伺服輸出保持信號(focus servo output hold signal) FOO_HOLD或跟蹤伺服輸 出保持信號(tracking servo output hold signal) TRO—HOLD來執(zhí)行的。圖7是依 本發(fā)明第三實施例的光盤驅(qū)動器中DSP 300的簡化方塊圖，DSP 300用于替代光 盤驅(qū)動器系統(tǒng)1000中的DSP 100。與圖1中的DSP 100相比，DSP 300進(jìn)一步 包括第二非均勻增益數(shù)字均衡器150，而其余組件則可與DSP 100中的對應(yīng)組件 相同，因此，這些相同組件的組態(tài)的進(jìn)一步解釋在此略過，以簡化說明。第二 非均勻增益數(shù)字均衡器150補(bǔ)償聚焦伺服輸出保持信號FOO—HOLD或跟蹤伺服 輸出保持信號TRO一HOLD。第二非均勻增益數(shù)字均衡器150均衡信號 FOO—HOLD—LPF或TRO—HOLD—LPF ， 其結(jié)果被稱作FOO—HOLD或 TRO_HOLD，其中，信號FOO—HOLD—LPF/TRO—HOLD—LPF是聚焦輸出保持 信號FOO一HOLD/跟蹤伺服輸出保持信號TRO—HOLD經(jīng)過低通濾波后的信號， 其是由數(shù)字均衡器130在通過缺陷期間得出。從FOO—HOLD—LPF或 TRO—HOLD—LPF得出的信號FOO—HOLD或TRO一HOLD可通過改變信號的幅 值及方向來補(bǔ)償，以使聚焦伺服/跟蹤伺服定位于接近實際聚焦點/跟蹤點的位 置。類似于第一實施例中的公式(2)與(3),本實施例中可利用公式(6)與(7)，從當(dāng) 前聚焦伺服輸出保持信號FOO—HOLD—now或跟蹤伺服輸出保持信號 TRO—HOLD—now、偏差結(jié)果FE—DEV或TE—DEV以及增益GAIN—FOOHOLD 或GAIN—TROHOLD中得到新的伺服輸出保持信號FOO一HOLD—new或跟蹤伺 服輸出保持信號TRO—HOLD_new:FOO—HOLD—new=FOO HOLD—now+FE—DEV/GAIN FOOHOLD (6) TRO—HOLD new-TRO HOLD—now+TE DEV/GAIN—TROHOLD (7) 應(yīng)注意，以上所述實施例僅用以例示本發(fā)明，其并非本發(fā)明的限制。舉例來說，在其它實施例中，本發(fā)明的第一、第二及第三實施例所示的方法可相互 結(jié)合，以執(zhí)行伺服缺陷補(bǔ)償操作。簡單來說，本發(fā)明實施例所揭示的具有DSP的光盤驅(qū)動器系統(tǒng)及相關(guān)方法 可實時地執(zhí)行伺服缺陷補(bǔ)償操作，可用于包括光學(xué)拾取單元的光盤驅(qū)動器讀取 具有至少一個缺陷的光學(xué)介質(zhì)，以使聚焦/跟蹤伺服接近實際的聚焦點/跟蹤點，從而提高從光學(xué)介質(zhì)讀取的數(shù)據(jù)的RF質(zhì)量。以上所述僅為本發(fā)明的較佳實施例，凡依本發(fā)明權(quán)利要求所做的均等變化 與修飾，皆應(yīng)屬本發(fā)明的涵蓋范圍。
權(quán)利要求
1.一種執(zhí)行伺服缺陷補(bǔ)償操作的方法，通過補(bǔ)償光盤驅(qū)動器的伺服相關(guān)信號來執(zhí)行該伺服缺陷補(bǔ)償操作，該方法包括通過光學(xué)拾取單元讀取光學(xué)介質(zhì)；偵測是否存在缺陷；當(dāng)偵測到該光學(xué)介質(zhì)上存在該缺陷時，基于伺服誤差信號確定新的補(bǔ)償值；以及當(dāng)該光學(xué)拾取單元通過該缺陷時，利用該新的補(bǔ)償值補(bǔ)償該伺服相關(guān)信號，以調(diào)整伺服控制。
2. 如權(quán)利要求1所述的執(zhí)行伺服缺陷補(bǔ)償操作的方法，其特征在于該光 學(xué)介質(zhì)包括多個環(huán)形的區(qū)域，當(dāng)該光學(xué)拾取單元從不同于先前讀取區(qū)域的區(qū)域 讀取數(shù)據(jù)時，執(zhí)行該伺服缺陷補(bǔ)償操作。
3. 如權(quán)利要求1所述的執(zhí)行伺服缺陷補(bǔ)償操作的方法，更包括 偵測該光盤驅(qū)動器的該伺服誤差信號以產(chǎn)生偵測結(jié)果；以及 依據(jù)當(dāng)前補(bǔ)償值、該偵測結(jié)果及增益值來計算該新的補(bǔ)償值。
4. 如權(quán)利要求3所述的執(zhí)行伺服缺陷補(bǔ)償操作的方法，其特征在于該偵 測該光盤驅(qū)動器的該伺服誤差信號以產(chǎn)生偵測結(jié)果的步驟包括偵測該伺服誤差信號的峰值或谷值；以及依據(jù)該伺服誤差信號的該峰值或該谷值與該伺服誤差信號的刻意的偏差之 間的偏差值來計算該偵測結(jié)果。
5. 如權(quán)利要求1所述的執(zhí)行伺服缺陷補(bǔ)償操作的方法，其特征在于該伺 服誤差信號為聚焦誤差信號。
6. 如權(quán)利要求1所述的執(zhí)行伺服缺陷補(bǔ)償操作的方法，其特征在于該伺 服相關(guān)信號為聚焦誤差信號。
7. 如權(quán)利要求5所述的執(zhí)行伺服缺陷補(bǔ)償操作的方法，其特征在于該伺 服相關(guān)信號為聚焦誤差直流信號，且該聚焦誤差直流信號是通過非均勻增益的 均衡后得出。
8. 如權(quán)利要求5所述的執(zhí)行伺服缺陷補(bǔ)償操作的方法，其特征在于該伺 服相關(guān)信號為聚焦伺服輸出保持信號，且該聚焦伺服輸出保持信號是通過非均勻增益的均衡后得出。
9. 如權(quán)利要求1所述的執(zhí)行伺服缺陷補(bǔ)償操作的方法，其特征在于該伺 服誤差信號為跟蹤誤差信號。
10. 如權(quán)利要求1所述的執(zhí)行伺服缺陷補(bǔ)償操作的方法，其特征在于該伺 服相關(guān)信號為跟蹤誤差信號。
11. 如權(quán)利要求9所述的執(zhí)行伺服缺陷補(bǔ)償操作的方法，其特征在于該伺 服相關(guān)信號為跟蹤誤差直流信號，且該跟蹤誤差直流信號是通過非均勻增益的 均衡后得出。
12. 如權(quán)利要求9所述的執(zhí)行伺服缺陷補(bǔ)償操作的方法，其特征在于該伺 服相關(guān)信號為跟蹤伺服輸出保持信號，且該跟蹤伺服輸出保持信號是通過非均 勻增益的均衡后得出。
13. 如權(quán)利要求1所述的執(zhí)行伺服缺陷補(bǔ)償操作的方法，其特征在于該新 的補(bǔ)償值對應(yīng)于該缺陷導(dǎo)致的伺服偏移。
14. 如權(quán)利要求1所述的執(zhí)行伺服缺陷補(bǔ)償操作的方法，其特征在于該新 的補(bǔ)償值是由默認(rèn)值及該缺陷導(dǎo)致的伺服偏移的偵測的方向確定。
15. 如權(quán)利要求1所述的執(zhí)行伺服缺陷補(bǔ)償操作的方法，其特征在于當(dāng)該 缺陷被偵測到時，聚焦伺服就緒指示符為高值。
16. —種執(zhí)行伺服缺陷補(bǔ)償操作的光盤驅(qū)動器系統(tǒng)，通過補(bǔ)償伺服相關(guān)信號 來執(zhí)行該伺服缺陷補(bǔ)償操作，該光盤驅(qū)動器系統(tǒng)包括光學(xué)拾取單元，用于讀取光學(xué)介質(zhì)；以及數(shù)字信號處理器，用于通過監(jiān)視側(cè)光束信號來偵測是否存在缺陷，當(dāng)偵測 到該光學(xué)介質(zhì)上的該缺陷時，基于伺服誤差信號確定新的補(bǔ)償值，以及當(dāng)該光 學(xué)拾取單元通過該缺陷時，利用該新的補(bǔ)償值補(bǔ)償該伺服相關(guān)信號，以調(diào)整伺 服控制。
17. 如權(quán)利要求16所述的執(zhí)行伺服缺陷補(bǔ)償搡作的光盤驅(qū)動器系統(tǒng)，其特 征在于該光學(xué)介質(zhì)包括多個環(huán)形的區(qū)域，當(dāng)該光學(xué)拾取單元從不同于先前讀 取區(qū)域的區(qū)域讀取數(shù)據(jù)時，執(zhí)行該伺服缺陷補(bǔ)償操作。
18. 如權(quán)利要求16所述的執(zhí)行伺服缺陷補(bǔ)償操作的光盤驅(qū)動器系統(tǒng)，其特 征在于該數(shù)字信號處理器進(jìn)一步偵測該光盤驅(qū)動器的該伺服誤差信號以產(chǎn)生 偵測結(jié)果，并依據(jù)當(dāng)前補(bǔ)償值、該偵測結(jié)果及增益值來計算該新的補(bǔ)償值。
19. 如權(quán)利要求18所述的執(zhí)行伺服缺陷補(bǔ)償操作的光盤驅(qū)動器系統(tǒng)，其特征在于當(dāng)偵測該光盤驅(qū)動器的該伺服誤差信號以產(chǎn)生該偵測結(jié)果時，該數(shù)字 信號處理器進(jìn)一步偵測該伺服誤差信號的峰值或谷值，并依據(jù)該伺服誤差信號 的該峰值或該谷值與該伺服誤差信號的刻意的偏差之間的偏差值來計算該偵測 結(jié)果。
20. 如權(quán)利要求16所述的執(zhí)行伺服缺陷補(bǔ)償操作的光盤驅(qū)動器系統(tǒng)，其特 征在于該伺服誤差信號為聚焦誤差信號。
21. 如權(quán)利要求16所述的執(zhí)行伺服缺陷補(bǔ)償操作的光盤驅(qū)動器系統(tǒng)，其特 征在于該伺月l相關(guān)信號為聚焦誤差信號。
22. 如權(quán)利要求20所述的執(zhí)行伺服缺陷補(bǔ)償操作的光盤驅(qū)動器系統(tǒng)，其特 征在于該伺服相關(guān)信號為聚焦誤差直流信號，且該聚焦誤差直流信號是通過 該數(shù)字信號處理器中的非均勻增益數(shù)字均衡器的均衡后得出。
23. 如權(quán)利要求20所述的執(zhí)行伺服缺陷補(bǔ)償操作的光盤驅(qū)動器系統(tǒng)，其特 征在于該伺服相關(guān)信號為聚焦伺服輸出保持信號，且該聚焦伺服輸出保持信 號是通過該數(shù)字信號處理器中的非均勻增益數(shù)字均衡器的均衡后得出。
24. 如權(quán)利要求16所述的執(zhí)行伺服缺陷補(bǔ)償操作的光盤驅(qū)動器系統(tǒng)，其特 征在于該伺服誤差信號為跟蹤誤差信號。
25. 如權(quán)利要求16所述的執(zhí)行伺服缺陷補(bǔ)償操作的光盤驅(qū)動器系統(tǒng)，其特 征在于該伺服相關(guān)信號為跟蹤誤差信號。
26. 如權(quán)利要求24所述的執(zhí)行伺服缺陷補(bǔ)償操作的光盤驅(qū)動器系統(tǒng)，其特 征在于該伺服相關(guān)信號為跟蹤誤差直流信號，且該跟蹤誤差直流信號是通過 該數(shù)字信號處理器中的非均勻增益數(shù)字均衡器的均衡后得出。
27. 如權(quán)利要求24所述的執(zhí)行伺服缺陷補(bǔ)償操作的光盤驅(qū)動器系統(tǒng)，其特 征在于該伺服相關(guān)信號為跟蹤伺服輸出保持信號，且該跟蹤伺服輸出保持信
28. 如權(quán)利要求16所述的執(zhí)行伺服缺陷補(bǔ)償搡作的光盤驅(qū)動器系統(tǒng)，其特 征在于該新的補(bǔ)償值對應(yīng)于該缺陷導(dǎo)致的伺服偏移。
29. 如權(quán)利要求16所述的執(zhí)行伺服缺陷補(bǔ)償操作的光盤驅(qū)動器系統(tǒng)，其特 征在于該新的4卜償值由默認(rèn)值及該缺陷導(dǎo)致的伺服偏移的偵測的方向確定。
30. 如權(quán)利要求16所述的執(zhí)行伺服缺陷補(bǔ)償操作的光盤驅(qū)動器系統(tǒng)，其特 征在于當(dāng)該側(cè)光束信號低于閾值，且聚焦伺服就緒指示符為高值時，該缺陷 被偵測到。
全文摘要
本發(fā)明提供一種執(zhí)行伺服缺陷補(bǔ)償操作的光盤驅(qū)動器系統(tǒng)及其方法。所述方法通過補(bǔ)償伺服相關(guān)信號來執(zhí)行光驅(qū)的伺服缺陷補(bǔ)償操作，包括通過光學(xué)拾取單元讀取光學(xué)介質(zhì)；通過監(jiān)視側(cè)光束信號來偵測是否存在缺陷；當(dāng)光學(xué)介質(zhì)上存在缺陷時，基于伺服誤差信號確定新的補(bǔ)償值；以及當(dāng)光學(xué)拾取單元通過缺陷時，利用新的補(bǔ)償值補(bǔ)償伺服相關(guān)信號，以調(diào)整伺服控制。上述執(zhí)行伺服缺陷補(bǔ)償操作的光盤驅(qū)動器系統(tǒng)及其方法可以提高從光學(xué)介質(zhì)讀取的數(shù)據(jù)的信號質(zhì)量。
文檔編號G11B7/09GK101650952SQ20091000021
公開日2010年2月17日 申請日期2009年1月13日 優(yōu)先權(quán)日2008年8月14日
發(fā)明者詹昆益 申請人:聯(lián)發(fā)科技股份有限公司